JPH10202874A - インクジェットプリンタヘッド及びその製造方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 27
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 title abstract 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims abstract description 86
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 67
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 55
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 40
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical group O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 25
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 8
- 239000006089 photosensitive glass Substances 0.000 claims description 8
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 4
- 238000005323 electroforming Methods 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 29
- 239000012528 membrane Substances 0.000 abstract 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 128
- 239000002585 base Substances 0.000 description 53
- 210000003128 head Anatomy 0.000 description 23
- 239000010408 film Substances 0.000 description 19
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 16
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 16
- 230000008569 process Effects 0.000 description 15
- -1 silicate compound Chemical class 0.000 description 15
- 229910052451 lead zirconate titanate Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 11
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 11
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 11
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 10
- 238000002679 ablation Methods 0.000 description 8
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 7
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 7
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Substances [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 7
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 6
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 5
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 description 5
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 5
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 5
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 5
- 229920001709 polysilazane Polymers 0.000 description 5
- 239000005368 silicate glass Substances 0.000 description 5
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 5
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 4
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 4
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 4
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 4
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 3
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 3
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 3
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 3
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 3
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 3
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 3
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 3
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 3
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920000219 Ethylene vinyl alcohol Polymers 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004696 Poly ether ether ketone Substances 0.000 description 2
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- 229920000122 acrylonitrile butadiene styrene Polymers 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 2
- 238000004380 ashing Methods 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001354 calcination Methods 0.000 description 2
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000010485 coping Effects 0.000 description 2
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 239000005038 ethylene vinyl acetate Substances 0.000 description 2
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N lanthanum(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[La+3].[La+3] MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 229920001200 poly(ethylene-vinyl acetate) Polymers 0.000 description 2
- 229920001707 polybutylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 229920002530 polyetherether ketone Polymers 0.000 description 2
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 229920006380 polyphenylene oxide Polymers 0.000 description 2
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 2
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 2
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 2
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 2
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003980 solgel method Methods 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 2
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 2
- 229910052845 zircon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- KXSKAZFMTGADIV-UHFFFAOYSA-N 2-[3-(2-hydroxyethoxy)propoxy]ethanol Chemical compound OCCOCCCOCCO KXSKAZFMTGADIV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229910000505 Al2TiO5 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002971 CaTiO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004709 Chlorinated polyethylene Substances 0.000 description 1
- 235000008733 Citrus aurantifolia Nutrition 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 229910005451 FeTiO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- 101000693243 Homo sapiens Paternally-expressed gene 3 protein Proteins 0.000 description 1
- 241000511976 Hoya Species 0.000 description 1
- 229910007562 Li2SiO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000106 Liquid crystal polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004977 Liquid-crystal polymers (LCPs) Substances 0.000 description 1
- 229920000877 Melamine resin Polymers 0.000 description 1
- 229910017676 MgTiO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002033 PVDF binder Substances 0.000 description 1
- 229930040373 Paraformaldehyde Natural products 0.000 description 1
- 102100025757 Paternally-expressed gene 3 protein Human genes 0.000 description 1
- 229910003781 PbTiO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020698 PbZrO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920008285 Poly(ether ketone) PEK Polymers 0.000 description 1
- 229930182556 Polyacetal Natural products 0.000 description 1
- 239000004962 Polyamide-imide Substances 0.000 description 1
- 239000005062 Polybutadiene Substances 0.000 description 1
- 239000004697 Polyetherimide Substances 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 229920001328 Polyvinylidene chloride Polymers 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052777 Praseodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910007264 Si2H6 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005644 SnTi Inorganic materials 0.000 description 1
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910002370 SrTiO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000011941 Tilia x europaea Nutrition 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical class [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001807 Urea-formaldehyde Polymers 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- XECAHXYUAAWDEL-UHFFFAOYSA-N acrylonitrile butadiene styrene Chemical compound C=CC=C.C=CC#N.C=CC1=CC=CC=C1 XECAHXYUAAWDEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004676 acrylonitrile butadiene styrene Substances 0.000 description 1
- 229920001893 acrylonitrile styrene Polymers 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 229910052910 alkali metal silicate Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005260 alpha ray Effects 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 1
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000005250 beta ray Effects 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 239000000084 colloidal system Substances 0.000 description 1
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- PZPGRFITIJYNEJ-UHFFFAOYSA-N disilane Chemical compound [SiH3][SiH3] PZPGRFITIJYNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 1
- 239000004715 ethylene vinyl alcohol Substances 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 210000004709 eyebrow Anatomy 0.000 description 1
- 229920001973 fluoroelastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000005187 foaming Methods 0.000 description 1
