JPH09129686A - テープキャリヤ及びその実装構造 - Google Patents

テープキャリヤ及びその実装構造

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JPH09129686A
JPH09129686A JP7287210A JP28721095A JPH09129686A JP H09129686 A JPH09129686 A JP H09129686A JP 7287210 A JP7287210 A JP 7287210A JP 28721095 A JP28721095 A JP 28721095A JP H09129686 A JPH09129686 A JP H09129686A
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Japan
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wiring member
tape carrier
opening
lead
dummy
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JP7287210A
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Hidekazu Hosomi
英一 細美
Tomoaki Takubo
知章 田窪
Hiroshi Tazawa
浩 田沢
Yasushi Shibazaki
康司 柴崎
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Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
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Publication date
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    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49572Lead-frames or other flat leads consisting of thin flexible metallic tape with or without a film carrier
    • HELECTRICITY
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    • H01L2924/1025Semiconducting materials
    • H01L2924/10251Elemental semiconductors, i.e. Group IV
    • H01L2924/10253Silicon [Si]

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、コーナーリードの変形を防止して、
テープキャリヤの歩留まりを向上させるために、コーナ
ーリードの外側に実際の接合には寄与しないリードを配
設することを特徴とする。 【解決手段】絶縁性樹脂フィルム15の略中心部にデバ
イスホール16が、そしてこのデバイスホール16の周
囲にはアウターリードホール17が形成される。絶縁性
樹脂フィルム15上には、複数の配線パターン18が配
設されてデバイスホール16に突出されている。この配
線パターン18が、インナーリード19として複数本形
成され、最も外側がコーナーリード19′とされる。上
記デバイスホール16の各頂点には位置合わせマーク2
1が配設され、この位置合わせマーク21に近い側にダ
ミーリード20が設けられる。このダミーリード20の
長さは、インナーリード19、コーナーリード19′よ
りも短く形成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、テープキャリヤ及
びそれを半導体装置と接続した実装体の構造に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】一般に、テープキャリヤは、小型軽量化
・薄型化が容易であること、またピン数の多い半導体装
置に適していることから、液晶ディスプレイ(LCD)
の駆動用IC等に多く用いられている。
【0003】図6(a)及び(b)は、従来のテープキ
ャリヤの構造を示した上面図及び断面図である。図6
(a)に於いて、可撓性の絶縁樹脂フィルム1の略中心
部には、方形状のデバイスホール2が形成されており、
このデバイスホール2の周囲にはアウターリードホール
3が形成されている。そして、上記絶縁樹脂フィルム1
上に、複数の配線パターン4が配設されており、その一
部がデバイスホール2に突出されている。このデバイス
ホール2に突出している配線が、インナーリード5とし
て形成される。上記配線パターン4の、インナーリード
5として形成されている先端と反対側は、アウタリード
ホール3を越えて延出されている。尚、テープキャリヤ
には、アウタリードホール3を有していないものも存在
する。
【0004】配線パターン4及びインナーリード5は、
通常、Cuにより構成されている。また、上記配線パタ
ーン4及びインナーリード5の表面には、Sn或いはA
uメッキ処理がなされている。これは、配線が腐食する
のを防止するためと、後述するようにインナーリード5
と図示されない半導体素子上の突起電極との接合(IL
B;Inner Lead Bonding)の際に必要となる。
【0005】上記デバイスホール2の各頂点には、IL
Bの際にインナーリード4と半導体素子(図示せず)上
の突起電極とを正確に位置合わせするために必要な、位
置合わせマーク6が配設されている。また、7はこのテ
ープキャリヤに形成された搬送用孔である。尚、図6
(a)には位置合わせマークが示されているが、この位
置合わせマークはない場合もある。
【0006】図6(b)を参照すると、このテープキャ
リヤに於いて、絶縁樹脂フィルム1と配線パターン4と
は、接着剤8により接着されて構成されているのがわか
る。このような構成のテープキャリヤは、3層テープキ
ャリヤと称される。また、接着剤8が絶縁樹脂フィルム
1と配線パターン4との間に存在しない種類もあり、こ
れは2層テープキャリヤと称される。
【0007】図7(a)及び(b)は、テープキャリヤ
と半導体素子とが接合された状態を示したものである。
半導体素子9上には、複数の突起電極10が設けられて
いる。これらの突起電極10は、通常Auにより構成さ
れる。これら複数の突起電極10は、テープキャリヤ上
に形成された複数のインナーリード5が、それぞれ位置
合わせされた後、所定の熱及び圧力をかけることによ
り、両者が接合される。
【0008】インナーリード5の表面は、上述したよう
に、Au或いはSnメッキが施されている。したがっ
て、Auメッキの場合にはAu−Au熱圧着、Snメッ
キの場合にはAu−Sn共晶合金を形成することによ
り、インナーリード5と突起電極10が接合される。
【0009】尚、このような構成のテープキャリヤは、
多ピン・狭ピッチの半導体素子に適している。そして、
そのピン数については最大820ピンが、インナーリー
ド5のピッチについては50μmが報告されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところで、テープキャ
リヤのインナーリードのピッチは、年々微細化の傾向に
あり、量産レベルで60μm、研究レベルで50μmピ
ッチが達成されている。このように、インナーリードの
ピッチが狭くなると、それにつれてインナーリードの幅
も狭くなってきている。
【0011】また、インナーリードの厚さについても、
従来は35μmピッチであったのに対して、微細化され
たテープキャリヤに於いては25μm、或いは18μm
と薄く構成されている。このため、インナーリードのピ
ッチが狭くなるにつれて、リードの強度は低下してきて
いる。
【0012】加えて、このようにリード強度が低下して
いるため、インナーリードは非常に変形しやすくなって
きている。特に、図8に示されるように、インナーリー
ドのうち、デバイスホール2の頂点に最も近くに配設さ
れたインナーリード5(以下、コーナーリード5′)が
最も変形しやすい。そして、このコーナーリード5′
は、最も近い位置合わせマーク6側に広がる傾向があ
る。これは以下の理由による。
【0013】図9は、インナーリード5がエッチング形
成された後、テープキャリヤの洗浄及びメッキ処理が施
される際の液の流れを示した図である。同図に於いて、
コーナーリード5′以外のインナーリード5に関して
は、そのリードの左右の液の流れ11は均等になってい
る。しかしながら、コーナーリード5′の左右に於いて
は、液の流れ11は不均等になる。したがって、コーナ
ーリード5′の左右では圧力差が生じる。この圧力差に
よって、コーナーリード5′は外側、すなわち位置合わ
せマーク6側に曲げられるのである。また、搬送する際
の空気の流れによる圧力差によっても、リード自体の強
度が極端に低下していることから曲がってしまうことも
ある。
【0014】このように、コーナーリード5′が変形し
てデバイスホール2の外側に曲がってしまうと、全ての
インナーリード5を半導体素子9上の突起電極10と位
置合わせを行ってILBすることが困難になる。する
と、ピッチが非常に微細なインナーリード5を有するテ
ープキャリヤの歩留まりが低下して、コストの上昇を招
くものであった。
【0015】また、こうしたリード変形を抑えるため
に、コーナーリード5′のみ他のインナーリード5より
も太く形成することが考えられる。しかしながら、この
ようにインナーリード5を太く変化させるためには、イ
ンナーリード5と接合されるべく半導体素子9上の突起
電極10をも太く構成しなければならない。更に、絶縁
樹脂フィルム1上の配線についても新たに考慮する必要
が出てくるので、必ずしも得策とはいえないものであっ
た。
【0016】本発明は上記課題を解決するためになされ
たものであり、その目的は、コーナーリードの変形を防
止すると共に、テープキャリヤの歩留まりを向上させて
コストの低減を図ることのできるテープキャリヤ及びそ
の実装構造を提供することである。
【0017】
【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、絶縁
性樹脂基材に形成された方形状の開口部と、上記開口部
の各辺から上記開口部に突出するように配設された複数
の配線部材を備えるテープキャリヤに於いて、上記各辺
の配線部材の開口部の頂点に最も近接した外側に、上記
開口部に突出するダミー配線部材を配設して成ることを
特徴とする。
【0018】また本発明のテープキャリヤの実装構造
は、絶縁性樹脂基材に形成された方形状の開口部と、上
記開口部の各辺から上記開口部に突出するように配設さ
れた配線部材と、半導体素子上に設けられて上記配線部
材と接合される突起状電極とを備えるテープキャリヤの
実装構造に於いて、上記各編の配線部材の外側に上記開
口部より突出するダミー配線部材が配設され、且つこの
ダミー配線部材は上記突起状電極と電気的に接続されて
いないことを特徴とする。
【0019】本発明では、コーナーリードの外側すなわ
ち開口部の頂点側に、実際の接合には寄与しないリード
を配設する。コーナーリードが変形する代わりに、実際
の接合に寄与しないリードが変形するので、コーナーリ
ードの変形量は従来よりも大幅に小さくすることが可能
となる。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態を説明する。図1は、本発明の第1の実施の
形態を示すテープキャリヤの上面図である。図1に於い
て、可撓性の絶縁性樹脂フィルム15の略中心部には、
方形状のデバイスホール16が形成されており、このデ
バイスホール16の周囲にはアウターリードホール17
が形成されている。そして、絶縁性樹脂フィルム15上
には、複数の配線パターン18が配設されており、これ
ら配線パターン18の一部はデバイスホール16に突出
されている。尚、同図では、配線パターン18は8本示
されているが、これに限られるものではない。
【0021】上記デバイスホール16に突出している配
線が、インナーリード19として複数本形成される。
尚、インナーリード19のうち最も外側のリードを、そ
れぞれコーナーリード19′とする。上記配線パターン
18の、インナーリード19、19′として形成されて
いる先端と反対側は、アウタリードホール17を越えて
延出されている。
【0022】また、上記デバイスホール16の各頂点に
は、位置合わせマーク21が配設されている。尚、同図
では位置合わせマーク21が配設されているが、位置合
わせマークは配設されていないものも存在する。これ
は、以下の実施の形態に於いても同様である。そして、
各コーナーリード19′よりも位置合わせマーク21に
近い側に、ダミーリード20が設けられる。ダミーリー
ド20の一端は、上記インナーリード19、コーナーリ
ード19′と同様に、デバイスホール16内に突出して
形成される。ダミーリード8の他端は、配線パターン1
8と同様に絶縁性樹脂フィルム15上で、他の配線パタ
ーン18よりもデバイスホール16に近い位置となって
いる。
【0023】これは、コーナーリード19′を含む他の
インナーリード19からダミーリード20を識別するた
めである。したがって、ダミーリード20は、図1では
インナーリード19より短い配線パターンで形成されて
いるが、必ずしも短くする必要はなく、他の配線パター
ンと長さが同じであるか、または長くてもよい。更に
は、ダミーリード20の形状を、インナーリード19と
異ならせるように形成しても良い。
【0024】上記配線パターン18及びコーナーリード
19′を含むインナーリード19、ダミーリード20
は、通常、Cuにより構成されている。また、上記配線
パターン18及びインナーリード19、コーナーリード
19′、ダミーリード20の表面には、Sn或いはAu
メッキ処理が施されている。尚、テープキャリヤには、
アウタリードホール17を有していないものも存在す
る。
【0025】また、22はこのテープキャリヤに形成さ
れた搬送用孔である。図1では、テープキャリヤは1つ
のみ示されているが、絶縁性樹脂フィルム15は連続し
てロール状に構成されている。したがって、テープキャ
リヤは搬送用孔22によって、図1に於いて左右方向に
移動可能となっている。
【0026】このように構成されたテープキャリヤに於
いて、ダミーリード20は、テープキャリヤの洗浄及び
メッキ処理工程中に変形する。しかしながら、ダミーリ
ード20以外のインナーリード19及びコーナーリード
19′については、洗浄及びメッキ処理工程中での液の
流れが、各リードの左右でほぼ均一となり、変形量は僅
かなものにとどまる。
【0027】上述した第1の実施の形態に於いては、コ
ーナーリード19′を含むインナーリード19とダミー
リード20の長さは等しいが、ダミーリード20はイン
ナーリード19より長く形成しても短く形成しても良
い。また、インナーリード19の長さは全て等しくなっ
ているが、例えば、長いリードと短いリードが交互に現
れるようになっていても良い。
【0028】更に、第1の実施の形態に於いては、ダミ
ーリード20は、1つのコーナーリード19′の外側に
1本が形成されたものとなっているが、1つのコーナー
リード19′につき2本以上形成したものでも良い。こ
の場合でも、ダミーリードが1本の場合と同様の効果が
得られる。
【0029】以上の効果は、あらゆるテープキャリヤに
ついて有効であるが、リードの強度が低下しているイン
ナーリードピッチが微細なテープキャリヤについて、特
に有効である。例えば、インナーリードのピッチが80
μmよりも微細であったり、インナーリードの厚さが3
5μmよりも薄い場合に特に有効となる。
【0030】図2は、本発明の第2の実施の形態を示す
テープキャリヤの上面図である。本実施の形態に於いて
は、デバイスホール16の各頂点の位置合わせマーク2
1を挟んで隣接するダミーリードの先端が接続され、鈎
型形状のダミーリード23が形成されている。その他の
構成は、上述した第1の実施の形態と同様であるので、
同一の構成要素は同一の参照番号を付して、ここでは説
明を省略する。
【0031】この第2の実施の形態の場合も、上述した
第1の実施の形態と同様に、コーナーリード19′がデ
バイスホール16に設けられた位置合わせマーク21側
に変形するのを抑えることができる。
【0032】また第2の実施の形態では、位置合わせマ
ーク21を挟んで隣接するダミーリード23の先端を接
続して形成しているので、何らかの原因で位置合わせマ
ーク21と逆方向、すなわちコーナーリード19′側に
変形して、コーナーリード19′と接触するのを防止す
ることができる。したがって、信頼性の向上につなが
る。
【0033】図3は、本発明の第3の実施の形態を示す
テープキャリヤの上面図である。本実施の形態に於いて
は、上述した第1の実施の形態に比べて、ダミーリード
24の形状が他のコーナーリード19′を含むインナー
リード19よりも太く形成されている。その他の構成
は、上述した第1及び第2の実施の形態と同様であるの
で、同一の構成要素は同一の参照番号を付して、ここで
は説明を省略する。
【0034】この第2の実施の形態によれば、ダミーリ
ード24の変形を抑えることができる。したがって、ダ
ミーリード24が最も近い位置合わせマーク21の反対
側に変形して、隣接するコーナーリード19′に接触す
るのを防ぐことができる。
【0035】また、ダミーリード24のみを他のインナ
ーリード19より太い形状にする場合は、絶縁性樹脂フ
ィルム15上の配線については考慮する必要がないた
め、設計上で特に困難になることはない。
【0036】次に、本発明の第4の実施の形態について
説明する。図4は、本発明の第4の実施の形態を示すテ
ープキャリヤの上面図であり、図1の第1の実施の形態
で用いたテープキャリヤを半導体素子にILBした実装
構造、すなわちテープキャリヤパッケージ(TCP)を
示したものである。
【0037】半導体素子25上には、複数の突起電極2
6が設けられている。これらの突起電極26は、通常A
uにより構成される。一方、配線パターン18及びコー
ナーリード19′を含むインナーリード19とダミーリ
ード20の表面には、Au或いはSnメッキが施されて
いる。
【0038】そして、インナーリード19及びコーナー
リード19′と半導体素子25上の突起電極26とが位
置合わせされて、所定の熱及び圧力をかけることによ
り、インナーリード19及びコーナーリード19′と突
起電極26とが接合される。インナーリード19及びコ
ーナーリード19′の表面のメッキがAuの場合にはA
u−Au熱圧着が、該メッキがSnの場合にはAu−S
n共晶合金が形成されることにより、インナーリード1
9及びコーナーリード19′と突起電極26とが接合さ
れる。
【0039】尚、その他の構成は、上述した第1乃至第
3の実施の形態と同様であるので、同一の構成要素は同
一の参照番号を付して、ここでは説明を省略する。この
ように、図4に示される実装構造に於いて、ダミーリー
ド20は変形し、その先端は最も近いデバイスホール1
6の頂点、すなわち位置合わせマーク21側を向いてい
る。しかしながら、コーナーリード19′をはじめとす
るインナーリード19はほとんど変形していないので
た、正確にテープキャリヤと半導体素子25とを位置合
わせしてILBすることが可能となる。
【0040】尚、図4からわかるように、半導体素子2
5上でダミーリード20と対応する部分には、突起電極
26は存在していない。そのため、従来の半導体素子を
設計変更する必要なく、そのまま用いることができる。
【0041】この第4の実施の形態に於いては、突起電
極26は半導体素子25の外周に沿って1列に配置され
ており、それに対応するインナーリード19の長さは全
て等しく形成されているが、突起電極26は必ずしも1
列に配置されている必要はない。例えば、ある突起電極
は外周寄りに、またある突起電極は外周から遠い位置に
配置されていても良い。加えて、それに対応するインナ
ーリード19の長さも、必ずしも等しくなくても良い。
【0042】次に、本発明の第5の実施の形態について
説明する。図5は、本発明の第5の実施の形態を示すテ
ープキャリヤの上面図であり、図2の第2の実施の形態
で用いたテープキャリヤを用いたTCPを示したもので
ある。
【0043】図5に於いて、半導体素子25上には、複
数の突起電極26が設けられている。そして、インナー
リード19及びコーナーリード19′と突起電極26と
が位置合わせされて、所定の熱及び圧力をかけることに
より、インナーリード19及びコーナーリード19′と
突起電極26とが接合される。
【0044】尚、その他の構成は、上述した第1乃至第
4の実施の形態と同様であるので、同一の構成要素は同
一の参照番号を付して、ここでは説明を省略する。この
第5の実施の形態の場合も、半導体素子25上でダミー
リード20と対応する部分には、突起電極26は存在し
ていないので、従来の半導体素子を設計変更する必要な
く、そのまま用いることができる。
【0045】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、コーナー
リードの変形を防止すると共に、テープキャリヤの歩留
まりを向上させてコストの低減を図ることのできるテー
プキャリヤ及びその実装構造を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態を示すテープキャリ
ヤの上面図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態を示すテープキャリ
ヤの上面図である。
【図3】本発明の第3の実施の形態を示すテープキャリ
ヤの上面図である。
【図4】本発明の第4の実施の形態を示すテープキャリ
ヤの上面図であり、図1の第1の実施の形態で用いたテ
ープキャリヤを半導体素子にILBした実装構造を示し
た図である。
【図5】本発明の第5の実施の形態を示すテープキャリ
ヤの上面図であり、図2の第2の実施の形態で用いたテ
ープキャリヤを用いたTCPを示した図である。
【図6】(a)及び(b)は、従来のテープキャリヤの
構造を示した上面図及び断面図である。
【図7】(a)及び(b)は、テープキャリヤと半導体
素子とが接合された状態を示した図である。
【図8】コーナーリードが変形している状態を示したテ
ープキャリヤの上面図である。
【図9】従来のテープキャリヤの洗浄及びメッキ処理が
施される際のテープキャリヤのインナーリード間の液の
流れを示した図である。
【符号の説明】
1、15…絶縁性樹脂フィルム、2、16…デバイスホ
ール、3、17…アウタリートホール、4、18…配線
パターン、5、19…インナーリード、5′、19′…
コーナーリード、6、21…位置合わせマーク、7、2
2…搬送用孔、8…接着剤、9、25…半導体素子、1
0、26…突起電極、11…液の流れ、20…ダミーリ
ード。
フロントページの続き (72)発明者 田沢 浩 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内 (72)発明者 柴崎 康司 神奈川県川崎市川崎区駅前本町25番地1 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社内

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁性樹脂基材に形成された方形状の開
    口部と、上記開口部の各辺から上記開口部に突出するよ
    うに配設された複数の配線部材を備えるテープキャリヤ
    に於いて、 上記各辺の配線部材の開口部の頂点に最も近接した外側
    に、上記開口部に突出するダミー配線部材を配設して成
    ることを特徴とするテープキャリヤ。
  2. 【請求項2】 上記各辺のダミー配線部材は、同辺の上
    記配線部材と異なる長さを有することを特徴とする請求
    項1に記載のテープキャリヤ。
  3. 【請求項3】 上記各辺のダミー配線部材は、同辺の上
    記配線部材よりも短く形成されることを特徴とする請求
    項2に記載のテープキャリヤ。
  4. 【請求項4】 上記ダミー配線部材は、上記開口部の隣
    接された辺から突出されて且つ上記開口部の頂点に最も
    近接した隣接した辺のダミー配線部材と、先端が互いに
    接続されていることを特徴とする請求項1に記載のテー
    プキャリヤ。
  5. 【請求項5】 上記各辺のダミー配線部材は、同辺の上
    記配線部材と異なる太さを有することを特徴とする請求
    項1若しくは2に記載のテープキャリヤ。
  6. 【請求項6】 上記各辺のダミー配線部材は、同辺の上
    記配線部材よりも太く形成されることを特徴とする請求
    項5に記載のテープキャリヤ。
  7. 【請求項7】 上記開口部は、頂点に位置合わせマーク
    が形成されることを特徴とする1に記載のテープキャリ
    ヤ。
  8. 【請求項8】 上記配線部材のピッチは80μmよりも
    小さく形成されることを特徴とする請求項1乃至7に記
    載のテープキャリヤ。
  9. 【請求項9】 上記配線部材の厚さは35μmよりも薄
    く形成されることを特徴とする請求項1乃至7に記載の
    テープキャリヤ。
  10. 【請求項10】 上記配線部材の幅は50μm以下に形
    成されることを特徴とする請求項1乃至7に記載のテー
    プキャリヤ。
  11. 【請求項11】 絶縁性樹脂基材に形成された方形状の
    開口部と、上記開口部の各辺から上記開口部に突出する
    ように配設された配線部材と、半導体素子上に設けられ
    て上記配線部材と接合される突起状電極とを備えるテー
    プキャリヤの実装構造に於いて、 上記各編の配線部材の外側に上記開口部より突出するダ
    ミー配線部材が配設され、且つこのダミー配線部材は上
    記突起状電極と電気的に接続されていないことを特徴と
    するテープキャリヤの実装構造。
  12. 【請求項12】 上記各辺のダミー配線部材は、同辺の
    上記配線部材と異なる長さを有することを特徴とする請
    求項11に記載のテープキャリヤの実装構造。
  13. 【請求項13】 上記各辺のダミー配線部材は、同辺の
    上記配線部材よりも短く形成されることを特徴とする請
    求項12に記載のテープキャリヤの実装構造。
  14. 【請求項14】 上記ダミー配線部材は、上記開口部の
    隣接された辺から突出されて且つ上記開口部の頂点に最
    も近接した隣接した辺のダミー配線部材と、先端が互い
    に接続されていることを特徴とする請求項11に記載の
    テープキャリヤの実装構造。
  15. 【請求項15】 上記各辺のダミー配線部材は、同辺の
    上記配線部材と異なる太さを有することを特徴とする請
    求項11若しくは12に記載のテープキャリヤの実装構
    造。
  16. 【請求項16】 上記各辺のダミー配線部材は、同辺の
    上記配線部材よりも太く形成されることを特徴とする請
    求項15に記載のテープキャリヤの実装構造。
  17. 【請求項17】 上記開口部は、頂点に位置合わせマー
    クが形成されることを特徴とする11に記載のテープキ
    ャリヤの実装構造。
  18. 【請求項18】 上記配線部材のピッチは80μmより
    も小さく形成されることを特徴とする請求項11乃至1
    7に記載のテープキャリヤの実装構造。
  19. 【請求項19】 上記配線部材の厚さは35μmよりも
    薄く形成されることを特徴とする請求項11乃至17に
    記載のテープキャリヤの実装構造。
  20. 【請求項20】 上記配線部材の幅は50μm以下に形
    成されることを特徴とする請求項11乃至17に記載の
    テープキャリヤの実装構造。
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