KR20080060415A - 핸들러의 전자부품 픽커 - Google Patents

핸들러의 전자부품 픽커 Download PDF

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KR20080060415A
KR20080060415A KR1020060134432A KR20060134432A KR20080060415A KR 20080060415 A KR20080060415 A KR 20080060415A KR 1020060134432 A KR1020060134432 A KR 1020060134432A KR 20060134432 A KR20060134432 A KR 20060134432A KR 20080060415 A KR20080060415 A KR 20080060415A
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황광춘
신범호
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미래산업 주식회사
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Abstract

본 발명은 핸들러의 전자부품 픽커를 개시한다. 본 발명에 따르면, 픽커 베이스; 픽커 베이스에 장착되며, 전자부품을 각각 흡,탈착하는 노즐 어셈블리들이 적어도 1행 다수 열로 배열된 노즐 유닛; 및 노즐 유닛이 다수의 행과 열로 배열된 전자부품 수납공간들로 이동하는 방향을 기준으로 노즐 어셈블리들의 후방에 배치되어, 노즐 어셈블리들이 전자부품 수납공간들에 전자부품들을 수납하는 동안 전자부품 수납공간들의 각 행마다 전자부품들을 수납하기에 앞서 전자부품 수납공간들이 비어있는지 여부를 미리 탐지하는 탐지 유닛;을 구비한다.

Description

핸들러의 전자부품 픽커{Electronic parts picker of handler}
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 픽커가 적용되는 핸들러의 일 예를 개략적으로 도시한 구성도.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 픽커에 대한 사시도.
도 3 및 도 4는 도 2에 도시된 전자부품 픽커에 있어서, 탐지 유닛을 확대 도시한 사시도.
도 5는 도 4에 도시된 탐지 유닛의 작동 예를 설명하기 위한 사시도.
도 6 및 도 7은 도 2에 도시된 전자부품 픽커의 작동 예를 설명하기 위한 사시도.
〈도면의 주요 부호에 대한 간단한 설명〉
110..픽커 베이스 120..노즐 유닛
121..노즐 어셈블리 123..노즐
130..탐지 유닛 131..탐지 브래킷
132..승강 액추에이터 133..탐지 승강 핀
134..탄성 부재 135..센싱부
C2..언로딩측 고객 트레이 E..전자부품
E'..잔류 전자부품 S..전자부품 수납공간
본 발명은 전자부품을 테스트하기 위한 핸들러에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 전자부품들을 픽업하고 수납하는 핸들러의 전자부품 픽커에 관한 것이다.
일반적으로, 메모리나 비메모리 반도체 소자 등의 디바이스(device)와, 상기 디바이스들을 하나의 기판 상에 적절히 구성한 모듈을 포함하는 전자부품들은 생산 후 여러 가지 테스트를 거친 후에 출하된다. 이러한 테스트는 핸들러에 의하여 행해지고 있다.
핸들러는 테스트할 전자부품들을 로딩부측 고객 트레이로부터 교환부의 테스트 트레이로 장착하고, 교환부에서 전자부품들을 장착한 테스트 트레이를 테스트부로 급송하여 전자부품들을 테스트한다. 그리고, 핸들러는 테스트부를 거쳐 테스트 완료된 전자부품들을 장착한 테스트 트레이를 교환부로 환송한 후, 전자부품들을 테스트한 결과에 따라 그 등급에 맞게 분류하여 언로딩부측 고객 트레이로 반출한다. 상기 핸들러에는 로딩부와 교환부 사이와, 언로딩부와 교환부 사이에 전자부품을 잠시 대기시키기 위해 버퍼부가 마련된 예도 있다.
이러한 핸들러에는 로딩부와 버퍼부 사이, 버퍼부와 교환부 사이, 및 언로딩부와 버퍼부 사이에서 전자부품들을 이송하기 위해 픽커(picker)가 마련된다. 일반적으로, 픽커는 전자부품을 흡착 또는 탈착하는 다수의 노즐들을 구비한다.
상기와 같이 구성된 핸들러는 언로딩부측 고객 트레이에 테스트 완료된 전자 부품들을 수납하기에 앞서, 종래에 따르면, 고객 트레이의 전자부품 수납공간들이 모두 비어있는지 확인한다. 예컨대, 버퍼부와 언로딩부 사이에서 전자부품들을 이송하는 픽커가 고객 트레이에 전자부품들을 수납하기에 앞서, 고객 트레이로 이동한 다음, 전자부품을 흡착 또는 탈착하는 노즐들을 이용하여 고객 트레이의 전자부품 수납공간 전체를 스캐닝하면서 전자부품 수납공간들이 모두 비어있는지 여부를 확인한다. 그 다음, 고객 트레이의 전자부품 수납공간이 모두 비어있다고 판단되면, 픽커는 버퍼부와 고객 트레이 사이를 왕복하면서 테스트 완료된 전자부품들을 고객 트레이에 수납하게 된다.
그런데, 전술한 바와 같이 종래에 따르면, 고객 트레이의 전자부품 수납공간이 모두 비어있는지 여부를 확인한 다음, 모두 비어있다고 판단되면 고객 트레이로 전자부품들을 수납하게 되므로, 버퍼부로부터 테스트 완료된 전자부품들을 픽업하여 고객 트레이로 반출한 후 수납하는데 너무 많은 시간이 소요되는 문제가 있다.
본 발명은 상기한 문제를 해결하기 위한 것으로, 언로딩부측 고객 트레이 등의 수납하고자 하는 위치에 전자부품들을 더욱 신속하게 수납할 수 있는 핸들러의 전자부품 픽커를 제공함에 그 목적이 있다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 핸들러의 전자부품 픽커는, 픽커 베이스; 상기 픽커 베이스에 장착되며, 전자부품을 각각 흡,탈착하는 노즐 어셈블리들이 적어도 1행 다수 열로 배열된 노즐 유닛; 및 상기 노즐 유닛이 다수의 행 과 열로 배열된 전자부품 수납공간들로 이동하는 방향을 기준으로 상기 노즐 어셈블리들의 후방에 배치되어, 상기 노즐 어셈블리들이 상기 전자부품 수납공간들에 전자부품들을 수납하는 동안 상기 전자부품 수납공간들의 각 행마다 전자부품들을 수납하기에 앞서 상기 전자부품 수납공간들이 비어있는지 여부를 미리 탐지하는 탐지 유닛;을 구비한다.
이하 첨부된 도면을 참조하여, 바람직한 실시예에 따른 본 발명을 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 픽커가 적용되는 핸들러의 일 예를 개략적으로 도시한 구성도이다.
도 1에 도시된 핸들러는 메모리나 비메모리 반도체 소자 등의 전자부품을 테스트하는 것으로, 로딩부(10)를 구비한다.
로딩부(10)는 핸들러의 전방부에 배치되며, 여기에는 테스트할 전자부품들이 다수 개 수납되어 있는 로딩부측 고객 트레이(C1)들이 적재된다. 이러한 로딩부(10)의 일 측에는 언로딩부(20)가 배치된다. 언로딩부(20)에는 테스트 완료된 전자부품들이 테스트 결과에 따라 분류되어 언로딩부측 고객 트레이(C2)들에 수납된다.
상기 로딩부(10) 및 언로딩부(20)의 후방, 즉 핸들러의 중앙부에는 교환부(30)가 배치될 수 있다. 상기 교환부(30)에는 테스트 트레이(T)가 위치되며, 테스트부(30)에서는 테스트할 전자부품들을 로딩부(10)로부터 공급받아서 테스트 트 레이(T)에 장착하는 작업과, 테스트 완료된 전자부품들을 테스트 트레이(T)로부터 분리하여 언로딩부(20)로 반출하는 작업이 이루어지게 된다.
상기 교환부(30)의 양측에는 작업 효율을 높이기 위해 전자부품들이 일시적으로 대기할 수 있는 로딩측 버퍼부(41)와 언로딩측 버퍼부(42)를 포함한 버퍼부(40)가 배치될 수 있다. 여기서, 버퍼부(40)는 후술할 제3,4 전자부품 픽커(53)(54)가 y축으로만 이동 가능하게 된 경우, 전,후진 가능하게 구성될 수 있다. 이 경우, 교환부(30)도 테스트 트레이(T)를 y축 방향으로 전,후진시킬 수 있도록 구성될 수 있다.
상기 교환부(30)와 로딩부(10) 사이와, 교환부(30)와 언로딩부(20) 사이를 이동하면서, 테스트 트레이(T), 로딩부측 고객 트레이(C1), 및 언로딩부측 고객 트레이(C2) 간에 전자부품을 장착하거나 분리할 수 있도록, 전자부품 픽커가 다수 개 마련된다. 전술한 바와 같이, 교환부(30)의 양측에 로딩측 버퍼부(41)와 언로딩측 버퍼부(42)가 마련된 경우, 전자부품 픽커는 제1 내지 제4 전자부품 픽커(51)(52)(53)(54)를 포함하여 구성될 수 있다.
제1 전자부품 픽커(51)는 로딩부(10)와 로딩측 버퍼부(41) 사이를 왕복하면서 전자부품을 픽업하여 이송하며, 제2 전자부품 픽커(52)는 언로딩부(20)와 언로딩측 버퍼부(42) 사이를 왕복하면서 전자부품을 픽업하여 이송한다. 여기서, 상기 제1,2 전자부품 픽커(51)(52)는 제1 x축 겐트리(61)와 y축 겐트리(63)에 의해 x축 및 y축 방향으로 각각 왕복 이동할 수 있다.
그리고, 제3 전자부품 픽커(53)는 로딩측 버퍼부(41)와 교환부(30) 사이를 왕복하면서 전자부품을 픽업하여 이송하며, 제4 전자부품 픽커(54)는 언로딩측 버퍼부(42)와 교환부(30) 사이를 왕복하면서 전자부품을 픽업하여 이송한다. 여기서, 상기 제3,4 전자부품 픽커(53)(54)는 버퍼부(40)와 테스트 트레이(T)가 y축 방향으로 왕복 가능하게 된 경우, 제2 x축 겐트리(62)에 의해 x축 방향으로만 각각 왕복 이동할 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 픽커(100)는 전술한 제2 전자부품 픽커(52)에 적용될 수 있다. 이에 대한 구체적인 내용은 후술하기로 한다.
한편, 상기 교환부(30)의 후방에는 테스트부(70)가 마련된다. 테스트부(70)에서는 테스트할 전자부품들이 장착된 테스트 트레이(T)를 교환부(30)로부터 공급받아서 전자부품들을 테스트하는 작업이 이루어진다. 상기 테스트부(70)는 상온 상태에서의 일반적인 성능 테스트뿐만 아니라, 고온 및 저온의 극한 온도 조건에서도 전자부품들이 정상적인 기능을 수행할 수 있는가를 테스트할 수 있도록 구성될 수 있다. 이 경우, 테스트부(70)는 가열/냉각 챔버(71), 테스트 챔버(72), 및 제열/제냉 챔버(73)를 포함하여 구성된다.
가열/냉각 챔버(71)는 교환부(30)로부터 공급된 테스트 트레이(T)의 전자부품들에 고온 또는 저온의 온도 응력을 부여할 수 있게 한다. 테스트 챔버(72)는 가열/냉각 챔버(71)에 의해 온도 응력이 부여된 전자부품들을 외부의 테스트 장비(미도시)에 의해 테스트할 수 있게 한다. 제열/제냉 챔버(73)는 전술한 테스트 챔버(72)로부터 테스트 완료된 전자부품들에 온도 응력을 제거할 수 있게 한다.
상기 테스트 챔버(72)에는 외부의 테스트 장비와 전기적으로 연결된 다수의 테스트 소켓들을 갖는 테스트 보드(74)가 배치된다. 상기 테스트 보드(74)는 테스트할 전자부품들을 장착한 테스트 트레이(T)와 마주보게 배치된 상태에서, 접속 유닛(75)에 의해 테스트 소켓들과 전자부품들 사이가 각각 접속되면, 외부의 테스트 장비에 의해 전자부품의 테스트가 수행될 수 있게 한다.
상기와 같은 테스트부(70)를 거쳐 테스트 완료된 전자부품들은 교환부(30)로 환송된 후, 테스트 결과에 따라 그 등급에 맞게 분류되어 언로딩부측 고객 트레이(C2)로 반출된다. 이때, 언로딩측 버퍼부(42)로부터 테스트 완료된 전자부품들을 언로딩부측 고객 트레이(C2)로 이송하는 제2 픽커(52)는, 도 2에 도시된 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 픽커(100)와 같이 각각 구성될 수 있다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 픽커(100)는 픽커 베이스(110)와, 노즐 유닛(120), 및 탐지 유닛(130)을 포함하여 구성된다.
픽커 베이스(110)는 노즐 유닛(120)과 탐지 유닛(130)을 지지한다. 상기 픽커 베이스(110)는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 픽커(100)가 제2 전자부품 픽커(52)에 적용된 경우를 예로 들면, 핸들러의 제1 x축 겐트리(61)와 y축 겐트리(63)에 장착되어 x축 및 y축 방향으로 각각 왕복 가능하게 될 수 있다.
노즐 유닛(120)은 언로딩측 버퍼부(42)로부터 테스트 완료된 전자부품들을 한 행씩 픽업하여 언로딩부측 고객 트레이(C2)에 다수의 행과 열로 배열되어 마련된 전자부품 수납공간(S)들에 수납하는 기능을 한다. 이를 위해, 상기 노즐 유닛(120)은 전자부품을 각각 흡착하거나 탈착하는 다수의 노즐 어셈블리(121)들을 구비한다. 여기서, 노즐 어셈블리(121)들은 본 실시예에 따르면, 적어도 1행 다수 열로 배열되어 픽커 베이스(110)에 장착된다. 노즐 어셈블리(121)들이 다수 행으로 배열된 경우, 이에 상응하여 후술할 탐지 유닛(130)도 노즐 어셈블리(121)의 후방에서 다수 행으로 배열될 수 있다.
상기 노즐 어셈블리(121)들은 노즐(123)을 각각 포함하여 구성된다. 노즐(123)은 노즐 어셈블리 본체(122)의 하측에 배치되어 전자부품을 흡착 및 탈착하는 기능을 한다. 이를 위해, 노즐(123)은 공압 공급수단에 의해 부압을 공급받아서 전자부품을 흡착하고, 공압 공급수단에 의해 정압을 공급받아서 전자부품을 탈착할 수 있게 구성될 수 있다. 그리고, 노즐(123)은 전자부품을 픽업하고 수납하는 것이 용이할 수 있도록, 승강 수단에 의해 노즐 어셈블리 본체(122)에 대해 승강하게 구성될 수 있다. 승강 수단은 노즐(123)에 고정되고 노즐 어셈블리 본체(122)에 대해 승강 가능하게 된 승강부(124)와, 상기 승강부(124)에 공압 공급을 제어하여 승강부(124)를 승강시키는 승강용 공압 공급부를 포함하여 구성될 수 있다.
한편, 노즐 어셈블리(121)들은 가변 유닛에 의해 상호 간의 피치가 가변되도록 구성될 수 있다. 이는 언로딩측 버퍼부(42)에 장착된 전자부품들 간의 피치와 언로딩부측 고객 트레이(C2)에 수납되는 전자부품들 간의 피치가 다른 경우, 언로딩측 버퍼부(42)로부터 언로딩부측 고객 트레이(C2)로 전자부품들을 용이하게 이송할 수 있도록 하기 위함이다.
탐지 유닛(130)은 노즐 어셈블리(121)들이 언로딩부측 고객 트레이(C2)의 전자부품 수납공간(S)들에 전자부품들을 수납하는 동안, 전자부품 수납공간(S)들의 각 행마다 전자부품들을 수납하기에 앞서, 전자부품 수납공간(S)들이 비어있는지 여부를 미리 탐지하는 기능을 한다.
탐지 유닛(130)은 본 실시예에 따르면, 노즐 유닛(120)이 전자부품 수납공간(S)들로 이동하는 방향을 기준으로, 즉 노즐 유닛(120)이 언로딩측 버퍼부(42)로부터 언로딩부측 고객 트레이(C2)로 이동하는 방향을 기준으로 노즐 어셈블리(121)들의 후방에 배치된다.
상기 탐지 유닛(130)은 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 탐지 브래킷(131)과, 승강 액추에이터(132), 탐지 승강 핀(133)들, 탄성 부재(134)들, 및 센싱부(135)를 포함하여 구성될 수 있다.
탐지 브래킷(131)은 픽커 베이스(110)에 대해 승강 가능하게 지지가 된다. 그리고, 승강 액추에이터(132)는 탐지 브래킷(131)을 픽커 베이스(110)에 승강시키는 기능을 한다. 즉, 승강 액추에이터(132)는 전자부품 수납공간(S)들이 비어있는지 여부를 탐지하고자 할 때, 도 5에 도시된 바와 같이 탐지 브래킷(131)을 하강시키며, 탐지가 끝난 후 탐지 브래킷(131)을 상승시키는 기능을 한다. 승강 액추에이터(132)로는 공압 실린더 등과 같은 리니어 액추에이터가 이용될 수 있다.
탐지 승강 핀(133)들은 탐지 브래킷(131)으로부터 각각 상방으로 돌출 가능하게 슬라이드 지지가 된다. 즉, 탐지 승강 핀(133)들은 탐지 브래킷(131)에 대해 하방으로 이탈하지 않게 탐지 브래킷(131)에 지지가 됨과 아울러, 탐지 브래킷(131)에 대해 상방으로 돌출 가능하게 지지가 된다.
그리고, 탐지 승강 핀(133)들은 전자부품 수납공간(S)들의 열간 피치와 동일 한 피치로 상호 이격되게 탐지 브래킷(131)에 배치된다. 이는 전자부품 수납공간(S)들의 각 행마다 탐지 승강 핀(133)들이 전자부품 수납공간(S)들에 각각 대응될 수 있도록 하기 위함이다. 아울러, 탐지 승강 핀(133)들은 전자부품 수납공간(S)들의 행간 피치와 동일한 피치로 노즐 어셈블리(121)들과 이격되도록 탐지 브래킷(131)에 배치된다. 이는 노즐 어셈블리(121)들의 노즐(123)들이 전자부품 수납공간(S)들의 어느 한 행에 대응될 때, 후방에 위치한 다음 행에 탐지 승강 핀(133)들이 대응될 수 있도록 하기 위함이다.
이러한 탐지 승강 핀(133)은 전자부품 수납공간(S)이 비어있는지 탐지할 때, 전자부품 수납공간(S)에 대응된 상태에서, 도 5에 도시된 바와 같이 전자부품 수납공간(S)에 잔류 전자부품(E')이 수납되어 있다면, 탐지 브래킷(131)의 하강시, 잔류 전자부품(E')과의 간섭에 의해 상승함으로써, 탐지 브래킷(131)으로부터 상방으로 돌출하도록 동작한다.
탄성 부재(134)들은 탐지 승강 핀(133)들을 하방으로 탄성 편향시킴으로써, 탐지 승강 핀(133)들이 상방으로 돌출한 상태에서 원상태로 복귀할 수 있게 한다. 즉, 탄성 부재(134)는 탐지 승강 핀(133)이 전자부품 수납공간(S)에 수납된 잔류 전자부품(E')에 의해 간섭을 받아서 상방으로 돌출한 후, 잔류 전자부품(E')이 수납된 전자부품 수납공간(S)을 벗어나게 되면 원상태로 복귀할 수 있게 한다.
센싱부(135)는 탐지 승강 핀(133)들 중 어느 하나가 상방으로 돌출하는 여부를 감지하는 기능을 한다. 즉, 센싱부(135)는 탐지 승강 핀(133)들이 전자부품 수납공간(S)들의 어느 한 행에 각각 대응된 상태에서 모두 상방으로 돌출하지 않은 것으로 감지하게 되면, 전자부품 수납공간(S)들에서 탐지 승강 핀(133)들이 대응된 행이 모두 비어있는 것으로 판단한다.
만일, 센싱부(135)는 탐지 승강 핀(133)들이 전자부품 수납공간(S)들에 각각 대응된 상태에서 어느 하나라도 돌출한 것으로 감지하게 되면, 전자부품 수납공간(S)들에서 탐지 승강 핀(133)들이 대응된 행이 모두 비어있지 않은 것으로 판단한다. 이와 같이 전자부품 수납공간(S)들에서 탐지 승강 핀(133)들이 대응된 행이 모두 비어있지 않은 것으로 판단된다면, 전자부품 픽커(100)는 센싱부(135)에 의해 잔류 전자부품(E')을 반출하도록 제어되거나, 전자부품 수납공간(S)들에서 모두 비어있지 않은 행을 건너뛰어 전자부품들을 수납하도록 제어될 수 있다.
이러한 센싱부(135)는 발광부(136)와 수광부(137)를 포함하여 구성될 수 있다. 발광부(136)는 탐지 승강 핀(133)들의 상부에서 어느 한쪽 최외곽에 배치되며, 수광부(137)는 발광부(136)의 반대쪽 최외곽에 배치될 수 있다. 그리고, 발광부(136)는 탐지 승강 핀(133)들이 배열된 방향으로 빛을 발산하게 배치되며, 수광부(137)는 발광부(136)로부터 발산한 빛을 받아들일 수 있게 배치된다.
상기 수광부(137)는 전술한 발광부(136)로부터 발산한 광의 수광 여부에 따라 탐지 승강 핀(133)들 중 어느 하나라도 돌출된 상태인지 여부를 감지한다. 즉, 탐지 승강 핀(133)들 중 어느 하나라도 돌출하지 않은 상태에서는, 발광부(136)로부터 발산한 광은 그대로 진행하여 수광부(137)로 입사하게 된다. 이 경우, 수광부(137)는 전자부품 수납공간(S)들에서 탐지 승강 핀(133)들이 대응된 행이 모두 비어있는 것으로 감지한다. 이와 반대로, 탐지 승강 핀(133)들 중 어느 하나라도 돌출한 상태에서는, 발광부(136)로부터 발산한 광은 돌출한 탐지 승강 핀(133)에 의해 가려져 수광부(137)로 입사하지 못하게 된다. 이 경우, 수광부(137)는 전자부품 수납공간(S)들에서 탐지 승강 핀(133)들이 대응된 행이 모두 비어있지 않은 것으로 감지한다.
상기와 같은 탐지 유닛(130)을 구비한 전자부품 픽커(100)의 작동 예를 도 6 및 도 7을 참조하여 개략적으로 설명하면 다음과 같다.
먼저, 언로딩측 버퍼부(42)로부터 테스트 완료된 전자부품들을 언로딩부측 고객 트레이(C2)로 이송하기에 앞서, 도 6에 도시된 바와 같이 전자부품 픽커(100)는 언로딩부측 고객 트레이(C2)의 전자부품 수납공간(S)들로 이동한 후, 전자부품 수납공간(S)들의 첫 번째 행이 비어있는지 여부를 탐지 유닛(130)에 의해 탐지한다.
만일, 전자부품 수납공간(S)들에서 첫 번째 행이 비어있는 것으로 탐지된다면, 도 7에 도시된 바와 같이, 전자부품 픽커(100)는 언로딩측 버퍼부(42)에서 전자부품(E)들을 노즐 유닛(120)에 의해 픽업한 후, 전자부품 수납공간(S)들로 이동하여 첫 번째 행에 수납한다. 이와 동시에, 전자부품 픽커(100)는 탐지 유닛(130)에 의해 전자부품 수납공간(S)들에서 두 번째 행이 비어있는지 여부를 탐지한다.
만일, 전자부품 수납공간(S)들에서 두 번째 행이 비어있는 것으로 탐지된다면, 전술한 과정과 동일하게 전자부품 픽커(100)는 언로딩측 버퍼부(42)로 이동하여 전자부품(E)들을 노즐 유닛(120)에 의해 픽업한 후, 전자부품 수납공간(S)들로 이동하여 두 번째 행에 수납한다. 이와 동시에, 전자부품 픽커(100)는 탐지 유 닛(130)에 의해 전자부품 수납공간(S)들에서 세 번째 행이 비어있는지 여부를 탐지한다. 이러한 과정을 반복하게 되면, 언로딩측 버퍼부(42)로부터 전자부품(E)들을 픽업하여 언로딩부측 고객 트레이(C2)의 빈 전자부품 수납공간(S)들로 수납할 수 있는 것이다.
전술한 바와 같이, 전자부품 수납공간(S)들에서 두 번째 행부터는 전자부품(E)들을 수납하는 과정과 전자부품 수납공간(S)이 비어있는지 여부를 탐지하는 과정이 동시에 이루어질 수 있으므로, 전자부품 수납공간(S)들이 모두 비어있는지 여부를 확인한 후 전자부품(E)들을 수납하는 것에 비해, 언로딩부측 고객 트레이(C2)의 빈 전자부품 수납공간(S)들로 더욱 신속하게 수납할 수 있게 된다.
한편, 본 실시예에 따른 전자부품 픽커(100)는 언로딩측 버퍼부(42)로부터 언로딩부측 고객 트레이(C2)로 전자부품(E)을 수납하는 것을 예시하고 있으나, 전자부품(E)을 수납하고자 하는 어떠한 위치, 예컨대, 로딩부측 버퍼부(41)나 테스트 트레이(T) 등에도 이용될 수 있음은 물론이다.
상술한 바와 같은 본 발명에 따르면, 고객 트레이 등의 전자부품 수납공간들에 전자부품들을 수납하는 동안 전자부품 수납공간의 각 행마다 전자부품들을 수납하기에 앞서 전자부품 수납공간들이 비어있는지 여부를 미리 탐지할 수 있다. 예컨대, 전자부품 수납공간들의 두 번째 행부터는 전자부품들을 수납하는 과정과 전자부품 수납공간이 비어있는지 여부를 탐지하는 과정이 동시에 이루어질 수 있다.
따라서, 본 발명에 따르면, 전자부품 수납공간들이 모두 비어있는지 여부를 확인한 후 전자부품들을 수납하는 것에 비해, 더욱 신속하게 전자부품 수납공간들에 전자부품들을 수납할 수 있는 효과가 있다.
본 발명은 첨부된 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.

Claims (3)

  1. 픽커 베이스;
    상기 픽커 베이스에 장착되며, 전자부품을 각각 흡,탈착하는 노즐 어셈블리들이 적어도 1행 다수 열로 배열된 노즐 유닛; 및
    상기 노즐 유닛이 다수의 행과 열로 배열된 전자부품 수납공간들로 이동하는 방향을 기준으로 상기 노즐 어셈블리들의 후방에 배치되어, 상기 노즐 어셈블리들이 상기 전자부품 수납공간들에 전자부품들을 수납하는 동안 상기 전자부품 수납공간들의 각 행마다 전자부품들을 수납하기에 앞서 상기 전자부품 수납공간들이 비어있는지 여부를 미리 탐지하는 탐지 유닛;
    을 구비하는 핸들러의 전자부품 픽커.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 탐지 유닛은:
    상기 픽커 베이스에 대해 승강 가능하게 지지가 된 탐지 브래킷;
    상기 탐지 브래킷을 승강시키는 승강 액추에이터;
    상기 탐지 브래킷으로부터 상방으로 돌출 가능하게 슬라이드 지지가 되며, 상기 전자부품 수납공간들의 열간 피치와 동일한 피치로 상호 이격됨과 아울러, 상기 전자부품 수납공간들의 행간 피치와 동일한 피치로 상기 노즐 어셈블리들과 이격된 탐지 승강 핀들;
    상기 탐지 승강 핀들을 하방으로 탄성 편향시키는 탄성 부재들; 및
    상기 탐지 승강 핀들 중 적어도 어느 하나가 상방으로 돌출하는지 여부를 감지하는 센싱부;
    를 구비하는 것을 특징으로 하는 핸들러의 전자부품 픽커.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 전자부품 수납공간들은 핸들러의 언로딩부측 고객 트레이에 마련된 것을 특징으로 하는 핸들러의 전자부품 픽커.
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