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 150000003949 imides Chemical class 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 229920000554 ionomer Polymers 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 1
- HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N lead zirconate titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Zr+4].[Pb+2] HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004571 lime Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052574 oxide ceramic Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011224 oxide ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000005022 packaging material Substances 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 229920001568 phenolic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229920002492 poly(sulfone) Polymers 0.000 description 1
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 description 1
- 229920001230 polyarylate Polymers 0.000 description 1
- 229920002857 polybutadiene Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 description 1
- 229920001601 polyetherimide Polymers 0.000 description 1
- 229920001195 polyisoprene Polymers 0.000 description 1
- 229920000306 polymethylpentene Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 1
- 239000005033 polyvinylidene chloride Substances 0.000 description 1
- 229920002981 polyvinylidene fluoride Polymers 0.000 description 1
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- SCUZVMOVTVSBLE-UHFFFAOYSA-N prop-2-enenitrile;styrene Chemical compound C=CC#N.C=CC1=CC=CC=C1 SCUZVMOVTVSBLE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 150000004760 silicates Chemical class 0.000 description 1
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 1
- 239000011343 solid material Substances 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 1
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 150000003457 sulfones Chemical class 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- KKEYFWRCBNTPAC-UHFFFAOYSA-L terephthalate(2-) Chemical compound [O-]C(=O)C1=CC=C(C([O-])=O)C=C1 KKEYFWRCBNTPAC-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229920002725 thermoplastic elastomer Polymers 0.000 description 1
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005068 transpiration Effects 0.000 description 1
- 229920006305 unsaturated polyester Polymers 0.000 description 1
- 229910052882 wollastonite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 インクジェット基台の材質に制限がなく、さ
らに、ドットパターンの高密度化に対応できるインクジ
ェットプリンタヘッド、及びその製造方法を提供する。 【解決手段】 基板60上に分離層を介して振動板5
と、圧電体薄膜4と、及び電極(3,5)を形成し、次
いで、基板とインクジェット基台とを接着させ、さら
に、分離層に照射光を照射して分離層において基板を振
動板と、圧電体薄膜と、及び電極から分離し、これらの
振動板等とインクジェット基台とを接合させる。
らに、ドットパターンの高密度化に対応できるインクジ
ェットプリンタヘッド、及びその製造方法を提供する。 【解決手段】 基板60上に分離層を介して振動板5
と、圧電体薄膜4と、及び電極(3,5)を形成し、次
いで、基板とインクジェット基台とを接着させ、さら
に、分離層に照射光を照射して分離層において基板を振
動板と、圧電体薄膜と、及び電極から分離し、これらの
振動板等とインクジェット基台とを接合させる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、インク吐出の駆動
源に圧電体薄膜を使用するインクジェットプリンタヘッ
ド及びその製造方法に関するものである。
源に圧電体薄膜を使用するインクジェットプリンタヘッ
ド及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】液体あるいはインク吐出の駆動源である
電気−機械変換素子としてPZTからなる圧電体薄膜を
使用した圧電型インクジェットプリンタヘッドが存在す
る。このプリンタヘッドは、エッチング技術を利用し
て、例えば次の工程を経ることによって製造できる。
電気−機械変換素子としてPZTからなる圧電体薄膜を
使用した圧電型インクジェットプリンタヘッドが存在す
る。このプリンタヘッドは、エッチング技術を利用し
て、例えば次の工程を経ることによって製造できる。
【0003】図1に示すように、インクジェット基台と
なるべきシリコン基板上1に、シリコン熱酸化膜2、振
動板としての共通電極3、圧電体薄膜4、上電極5を順
次形成し、次いで、ネガレジストを用いて図2に示すよ
うに圧電体薄膜4及び上電極5をパターニングする。
なるべきシリコン基板上1に、シリコン熱酸化膜2、振
動板としての共通電極3、圧電体薄膜4、上電極5を順
次形成し、次いで、ネガレジストを用いて図2に示すよ
うに圧電体薄膜4及び上電極5をパターニングする。
【0004】さらに、インクジェット記録ヘッドにする
ために、図3に示すようにヘッド基台1下面(圧電体薄
膜を形成した反対面)より異方性エッチングにより幅
0.1mmのインク圧力室9とインク圧力室へインクを
供給するインク供給路、インク供給路に連通するインク
リザーバを形成し、インク圧力室9に対応した位置にイ
ンクを吐出させノズル口を形成したノズルプレート10
を接合する。
ために、図3に示すようにヘッド基台1下面(圧電体薄
膜を形成した反対面)より異方性エッチングにより幅
0.1mmのインク圧力室9とインク圧力室へインクを
供給するインク供給路、インク供給路に連通するインク
リザーバを形成し、インク圧力室9に対応した位置にイ
ンクを吐出させノズル口を形成したノズルプレート10
を接合する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
圧電体薄膜を含むパターンをインクジェット基台上に形
成する工程は、高温下でなされるためインクジェット基
台としては、耐熱性に優れる既述のシリコン基板の他、
石英ガラスが使用されている。
圧電体薄膜を含むパターンをインクジェット基台上に形
成する工程は、高温下でなされるためインクジェット基
台としては、耐熱性に優れる既述のシリコン基板の他、
石英ガラスが使用されている。
【0006】しかしながら、これらのシリコン基板や石
英ガラスは、希少で非常に高価な材料であり、かつ脆く
割れやすく重量も大きい。その為、製造歩留まりが低
く、高価となっていた。
英ガラスは、希少で非常に高価な材料であり、かつ脆く
割れやすく重量も大きい。その為、製造歩留まりが低
く、高価となっていた。
【0007】さらに最近では、インクジェットプリンタ
ヘッドのドットパターンを高密度化するため、インク吐
出用ノズル口を高密度に形成することが要請されている
が、従来の方法では、ノズルプレートをこのような要請
に合致するように作製することは次の理由により困難で
あった。従来は、SUSの厚さt=100〜60μmの
板にポンチでプレスして穴を開けていた。穴が微小化す
るとポンチ加工が困難なばかりか、ポンチの寿命が低下
する。
ヘッドのドットパターンを高密度化するため、インク吐
出用ノズル口を高密度に形成することが要請されている
が、従来の方法では、ノズルプレートをこのような要請
に合致するように作製することは次の理由により困難で
あった。従来は、SUSの厚さt=100〜60μmの
板にポンチでプレスして穴を開けていた。穴が微小化す
るとポンチ加工が困難なばかりか、ポンチの寿命が低下
する。
【0008】そこで、この発明は、インクジェット基台
の材質に制限がないインクジェットプリンタヘッド及び
その製造方法を提供することを目的とするものである。
この発明の他の目的は、さらに、ドットパターンの高密
度化に対応できるインクジェットプリンタヘッドの製造
方法及びその製法によって製造されたインクジェットプ
リンタヘッドを提供することにある。
の材質に制限がないインクジェットプリンタヘッド及び
その製造方法を提供することを目的とするものである。
この発明の他の目的は、さらに、ドットパターンの高密
度化に対応できるインクジェットプリンタヘッドの製造
方法及びその製法によって製造されたインクジェットプ
リンタヘッドを提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本願出願人は、基板上に
分離層を介して存在する被剥離物を基板から剥離する方
法であって、分離層に照射光を照射して分離層の層内或
いは界面において剥離を生じせしめ、剥離物を基板から
脱離させる方法を提案し、かつ、この方法が圧電素子の
アクチュエータに適用できることを提案した(特願平8
−225643号)。本願はこの方法をインクジェット
プリンタヘッドの製造方法に適用したものであり、前記
目的を達成するために、インク圧力室を形成するインク
ジェット基台上に、前記インク圧力室のインクを加圧す
る振動板と、圧電体薄膜と、及びこの圧電体薄膜に対す
る電極を形成するインクジェットプリンタヘッドの製造
方法であって、基板上に分離層を介して前記振動板と、
圧電体薄膜と、及び電極を形成する工程と、前記基板と
前記インクジェット基台とを接着させる工程と、分離層
に照射光を照射して分離層において基板を前記振動板
と、圧電体薄膜と、及び電極から分離し、これらの振動
板等とインクジェット基台とを接合させる工程と、を備
えて、インクジェットプリンタヘッドの製造方法を提供
しようとするものである。
分離層を介して存在する被剥離物を基板から剥離する方
法であって、分離層に照射光を照射して分離層の層内或
いは界面において剥離を生じせしめ、剥離物を基板から
脱離させる方法を提案し、かつ、この方法が圧電素子の
アクチュエータに適用できることを提案した(特願平8
−225643号)。本願はこの方法をインクジェット
プリンタヘッドの製造方法に適用したものであり、前記
目的を達成するために、インク圧力室を形成するインク
ジェット基台上に、前記インク圧力室のインクを加圧す
る振動板と、圧電体薄膜と、及びこの圧電体薄膜に対す
る電極を形成するインクジェットプリンタヘッドの製造
方法であって、基板上に分離層を介して前記振動板と、
圧電体薄膜と、及び電極を形成する工程と、前記基板と
前記インクジェット基台とを接着させる工程と、分離層
に照射光を照射して分離層において基板を前記振動板
と、圧電体薄膜と、及び電極から分離し、これらの振動
板等とインクジェット基台とを接合させる工程と、を備
えて、インクジェットプリンタヘッドの製造方法を提供
しようとするものである。
【0010】さらに、本発明はこの各工程によって形成
されたインクジェットプリンタヘッド及びこれを備えた
プリンタであることを特徴とする。
されたインクジェットプリンタヘッド及びこれを備えた
プリンタであることを特徴とする。
【0011】この方法によれば、インクジェット基台を
圧電体薄膜を形成する工程とは別な工程によって形成で
きるので、既述のような材料や製法に限定されずにイン
クジェット基台を形成できる。
圧電体薄膜を形成する工程とは別な工程によって形成で
きるので、既述のような材料や製法に限定されずにイン
クジェット基台を形成できる。
【0012】インクジェット基台の形成に際しては、例
えば、感光性ガラスによって形成する方法、光硬化樹脂
によって形成する方法、電鋳によって形成する方法、ス
タンパを利用して形成する方法を適用することができ
る。これらの方法を利用することにより、従来のノズル
プレートをインクジェット基台と一体に形成でき、イン
ク吐出用ノズル口を高密度ドットパターンで形成するこ
とができる。
えば、感光性ガラスによって形成する方法、光硬化樹脂
によって形成する方法、電鋳によって形成する方法、ス
タンパを利用して形成する方法を適用することができ
る。これらの方法を利用することにより、従来のノズル
プレートをインクジェット基台と一体に形成でき、イン
ク吐出用ノズル口を高密度ドットパターンで形成するこ
とができる。
【0013】本発明において、基板としては、石英ガラ
スであることが好ましい。
スであることが好ましい。
【0014】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態について
説明する。なお、この説明を理解し易くするために、実
施例の図面を参照して説明する。実施例の図面は後に詳
しく説明される。
説明する。なお、この説明を理解し易くするために、実
施例の図面を参照して説明する。実施例の図面は後に詳
しく説明される。
【0015】基板の説明 基板は図6の(1)に符号60として示されている。こ
の基板の表面に形成された圧電体薄膜等とインクジェッ
ト基台とが接合された後、この基板は基板と共通電極2
との間に形成された分離層を境にして剥離除去される。
分離層に所定の光が照射されることによって、分離層に
おいて剥離現象が生じる。このことは後に詳説される。
の基板の表面に形成された圧電体薄膜等とインクジェッ
ト基台とが接合された後、この基板は基板と共通電極2
との間に形成された分離層を境にして剥離除去される。
分離層に所定の光が照射されることによって、分離層に
おいて剥離現象が生じる。このことは後に詳説される。
【0016】この基板は照射光が透過し得る透光性を有
するものであるのが好ましい。この場合、照射光の透過
率は、10%以上であるのが好ましく、50%以上であ
るのがより好ましい。この透過率が低過ぎると、照射光
の減衰(ロス)が大きくなり、分離層を剥離するのによ
り大きな光量を必要とする。
するものであるのが好ましい。この場合、照射光の透過
率は、10%以上であるのが好ましく、50%以上であ
るのがより好ましい。この透過率が低過ぎると、照射光
の減衰(ロス)が大きくなり、分離層を剥離するのによ
り大きな光量を必要とする。
【0017】また、基板は信頼性の高い材料で構成され
ているのが好ましく、特に、耐熱性に優れた材料で構成
されているのが好ましい。後述する振動板、PZT薄膜
(圧電体薄膜)、圧電体薄膜に対する電極の各層(以
下、これらを纏めて「被転写層」ということがある。)
を形成する際に、その種類や形成方法によってはプロセ
ス温度が高くなる(例えば400〜900℃程度)こと
がある。その場合でも、基板が耐熱性に優れていれば、
基板上への振動板等の形成に際し、その温度条件等の成
膜条件の設定の幅が広がるからである。
ているのが好ましく、特に、耐熱性に優れた材料で構成
されているのが好ましい。後述する振動板、PZT薄膜
(圧電体薄膜)、圧電体薄膜に対する電極の各層(以
下、これらを纏めて「被転写層」ということがある。)
を形成する際に、その種類や形成方法によってはプロセ
ス温度が高くなる(例えば400〜900℃程度)こと
がある。その場合でも、基板が耐熱性に優れていれば、
基板上への振動板等の形成に際し、その温度条件等の成
膜条件の設定の幅が広がるからである。
【0018】基板は、被転写層の形成の際の最高温度を
Tmaxとしたとき、歪点がTmax以上の材料で構成
されているものが好ましい。具体的には、基板60の構
成材料は、歪点が350℃以上のものが好ましく、50
0℃以上のものがより好ましい。このようなものとして
は、例えば、石英ガラス、ソーダガラス、コーニング7
059、日本電気ガラスOA−2等の耐熱性ガラスがあ
る。石英ガラスは、耐熱性に優れ(石英ガラスの歪み点
は、通常のガラスが400〜600℃であるのに対し、
1000℃)、高温プロセスにおいても後述のTFTを
形成することが可能であり特に好ましい。
Tmaxとしたとき、歪点がTmax以上の材料で構成
されているものが好ましい。具体的には、基板60の構
成材料は、歪点が350℃以上のものが好ましく、50
0℃以上のものがより好ましい。このようなものとして
は、例えば、石英ガラス、ソーダガラス、コーニング7
059、日本電気ガラスOA−2等の耐熱性ガラスがあ
る。石英ガラスは、耐熱性に優れ(石英ガラスの歪み点
は、通常のガラスが400〜600℃であるのに対し、
1000℃)、高温プロセスにおいても後述のTFTを
形成することが可能であり特に好ましい。
【0019】基板の厚さは、特に限定されないが、通常
は、0.l〜5.0mm程度であるのが好ましく、0.
5−1.5mm程度であるのがより好ましい。基板の厚
さが薄過ぎると強度の低下を招き、厚過ぎると、基板の
透過率が低い場合に、照射光の減衰を生じ易くなる。
は、0.l〜5.0mm程度であるのが好ましく、0.
5−1.5mm程度であるのがより好ましい。基板の厚
さが薄過ぎると強度の低下を招き、厚過ぎると、基板の
透過率が低い場合に、照射光の減衰を生じ易くなる。
【0020】なお、基板の照射光の透過率が高い場合に
は、その厚さは、前記上限値を超えるものであってもよ
い。また、照射光を均一に照射できるように、基板の分
離層形成部分の厚さは、均一であるのが好ましい。
は、その厚さは、前記上限値を超えるものであってもよ
い。また、照射光を均一に照射できるように、基板の分
離層形成部分の厚さは、均一であるのが好ましい。
【0021】分離層の説明 分離層は基板側から入射された照射光を吸収してその層
内および/または界面において剥離(以下、「層内剥
離」、「界面剥離」と云う。)を生じるような性質を有
するものであり、好ましくは、照射光の照射により、分
離層を構成する物質の原子間または分子間の結合力が消
失または減少すること、現実的には、アブレーション等
を生ぜしめることにより層内剥離および/または界面剥
離に至るものである。
内および/または界面において剥離(以下、「層内剥
離」、「界面剥離」と云う。)を生じるような性質を有
するものであり、好ましくは、照射光の照射により、分
離層を構成する物質の原子間または分子間の結合力が消
失または減少すること、現実的には、アブレーション等
を生ぜしめることにより層内剥離および/または界面剥
離に至るものである。
【0022】さらに、照射光の照射により、分離層から
気体が放出され、分離効果が発現される場合もある。す
なわち、分離層に含有されていた成分が気体となって放
出される場合と、分離層が光を吸収して一瞬気体にな
り、その蒸気が放出され、分離に寄与する場合とがあ
る。
気体が放出され、分離効果が発現される場合もある。す
なわち、分離層に含有されていた成分が気体となって放
出される場合と、分離層が光を吸収して一瞬気体にな
り、その蒸気が放出され、分離に寄与する場合とがあ
る。
【0023】このような分離層の組成としては、例えば
次のようなものが挙げられる。
次のようなものが挙げられる。
【0024】(1)非晶質シリコン(a−Si) この非晶質シリコン中には、H(水素)が含有されてい
てもよい。この場合、Hの含有量は、2at%以上程度
であるのが好ましく、2〜20at%程度であるのがよ
り好ましい。このように、Hが所定量含有されている
と、照射光の照射により、水素が放出され、分離層に内
圧が発生し、それが上下の薄膜を剥離する力となる。
てもよい。この場合、Hの含有量は、2at%以上程度
であるのが好ましく、2〜20at%程度であるのがよ
り好ましい。このように、Hが所定量含有されている
と、照射光の照射により、水素が放出され、分離層に内
圧が発生し、それが上下の薄膜を剥離する力となる。
【0025】非晶質シリコン中のHの含有量は、成膜条
件、例えばCVDにおけるガス組成、ガス圧、ガス雰囲
気、ガス流量、温度、基板温度、投入パワー等の条件を
適宜設定することにより調整することができる。
件、例えばCVDにおけるガス組成、ガス圧、ガス雰囲
気、ガス流量、温度、基板温度、投入パワー等の条件を
適宜設定することにより調整することができる。
【0026】(2)酸化ケイ素またはケイ酸化合物、酸
化チタンまたはチタン酸化合物、酸化ジルコニウムまた
はジルコン酸化合物、酸化ランタンまたはランタン酸化
合物等の各種酸化物セラミックス、誘電体(強誘電体)
あるいは半導体 酸化ケイ素としては、SiO、SiO2、Si302が
挙げられ、ケイ酸化合物としては、例えばK2SiO
3、Li2SiO3、CaSiO3、ZrSiO4、N
a2SiO3が挙げられる。
化チタンまたはチタン酸化合物、酸化ジルコニウムまた
はジルコン酸化合物、酸化ランタンまたはランタン酸化
合物等の各種酸化物セラミックス、誘電体(強誘電体)
あるいは半導体 酸化ケイ素としては、SiO、SiO2、Si302が
挙げられ、ケイ酸化合物としては、例えばK2SiO
3、Li2SiO3、CaSiO3、ZrSiO4、N
a2SiO3が挙げられる。
【0027】酸化チタンとしては、TiO、Ti20
3、TiO2が挙げられ、チタン酸化合物としては、例
えば、BaTiO4、BaTiO3、Ba2Ti9O2
0、BaTi5O11、CaTiO3、SrTiO3、
PbTiO3、MgTiO3、ZrTiO2、SnTi
O4、Al2TiO5、FeTiO3が挙げられる。
3、TiO2が挙げられ、チタン酸化合物としては、例
えば、BaTiO4、BaTiO3、Ba2Ti9O2
0、BaTi5O11、CaTiO3、SrTiO3、
PbTiO3、MgTiO3、ZrTiO2、SnTi
O4、Al2TiO5、FeTiO3が挙げられる。
【0028】酸化ジルコニウムとしては、ZrO2が挙
げられ、ジルコン酸化合物としては、例えばBaZrO
3、ZrSiO4、PbZrO3、MgZrO3、K2
ZrO3が挙げられる。
げられ、ジルコン酸化合物としては、例えばBaZrO
3、ZrSiO4、PbZrO3、MgZrO3、K2
ZrO3が挙げられる。
【0029】(4)窒化珪素、窒化アルミ、窒化チタン
等の窒化物セラミックス (5)有機高分子材料 有機高分子材料としては、−CH2−、−CO−(ケト
ン)、一CONH−(アミド)、−NH−(イミド)、
−C00−(エステル)、−N=N−(アゾ)、−CH
=N−(シフ)等の結合(照射光の照射によりこれらの
結合が切断される)を有するもの、特にこれらの結合を
多く有するものであればいかなるものでもよい。
等の窒化物セラミックス (5)有機高分子材料 有機高分子材料としては、−CH2−、−CO−(ケト
ン)、一CONH−(アミド)、−NH−(イミド)、
−C00−(エステル)、−N=N−(アゾ)、−CH
=N−(シフ)等の結合(照射光の照射によりこれらの
結合が切断される)を有するもの、特にこれらの結合を
多く有するものであればいかなるものでもよい。
【0030】また、有機高分子材料は、構成式中に芳香
族炭化水素(1または2以上のベンゼン環またはその縮
合環)を有するものであってもよい。
族炭化水素(1または2以上のベンゼン環またはその縮
合環)を有するものであってもよい。
【0031】このような有機高分子材料の具体的例とし
ては、ポリエチレン、ポリプ口ピレンのようなポリオレ
フイン、ポリイミド、ポリアミド、ポリエステル、ポリ
メチルメタクリレート(PMMA)、ポリフェニレンサ
ルファイド(PPS)、ポリエ一テルスルホン(PE
S)、エポキシ樹脂等が挙げられる。
ては、ポリエチレン、ポリプ口ピレンのようなポリオレ
フイン、ポリイミド、ポリアミド、ポリエステル、ポリ
メチルメタクリレート(PMMA)、ポリフェニレンサ
ルファイド(PPS)、ポリエ一テルスルホン(PE
S)、エポキシ樹脂等が挙げられる。
【0032】(6)金属 金属としては、例えば、Al、Li、Ti、Mn、I
n、Sn、Y、La、Ce、Nd、Pr、Gd、Sm、
またはこれらのうちの少なくともl種を含む合金が挙げ
られる。
n、Sn、Y、La、Ce、Nd、Pr、Gd、Sm、
またはこれらのうちの少なくともl種を含む合金が挙げ
られる。
【0033】分離層としては、既述のものの中からイン
クジェットプリンタヘッドを形成する際のプロセス温度
に対して耐性のあるものが適宜選択される。分離層とし
ては、好ましくは、非晶質シリコンである。
クジェットプリンタヘッドを形成する際のプロセス温度
に対して耐性のあるものが適宜選択される。分離層とし
ては、好ましくは、非晶質シリコンである。
【0034】分離層の厚さは、剥離目的や分離層の組
成、層構成、形成方法等の諸条件により異なるが、通常
は、1nm〜20μm程度であるのが好ましく、l0n
m〜2μm程度であるのがより好ましく、40nm〜1
μm程度であるのがさらに好ましい。
成、層構成、形成方法等の諸条件により異なるが、通常
は、1nm〜20μm程度であるのが好ましく、l0n
m〜2μm程度であるのがより好ましく、40nm〜1
μm程度であるのがさらに好ましい。
【0035】分離層の膜厚が小さすぎると、成膜の均一
性が損なわれ、剥離にムラが生じることがあり、また、
膜厚が厚すぎると、分離層の良好な剥離性を確保するた
めに、照射光のパワー(光量)を大きくする必要がある
とともに、後に分離層を除去する際にその作業に時間が
かかる。なお、分離層の膜厚は、できるだけ均一である
のが好ましい。
性が損なわれ、剥離にムラが生じることがあり、また、
膜厚が厚すぎると、分離層の良好な剥離性を確保するた
めに、照射光のパワー(光量)を大きくする必要がある
とともに、後に分離層を除去する際にその作業に時間が
かかる。なお、分離層の膜厚は、できるだけ均一である
のが好ましい。
【0036】分離眉の形成方法は、特に限定されず、膜
組成や膜厚等の諸条件に応じて適宜選択される。例え
ば、CVD(MOCVD、低圧CVD、ECR一CVD
を含む)、蒸着、分子線蒸着(MB)、スパッタリン
グ、イオンプレーティング、PVD等の各種気相成膜
法、電気メッキ、浸漬メッキ(ディッピング)、無電解
メッキ等の各種メッキ法、ラングミュア・ブロジェット
(LB)法、スピンコート、スプレーコート、ロールコ
ート等の塗布法、各種印刷法、転写法、インクジェット
法、粉末ジェット法等が挙げられ、これらのうちの2以
上を組み合わせて形成することもできる。
組成や膜厚等の諸条件に応じて適宜選択される。例え
ば、CVD(MOCVD、低圧CVD、ECR一CVD
を含む)、蒸着、分子線蒸着(MB)、スパッタリン
グ、イオンプレーティング、PVD等の各種気相成膜
法、電気メッキ、浸漬メッキ(ディッピング)、無電解
メッキ等の各種メッキ法、ラングミュア・ブロジェット
(LB)法、スピンコート、スプレーコート、ロールコ
ート等の塗布法、各種印刷法、転写法、インクジェット
法、粉末ジェット法等が挙げられ、これらのうちの2以
上を組み合わせて形成することもできる。
【0037】例えば、分離層の組成が非晶質シリコン
(a−Si)の場合には、CVD、特に低圧CVDやプ
ラズマCVDにより成膜するのが好ましい。また、分離
層をゾル−ゲル法によるセラミックスで構成する場合
や、有機高分子材料で構成する場合には、塗布法、特に
スピンコートにより成膜するのが好ましい。また、分離
層の形成は、2工程以上の工程(例えば、層の形成工程
と熱処理工程)で行われてもよい。
(a−Si)の場合には、CVD、特に低圧CVDやプ
ラズマCVDにより成膜するのが好ましい。また、分離
層をゾル−ゲル法によるセラミックスで構成する場合
や、有機高分子材料で構成する場合には、塗布法、特に
スピンコートにより成膜するのが好ましい。また、分離
層の形成は、2工程以上の工程(例えば、層の形成工程
と熱処理工程)で行われてもよい。
【0038】分離層と共通電極3との間に中間層(下地
層)を形成しても良い。この中間層は、種々の形成目的
で形成され、例えば、製造時または使用時において被転
写層を物理的または化学的に保護する保護層、絶縁層、
被転写層へのまたは被転写層らの成分の移行(マイグレ
ーション)を阻止するバリア層、反射層としての機能の
内の少なくともlつを発揮するものが挙げられる。
層)を形成しても良い。この中間層は、種々の形成目的
で形成され、例えば、製造時または使用時において被転
写層を物理的または化学的に保護する保護層、絶縁層、
被転写層へのまたは被転写層らの成分の移行(マイグレ
ーション)を阻止するバリア層、反射層としての機能の
内の少なくともlつを発揮するものが挙げられる。
【0039】この中間層の組成としては、その形成目的
に応じて適宜選択され、例えば、非晶質シリコンによる
分離層と被転写層との問に形成される中間層の場合に
は、SiO2等の酸化ケイ素が挙げられる。その他の中
間層としては、例えば、Pt、Au、W、Ta、Mo、
A1、Cr、Tiまたはこれらを主とする合金のような
金属が挙げられる。
に応じて適宜選択され、例えば、非晶質シリコンによる
分離層と被転写層との問に形成される中間層の場合に
は、SiO2等の酸化ケイ素が挙げられる。その他の中
間層としては、例えば、Pt、Au、W、Ta、Mo、
A1、Cr、Tiまたはこれらを主とする合金のような
金属が挙げられる。
【0040】このような中間層の厚さは、その形成目的
や発揮し得る機能の程度に応じて適宜決定されるが、通
常は、10nm一5μm程度であるのが好ましく、40
nm〜lμm程度であるのがより好ましい。また、中間
層の形成方法も、前記分離層で挙げた形成方法と同様の
方法が挙げられる。また、中間層の形成は、2工程以上
の工程で行われてもよい。なお、このような中間層は、
同一または異なる組成のものを2層以上形成することも
できる。また、本発明では、中間層を形成せず、分離層
上に直接被転写層を形成してもよい。
や発揮し得る機能の程度に応じて適宜決定されるが、通
常は、10nm一5μm程度であるのが好ましく、40
nm〜lμm程度であるのがより好ましい。また、中間
層の形成方法も、前記分離層で挙げた形成方法と同様の
方法が挙げられる。また、中間層の形成は、2工程以上
の工程で行われてもよい。なお、このような中間層は、
同一または異なる組成のものを2層以上形成することも
できる。また、本発明では、中間層を形成せず、分離層
上に直接被転写層を形成してもよい。
【0041】図6には、被転写層の表面に接着層62を
形成し、該接着層を介して被転写体をインクジェット基
台1に接着(接合)することを示している。接着層を構
成する接着剤の好適な例としては、反応性硬化型接着
剤、熱硬化型接着剤、紫外線硬化型接着剤等の光硬化型
接着剤、嫌気硬化型接着剤等の各種硬化型接着剤が挙げ
られる。接着剤の組成としては、例えば、エポキシ系、
アクリレート系、シリコーン系等、いかなるものでもよ
い。このような接着層の形成は、例えば、塗布法によっ
て達成される。
形成し、該接着層を介して被転写体をインクジェット基
台1に接着(接合)することを示している。接着層を構
成する接着剤の好適な例としては、反応性硬化型接着
剤、熱硬化型接着剤、紫外線硬化型接着剤等の光硬化型
接着剤、嫌気硬化型接着剤等の各種硬化型接着剤が挙げ
られる。接着剤の組成としては、例えば、エポキシ系、
アクリレート系、シリコーン系等、いかなるものでもよ
い。このような接着層の形成は、例えば、塗布法によっ
て達成される。
【0042】前記硬化型接着剤を用いる場合、例えば被
転写層上に硬化型接着剤を塗布し、それにインクジェッ
ト基台を接合した後、硬化型接着剤の特性に応じた硬化
方法により前記硬化型接着剤を硬化させて、被転写層と
インクジェット基台とを接着、固定する。
転写層上に硬化型接着剤を塗布し、それにインクジェッ
ト基台を接合した後、硬化型接着剤の特性に応じた硬化
方法により前記硬化型接着剤を硬化させて、被転写層と
インクジェット基台とを接着、固定する。
【0043】光硬化型接着剤を用いる場合は、透光性の
インクジェット基台を未硬化の接着層上に配置した後、
インクジェット基台側から硬化用の光を照射して接着剤
を硬化させることが好ましい。また、基板60が透光性
を有するものであれば、基板と基台1の両側から硬化用
の光を照射して接着剤を硬化させれば、硬化が確実とな
り好ましい。後述の図8には、このような3方向からの
光照射が示されている。
インクジェット基台を未硬化の接着層上に配置した後、
インクジェット基台側から硬化用の光を照射して接着剤
を硬化させることが好ましい。また、基板60が透光性
を有するものであれば、基板と基台1の両側から硬化用
の光を照射して接着剤を硬化させれば、硬化が確実とな
り好ましい。後述の図8には、このような3方向からの
光照射が示されている。
【0044】なお、図示と異なり、基台側に接着層を形
成し、その上に被転写層を接着してもよい。また、被転
写層と接着層との間に、前述したような中間層を設けて
もよい。
成し、その上に被転写層を接着してもよい。また、被転
写層と接着層との間に、前述したような中間層を設けて
もよい。
【0045】インクジェット基台は、前記基板に比ベ、
耐熱性、耐食性等の特性が劣るものであっても支障はな
い。その理由は、本発明では、基板側に被転写層を形成
し、その後、該被転写層をインクジェット基台に転写す
るため、インクジェット基台に要求される特性、特に耐
熟性は、被転写層形成の際の温度条件等に依存しないか
らである。
耐熱性、耐食性等の特性が劣るものであっても支障はな
い。その理由は、本発明では、基板側に被転写層を形成
し、その後、該被転写層をインクジェット基台に転写す
るため、インクジェット基台に要求される特性、特に耐
熟性は、被転写層形成の際の温度条件等に依存しないか
らである。
【0046】従って、被転写層の形成の際の最高温度を
Tmaxとしたとき、インクジェット基台の構成材料と
して、ガラス転移点(Tg)または軟化点がTmax以
下のものを用いることができる。例えば、インクジェッ
ト基台は、ガラス転移点(Tg)または軟化点が好まし
くは800℃以下、より好ましくは500℃以下、さら
に好ましくは320℃以下の材料で構成することができ
る。
Tmaxとしたとき、インクジェット基台の構成材料と
して、ガラス転移点(Tg)または軟化点がTmax以
下のものを用いることができる。例えば、インクジェッ
ト基台は、ガラス転移点(Tg)または軟化点が好まし
くは800℃以下、より好ましくは500℃以下、さら
に好ましくは320℃以下の材料で構成することができ
る。
【0047】また、インクジェット基台の機械的特性と
しては、ある程度の剛性(強度)を有するものが好まし
い。このようなインクジェット基台の構成材料として
は、各種合成樹脂または各種ガラス材が挙げられ、特
に、各種合成樹脂や通常の(低融点の)安価なガラス材
で良い。後述の図8に示すように、ポリシラザンによっ
てインクジェット基台を形成すると、インクジェット基
台の剛性をほぼ満足がゆくものにできる。
しては、ある程度の剛性(強度)を有するものが好まし
い。このようなインクジェット基台の構成材料として
は、各種合成樹脂または各種ガラス材が挙げられ、特
に、各種合成樹脂や通常の(低融点の)安価なガラス材
で良い。後述の図8に示すように、ポリシラザンによっ
てインクジェット基台を形成すると、インクジェット基
台の剛性をほぼ満足がゆくものにできる。
【0048】合成樹脂としては、熱可塑性樹脂、熱硬化
性樹脂のいずれでもよく、例えば、ポリエチレン、ポリ
プロピレン、エチレンープロピレン共重合体、エチレン
ー酢酸ビニル共重合体(EVA)等のポリオレフィン、
環状ポリオレフィン、変性ポリオレフィン、ポリ塩化ビ
ニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミ
ド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリカーボネー
ト、ポリ−(4−メチルペンテン−1)、アイオノマ
ー、アクリル系樹脂、ポリメチルメタクリレート(PM
MA)、アクリロニトリルーブタジエンースチレン共重
合体(ABS樹脂)、アクリロニトリルースチレン共重
合体(AS樹脂)、ブタジエンースチレン共重合体、ポ
リオキシメチレン、ポリビニルアルコール(PVA)、
エチレンービニルアルコール共重合体(EVOH)、ポ
リエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテ
レフタレート(PBT)、ポリシクロヘキサンテレフタ
レート(PCT)等のポリエステル、ポリエーテル、ポ
リエーテルケトン(PEK)、ポリエーテルエーテルケ
トン(PEEK)、ポリエーテルイミド、ポリアセター
ル(POM)、ポリフェニレンオキシド、変性ポリフェ
ニレンオキシド、ポリサルフオン、ポリフェニレンサル
フアイド(PPS)、ポリエーテルスルホン(PE
S)、ポリアリレート、芳香族ポリエステル(液晶ポリ
マー)、ポリテトラフルオロエチレン、ポリフッ化ビニ
リデン、その他フッ素系樹脂、スチレン系、ポリオレフ
ィン系、ポリ塩化ビニル系、ポリウレタン系、ポリエス
テル系、ポリアミド系、ポリブタジエン系、トランスポ
リイソプレン系、フッ素ゴム系、塩素化ポリエチレン系
等の各種熱可塑性エラストマー、エポキシ樹脂、フェノ
ール樹脂、ユリア樹脂、メラミン樹脂、不飽和ポリエス
テル、シリコーン樹脂、ポリウレタン等、またはこれら
を主とする共重合体、ブレンド体、ポリマーアロイ等が
挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合
わせて(例えば2層以上の積層体として)用いることが
できる。
性樹脂のいずれでもよく、例えば、ポリエチレン、ポリ
プロピレン、エチレンープロピレン共重合体、エチレン
ー酢酸ビニル共重合体(EVA)等のポリオレフィン、
環状ポリオレフィン、変性ポリオレフィン、ポリ塩化ビ
ニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミ
ド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリカーボネー
ト、ポリ−(4−メチルペンテン−1)、アイオノマ
ー、アクリル系樹脂、ポリメチルメタクリレート(PM
MA)、アクリロニトリルーブタジエンースチレン共重
合体(ABS樹脂)、アクリロニトリルースチレン共重
合体(AS樹脂)、ブタジエンースチレン共重合体、ポ
リオキシメチレン、ポリビニルアルコール(PVA)、
エチレンービニルアルコール共重合体(EVOH)、ポ
リエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテ
レフタレート(PBT)、ポリシクロヘキサンテレフタ
レート(PCT)等のポリエステル、ポリエーテル、ポ
リエーテルケトン(PEK)、ポリエーテルエーテルケ
トン(PEEK)、ポリエーテルイミド、ポリアセター
ル(POM)、ポリフェニレンオキシド、変性ポリフェ
ニレンオキシド、ポリサルフオン、ポリフェニレンサル
フアイド(PPS)、ポリエーテルスルホン(PE
S)、ポリアリレート、芳香族ポリエステル(液晶ポリ
マー)、ポリテトラフルオロエチレン、ポリフッ化ビニ
リデン、その他フッ素系樹脂、スチレン系、ポリオレフ
ィン系、ポリ塩化ビニル系、ポリウレタン系、ポリエス
テル系、ポリアミド系、ポリブタジエン系、トランスポ
リイソプレン系、フッ素ゴム系、塩素化ポリエチレン系
等の各種熱可塑性エラストマー、エポキシ樹脂、フェノ
ール樹脂、ユリア樹脂、メラミン樹脂、不飽和ポリエス
テル、シリコーン樹脂、ポリウレタン等、またはこれら
を主とする共重合体、ブレンド体、ポリマーアロイ等が
挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合
わせて(例えば2層以上の積層体として)用いることが
できる。
【0049】ガラス材としては、例えば、ケイ酸ガラス
(石英ガラス)、ケイ酸アルカリガラス、ソーダ石灰ガ
ラス、カリ石灰ガラス、鉛(アルカリ)ガラス、バリウ
ムガラス、ホウケイ酸ガラス等が挙げられる。このう
ち、ケイ酸ガラス以外のものは、ケイ酸ガラスに比べて
融点が低く、また、成形、加工も比較的容易であり、し
かも安価であり、好ましい。さらに、転写体6は、金
属、セラミックスであってもよい。
(石英ガラス)、ケイ酸アルカリガラス、ソーダ石灰ガ
ラス、カリ石灰ガラス、鉛(アルカリ)ガラス、バリウ
ムガラス、ホウケイ酸ガラス等が挙げられる。このう
ち、ケイ酸ガラス以外のものは、ケイ酸ガラスに比べて
融点が低く、また、成形、加工も比較的容易であり、し
かも安価であり、好ましい。さらに、転写体6は、金
属、セラミックスであってもよい。
【0050】基板の裏面側から照射光を照射する。この
照射光は、基板を透過した後分離層に照射される。これ
により、図6の(2)に示すように、分離層に層内剥離
および/または界面剥離が生じ、結合力が減少または消
滅するので、基板60とインクジェット基台1とを離問
させると、被転写層が基板から離脱してインクジェット
基台へ転写される。
照射光は、基板を透過した後分離層に照射される。これ
により、図6の(2)に示すように、分離層に層内剥離
および/または界面剥離が生じ、結合力が減少または消
滅するので、基板60とインクジェット基台1とを離問
させると、被転写層が基板から離脱してインクジェット
基台へ転写される。
【0051】分離層の層内剥離および/または界面剥離
が生じる原理は、分離層の構成材料にアブレーションが
生じること、また、分離層内に内蔵しているガスの放
出、さらには照射直後に生じる溶融、蒸散等の相変化に
よるものであることが推定される。
が生じる原理は、分離層の構成材料にアブレーションが
生じること、また、分離層内に内蔵しているガスの放
出、さらには照射直後に生じる溶融、蒸散等の相変化に
よるものであることが推定される。
【0052】ここで、アブレーションとは、照射光を吸
収した固体材料(分離層の構成材料)が光化学的または
熱的に励起され、その表面や内部の原子または分子の結
合が切断されて放出することを言い、主に、分離層の構
成材料の全部または一部が溶融、蒸散(気化)等の相変
化を生じる現象として現れる。また、前記相変化によっ
て微小な発泡状態となり、結合力が低下することもあ
る。
収した固体材料(分離層の構成材料)が光化学的または
熱的に励起され、その表面や内部の原子または分子の結
合が切断されて放出することを言い、主に、分離層の構
成材料の全部または一部が溶融、蒸散(気化)等の相変
化を生じる現象として現れる。また、前記相変化によっ
て微小な発泡状態となり、結合力が低下することもあ
る。
【0053】分離層が層内剥離を生じるか、界面剥離を
生じるか、またはその両方であるかは、分離層の組成
や、その他種々の要因に左右され、その要因の1つとし
て、照射7の種類、波長、強度、到達深さ等の条件が挙
げれる。
生じるか、またはその両方であるかは、分離層の組成
や、その他種々の要因に左右され、その要因の1つとし
て、照射7の種類、波長、強度、到達深さ等の条件が挙
げれる。
【0054】照射光としては、分離層に層内剥離および
/または界面剥離を起こさせるものであればいかなるも
のでもよく、例えば、X線、紫外線、可視光、赤外線
(熱線)、レーザ光、ミリ波、マイクロ波、電子線、放
射線(α線、β線、γ線)等が挙げられるが、そのなか
でも、分離層の剥離(アブレーション)を生じさせ易い
という点で、レーザ光が好ましい。
/または界面剥離を起こさせるものであればいかなるも
のでもよく、例えば、X線、紫外線、可視光、赤外線
(熱線)、レーザ光、ミリ波、マイクロ波、電子線、放
射線(α線、β線、γ線)等が挙げられるが、そのなか
でも、分離層の剥離(アブレーション)を生じさせ易い
という点で、レーザ光が好ましい。
【0055】このレーザ光を発生させるレーザ装置とし
ては、各種気体レーザ、固体レーザ(半導体レーザ)等
が挙げられるが、エキシマレーザ、Nd−YAGレー
サ、Arレーザ、CO2レーザ、COレーザ、He−N
eレーザ等が好適に用いられ、その中でもエキシマレー
ザが特に好ましい。
ては、各種気体レーザ、固体レーザ(半導体レーザ)等
が挙げられるが、エキシマレーザ、Nd−YAGレー
サ、Arレーザ、CO2レーザ、COレーザ、He−N
eレーザ等が好適に用いられ、その中でもエキシマレー
ザが特に好ましい。
【0056】エキシマレーザは、短波長域で高エネルギ
ーを出力するため、極めて短時間で分離層にアブレーシ
ョンを生じさせることができ、よって、隣接するまたは
近傍の中間層、被転写層、基板等に温度上昇をほとんど
生じさせることなく、すなわち劣化、損傷を生じさせる
ことなく分離層を剥離することができる。
ーを出力するため、極めて短時間で分離層にアブレーシ
ョンを生じさせることができ、よって、隣接するまたは
近傍の中間層、被転写層、基板等に温度上昇をほとんど
生じさせることなく、すなわち劣化、損傷を生じさせる
ことなく分離層を剥離することができる。
【0057】また、分離層にアブレーションを生じさせ
るに際しての照射光に波長依存性がある場合、照射され
るレーザ光の波長は、100〜350nm程度であるの
が好ましい。また、分離層2に、例えばガス放出、気
化、昇華等の相変化を起こさせて分離特性を与える場
合、照射されるレーザ光の波長は、350一1200n
m程度であるのが好ましい。
るに際しての照射光に波長依存性がある場合、照射され
るレーザ光の波長は、100〜350nm程度であるの
が好ましい。また、分離層2に、例えばガス放出、気
化、昇華等の相変化を起こさせて分離特性を与える場
合、照射されるレーザ光の波長は、350一1200n
m程度であるのが好ましい。
【0058】また、照射されるレーザ光のエネルギー密
度、特に、エキシマレーザの場合のエネルギー密度は、
10〜5000mJ/cm2程度とするのが好ましく、
100−5200mJ/cm2程度とするのがより好ま
しい。また、照射時間は、1−1000nsec程度と
するのが好ましく、10〜100nsec程度とするの
がより好ましい。エネルギー密度が低いかまたは照射時
間が短いと、十分なアブレーション等が生じず、また、
エネルギー密度が高いかまたは照射時間が長いと、分離
層および中間層を透過した照射光により被転写層へ悪影
響を及ぼすことがある。
度、特に、エキシマレーザの場合のエネルギー密度は、
10〜5000mJ/cm2程度とするのが好ましく、
100−5200mJ/cm2程度とするのがより好ま
しい。また、照射時間は、1−1000nsec程度と
するのが好ましく、10〜100nsec程度とするの
がより好ましい。エネルギー密度が低いかまたは照射時
間が短いと、十分なアブレーション等が生じず、また、
エネルギー密度が高いかまたは照射時間が長いと、分離
層および中間層を透過した照射光により被転写層へ悪影
響を及ぼすことがある。
【0059】このようなレーザ光に代表される照射光
は、その強度が均一となるように照射されるのが好まし
い。照射光の照射方向は、分離層に対し垂直な方向に限
らず、分離層に対し所定角度傾斜した方向であってもよ
い。また、分離層の面積が照射光の1回の照射面積より
大きい場合には、分離層2全領域に対し、複数回に分け
て照射光を照射することもできる。また、同一箇所に2
回以上照射してもよい。また、異なる種類、異なる波長
(波長域)の照射光(レーザ光)を同一領域または異な
る領域に2回以上照射してもよい。中間層に付着してい
る分離層を、例えば洗浄、エッチング、アッシング、研
磨等の方法またはこれらを組み合わせた方法により除去
する。分離層の層内剥離の場合には、基板に付着してい
る分離層も同様に除去する。
は、その強度が均一となるように照射されるのが好まし
い。照射光の照射方向は、分離層に対し垂直な方向に限
らず、分離層に対し所定角度傾斜した方向であってもよ
い。また、分離層の面積が照射光の1回の照射面積より
大きい場合には、分離層2全領域に対し、複数回に分け
て照射光を照射することもできる。また、同一箇所に2
回以上照射してもよい。また、異なる種類、異なる波長
(波長域)の照射光(レーザ光)を同一領域または異な
る領域に2回以上照射してもよい。中間層に付着してい
る分離層を、例えば洗浄、エッチング、アッシング、研
磨等の方法またはこれらを組み合わせた方法により除去
する。分離層の層内剥離の場合には、基板に付着してい
る分離層も同様に除去する。
【0060】基板が石英ガラスのような高価な材料、希
少な材料で構成されている場合等には、基板は、好まし
くは再利用(リサイクル)に供される。以上のような各
工程を経て、被転写層をインクジェット基台へ転写する
ことが完了する。
少な材料で構成されている場合等には、基板は、好まし
くは再利用(リサイクル)に供される。以上のような各
工程を経て、被転写層をインクジェット基台へ転写する
ことが完了する。
【0061】その後、被転写層に隣接する中間層の除去
や、他の任意の層の形成等を行うこともできる。本発明
では、被剥離物である被転写層自体を直接剥離するので
はなく、被転写層に接合された分離層において剥離する
ため、被剥離物(被転写層)の特性、条件等にかかわら
ず、容易かつ確実に、しかも均一に剥離(転写)するこ
とができ、剥離操作に伴う被剥離物(被転写層)ヘのダ
メージもなく、被転写層の高い信頼性を維持することが
できる。
や、他の任意の層の形成等を行うこともできる。本発明
では、被剥離物である被転写層自体を直接剥離するので
はなく、被転写層に接合された分離層において剥離する
ため、被剥離物(被転写層)の特性、条件等にかかわら
ず、容易かつ確実に、しかも均一に剥離(転写)するこ
とができ、剥離操作に伴う被剥離物(被転写層)ヘのダ
メージもなく、被転写層の高い信頼性を維持することが
できる。
【0062】
【実施例】図4乃至図6は、本発明に係わるインクジェ
ットプリンタヘッドの合成方法の一例を示したものであ
る。図4は、インクジェット基台の製造工程であり、図
5は圧電体薄膜等が基板に形成される工程を示すもので
あり、図6はこの基板とインクジェット基台とを接合
し、その後基板を分離する工程を示すものである。
ットプリンタヘッドの合成方法の一例を示したものであ
る。図4は、インクジェット基台の製造工程であり、図
5は圧電体薄膜等が基板に形成される工程を示すもので
あり、図6はこの基板とインクジェット基台とを接合
し、その後基板を分離する工程を示すものである。
【0063】先ず、図4の工程について説明する。イン
クジェット基台を製造するための母材原料として、感光
性ガラス(例えば、HOYA感光性ガラスPEG3 株
式会社保谷硝子製)を使用した。
クジェット基台を製造するための母材原料として、感光
性ガラス(例えば、HOYA感光性ガラスPEG3 株
式会社保谷硝子製)を使用した。
【0064】図4の(1)から(3)に向けて工程が進
行する。(4)は(1)のA−A断面図であり、(5)
は(2)のA−A断面図であり、(6)は(3)のA−
A断面図である。(1)−(3)はインク圧力室9のイ
ンク吐出ノズル40付近の断面図であり、(4)−
(6)はインク圧力室沿った方向の断面図である。
行する。(4)は(1)のA−A断面図であり、(5)
は(2)のA−A断面図であり、(6)は(3)のA−
A断面図である。(1)−(3)はインク圧力室9のイ
ンク吐出ノズル40付近の断面図であり、(4)−
(6)はインク圧力室沿った方向の断面図である。
【0065】この実施例における感光性ガラスは、金属
イオンを増感剤とともに加えて溶解した珪酸ガラスであ
り、紫外線に感光し、加熱現像処理により金属コロイド
を生じ、さらにそれが核になって結晶が成長するもので
ある。この結晶は非常に微細で酸に溶け易いので、複雑
な形状の孔、溝、外形等の微細加工が可能となる。
イオンを増感剤とともに加えて溶解した珪酸ガラスであ
り、紫外線に感光し、加熱現像処理により金属コロイド
を生じ、さらにそれが核になって結晶が成長するもので
ある。この結晶は非常に微細で酸に溶け易いので、複雑
な形状の孔、溝、外形等の微細加工が可能となる。
【0066】そこで、感光性ガラス性の母材の下面にイ
ンク吐出用ノズル口のパターンを描いたマスクを用い
て、ノズル口40のパターンを形成する。このことは、
図4の(2)と(5)に描かれている。次いで、同様に
して感光性ガラスの上面にインク加圧室のパターンを描
いたマスクを用いてインク加圧室9を形成する。このこ
とは、図4の(3)と(6)に描かれている。
ンク吐出用ノズル口のパターンを描いたマスクを用い
て、ノズル口40のパターンを形成する。このことは、
図4の(2)と(5)に描かれている。次いで、同様に
して感光性ガラスの上面にインク加圧室のパターンを描
いたマスクを用いてインク加圧室9を形成する。このこ
とは、図4の(3)と(6)に描かれている。
【0067】一方、図5には基板側の製造工程が記載さ
れている。(1)から(4)に向けて工程が進行する。
(5)乃至(8)はそれぞれ(1)乃至(4)のA−A
断面図である。(1)、(2)の工程により、石英ガラ
ス基板60上に既述の分離層を介して、共通電極の層
3、圧電体薄膜としてのPZTの層4、最終的に振動板
となる上電極の層5とを順次形成する。
れている。(1)から(4)に向けて工程が進行する。
(5)乃至(8)はそれぞれ(1)乃至(4)のA−A
断面図である。(1)、(2)の工程により、石英ガラ
ス基板60上に既述の分離層を介して、共通電極の層
3、圧電体薄膜としてのPZTの層4、最終的に振動板
となる上電極の層5とを順次形成する。
【0068】次いで、(3)の工程により、これらの圧
電体薄膜をインク圧力室9の形成パターンに沿ってエッ
チングする。この時、(6)に示すように、インクリザ
ーバからインク室9へインクを導く供給口を形成するた
めの孔50が形成される。次いで、(4)及び(8)に
示すように、上電極5の表面を接着層62で被覆し、
(9)において前記孔50の部分をエッチングして最終
的にインク加圧室9にリザーバからインクを供給するイ
ンク供給口52を形成して基板の製造工程を終了する。
電体薄膜をインク圧力室9の形成パターンに沿ってエッ
チングする。この時、(6)に示すように、インクリザ
ーバからインク室9へインクを導く供給口を形成するた
めの孔50が形成される。次いで、(4)及び(8)に
示すように、上電極5の表面を接着層62で被覆し、
(9)において前記孔50の部分をエッチングして最終
的にインク加圧室9にリザーバからインクを供給するイ
ンク供給口52を形成して基板の製造工程を終了する。
【0069】図6は基板上に形成された共通電極、圧電
体薄膜、上電極を図4で示す一連の工程によって形成さ
れたインクジェット基台1に転写するための工程を示す
ものである。この工程は(1)から(3)に進行する。
(2)は(1)のA−A線断面図である。インクジェッ
ト基台1のノズル孔40とは反対の側が基板60の接着
層によってこの基板と接着される。このことは(1)に
示されている。次いで、基板60の圧電体薄膜が存在し
ない側から既述の照射光を照らすことにより、分離層に
おいて既述の剥離を生じせしめて基板を除去する
((2)の工程)。この結果、インク室9内に振動板と
しての上電極5とPZT4とが臨むインクジェットプリ
ンタヘッドが形成される。なお、図5の工程(2)にお
いて、上電極にさらに後述の振動板を積層するようにし
ても良い。
体薄膜、上電極を図4で示す一連の工程によって形成さ
れたインクジェット基台1に転写するための工程を示す
ものである。この工程は(1)から(3)に進行する。
(2)は(1)のA−A線断面図である。インクジェッ
ト基台1のノズル孔40とは反対の側が基板60の接着
層によってこの基板と接着される。このことは(1)に
示されている。次いで、基板60の圧電体薄膜が存在し
ない側から既述の照射光を照らすことにより、分離層に
おいて既述の剥離を生じせしめて基板を除去する
((2)の工程)。この結果、インク室9内に振動板と
しての上電極5とPZT4とが臨むインクジェットプリ
ンタヘッドが形成される。なお、図5の工程(2)にお
いて、上電極にさらに後述の振動板を積層するようにし
ても良い。
【0070】この実施例において、基板側の製造の具体
例を説明すると次のとおりである。基板上に共通電極3
として膜厚0.8μmの白金をスパッタで形成し、その
上に圧電体薄膜4を形成し、更にその上に上電極5とし
て膜厚0.1μmの白金をスパッタで形成した。上電極
材料としてはそのほか導電率が良好なものなら良く、例
えば、アルミニウム、金、ニッケル、インジウム等使用
できる。
例を説明すると次のとおりである。基板上に共通電極3
として膜厚0.8μmの白金をスパッタで形成し、その
上に圧電体薄膜4を形成し、更にその上に上電極5とし
て膜厚0.1μmの白金をスパッタで形成した。上電極
材料としてはそのほか導電率が良好なものなら良く、例
えば、アルミニウム、金、ニッケル、インジウム等使用
できる。
【0071】圧電体薄膜4の形成方法は、簡単な装置で
薄膜を得られる製法であるゾルゲル法を用いた。組成
は、インクジェット記録ヘッドに使用するには圧電特性
を示す中ではジルコン酸チタン酸鉛(PZT)系が最も
適している。共通電極3を形成した上に調製したPZT
系ゾルをスピンコートで塗布し、400℃で仮焼成し、
非晶質の多孔質ゲル薄膜を形成し、更にゾルの塗布と4
00℃の仮焼成を2度繰り返し、多孔質ゲル薄膜を形成
した。次にペロブスカイト結晶を得るためRTA(Rapi
d Thermal Annealing)を用いて酸素雰囲気中、5秒間
で650℃に加熱して1分間保持しプレアニールを行
い、緻密なPZT薄膜とした。
薄膜を得られる製法であるゾルゲル法を用いた。組成
は、インクジェット記録ヘッドに使用するには圧電特性
を示す中ではジルコン酸チタン酸鉛(PZT)系が最も
適している。共通電極3を形成した上に調製したPZT
系ゾルをスピンコートで塗布し、400℃で仮焼成し、
非晶質の多孔質ゲル薄膜を形成し、更にゾルの塗布と4
00℃の仮焼成を2度繰り返し、多孔質ゲル薄膜を形成
した。次にペロブスカイト結晶を得るためRTA(Rapi
d Thermal Annealing)を用いて酸素雰囲気中、5秒間
で650℃に加熱して1分間保持しプレアニールを行
い、緻密なPZT薄膜とした。
【0072】再び該ゾルをスピンコートで塗布して40
0℃に仮焼成する工程を3度繰り返し、非晶質の多孔質
ゲル薄膜を積層した。次にRTAを用いて650℃でプ
レアニールして1分間保持することにより、結晶質の緻
密な薄膜とした。更にRTAを用いて酸素雰囲気中90
0℃に加熱し1分間保持してアニールした。その結果
1.0μmの膜厚の圧電体薄膜4が得られる。圧電体薄
膜の製造方法は、スパッタ法でも可能である。
0℃に仮焼成する工程を3度繰り返し、非晶質の多孔質
ゲル薄膜を積層した。次にRTAを用いて650℃でプ
レアニールして1分間保持することにより、結晶質の緻
密な薄膜とした。更にRTAを用いて酸素雰囲気中90
0℃に加熱し1分間保持してアニールした。その結果
1.0μmの膜厚の圧電体薄膜4が得られる。圧電体薄
膜の製造方法は、スパッタ法でも可能である。
【0073】次に、上電極5上にネガレジスト6(HR
−100:富士ハント)をスピンコートで塗布する。マ
スクによりネガレジストを圧電体薄膜の所望の位置に露
光・現像・ベークし、硬化したネガレジストを形成す
る。本実施例では、ネガレジストを使用して説明した
が、ポジレジストの使用も可能である。
−100:富士ハント)をスピンコートで塗布する。マ
スクによりネガレジストを圧電体薄膜の所望の位置に露
光・現像・ベークし、硬化したネガレジストを形成す
る。本実施例では、ネガレジストを使用して説明した
が、ポジレジストの使用も可能である。
【0074】この状態でドライエッチング装置で図5
(3)に示すように共通電極3が露出するまで上電極5
と圧電体薄膜4を一括でエッチングしてネガレジストで
形成した所望の形状に形成する。最後に、アッシング装
置で硬化したネガレジストを除去して図5(3)に示す
ようにパターニングが完了する。
(3)に示すように共通電極3が露出するまで上電極5
と圧電体薄膜4を一括でエッチングしてネガレジストで
形成した所望の形状に形成する。最後に、アッシング装
置で硬化したネガレジストを除去して図5(3)に示す
ようにパターニングが完了する。
【0075】なお、分離層(レザー吸収層)として非晶
質シリコン膜を低圧CVD法(Si2H6ガス、425
℃)により膜厚100nmで形成した。 この実施例
によれば、インクジェット基台が、感光性ガラスをエッ
チングすることによって、ノズルプレートが一体となっ
た状態で形成されているために、ノズル口40を高密度
で形成することができる。例えば、φ20μmのノズル
孔を30μmのピッチで形成することができる。従来の
ようにステンレスプレートにパンチでノズル孔を形成す
ることは、ノズル孔を高密度で形成する上で不利であ
り、バリの発生により不良なノズル口が発生し易い。一
つでもノズル孔の目詰まりがあるとインクジェットプリ
ンタヘッド全体を不良としなければならない不都合があ
る。また、ステンレスプレートをインク圧力室の隔壁を
形成するシリコンと接着することは難しい。ノズルプレ
ートをインクジェット基台と一体に形成することによ
り、このような課題が解決される。
質シリコン膜を低圧CVD法(Si2H6ガス、425
℃)により膜厚100nmで形成した。 この実施例
によれば、インクジェット基台が、感光性ガラスをエッ
チングすることによって、ノズルプレートが一体となっ
た状態で形成されているために、ノズル口40を高密度
で形成することができる。例えば、φ20μmのノズル
孔を30μmのピッチで形成することができる。従来の
ようにステンレスプレートにパンチでノズル孔を形成す
ることは、ノズル孔を高密度で形成する上で不利であ
り、バリの発生により不良なノズル口が発生し易い。一
つでもノズル孔の目詰まりがあるとインクジェットプリ
ンタヘッド全体を不良としなければならない不都合があ
る。また、ステンレスプレートをインク圧力室の隔壁を
形成するシリコンと接着することは難しい。ノズルプレ
ートをインクジェット基台と一体に形成することによ
り、このような課題が解決される。
【0076】また、この実施例によれば、インクジェッ
ト基台をシリコンのエッチングによって形成していない
ので、インクジェット基台の高さ方向の幅(図6(3)
のLによって示されている。)に対するハンドリング性
が向上し、Lを200μm以下、好ましくは50μm乃
至10μmの範囲に制限することができるようになる。
インク圧力室からのインク吐出圧はLの3乗に反比例す
るので、Lを小さくすることができれば高ドット密度化
によってインク圧力室9の容積が小さくなっても多量の
インクを勢いよく吐出することができる。
ト基台をシリコンのエッチングによって形成していない
ので、インクジェット基台の高さ方向の幅(図6(3)
のLによって示されている。)に対するハンドリング性
が向上し、Lを200μm以下、好ましくは50μm乃
至10μmの範囲に制限することができるようになる。
インク圧力室からのインク吐出圧はLの3乗に反比例す
るので、Lを小さくすることができれば高ドット密度化
によってインク圧力室9の容積が小さくなっても多量の
インクを勢いよく吐出することができる。
【0077】さらに、この実施例によれば、基板に照射
光を照らしても共通電極3の白金によってPZT層4ま
で光が到達するのを妨げられるので、PZTの層に於い
て既述のアブレーションが生じるのを避けるようにでき
る。
光を照らしても共通電極3の白金によってPZT層4ま
で光が到達するのを妨げられるので、PZTの層に於い
て既述のアブレーションが生じるのを避けるようにでき
る。
【0078】なお、接着層62を基板側に積層したが、
これをインクジェット基台の基板側60端面に形成する
ことができる。このような接着層としては、例えば、図
8において後述するポリシラザンを使用することができ
る。
これをインクジェット基台の基板側60端面に形成する
ことができる。このような接着層としては、例えば、図
8において後述するポリシラザンを使用することができ
る。
【0079】本発明の方法を使用することによって有利
な構造のインクジェットプリンタヘッドを形成すること
ができる。このインクジェットプリンタヘッドは、イン
クジェット基台1の上に共通電極3、PZT4、上電極
5が接着された後、上電極5上に隔壁72内にインクリ
ザーバ76が形成された薄膜デバイスを別の基板から剥
離させて接続することによって製造できるものである。
な構造のインクジェットプリンタヘッドを形成すること
ができる。このインクジェットプリンタヘッドは、イン
クジェット基台1の上に共通電極3、PZT4、上電極
5が接着された後、上電極5上に隔壁72内にインクリ
ザーバ76が形成された薄膜デバイスを別の基板から剥
離させて接続することによって製造できるものである。
【0080】符号70は、インクリザーバ76に臨む薄
膜トランジスタであり、上電極5に対するスイッチング
素子として機能するものである。このような構造のイン
クジェットプリンタヘッドは、インク供給口が振動板
(共通電極)3に形成されているために、インクタンク
から圧力室9までのインクの経路が短く、直線的であ
り、高ノズル密度で高駆動周波数を両立できるものであ
る。なお、振動板としてはその他に共通電極のみ、共通
電極とチッ化珪素、ジルコニウム、ジルコニア等が使用
できる。
膜トランジスタであり、上電極5に対するスイッチング
素子として機能するものである。このような構造のイン
クジェットプリンタヘッドは、インク供給口が振動板
(共通電極)3に形成されているために、インクタンク
から圧力室9までのインクの経路が短く、直線的であ
り、高ノズル密度で高駆動周波数を両立できるものであ
る。なお、振動板としてはその他に共通電極のみ、共通
電極とチッ化珪素、ジルコニウム、ジルコニア等が使用
できる。
【0081】図8は、インクジェット基台を形成する他
の実施例(スタンパ法)を示すものである。この実施例
では、インクジェット基台1に対する原盤としての石英
基板80上にポリシラザン(東燃化学株式会社製)の塗
布と固化を数十回繰り返して、インクジェット基台とし
てのポリシラザン石英基板80を形成する。
の実施例(スタンパ法)を示すものである。この実施例
では、インクジェット基台1に対する原盤としての石英
基板80上にポリシラザン(東燃化学株式会社製)の塗
布と固化を数十回繰り返して、インクジェット基台とし
てのポリシラザン石英基板80を形成する。
【0082】石英基板80の上面には、ノズル吐出口4
0のパターンに相当したドライフィルム82を積層し、
ポリシラザン石英形成後このドライフィルムを除去する
ことにより、ノズル吐出口40が形成されたインクジェ
ット基台1を得ることができる。
0のパターンに相当したドライフィルム82を積層し、
ポリシラザン石英形成後このドライフィルムを除去する
ことにより、ノズル吐出口40が形成されたインクジェ
ット基台1を得ることができる。
【0083】石英基板はCVD法による非晶質シリコン
から得ることができる。石英基板の表面には、既述の分
離層が形成されているために、照射光を石英基板側より
照らすことにより、この分離層84の部分からインクジ
ェット基台を石英基板より分離することができる。
から得ることができる。石英基板の表面には、既述の分
離層が形成されているために、照射光を石英基板側より
照らすことにより、この分離層84の部分からインクジ
ェット基台を石英基板より分離することができる。
【0084】この実施例によれば、一体構造のインクジ
ェット基台が形成されるために、既述の実施例と同様な
効果がある。
ェット基台が形成されるために、既述の実施例と同様な
効果がある。
【0085】なお、インクジェット基台としては、従来
のようにノズルプレートを隔壁に接合するものであって
も良い。
のようにノズルプレートを隔壁に接合するものであって
も良い。
【0086】以上説明した実施例において、最も好適な
分離層としては非晶室シリコンが選択される。
分離層としては非晶室シリコンが選択される。
【0087】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、イ
ンクジェット基台の材質に制限がないインクジェットプ
リンタヘッド及びその製造方法を提供することができ
る。さらに、ドットパターンの高密度化に対応できるイ
ンクジェットプリンタヘッドの製造方法及びそのインク
ジェットプリンタヘッドを提供することができる。
ンクジェット基台の材質に制限がないインクジェットプ
リンタヘッド及びその製造方法を提供することができ
る。さらに、ドットパターンの高密度化に対応できるイ
ンクジェットプリンタヘッドの製造方法及びそのインク
ジェットプリンタヘッドを提供することができる。
【図1】従来のインクジェットプリンタヘッドの製造工
程の一工程の膜構造の断面図。
程の一工程の膜構造の断面図。
【図2】この製造工程の他工程を示す同断面図。
【図3】この製造工程のさらに他の工程を示す同断面
図。
図。
【図4】インクジェット基台を本発明の実施例によって
製造する工程における、膜構造の断面図。
製造する工程における、膜構造の断面図。
【図5】基板上に圧電体薄膜等を本発明の実施例によっ
て製造する工程における、膜構造の断面図である。
て製造する工程における、膜構造の断面図である。
【図6】基板とインクジェット基台とを接着し、基板を
分離させる工程における、膜構造の断面図である。
分離させる工程における、膜構造の断面図である。
【図7】本発明の実施例によって製造された他のインク
ジェットプリンタヘッドの断面構成図である。
ジェットプリンタヘッドの断面構成図である。
【図8】インクジェット基台の他の製造例を示す模式図
である。
である。
1 インクジェット基台 3 共通電極 4 PZT膜 5 上電極 9 インク圧力室 40 インク吐出口 60 基板 62 接着層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 下田 達也 長野県諏訪市大和3丁目3番5号 セイコ ーエプソン株式会社内
Claims (6)
- 【請求項1】 インク圧力室を形成するインクジェット
基台上に、前記インク圧力室のインクを加圧する振動板
と、圧電体薄膜と、及びこの圧電体薄膜に対する電極を
形成するインクジェットプリンタヘッドの製造方法にお
いて、基板上に分離層を介して前記振動板と、前記圧電
体薄膜と、及び前記電極を形成する工程と、前記基板と
前記インクジェット基台とを接着させる工程と、前記分
離層に照射光を照射してこの分離層において前記基板を
前記振動板と、圧電体薄膜と、及び電極から分離し、こ
れらの振動板等と前記インクジェット基台とを接合させ
る工程と、を備えるインクジェットプリンタヘッドの製
造方法。 - 【請求項2】 前記インクジェット基台が、感光性ガラ
スによって形成する方法、光硬化樹脂によって形成する
方法、電鋳によって形成する方法、スタンパを利用して
形成する方法のいずれかによって形成される請求項1記
載の方法。 - 【請求項3】 前記各工程を経ることによって製造され
たインクジェットプリンタヘッド。 - 【請求項4】 前記インクジェット基台にインク吐出用
ノズルが一体に形成されている請求項3記載のインクジ
ェットプリンタヘッド。 - 【請求項5】 前記インク圧力室の高さ方向の幅が、1
0μm乃至50μmの範囲である請求項3又は4記載の
インクジェットプリンタヘッド。 - 【請求項6】 前記基板が石英ガラスである請求項1記
載の方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9011724A JPH10202874A (ja) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | インクジェットプリンタヘッド及びその製造方法 |
US09/010,622 US6186618B1 (en) | 1997-01-24 | 1998-01-22 | Ink jet printer head and method for manufacturing same |
US09/749,892 US6491384B2 (en) | 1997-01-24 | 2000-12-29 | Ink jet printer head |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9011724A JPH10202874A (ja) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | インクジェットプリンタヘッド及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10202874A true JPH10202874A (ja) | 1998-08-04 |
Family
ID=11785994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9011724A Pending JPH10202874A (ja) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | インクジェットプリンタヘッド及びその製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6186618B1 (ja) |
JP (1) | JPH10202874A (ja) |
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1997
- 1997-01-24 JP JP9011724A patent/JPH10202874A/ja active Pending
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1998
- 1998-01-22 US US09/010,622 patent/US6186618B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2000
- 2000-12-29 US US09/749,892 patent/US6491384B2/en not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Publication date |
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US20010015739A1 (en) | 2001-08-23 |
US6491384B2 (en) | 2002-12-10 |
US6186618B1 (en) | 2001-02-13 |
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