JP6513916B2 - 部品搭載装置 - Google Patents

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    • H05K13/021Loading or unloading of containers

Description

本発明は、部品搭載装置に関する。
近年、高性能の超小型電子部品の製造技術の重要性はますます増加している。大量に生産された電子部品は、部品単位で包装されて販売されることもあるが、電子機器を製造するメーカーでは部品装着装置に大量の電子部品を投入する工程を実施する場合もあるので、多数の電子部品をトレイに搭載し包装(パッケージング)して販売されることもある。
この場合、最終的に販売される包装トレイには、不良品以外の良品の電子部品のみが存在するが、このような最終的な包装トレイを大量に迅速に製造する技術が開発されている。例えば特許文献1には、電子部品用トレイに関する技術が開示されている。
韓国公開特許第2001−0091924号公報(特開2001−261089号公報)
本発明は、改良された部品搭載装置を提供することを主な課題とする。
本発明に一側面によれば、伸縮自在な弾性膜で構成する作業面と、前記作業面を伸張する伸張装置が置かれているテーブル支持部を持つワークテーブルと、前記ワークテーブルをY軸方向に移動させるワークテーブルガイド部と、前記ワークテーブルの作業面にある電子部品を認識する部品認識部と、前記部品認識部をX軸方向に移動させる前方ガイド部と、前記部品認識部によって認識された電子部品を吸着する複数のノズルを備えたロータリーヘッドと、前記ロータリーヘッドをX軸方向に移動させる後方ガイド部と、前記ロータリーヘッドのノズルに吸着された電子部品が搭載されるトレイを支持するトレイ支持部と、前記トレイ支持部をY軸方向に移動させるトレイガイド部と、前記ワークテーブル、前記部品認識部及び前記ロータリーヘッドを制御する制御部とを含み、前記制御部は、Y軸方向に前記ワークテーブルを移動させ、前記ワークテーブルが前記部品認識部の下方に到達すると、前記作業面を伸張させて電子部品間の間隔が開くようにした後、前記部品認識部で電子部品を認識した後、前記ロータリーヘッドのノズルで前記間隔が開いた電子部品を吸着させる部品搭載装置が提供される。
本発明の部品搭載装置は、前記ワークテーブルに電子部品を供給する部品供給部をさらに含むことができる。
前記部品認識部は部品認識カメラを含むことができる。
前記ノズルは、前記ロータリーヘッドの円周方向に沿って配置することができる。
また、本発明の本発明の部品搭載装置は、前記ワークテーブルの作業面にある電子部品に付着した異物を除去する第1の異物除去部をさらに含むことができる。
前記第1の異物除去部は、空気を噴出する第1の空気ブローノズルと、異物を吸引する第1の真空吸引部とを含むことができる。
また、本発明の本発明の部品搭載装置は、前記ノズルに吸着された電子部品に付着した異物を除去する第2の異物除去部をさらに含むことができる。
前記第2の異物除去部は、空気を噴出する第2の空気ブローノズルと、異物を吸引する第2の真空吸引部とを含むことができる。
また、本発明の部品搭載装置は、前記部品認識部によって認識された電子部品を検査する第1の部品検査部をさらに含み、前記ロータリーヘッドのノズルが、前記第1の部品検査部の検査を通過した電子部品を吸着することができる。
また、本発明の部品搭載装置は、前記ロータリーヘッドのノズルに吸着された電子部品を検査する第2の部品検査部をさらに含み、前記第2の部品検査部の検査を通過した電子部品を前記トレイに搭載することができる。
前記第1の部品検査部は、第1の部品検査カメラを含むことができる。
前記第2の部品検査部は、第2の部品検査カメラを含むことができる。
前記第2の部品検査カメラは、前記電子部品の下面を撮影することができる。
前記第2の部品検査部は、前記電子部品の側面を撮影する第3の部品検査カメラを含むことができる。
前記第3の部品検査カメラは、前記電子部品の、前記ロータリーヘッドの通過方向に対面する側面を撮影することができる。
本発明の一側面による部品搭載装置は、電子部品をトレイに運搬するために、円周方向に沿って配置される複数のノズルを具備するロータリーヘッドを使用するので、小さい体積のロータリーヘッドにて多くの電子部品を効率的に運搬することができる。
また、電子部品をトレイに搭載する前に外観検査を介して良品の電子部品だけを搭載するようにすれば、トレイに搭載後に追加で不良の電子部品を選別する作業を行う必要がなくなるので、作業工程の簡素化とともにコストを削減する効果が得られる。
本発明の一実施例に係る部品搭載装置を概略的に示した斜視図である。 本発明の一実施例に係る部品搭載装置において部品供給部からワークテーブルに部品が供給され、第1異物除去部にて電子部品の異物を除去する様子を図示した概略的な斜視図である。 本発明の一実施例に係る部品搭載装置においてロータリーヘッドのノズルが電子部品を吸着する様子を示す概略的な斜視図である。 本発明の一実施例に係る部品搭載装置が作動する様子を順次示した概略的な斜視図である。 図4と同じ。ただし、前方のガイド部、部品認識部及びトレイ検査部を除いて示した。 図4と同じ。ただし、前方のガイド部、部品認識部及びトレイ検査部を除いて示した。 図4と同じ。 本発明の一実施例に係るロータリーヘッドのノズルが電子部品をトレイの部品搭載凹部に配置する様子を図示した概略的な斜視図である。 本発明の一実施例に係る部品搭載装置において電子部品が搭載されたトレイを移動させて搭載不良かどうかを検査する様子を図示した概略的な斜視図である。 本発明の他の実施例に係る部品搭載装置を概略的に示した斜視図である。 図10の実施例に係る部品搭載装置において部品供給部からワークテーブルに部品が供給される様子を図示した概略的な斜視図である。 図10の実施例に係る部品搭載装置においてロータリーヘッドのノズルが電子部品を吸着する様子を示す概略的な斜視図である。 図10の実施例に係る部品搭載装置が作動する様子を順次示した概略的な斜視図である。 図13と同じ。ただし、前方ガイド部、部品認識部及びトレイ検査部を除いて示した。 図13と同じ。ただし、前方ガイド部、部品認識部及びトレイ検査部を除いて示した。 図13と同じ。ただし、前方ガイド部、部品認識部及びトレイ検査部を除いて示した。 図13と同じ。 図10の実施例に係る部品搭載装置のロータリーヘッドのノズルが電子部品をトレイの部品搭載凹部に配置する様子を図示した概略的な斜視図である。 図10の実施例に係る部品搭載装置において電子部品が搭載されたトレイを移動させて搭載不良かどうかを検査する様子を図示した概略的な斜視図である。 本発明のさらに他の実施例に係る部品搭載装置の要部を概略的に示した斜視図である。 図20実施例に係る部品搭載装置において使用したロータリーヘッドを概略的に示した断面図である。 図22(a)は第3部品検査カメラの光学系を概略的に示した平面図、図22(b)は図22(a)のA方向矢視に相当する図である。 第3部品検査カメラの光学系の他の例を概略的に示した平面図である。 第3部品検査カメラによる電子部品の側面の撮影動作を概略的に示す説明図である。
以下、添付した図面を参照して好適な実施例を説明する。
図1は、本発明の一実施例に係る部品搭載装置を概略的に示した斜視図であり、図2は、本発明の一実施例に係る部品搭載装置において部品供給部からワークテーブルに部品が供給され、第1異物除去部にて電子部品の異物を除去する様子を図示した概略的な斜視図である。また、図3は、本発明の一実施例に係る部品搭載装置においてロータリーヘッドのノズルが電子部品を吸着する様子を示す概略的な斜視図である。
本実施例に係る部品搭載装置(100)は、個々の単位で製造が完了した大量の電子部品を供給して、ロータリーヘッド(170)に電子部品を運搬した後、運搬された各電子部品を正確に整列した姿勢でトレイ(T)の部品搭載凹部(G)に搭載する機能を実行する装置である。
部品搭載装置(100)は、部品供給部(110)、ワークテーブル(120)、第1ガイド部(130)、第2ガイド部(140)、部品認識部(150)、第1異物除去部(160)、ロータリーヘッド(170)、部品回収部(175)、第2異物除去部(180)、トレイ検査部(190)、トレイ支持部(197)、及び制御部(199)を含んでいる。
部品供給部(110)は、製造が完了した複数の電子部品をワークテーブル(120)に供給する機能を実行する。
部品供給部(110)は、供給台(S)に位置する電子部品をワークテーブル(120)の作業面(121)に供給するが、図2に示すように、部品供給部(110)の一端から電子部品(P)が排出され、ワークテーブル(120)の作業面(121)に電子部品(P)が位置することになる。
部品供給部(110)の構成としては公知の構成が適用可能であり、例えば、ロボットアームを用いた方式では、一端にて真空吸引した後、移送し、他端にて排出させる構成など様々な技術が適用可能である。
本実施例に係る部品搭載装置(100)は部品供給部(110)を含むが、本発明はこれに限定されない。すなわち、本発明に係る部品搭載装置(100)は、部品供給部(110)を含まない場合があり、その場合、ワークテーブル(120)への電子部品の供給は、作業者が手動で実行することができる。
ワークテーブル(120)は、部品供給部(110)から供給された電子部品(P)を移動させながら、部品認識作業及び部品吸着作業の作業テーブルとしての機能を実行する。
ワークテーブル(120)は、電子部品が置かれた作業面(121)と、作業面(121)を支持するテーブル支持部(122)を含んでいる。
作業面(121)は置かれた電子部品の選別を支援するために、伸縮自在な薄い弾性膜で構成することができる。その場合には、電子部品が作業面(121)の上に置かれた後、テーブル支持部(122)の内部に位置する伸張装置(図示せず)の作動により作業面(121)が伸張されることにより、作業面(121)の上に置かれた電子部品間の間隔が開き、その後の部品認識工程と部品吸着工程に助けを与えることになる。
テーブル支持部(122)は、作業面(121)を支持しながら、第1ガイド部(130)と結合してY軸方向に移動可能な構造を有する。例えば、第1ガイド部(130)には、ネジ棒が設置され、テーブル支持部(122)の下部には、そのネジ棒に挿入されるナットが設置され、ネジ棒の回転に応じて、テーブル支持部(122)が移動するように設定することができる。
また、第1ガイド部(130)は、ワークテーブル(120)とトレイ支持部(197)をY軸方向に移動可能な構成を有する。第1ガイド部(130)の構成は、制御部(199)の指示に従って、ワークテーブル(120)とトレイ支持部(197)をY軸方向に移動可能な構成を持つだけでよく、詳細な構造や移動方式等については特別な制限はない。例えば、第1ガイド部(130)の構成としては、広く知られている線形移動構造(ネジ−ナット結合移動構造、リニアモータの移動構造、コンベアベルトの構造等)を制限なく適用することができる。
第1ガイド部(130)は、ワークテーブル(120)をY軸方向に移動させるワークテーブルガイド部(131)と、トレイ支持部(197)をY軸方向に移動させるトレイガイド部(132)を含んでいる。
一方、第2ガイド部(140)は、部品認識部(150)、ロータリーヘッド(170)、及びトレイ検査部(190)をX軸方向に移動可能な構成を有する。
第2ガイド部(140)の構成は、制御部(199)の指示に基づいて部品認識部(150)、ロータリーヘッド(170)及びトレイ検査部(190)をX軸方向に移動可能な構成を持つだけでよく、詳細な構造や移動方式等については特別な制限はない。例えば、第2ガイド部(140)の構成としては、広く知られている線形移動構造(取り外し可能なガントリ構造、ガイドビームに設置されたローラーの移動構造、ネジ−ナット結合移動構造、リニアモータの移動構造、ロープ−プーリー結合移動構造等)を制限なく適用することができる。
第2ガイド部(140)は、部品認識部(150)とトレイ検査部(190)をX軸方向に移動させる前方ガイド部(141)と、ロータリーヘッド(170)をX軸方向に移動させる後方ガイド部(142)を含んでいる。
部品認識部(150)は、部品認識カメラ(151)と照明部(152)を含んでおり、前述したように、前方ガイド部(141)に沿ってX軸方向に移動できるように設置されている。
部品認識カメラ(151)は、ワークテーブル(120)の作業面(121)に置かれている複数の電子部品の画像を撮影する。制御部(199)は、部品認識カメラ(151)の撮影画像を利用して、複数の電子部品のそれぞれのX軸とY軸の位置と、回転した角度(θ)を算出することができる。
照明部(152)は、部品認識カメラ(151)が電子部品を撮影するのに十分な照明光を提供する。
第1異物除去部(160)は、ワークテーブルガイド部(131)の近くに配置され、ワークテーブル(120)の作業面(121)に位置する電子部品に付着したホコリなどの異物を除去する。
第1異物除去部(160)は、第1空気ブローノズル(161)と、第1真空吸引部(162)を含み、第1空気ブローノズル(161)の端部は、ワークテーブル(120)の作業面(121)を向くように設置されており、第1真空吸引部(162)の端部もワークテーブル(120)の作業面(121)を向くように設置されている。ワークテーブル(120)が第1異物除去部(160)を経由(通過)するときに、制御部(199)は、ワークテーブル(120)の作業面(121)の方向に第1空気ブローノズル(161)に空気を勢いよく噴出させ、電子部品に付着したホコリなどの異物を飛ばして、第1真空吸引部(162)は、その異物を吸引する作業を行う。
本実施例に係る部品搭載装置(100)は第1異物除去部(160)を含んでいるが、本発明はこれに限定されない。すなわち、本発明に係る部品搭載装置(100)は第1異物除去部(160)を含まない場合がある。
ロータリヘッド(170)は、円周方向に沿って配置される複数のノズル(171)を備えており、前述したように、後方ガイド部(142)に沿ってX軸方向に移動できるように設置される。
図3に示すように、ロータリヘッド(170)の構成としては、通常のチップマウンタ(部品装着装置)に使用されるロータリーヘッドの構成が適用可能である。ロータリーヘッド(170)は、電子部品の位置に対応する位置に移動した後、ロータリーヘッド(170)のノズル(171)を下降させて、真空吸引力でワークテーブル(120)の作業面(121)に置かれている電子部品を吸着(ピックアップ)する。その後、トレー(T)に電子部品を搭載する場合には、ノズル(171)内の真空を破壊して電子部品をトレー(T)の部品搭載凹部(G)に置くことができる。
部品回収部(175)は、ワークテーブル(120)の作業面(121)に配置された電子部品の中で、ロータリーヘッド(170)によって運搬されない電子部品を回収する装置であって、ワークテーブルガイド部(131)の近くに設置されている。
部品回収部(175)の構造は、ワークテーブル(120)の作業面(121)に残っている電子部品を除去することができる構造であればよく、その他の構成に特別な制限はない。例えば、部品回収部(175)は、真空によって電子部品を吸引させる構成を有することもできる。
第2異物除去部(180)は、後方ガイド部(142)の近くに配置され、ロータリーヘッド(170)のノズル(171)に吸着された電子部品に付着したホコリなどの異物を除去する。
第2異物除去部(180)は、第2空気ブローノズル(181)と第2真空吸引部(182)を含み、第2空気ブローノズル(181)の端部は、ロータリーヘッド(170)を向くように設置されており、第2真空吸引部(182)の端部もロータリーヘッド(170)を向くように設置されている。ロータリーヘッド(170)が第2異物除去部(180)を経由(通過)するときに、制御部(199)は、ノズル(171)に吸着された電子部品の方向に第2空気ブローノズル(181)から空気を勢いよく噴出させ、電子部品に付着したホコリなどの異物を飛ばして、第2真空吸引部(182)は、その異物を吸引する作業を行う。
本実施例に係る部品搭載装置(100)は第2異物除去部(180)を含んでいるが、本発明はこれに限定されない。すなわち、本発明に係る部品搭載装置(100)は、第2異物除去部(180)を含まない場合がある。
トレイ検査部(190)は、トレイ検査カメラ(191)と照明部(192)を含んでおり、前述したように、前方ガイド部(141)に沿ってX軸方向に移動できるように設置される。
トレイ検査カメラ(191)は、トレイ支持部(197)に置かれているトレイ(T)の上面の画像を撮影する。制御部(199)は、トレイ検査カメラ(191)の撮影画像を利用して、トレイ(T)の部品搭載凹部(G)に電子部品が欠落しているかどうか、及び各電子部品が部品搭載凹部(G)に整合して搭載されているかどうかを判断することができる。
照明部(192)は、トレイ検査カメラ(191)がトレイ(T)の上面を撮影するのに十分な照明光を提供する。
制御部(199)は、部品搭載装置(100)を構成するデバイス(構成要素)の制御を実行する。制御部(199)は、集積回路チップ、回路基板等の回路デバイスと運用プログラム等を含んで構成することができる。
以下、図1から図9を参照して、以上で説明した部品搭載装置(100)を用いた部品搭載方法について説明する。
図4から図7は、本発明の一実施例に係る部品搭載装置が作動する様子を順次示した概略的な斜視図であるが、そのうち図5及び図6においては、便宜上、前方ガイド部、部品認識部及びトレイ検査部を除いて示した。また、図8は、本発明の一実施例に係るロータリーヘッドのノズルが電子部品をトレイの部品搭載凹部に配置する様子を図示した概略的な斜視図であり、図9は、本発明の一実施例に係る部品搭載装置において電子部品が搭載されたトレイを移動させて搭載不良かどうかを検査する様子を図示した概略的な斜視図である。
まず、制御部(199)は、事前に入力されたプログラムにより、部品供給部(110)を駆動させ、供給台(S)に位置する電子部品をワークテーブル(120)の作業面(121)に積載する。図1及び図2に示すように、部品供給部(110)の一端から電子部品が排出され、ワークテーブル(120)の作業面(121)に電子部品が置かれる。
続いて制御部(199)は、ワークテーブル(120)の作業面(121)方向に第1空気ブローノズル(161)から空気を勢いよく吹き出させ、電子部品に付着したホコリなどの異物を飛ばす。第1真空吸引部(162)は、その異物を吸引する。つまり、電子部品には、部品の分離過程で部品の一部やセラミック粉末が混入されて付着することがあるが、このような異物は、部品認識工程での認識精度を低下させ、その後の工程にも不良を起こすことがあるので、この工程において異物を除去する。
続いてワークテーブル(120)は、ワークテーブルガイド部(131)によってY軸の正の方向に移動し、図4に示すように、部品認識部(150)の下方に到達する。ワークテーブル(120)が部品認識部(150)の下方に到達すると、ワークテーブル(120)の作業面(121)が伸張され、電子部品間の間隔が開いて撮影が容易な状態になる。続いて照明部(152)は照明光を照射し、部品認識カメラ(151)はワークテーブル(120)の作業面(121)に置かれている複数の電子部品の画像を撮影する。制御部(199)は、部品認識カメラ(151)の撮影画像を利用して、複数の電子部品のそれぞれのX軸とY軸の位置と、回転した角度(θ)を算出することができる。
部品認識部(150)がワークテーブル(120)の作業面(121)に置かれている電子部品を撮影した後、ワークテーブル(120)は、ワークテーブルガイド部(131)によって再びY軸の正の方向に移動して、図5に示すように、後方ガイド部(142)の下方近傍に到達する。併せて、ロータリーヘッド(170)は、後方ガイド部(142)に沿ってX軸の負の方向に移動して、ワークテーブル(120)の上方に移動する。
ロータリーヘッド(170)は、制御部(199)の指示に従って、具備しているノズル(171)を使用してワークテーブル(120)の作業面(121)に置かれている電子部品を吸着する。つまり、制御部(199)の指示に従って、ロータリーヘッド(170)が回転しながら、複数のノズル(171)は、それぞれ一つの電子部品を吸着する。
ロータリーヘッド(170)は、電子部品を吸着した後は、図6に示すように、後方ガイド部(142)に沿ってX軸の正の方向に移動して第2異物除去部(180)の上方に到達する。
続いて制御部(199)は、ノズル(171)に吸着された電子部品の方向に第2空気ブローノズル(181)から空気を勢いよく吹き出させ、電子部品に付着したホコリなどの異物を飛ばす。そして第2真空吸引部(182)が、その異物を吸引することにより、以後の工程で異物が除去されたクリーンな電子部品をトレー(T)に搭載することができるようになる。異物が除去されたクリーンな電子部品が搭載されたトレイ(T)は、トレー(T)を購入したり、供給を受けるユーザーの立場では、不良発生を防ぐことができるので、このような製品が好まれる。
一方、ノズル(171)によって吸着されなかった電子部品が残っているワークテーブル(120)は、ワークテーブルガイド部(131)に沿ってY軸の負の方向に移動し、部品回収部(175)の下方に到達し、部品回収部(175)は、ワークテーブル(120)に残っている電子部品を回収する。
続いてロータリーヘッド(170)は、後方ガイド部(142)に沿ってX軸の正の方向にさらに移動して、図7に示すように、トレイ支持部(197)に配置されたトレイ(T)の上方に到達する。
続いて図8に示すように、ロータリヘッド(170)は、制御部(199)の指示に基づいて、ノズル(171)に吸着された電子部品をトレー(T)の部品搭載凹部(G)に置く。
トレイ(T)の部品搭載凹部(G)に電子部品がすべて搭載された後、制御部(199)は、トレイ検査部(190)をトレイガイド部(132)に向かって移動させるとともに、トレイ支持部(197)をトレイガイド部(132)に沿ってY軸の負の方向に移動させて、図9に示すように、トレイ(T)をトレイ検査部(190)の下方に位置させる。
トレイ検査部(190)の照明部(192)は照明光を照射し、トレイ検査カメラ(191)はトレイ支持部(197)に置かれているトレイ(T)の上面の画像を撮影する。制御部(199)は、トレイ検査カメラ(191)の撮影画像を利用して、トレイ(T)の部品搭載凹部(G)に電子部品が欠落しているかどうか、及び各電子部品が部品搭載凹部(G)に整合しているかどうかを判断し、もし不良が見つかった場合、警告音を発生させる。
以上のように、本実施例に係る部品搭載装置(100)は、電子部品をトレー(T)に運搬するために、円周方向に沿って配置される複数のノズル(171)を具備するロータリーヘッド(170)を使用するので、小さい体積のロータリーヘッド(170)にて多量の電子部品を効率的に運搬することができる、これにより、運搬(持ち運び距離)を短縮して、すぐに次工程を進めることができる。併せて、部品搭載装置(100)の全体のサイズを縮小し、設置スペースを削減することができる。
また、本実施例に係る部品搭載装置(100)は、第1異物除去部(160)と第2異物除去部(180)を利用して、電子部品に付着した異物を確実に除去することにより、各工程の信頼性を高め、最終的には、異物が除去されたクリーンな電子部品をトレー(T)に搭載することができる。異物が除去されたクリーンな電子部品が搭載されたトレイ(T)は、以後の工程で不良発生を防ぐことができるので、商品性が高められる。
図10は、本発明の他の実施例に係る部品搭載装置を概略的に示した斜視図であり、図11は、本実施例に係る部品搭載装置において部品供給部からワークテーブルに部品が供給される様子を図示した概略的な斜視図、図12は、本実施例に係る部品搭載装置においてロータリーヘッドのノズルが電子部品を吸着する様子を示す概略的な斜視図である。
本実施例に係る部品搭載装置(100)は、個々の単位で製造が完了した大量の電子部品の供給を受け、不良品を検出し、品質が良好である電子部品(良品)のみを選別した後、選別された電子部品を正確に整列した姿勢でトレイ(T)に積載する機能を実行する装置である。
部品搭載装置(100)は、部品供給部(110)、ワークテーブル(120)、第1ガイド部(130)、第2ガイド部(140)、部品認識部(150)、第1部品検査部(160)、ロータリーヘッド(170)、部品回収部(175)、第2部品検査部(180)、トレイ検査部(190)、ダンプボックス(195)、トレイ支持部(197)、及び制御部(199)を含んでいる。
部品供給部(110)は、製造が完了した複数の電子部品をワークテーブル(120)に供給する機能を実行する装置である。
部品供給部(110)は、供給台(S)に位置する電子部品をワークテーブル(120)の作業面(121)に供給するが、図11に示すように、部品供給部(110)の一端から電子部品が排出され、ワークテーブル(120)の作業面(121)に電子部品が位置することになる。
部品供給部(110)の構成としては公知の構成が適用可能であり、例えば、ロボットアームを用いた方式では、一端にて真空吸引した後、移送し、他端にて排出させる構成など様々な技術が適用可能である。
本実施例に係る部品搭載装置(100)は部品供給部(110)を含むが、本発明はこれに限定されない。すなわち、本発明に係る部品搭載装置(100)は、部品供給部(110)を含まない場合があり、その場合、ワークテーブル(120)への電子部品の供給は、作業者が手動で実行することができる。
一方、ワークテーブル(120)は、部品供給部(110)から供給された電子部品(P)を移動させながら、部品認識作業及び部品吸着作業の作業テーブルとしての機能を実行する。
ワークテーブル(120)は、電子部品が置かれた作業面(121)と、作業面(121)を支持するテーブル支持部(122)を含んでいる。
作業面(121)は置かれた電子部品の選別を支援するために、伸縮自在な薄い弾性膜で構成することができる。その場合には、電子部品が作業面(121)の上に置かれた後、テーブル支持部(122)の内部に位置する伸張装置(図示せず)の作動により作業面(121)が伸張されることにより、作業面(121)の上に置かれた電子部品間の間隔が開き、その部品認識工程と部品吸着工程に助けを与えることになる。
テーブル支持部(122)は、作業面(121)を支持しながら、第1ガイド部(130)と結合してY軸方向に移動可能な構造を有する。例えば、第1ガイド部(130)には、ネジ棒が設置され、テーブル支持部(122)の下部には、そのネジ棒に挿入されるナットが設置され、ネジ棒の回転に応じて、テーブル支持部(122)が移動するように設定することができる。
また、第1ガイド部(130)は、ワークテーブル(120)とトレイ支持部(197)をY軸方向に移動可能な構成を有する。第1ガイド部(130)の構成は、制御部(199)の指示に従って、ワークテーブル(120)とトレイ支持部(197)をY軸方向に移動可能な構成を持つだけでよく、詳細な構造や移動方式等については特別な制限はない。例えば、第1ガイド部(130)の構成としては、広く知られている線形移動構造(ネジ−ナット結合移動構造、リニアモータの移動構造、コンベアベルトの構造等)を制限なく適用することができる。
第1ガイド部(130)は、ワークテーブル(120)をY軸方向に移動させるワークテーブルガイド部(131)と、トレイ支持部(197)をY軸方向に移動させるトレイガイド部(132)を含んでいる。
一方、第2のガイド部(140)は、部品認識部(150)、第1部品検査部(160)、ロータリーヘッド(170)、トレイ検査部(190)をX軸方向に移動可能な構成を有する。
第2のガイド部(140)の構成は、制御部(199)の指示に基づいて部品認識部(150)、第1部品検査部(160)、ロータリーヘッド(170)及びトレイ検査部(190)をX軸方向に移動可能な構成を持つだけでよく、詳細な構造や移動方式等については特別な制限はない。例えば、第2ガイド部(140)の構成としては、広く知られている線形移動構造(取り外し可能なガントリ構造、ガイドビームに設置されたローラーの移動構造、ネジ−ナット結合移動構造、リニアモータの移動構造、ロープ−プーリー結合移動構造等)を制限なく適用することができる。
第2のガイド部(140)は、部品認識部(150)及びトレイ検査部(190)をX軸方向に移動させる前方ガイド部(141)と、第1部品検査部(160)及びロータリーヘッド(170)をX軸方向に移動させる後方ガイド部(142)を含んでいる。
部品認識部(150)は、部品認識カメラ(151)と照明部(152)を含んでおり、前述したように、前方ガイド部(141)に沿ってX軸方向に移動できるように設置されている。
部品認識カメラ(151)は、ワークテーブル(120)の作業面(121)に置かれている複数の電子部品の画像を撮影する。制御部(199)は、部品認識カメラ(151)の撮影画像を利用して、複数の電子部品のそれぞれのX軸とY軸の位置と、回転した角度(θ)を算出することができる。
照明部(152)は、部品認識カメラ(151)が電子部品を撮影するのに十分な照明光を提供する。
第1部品検査部(160)は、第1部品検査カメラ(161)と照明部(162)を含んでおり、前述したように、後方ガイド部(142)に沿ってX軸方向に移動できるように設置されている。
第1部品検査カメラ(161)は、ワークテーブル(120)の作業面(121)に配置されている複数の電子部品の画像を撮影する。制御部(199)は、第1部品検査カメラ(161)の撮影画像を利用して、複数の電子部品のそれぞれの表面検査を行って良品と不良品とを選別し、また、個々の電子部品の重心位置を求めることができる。
照明部(162)は、第1部品検査カメラ(161)が電子部品を撮影するのに十分な照明光を提供する。
ロータリヘッド(170)は、円周方向に沿って配置される複数のノズル(171)を備えており、前述したように、後方ガイド部(142)に沿ってX軸方向に移動できるように設置される。
図12に示すように、ロータリヘッド(170)の構成としては、通常のチップマウンタ(部品装着装置)に使用されるロータリーヘッドの構成が適用可能である。ロータリーヘッド(170)は、電子部品の位置に対応する位置に移動した後、ロータリーヘッド(170)のノズル(171)を下降させて、真空吸引力でワークテーブル(120)の作業面(121)に置かれている電子部品を吸着(ピックアップ)する。その後、トレー(T)に電子部品を搭載する場合には、ノズル(171)内の真空を破壊して電子部品をトレー(T)の部品搭載凹部(G)に置くことができる。
部品回収部(175)は、ワークテーブル(120)の作業面(121)に配置された電子部品の中で、ロータリーヘッド(170)によって運搬されない電子部品を回収する装置であって、ワークテーブルガイド部(131)の近くに設置されている。
部品回収部(175)の構造は、ワークテーブル(120)の作業面(121)に残っている電子部品を除去することができる構造であればよく、その他の構成に特別な制限はない。例えば、部品回収部(175)は、真空によって電子部品を吸引させる構成を有することもできる。
第2部品検査部(180)は、第2部品検査カメラ(181)と照明部(182)を含み、後方ガイド部(142)の近くに設置されている。
第2部品検査カメラ(181)は、ノズル(171)の一端に吸着された電子部品の表面(下側の面)を撮影する。制御部(199)は、第2部品検査カメラ(181)の撮影画像を利用して、複数の電子部品のそれぞれの表面検査を実行して、良品と不良品を選別する。
照明部(182)は、第2部品検査カメラ(181)が電子部品を撮影するのに十分な照明光を提供する。
トレイ検査部(190)は、トレイ検査カメラ(191)と照明部(192)を含んでおり、前述したように、前方ガイド部(141)に沿ってX軸方向に移動できるように設置される。
トレイ検査カメラ(191)は、トレイ支持部(197)に置かれているトレイ(T)の上面の画像を撮影する。制御部(199)は、トレイ検査カメラ(191)の撮影画像を利用して、トレイ(T)の部品搭載凹部(G)に電子部品が欠落しているかどうか、及び各電子部品が部品搭載凹部(G)に整合して搭載されていることかどうかを判断することができる。
照明部(192)は、トレイ検査カメラ(191)がトレイ(T)の上面を撮影するのに十分な照明光を提供する。
ダンプボックス(195)は、第2部品検査部(180)で撮影された画像を基にして不良品と判定された電子部品を回収するボックスである。つまり、制御部(199)は、第2部品検査部(180)が電子部品を撮影した画像を分析して、電子部品を良品と不良品とに選別し、良品の電子部品についてはトレイ(T)に搭載し、不良の電子部品についてはロータリーヘッド(170)をダンプボックス(195)の上方に移動させて不良の電子部品を回収する。
制御部(199)は、部品搭載装置(100)を構成するデバイス(構成要素)の制御を実行する。制御部(199)は、集積回路チップ、回路基板等の回路デバイスと運用プログラム等を含んで構成することができる。
以下、図10から図19を参照して、以上で説明した本実施例に係る部品搭載装置(100)を用いた部品搭載方法について説明する。
図13から図17は、本実施例に係る部品搭載装置が作動する様子を順次示した概略的な斜視図であるが、そのうち図14から図16においては、便宜上、前方ガイド部、部品認識部及びトレイ検査部を除いて示した。また、図18は、本実施例に係る部品搭載装置のロータリーヘッドのノズルが電子部品をトレイの部品搭載凹部に配置する様子を図示した概略的な斜視図であり、図19は、本実施例に係る部品搭載装置において電子部品が搭載されたトレイを移動させて搭載不良かどうかを検査する様子を図示した概略的な斜視図である。
まず、制御部(199)は、事前に入力されたプログラムによって部品供給(110)を駆動させ、供給台(S)に位置する電子部品をワークテーブル(120)の作業面(121)に積載する。図10及び図11に示すように、部品供給部(110)の一端から電子部品が排出され、ワークテーブル(120)の作業面(121)に電子部品が置かれる。なお、本実施例において図面には示されていないが、このとき、先の実施例(実施例1)で説明した「第1異物除去部」を使用することで、ワークテーブル(120)の作業面(121)に位置する電子部品に付着しているホコリなどの異物を除去することもできる。つまり、ワークテーブル(120)の作業面(121)の方向に第1空気ブローノズルから空気を勢いよく噴出し、電子部品に付着しているホコリなどの異物を飛ばして、第1真空吸引部にてその異物を吸引することにより、以後の部品認識及び検査工程での精度を高めることができ、電子部品の不良率も減らすことができる。
続いて、ワークテーブル(120)は、ワークテーブルガイド部(131)によってY軸の正の方向に移動し、図13に示すように、部品認識部(150)の下方に到達する。ワークテーブル(120)が部品認識部(150)の下方に到達すると、ワークテーブル(120)の作業面(121)が伸張され、電子部品間の間隔が開いて撮影が容易な状態になる。続いて、照明部(152)は照明光を照射し、部品認識カメラ(151)は、ワークテーブル(120)の作業面(121)に置かれている複数の電子部品の画像を撮影する。制御部(199)は、部品認識カメラ(151)の撮影画像を利用して、複数の電子部品のそれぞれのX軸とY軸の位置と、回転した角度(θ)を算出することができる。
部品認識部(150)がワークテーブル(120)の作業面(121)に置かれている電子部品を撮影した後、ワークテーブル(120)は、ワークテーブルガイド部(131)によって再びY軸の正の方向に移動して、図14に示すように、後方ガイド部(142)の下方近傍に到達する。
一方、第1部品検査部(160)は、後方ガイド部(142)に沿ってX軸の負の方向に移動し、ワークテーブル(120)の上方に移動する。続いて、照明部(162)は照明光を照射し、第1部品検査カメラ(161)はワークテーブル(120)の作業面(121)に置かれている複数の電子部品の画像を撮影し、制御部(199)は第1部品検査カメラ(161)の撮影画像を利用して、複数の電子部品のそれぞれの表面検査を実行し、良品と不良品とを選別するとともに、個々の電子部品の重心位置を求める(第1次部品検査段階)。
第1部品検査部(160)は、ワークテーブル(120)の作業面(121)に置かれている電子部品を撮影した後、図15に示すように、後方ガイド部(142)に沿ってX軸の負の方向に移動する。さらに、ロータリーヘッド(170)は、後方ガイド部(142)に沿ってX軸の負の方向に移動し、ワークテーブル(120)の上方に移動する。
ロータリーヘッド(170)は、制御部(199)の指示に従って、具備しているノズル(171)を使用してワークテーブル(120)の作業面(121)に置かれている電子部品を吸着する。つまり、制御部(199)の指示に従って、ロータリーヘッド(170)が回転しながら、複数のノズル(171)は、それぞれ一つの電子部品を吸着する。このとき、制御部(199)は、第1部品検査部(160)が撮影した画像に基づいて決定された良品の部品のみがノズル(171)に吸着されるように制御する。
ロータリーヘッド(170)は、電子部品を吸着した後は、図16に示すように、後方ガイド部(142)に沿ってX軸の正の方向に移動して第2部品検査部(180)の上方に到達する。
第2の部品検査部(180)の照明部(182)は照明光を照射し、第2部品検査カメラ(181)は、ノズル(171)の一端に吸着された電子部品の表面(下側の面)を上向きに撮影する。このように下から上向きに撮影することで、前述した第1次部品検査段階で実行していなかった電子部品の下面も撮影することができ、不良品の選別がより正確になる。制御部(199)は、第2部品検査カメラ(181)の撮影画像を利用して、各ノズル(171)に吸着された複数の電子部品の表面検査を実行して、良品と不良品とを選別する(第2次部品検査段階)。なお、本実施例では図面に示さなかったが、この撮影前に、先の実施例(実施例1)で説明した「第2異物除去部」を使用することで、電子部品に付着しているホコリなどの異物を除去することもできる。つまり、ノズル(171)の一端に吸着された電子部品の方向に第2空気ブローノズルから空気を勢いよく噴出し、電子部品に付着しているホコリなどの異物を飛ばして、第2真空吸引部にてその異物を吸引することにより、検査工程での精度を高めることができ、電子部品の不良率も減らすことができる。
ここで、第2部品検査カメラ(181)の撮影時に、もしノズル(171)に吸着された電子部品の厚さが過剰に薄かったり、あるいは逆に厚かったりして、第2部品検査カメラ(181)の焦点が合わない場合には、制御部(199)は、電子部品を吸着するノズル(171)の高さを適切に調整して焦点(ピント)を合わせて撮影することができる。このほか、第2部品検査カメラ(181)に別々の焦点調整機構を備えてもよい。
一方、不良品のためノズル(171)によって吸着されてなかった電子部品が残っているワークテーブル(120)は、ワークテーブルガイド部(131)に沿ってY軸の負の方向に移動し、部品回収部(175)の下方に到達し、部品回収部(175)は、ワークテーブル(120)に残っている不良品を回収する。
続いてロータリーヘッド(170)は、後方ガイド部(142)に沿ってX軸の正の方向にさらに移動して、図17に示すように、トレイ支持部(197)に配置されたトレイ(T)の上方に到達する。
続いて、図18に示すように、ロータリヘッド(170)は、制御部(199)の指示に基づいて、ノズル(171)に吸着された電子部品のうち、良品の部品だけをトレー(T)の部品搭載凹部(G)に置く。つまり、制御部(199)は、第2部品検査カメラ(181)の撮影画像を利用して、複数の電子部品のそれぞれの表面検査(第2次部品検査段階)を実行して良品と不良品とを選別した結果、良品であることが判明した部品のみをトレイ(T)の部品搭載凹部(G)に配置する。
ロータリーヘッド(170)は、ノズル(171)に吸着された電子部品のうち良品の部品のみをトレー(T)の部品搭載凹部(G)に置いた後、後方ガイド部(142)に沿ってX軸の正の方向にさらに移動して、ダンプボックス(195)の上方まで移動する。続いて、ノズル(171)に吸着されている不良の電子部品をダンプボックス(195)に落とし、不良の電子部品を回収し、廃棄する。
トレイ(T)の部品搭載凹部(G)に電子部品がすべて配置された後、制御部(199)は、トレイ検査部(190)をトレイガイド部(132)に向かって移動させるとともに、トレイ支持部(197)をトレイガイド部(132)に沿ってY軸の負の方向に移動させて、図19に示すように、トレイ(T)をトレイ検査部(190)の下方に位置させる。
トレイ検査部(190)の照明部(192)は、照明光を照射し、トレイ検査カメラ(191)は、トレイ支持部(197)に置かれているトレイ(T)の上面の画像を撮影する。制御部(199)は、トレイ検査カメラ(191)の撮影画像を利用して、トレイ(T)の部品搭載凹部(G)に電子部品が欠落しているかどうか、及び各電子部品が部品搭載凹部(G)に整合しているかどうかを判断し、もし不良が見つかった場合、警告音を発生させる。
以上のように、本実施例に係る部品搭載装置(100)は、トレー(T)に電子部品を搭載する前に、第1部品検査部(160)及び第2部品検査部(180)を用いた外観検査を介して電子部品の不良を判断し、良品の電子部品だけをトレー(T)に搭載する。これにより、搭載工程後に、電子部品の不良を判断する工程が不要となり、全体的な工程が単純になり、それに応じて搭載コストを削減することができる。
また、本実施例に係る部品搭載装置(100)では、ロータリーヘッド(170)のノズル(171)が電子部品を吸着する前に、第1部品検査部(160)を利用した第1次部品検査段階を経て、ロータリーヘッド(170)のノズル(171)が電子部品を吸着した後、第2部品検査部(180)を用いた第2次部品検査の段階を踏むように外観検査(スキャン)を実行するので、電子部品のすべての表面(上面及び下面)を撮影し、不良かどうかを判断することができる。これにより、トレイ(T)に搭載される電子部品が不良かどうかをより確実に判断することができ、トレイ(T)の不良率を減らすことができる。
また、本実施例に係る部品搭載装置(100)は、電子部品をトレー(T)に運搬するために、円周方向に沿って配置される複数のノズル(171)を具備するロータリーヘッド(170)を使用するので、小さい体積のロータリーヘッド(170)にて多量の電子部品を効率的に運搬することができる。これにより、部品搭載装置(100)の全体のサイズを減らし、設置スペースを削減することができる。
図20は、本発明のさらに他の実施例に係る部品搭載装置の要部を概略的に示した斜視図であり、図21は、本実施例に係る部品搭載装置において使用したロータリーヘッドを概略的に示した断面図である。
本実施例に係る部品搭載装置(100)は、先の実施例(実施例2)に係る部品搭載装置の第2部品検査部(180)に第3部品検査カメラ(183)を付加することにより、電子部品の下面に加え側面の撮影も行うことができるようにしたものである。
まず、図21を参照して、本実施例に係る部品搭載装置(100)において使用したロータリーヘッド(170)の構成を説明する。
ロータリーヘッド(170)は、中央の回転軸(172)周り(R方向)に回転する円筒状の回転ヘッド(173)を有する。回転ヘッド(173)には、その周方向に沿って等間隔で複数本のノズルシャフト(174)が設けられており、各ノズルシャフト(174)の下端にノズル(171)が着脱自在に取り付けられている。各ノズルシャフト(174)はその軸心周り(T方向)に回転可能であり、基準位置Sに位置するノズルシャフト(174)は、押圧具(175)を下降させることで下降し、押圧具(175)を元の位置に戻すことで、図21の初期位置に復帰する。すなわち、各ノズルシャフト(174)及びノズル(171)は回転ヘッド(173)の回転より、順次、基準位置Sに到来し、この基準位置SにおいてZ方向に昇降可能となっている。そして、この基準位置Sにおいてノズル(171)を下降させて、真空吸引力で電子部品を吸着し、また、真空を破壊して電子部品を置くことができる。
次に、図20を参照して、第2部品検査部(180)の構成について説明する。第2部品検査部(180)は、先の実施例(実施例2)で説明した第2部品検査カメラ(181)及び照明部(182)に加え、第3部品検査カメラ(183)、照明部(184)及びミラー部(185)を含み、部品搭載装置(100)のベース部に固定的に設置されている。
第2部品検査カメラ(181)は、先の実施例(実施例2)で説明したようにノズル(171)に吸着された電子部品(P)の下面を撮影する。一方、第3部品検査カメラ(183)は、ノズル(171)に吸着された電子部品(P)の側面、より具体的にはロータリーヘッド(170)の通過方向(X方向)に対面する電子部品(P)の側面を撮影する。
図22(a)は、第3部品検査カメラ(183)の光学系を概略的に示した平面図、図22(b)は図22(a)のA方向矢視に相当する図である。図22(a)に示すように、第3部品検査カメラ(183)と照明部(184)の光学経路(光軸)はX方向(ロータリーヘッド(170)の通過方向)と直交し、ミラー部(185)によってその光学経路がX方向の平行となるように構成されている。すなわち、このような光学系により、第3部品検査カメラ(183)は、電子部品(P)のX方向に対面する側面P1を撮影することができる。
また、図22(a)のように、第3部品検査カメラ(183)と照明部(184)の光学経路をX方向と交差するように配置すると、これらをX方向に平行に配置する場合に比べ、部品搭載装置がX方向に拡大することを抑制することができる。
なお、電子部品(P)の側面を撮影後、ロータリーヘッド(170)が次工程のためにX方向(図中では右方向)に移動する際は、図22(b)に示すようにノズル(171)に吸着された電子部品(P)がミラー部(185)と干渉しないようにノズル(171)をZ方向に上昇させて逃がす必要がある。このZ方向のストロークには制限があるので、ミラー部(185)を含む第3部品検査カメラ(183)の光学系の高さ寸法は、Z方向のストロークより低くする必要がある。
図23は、第3部品検査カメラ(183)の光学系の他の例を概略的に示した平面図である。同図のように、第3部品検査カメラ(183)と照明部(184)の光学経路を傾斜(例えば45度傾斜)させて配置すれば、ミラー部を使用することなく第3部品検査カメラ(183)と照明部(184)の光学経路をX方向と交差するように配置することもできる。この場合、電子部品(P)の側面P1を上記光学経路と対向するように向けることで、当該側面P1を撮影する。
ここで、図23のように光学経路を傾斜させて配置すると、ノズル(171)に吸着された電子部品(P)がX方向に移動する際、第3部品検査カメラ(183)の光学系が電子部品(P)と干渉しないようにすることができる。そうすると、第3部品検査カメラ(183)の光学系の高さ寸法は、図22(b)で説明したZ方向のストロークの制約を受けない。したがって、より高性能な光学系を配置することも可能となる。
図24は、第3部品検査カメラ(183)による電子部品(P)の側面(P1−1〜P1−4)の撮影動作を概略的に示す説明図である。
図24とともに図21を参照しつつ説明すると、動作の一例として、ロータリーヘッド(170)のノズル(171)に吸着された電子部品(P)の側面(P1−1)が第3部品検査カメラ(183)の光学系の焦点距離位置に来るように、ロータリーヘッド(170)がX方向に移動する。この位置でロータリーヘッド(170)は撮影したい側面(P1−1)がX方向と直交(対面)するようにノズル(171)をT方向に回転させ、その後、第3部品検査カメラ(183)の撮影範囲までZ方向に下降させる。そして、第3部品検査カメラ(183)が側面(P1−1)を撮影する。
その側面(P1−1)の撮影が終わると、ロータリーヘッド(170)は、当該ノズル(171)をZ方向に上昇させ、次のノズル(171)が撮影位置に来るようにR方向に回転する。そして、当該ノズル(171)に吸着された電子部品(P)の側面(P1−1)を上述の要領で撮影する。この動作をノズル(171)の個数分繰り返して側面(P1−1)の撮影を完了する。
同様にして、他の側面(P1−2〜P1−4)の撮影も実行するが、図24に示すように電子部品(P)が長方形の場合、例えば側面(P1−2)を撮影した後に側面(P1−3)をする際、電子部品(P)をT方向に回転させただけでは、第3部品検査カメラ(183)の焦点が合わない。このような場合でも、本実施例ではロータリーヘッド(170)をX方向に移動させることで焦点を合わせることができる(図24の上段及び下段参照)。このようにして、1個の光学系で4つの側面を撮影することが可能である。
なお、電子部品Pの下面については、上述した側面撮影の一連の動作において、第2部品検査カメラ(181)により撮影することができる。例えば、側面(P1−1)の撮影の際に同時に下面を撮影することができる。
本発明について、図面に示された実施例を参考にして説明したが、これは例示的なものに過ぎず、当該分野における通常の知識を有する者であれば、このことから多様な変形及び実施形態の変形が可能である。したがって、本発明の真の技術的保護範囲は、添付された特許請求の範囲の技術的思想によって定められなければならない。
本発明は、部品を搭載する装置の製造及び適用に使用することができる。
100:部品搭載装置
110:部品供給部
120:ワークテーブル
130:第1ガイド部
140:第2ガイド部
150:部品認識部
160:第1異物除去部(第1部品検査部)
170:ロータリーヘッド
180:第2異物除去部(第2部品検査部)
190:トレイ検査部
197:トレイ支持部
199:制御部

Claims (15)

  1. 伸縮自在な弾性膜で構成する作業面と、前記作業面を伸張する伸張装置が置かれているテーブル支持部を持つワークテーブルと、
    前記ワークテーブルをY軸方向に移動させるワークテーブルガイド部と、
    前記ワークテーブルの作業面にある電子部品を認識する部品認識部と、
    前記部品認識部をX軸方向に移動させる前方ガイド部と、
    前記部品認識部によって認識された電子部品を吸着する複数のノズルを備えたロータリーヘッドと、
    前記ロータリーヘッドをX軸方向に移動させる後方ガイド部と、
    前記ロータリーヘッドのノズルに吸着された電子部品が搭載されるトレイを支持するトレイ支持部と、
    前記トレイ支持部をY軸方向に移動させるトレイガイド部と、
    前記ワークテーブル、前記部品認識部及び前記ロータリーヘッドを制御する制御部とを含み、
    前記制御部は、Y軸方向に前記ワークテーブルを移動させ、前記ワークテーブルが前記部品認識部の下方に到達すると、前記作業面を伸張させて電子部品間の間隔が開くようにした後、前記部品認識部で電子部品を認識した後、前記ロータリーヘッドのノズルで前記間隔が開いた電子部品を吸着させる部品搭載装置。
  2. 前記ワークテーブルに電子部品を供給する部品供給部をさらに含む、請求項1に記載の部品搭載装置。
  3. 前記部品認識部は部品認識カメラを含む、請求項1又は2に記載の部品搭載装置。
  4. 前記ノズルは、前記ロータリーヘッドの円周方向に沿って配置されている、請求項1から3のいずれかに記載の部品搭載装置。
  5. 前記ワークテーブルの作業面にある電子部品に付着した異物を除去する第1の異物除去部をさらに含む、請求項1から4のいずれかに記載の部品搭載装置。
  6. 前記第1の異物除去部は、空気を噴出する第1の空気ブローノズルと、異物を吸引する第1の真空吸引部とを含む、請求項5に記載の部品搭載装置。
  7. 前記ノズルに吸着された電子部品に付着した異物を除去する第2の異物除去部をさらに含む、請求項5に記載の部品搭載装置。
  8. 前記第2の異物除去部は、空気を噴出する第2の空気ブローノズルと、異物を吸引する第2の真空吸引部とを含む、請求項7に記載の部品搭載装置。
  9. 前記部品認識部によって認識された電子部品を検査する第1の部品検査部をさらに含み、前記ロータリーヘッドのノズルが、前記第1の部品検査部の検査を通過した電子部品を吸着する、請求項1から8のいずれかに記載の部品搭載装置。
  10. 前記ロータリーヘッドのノズルに吸着された電子部品を検査する第2の部品検査部をさらに含み、前記第2の部品検査部の検査を通過した電子部品を前記トレイに搭載する、請求項9に記載の部品搭載装置。
  11. 前記第1の部品検査部は、第1の部品検査カメラを含む、請求項9に記載の部品搭載装置。
  12. 前記第2の部品検査部は、第2の部品検査カメラを含む、請求項10に記載の部品搭載装置。
  13. 前記第2の部品検査カメラは、前記電子部品の下面を撮影する、請求項12に記載の部品搭載装置。
  14. 前記第2の部品検査部は、前記電子部品の側面を撮影する第3の部品検査カメラを含む、請求項10又は13に記載の部品搭載装置。
  15. 前記第3の部品検査カメラは、前記電子部品の、前記ロータリーヘッドの通過方向に対面する側面を撮影する、請求項14に記載の部品搭載装置。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6500233B2 (ja) * 2015-10-27 2019-04-17 パナソニックIpマネジメント株式会社 トレイ供給装置およびトレイ供給方法
KR101650489B1 (ko) * 2016-04-25 2016-08-24 주식회사 에스탑 부품선별장치
JP6789867B2 (ja) * 2017-03-29 2020-11-25 グローリー株式会社 良品収集システム並びにそのシステムの制御用のコントローラおよびプログラム
KR101921021B1 (ko) * 2018-04-06 2018-11-21 (주)이즈미디어 회전식 카메라모듈 검사장치
KR20210011536A (ko) 2019-07-22 2021-02-02 삼성디스플레이 주식회사 미세 소자의 전사 장치 및 전사 방법
CN111029280B (zh) * 2019-12-19 2023-01-17 华天科技(西安)有限公司 一种来料托盘装分离芯上芯机台的上料承片台及上料方法

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS512524Y1 (ja) * 1970-11-30 1976-01-24
JPS5328760Y2 (ja) 1974-06-24 1978-07-19
JPH01284744A (ja) * 1988-05-10 1989-11-16 Mitsubishi Electric Corp 電子部品の検査装置
JPH0738284A (ja) 1993-07-23 1995-02-07 Nec Ibaraki Ltd 異物除去装置
JPH08162797A (ja) * 1994-12-08 1996-06-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品実装装置
JP3132353B2 (ja) * 1995-08-24 2001-02-05 松下電器産業株式会社 チップの搭載装置および搭載方法
JPH0992661A (ja) 1995-09-25 1997-04-04 Rohm Co Ltd 半導体チップのピックアップ方法およびその装置
JPH1093846A (ja) * 1996-09-12 1998-04-10 Copal Co Ltd 撮像装置
JPH10113826A (ja) * 1996-10-09 1998-05-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 部品供給装置
US6132161A (en) 1997-10-21 2000-10-17 Industrial Technology Research Institute Chip supplying apparatus performing stable blue-film-expansion operation
JP3491557B2 (ja) * 1999-04-22 2004-01-26 松下電器産業株式会社 電子部品供給用のトレイフィーダ
CN2552160Y (zh) 2002-03-22 2003-05-21 均豪精密工业股份有限公司 芯片重置装置
US7364983B2 (en) 2005-05-04 2008-04-29 Avery Dennison Corporation Method and apparatus for creating RFID devices
KR100705645B1 (ko) 2005-06-07 2007-04-09 (주) 인텍플러스 반도체 소자 분류 방법
KR100697087B1 (ko) 2005-06-09 2007-03-20 엘지전자 주식회사 공기조화기
CN1889240A (zh) 2005-06-28 2007-01-03 京元电子股份有限公司 自动清洁吸嘴的装置与方法
KR100829232B1 (ko) 2006-09-29 2008-05-14 미래산업 주식회사 전자부품 테스트용 핸들러
JP4881123B2 (ja) * 2006-10-17 2012-02-22 ヤマハ発動機株式会社 実装機およびその部品清掃方法
CN102204427A (zh) 2008-09-01 2011-09-28 荷兰应用自然科学研究组织Tno 拾取放置机器
JP5261632B2 (ja) 2008-10-24 2013-08-14 サムスンテックウィン株式会社 出荷トレイ装填装置
JP5561980B2 (ja) * 2009-09-25 2014-07-30 富士機械製造株式会社 部品装着装置
JP4889802B2 (ja) 2010-06-30 2012-03-07 アキム株式会社 チップボンダ
JP5341042B2 (ja) * 2010-09-14 2013-11-13 パナソニック株式会社 電子部品実装装置及び電子部品実装方法
US8459120B2 (en) 2010-11-05 2013-06-11 Sonix, Inc. Method and apparatus for automated ultrasonic inspection
KR20120057354A (ko) 2010-11-26 2012-06-05 삼성테크윈 주식회사 벨트형 트레이 피더
CN104041205B (zh) * 2012-01-17 2016-10-05 日本先锋公司 电子元件安装装置及电子元件安装方法

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