JP4508711B2 - 自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法及び自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法 - Google Patents

自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法及び自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4508711B2
JP4508711B2 JP2004123814A JP2004123814A JP4508711B2 JP 4508711 B2 JP4508711 B2 JP 4508711B2 JP 2004123814 A JP2004123814 A JP 2004123814A JP 2004123814 A JP2004123814 A JP 2004123814A JP 4508711 B2 JP4508711 B2 JP 4508711B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
self
manufacturing
array
nanochannel array
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004123814A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004323975A (ja
Inventor
寅 ▲敬▼ 柳
守 桓 鄭
順 愛 徐
仁 淑 金
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2004323975A publication Critical patent/JP2004323975A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4508711B2 publication Critical patent/JP4508711B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82BNANOSTRUCTURES FORMED BY MANIPULATION OF INDIVIDUAL ATOMS, MOLECULES, OR LIMITED COLLECTIONS OF ATOMS OR MOLECULES AS DISCRETE UNITS; MANUFACTURE OR TREATMENT THEREOF
    • B82B3/00Manufacture or treatment of nanostructures by manipulation of individual atoms or molecules, or limited collections of atoms or molecules as discrete units
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C59/00Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor
    • B29C59/02Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor by mechanical means, e.g. pressing
    • B29C59/022Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor by mechanical means, e.g. pressing characterised by the disposition or the configuration, e.g. dimensions, of the embossments or the shaping tools therefor
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y30/00Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/31Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
    • H01L21/3205Deposition of non-insulating-, e.g. conductive- or resistive-, layers on insulating layers; After-treatment of these layers
    • H01L21/321After treatment
    • H01L21/3213Physical or chemical etching of the layers, e.g. to produce a patterned layer from a pre-deposited extensive layer
    • H01L21/32139Physical or chemical etching of the layers, e.g. to produce a patterned layer from a pre-deposited extensive layer using masks
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C59/00Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor
    • B29C59/02Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor by mechanical means, e.g. pressing
    • B29C59/022Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor by mechanical means, e.g. pressing characterised by the disposition or the configuration, e.g. dimensions, of the embossments or the shaping tools therefor
    • B29C2059/023Microembossing
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C59/00Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor
    • B29C59/02Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor by mechanical means, e.g. pressing
    • B29C59/026Surface shaping of articles, e.g. embossing; Apparatus therefor by mechanical means, e.g. pressing of layered or coated substantially flat surfaces
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Composite Materials (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Micromachines (AREA)
  • Carbon And Carbon Compounds (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Description

本発明は、垂直なナノチャンネルアレイの製造方法及びナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法に関し、より詳しくは、2段階の陽極酸化による自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法及び自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法に関する。
最近、メモリ、レーザダイオード(LD:Laser Diode)、フォトダイオード(PD:Photo Diode)、トランジスタ、遠赤外線検出器、太陽電池、光変調器などにナノスケールの模様や構造を形成するための研究が活発に進められている。例えば、電子制御に関連するナノドットは、そのサイズに対応して束縛される電子の数が変わる。このようなナノドットを利用する電子素子は、従来の電子素子と比べて、より少ない数の電子で駆動可能であるので、閾値電流レベルが低くなって低電圧駆動が可能となる。かかる電子素子は、低電圧でも高出力を提供できるといった利点も有している。
従来のナノドット製造方法としては、減圧化学気相成長法(LPCVD:Low Pressure Chemical Vapor Deposition、減圧CVDともいう)を含む既存の蒸着(堆積)方法を利用してSi、Si34の核(nuclei)を形成するものや、ナノ粒子を基板に噴射するものがある。しかし、かかる従来の方法では、ナノ粒子のサイズを制御することが困難である。その上、同じサイズのナノ粒子を噴射しても、均一なナノドットの分布を保証することはできない。
また、他の従来のナノドットの製造方法として、電子ビームリソグラフィまたはレーザビームリソグラフィを利用するものがある。かかる方法では、リソグラフィ工程が有する限界によって所望のサイズのナノドットを得ることが困難であるだけでなく、ナノドットのサイズを縮小化する点においても限界がある。また、リソグラフィは、複雑且つ高コストな工程であることがよく知られている。
一方、シリコン基板上にメタルナノドットを形成する方法が提案されている(例えば、非特許文献1参照)。かかる方法は、シリコン基板に形成されたポリメチルメタクリレート(PMMA:PolyMethylMethAcrylate)層に型板(mold、鋳型ともいう)でインプリント(刻印)し、PMMA層に所定深さのチャンネルアレイを形成する工程と、チャンネルの底部に残留したPMMAを除去し、得られた構造物上にメタル層を形成する工程と、基板をエッチング液に浸けて、PMMA層及びこの上に残っている金属をリフトオフする(引き上げる)工程と、を含んでいる。この方法によると、ナノドットのサイズや間隔は型板によって決定される。すなわち、ナノドットのサイズは、フォトリソグラフィなどの型板に対する微細パターニングによって制限される。したがって、フォトリソグラフィ工程が許容する限界以下にナノドットのサイズを縮めることはできない。
また、様々なナノ素子を開発するために有用に利用可能なナノチャンネルアレイ製造方法が提案されている(例えば、非特許文献2参照)。かかる方法は、アルミニウム基板に型板(mold)で浅い凹部を圧縮成形する工程と、陽極酸化を行い自己整列されたチャンネルアレイを形成する工程と、を含んでいる。しかし、この方法は、チャンネル(溝)やアレイ(配列構造)のサイズが型板によって制限されるといった問題を有している。
Stephen Y Chou、他,「Appl.Phys.Lett.」,1995年11月20日,第67巻,第21号 益田秀樹、他,「Appl.Phys.Lett.」,1997年11月10日,第71巻,第19号
本発明は、自己整列技術を利用して、より小さく且つよく整列されたナノチャンネルアレイをより容易に製造する方法を提供することを課題とする。
また、本発明は、よく整列されたナノチャンネルアレイを利用して、簡易化且つ所要時間が短縮化された工程及び低コスト化が可能なナノドットの製造方法を提供することを課題とする。
前記課題を解決するため、本発明の自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法は、1次陽極酸化によって、アルミニウム基板に多数のチャンネルからなるチャンネルアレイを有する第1アルミナ層を形成する工程と、前記第1アルミナ層を所定深さにエッチングして、前記アルミニウム基板に、前記第1アルミナ層の各チャンネルの底部に対応する多数の凹溝を形成する工程と、2次陽極酸化によって、前記アルミニウム基板に、前記多数の凹溝に対応する多数のチャンネルからなるチャンネルアレイを有する第2アルミナ層を形成する工程と、を含むことを特徴とする。
一方、他の前記課題を解決するため、本発明の自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法は、1次陽極酸化によって、アルミニウム層を備えた型板に、多数のチャンネルからなるチャンネルアレイを有する第1アルミナ層を形成する工程と、前記第1アルミナ層を所定深さにエッチングして、前記アルミニウム層に、前記第1アルミナ層の各チャンネルの底部に対応する多数の凹溝を形成する工程と、2次陽極酸化によって、前記アルミニウム層に、前記多数の凹溝に対応する多数のチャンネルからなるチャンネルアレイを有する第2アルミナ層を形成する工程と、加工対象層が形成された基板に、前記加工対象層を覆うマスク層を形成する工程と、前記型板の前記第2アルミナ層を用いて前記マスク層を圧縮成形して、前記マスク層に前記第2アルミナ層の前記チャンネルアレイの形状を転写する工程と、前記マスク層及び前記加工対象層をエッチングして、前記加工対象層に前記マスク層の圧縮成形された形状を形成する工程と、を含むことを特徴とする。
前記した自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法において、前記マスク層は、フォトレジストまたはポリメチルメタクリレート(PMMA)からなることが望ましく、さらに、前記加工対象層は、シリコンからなることが望ましい。
本発明に係る自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法は、1次陽極酸化及びエッチングによって自己整列された凹溝を形成し、そして2次陽極酸化によって凹溝から自己整列されたチャンネルアレイを形成する。本発明は、かかる方法によって得られたチャンネルアレイをリソグラフィによって形成された型板の代わりに型板として利用可能であり、したがって、コストのかかるリソグラフィ工程を行う必要がなく、大面積にも適用が可能であり、且つ短時間化された工程を提供することができる。さらに本発明は、陽極酸化工程を通じてナノチャンネルアレイのチャンネル間隔及びサイズを容易に調節することができ、したがって、かかるナノチャンネルアレイを利用して製造されるナノドットアレイのサイズ及び間隔を容易に調節することができる。
以下、添付された図面を参照しながら、本発明の好ましい実施形態に係る自己整列されたナノチャンネルアレイ(self-ordered nanochannel-array、以下、「自己整列化ナノチャンネルアレイ」と記載する)の製造方法及び自己整列化ナノチャンネルアレイを型板(template、鋳型、金型ともいう)として利用したナノドットの製造方法について詳細に説明する。
(自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法)
まず、本発明の実施形態に係る、アルミニウム基板への自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法について説明する。
本発明の実施形態に係る自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法は、2段階の陽極酸化工程を含んでいる。
まず、図1Aに示すように、アルミニウム基板11を準備する。ここで、アルミニウム基板11は、単一のアルミニウム板から構成されていてもよく、アルミニウム層が別体である支持基板上に形成された構造であってもよい。
続いて、図1Bに示すように、アルミニウム基板11を1次陽極酸化によって所定深さに酸化することによって、多孔性のアルミナ層(第1アルミナ層)13を形成する。1次陽極酸化によって元のアルミニウム基板11の表面からその下部に向かってアルミナ層13が拡張される間に、酸化が始まったアルミニウム基板11の表面の形態の不均一性によって、アルミナ層13の表面で、チャンネル(空洞部)13aの垂直形状が不均一に歪曲形成される。
続いて、図1Cに示すように、アルミナ層13をエッチング液で除去する。この際に、均一なナノサイズの凹溝(凹部)11aが、エッチング後に露出されたアルミニウム基板11(の上部)にアレイ(配列構造)を形成して残留する。
続いて、図1Dに示すように、前記1次陽極酸化と同じ条件で2次陽極酸化を行い、多数のチャンネル(空洞部)14aを有する多孔性のアルミナ層(第2アルミナ層)14を所定深さに形成する。
続いて、図1Eに示すように、2次陽極酸化における溶液の温度及び濃度、並びに印加電圧値を好適に調節することによって、チャンネル14aのサイズを拡大する。かかるチャンネル14aの拡大は、必要な場合にのみ行う。
図2(a)は、2段階の陽極酸化工程によって形成された自己整列化ナノチャンネルアレイの断面写真であり、図2(b)は、ナノチャンネルの配列状態を示す自己整列化ナノチャンネルアレイの平面写真である。
(ナノドットの製造方法)
前記したナノチャンネルアレイは、本発明の実施形態に係るナノドットの製造方法における型板(template)として利用可能である。以下、本発明の実施形態に係る、自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法について説明する。
まず、図3Aに示すように、結晶質または非晶質シリコンからなる加工対象層4が上部に形成されている基板5を準備する。ここで、基板5は、シリコン基板であってもよく、加工対象層4とシリコン基板5との間にはシリコン酸化物(二酸化ケイ素)5aが形成されている。なお、シリコン酸化物5aは加工対象層4の下側に存在しうる物質の一例であり、シリコン酸化物5a以外の物質が用いられていてもよい。また、加工対象層4は、シリコン以外の物質から形成されていてもよい。すなわち、本発明に係るナノドットの製造方法は、加工対象層4を形成する物質によって制限されることはなく、このような物質を適用した方法は、本発明の他の実施形態に属する。
続いて、図3Bに示すように、前記加工対象層4上にフォトレジスト(感光性樹脂)またはPMMAからなるマスク層6を所定厚さに形成する。ここで、マスク層6の厚さは圧縮成形を考慮して設定される。かかるマスク層形成工程と、一連の自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法(工程)との順序は入れ替え可能であり、また、同時進行であってもよい。
続いて、図3Cに示すように、アルミニウム基板11に多数のチャンネル14a(図1D参照)からなるチャンネルアレイを有するアルミナ層14が形成されたものである型板10を利用して、前記マスク層6を圧縮成形する。この際に、アルミナ層14をマスク層6に向かいあわせて、アルミナ層14のチャンネルアレイの形状(profile)をマスク層6に転写する。
続いて、図3Dに示すように、型板10をマスク層6から分離し、図3Eに示すように、マスク層6の表面全体をエッチングする。この際に、RIEまたはイオンミーリングを行うことによって、均一な厚さだけマスク層6をエッチングする。このような条件で十分なエッチングを進めることによって、マスク層6に転写された型板10の形状を加工対象層4に形成することができる。かかる工程によって、加工対象層4がナノドット状に残留する。
続いて、図3Fに示すように、加工対象層4がナノドット状に加工された後にマスク層6の残留物6’が残っている場合には、図3Gに示すように、エッチングによって残留物6’を除去する。この工程は、残留物6’がある場合にだけ実施されるものであり、残留物6’が残っていない場合には、この工程をとばして次の工程に移行する。
続いて、図3Hに示すように、加工対象層4が非晶質シリコンからなる場合には、加熱によって加工対象層4をアニーリングする。かかるアニーリング工程は、必要に応じて行われるものであり、特に非晶質シリコンを結晶質シリコン化する場合に必要である。
以上、加工対象層4を用いてナノドットを形成するための各工程について概略的に説明した。かかる工程は、電子素子を製造する工程の一部に過ぎず、したがって、本発明は特定の電子素子の製造方法によって制限されない。
以上、本発明の好ましい実施形態について、図面を参照して詳細に説明したが、特許請求の範囲で定義された本発明の要旨を逸脱しない範囲で、当業者によって適宜設計変更可能であることは自明である。
本発明に係る自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法及び自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法は、様々な形態の電子素子の製造に適用可能であり、例えば、メモリ、レーザダイオード、フォトダイオード、トランジスタ、遠赤外線検出器、太陽電池、光変調器などの製造に適用可能である。
本発明の実施形態に係る、2段階の陽極酸化を用いた自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法の工程を示す図である。 本発明の実施形態に係る、2段階の陽極酸化を用いた自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法の工程を示す図である。 本発明の実施形態に係る、2段階の陽極酸化を用いた自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法の工程を示す図である。 本発明の実施形態に係る、2段階の陽極酸化を用いた自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法の工程を示す図である。 本発明の実施形態に係る、2段階の陽極酸化を用いた自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法の工程を示す図である。 (a)は、2段階の陽極酸化工程によって形成された自己整列化ナノチャンネルアレイの断面写真であり、(b)は、ナノチャンネルの配列状態を示す自己整列化ナノチャンネルアレイの平面写真である。 本発明の実施形態に係る、図2の自己整列化ナノチャンネルアレイを型板として利用したナノドットの製造方法の工程を示す図である。 本発明の実施形態に係る、図2の自己整列化ナノチャンネルアレイを型板として利用したナノドットの製造方法の工程を示す図である。 本発明の実施形態に係る、図2の自己整列化ナノチャンネルアレイを型板として利用したナノドットの製造方法の工程を示す図である。 本発明の実施形態に係る、図2の自己整列化ナノチャンネルアレイを型板として利用したナノドットの製造方法の工程を示す図である。 本発明の実施形態に係る、図2の自己整列化ナノチャンネルアレイを型板として利用したナノドットの製造方法の工程を示す図である。 本発明の実施形態に係る、図2の自己整列化ナノチャンネルアレイを型板として利用したナノドットの製造方法の工程を示す図である。 本発明の実施形態に係る、図2の自己整列化ナノチャンネルアレイを型板として利用したナノドットの製造方法の工程を示す図である。 本発明の実施形態に係る、図2の自己整列化ナノチャンネルアレイを型板として利用したナノドットの製造方法の工程を示す図である。
符号の説明
4 加工対象層
5 基板
6 マスク層
10 型板
11 アルミニウム基板
11a 凹溝
13 アルミナ層(第1アルミナ層)
13a チャンネル
14 アルミナ層(第2アルミナ層)
14a チャンネル

Claims (3)

  1. 1次陽極酸化によって、アルミニウム層を備えた型板に、多数のチャンネルからなるチャンネルアレイを有する第1アルミナ層を形成する工程と、
    前記第1アルミナ層を所定深さにエッチングして、前記アルミニウム層に、前記第1アルミナ層の各チャンネルの底部に対応する多数の凹溝を形成する工程と、
    2次陽極酸化によって、前記アルミニウム層に、前記多数の凹溝に対応する多数のチャンネルからなるチャンネルアレイを有する第2アルミナ層を形成する工程と、
    加工対象層が形成された基板に、前記加工対象層を覆うマスク層を形成する工程と、
    前記型板の前記第2アルミナ層を用いて前記マスク層を圧縮成形して、前記マスク層に前記第2アルミナ層の前記チャンネルアレイの形状を転写する工程と、
    前記転写されたチャンネルアレイの形状を保ちながら、前記マスク層及び前記加工対象層をエッチングして、前記加工対象層に前記マスク層の圧縮成形された形状を形成する工程と、
    を含むことを特徴とする自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法。
  2. 前記マスク層は、フォトレジストまたはポリメチルメタクリレート(PMMA)からなることを特徴とする請求項に記載の自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法。
  3. 前記加工対象層は、シリコンからなることを特徴とする請求項または請求項に記載の自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法。
JP2004123814A 2003-04-21 2004-04-20 自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法及び自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法 Expired - Fee Related JP4508711B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030025082A KR101190657B1 (ko) 2003-04-21 2003-04-21 자기 정렬된 나노 채널-어레이의 제조방법 및 이를 이용한 나노 도트의 제조방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004323975A JP2004323975A (ja) 2004-11-18
JP4508711B2 true JP4508711B2 (ja) 2010-07-21

Family

ID=32960247

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004123814A Expired - Fee Related JP4508711B2 (ja) 2003-04-21 2004-04-20 自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法及び自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法

Country Status (6)

Country Link
US (2) US7282446B2 (ja)
EP (1) EP1470907B1 (ja)
JP (1) JP4508711B2 (ja)
KR (1) KR101190657B1 (ja)
CN (1) CN100456418C (ja)
DE (1) DE602004019162D1 (ja)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7384792B1 (en) * 2003-05-27 2008-06-10 Opto Trace Technologies, Inc. Method of fabricating nano-structured surface and configuration of surface enhanced light scattering probe
KR100611683B1 (ko) 2005-03-24 2006-08-14 한국과학기술연구원 강유전체 나노 튜브 어레이 고밀도 기록 매체
US20060270201A1 (en) * 2005-05-13 2006-11-30 Chua Soo J Nano-air-bridged lateral overgrowth of GaN semiconductor layer
US20090214622A1 (en) * 2005-11-25 2009-08-27 Gerard Eddy Poinern Nanoporous Membrane and Method of Preparation Thereof
CN100529196C (zh) * 2005-12-06 2009-08-19 四川大学 用于组装纳米-微米阵列材料的金属铝模板制备方法
US20100219079A1 (en) * 2006-05-07 2010-09-02 Synkera Technologies, Inc. Methods for making membranes based on anodic aluminum oxide structures
KR100856746B1 (ko) * 2007-03-20 2008-09-04 명지대학교 산학협력단 티타니아 박막의 제조방법
KR101655382B1 (ko) * 2009-10-09 2016-09-07 고려대학교 산학협력단 점진적 식각법 및 나노 임프린트기술을 이용하여 다양한 크기의 나노 패턴을 단일 기판에 제조하는 방법
JP5442479B2 (ja) * 2010-02-05 2014-03-12 株式会社ワコム 指示体、位置検出装置及び位置検出方法
JP2012048030A (ja) * 2010-08-27 2012-03-08 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 基板の製造方法
GB2502737A (en) * 2011-01-27 2013-12-04 Bottlenose Inc Adaptive system architecture for identifying popular topics from messages
CN102693900B (zh) * 2012-05-31 2015-02-11 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 一种具有周期结构的半导体及其制备方法
CN105026075B (zh) * 2013-02-01 2018-04-17 特拉华空气喷射火箭达因公司 针对高温延展性和应力断裂寿命的增材制造
WO2014130453A1 (en) * 2013-02-19 2014-08-28 Alumiplate, Inc. Methods for improving adhesion of aluminum films
CN104349617B (zh) 2013-07-30 2017-05-24 富泰华工业(深圳)有限公司 电子装置及其外壳的制造方法
CN104003354B (zh) * 2014-06-18 2015-06-03 中山大学 一种铝纳米颗粒尺寸的调控方法及其应用

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61198245A (ja) * 1985-02-28 1986-09-02 Showa Alum Corp 電子写真用感光体の下地処理方法
JPS62278294A (ja) * 1986-05-28 1987-12-03 Showa Denko Kk 磁気記録媒体用基板の製造方法
JPH10121292A (ja) * 1996-08-26 1998-05-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法
WO2001083198A1 (de) * 2000-04-28 2001-11-08 Alcove Surfaces Gmbh Prägewerkzeug, verfahren zur strukturierung einer oberfläche eines werkstücks und verwendung einer anodisch oxidierten oberflächenschicht
JP2002004087A (ja) * 2000-06-22 2002-01-09 Canon Inc ナノ構造体の製造方法及びナノ構造体
JP2002285382A (ja) * 2001-03-23 2002-10-03 Hitachi Maxell Ltd 陽極酸化ポーラスアルミナ及びその製造方法
JP2004217961A (ja) * 2003-01-10 2004-08-05 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 陽極酸化ポーラスアルミナ複合体及びその製造方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6227829A (ja) 1985-07-30 1987-02-05 Fujitsu Ltd 多重ロード命令制御装置
WO1998009005A1 (en) * 1996-08-26 1998-03-05 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Method of manufacturing porous anodized alumina film
US7066234B2 (en) * 2001-04-25 2006-06-27 Alcove Surfaces Gmbh Stamping tool, casting mold and methods for structuring a surface of a work piece
DE10154756C1 (de) * 2001-07-02 2002-11-21 Alcove Surfaces Gmbh Verwendung einer anodisch oxidierten Oberflächenschicht
CN1323051A (zh) * 2001-05-28 2001-11-21 东南大学 硅基片上有序纳米碳管阵列的制备方法
US6813077B2 (en) * 2001-06-19 2004-11-02 Corning Incorporated Method for fabricating an integrated optical isolator and a novel wire grid structure
US6709929B2 (en) * 2001-06-25 2004-03-23 North Carolina State University Methods of forming nano-scale electronic and optoelectronic devices using non-photolithographically defined nano-channel templates
JP2003185710A (ja) * 2001-10-03 2003-07-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd マルチチップモジュール、半導体チップ及びマルチチップモジュールのチップ間接続テスト方法
JP3817471B2 (ja) * 2001-12-11 2006-09-06 富士写真フイルム株式会社 多孔質構造体および構造体、ならびにそれらの製造方法
JP4214723B2 (ja) 2002-02-15 2009-01-28 セイコーエプソン株式会社 微細構造体の製造方法
US6930053B2 (en) * 2002-03-25 2005-08-16 Sanyo Electric Co., Ltd. Method of forming grating microstructures by anodic oxidation
ITTO20030167A1 (it) * 2003-03-06 2004-09-07 Fiat Ricerche Procedimento per la realizzazione di emettitori nano-strutturati per sorgenti di luce ad incandescenza.
CN1325698C (zh) * 2003-10-21 2007-07-11 东莞理工学院 有序多孔阳极氧化铝模板的制备方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61198245A (ja) * 1985-02-28 1986-09-02 Showa Alum Corp 電子写真用感光体の下地処理方法
JPS62278294A (ja) * 1986-05-28 1987-12-03 Showa Denko Kk 磁気記録媒体用基板の製造方法
JPH10121292A (ja) * 1996-08-26 1998-05-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 多孔性陽極酸化アルミナ膜の作製方法
WO2001083198A1 (de) * 2000-04-28 2001-11-08 Alcove Surfaces Gmbh Prägewerkzeug, verfahren zur strukturierung einer oberfläche eines werkstücks und verwendung einer anodisch oxidierten oberflächenschicht
JP2002004087A (ja) * 2000-06-22 2002-01-09 Canon Inc ナノ構造体の製造方法及びナノ構造体
JP2002285382A (ja) * 2001-03-23 2002-10-03 Hitachi Maxell Ltd 陽極酸化ポーラスアルミナ及びその製造方法
JP2004217961A (ja) * 2003-01-10 2004-08-05 Kanagawa Acad Of Sci & Technol 陽極酸化ポーラスアルミナ複合体及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP1470907A2 (en) 2004-10-27
CN1540714A (zh) 2004-10-27
US20080257861A1 (en) 2008-10-23
KR20040091291A (ko) 2004-10-28
EP1470907B1 (en) 2009-01-21
US7901586B2 (en) 2011-03-08
EP1470907A3 (en) 2005-12-14
CN100456418C (zh) 2009-01-28
JP2004323975A (ja) 2004-11-18
KR101190657B1 (ko) 2012-10-15
US20070207619A1 (en) 2007-09-06
US7282446B2 (en) 2007-10-16
DE602004019162D1 (de) 2009-03-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4508711B2 (ja) 自己整列化ナノチャンネルアレイの製造方法及び自己整列化ナノチャンネルアレイを利用したナノドットの製造方法
JP4747693B2 (ja) 樹脂体を形成する方法、光導波路のための構造を形成する方法、および光学部品を形成する方法
US7189635B2 (en) Reduction of a feature dimension in a nano-scale device
US10336023B2 (en) Method for creating patterns
Viheriälä et al. Applications of UV-nanoimprint soft stamps in fabrication of single-frequency diode lasers
EP3182459A1 (en) Method of producing a pre-patterned structure for growing vertical nanostructures
JP2007266193A (ja) インプリント用の型部材とその作製方法、およびこれらに用いられる積層基板
US7763484B2 (en) Method to form an optical grating and to form a distributed feedback laser diode with the optical grating
US20030064585A1 (en) Manufacture of semiconductor device with spacing narrower than lithography limit
JP2005513812A (ja) 微細構造製造のためのレジストレスリソグラフィ方法
Harrer et al. Room temperature nanoimprint lithography using molds fabricated by molecular beam epitaxy
KR100969988B1 (ko) 반도체 광학 렌즈 형성 공정 및 이에 의해 제조된 반도체광학 렌즈
Zhao et al. Multi-silicon ridge nanofabrication by repeated edge lithography
US20110027407A1 (en) Profile control utilizing a recessed imprint template
JP2013251320A (ja) ナノインプリントモールドおよびその製造方法
US20040185646A1 (en) Method for creating a stepped structure on a substrate
JP2008218690A (ja) 半導体装置の製造方法及びテンプレート
KR102543615B1 (ko) 비대칭도 조절이 가능한 표면 제어 구조체 형성방법, 이에 의해 형성된 표면 제어 구조체 그리고 이를 이용한 광전소자
JP2006018097A (ja) 微細格子作製方法
JP4197399B2 (ja) 炭化珪素半導体装置の製造方法
JP2020202295A (ja) 半導体集積回路用のシリコンピラーの作製方法
KR100509827B1 (ko) 반도체 소자의 게이트 형성 방법
JPH05291301A (ja) 電界効果トランジスタ及びその製造方法
KR980006044A (ko) 반도체 소자의 소자분리막 제조방법
KR0161839B1 (ko) 열산화막 공정을 이용한 게이트 형성방법

Legal Events

Date Code Title Description
RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20061102

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20061106

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070223

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090417

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090924

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20091224

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100104

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100125

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100330

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100427

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130514

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees