JPH10121292A - 多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法 - Google Patents

多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法

Info

Publication number
JPH10121292A
JPH10121292A JP22931497A JP22931497A JPH10121292A JP H10121292 A JPH10121292 A JP H10121292A JP 22931497 A JP22931497 A JP 22931497A JP 22931497 A JP22931497 A JP 22931497A JP H10121292 A JPH10121292 A JP H10121292A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
depressions
aluminum plate
alumina film
pores
arrangement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP22931497A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3714507B2 (ja
Inventor
Masashi Nakao
正史 中尾
Toshiaki Tamamura
敏昭 玉村
Hideki Masuda
秀樹 益田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP22931497A priority Critical patent/JP3714507B2/ja
Publication of JPH10121292A publication Critical patent/JPH10121292A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3714507B2 publication Critical patent/JP3714507B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 多孔性陽極酸化アルミナ膜において、細孔の
真円度および細孔径の均一性を改善し、かつ細孔を一定
の間隔で規則的に配列する。 【解決手段】 アルミニウム板の平滑性を有する表面
に、あらかじめ陽極酸化時に形成されるアルミナ膜の細
孔の間隔および配列と同一の間隔および配列の複数の窪
みを形成した後、前記アルミニウム板を陽極酸化する。
また、前記窪みは、複数の突起を表面に備えた基板を陽
極酸化する前記アルミニウム板表面に押し付けて形成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、所定形状の細孔が
所定の間隔で配列した多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】均一な細孔径を有する多孔性材料とし
て、従来より多孔性陽極酸化アルミナ膜が知られてい
る。多孔性陽極酸化アルミナ膜は、アルミニウムを酸性
電解液中で陽極酸化することによりアルミニウムの表面
に形成される多孔性のアルミナ膜であり、膜面に垂直な
細孔が自己規則化的に形成され、細孔径の均一性が比較
的良好であるという特徴を有していることから、フィル
ターをはじめとする機能材料の他、種々のナノデバイス
作製の出発構造としての利用が期待されている。このよ
うな多孔性材料の工業的な有用性は、細孔構造(孔形状
および配列)の規則性に著しく影響を受ける。この点に
おいて、従来技術により作製された多孔性陽極酸化アル
ミナ膜の規則性は充分とは言えない。すなわち、従来技
術によって作製された多孔性陽極酸化アルミナ膜におい
ては、各細孔が膜面に垂直な独立した孔となっておら
ず、隣接する細孔の間隔も一定ではなく、また孔の形状
も真円とはならず、この結果、孔径の分布にも広がりを
有していた。垂直でまっすぐな独立した細孔が得られな
い理由は、次のような陽極酸化アルミナ膜における多孔
質構造の形成機構によるものと考えられる。すなわち、
陽極酸化開始時には孔はランダムに発生し、これらのう
ちの一部が優先的に成長することにより多孔質構造が形
成される。このため、陽極酸化の開始初期においては細
孔構造は規則的とはならず、細孔は屈曲した構造とな
る。
【0003】従来、この問題を改善する方法として、二
段階に分けて陽極酸化を行う方法が提案されている(Jp
n. Journal of Applied Phisics, Vol.35, Part 2, No.
1B,pp.L126-L129, 15 January 1996)。すなわち、一定
時間陽極酸化を行って形成した酸化皮膜をいったん選択
的に溶解除去した後、再度、同一の条件で陽極酸化を行
うことにより膜面に垂直でまっすぐな独立した細孔を有
する酸化皮膜を得る方法である。これは、一段階目の陽
極酸化により形成された陽極酸化皮膜を除去することに
よりアルミニウム表面に窪みが形成され、この窪みが二
段階目の陽極酸化の開始点となることを利用したもので
ある。しかし、この方法により各細孔の垂直性、直進性
および独立性は改善されるものの、細孔の配列に一定の
乱れが生じることから、細孔の間隔は一定とはならず、
細孔の真円度も充分ではないという問題があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上述
した従来技術により作製された多孔性陽極酸化皮膜にお
ける細孔の配列の規則性の低さ、細孔の真円度、および
細孔径の分布が良好ではないという問題点を解消し、各
細孔の間隔が一定で規則正しく配列し、細孔の真円度・
細孔径の均一性を改善した多孔性陽極酸化アルミナ膜の
作製方法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明にかかる多孔性の陽極酸化アルミナ膜の作
製方法は、請求項1に記載したように、陽極酸化を行う
アルミニウム板の平滑性を有する表面に、あらかじめ陽
極酸化時に形成されるアルミナ膜の細孔の間隔および配
列と同一の間隔および配列の複数の窪み(凹部)を形成
した後、前記アルミニウム板を陽極酸化することによ
り、所定形状の細孔が前記複数の窪みの間隔および配列
と同一の間隔および配列で規則的に配列した多孔性の陽
極酸化アルミナ膜を作製するものである。本発明におい
ては、陽極酸化を行うアルミニウム板表面にあらかじめ
陽極酸化時に形成される細孔の間隔と同一の間隔で窪み
を人工的に形成しておくことにより、上記窪みが陽極酸
化の開始点となって上記窪みに対応する位置に細孔が発
生し、上記窪みの配列に従って屈曲のない細孔が等間隔
に配列した多孔性陽極酸化アルミナ膜が形成される。し
たがって、直進性、垂直性および独立性のより高い細孔
を規則性の高い配列で形成するためには、アルミニウム
板の陽極酸化を行う表面は平滑性が高いことが望まし
い。その結果、各細孔の垂直性、直進性および独立性が
高いだけでなく、所定の間隔で規則的に、例えば周辺の
細孔が正六角形状に配列し、膜厚方向に対し高いアスペ
クト比の細孔を有する多孔性陽極酸化アルミナ膜を得る
ことができる。なお、本発明におけるアルミニウム板
は、陽極酸化を行う平滑面をもつアルミニウムのすべて
を含むものとし、これにはアルミニウム単体の他、請求
項7または請求項8に示すように、例えばシリコン等の
他の材質からなる基板上に形成されたアルミニウム膜も
含むものとする。
【0006】本発明において、アルミニウム板の表面に
複数の窪みを所定の間隔および配列で形成するには、例
えばフォトリソグラフィあるいは電子ビームリソグラフ
ィ法によりアルミニウム板表面にレジストパタンを形成
した後これをエッチングしてもよい。しかしながら、特
に細孔間隔が0.1μm前後の非常に微細な多孔性陽極
アルミナ膜を作製する場合、上記アルミニウム板表面に
微細な窪みを人工的に規則正しく形成するために電子ビ
ームリソグラフィやX線リソグラフィなどを用いた高解
像度の微細加工技術を用いる必要があり、このような微
細加工技術を多孔性陽極酸化アルミナを製造するたびに
毎回適用することは経済的でない。そこで本発明は、請
求項2に記載されたように、窪みに対応した複数の突起
を表面に備えた基板を陽極酸化するアルミニウム板表面
に押し付けることにより、上記アルミニウム板表面に陽
極酸化時に形成されるアルミナ膜の細孔の間隔および配
列と同一の間隔および配列の窪みを形成した後、上記ア
ルミニウム板を陽極酸化することにより、細孔が所定の
間隔で規則的に配列した多孔性陽極酸化アルミナ膜を作
製するものである。
【0007】本発明において上述のような突起を備えた
基板をアルミニウム板に圧着する方法は、突起を有する
基板をアルミニウム板上に密着させ、油圧プレスなどを
用いて圧力を印加することにより実施できる。基板に設
ける突起の配列(パタン)は、陽極酸化によって形成す
る多孔性陽極酸化アルミナ膜の細孔の配列に対応させる
ものとし、正六角形状の周期的な配列は言うに及ばず、
周期的配列の一部を欠いたような任意のパタンとするこ
ともできる。また、突起を形成する基板は鏡面の表面を
有するとともに、押し付ける圧力により破壊されたり突
起の配置が変形することのない強度と硬度を有するもの
が望ましい。このためには、アルミニウムやタンタルの
ような金属基板も含め、微細加工が容易で汎用的なシリ
コン基板等を用いることができるが、強度の高いダイヤ
モンドやシリコンカーバイドで構成されている基板は、
繰り返し使用回数を多くすることができるので、より望
ましい。これによって、突起を有する基板を1個作製し
ておけば、これを繰り返し使用することにより、効率的
に多数のアルミニウム板に規則的な窪み配列を形成する
ことができ、ひいては経済的に多孔性陽極酸化アルミナ
膜を作製することができる。
【0008】また、陽極酸化によって自己規則化的に形
成された多孔性陽極酸化アルミナ膜の細孔は、最終的に
は六方充填配列を形成する傾向がある。このときの細孔
間隔は、陽極酸化電圧により決まり、この間隔と同一の
間隔で窪みを形成すると規則性が良好となる。陽極酸化
により形成される細孔の間隔は、陽極酸化時の電圧に比
例し、その比例定数は約2.5nm/Vであることが知
られている。そこで請求項3に記載された多孔性陽極酸
化アルミナ膜の作製方法の発明は、陽極酸化を行うアル
ミニウム板表面に複数の窪みを各窪みに対して周辺の窪
みが正六角形状に配列されるように形成し、これらの窪
みの間隔を2.5nm/Vで除することによって得られ
るアノード酸化電圧で陽極酸化を行うことを特徴とす
る。ここで陽極酸化に用いる電解液は、アルミニウムの
酸化物に溶媒作用のあるものであればよく、例えばシュ
ウ酸の他、硫酸、シュウ酸と硫酸の混合浴、リン酸など
の酸性電解液を用いることができる。さらに本発明のう
ち、請求項4および請求項5に記載された発明は、それ
ぞれ、陽極酸化にシュウ酸浴を用いた場合は35〜45
Vの電圧範囲のアノード酸化電圧で、硫酸浴を用いた場
合は23〜28Vの電圧範囲のアノード酸化電圧で陽極
酸化を行うことを特徴とする。これによって細孔の真円
度が良好で、細孔径の均一性が向上した良好な六方充填
配列の多孔性陽極酸化アルミナ膜を得ることができる。
したがって、各種のフィルターをはじめとする多孔性材
料の機能を向上することができ、その有用性を高める効
果がある。なお、これらの混合浴を用いる場合には、上
記の中間の電圧で良好な結果が得られる。
【0009】また、請求項6に記載された多孔性陽極ア
ルミナ膜の作製方法は、陽極酸化により上記複数の窪み
の間隔および配列と同一の間隔および配列で所定形状の
細孔を有する多孔性陽極酸化アルミナ膜を形成した後、
上記多孔性陽極アルミナ膜から上記アルミニウム板を除
去し、さらには上記多孔性陽極アルミナ膜のバリア層
(無孔層)を除去することを特徴とするものである。こ
れによってスルーホールを有するアルミナ膜を得ること
ができ、各種のフィルターをはじめとする多孔性材料と
することができる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明にか
かる多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法の実施の形態
について説明する。図1は、本発明の第1の実施の形態
において用いるアルミニウム板の平面図である。アルミ
ニウム板10の表面には、あらかじめ微小な複数の窪み
11が形成されている。これらの窪み11は、陽極酸化
によって形成される細孔の間隔および配列と一致してい
る。本実施例においては、陽極酸化によって形成される
細孔の規則性が最も向上するように、各窪みに対して周
辺の窪みが正六角形状に配列するようにする。なお、ア
ルミニウム板としては、高純度のアルミニウム板を用
い、99.99%以上の純度を有することが望ましい。
【0011】このアルミニウム板10の表面は、窪み1
1を形成する前に、平滑性を持たせるためにあらかじめ
適当な方法で研磨を行って鏡面に仕上げてある。具体的
には、適当な電解液中でアルミニウム板10を陽極とし
て研磨を行う電解研磨法を用いることができる。このよ
うな電解研磨法の一例としては、過塩素酸およびエタノ
ールを1対4で混合した浴を電解液として用い、アルミ
ニウム板10を陽極とし、約4分間電解研磨を行うと鏡
面を有するアルミニウム板10を得ることができる。
【0012】本実施の形態においては、上記アルミニウ
ム板10上に図1に示すような等間隔に配列された複数
の窪み11をエッチングによって形成した。その工程を
図2に示す断面図を参照して説明すると次のようにな
る。まず、上述のように鏡面に仕上げたアルミニウム板
10の表面にフォトリソグラフィまたは電子ビームリソ
グラフィ法を用いて、陽極酸化により形成する細孔と対
応したレジストパタン20を形成する(図2(a))。
次にBr2 のメタノール飽和液を用いてエッチングを行
い、前記アルミニウム板10の表面にレジストパタン2
0に対応した窪み11を形成する(図2(b))。な
お、エッチングには、上述のようなウェットエッチング
の他、Arプラズマを用いたドライエッチングを用いて
も良い。そして、レジストパタン20を除去すれば、陽
極酸化によって形成される細孔と対応した窪み11が表
面に形成された前記アルミニウム板10を得る(図2
(c))。
【0013】このようにしてアルミニウム板10の表面
に窪み11を形成した後、これを酸性電解液中において
陽極酸化し、多孔性陽極酸化アルミナ膜を形成する。そ
のプロセスは次のようなものである。図1および図2
(c)に示すごとく微細な窪み11を形成したアルミニ
ウム板10をシュウ酸等の酸性電解液中で陽極酸化する
と、図3(a)に示すように、アルミニウム板10の表
面に陽極酸化アルミナ膜30が形成される。このアルミ
ナ膜30は、アルミニウムの素地に接した部分に形成さ
れる無孔質で誘電性のある薄いバリア層32と、これに
接してそれぞれ中央に細孔31を有する多孔層33とか
らなっている。このとき、細孔31は、あらかじめ形成
された窪み11の部分から形成される。さらに陽極酸化
を続けると、図3(b)に示すように、陽極酸化アルミ
ナ膜30の多孔層33は厚くなり、それにつれて陽極酸
化アルミナ膜の細孔31も深くなる。その結果、アルミ
ニウム板10表面に設けた窪み11に対応する位置に独
立した垂直性および直進性の良い細孔が形成される。な
お、本発明において使用できる電解液は、アルミニウム
の酸化物に溶媒作用のある電解液であればよく、具体的
にはシュウ酸の他、硫酸、シュウ酸と硫酸の混合浴、リ
ン酸などの酸性電解液が挙げられる。
【0014】この多孔性陽極酸化アルミナ膜の細孔の間
隔は、陽極酸化時の電圧、すなわち陽極酸化電圧(アノ
ード酸化電圧)に比例し、その比例定数は約2.5nm
/Vであることが知られている。したがって、本発明の
多孔性陽極酸化アルミナ膜は、あらかじめ、陽極酸化時
に形成される細孔の間隔および配列と同一の間隔および
配列で、この間隔と同一の間隔で窪み11を形成すると
規則性が良好となる。また、細孔間隔の配列の規則性を
向上できる陽極酸化の条件は、シュウ酸浴においては3
5〜45V、硫酸浴においては23〜28Vの電圧範
囲、また、これらの混合浴を用いる場合には、上記の中
間の電圧で良好な結果が得られる。したがって、良好な
六方充填配列を形成するためには、上記電圧に対応する
細孔間隔で窪みを形成することが望ましい。このような
条件下では細孔間隔が0.1μm前後の多孔性陽極酸化
アルミナ膜が得られる。上述のようにして形成された細
孔が等間隔に配列した多孔性陽極酸化アルミナ膜30の
平面図を図4に示す。この多孔性陽極酸化アルミナ膜3
0において細孔31は、あらかじめアルミニウム板10
上に等間隔で正六角形状に配列された窪みに対応して、
良好な六方充填配列を形成している。
【0015】次に本発明の第2実施の形態について図5
を参照して説明する。本実施例は、アルミニウム板の表
面に複数の窪みを形成する際に、フォトリソグラフィの
代わりにポリスチレン球を用いてマスクを形成し、エッ
チングを行う方法である。まず、上述の第1実施例と同
様に陽極酸化を行う表面を鏡面処理したアルミニウム板
50の表面にポリスチレン球52を二次元的に充填し、
最密状態の膜を形成する(図5(a))。この最密状態
のポリスチレン球52をマスクとして、例えばSiO2
を適当な圧力の下で過剰に蒸着すると、SiO2 がまわ
りこむことよってアルミニウム板50の表面にポリスチ
レン球52に対応した開口を有するSiO2 のマスクが
形成される(図5(b))。このようにして形成された
SiO2 膜をマスクとしてアルミニウム板50をエッチ
ングすると、図5(c)に示すように周期的な窪み51
を有する表面構造が得られる。なお、図5(c)は、図
5(b)のA−Aにおける断面図である。
【0016】上述のようにして窪みを形成した後、この
アルミニウム板50を第1の実施の形態で説明した方法
で陽極酸化する。これによって図2に示した第1の実施
例と同様の結果が得られる。本実施例においては、ポリ
スチレン球52の直径を50nm〜数μmまで変えられ
る。これに応じて窪み51の周期を可変とし、細孔の間
隔を変えることもできる。なお、本実施例ではマスクを
形成する際にシリコンの酸化膜(SiO2 )を蒸着した
が、窒化膜を蒸着するようにしても良い。また、窪み5
1を形成する際には、ドライエッチングまたはウェット
エッチングを用いることができる。
【0017】ところで上述した第1の実施の形態で得ら
れる多孔性陽極酸化アルミナ膜の細孔間隔は0.1μm
前後と非常に微細であり、アルミニウム板表面にこのよ
うな微細な窪みを人工的に規則正しく形成するには、高
解像度の微細加工技術が必要となる。電子ビームリソグ
ラフィやX線リソグラフィを用いることによってアルミ
ニウム板10(図1)に極微細な窪み11を形成するこ
とができるが、多孔性陽極酸化アルミナを製造する際に
毎回、上記のような高度な加工技術を適用することは経
済的でなく、本発明の多孔性陽極酸化アルミナ膜の利用
範囲が制限されることになりかねない。これに対し、本
発明の第3実施例にかかる多孔性陽極酸化アルミナ膜の
作製方法は、アルミニウム板表面に複数の窪みを形成す
る際に、複数の突起を表面に備えた基板をアルミニウム
板の表面に押しつけることにより行うこと、すなわちモ
ールドによってマザーパタンをアルミニウム板に転写す
ることに特徴がある。以下、図6を参照して本実施の形
態について説明する。
【0018】図6は、規則的に突起(凸部)61を設け
た基板60を用いてアルミニウム板10表面に窪み11
を形成する手順を説明する図である。まず、図6(a)
に示すように、表面に突起61を有する基板を用意す
る。これら突起61は、アルミニウム板10に形成され
る窪みに対応して規則的に配列されている。この基板6
0と突起61の材質は、押し付ける圧力により破壊され
たり突起の配置が変形することのない強度と硬度を有す
るものが望ましい。このためには、微細加工が容易で汎
用的なシリコン基板を用いることができるが、繰り返し
使用回数を多くすることを考えると、強度の高いダイヤ
モンドやシリコンカーバイドで構成されている基板がよ
り望ましい。また、突起61を形成する基板60は鏡面
の表面を有することが必要である。突起61は、高解像
度リソグラフィを用いて、上記窪みに対応するように前
記基板60上に形成される。なお、突起61の形状は半
球形に限定されるものではなく、円錐形や、三角錘、四
角錘等の多角錘であっても良いことは言うまでもない。
【0019】上述のように規則的に配列した突起61を
設けた基板60をアルミニウム板10の表面に押し付け
ることにより、アルミニウム板10の表面に微細な窪み
(凹部)61を形成する(図6(b))。以下、この工
程をプレスパターニングによるテクスチャリングとい
う。プレスパターニングによるテクスチャリングにおい
て、この突起61を有する基板60をアルミニウム板1
0に押し付ける方法は、突起61を有する基板60をア
ルミニウム板10上に密着させ、油圧プレスなどを用い
て圧力を印加することにより実施できる。この時、窪み
の形成をより容易にするために、あらかじめアルミニウ
ム板を200〜500℃で、2時間程度加熱した後、焼
鈍処理を施すことも有効である。上述のようにしてアル
ミニウム板10の表面にマザーパタンを転写することに
よって、アルミニウム板10表面には、所定の間隔で規
則的に複数の窪みが形成される(図6(c))。このよ
うにして複数の窪み11を形成したアルミニウム板10
を第1の実施の形態で説明した要領で陽極酸化すると、
この窪み11から細孔が形成され、所定の間隔で配列さ
れた細孔からなる多孔性陽極酸化アルミナ膜を作製する
ことができる。
【0020】本実施の形態にかかる多孔性陽極酸化アル
ミニウム膜の作製方法においては、突起を有する基板1
個を作製し、これを繰り返し使用することで、多数のア
ルミニウム板に広い面積にわたって規則的な窪み配列を
形成することができる。したがって、効率的かつ安価
に、所定の窪みを有するアルミニウム板を量産すること
ができる。
【0021】次に本発明の第4の実施の形態について図
7を参照して説明する。本実施の形態は、上記第3の実
施の形態によってアルミニウム板上に形成された多孔性
陽極酸化アルミナ膜の細孔を貫通化させ、スルーホール
メンブレンとするものである。本実施の形態では、まず
本発明の第3の実施の形態として説明した様に、鏡面処
理をしたアルミニウム板10に、所定の間隔で配列され
た複数の突起を表面に備えた基板(図7には図示せず)
を用いてプレスパターニングによるテクスチャリングを
施し、アルミニウム板10の表面に複数の窪み11を形
成し、これを陽極酸化することによって図7(a)に示
すような細孔71を有する多孔性陽極酸化アルミナ膜7
0を作製する。
【0022】このようにして作製されたアルミナ膜70
は、アルミニウムの素地に接した部分に無孔質で誘電性
のある薄いバリア層72と、これに接してそれぞれ中央
に細孔を有する六角柱状の多孔層73とからなってい
る。スルーホールを有する多孔性陽極酸化アルミナ膜を
得るためには、アルミニウム板10とバリア層72(無
孔層)を除去しなければならない。まずアルミニウム板
10を除去するためには、アルミニウムを熔解除去して
も良いが、本実施の形態においては、アルミニウムを選
択的にエッチングすることにより除去する(図7
(b))。エッチング液には昇汞(HgCl2 )の飽和
液やBr2 のメタノール飽和液を用いることができる。
次にリン酸等を用いてバリア層72を除去することによ
り、スルーホールメンブレンとした(図7(c))。
【0023】このようにして得られたスルーホールメン
ブレンは、プレスパターニングによるテクスチャリング
を施した後に陽極酸化を行ったことで、直行性が良好で
ナノオーダーで径のそろった細孔が一定の間隔で規則的
に配列したものである。したがって、このスルーホール
メンブレンは、フィルターとして使用することができる
他、このメンブレンを出発構造として金属や半導体の規
則構造の作製にも用いることができる。なお、前記アル
ミニウム板の周辺部分を枠状にエッチングすることによ
り、前記メンブレンの支持部とすることもできる。
【0024】一方、本発明にかかる多孔性陽極酸化アル
ミナ膜の作製方法は、アルミニウム板のみならず、アル
ミニウム以外の下地材料基板上に形成されたアルミニウ
ム薄膜に対しても適用することができる。これをシリコ
ン基板上に形成したアルミニウム膜を例に本発明の第5
の実施の形態として図8を参照して説明する。
【0025】まず、シリコン基板81上に真空蒸着また
はスパッタリングによってアルミニウム膜80を形成す
る(図8(a))。この他にも、アルミニウム膜80を
形成するには、溶液からの析出を利用した電着を利用す
ることもできる。なお、アルミニウム膜80の下地材料
であるシリコン基板81の表面はnmの平滑性を有する
ことが必要である。
【0026】次にプレスパターニングによるテクスチャ
リングにより、アルミニウム膜80表面に複数の窪み8
2を所定の間隔で配列する(図8(b))。そしてこれ
を陽極酸化することにより、アルミニウム膜80表面の
窪みに対応した位置に細孔84が成長した多孔性陽極酸
化アルミナ膜83が得られる(図8(c))。さらに、
上記多孔性陽極酸化アルミナ膜83をリン酸等を用いて
バリア層をエッチングすることにより、下地材料である
シリコン基板81までスルーホール化することができる
(図8(d))。下地材料への浸食を避けたい場合は、
選択的なエッチング法を用いる。
【0027】
【実施例】次に、実施例を挙げ、本発明をさらに具体的
に説明する。 <実施例1>シリコン基板上に、ポジ型電子ビームレジ
スト(ZEP−520:日本ゼオン(株)の商品名)を
0.1μmの厚さにスピンコートし、電子ビーム露光装
置で各突起に対して周辺の突起が正六角形状に0.1μ
mの周期で配列したドットパタンを露光した後、これを
現像して前記レジストに約25nm径の細孔を開けた。
この上に、電子ビーム蒸着装置を用いて50nmの厚さ
のクロムを蒸着し、溶剤であるジグライム中に浸漬して
超音波を印可し、レジスト上のクロムをレジストと共に
除去することにより、約25nm径で、50nmの高さ
のクロムの突起を形成した。そして、このクロムをマス
クとして、CF4 ガスを用いた反応性ドライエッチング
法によりシリコン基板を60nmの深さにエッチングし
た。この後、酸素プラズマでクロムを除去して、約25
nm径、高さ60nmの突起を、0.1μm周期で、規
則的に配列した基板を作製した。一方、純度99.99
%のアルミニウム板を、過塩素酸およびエタノールが1
対4の混合浴中で、約4分間電解研磨することにより鏡
面を有するアルミニウム板を得た。そして、上述の突起
を形成したシリコン基板を前記アルミニウム上に置き、
油圧プレス機を用いて3トン/cm2 の圧力を加えるこ
とにより、アルミニウム板表面に窪みを形成した。この
後、窪みを形成した前記アルミニウム板を、0.3M
(モル)濃度のシュウ酸中で、17℃、40Vで定電圧
陽極酸化を行った。その結果、細孔間隔が100nm
で、各細孔に対し正六角形状に周囲の細孔が等間隔に配
列した多孔性陽極酸化アルミナ膜を得た。各細孔が理想
的な規則配列をしていることから、各細孔の形状は真円
となり、また細孔の均一性も向上した。
【0028】く実施例2>シリコンカーバイド基板上
に、上記実施例1と同様のプロセスで、約20nm径、
高さ60nmの突起を、63nm周期で規則的に配列し
た突起を作製した。次に、実施例1と同様にして研磨し
た純度99.99%のアルミニウム板上に、突起を形成
したシリコンカーバイド基板を密着させ、油圧プレス機
を用い、3.5トン/cm2 の圧力を加えることによ
り、前記アルミニウム板表面に窪みを形成した。この
後、0.5M濃度の硫酸中、10℃、25Vで定電圧陽
極酸化を行うことにより、細孔の間隔が63nmで、各
細孔に対し、正六角形状に周囲の細孔が等間隔に配列し
た多孔性陽極酸化アルミナ膜を得た。各細孔が理想的な
規則配列をしていることから、各細孔形状は真円とな
り、また細孔の均一性も向上した。
【0029】く実施例3>ダイヤモンド薄膜を厚さ0.
5μm堆積したシリコンカーバイド基板上に、電子ビー
ムネガ型レジスト(SNR−M5:東ソ(株)の商品
名)を0.1μmスピンコートし、電子ビーム露光で、
約25nm径、高さ70nmの突起を、75nm周期で
規則的に配列した突起を形成した。実施例1と同様の操
作で研磨した純度99.99%のアルミニウム板上に、
突起を形成したシリコンカーバイド基板を密着させ、油
圧プレス機を用い、4トン/cm2 の圧力を加えること
によりアルミニウム板表面に窪みを形成した。この後、
0.3M濃度のシュウ酸と0.3M濃度の硫酸を3:2
の割合で混合した混合浴中で、5℃、30Vで定電圧陽
極酸化を行った。その結果、細孔の間隔が75nmで、
各細孔に対し正六角形状に周囲の細孔が等間隔に配列し
た多孔性陽極酸化アルミナ膜を得た。各細孔は理想的な
規則配列をしていることから、各細孔の形状は真円とな
り、また細孔の均一性も向上した。
【0030】
【発明の効果】本発明によれば、請求の範囲に記載した
ようにすることにより、次のような効果が得られる。 (1)アルミニウム板の表面にあらかじめ陽極酸化時に
形成されるアルミナ膜の細孔の間隔および配列と同一の
間隔および配列で複数の窪み(凹部)を人工的に形成し
てから陽極酸化を行うことによって、細孔の間隔が一定
で規則正しく配列し、かつ各細孔の真円度および細孔径
の均一性を改善した多孔性陽極酸化アルミナ膜を作製す
ることができる。 (2)また、アルミニウム板表面に形成する窪みのパタ
ンを変えることにより、多孔性陽極酸化アルミナ膜の細
孔の配置を制御することも可能である。これによって各
種のフィルターをはじめとする多孔性材料としての機能
を向上させることができ、その有用性を高める効果があ
る。
【0031】(3)また、請求項2および請求項8に記
載された発明によれば、複数の突起を表面に備えた基板
を陽極酸化するアルミニウム板表面に押し付けることに
より、上記アルミニウム板表面に陽極酸化時に形成され
るアルミナ膜の細孔の間隔および配列と同一の間隔およ
び配列の窪みを形成するので、一枚の基板(マザーパタ
ン)を用いて多数のアルミニウム板に微細な窪み配列を
効率的に形成することができ、ひいては経済的に多孔性
陽極酸化アルミナ膜を作製することができる。
【0032】(4)また、請求項3乃至請求項5に記載
された発明によれば、陽極酸化時のアノード酸化電圧お
よび酸性電解浴の温度を適切に設定することにより、細
孔径および細孔の配列の点において品質のより高い多孔
性陽極酸化アルミナ膜を得ることができる。
【0033】さらに、請求項6および請求項7に記載さ
れた発明によれば、細孔の真円度が良好で、細孔径の均
一性が良好なスルーホールを有するアルミナ膜を得るこ
とができ、各種のフィルターをはじめとする多孔性材料
としての機能を向上させることができ、その有用性を高
める効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施の形態で用いた正六角形
状に配列した窪みを有するアルミニウム板の平面図であ
る。
【図2】 本発明の第1の実施の形態においてアルミニ
ウム板表面に窪みを形成する手順を説明する図である。
【図3】 本発明の第1の実施の形態において陽極酸化
によって多孔性陽極酸化アルミナ膜が形成される様子を
説明する図である。
【図4】 本発明の第1の実施の形態において形成され
た陽極酸化アルミナ膜の平面図である。
【図5】 本発明の第2の実施の形態においてアルミニ
ウム板表面に窪みを形成する手順を説明する図である。
【図6】 本発明の第3の実施の形態においてプレスパ
ターニングによるテクスチャリングによってアルミニウ
ム板表面に窪みを形成する手順を説明する断面図であ
る。
【図7】 本発明の第4の実施の形態において多孔性陽
極酸化アルミナ膜をスルーホールメンブレンとする手順
を説明する断面図である。
【図8】 本発明の第5の実施の形態においてアルミニ
ウム膜に多孔性陽極酸化アルミナ膜を形成する手順を説
明する断面図である。
【符号の説明】
10、50…アルミニウム板、11、51、91…窪み
(凹部)、20…レジストパタン、30、70…陽極酸
化アルミナ膜、31、71…細孔、32、72…バリア
層(無孔層)、33、73…多孔層、52…ポリスチレ
ン球、60…突起を設けた基板、61…突起(凸部)、
80…アルミニウム膜、81…シリコン基板、82…窪
み(凹部)、83…陽極酸化アルミナ膜、84…細孔、
92…光導波路部。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】平滑性を有するアルミニウム板の表面に複
    数の窪みを所定の間隔および配列で形成する工程と、 前記アルミニウム板を陽極酸化することにより、前記複
    数の窪みの間隔および配列と同一の間隔および配列で所
    定形状の細孔を有する多孔性陽極酸化アルミナ膜を形成
    する工程とからなることを特徴とする多孔性陽極酸化ア
    ルミナ膜の作製方法。
  2. 【請求項2】 請求項1において、 前記アルミニウム板の表面に窪みを形成する工程は、 前記複数の窪みに対応した複数の突起を表面に備えた基
    板を前記アルミニウム板の表面に押しつけることにより
    前記所定の間隔および配列で前記複数の窪みを形成する
    ことを特徴とする多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方
    法。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2において、 前記複数の窪みは、 前記アルミニウム板上において各窪みに対して周辺の窪
    みが正六角形状に配列され、 前記アルミニウム板を陽極酸化する工程は、 前記窪みの間隔を2.5nm/Vで除することによって
    得られるアノード酸化電圧で陽極酸化することによって
    前記複数の窪みに対応した複数の細孔が六方充填配列を
    形成することを特徴とする多孔性陽極酸化アルミナ膜の
    作製方法。
  4. 【請求項4】 請求項3において、 前記アルミニウム板を陽極酸化する工程は、 シュウ酸浴中においてアノード酸化電圧が35乃至45
    Vの電圧範囲で前記アルミニウム板を陽極酸化すること
    によって前記複数の窪みに対応した複数の細孔が六方充
    填配列を形成することを特徴とする多孔性陽極酸化アル
    ミナ膜の作製方法。
  5. 【請求項5】 請求項3において、 前記アルミニウム板を陽極酸化する工程は、 硫酸浴中においてアノード酸化電圧が23乃至28Vの
    電圧範囲で前記アルミニウム板を陽極酸化することによ
    って前記複数の窪みに対応した複数の細孔が六方充填配
    列を形成することを特徴とする多孔性陽極酸化アルミナ
    膜の作製方法。
  6. 【請求項6】 請求項1乃至請求項5のいずれかにおい
    て、 陽極酸化により前記複数の窪みの間隔および配列と同一
    の間隔および配列で所定形状の細孔を有する多孔性陽極
    酸化アルミナ膜を形成した後、前記多孔性陽極アルミナ
    膜から前記アルミニウム板を除去し、 前記多孔性陽極アルミナ膜のバリア層を除去することに
    よりスルーホールを有するアルミナ膜を得ることを特徴
    とする多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法。
  7. 【請求項7】 平滑な表面を有する基板にアルミニウム
    膜を設ける工程と、 前記アルミニウム膜の表面に複数の窪みを所定の間隔お
    よび配列で形成する工程と、 前記アルミニウム膜表面を陽極酸化することにより、前
    記複数の窪みの間隔および配列と同一の間隔および配列
    で所定形状の細孔を有する多孔性陽極酸化アルミナ膜を
    形成する工程とからなることを特徴とする多孔性陽極酸
    化アルミナ膜の作製方法。
  8. 【請求項8】 請求項7において、 前記アルミニウム膜の表面に窪みを形成する工程は、 前記複数の窪みに対応した複数の突起を表面に備えた基
    板を前記アルミニウム膜の表面に押しつけることにより
    前記所定の間隔および配列で前記複数の窪みを形成する
    ことを特徴とする多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方
    法。
JP22931497A 1996-08-26 1997-08-26 多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法 Expired - Fee Related JP3714507B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22931497A JP3714507B2 (ja) 1996-08-26 1997-08-26 多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8-223526 1996-08-26
JP22352696 1996-08-26
JP22931497A JP3714507B2 (ja) 1996-08-26 1997-08-26 多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10121292A true JPH10121292A (ja) 1998-05-12
JP3714507B2 JP3714507B2 (ja) 2005-11-09

Family

ID=26525524

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22931497A Expired - Fee Related JP3714507B2 (ja) 1996-08-26 1997-08-26 多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3714507B2 (ja)

Cited By (58)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001009800A (ja) * 1999-04-27 2001-01-16 Canon Inc ナノ構造体及びその製造方法
US6214738B1 (en) 1998-12-25 2001-04-10 Canon Kabushiki Kaisha Method for producing narrow pores and structure having the narrow pores, and narrow pores and structure produced by the method
JP2002285382A (ja) * 2001-03-23 2002-10-03 Hitachi Maxell Ltd 陽極酸化ポーラスアルミナ及びその製造方法
US6717777B2 (en) 2000-09-08 2004-04-06 Canon Kabushiki Kaisha Magnetic device with porous layer and method for manufacturing the same, and solid magnetic memory
US6737668B2 (en) 2000-07-03 2004-05-18 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing structure with pores and structure with pores
JP2004323975A (ja) * 2003-04-21 2004-11-18 Samsung Electronics Co Ltd 自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法及び自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法
WO2005014893A1 (en) * 2003-08-11 2005-02-17 Canon Kabushiki Kaisha Method for production of structure and porous member
US6858319B2 (en) 2000-09-29 2005-02-22 Canon Kabushiki Kaisha Magnetic recording medium including aluminum layer having holes and production method thereof
JP2005076117A (ja) * 2003-09-03 2005-03-24 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法およびその方法により作製された多孔性陽極酸化アルミナ膜
US6878634B2 (en) 2002-04-10 2005-04-12 Canon Kabushiki Kaisha Structure having recesses and projections, method of manufacturing structure, and functional device
US6924023B2 (en) 1999-08-30 2005-08-02 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing a structure having pores
US6930057B2 (en) 2002-12-27 2005-08-16 Canon Kabushiki Kaisha Columnar structured material and manufacturing method therefor
US6936854B2 (en) 2001-05-10 2005-08-30 Canon Kabushiki Kaisha Optoelectronic substrate
JP2005232487A (ja) * 2004-02-17 2005-09-02 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 陽極酸化ポーラスアルミナおよびその製造方法
JP2006053220A (ja) * 2004-08-10 2006-02-23 Olympus Corp 反射防止部を有する部材、その成形型及び該成形型の製造方法
JP2006097125A (ja) * 2004-09-01 2006-04-13 Canon Inc 多孔質体の製造方法
US7066234B2 (en) 2001-04-25 2006-06-27 Alcove Surfaces Gmbh Stamping tool, casting mold and methods for structuring a surface of a work piece
US7100263B2 (en) 2003-06-16 2006-09-05 Canon Kabushiki Kaisha Structure manufacturing method
US7126975B2 (en) 2000-03-03 2006-10-24 Canon Kabushiki Kaisha Electron-beam excitation laser
JP2007030146A (ja) * 2005-07-29 2007-02-08 Fujifilm Corp ナノ構造体の製造方法
US7183012B2 (en) 2002-03-27 2007-02-27 Canon Kabushiki Kaisha Structure having pores, magnetic recording medium, and method of manufacturing same
JP2007086283A (ja) * 2005-09-21 2007-04-05 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 反射防止膜及びその製造方法、並びに反射防止膜作製用スタンパ及びその製造方法
JP2008045170A (ja) * 2006-08-15 2008-02-28 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 貫通細孔を有するポーラスアルミナおよびその製造方法
JP2008516380A (ja) * 2004-10-04 2008-05-15 ザ ボード オブ トラスティーズ オブ ザ ユニバーシティ オブ イリノイ 封入された電極を備えるマイクロ放電装置及び製造方法
JP2008202112A (ja) * 2007-02-21 2008-09-04 Fujifilm Corp 微細構造体および製造方法
JP2008231580A (ja) * 2008-07-01 2008-10-02 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法およびその方法により作製された多孔性陽極酸化アルミナ膜
US7432218B2 (en) 2004-09-01 2008-10-07 Canon Kabushiki Kaisha Method for producing porous body
EP2039808A2 (en) 2007-09-20 2009-03-25 FUJIFILM Corporation Microstructure
WO2009041660A1 (ja) 2007-09-28 2009-04-02 Fujifilm Corporation 太陽電池用基板および太陽電池
WO2009041659A1 (ja) 2007-09-28 2009-04-02 Fujifilm Corporation 太陽電池
WO2009069350A1 (ja) 2007-11-30 2009-06-04 Fujifilm Corporation 微細構造体
JP2009140553A (ja) * 2007-12-05 2009-06-25 Fuji Electric Device Technology Co Ltd アルミナナノホールアレー及び磁気記録媒体の作製方法
EP2075836A1 (en) 2007-12-27 2009-07-01 FUJIFILM Corporation Microstructure and method of manufacturing the same
JP2009158213A (ja) * 2007-12-25 2009-07-16 Panasonic Electric Works Co Ltd 周期的ナノ構造体の製造方法、並びに、電界放射型電子源
WO2009113486A1 (ja) 2008-03-14 2009-09-17 富士フイルム株式会社 プローブカード
US7591641B2 (en) 2005-03-22 2009-09-22 Canon Kabushiki Kaisha Mold and process of production thereof
WO2010004981A1 (ja) 2008-07-09 2010-01-14 富士フイルム株式会社 微細構造体およびその製造方法
WO2010095653A1 (ja) 2009-02-17 2010-08-26 富士フイルム株式会社 異方導電性部材およびその製造方法
WO2010095661A1 (ja) 2009-02-17 2010-08-26 富士フイルム株式会社 金属部材
WO2011078010A1 (ja) 2009-12-25 2011-06-30 富士フイルム株式会社 絶縁基板、絶縁基板の製造方法、配線の形成方法、配線基板および発光素子
JP2011194594A (ja) * 2010-03-17 2011-10-06 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 表面凹凸パターンを有する樹脂材およびその製造方法
US8133538B2 (en) 2006-03-17 2012-03-13 Canon Kabushiki Kaisha Method of producing mold having uneven structure
US8237114B2 (en) 2005-10-20 2012-08-07 Japan Science & Technology Agency Sample target used in mass spectrometry, method for producing the same, and mass spectrometer using the sample target
WO2012147964A1 (ja) 2011-04-28 2012-11-01 富士フイルム株式会社 金属ナノワイヤを含有する分散液および導電膜
US8404558B2 (en) 2006-07-26 2013-03-26 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Method for making buried circumferential electrode microcavity plasma device arrays, and electrical interconnects
US8524607B2 (en) 2007-03-27 2013-09-03 Fujifilm Corporation Anisotropically conductive member and method of manufacture
KR101322633B1 (ko) * 2012-01-18 2013-10-29 한국생산기술연구원 접착홈이 형성된 알루미늄 방열층을 포함하는 양극산화알루미늄 및 그 제조방법
US8890409B2 (en) 2008-05-14 2014-11-18 The Board Of Trustees Of The University Of Illnois Microcavity and microchannel plasma device arrays in a single, unitary sheet
CN104428454A (zh) * 2012-06-22 2015-03-18 苹果公司 白色外观阳极化膜及其形成方法
WO2015098843A1 (ja) * 2013-12-26 2015-07-02 富士フイルム株式会社 ポーラスアルミナメンブレンフィルターおよび製造方法
US9493876B2 (en) 2012-09-14 2016-11-15 Apple Inc. Changing colors of materials
JP2016195261A (ja) * 2011-07-29 2016-11-17 パナソニックIpマネジメント株式会社 素子搭載用基板およびその製造方法、ならびに半導体モジュール
US9839974B2 (en) 2013-11-13 2017-12-12 Apple Inc. Forming white metal oxide films by oxide structure modification or subsurface cracking
US10017872B2 (en) 2013-10-30 2018-07-10 Apple Inc. Metal oxide films with reflective particles
WO2019124162A1 (ja) * 2017-12-20 2019-06-27 株式会社村田製作所 半導体装置及びその製造方法
CN113447683A (zh) * 2020-03-27 2021-09-28 普因特工程有限公司 阳极氧化膜结构物及包括其的探针头以及包括其的探针卡
US20210331446A1 (en) * 2020-04-24 2021-10-28 Point Engineering Co., Ltd. Laminated anodic aluminum oxide structure, guide plate of probe card using same, and probe card having same
JP2022100314A (ja) * 2020-05-22 2022-07-05 ダイキン工業株式会社 熱交換器の製造方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2730684A1 (en) 2011-07-04 2014-05-14 Fujifilm Corporation Insulating reflective substrate and method for producing same

Cited By (84)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6541386B2 (en) 1998-12-25 2003-04-01 Canon Kabushiki Kaisha Method for producing a structure with narrow pores
US6214738B1 (en) 1998-12-25 2001-04-10 Canon Kabushiki Kaisha Method for producing narrow pores and structure having the narrow pores, and narrow pores and structure produced by the method
JP2001105400A (ja) * 1998-12-25 2001-04-17 Canon Inc 細孔の製造方法、並びに該製造方法により製造された細孔および該細孔を有する構造体
JP4532634B2 (ja) * 1998-12-25 2010-08-25 キヤノン株式会社 細孔の製造方法
US6784007B2 (en) 1999-04-27 2004-08-31 Canon Kabushiki Kaisha Nano-structures, process for preparing nano-structures and devices
JP2001009800A (ja) * 1999-04-27 2001-01-16 Canon Inc ナノ構造体及びその製造方法
JP4536866B2 (ja) * 1999-04-27 2010-09-01 キヤノン株式会社 ナノ構造体及びその製造方法
US6476409B2 (en) 1999-04-27 2002-11-05 Canon Kabushiki Kaisha Nano-structures, process for preparing nano-structures and devices
US6924023B2 (en) 1999-08-30 2005-08-02 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing a structure having pores
US7126975B2 (en) 2000-03-03 2006-10-24 Canon Kabushiki Kaisha Electron-beam excitation laser
USRE46606E1 (en) 2000-04-28 2017-11-14 Sharp Kabushiki Kaisha Stamping tool, casting mold and methods for structuring a surface of a work piece
USRE43694E1 (en) 2000-04-28 2012-10-02 Sharp Kabushiki Kaisha Stamping tool, casting mold and methods for structuring a surface of a work piece
USRE44830E1 (en) 2000-04-28 2014-04-08 Sharp Kabushiki Kaisha Stamping tool, casting mold and methods for structuring a surface of a work piece
US6737668B2 (en) 2000-07-03 2004-05-18 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing structure with pores and structure with pores
US6717777B2 (en) 2000-09-08 2004-04-06 Canon Kabushiki Kaisha Magnetic device with porous layer and method for manufacturing the same, and solid magnetic memory
US6858319B2 (en) 2000-09-29 2005-02-22 Canon Kabushiki Kaisha Magnetic recording medium including aluminum layer having holes and production method thereof
JP4647812B2 (ja) * 2001-03-23 2011-03-09 財団法人神奈川科学技術アカデミー 陽極酸化ポーラスアルミナの製造方法
JP2002285382A (ja) * 2001-03-23 2002-10-03 Hitachi Maxell Ltd 陽極酸化ポーラスアルミナ及びその製造方法
US7066234B2 (en) 2001-04-25 2006-06-27 Alcove Surfaces Gmbh Stamping tool, casting mold and methods for structuring a surface of a work piece
US6936854B2 (en) 2001-05-10 2005-08-30 Canon Kabushiki Kaisha Optoelectronic substrate
US7183012B2 (en) 2002-03-27 2007-02-27 Canon Kabushiki Kaisha Structure having pores, magnetic recording medium, and method of manufacturing same
US7538042B2 (en) 2002-04-10 2009-05-26 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing a structure having a projection
US6878634B2 (en) 2002-04-10 2005-04-12 Canon Kabushiki Kaisha Structure having recesses and projections, method of manufacturing structure, and functional device
US6930057B2 (en) 2002-12-27 2005-08-16 Canon Kabushiki Kaisha Columnar structured material and manufacturing method therefor
US7901586B2 (en) 2003-04-21 2011-03-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Method of manufacturing self-ordered nanochannel-array and method of manufacturing nanodot using the nanochannel-array
JP4508711B2 (ja) * 2003-04-21 2010-07-21 三星電子株式会社 自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法及び自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法
JP2004323975A (ja) * 2003-04-21 2004-11-18 Samsung Electronics Co Ltd 自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法及び自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法
US7100263B2 (en) 2003-06-16 2006-09-05 Canon Kabushiki Kaisha Structure manufacturing method
WO2005014893A1 (en) * 2003-08-11 2005-02-17 Canon Kabushiki Kaisha Method for production of structure and porous member
US7455759B2 (en) 2003-08-11 2008-11-25 Canon Kabushiki Kaisha Method for production of a structure with pores by anodizing
JP2005076117A (ja) * 2003-09-03 2005-03-24 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法およびその方法により作製された多孔性陽極酸化アルミナ膜
JP2005232487A (ja) * 2004-02-17 2005-09-02 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 陽極酸化ポーラスアルミナおよびその製造方法
JP4623977B2 (ja) * 2004-02-17 2011-02-02 財団法人神奈川科学技術アカデミー 陽極酸化ポーラスアルミナおよびその製造方法
JP2006053220A (ja) * 2004-08-10 2006-02-23 Olympus Corp 反射防止部を有する部材、その成形型及び該成形型の製造方法
US7432218B2 (en) 2004-09-01 2008-10-07 Canon Kabushiki Kaisha Method for producing porous body
JP2006097125A (ja) * 2004-09-01 2006-04-13 Canon Inc 多孔質体の製造方法
JP2008516380A (ja) * 2004-10-04 2008-05-15 ザ ボード オブ トラスティーズ オブ ザ ユニバーシティ オブ イリノイ 封入された電極を備えるマイクロ放電装置及び製造方法
US7591641B2 (en) 2005-03-22 2009-09-22 Canon Kabushiki Kaisha Mold and process of production thereof
JP2007030146A (ja) * 2005-07-29 2007-02-08 Fujifilm Corp ナノ構造体の製造方法
JP2007086283A (ja) * 2005-09-21 2007-04-05 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 反射防止膜及びその製造方法、並びに反射防止膜作製用スタンパ及びその製造方法
US8237114B2 (en) 2005-10-20 2012-08-07 Japan Science & Technology Agency Sample target used in mass spectrometry, method for producing the same, and mass spectrometer using the sample target
US8133538B2 (en) 2006-03-17 2012-03-13 Canon Kabushiki Kaisha Method of producing mold having uneven structure
US8404558B2 (en) 2006-07-26 2013-03-26 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Method for making buried circumferential electrode microcavity plasma device arrays, and electrical interconnects
JP2008045170A (ja) * 2006-08-15 2008-02-28 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 貫通細孔を有するポーラスアルミナおよびその製造方法
JP2008202112A (ja) * 2007-02-21 2008-09-04 Fujifilm Corp 微細構造体および製造方法
US8524607B2 (en) 2007-03-27 2013-09-03 Fujifilm Corporation Anisotropically conductive member and method of manufacture
EP2039808A2 (en) 2007-09-20 2009-03-25 FUJIFILM Corporation Microstructure
WO2009041660A1 (ja) 2007-09-28 2009-04-02 Fujifilm Corporation 太陽電池用基板および太陽電池
WO2009041659A1 (ja) 2007-09-28 2009-04-02 Fujifilm Corporation 太陽電池
WO2009069350A1 (ja) 2007-11-30 2009-06-04 Fujifilm Corporation 微細構造体
JP2009140553A (ja) * 2007-12-05 2009-06-25 Fuji Electric Device Technology Co Ltd アルミナナノホールアレー及び磁気記録媒体の作製方法
JP2009158213A (ja) * 2007-12-25 2009-07-16 Panasonic Electric Works Co Ltd 周期的ナノ構造体の製造方法、並びに、電界放射型電子源
EP2075836A1 (en) 2007-12-27 2009-07-01 FUJIFILM Corporation Microstructure and method of manufacturing the same
WO2009113486A1 (ja) 2008-03-14 2009-09-17 富士フイルム株式会社 プローブカード
US8890409B2 (en) 2008-05-14 2014-11-18 The Board Of Trustees Of The University Of Illnois Microcavity and microchannel plasma device arrays in a single, unitary sheet
JP2008231580A (ja) * 2008-07-01 2008-10-02 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法およびその方法により作製された多孔性陽極酸化アルミナ膜
WO2010004981A1 (ja) 2008-07-09 2010-01-14 富士フイルム株式会社 微細構造体およびその製造方法
WO2010095661A1 (ja) 2009-02-17 2010-08-26 富士フイルム株式会社 金属部材
WO2010095653A1 (ja) 2009-02-17 2010-08-26 富士フイルム株式会社 異方導電性部材およびその製造方法
WO2011078010A1 (ja) 2009-12-25 2011-06-30 富士フイルム株式会社 絶縁基板、絶縁基板の製造方法、配線の形成方法、配線基板および発光素子
JP2011194594A (ja) * 2010-03-17 2011-10-06 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 表面凹凸パターンを有する樹脂材およびその製造方法
WO2012147964A1 (ja) 2011-04-28 2012-11-01 富士フイルム株式会社 金属ナノワイヤを含有する分散液および導電膜
JP2016195261A (ja) * 2011-07-29 2016-11-17 パナソニックIpマネジメント株式会社 素子搭載用基板およびその製造方法、ならびに半導体モジュール
KR101322633B1 (ko) * 2012-01-18 2013-10-29 한국생산기술연구원 접착홈이 형성된 알루미늄 방열층을 포함하는 양극산화알루미늄 및 그 제조방법
US10184190B2 (en) 2012-06-22 2019-01-22 Apple Inc. White appearing anodized films
CN104428454A (zh) * 2012-06-22 2015-03-18 苹果公司 白色外观阳极化膜及其形成方法
US10941503B2 (en) 2012-06-22 2021-03-09 Apple Inc. White appearing anodized films
CN104428454B (zh) * 2012-06-22 2017-11-07 苹果公司 白色外观阳极化膜及其形成方法
US9493876B2 (en) 2012-09-14 2016-11-15 Apple Inc. Changing colors of materials
US10017872B2 (en) 2013-10-30 2018-07-10 Apple Inc. Metal oxide films with reflective particles
US9839974B2 (en) 2013-11-13 2017-12-12 Apple Inc. Forming white metal oxide films by oxide structure modification or subsurface cracking
US10434602B2 (en) 2013-11-13 2019-10-08 Apple Inc. Forming white metal oxide films by oxide structure modification or subsurface cracking
WO2015098843A1 (ja) * 2013-12-26 2015-07-02 富士フイルム株式会社 ポーラスアルミナメンブレンフィルターおよび製造方法
CN111492471A (zh) * 2017-12-20 2020-08-04 株式会社村田制作所 半导体装置及其制造方法
JPWO2019124162A1 (ja) * 2017-12-20 2020-11-19 株式会社村田製作所 半導体装置及びその製造方法
WO2019124162A1 (ja) * 2017-12-20 2019-06-27 株式会社村田製作所 半導体装置及びその製造方法
US11474063B2 (en) 2017-12-20 2022-10-18 Murata Manufacturing Co., Ltd. Semiconductor device having a porous metal oxide film and a semiconductor substrate with a connection electrically connected to the porous metal oxide film
CN111492471B (zh) * 2017-12-20 2023-08-01 株式会社村田制作所 半导体装置及其制造方法
CN113447683A (zh) * 2020-03-27 2021-09-28 普因特工程有限公司 阳极氧化膜结构物及包括其的探针头以及包括其的探针卡
US20210307160A1 (en) * 2020-03-27 2021-09-30 Point Engineering Co., Ltd. Anodic aluminum oxide structure, probe head having same, and probe card having same
US11696398B2 (en) * 2020-03-27 2023-07-04 Point Engineering Co., Ltd. Anodic aluminum oxide structure, probe head having same, and probe card having same
US20210331446A1 (en) * 2020-04-24 2021-10-28 Point Engineering Co., Ltd. Laminated anodic aluminum oxide structure, guide plate of probe card using same, and probe card having same
US11691387B2 (en) * 2020-04-24 2023-07-04 Point Engineering Co., Ltd. Laminated anodic aluminum oxide structure, guide plate of probe card using same, and probe card having same
JP2022100314A (ja) * 2020-05-22 2022-07-05 ダイキン工業株式会社 熱交換器の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3714507B2 (ja) 2005-11-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3714507B2 (ja) 多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法
US6139713A (en) Method of manufacturing porous anodized alumina film
JP3020154B2 (ja) ダイヤモンド多孔質体の製造方法
JP3387897B2 (ja) 構造体の製造方法、並びに該製造方法により製造される構造体及び該構造体を用いた構造体デバイス
JP3848303B2 (ja) 構造体、機能性構造体及び磁気記録媒体の製造方法
JP4647812B2 (ja) 陽極酸化ポーラスアルミナの製造方法
US6982217B2 (en) Nano-structure and method of manufacturing nano-structure
JP5027347B2 (ja) 型および型の製造方法
JP2003129288A (ja) 細孔構造体及びその製造方法
US6309554B1 (en) Method for producing needle diamond-type structure
US7432218B2 (en) Method for producing porous body
Nadeem et al. Fabrication of microstructures using aluminum anodization techniques
Vorobyova et al. SEM investigation of pillared microstructures formed by electrochemical anodization
JP4641442B2 (ja) 多孔質体の製造方法
JP4423077B2 (ja) 陽極酸化ポーラスアルミナおよびその製造方法
JP2002004087A (ja) ナノ構造体の製造方法及びナノ構造体
US6986838B2 (en) Nanomachined and micromachined electrodes for electrochemical devices
JP4315717B2 (ja) 金属モールド及びその製造方法並びに陽極酸化ポーラスアルミナとその製造方法
JP3995769B2 (ja) 電解コンデンサ用電極箔の作製方法
JP4623977B2 (ja) 陽極酸化ポーラスアルミナおよびその製造方法
JP4136723B2 (ja) 構造体及び構造体の製造方法
JP2004001191A (ja) 凹凸を有する構造体、該構造体の製造方法及び機能デバイス
JP4808234B2 (ja) 多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法およびその方法により作製された多孔性陽極酸化アルミナ膜
JP2001328896A (ja) 凹部を有するダイヤモンドシリンダ配列体の製造方法
JP4125151B2 (ja) 構造体の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040831

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040921

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041122

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050817

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050818

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080902

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090902

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090902

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100902

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100902

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110902

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120902

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130902

Year of fee payment: 8

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees