KR100829232B1

KR100829232B1 - 전자부품 테스트용 핸들러

Info

Publication number: KR100829232B1
Application number: KR1020060095600A
Authority: KR
Inventors: 추승용; 송재명
Original assignee: 미래산업 주식회사
Priority date: 2006-09-29
Filing date: 2006-09-29
Publication date: 2008-05-14
Also published as: KR20080029444A

Abstract

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러를 개시한다. 본 발명에 따르면, 테스트할 복수의 전자부품들을 고객용 트레이로부터 테스트 트레이로 로딩하는 로딩부; 테스트 완료된 전자부품들을 테스트 트레이로부터 고객용 트레이로 언로딩하는 언로딩부; 전자부품을 테스트하는 테스트부; 및 고객용 트레이와 테스트 트레이 사이에 전자부품들을 이송하는 적어도 하나의 픽커를 구비하는 것으로, 픽커 중 적어도 하나는, 선형 구동기구에 의해 적어도 일 방향으로 왕복 가능하게 배치되며 회전 구동기구에 의해 회전 가능하게 된 회전 블록, 및 회전 블록의 하측에 원주 상으로 배열되고 승강 구동기구에 의해 승강 가능하게 되며 전자부품들을 흡착 및 탈착하는 다수의 노즐들을 구비하는 로터리형 픽커인 것을 특징으로 한다.

Description

전자부품 테스트용 핸들러{Handler for testing electronic parts}

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러에 대한 개략적인 구성도.

도 2는 도 1에 있어서, 제1 픽커를 도시한 사시도.

도 3은 도 2에 대한 저면도.

도 4a 내지 도 4d는 도 2에 도시된 제1 픽커에 의해 전자부품들을 픽업하고 이송하는 과정을 설명하기 위한 도면.

〈도면의 주요 부호에 대한 간단한 설명〉

110..로딩부 120..언로딩부

130..교환부 140..테스트부

160..픽커 170a..제1 픽커

172..회전 블록 173..회전 구동기구

174..노즐 C1..제1 고객용 트레이

C2..제2 고객용 트레이 T.테스트 트레이

E..전자부품

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 고객용 트레이와 테스트 트레이 간에 전자부품들을 픽업하고 이송하는 픽커의 구조가 개선된 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것이다.

일반적으로, 메모리나 비메모리 반도체 소자 등의 디바이스(device)와, 상기 디바이스들을 하나의 기판 상에 적절히 구성한 모듈을 포함하는 전자부품들은 생산 후 여러 가지 테스트를 거친 후에 출하된다. 이러한 테스트는 핸들러에 의하여 행해지는 것이 통상적이다.

핸들러는 테스트할 전자부품들을 로딩부로부터 흡착한 후에 이동시켜, 상기 전자부품들을 테스트 트레이에 수납하고, 테스트 트레이에 수납된 전자부품을 테스트부에서 테스트한다. 그리고, 핸들러는 테스트 완료된 전자부품을 수납한 테스트 트레이로부터 전자부품들을 흡착한 후에 이동시켜 언로딩부에 수납하고, 테스트한 결과에 따라 그 등급에 맞추어 분류한다.

이와 같은 핸들러에는 전자부품들을 픽업하고 소정 위치로 이송하기 위해, 전자부품을 흡착 및 탈착하는 노즐을 다수 개 구비한 픽커(picker)가 마련된다. 예컨대, 픽커는 테스트할 전자부품들을 고객용 트레이로부터 흡착하여 픽업한 후에 테스트 트레이로 이동하여 테스트 트레이에 장착하거나, 테스트 완료된 전자부품들을 테스트 트레이로부터 흡착하여 픽업한 후에 고객용 트레이로 이동하여 고객용 트레이로 장착하는 작업을 수행한다.

이러한 픽커에 의해 전자부품을 이송함에 있어서, 고객용 트레이의 전자부품 장착 간격이 테스트 트레이의 전자부품 장착 간격과 동일하지 않은 경우가 일반적이다. 그리고, 테스트 트레이의 전자부품 장착 간격을 일정한데 반해, 고객용 트레이가 다양한 종류로 이루어짐으로 인해 고객용 트레이의 전자부품 장착 간격은 종류별로 달라지는 경우가 있다. 따라서, 종래에 따르면, 픽커에는 전자부품들을 흡착 및 탈착하는 노즐들 사이의 간격을 테스트 트레이의 전자부품 장착 간격으로 조절할 수 있게 간격조절 수단이 마련된 예가 있다.

그런데, 전술한 바와 같이 픽커에 간격조절 수단이 마련되면, 픽커의 부피와 무게가 증가함에 따라, 핸들러 전체의 부피와 중량 또한 커질 수 있다. 게다가, 픽커를 x축 및/또는 y축으로 이동시키는 액추에이터의 구동 부하가 커질 수 있으며, 픽커의 이송 속도를 높이는데 한계가 있을 수 있다.

또한, 예를 들어 로딩부와 테스트부 사이에 교환부가 더 마련되어 픽커가 로딩부와 교환부 사이를 이동하는 경우, 상기 픽커가 로딩부에서 한번 하강하여 전자부품을 흡착한 후에 교환부로 이동하여 탈착하고, 다시 상기 단계를 되풀이하게 되는데, 고객용 트레이당 담겨있는 전자부품의 간격 및 수량이 다양함에 따라 이송하는 전자부품의 양이 변경될 수 있으며, 이로 인하여 UPH(unit per hour)가 일정하지 않게 된다. 이는 결과적으로 전자부품 변경에 따른 생산량 예측이 어려워진다는 문제점이 있다.

본 발명은 상기한 문제를 해결하기 위한 것으로, 로딩부 및 언로딩부로 공급된 고객용 트레이의 전자부품 장착 간격 및 수량이 달라지더라도 UPH에 대한 영향 이 적을 뿐 아니라, 고객용 트레이와 테스트 트레이의 전자부품 장착 간격이 각각 다른 경우에도 전자부품들을 정확하게 픽업하고 이송할 수 있는 전자부품 테스트용 핸들러를 제공함에 그 목적이 있다.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는, 테스트할 복수의 전자부품들을 고객용 트레이로부터 테스트 트레이로 로딩하는 로딩부; 테스트 완료된 전자부품들을 테스트 트레이로부터 고객용 트레이로 언로딩하는 언로딩부; 전자부품을 테스트하는 테스트부; 및 상기 고객용 트레이와 테스트 트레이 사이에 전자부품들을 이송하는 적어도 하나의 픽커를 구비하는 것으로, 상기 픽커 중 적어도 하나는, 선형 구동기구에 의해 적어도 일 방향으로 왕복 가능하게 배치되며 회전 구동기구에 의해 회전 가능하게 된 회전 블록, 및 상기 회전 블록의 하측에 원주 상으로 배열되고 승강 구동기구에 의해 승강 가능하게 되며 전자부품들을 흡착 및 탈착하는 다수의 노즐들을 구비하는 로터리형 픽커인 것을 특징으로 한다.

여기서, 상기 승강 구동기구는 상기 노즐들을 각각 독립적으로 승강시킬 수 있게 된 것이 바람직하다.

이하 첨부된 도면을 참조하여, 바람직한 실시예에 따른 본 발명을 상세히 설명하기로 한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러에 대한 개략 적인 구성도이다.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러(100)는, 메모리나 비메모리 반도체 소자 등의 전자부품(E, 도 4a 참조)을 테스트하는 것으로, 로딩부(110)를 구비한다.

로딩부(110)는 핸들러(100)의 전방부에 배치되며, 여기에는 테스트할 전자부품(E)들이 다수 개 수납되어 있는 제1 고객용 트레이(C1)들이 적재된다.

이러한 로딩부(110)의 일 측에는 언로딩부(120)가 배치된다. 언로딩부(120)에는 테스트 완료된 전자부품(E)들이 테스트 결과에 따라 분류되어 제2 고객용 트레이(C2)에 수납된다. 한편, 상기 제2 고객용 트레이(C2)는 제1 고객용 트레이(C1)와 별도로 마련되거나, 로딩부(110)에서 전자부품(E)들이 인출됨에 따라 빈 상태에 있는 제1 고객용 트레이(C1)에 해당할 수도 있다.

상기 로딩부(110) 및 언로딩부(120)의 후방, 즉 핸들러(100)의 중앙부에는 교환부(130)가 배치될 수 있다. 교환부(130)에는 이동 가능하게 된 테스트 트레이(T)가 위치한다. 상기 교환부(130)에서는, 테스트할 전자부품(E)을 로딩부(110)의 제1 고객용 트레이(C1)로부터 공급받아서 테스트 트레이(T)에 장착하는 작업과, 테스트 완료된 전자부품(E)을 테스트 트레이(T)로부터 분리하여 언로딩부(120)의 제2 고객용 트레이(C2)로 반출하는 작업이 이루어지게 된다.

한편, 상기 교환부(130)는 생략되는 것도 가능하다. 이 경우 테스트 트레이(T)는 로딩부(110)와 언로딩부(120)에 각각 위치할 수 있다. 그리고, 로딩부(110)는 테스트할 복수의 전자부품들을 제1 고객용 트레이(C1)로부터 테스트 트 레이(T)로 로딩하게 되며, 언로딩부(120)는 테스트 완료된 전자부품들을 제2 고객용 트레이(C2)로부터 테스트 트레이(T)로 언로딩하게 된다. 이 경우에 있어서도, 상기 제2 고객용 트레이(C2)는 제1 고객용 트레이(C1)와 별도로 마련되거나, 로딩부(110)에서 전자부품(E)들이 인출됨에 따라 빈 상태에 있는 제1 고객용 트레이(C1)에 해당할 수도 있다.

이러한 교환부(130)의 일 측, 도시된 바에 따르면 핸들러(100)의 후방부에는 테스트부(140)가 마련된다. 테스트부(140)에서는 테스트할 전자부품(E)이 장착된 테스트 트레이(T)를 교환부(130)로부터 공급받아서 전자부품(E)을 외부의 테스트 장비(미도시)에 의해 테스트할 수 있게 한다.

이를 위해, 테스트부(140)는 외부의 테스트 장치와 전기적으로 연결된 다수의 테스트 소켓을 구비한 테스트 보드(141)와, 상기 테스트 보드(141)에 대해 테스트 트레이(T)를 가압하여 전자부품과 테스트 소켓 사이를 접속시킬 수 있게 테스트 트레이(T)를 전,후진 이동시키는 접속 수단(142)을 포함하여 구성될 수 있다. 한편, 상기 테스트부(140)는 상온 상태에서의 일반적인 성능 테스트뿐만 아니라, 고온 및 저온의 극한 온도 조건에서도 전자부품(E)이 정상적인 기능을 수행할 수 있는가를 테스트할 수 있도록 구성될 수 있다.

이러한 테스트부(140)와 교환부(130) 간에 테스트 트레이(T)를 이송하기 위해, 트레이 이송유닛(150)이 마련된다. 여기서, 트레이 이송유닛(150)은 제1 트레이 이송유닛(151)과, 제2 트레이 이송유닛(152)을 구비할 수 있다.

제1 트레이 이송유닛(151)은 교환부(130)로부터 공급된 테스트 트레이(T)를 테스트부(140)의 전방에서 x축 방향으로 이송시키며, 제2 트레이 이송유닛(152)은 테스트부(140)의 후방에서 x축 방향으로 이송시킨다. 이러한 제1,2 트레이 이송유닛(151)(152)은 통상적인 리니어 액추에이터를 포함하여 구성될 수 있다.

상기 테스트 트레이(T)는 수평, 또는 수직 상태를 포함하여 여러 상태에서 테스트받을 수 있다. 예를 들어, 상기 테스트 트레이가 수직 상태에서 테스트받는다면, 상기 트레이 이송유닛(150)은 교환부(130)와 테스트부(140) 간에 테스트 트레이(T)가 이송되기 전에 테스트 트레이(T)를 90°의 각도 범위로 왕복 회동시키기 위한 로테이터(153)를 더 구비할 수 있다. 로테이터(153)는 테스트부(140)에서 테스트 트레이(T)가 수직으로 세워진 상태로 전자부품(E)이 테스트를 받는 경우, 교환부(130)에서 수평 상태로 놓인 테스트 트레이(T)를 수직 상태로 회전시켜 테스트부(140)로 이송할 수 있게 하며, 테스트부(140)에서 수직 상태로 놓인 테스트 트레이(T)를 다시 수평 상태로 회전시켜 교환부(130)로 이송할 수 있게 한다.

한편, 로딩부(110)와 교환부(130) 사이와 언로딩부(120)와 교환부(130) 사이에 전자부품(E)을 이송하고 테스트 트레이(T), 제1 고객용 트레이(C1), 및 제2 고객용 트레이(C2)에 전자부품(E)을 장착 및 분리하기 위하여, 픽커(160)가 마련된다. 픽커(160)는 핸들러(100)의 전방부 상측에 설치된 제1 픽커(170a) 및 제2 픽커(170b)를 포함하여 구성될 수 있다.

제1 픽커(170a)는 로딩부(110)와 교환부(130) 사이를 적어도 일 방향으로 왕복하면서 전자부품(E)을 픽업하여 이송한다. 그리고, 제2 픽커(170b)는 언로딩부(120)와 교환부(130) 사이를 적어도 일 방향으로 왕복하면서 전자부품(E)을 픽업 하여 이송한다.

만일, 교환부(130)의 양측에 로딩측 버퍼부(131)와 언로딩측 버퍼부(132)가 더 마련된 경우, 제1 픽커(170a)는 로딩부(110)와 로딩측 버퍼부(131) 사이를 왕복하면서 전자부품(E)을 픽업하여 이송할 수 있으며, 제2 픽커(170b)는 언로딩부(120)와 언로딩측 버퍼부(132) 사이를 왕복하면서 전자부품(E)을 픽업하여 이송할 수 있다. 상기 버퍼부들(131)(132)은 작업 효율을 높이기 위해 전자부품(E)이 일시적으로 대기할 수 있게 한다.

이와 같이 버퍼부들(131)(132)이 더 마련된 경우, 픽커(160)는 제3 픽커(170c) 및 제4 픽커(170d)를 더 구비할 수 있다. 제3 픽커(170c)는 로딩측 버퍼부(131)와 교환부(130) 사이를 왕복하면서 전자부품을 픽업하여 이송하며, 제4 픽커(170d)는 언로딩측 버퍼부(132)와 교환부(130) 사이를 왕복하면서 전자부품을 픽업하여 이송한다.

상기 제1,2,3,4 픽커(170a)(170b)(170c)(170d)를 왕복시키는 선형 구동기구는 제1,2 y축 겐트리(gantry)(161)(162)와 제1,2 x축 겐트리(163)(164)를 구비할 수 있다. 제1,2 y축 겐트리(161)(162)는 핸들러(100)의 양측에서 제1x축 겐트리(163)를 y축 방향으로 왕복 이동시킬 수 있게 구성된다. 이와 더불어, 제1,2 y축 겐트리(161)(162)는 핸들러(100)의 양측에서 제2x축 겐트리(164)를 y축 방향으로 왕복 이동시킬 수 있게 구성될 수도 있다.

그리고, 제1 x축 겐트리(163)는 제1,2 픽커(170a)(170b)를 x축 방향으로 독립적으로 왕복 이동시킬 수 있게 구성되며, 제2 x축 겐트리(164)는 제3,4 픽 커(170c)(170d)를 x축 방향으로 독립적으로 왕복 이동시킬 수 있게 구성된다. 한편, 제1,2 고객용 트레이(C1)(C2)나 테스트 트레이(T)가 x축 또는 y축으로 이동가능하게 구성된 경우, 제1,2,3,4 픽커(170a)(170b)(170c)(170d)는 x축 또는 y축으로만 이동가능하게 구성될 수 있으므로, 전술한 바에 반드시 한정되지는 않는다.

본 실시예에 따르면, 제1 픽커(170a)는 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이 구성될 수 있다. 도 2 및 도 3을 참조하면, 제1 픽커(170a)는 회전 블록(172), 및 다수의 노즐(174)들을 구비한다. 이와 더불어 상기 제1 픽커(170a)는 베이스 블록(171)을 더 구비할 수 있다.

회전 블록(172)은 회전 구동기구(173)에 의해 회전 가능하게 됨으로써, 노즐(174)들 전체를 회전시킬 수 있게 한다. 또한, 상기 회전 블록(172)는 상기 선형 구동기구를 따라서 하나의 방향으로 이송가능하도록 배치될 수 있다. 여기서, 회전 구동기구(173)는 정,역회전 가능한 회전 모터를 포함하여 구성될 수 있다. 그러나, 회전 모터 이외의 통상적인 회전 액추에이터가 이용되는 것도 가능하다. 상기 회전 블록의 하측에는, 상기 회전 블록의 회전축을 중심으로 동일한 반경에 위치한 복수의 노즐들이 배치된다. 즉, 상기 회전 블록을 구비한 픽커는 로터리형 픽커이다.

이 경우, 회전 블록은 베이스 블록(171)에 결합될 수 있다. 이 경우, 상기 베이스 블록(171)은 전술한 선형 구동기구의 제1 x축 겐트리(163)에 장착되어서, 베이스 블록(171)은 제1 x축 겐트리(163)와 제1,2 y축 겐트리(161)(162)에 의해 x축 및 y축 방향으로 왕복 가능하게 됨으로써, 노즐(174)들을 x축 및 y축 방향으로 왕복시킬 수 있게 한다.

노즐(174)들은 상기 회전 블록(172)의 하측에 배치되어 전자부품(E)들을 흡착 및 탈착하는 기능을 한다. 여기서, 노즐(174)은 노즐용 공급부(175)를 통해 부압을 공급받아서 전자부품(E)을 흡착하고, 노즐용 공급부(175)를 통해 정압을 공급받아서 전자부품(E)을 탈착할 수 있다.

상기 노즐(174)들은 승강 구동기구에 의해 회전 블록(172)에 대해 승강할 수 있게 된다. 여기서, 승강 구동기구는 노즐(174)들을 각각 독립적으로 승강시킬 수 있게 구성된다. 이를 위해, 승강 구동기구는 노즐들에 각각 고정되는 승강부(176)들과, 상기 승강부(176)들에 공압을 개별 공급할 수 있는 승강용 공압 공급부(177)를 포함하여 구성될 수 있다. 승강부(176)들은 승강용 공압 공급부(177)를 통해 공압을 받게 되면 하강하고 공압을 받은 상태로부터 해제되면 원래의 높이로 상승함으로써, 노즐(174)들을 독립적으로 승강시킬 수 있다.

상기 노즐(174)들은 본 실시예에 따르면, 전술한 회전 블록(172)의 하측에 원주 상으로 배열된다. 이는 로딩부(110)로 공급된 제1 고객용 트레이(C1)의 전자부품 장착 간격이 테스트 트레이(T)의 전자부품 장착 간격과 달라지더라도 전자부품(E)들을 용이하게 픽업하여 이송할 수 있도록 하기 위함이다.

이에 대해서, 도 4a 내지 도 4d를 참조하여 구체적으로 설명하면 다음과 같다. 여기서, 도 4a 내지 도 4d는 전술한 바와 같이 구성된 제1 픽커(170a)가 제1 고객 트레이(C1)로부터 전자부품(E)을 흡착하여 테스트 트레이(T)로 이송하는 과정을 나타낸 것이다.

먼저, 도 4a에 도시된 바와 같이, 로딩부(110)에 제1 고객용 트레이(C1)가 배치되면, 제1 픽커(170a)는 선형 구동기구에 의해 제1 고객용 트레이(C1)의 상측으로 이동한다. 이어서, 제1 픽커(170a)의 노즐(174)들 중 하나는 제1 고객용 트레이(C1)의 장착된 전자부품(E)에 대응되도록 회전 구동기구(173)에 의해 회전한다. 이와 동시에 픽커(170a)는 선형 구동기구에 의해 x축 및 y축으로 이동하게 된 베이스 블록(171)의 이동에 따라 직선 이동하여 위치한다. 그 후, 노즐(174)은 하강하여 전자부품(E)을 흡착한 다음 상승함으로써 전자부품(E)을 픽업하게 된다.

그 후, 도 4b에 도시된 바와 같이, 전자부품을 흡착하지 않은 다른 노즐(174)은 제1 고객용 트레이(C1)에 남아있는 다른 전자부품(E)에 대응되도록 회전 및 직선 이동하여 위치한 후, 하강하여 전자부품(E)을 흡착한 후 상승함으로써 전자부품(E)을 픽업하게 된다. 이때, 제1 고객용 트레이(C1)의 전자부품 장착 간격(P1)이 종류별로 달라지더라도, 노즐(174)들이 회전하고 직선 이동할 수 있게 되는바, 노즐(174)들이 전자부품(E)들을 픽업하는 위치로 오류 없이 정확하게 이동하여 전자부품(E)들을 픽업할 수 있게 되는 것이다.

전술한 과정을 통해 테스트 트레이(T)로 이송시키고자 하는 개수만큼 전자부품(E)들의 픽업이 완료되면, 도 4c에 도시된 바와 같이, 제1 픽커(170a)는 선형 구동기구에 의해 테스트 트레이(T)의 상측으로 이동한다. 이어서, 전자부품(E)을 흡착하고 있는 노즐(174)은 테스트 트레이(T)의 빈 장착 공간에 대응되도록 회전 및 직선 이동하여 위치한 후, 하강하여 전자부품(E)을 빈 장착 공간에 탈착한 후 상승함으로써 전자부품(E)을 장착하게 된다.

그 후, 도 4d에 도시된 바와 같이, 전자부품(E)을 흡착하고 있는 다른 노즐(174)은 테스트 트레이(T)의 다른 빈 장착 공간에 대응되도록 회전 및 직선 이동하여 위치한 후, 하강하여 전자부품(E)을 다른 빈 장착 공간에 탈착한 후 상승함으로써 전자부품(E)을 장착하게 된다. 이때, 테스트 트레이(T)의 전자부품 장착 간격(P2)이 제1 고객용 트레이(C1)의 전자부품 장착 간격(P1)과 다르더라도, 노즐(174)들이 회전하고 직선 이동할 수 있게 되는바, 노즐(174)들이 전자부품(E)들을 장착하는 위치로 오류 없이 정확하게 이동하여 전자부품(E)들을 장착할 수 있게 되는 것이다.

전술한 과정으로, 노즐(174)들에 흡착된 전자부품(E)들이 테스트 트레이(T)에 모두 장착된 다음, 테스트 트레이(T)로 이송하고자 하는 전자부품(E)들이 더 있다면, 제1 픽커(170a)는 제1 고객용 트레이(C1)로 다시 이동한다. 그리고, 제1 픽커(170a)는 도 4a 및 도 4b의 과정을 거쳐 제1 고객용 트레이(C1)로부터 전자부품(E)들을 픽업한 후, 도 4c 및 도 4d의 과정을 거쳐 테스트 트레이(T)의 빈 장착 공간에 전자부품(E)들을 장착하게 된다.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 제1 픽커(170a)에 의해 제1 고객용 트레이(C1)와 테스트 트레이(T) 간에 전자부품(E)을 이송함에 있어서, 제1 고객용 트레이(C1)의 전자부품 장착 간격(P1)이 테스트 트레이(T)의 전자부품 장착 간격(P2)과 동일하지 않은 경우에도 별도의 간격조절 수단 없이 전자부품(E)을 이송할 수 있다. 따라서, 제1 픽커(170a)를 경량화할 수 있게 되는바, 핸들러(100) 전체를 경량화할 수 있다. 게다가, 제1 픽커(170a)를 직선 이동시키는 선형 구동기구의 구동 부하를 줄일 수 있으며, 픽커(170a)의 이송 속도 향상에 유리할 수 있다.

한편, 제2 픽커(170b)도 제1 픽커(170a)와 각각 동일하게 구성되어, 전술한 바와 같이 전자부품(E)을 이송할 수 있음은 물론이다. 그리고, 제3,4 픽커(170c)(170d)는 제1,2 픽커(170a)(170b)와 같이 동일하게 구성되는 것도 가능하나, 통상적인 구성, 예컨대 노즐들이 직렬로 배열된 구성으로 이루어지는 것도 가능하다.

또한, 픽커에 구비된 노즐 수만큼 전자부품을 모두 흡착한 후에, 상기 흡착된 전자부품을 이동함으로써, 전자부품의 크기에 관계없이 인덱스 시간이 동일 또는 유사하게 되어서 UPH(unit per hour)가 일정하게 된다.

상기와 같이 구성된 전자부품 테스트용 핸들러(100)의 동작 과정을 일 예로 설명하면 다음과 같다.

작업자가 테스트할 전자부품(E)들이 수납된 제1 고객용 트레이(C1)를 로딩부(110)에 적재한 후 핸들러(100)의 동작을 개시하면, 제1 픽커(170a)는 로딩부(110)의 제1 고객용 트레이(C1)에 수납된 전자부품(E)들을 로딩측 버퍼부(131)로 이송한다. 이어서, 제3 픽커(170c)는 로딩측 버퍼부(131)로 이송된 전자부품(E)들을 교환부(130)의 테스트 트레이(T)에 장착한다. 교환부(130)의 테스트 트레이(T)에 테스트할 전자부품(E)들이 모두 장착되면, 로테이터(153)는 테스트 트레이(T)를 수직 상태로 세운 후, 테스트부(140)로 전달한다.

그 다음, 테스트부(140)에서는 테스트 트레이(T)의 전자부품(E)들을 테스트 보드(141)의 테스트 소켓들에 접속시켜 외부의 테스트 장비에 의해 테스트가 수행 될 수 있게 한다. 전자부품(E)들의 테스트가 완료되면, 테스트부(140)는 테스트가 완료된 전자부품(E)들이 장착된 테스트 트레이(T)를 로테이터(153)로 전달한다. 테스트 트레이(T)를 전달받은 로테이터(153)는 테스트 트레이(T)를 다시 수평 상태로 눕힌 후, 교환부(130)로 이송한다.

그러면, 제4 픽커(170d)는 테스트 완료된 전자부품(E)을 테스트 트레이(T)에서 언로딩측 버퍼부(132)로 이송한다. 이어서, 제2 픽커(170d)는 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하여 언로딩부(120)의 제2 고객용 트레이(C2)에 수납한다.

상술한 바와 같은 본 발명에 따르면, 픽커에 의해 고객용 트레이와 테스트 트레이 사이에 전자부품을 이송함에 있어서, 고객용 트레이의 전자부품 장착 간격 및 수량이 달라지더라도 UPH에 대한 영향이 적을 수 있다. 뿐만 아니라, 고객용 트레이와 테스트 트레이의 전자부품 장착 간격이 각각 다른 경우에도 별도의 간격조절 수단 없이 전자부품을 정확하게 픽업하여 이송할 수 있다.

따라서, 픽커를 경량화할 수 있게 되는바, 핸들러 전체를 경량화할 수 있다. 아울러, 픽커를 직선 이동시키는 선형 구동기구의 구동 부하를 줄일 수 있으며, 픽커의 이송 속도 향상에 유리한 효과가 있을 수 있다.

본 발명은 첨부된 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할 것이 다.

Claims

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테스트할 복수의 전자부품들을 고객용 트레이로부터 테스트 트레이로 로딩하는 로딩부;

테스트 완료된 전자부품들을 테스트 트레이로부터 고객용 트레이로 언로딩하는 언로딩부;

전자부품을 테스트하는 테스트부; 및

상기 고객용 트레이와 테스트 트레이 사이에 전자부품들을 이송하는 적어도 하나의 픽커를 구비하는 것으로,

상기 픽커 중 적어도 하나는, 선형 구동기구에 의해 적어도 일 방향으로 왕복 가능하게 배치되며 회전 구동기구에 의해 회전 가능하게 된 회전 블록, 및 상기 회전 블록의 하측에 원주 상으로 배열되고 승강 구동기구에 의해 각각 독립적으로 승강 가능하게 되며 전자부품들을 흡착 및 탈착하는 다수의 노즐들을 구비하는 로터리형 픽커인 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러.
제 2항에 있어서,

상기 회전 구동기구는 정,역회전 가능한 회전 모터를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러.
제 3항에 있어서,

상기 선형 구동기구는 상기 베이스 블록을 x축 방향으로 왕복 이동시키는 x축 구동기구와, 상기 베이스 블록을 y축 방향으로 왕복 이동시키는 y축 구동기구를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러.
제 2항에 있어서,

상기 로딩부와 테스트부 사이에 배치된 교환부를 더 구비하고,

상기 로터리형 픽커는, 상기 로딩부와 교환부 사이를 이동하는 제1 픽커 및 상기 언로딩부와 교환부 사이를 이동하는 제2 픽커인 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러.
제 5항에 있어서,

상기 로딩부와 교환부 사이에 배치된 로딩측 버퍼부 및 상기 언로딩부와 교환부 사이에 배치된 언로딩측 버퍼부를 더 구비하고,

상기 로터리형 픽커는, 상기 로딩부와 로딩측 버퍼부 사이를 이동하는 제1 픽커 및 상기 언로딩부와 언로딩측 버퍼부 사이를 이동하는 제2 픽커인 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 핸들러.