JPH09101314A - 移送装置およびそれを用いた分析装置 - Google Patents
移送装置およびそれを用いた分析装置Info
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- JPH09101314A JPH09101314A JP8184993A JP18499396A JPH09101314A JP H09101314 A JPH09101314 A JP H09101314A JP 8184993 A JP8184993 A JP 8184993A JP 18499396 A JP18499396 A JP 18499396A JP H09101314 A JPH09101314 A JP H09101314A
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- Y10T436/11—Automated chemical analysis
- Y10T436/113332—Automated chemical analysis with conveyance of sample along a test line in a container or rack
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 試料ラックにより保持される試料容器内に配
置される試料を分析する分析装置において、使用者が怪
我をしないようにしつつ、入力行列および出力行例を容
易に洗浄し、そこに容易にアクセスできるようにする。 【解決手段】 少なくとも１つの入口地点および移送地
点を有し、入口地点から移送地点まで試料ラック33を磁
気的に移動させる手段を備えた入力行列16と、入力行列
16の移送地点に位置合せされた入口地点および移送地点
を有する処理行列18と、入力行列16の移送地点から処理
行列18の入口地点まで試料ラック33を移動させる給送装
置51と、処理行列18の移送地点に位置合せされた入口地
点を有する出力行列20とからなる。
置される試料を分析する分析装置において、使用者が怪
我をしないようにしつつ、入力行列および出力行例を容
易に洗浄し、そこに容易にアクセスできるようにする。 【解決手段】 少なくとも１つの入口地点および移送地
点を有し、入口地点から移送地点まで試料ラック33を磁
気的に移動させる手段を備えた入力行列16と、入力行列
16の移送地点に位置合せされた入口地点および移送地点
を有する処理行列18と、入力行列16の移送地点から処理
行列18の入口地点まで試料ラック33を移動させる給送装
置51と、処理行列18の移送地点に位置合せされた入口地
点を有する出力行列20とからなる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、分析装置、さらに
詳しくは、分析装置内に検査試料を出入れする装置に関
するものである。
詳しくは、分析装置内に検査試料を出入れする装置に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】この業界で知られているように、病院、
診療所、研究所、並びに、血液、脊髄液、尿、血清、血
漿等の患者の検体試料を検査（アッセイ）する他の場所
においては自動分析装置を用いる傾向がある。このよう
な試料は、一般的に、試料カップ、試験管、キュベット
または他の適した容器等の容器内に入れられている。こ
のような容器１つ以上は、いわゆる試料ラック内に配列
されていてもよい。
診療所、研究所、並びに、血液、脊髄液、尿、血清、血
漿等の患者の検体試料を検査（アッセイ）する他の場所
においては自動分析装置を用いる傾向がある。このよう
な試料は、一般的に、試料カップ、試験管、キュベット
または他の適した容器等の容器内に入れられている。こ
のような容器１つ以上は、いわゆる試料ラック内に配列
されていてもよい。
【０００３】この試料ラックは、分析装置の装填区域内
または入力行列内に配置され、試料の少なくとも一部が
分析装置内での検査のために採集される位置まで動かさ
れる。分析装置内での検査のために試料が採集された
後、試料ラックは、使用者が分析装置からこの試料ラッ
クを取り出せる出力行列または出口行列まで動かされ
る。このように、使用者は、装填区域内で検査すべき１
つ以上の試料を保持する試料ラックを物理的に配置で
き、試料が採集された後に、使用者が試料ラックを出力
行列から取り出すことができる。したがって、分析装置
の入力行列および出力行列は一般的に使用者に露出され
ている。
または入力行列内に配置され、試料の少なくとも一部が
分析装置内での検査のために採集される位置まで動かさ
れる。分析装置内での検査のために試料が採集された
後、試料ラックは、使用者が分析装置からこの試料ラッ
クを取り出せる出力行列または出口行列まで動かされ
る。このように、使用者は、装填区域内で検査すべき１
つ以上の試料を保持する試料ラックを物理的に配置で
き、試料が採集された後に、使用者が試料ラックを出力
行列から取り出すことができる。したがって、分析装置
の入力行列および出力行列は一般的に使用者に露出され
ている。
【０００４】典型的な分析装置において、機械的プッシ
ャまたはコンベヤ機構を用いて、入力行列および出力行
列に沿って試料ラックを動かしている。機械的プッシャ
手法において、プッシャ装置が、試料ラックがその上に
配置されているトレイ上に位置している。モータにより
駆動される親ねじまたはスプリング駆動プッシュブロッ
クがトレイの表面に沿って試料ラックを押している。
ャまたはコンベヤ機構を用いて、入力行列および出力行
列に沿って試料ラックを動かしている。機械的プッシャ
手法において、プッシャ装置が、試料ラックがその上に
配置されているトレイ上に位置している。モータにより
駆動される親ねじまたはスプリング駆動プッシュブロッ
クがトレイの表面に沿って試料ラックを押している。
【０００５】使用者の相互作用の影響が大きい入力およ
び出力行列内にそのような機械的プッシャを用いる場合
には、一般的に特別な注意を払って操作を確実に安全に
しなければならない。例えば、安全シールドおよび安全
ガイドを一般的に用いて機械的プッシャを覆うことによ
り、そうしなければ使用者に露出される移動部品により
使用者が傷付くのを防いでいる。このような保護措置に
より、機械的プッシャには追加の部品が必要となり、こ
のためにこのプッシャの設計が比較的複雑になってしま
う。
び出力行列内にそのような機械的プッシャを用いる場合
には、一般的に特別な注意を払って操作を確実に安全に
しなければならない。例えば、安全シールドおよび安全
ガイドを一般的に用いて機械的プッシャを覆うことによ
り、そうしなければ使用者に露出される移動部品により
使用者が傷付くのを防いでいる。このような保護措置に
より、機械的プッシャには追加の部品が必要となり、こ
のためにこのプッシャの設計が比較的複雑になってしま
う。
【０００６】さらに、入力および出力行列では一般的に
流体試料がこぼれやすいので、これらの行列を容易に洗
浄することが重要である。しかしながら、上述した安全
保護措置により、使用者がトレイにアクセスしずらくな
ってしまう。さらに、移動した機械により使用者が傷付
けられてしまう可能性のために、プッシャ装置の稼働中
に使用者がトレイを洗浄することは望ましくない。した
がって、好ましくはプッシャ装置を停止させて、プッシ
ャ機構に近接した領域にある入力および出力行列を使用
者が洗浄する。このことは通常、装置の稼働を遅くする
かまたは停止させてしまう。
流体試料がこぼれやすいので、これらの行列を容易に洗
浄することが重要である。しかしながら、上述した安全
保護措置により、使用者がトレイにアクセスしずらくな
ってしまう。さらに、移動した機械により使用者が傷付
けられてしまう可能性のために、プッシャ装置の稼働中
に使用者がトレイを洗浄することは望ましくない。した
がって、好ましくはプッシャ装置を停止させて、プッシ
ャ機構に近接した領域にある入力および出力行列を使用
者が洗浄する。このことは通常、装置の稼働を遅くする
かまたは停止させてしまう。
【０００７】さらに、試料ラックがその上に配置される
入力および出力トレイの表面に開口部があると、移送装
置または分析装置の内部に流体がこぼれてしまうかもし
れない。そのような内部区域は一般的に容易にアクセス
できず、そのような区域が流体により汚された場合、洗
浄工程に複雑な操作が必要となる。
入力および出力トレイの表面に開口部があると、移送装
置または分析装置の内部に流体がこぼれてしまうかもし
れない。そのような内部区域は一般的に容易にアクセス
できず、そのような区域が流体により汚された場合、洗
浄工程に複雑な操作が必要となる。
【０００８】コンベヤ型の機構にも同様の問題がある。
コンベヤの手法において、試料ラックが、２つ以上のホ
イールまたは滑車の周りに連続的に動くベルト上に配置
されている。移動しているベルト上に流体試料がこぼれ
た場合、このベルトが流体をコンベヤ装置の内部区域に
運搬し、それによっておそらく、コンベヤ装置または分
析装置の内部を汚してしまう。
コンベヤの手法において、試料ラックが、２つ以上のホ
イールまたは滑車の周りに連続的に動くベルト上に配置
されている。移動しているベルト上に流体試料がこぼれ
た場合、このベルトが流体をコンベヤ装置の内部区域に
運搬し、それによっておそらく、コンベヤ装置または分
析装置の内部を汚してしまう。
【０００９】このコンベヤ手法におけるさらなる問題
は、試料ラックが、入力行列または出力行列のいずれか
の端部まで移動して、ラックの停止地点に停止するよう
になることである。しかしながら、コンベヤベルトは、
行列の端部にある所定の位置に集まり停止するラックの
下で滑り続けなければならない。このために、ベルト、
並びに行列の端部に静止している試料ラックの底面が著
しく摩耗してしまうかもしれない。
は、試料ラックが、入力行列または出力行列のいずれか
の端部まで移動して、ラックの停止地点に停止するよう
になることである。しかしながら、コンベヤベルトは、
行列の端部にある所定の位置に集まり停止するラックの
下で滑り続けなければならない。このために、ベルト、
並びに行列の端部に静止している試料ラックの底面が著
しく摩耗してしまうかもしれない。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】したがって、使用者が
傷付く可能性を最小にする一方で、移送トレイに沿って
試料ラックを動かし、入力および出力行列において使用
者が検査試料に容易にアクセスできるようにし、入力お
よび出力行列を容易に洗浄できるようにした試料移送装
置を提供することが望まれている。本発明の目的はその
ような装置を提供することにある。
傷付く可能性を最小にする一方で、移送トレイに沿って
試料ラックを動かし、入力および出力行列において使用
者が検査試料に容易にアクセスできるようにし、入力お
よび出力行列を容易に洗浄できるようにした試料移送装
置を提供することが望まれている。本発明の目的はその
ような装置を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は、磁気的吸引性
領域を有する試料ラックを移動させる移送装置であっ
て、駆動装置と、駆動装置に接続されこの駆動装置に応
答して移動可能な磁石と、試料ラックを受け入れるよう
に適用された第１の表面を有するトレイとからなり、ト
レイの第１の表面が、磁石により加えられる磁力がトレ
イの第１の表面に存在するように、磁石の第１の表面の
上に配置されてそこから所定の距離だけ離れている移送
装置を提供する。この特定の配列に関して、本発明は磁
気コンベヤ装置を提供する。駆動装置上にトレイを配置
することにより、駆動機構が完全に使用者から隔離さ
れ、したがって、安全上の問題が最小になる。さらに、
試料ラックが駆動装置に磁気的に接続されているので、
トレイの表面には、スロットまたは特定のインデキシン
グ領域を移動させたり備えたりする必要がない。流体が
こぼれた場合でも、流体により移送装置および分析装置
の内部領域が汚されるのを防がれる。さらに、洗浄が容
易な材料からトレイを作成してもよく、それにより、ト
レイを洗浄しやすくすることができる。例えば、トレイ
を、表面にテフロンコーティングを有するアルミニウム
から製造してもよい。また、駆動装置を完全に囲み、さ
らに駆動装置をこぼれた試料や他の汚れから保護するカ
バーにこのトレイを接続しても差支えない。さらに、ラ
ックがその上に配置されるトレイ表面は静止しており、
したがって、静止した試料ラックの底面にある移動ベル
トの一定の摩擦による試料ラックの過剰な摩耗を生じる
ことがない。その上、使用者にさらされる移動部品がな
く、したがって、この移送装置により、分析装置の入力
行列のようなアクセスがたやすい区域における使用者の
安全上の問題が最小となる。
領域を有する試料ラックを移動させる移送装置であっ
て、駆動装置と、駆動装置に接続されこの駆動装置に応
答して移動可能な磁石と、試料ラックを受け入れるよう
に適用された第１の表面を有するトレイとからなり、ト
レイの第１の表面が、磁石により加えられる磁力がトレ
イの第１の表面に存在するように、磁石の第１の表面の
上に配置されてそこから所定の距離だけ離れている移送
装置を提供する。この特定の配列に関して、本発明は磁
気コンベヤ装置を提供する。駆動装置上にトレイを配置
することにより、駆動機構が完全に使用者から隔離さ
れ、したがって、安全上の問題が最小になる。さらに、
試料ラックが駆動装置に磁気的に接続されているので、
トレイの表面には、スロットまたは特定のインデキシン
グ領域を移動させたり備えたりする必要がない。流体が
こぼれた場合でも、流体により移送装置および分析装置
の内部領域が汚されるのを防がれる。さらに、洗浄が容
易な材料からトレイを作成してもよく、それにより、ト
レイを洗浄しやすくすることができる。例えば、トレイ
を、表面にテフロンコーティングを有するアルミニウム
から製造してもよい。また、駆動装置を完全に囲み、さ
らに駆動装置をこぼれた試料や他の汚れから保護するカ
バーにこのトレイを接続しても差支えない。さらに、ラ
ックがその上に配置されるトレイ表面は静止しており、
したがって、静止した試料ラックの底面にある移動ベル
トの一定の摩擦による試料ラックの過剰な摩耗を生じる
ことがない。その上、使用者にさらされる移動部品がな
く、したがって、この移送装置により、分析装置の入力
行列のようなアクセスがたやすい区域における使用者の
安全上の問題が最小となる。
【００１２】所定の数の試料ラックを保持するように選
択された長さを有する長方形のトレイを提供する。ある
実施の形態において、各々の試料ラックは１つ以上の試
験管を保持する。試料ラックを、分析装置の入力行列と
して機能するトレイのいかなる部分上に装填してもよ
い。トレイの第１の表面の下に位置する駆動装置には、
トレイの第１の端部の下に配置される第１の軸、および
トレイの第２の異なる端部の下に配置される第２の軸が
ある。これらの軸はベース内に回転可能に取り付けられ
ている。各々の軸には、その対向端に配置される１組の
滑車がある。ウレタンベルトが、２つの軸の対向する滑
車の周りに配置されている。複数の棒磁石アッセンブリ
がウレタンベルトの間に延びている。これらの滑車の組
が、２つのウレタンベルト、したがって、磁石アッセン
ブリを同時に駆動する。磁石アッセンブリには、各々の
磁石の反対の極が、トレイの第１の表面上の磁界を含む
磁石回路を形成する同一のトレイ表面に面するように向
けられた１組の磁石がある。磁石アッセンブリおよびト
レイの第１の表面は、トレイの表面の下にあるウレタン
ベルトにより磁石が自由に動くように近い間隔で置かれ
ている。
択された長さを有する長方形のトレイを提供する。ある
実施の形態において、各々の試料ラックは１つ以上の試
験管を保持する。試料ラックを、分析装置の入力行列と
して機能するトレイのいかなる部分上に装填してもよ
い。トレイの第１の表面の下に位置する駆動装置には、
トレイの第１の端部の下に配置される第１の軸、および
トレイの第２の異なる端部の下に配置される第２の軸が
ある。これらの軸はベース内に回転可能に取り付けられ
ている。各々の軸には、その対向端に配置される１組の
滑車がある。ウレタンベルトが、２つの軸の対向する滑
車の周りに配置されている。複数の棒磁石アッセンブリ
がウレタンベルトの間に延びている。これらの滑車の組
が、２つのウレタンベルト、したがって、磁石アッセン
ブリを同時に駆動する。磁石アッセンブリには、各々の
磁石の反対の極が、トレイの第１の表面上の磁界を含む
磁石回路を形成する同一のトレイ表面に面するように向
けられた１組の磁石がある。磁石アッセンブリおよびト
レイの第１の表面は、トレイの表面の下にあるウレタン
ベルトにより磁石が自由に動くように近い間隔で置かれ
ている。
【００１３】ある実施の形態において、各々の試料ラッ
クには、その底面に２つのキャビティが設けられてい
る。これらのキャビティは、試料ラックの中心線の反対
側の周りに左右対象に形成されている。試料ラックの底
面に位置する磁化可能なプレートが、試料ラックがトレ
イ上に配置されたときに、このプレートがトレイの表面
の下を通る磁石アッセンブリの磁石と位置合せされるよ
うに、各々のキャビティ内に配置されている。磁石アッ
センブリにより形成される磁界が、試料ラックの底面に
配置されたプレートを引き付け、ベルトが動くときに試
料ラックが磁石アッセンブリと一緒に動くような十分な
力でこのプレートと噛み合う。磁石アッセンブリが最初
に試料ラックに近付くときに、ベルトがラックの後方へ
の加速度を低下させるように動くので、磁石アッセンブ
リにより形成される磁界が徐々に生じるように磁石アッ
センブリに関して所定の角度でこのプレートの第１の表
面の少なくとも一部を配置してもよい。その結果、試料
ラックは滑らかに静止状態から移動状態に移行する。
クには、その底面に２つのキャビティが設けられてい
る。これらのキャビティは、試料ラックの中心線の反対
側の周りに左右対象に形成されている。試料ラックの底
面に位置する磁化可能なプレートが、試料ラックがトレ
イ上に配置されたときに、このプレートがトレイの表面
の下を通る磁石アッセンブリの磁石と位置合せされるよ
うに、各々のキャビティ内に配置されている。磁石アッ
センブリにより形成される磁界が、試料ラックの底面に
配置されたプレートを引き付け、ベルトが動くときに試
料ラックが磁石アッセンブリと一緒に動くような十分な
力でこのプレートと噛み合う。磁石アッセンブリが最初
に試料ラックに近付くときに、ベルトがラックの後方へ
の加速度を低下させるように動くので、磁石アッセンブ
リにより形成される磁界が徐々に生じるように磁石アッ
センブリに関して所定の角度でこのプレートの第１の表
面の少なくとも一部を配置してもよい。その結果、試料
ラックは滑らかに静止状態から移動状態に移行する。
【００１４】底面から１組のレールが突出した試料ラッ
クを提供する。これらのレールが、トレイと接触し、そ
れゆえ、試料ラックとトレイとの間の摩擦力を減少させ
る試料ラックの表面積を減少させる。試料ラックの底面
に、トレイの第１の表面から突出したガイドを受け入れ
る凹部を設ける。このガイドがトレイに沿って試料ラッ
クを配置する。試料ラックには、試料ラックがトレイ上
にある間に試料ラックが傾かないようにする前後の縁ガ
イドがあり、ラックがトレイに正確に位置合せされてい
ることを確実にする。前縁ガイドは、試料ラックがトレ
イの装填位置内に配置されたときに、試料ラックが傾か
ないようにする。
クを提供する。これらのレールが、トレイと接触し、そ
れゆえ、試料ラックとトレイとの間の摩擦力を減少させ
る試料ラックの表面積を減少させる。試料ラックの底面
に、トレイの第１の表面から突出したガイドを受け入れ
る凹部を設ける。このガイドがトレイに沿って試料ラッ
クを配置する。試料ラックには、試料ラックがトレイ上
にある間に試料ラックが傾かないようにする前後の縁ガ
イドがあり、ラックがトレイに正確に位置合せされてい
ることを確実にする。前縁ガイドは、試料ラックがトレ
イの装填位置内に配置されたときに、試料ラックが傾か
ないようにする。
【００１５】試料ラックには、試験管のような試料含有
容器を収容する開口部がある。各々の開口部には、試料
含有容器がこの開口部に配置されたときに圧縮状態にお
かれるフィンガースプリングが配置されており、このよ
うに試料ラック内に試料容器を固定している。このスプ
リングは、異なるサイズの試験管が配置され試料ラック
内に適切に固定されるようなサイズである。
容器を収容する開口部がある。各々の開口部には、試料
含有容器がこの開口部に配置されたときに圧縮状態にお
かれるフィンガースプリングが配置されており、このよ
うに試料ラック内に試料容器を固定している。このスプ
リングは、異なるサイズの試験管が配置され試料ラック
内に適切に固定されるようなサイズである。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、図面に示す実施の形態を参
照して本発明を詳細に説明する。
照して本発明を詳細に説明する。
【００１７】ここで図１を参照する。検査試料について
診断検査を行なうために使用する自動分析装置10は、計
測器12および移送装置14を備えている。計測器12は、一
般的に、1994年11月10日に出願された米国特許出願第08
/338,022号に記載された種類のものと同様の保温室およ
び処理ステーション、1993年 3月19日に出願された米国
特許出願第08/035,341号等に記載された種類のものと同
様の発光計測器（luminometer ）、並びにロボット式ア
ームにより制御されたピペットから一般的に構成された
流体移動装置を備えている。上述した出願の各々をここ
に引用する。移送装置14により、無中断検査のために試
料を連続的に供給できる。
診断検査を行なうために使用する自動分析装置10は、計
測器12および移送装置14を備えている。計測器12は、一
般的に、1994年11月10日に出願された米国特許出願第08
/338,022号に記載された種類のものと同様の保温室およ
び処理ステーション、1993年 3月19日に出願された米国
特許出願第08/035,341号等に記載された種類のものと同
様の発光計測器（luminometer ）、並びにロボット式ア
ームにより制御されたピペットから一般的に構成された
流体移動装置を備えている。上述した出願の各々をここ
に引用する。移送装置14により、無中断検査のために試
料を連続的に供給できる。
【００１８】移送装置14は、入力行列16、処理行列18お
よび出力行列20を備えている。この入力行列16は、試験
管のような試料含有容器を、例えば、入力行列16の一方
の端部に位置する装填位置22に向かって移動させる。こ
の試験管は、分析装置10により分析すべき患者の体液検
体等の試料を保有している。一度試験管が装填位置22に
到達すると、給送（infeed）装置24が試料含有試験管を
入力行列16から処理行列18の所定の位置まで移動させ
る。
よび出力行列20を備えている。この入力行列16は、試験
管のような試料含有容器を、例えば、入力行列16の一方
の端部に位置する装填位置22に向かって移動させる。こ
の試験管は、分析装置10により分析すべき患者の体液検
体等の試料を保有している。一度試験管が装填位置22に
到達すると、給送（infeed）装置24が試料含有試験管を
入力行列16から処理行列18の所定の位置まで移動させ
る。
【００１９】試験管が入力行列16から処理行列18まで動
くときに、この試験管が、入力行列16の装填位置22に近
接して配置されたバーコード読取器26を通過する。この
バーコード読取器26は、ラベルにより各々の試験管およ
び各々のラックに一般的に取り付けられたバーコードを
解読し、その情報を、処理行列18に供給された試料の追
跡および試料を検査する順番の計画を含む様々な機能を
果たすシステム制御器28に伝達する。
くときに、この試験管が、入力行列16の装填位置22に近
接して配置されたバーコード読取器26を通過する。この
バーコード読取器26は、ラベルにより各々の試験管およ
び各々のラックに一般的に取り付けられたバーコードを
解読し、その情報を、処理行列18に供給された試料の追
跡および試料を検査する順番の計画を含む様々な機能を
果たすシステム制御器28に伝達する。
【００２０】一度試験管が試料ラック内で処理行列18ま
で動かされると、計測器12が試験管から試料の一部を吸
引し、続いて、この試料の一部を、計測器12内に配置さ
れたキュベットのような反応容器中に計量分配する。こ
こで、上記出願第08/338,022号により試料の一部が処理
される。
で動かされると、計測器12が試験管から試料の一部を吸
引し、続いて、この試料の一部を、計測器12内に配置さ
れたキュベットのような反応容器中に計量分配する。こ
こで、上記出願第08/338,022号により試料の一部が処理
される。
【００２１】試料が試験管から吸引され、反応容器中に
計量分配された後、検査結果が得られるまで、試料ラッ
クは一般的に処理行列内に保持される。したがって、検
査結果がうまく得られなかった場合には、試験管から試
料の一部を吸引し、これを別の反応容器中に計量分配す
ることにより、検査を再度行なうことができる。一度試
料ラック内の各々の試料がうまく検査されると、処理行
列18が試料ラックを排出装置30の前に配置する。この排
出装置30が試料ラックを処理行列18から出力行列20まで
移動させる。一度試験管が出力行列20まで移動させられ
ると、試料含有試験管に再度使用者がアクセスでき、一
般的に、これらの試験管は周期的に移送装置14から取り
出される。
計量分配された後、検査結果が得られるまで、試料ラッ
クは一般的に処理行列内に保持される。したがって、検
査結果がうまく得られなかった場合には、試験管から試
料の一部を吸引し、これを別の反応容器中に計量分配す
ることにより、検査を再度行なうことができる。一度試
料ラック内の各々の試料がうまく検査されると、処理行
列18が試料ラックを排出装置30の前に配置する。この排
出装置30が試料ラックを処理行列18から出力行列20まで
移動させる。一度試験管が出力行列20まで移動させられ
ると、試料含有試験管に再度使用者がアクセスでき、一
般的に、これらの試験管は周期的に移送装置14から取り
出される。
【００２２】処理行列18は保護ハウジング32内に包囲さ
れており、試験管が入力行列16から処理行列18まで動か
された後には、使用者が試料含有試験管にアクセスでき
ないようにしている。このように、試験管が入力行列16
上にある間には試験管に容易にアクセスでき、任意に順
番付けて配列したり、再配列したりできるが、一度試料
が処理行列18まで動かされると、試料の配置および順番
を使用者が変えることはできない。この処理行列18で、
制御器が試験管の位置の記録を有している。
れており、試験管が入力行列16から処理行列18まで動か
された後には、使用者が試料含有試験管にアクセスでき
ないようにしている。このように、試験管が入力行列16
上にある間には試験管に容易にアクセスでき、任意に順
番付けて配列したり、再配列したりできるが、一度試料
が処理行列18まで動かされると、試料の配置および順番
を使用者が変えることはできない。この処理行列18で、
制御器が試験管の位置の記録を有している。
【００２３】ここで図２、３、３Ａおよび４を参照す
る。移送装置14は、入力行列16、処理行列18および出力
行列20を備えている。複数の試料ラック33が、概して長
方形の入力行列16上に配置されている。各々の試料ラッ
ク33は複数の試料含有試験管34を保持するように適用さ
れており、したがって、試料ラック33は多数の試験管34
を、入力行列16から処理行列18まで、並びに、処理行列
18から出力行列20まで同時に動かすことができる。
る。移送装置14は、入力行列16、処理行列18および出力
行列20を備えている。複数の試料ラック33が、概して長
方形の入力行列16上に配置されている。各々の試料ラッ
ク33は複数の試料含有試験管34を保持するように適用さ
れており、したがって、試料ラック33は多数の試験管34
を、入力行列16から処理行列18まで、並びに、処理行列
18から出力行列20まで同時に動かすことができる。
【００２４】作動中において、使用者は１つ以上の試料
ラック33を入力行列16上のどの位置に配置してもよい。
試料ラック33が入力行列16に沿って動かされている間
に、使用者は試料ラック33を取り出したり、または任意
の順番または所定の順番に配列しても差支えない。この
ように、入力行列16は一般的に、自動分析装置10（図
１）の、使用者に容易にアクセスされる区域である。
ラック33を入力行列16上のどの位置に配置してもよい。
試料ラック33が入力行列16に沿って動かされている間
に、使用者は試料ラック33を取り出したり、または任意
の順番または所定の順番に配列しても差支えない。この
ように、入力行列16は一般的に、自動分析装置10（図
１）の、使用者に容易にアクセスされる区域である。
【００２５】入力行列16は、長方形、例えば、約13.2ｃ
ｍ（約5.2 インチ）の幅Ｗおよび約44.5ｃｍ（約17.5イ
ンチ）の長さＬを有するトレイ38から構成されている。
トレイ38の幅Ｗは、試料ラック33の長さを収容するよう
に選択しなければならず、また、トレイ38の長さＬは多
数の試料ラック33を収容するように選択しなければなら
ない。
ｍ（約5.2 インチ）の幅Ｗおよび約44.5ｃｍ（約17.5イ
ンチ）の長さＬを有するトレイ38から構成されている。
トレイ38の幅Ｗは、試料ラック33の長さを収容するよう
に選択しなければならず、また、トレイ38の長さＬは多
数の試料ラック33を収容するように選択しなければなら
ない。
【００２６】試料ラック33は、各々の試料ラック33のハ
ンドル39が使用者に近接するトレイ38の側に位置するよ
うに、トレイの第１の表面38a 上に装填されている。ハ
ンドル39により、使用者がトレイ38上の試料ラック33を
容易に保持し、したがって、動かしたり配列させたりす
ることができる。
ンドル39が使用者に近接するトレイ38の側に位置するよ
うに、トレイの第１の表面38a 上に装填されている。ハ
ンドル39により、使用者がトレイ38上の試料ラック33を
容易に保持し、したがって、動かしたり配列させたりす
ることができる。
【００２７】各々の試料ラック33には、試験管34をその
中に配置する複数の開口部を有する上面33a 、前端、後
端および中に凹部40が形成された低面がある。
中に配置する複数の開口部を有する上面33a 、前端、後
端および中に凹部40が形成された低面がある。
【００２８】トレイ38には、その長さに亘り隆起中央部
分（以下ガイドと称する）42がある。ガイド42は、試料
ラック33が入力トレイ38の第１の端部から第２の端部ま
で移動するときに試料ラック33が沿って動くガイドとし
て機能する（図２の左から右）。
分（以下ガイドと称する）42がある。ガイド42は、試料
ラック33が入力トレイ38の第１の端部から第２の端部ま
で移動するときに試料ラック33が沿って動くガイドとし
て機能する（図２の左から右）。
【００２９】このガイド42は、トレイ38とは別の片とし
て設けてもよく、あるいは好ましくは、ガイド42は、ア
ルミニウム内のプラスチックの型打ちまたはプラスチッ
クの射出成形によりトレイ38の一体部品として設けても
よい。このガイド42は、試料ラック33がガイド42に引っ
掛かったりもつれたりしないような高さを有さなければ
ならない。
て設けてもよく、あるいは好ましくは、ガイド42は、ア
ルミニウム内のプラスチックの型打ちまたはプラスチッ
クの射出成形によりトレイ38の一体部品として設けても
よい。このガイド42は、試料ラック33がガイド42に引っ
掛かったりもつれたりしないような高さを有さなければ
ならない。
【００３０】トレイ38には、試料ラック33の後端にある
スロット46と噛み合い、試料ラック33がトレイ38から外
れてしまったり、傾くのを防ぐ後端ガイド44が設けられ
ている。
スロット46と噛み合い、試料ラック33がトレイ38から外
れてしまったり、傾くのを防ぐ後端ガイド44が設けられ
ている。
【００３１】トレイ38は、試料ラック33の駆動装置を囲
むハウジング50上に配置されている。この駆動装置は、
トレイ38の下側で生じる磁力により、入力トレイ38の上
面に沿って試料ラック33を移動させる。トレイ38および
ハウジング50は、駆動装置を覆い、したがって、この駆
動装置を使用者の環境から隔てている。
むハウジング50上に配置されている。この駆動装置は、
トレイ38の下側で生じる磁力により、入力トレイ38の上
面に沿って試料ラック33を移動させる。トレイ38および
ハウジング50は、駆動装置を覆い、したがって、この駆
動装置を使用者の環境から隔てている。
【００３２】トレイ38およびハウジング50は駆動装置を
完全に囲んでいるので、駆動装置の移動部品に使用者を
さらすことによる安全上の問題が最小になる。さらに、
トレイ38およびハウジング50は、流体がこぼれたり、他
の望ましくない要因（例えば、埃および泥）が駆動装
置、または移送装置14が接続されて作動する分析装置の
他の区域を汚すのを防ぐ。また、使用者はいかなる移動
部品にもさらされないので、使用者が怪我したり、駆動
装置の作動が妨害されたりするのを防ぐために、トレイ
38の洗浄前または洗浄の最中に駆動装置を停止させる必
要がない。
完全に囲んでいるので、駆動装置の移動部品に使用者を
さらすことによる安全上の問題が最小になる。さらに、
トレイ38およびハウジング50は、流体がこぼれたり、他
の望ましくない要因（例えば、埃および泥）が駆動装
置、または移送装置14が接続されて作動する分析装置の
他の区域を汚すのを防ぐ。また、使用者はいかなる移動
部品にもさらされないので、使用者が怪我したり、駆動
装置の作動が妨害されたりするのを防ぐために、トレイ
38の洗浄前または洗浄の最中に駆動装置を停止させる必
要がない。
【００３３】さらに、トレイ38の表面には開口部がない
ので、トレイ38は比較的洗浄しやすい。トレイ38の洗浄
は、試料ラックの位置合せ構造の妨害を受けない。この
ことにより、移送装置14の操作を中断せずに、試料ラッ
ク33を任意にトレイ38に装填したり、トレイ38から取り
出したり、並べ変えたりすることができる。
ので、トレイ38は比較的洗浄しやすい。トレイ38の洗浄
は、試料ラックの位置合せ構造の妨害を受けない。この
ことにより、移送装置14の操作を中断せずに、試料ラッ
ク33を任意にトレイ38に装填したり、トレイ38から取り
出したり、並べ変えたりすることができる。
【００３４】処理行列18は、試料ラック33が入力行列16
から処理行列18まで都合よくそして容易に移動できるよ
うに、入力行列16に隣接して配置されている。この実施
の形態において、処理行列18は移動可能な運搬部材52上
に取り付けられている。
から処理行列18まで都合よくそして容易に移動できるよ
うに、入力行列16に隣接して配置されている。この実施
の形態において、処理行列18は移動可能な運搬部材52上
に取り付けられている。
【００３５】この運搬部材52上には、正方形の断面を有
し、厚さが一般的に約2.54ｃｍ（約１インチ）のアルミ
ニウム部材として設けてもよい支持ブロック54が配置さ
れている。支持ブロック54は、スライド58を運搬部材52
上から所定の距離に支持し、運搬部材52を構造的にさら
に支持している。駆動装置53は、制御器28からの信号に
応答して処理行列18を移動させるように接続されてい
る。
し、厚さが一般的に約2.54ｃｍ（約１インチ）のアルミ
ニウム部材として設けてもよい支持ブロック54が配置さ
れている。支持ブロック54は、スライド58を運搬部材52
上から所定の距離に支持し、運搬部材52を構造的にさら
に支持している。駆動装置53は、制御器28からの信号に
応答して処理行列18を移動させるように接続されてい
る。
【００３６】処理トレイ60はスライド58上に取り付けら
れて、処理トレイ60の底面に取り付けられたリニアベア
リング上で動く。
れて、処理トレイ60の底面に取り付けられたリニアベア
リング上で動く。
【００３７】処理トレイ60には、そのベース表面から突
出した等しい間隔で配置された複数の仕切壁61が設けら
れている。この仕切壁61は、試料ラック33が保持される
複数のスロット64を形成する。
出した等しい間隔で配置された複数の仕切壁61が設けら
れている。この仕切壁61は、試料ラック33が保持される
複数のスロット64を形成する。
【００３８】給送装置51が入力行列16上の所定の位置に
取り付けられている。図示した実施の形態において、給
送装置51がトレイ38の端部に取り付けられている。給送
装置51は試料ラックを入力行列16の遠い端部の装填位置
から処理行列18の空のスロット64まで移動させる。この
給送装置51について、図３および４を参照して詳細に記
載する。処理トレイ60は、制御器28により、空のスロッ
ト64が給送装置51により供給される試料ラック33を受け
入れるのに利用できることを確認にする位置に向けられ
ている。
取り付けられている。図示した実施の形態において、給
送装置51がトレイ38の端部に取り付けられている。給送
装置51は試料ラックを入力行列16の遠い端部の装填位置
から処理行列18の空のスロット64まで移動させる。この
給送装置51について、図３および４を参照して詳細に記
載する。処理トレイ60は、制御器28により、空のスロッ
ト64が給送装置51により供給される試料ラック33を受け
入れるのに利用できることを確認にする位置に向けられ
ている。
【００３９】処理トレイ60は一般的に、一方の端部また
は他方の端部に運搬器68内にあるプローブチップトレイ
62を搭載している。このプローブチップトレイ62には、
複数の使い捨てプローブチップ70が配列されている複数
の孔66がある。
は他方の端部に運搬器68内にあるプローブチップトレイ
62を搭載している。このプローブチップトレイ62には、
複数の使い捨てプローブチップ70が配列されている複数
の孔66がある。
【００４０】移送装置14はさらに、モータ駆動装置76に
より駆動されるプッシュロッド74を有する排出プッシャ
72を備えている。このモータ駆動装置76は、スロット64
を通してプッシュロッド74を駆動し、それによって、試
料ラック33が、制御器28の制御下で処理行列18から出力
行列20の出力トレイ78の表面78a 上に動かされる。
より駆動されるプッシュロッド74を有する排出プッシャ
72を備えている。このモータ駆動装置76は、スロット64
を通してプッシュロッド74を駆動し、それによって、試
料ラック33が、制御器28の制御下で処理行列18から出力
行列20の出力トレイ78の表面78a 上に動かされる。
【００４１】出力トレイ78には、入力トレイ38上のガイ
ド42と同様のガイド80がある。試料ラックが処理行列へ
と処理行列から動かされる場所には、ガイド42,44,80お
よび99はない。一度試料ラック33が処理行列18から出力
行列20まで動かされると、インデスク機構が出力トレイ
78の上面に沿って試料ラックを移動させる。このインデ
クス機構については図３Ａを参照して詳細に説明する。
ド42と同様のガイド80がある。試料ラックが処理行列へ
と処理行列から動かされる場所には、ガイド42,44,80お
よび99はない。一度試料ラック33が処理行列18から出力
行列20まで動かされると、インデスク機構が出力トレイ
78の上面に沿って試料ラックを移動させる。このインデ
クス機構については図３Ａを参照して詳細に説明する。
【００４２】この特定の実施の形態において、20の試料
ラック33を保持するのに十分に長いトレイを有する入力
行列16を選択する。ここでは、各々の試料ラック33は５
つの試験管34を保持している。
ラック33を保持するのに十分に長いトレイを有する入力
行列16を選択する。ここでは、各々の試料ラック33は５
つの試験管34を保持している。
【００４３】試験管34の各々には、バーコードラベルが
貼り付けられている。試験管34は、貼り付けられたバー
コードラベルが入力行列16のの装填位置22に近接して配
置されたバーコード読取器にさらされるように、試料ラ
ック33内で向けられている。ここで、試料ラックは処理
行列の外に動かされる。
貼り付けられている。試験管34は、貼り付けられたバー
コードラベルが入力行列16のの装填位置22に近接して配
置されたバーコード読取器にさらされるように、試料ラ
ック33内で向けられている。ここで、試料ラックは処理
行列の外に動かされる。
【００４４】給送機構51を、１組の滑車86a,86b の周り
を無限に回転するベルト64を含むものとして図示する。
より明らかに図４に見られるように、第１の滑車86a が
ステッパモータのような二方向性モータ104 に接続され
ている。
を無限に回転するベルト64を含むものとして図示する。
より明らかに図４に見られるように、第１の滑車86a が
ステッパモータのような二方向性モータ104 に接続され
ている。
【００４５】ここで再度図３を参照する。ベルト84に
は、複数の外側に延びたパドルまたは形材88,88a-88bが
接続されている。形材88はベルト84の一部のみに配置さ
れている。端にある形材88a,88h の位置は、試料ラック
33がそれらの間の装填位置22内に置かれ、一方で、形材
88b-88h が、試料ラックが形材88a と88h の間から動か
されるときに、装填位置22に隣接した試料ラック33a が
装填位置に進入するのを妨げるように選択する。
は、複数の外側に延びたパドルまたは形材88,88a-88bが
接続されている。形材88はベルト84の一部のみに配置さ
れている。端にある形材88a,88h の位置は、試料ラック
33がそれらの間の装填位置22内に置かれ、一方で、形材
88b-88h が、試料ラックが形材88a と88h の間から動か
されるときに、装填位置22に隣接した試料ラック33a が
装填位置に進入するのを妨げるように選択する。
【００４６】ある実施の形態において、ベルト84および
形材88はウレタンであり、射出成形技術を用いて一体片
として製造してもよい。あるいは、形材88をベルト84と
は別々の片として製造してもよい。この場合、形材を、
超音波溶接または当業者によく知られた他の固定技術に
よりベルト84に取り付けることができる。
形材88はウレタンであり、射出成形技術を用いて一体片
として製造してもよい。あるいは、形材88をベルト84と
は別々の片として製造してもよい。この場合、形材を、
超音波溶接または当業者によく知られた他の固定技術に
よりベルト84に取り付けることができる。
【００４７】装填位置22に近接した入力行列16には装填
位置ガイド89が接続されている。装填位置ガイド89は装
填位置22内の試料ラックが傾くのを防いでいる。
位置ガイド89が接続されている。装填位置ガイド89は装
填位置22内の試料ラックが傾くのを防いでいる。
【００４８】ベルト84が反時計方向に回転し、形材88を
入力トレイ38上に配置された試料ラック33と反対の位置
に移動させる場合、装填位置が試料ラック33を受け入れ
るのに利用できる。形材88に隣接した試料ラック33が、
その存在が以下に記載するセンサにより知覚される装填
位置22の空間中に移動させられる。
入力トレイ38上に配置された試料ラック33と反対の位置
に移動させる場合、装填位置が試料ラック33を受け入れ
るのに利用できる。形材88に隣接した試料ラック33が、
その存在が以下に記載するセンサにより知覚される装填
位置22の空間中に移動させられる。
【００４９】モータ104 （図４）はベルト84および形材
88を時計方向に駆動する。形材88aには、現在入力行列1
6の装填位置22内に配置されている試料ラック33の第１
の端部と接触するアルミニウムブロック90が接続されて
いる。ベルト84が時計方向に動くときに、試料ラック33
a が、入力トレイ38の装填位置22から、処理行列18内の
スロット64まで制御器28の制御下で押される。
88を時計方向に駆動する。形材88aには、現在入力行列1
6の装填位置22内に配置されている試料ラック33の第１
の端部と接触するアルミニウムブロック90が接続されて
いる。ベルト84が時計方向に動くときに、試料ラック33
a が、入力トレイ38の装填位置22から、処理行列18内の
スロット64まで制御器28の制御下で押される。
【００５０】ブロック90は、試料ラック33の端部と接触
する表面が移動して、試料ラック33が入力行列16から処
理行列18上まで完全に押されることを確実にする距離だ
け延びる。
する表面が移動して、試料ラック33が入力行列16から処
理行列18上まで完全に押されることを確実にする距離だ
け延びる。
【００５１】処理行列18は給送機構51によりそこに供給
される試料ラック33を受け入れる。上述したように、処
理行列18は、入力行列16からの試料ラック33が処理行列
18の異なる空間64中に供給されるように、トラックに沿
って線形に動く。また、処理行列18は、制御器28の制御
下でトラックに沿って動き、特定の試料ラック33を排出
プッシャ72と位置合せする。
される試料ラック33を受け入れる。上述したように、処
理行列18は、入力行列16からの試料ラック33が処理行列
18の異なる空間64中に供給されるように、トラックに沿
って線形に動く。また、処理行列18は、制御器28の制御
下でトラックに沿って動き、特定の試料ラック33を排出
プッシャ72と位置合せする。
【００５２】処理行列18は、その試料が排出プッシャ72
の前で処理行列18内でうまく検査された試料ラック33を
配置する。排出プッシャ72は二方向性モータ76により駆
動されるプッシュロッド74を備えている。位置97で、プ
ッシャアッセンブリ100 内のプッシャ108 （図３Ａ）が
試料ラックを出力行列上に押し出す。
の前で処理行列18内でうまく検査された試料ラック33を
配置する。排出プッシャ72は二方向性モータ76により駆
動されるプッシュロッド74を備えている。位置97で、プ
ッシャアッセンブリ100 内のプッシャ108 （図３Ａ）が
試料ラックを出力行列上に押し出す。
【００５３】出力行列20の端部にあるセンサ98が、出力
行列20が試料ラック33で満たされると、信号を制御器28
に知らせ、使用者に、試料ラック33の出口行列20からの
取出しのような作業を行なうことを知らせる、および／
またはさらに追加の試料ラック33が、出口行列20上の空
間が利用できるようになるまで、処理行列18から出口行
列20に移動するのを防ぐ。このようなセンサは、トレイ
78の上面または底面に配置してもよい。
行列20が試料ラック33で満たされると、信号を制御器28
に知らせ、使用者に、試料ラック33の出口行列20からの
取出しのような作業を行なうことを知らせる、および／
またはさらに追加の試料ラック33が、出口行列20上の空
間が利用できるようになるまで、処理行列18から出口行
列20に移動するのを防ぐ。このようなセンサは、トレイ
78の上面または底面に配置してもよい。
【００５４】移送装置14には、緊急試料ラック入力行列
105 が設けられている。入力行列105 には、スタット入
力位置101 、スタットセンサ102 およびスタット装填位
置103 がある。スタット入力位行列105 の目的は、使用
者に、分析装置10にスタット入力行列105 内に装填され
た試料について、できるだけ早く、順番を飛ばして検査
を行なわせることにある。
105 が設けられている。入力行列105 には、スタット入
力位置101 、スタットセンサ102 およびスタット装填位
置103 がある。スタット入力位行列105 の目的は、使用
者に、分析装置10にスタット入力行列105 内に装填され
た試料について、できるだけ早く、順番を飛ばして検査
を行なわせることにある。
【００５５】使用者が試料ラック33をスタット入力位置
101 中に配置すると、スタットセンサ102 が、ベルト84
の適切な側に固定された形材88により試料ラックをスタ
ット入力位置101 からスタット装填位置103 に押し出す
プッシャブロック108 （図３Ａ）を始動させる。スタッ
ト装填位置ガイド113 がスタット装填位置103 に近接し
て配置され、スタット装填位置103 内の試料ラックが傾
くのを防いでいる。次いで、給送装置51が試料ラックを
ベルト84の逆回転によりスタット装填位置103から処理
行列18まで動かす。
101 中に配置すると、スタットセンサ102 が、ベルト84
の適切な側に固定された形材88により試料ラックをスタ
ット入力位置101 からスタット装填位置103 に押し出す
プッシャブロック108 （図３Ａ）を始動させる。スタッ
ト装填位置ガイド113 がスタット装填位置103 に近接し
て配置され、スタット装填位置103 内の試料ラックが傾
くのを防いでいる。次いで、給送装置51が試料ラックを
ベルト84の逆回転によりスタット装填位置103から処理
行列18まで動かす。
【００５６】移送装置14はさらに、スタット入力位置10
1 に近接して配置されたバーコード読取器を備えてい
る。ここでは、バーコード読取器83の大部分は取り除か
れて、プッシャバー106 およびプッシャブロック108 を
よく見えるようにしている。このバーコード読取器83
は、例えば、取付ブラケットとして設けられている取付
部材109 によりプッシャブロック108 の上の固定位置に
保持されている。バーコード読取器83は好ましくは、入
力行列16上の装填位置22（図３）またはスタット装填位
置103 のいずれかから処理行列18に動かされる試験管に
貼り付けられたラベルのバーコードを読み取れるように
配置されている。
1 に近接して配置されたバーコード読取器を備えてい
る。ここでは、バーコード読取器83の大部分は取り除か
れて、プッシャバー106 およびプッシャブロック108 を
よく見えるようにしている。このバーコード読取器83
は、例えば、取付ブラケットとして設けられている取付
部材109 によりプッシャブロック108 の上の固定位置に
保持されている。バーコード読取器83は好ましくは、入
力行列16上の装填位置22（図３）またはスタット装填位
置103 のいずれかから処理行列18に動かされる試験管に
貼り付けられたラベルのバーコードを読み取れるように
配置されている。
【００５７】試料ラック33および試験管が入力トレイ38
から処理行列18まで動かされるときに、バーコードラベ
ルがバーコード読取器83を通過して、このバーコード読
取器83がバーコードラベルからの情報の暗号を解いて、
そのような情報をシステム制御器28に送る（図１）。こ
の情報には、患者、試料、および他の直接的な流体のデ
ータを含めてもよい。各々の試料について行なうべき検
査は、制御器28に別々に入力する。いくつかの試料は、
バッチ内の全ての検体に関する特定の群の検査を意味す
る「バッチラン」と確認してもよい。
から処理行列18まで動かされるときに、バーコードラベ
ルがバーコード読取器83を通過して、このバーコード読
取器83がバーコードラベルからの情報の暗号を解いて、
そのような情報をシステム制御器28に送る（図１）。こ
の情報には、患者、試料、および他の直接的な流体のデ
ータを含めてもよい。各々の試料について行なうべき検
査は、制御器28に別々に入力する。いくつかの試料は、
バッチ内の全ての検体に関する特定の群の検査を意味す
る「バッチラン」と確認してもよい。
【００５８】ここで、図５、５Ａ、６、７および８を参
照する。磁気コンベヤ110 に入力行列18が設けられてい
る。トレイ38の下には、駆動装置116 がある。この特定
の実施の形態において、駆動装置116 は、駆動モータ11
9 により駆動される、１組の滑車118a,118b の周りに配
置された第１および第２の駆動ベルト117 を備えてい
る。ベルト117 は、トレイ38の前部分および後部分の近
くに配置されている。
照する。磁気コンベヤ110 に入力行列18が設けられてい
る。トレイ38の下には、駆動装置116 がある。この特定
の実施の形態において、駆動装置116 は、駆動モータ11
9 により駆動される、１組の滑車118a,118b の周りに配
置された第１および第２の駆動ベルト117 を備えてい
る。ベルト117 は、トレイ38の前部分および後部分の近
くに配置されている。
【００５９】再度、図５、５Ａおよび５Ｂを参照する。
ここでは、駆動モータ119 が、滑車キヤ118b（図５Ｂ）
として設けられている滑車118bに接続された駆動ギヤ12
3 を有するステッパモータ119 として設けられている。
接続は、２：１のギヤ減速比で行なわれている。
ここでは、駆動モータ119 が、滑車キヤ118b（図５Ｂ）
として設けられている滑車118bに接続された駆動ギヤ12
3 を有するステッパモータ119 として設けられている。
接続は、２：１のギヤ減速比で行なわれている。
【００６０】点線で示す駆動装置116 の別の実施の形態
において、駆動モータ119 をトレイ38の下に配置し、駆
動ベルト120 を介して滑車118aに接続してもよい。
において、駆動モータ119 をトレイ38の下に配置し、駆
動ベルト120 を介して滑車118aに接続してもよい。
【００６１】複数の磁石アッセンブリ121a-121e が各々
駆動ベルト117 に接続されている。磁石アッセンブリ12
1a-121e が所定の距離だけ等間隔で離れている。トレイ
38は、図５に示す磁石アッセンブリ121a,121c および12
1eがトレイ38の下を所定の距離だけ通過するように、ベ
ルト117 の上で所定の距離だけ離れて配置されている。
各々の磁石アッセンブリ121a-121e は、磁力が少なくと
もトレイ38の表面114aで、この実施の形態においては好
ましくはその上に発生するように、十分なおおきさの磁
力を有する磁石を備えている。
駆動ベルト117 に接続されている。磁石アッセンブリ12
1a-121e が所定の距離だけ等間隔で離れている。トレイ
38は、図５に示す磁石アッセンブリ121a,121c および12
1eがトレイ38の下を所定の距離だけ通過するように、ベ
ルト117 の上で所定の距離だけ離れて配置されている。
各々の磁石アッセンブリ121a-121e は、磁力が少なくと
もトレイ38の表面114aで、この実施の形態においては好
ましくはその上に発生するように、十分なおおきさの磁
力を有する磁石を備えている。
【００６２】試料ラック33には、磁石アッセンブリ121
の磁力により噛み合うことのできる磁気的吸引性領域が
ある。この磁石アッセンブリ121 は、駆動装置が試料ラ
ック112 をトレイ38の表面に沿って移動させるように、
試料ラック33を駆動装置に磁気的に接続している。
の磁力により噛み合うことのできる磁気的吸引性領域が
ある。この磁石アッセンブリ121 は、駆動装置が試料ラ
ック112 をトレイ38の表面に沿って移動させるように、
試料ラック33を駆動装置に磁気的に接続している。
【００６３】この実施の形態においては、５つの磁石ア
ッセンブリ121a-121e が、ベルト117 を介して１組の滑
車118 の周りに駆動され、試料ラック112 を転写トレイ
114に沿って移動させている。磁石アッセンブリ121 が
互いに離れている距離は、限定されるものではないが、
各々個々の磁石アッセンブリ121 が動かせる試料ラック
33の数を含む様々な要因により選択する。この特定の実
施の形態において、各々の磁石アッセンブリ121 は、い
くつかの試料ラック33を動かすのに十分な磁力のもので
ある。もちろん、より多くのまたより少ない磁石アッセ
ンブリ121 を用いても差支えない。コンベヤ装置110 は
さらに、ベースプレート126 に接続され、ベルト117 の
表面の下に配置されたセンサ124 を備えている。センサ
124 は、例えば、ホール効果センサとして設けてもよ
く、磁石アッセンブリ121 がその上を通過するときはい
つも信号を生じるように配置されている。センサ124
は、磁石アッセンブリ121 の位置を示す。ベルト117 上
の磁石アッセンブリ121a-121eの各々の他のものに関す
る位置は分かっているので、磁石アッセンブリ121 のう
ちの１つの位置が分かれば、磁石アッセンブリ121 の各
々の位置も分かる。
ッセンブリ121a-121e が、ベルト117 を介して１組の滑
車118 の周りに駆動され、試料ラック112 を転写トレイ
114に沿って移動させている。磁石アッセンブリ121 が
互いに離れている距離は、限定されるものではないが、
各々個々の磁石アッセンブリ121 が動かせる試料ラック
33の数を含む様々な要因により選択する。この特定の実
施の形態において、各々の磁石アッセンブリ121 は、い
くつかの試料ラック33を動かすのに十分な磁力のもので
ある。もちろん、より多くのまたより少ない磁石アッセ
ンブリ121 を用いても差支えない。コンベヤ装置110 は
さらに、ベースプレート126 に接続され、ベルト117 の
表面の下に配置されたセンサ124 を備えている。センサ
124 は、例えば、ホール効果センサとして設けてもよ
く、磁石アッセンブリ121 がその上を通過するときはい
つも信号を生じるように配置されている。センサ124
は、磁石アッセンブリ121 の位置を示す。ベルト117 上
の磁石アッセンブリ121a-121eの各々の他のものに関す
る位置は分かっているので、磁石アッセンブリ121 のう
ちの１つの位置が分かれば、磁石アッセンブリ121 の各
々の位置も分かる。
【００６４】移送装置110 はさらに、例えば、隣接する
試料ラック33の表面から反射する光を検出する光学セン
サとして設けてもよい、装填位置センサ128 を備えてい
る。稼働中に、試料ラック33が形材88a の前の装填位置
中に入るときに、試料ラック33の表面201 （図１０）を
光が反射して、装填位置センサ128 を始動させる。
試料ラック33の表面から反射する光を検出する光学セン
サとして設けてもよい、装填位置センサ128 を備えてい
る。稼働中に、試料ラック33が形材88a の前の装填位置
中に入るときに、試料ラック33の表面201 （図１０）を
光が反射して、装填位置センサ128 を始動させる。
【００６５】装填位置センサ128 により発せられた信号
に応答して、滑車129 に接続された駆動モータ119 が、
一般的に、３つの磁石アッセンブリ121 がセンサ124 を
通過するまで、時計方向にベルト117 を回転させる。こ
の工程により、トレイ38の左側に位置する試料ラック33
がトレイ114 の全長だけ移動することを確認する。
に応答して、滑車129 に接続された駆動モータ119 が、
一般的に、３つの磁石アッセンブリ121 がセンサ124 を
通過するまで、時計方向にベルト117 を回転させる。こ
の工程により、トレイ38の左側に位置する試料ラック33
がトレイ114 の全長だけ移動することを確認する。
【００６６】次いで駆動モータ119 が所定の短い距離だ
け離れて（一般的に0.06インチ）反時計方向にベルト11
7 を回転させて、隣接した試料ラックにより、装填位置
内の試料ラックに加えられた圧力を解放する。装填位置
にある試料ラックへの力を減少させることにより、給送
装置51は試料ラックを入力行列16（図３）から処理行列
18（図３）までいっそう容易に駆動できる。
け離れて（一般的に0.06インチ）反時計方向にベルト11
7 を回転させて、隣接した試料ラックにより、装填位置
内の試料ラックに加えられた圧力を解放する。装填位置
にある試料ラックへの力を減少させることにより、給送
装置51は試料ラックを入力行列16（図３）から処理行列
18（図３）までいっそう容易に駆動できる。
【００６７】ここではベルト117 、滑車118 およびモー
タ119 から構成した駆動システムは完全にトレイ38およ
び磁石アッセンブリ121 からは独立している。したがっ
て、駆動システム116 は、電磁手段または他の手段のよ
うな磁石アッセンブリ121 を移動させる手段により、構
成してもよい。
タ119 から構成した駆動システムは完全にトレイ38およ
び磁石アッセンブリ121 からは独立している。したがっ
て、駆動システム116 は、電磁手段または他の手段のよ
うな磁石アッセンブリ121 を移動させる手段により、構
成してもよい。
【００６８】例えば、磁石アッセンブリは、スイッチを
入れたり切ったりして、試料ラックの磁気的吸引性領域
を引き付ける電磁石を有するものとして設けてもよい。
このように電磁石は、ベルト117 と同様のゴンベヤ型ベ
ルトによるか、またはトレイの下で線形方向に前後に移
動するプッシャロッドにより移動させてもよい。プッシ
ャロッドの手法に関して、プッシャロッドが磁石および
試料ラックを装填位置の端の位置から装填位置に近接し
た位置まで移動させるときに、電磁石が活性化される。
次いで、プッシャロッドが装填位置から電磁石を引っ込
めた後に、電磁石が不活性化される。さらに、完全に満
たされた入力トレイに関して、ベルト117 上で電磁石を
用いた場合には、電磁石を切って、磁力を連続的に試料
ラックに対して押し付けるのを防ぐ必要はないが、むし
ろ、電磁石を切ってもよい。
入れたり切ったりして、試料ラックの磁気的吸引性領域
を引き付ける電磁石を有するものとして設けてもよい。
このように電磁石は、ベルト117 と同様のゴンベヤ型ベ
ルトによるか、またはトレイの下で線形方向に前後に移
動するプッシャロッドにより移動させてもよい。プッシ
ャロッドの手法に関して、プッシャロッドが磁石および
試料ラックを装填位置の端の位置から装填位置に近接し
た位置まで移動させるときに、電磁石が活性化される。
次いで、プッシャロッドが装填位置から電磁石を引っ込
めた後に、電磁石が不活性化される。さらに、完全に満
たされた入力トレイに関して、ベルト117 上で電磁石を
用いた場合には、電磁石を切って、磁力を連続的に試料
ラックに対して押し付けるのを防ぐ必要はないが、むし
ろ、電磁石を切ってもよい。
【００６９】図６を参照する。図５に関して上述した磁
石コンベヤ110 の一部の３つの試料ラック33がその上に
配置された様子が示されている。各々の試料ラック33の
上部分が省かれて、各々の試料ラック内に配置された試
験管130 を暴露している。試料ラック33の底部分は、切
り去られて、断面で、試料ラック33の底部分内に配置さ
れた板134 を露出している。この板134 は、磁気的吸引
性の材料から構成してもよい。
石コンベヤ110 の一部の３つの試料ラック33がその上に
配置された様子が示されている。各々の試料ラック33の
上部分が省かれて、各々の試料ラック内に配置された試
験管130 を暴露している。試料ラック33の底部分は、切
り去られて、断面で、試料ラック33の底部分内に配置さ
れた板134 を露出している。この板134 は、磁気的吸引
性の材料から構成してもよい。
【００７０】この特定の実施の形態において、板134
は、一般的に約3.2 ｍｍ（約0.125 インチ）の厚さを有
する磁気ステンレス鋼から形成してもよい。しかしなが
ら、別の実施の形態においては、鉄、非ステンレス鋼ま
たは磁石材料のような他の材料を用いてもよい。板134
を磁石材料から形成する場合には、板134 の磁極が磁石
アッセンブリ121 の磁極とは反対ではないことを確認し
なければならない。
は、一般的に約3.2 ｍｍ（約0.125 インチ）の厚さを有
する磁気ステンレス鋼から形成してもよい。しかしなが
ら、別の実施の形態においては、鉄、非ステンレス鋼ま
たは磁石材料のような他の材料を用いてもよい。板134
を磁石材料から形成する場合には、板134 の磁極が磁石
アッセンブリ121 の磁極とは反対ではないことを確認し
なければならない。
【００７１】磁石アッセンブリ121 は、断面で示すよう
に、受け板138 、棒磁石140 および磁石カバー142 がそ
の上に配置されている、典型的に約2.2 ｍｍ（約0.090
インチ）の厚さを有するアルミニウムハウジング136 を
備えている。受け板138 は磁気ステンレス鋼から形成さ
れ、一般的に約1.5 ｍｍ（約0.060 インチ）の厚さを有
している。磁石140 は、典型的に約6.4 ｍｍ（約0.250
インチ）の厚さを有するネオジム−鉄−ホウ素磁石とし
て用意してもよく、磁石カバー142 はアセタールのよう
なプラスチック材料または典型的に約1.0 ｍｍ（約0.04
0 インチ）の厚さを有する同様の材料から形成してもよ
い。
に、受け板138 、棒磁石140 および磁石カバー142 がそ
の上に配置されている、典型的に約2.2 ｍｍ（約0.090
インチ）の厚さを有するアルミニウムハウジング136 を
備えている。受け板138 は磁気ステンレス鋼から形成さ
れ、一般的に約1.5 ｍｍ（約0.060 インチ）の厚さを有
している。磁石140 は、典型的に約6.4 ｍｍ（約0.250
インチ）の厚さを有するネオジム−鉄−ホウ素磁石とし
て用意してもよく、磁石カバー142 はアセタールのよう
なプラスチック材料または典型的に約1.0 ｍｍ（約0.04
0 インチ）の厚さを有する同様の材料から形成してもよ
い。
【００７２】磁石アッセンブリ121 はベルト117 の表面
から突出している形材144 に接続されている。形材144
は図３および４に関して上述した形材88と同様であって
もよい。
から突出している形材144 に接続されている。形材144
は図３および４に関して上述した形材88と同様であって
もよい。
【００７３】磁石アッセンブリ121 は、形材144 内に設
けられたクリアランスホールを通り、アルミニウムハウ
ジング136 内に設けられたねじ孔と合わさるねじにより
形材144 に接続されていても差支えなく、もしくは、エ
ポキシまたは当業者に知られた溶接技術により形材144
に固定されていてもよい。
けられたクリアランスホールを通り、アルミニウムハウ
ジング136 内に設けられたねじ孔と合わさるねじにより
形材144 に接続されていても差支えなく、もしくは、エ
ポキシまたは当業者に知られた溶接技術により形材144
に固定されていてもよい。
【００７４】受け板138 は、各々のベルト117 に関して
復路接続アッセンブリ121 を設けることにより磁石140
により設けられた磁界の強さを増大させるように設けら
れている。受け板138 はまた磁石140 により形成された
磁界の形状を改良する。磁石140 は、磁界が、試料ラッ
ク33がその上に配置されたトレイ38の表面のまたはその
上の領域で集束するようなトレイ表面の下の距離だけ離
れて配置されている。板134 の第１の縁はトレイ表面に
対して直角であり、磁石アッセンブリ121 が試料ラック
33を引き付けられるような比較的強い磁石対を形成して
いる。板134 の第２の後方縁は、以下に記載するよう
に、傾斜した表面を有するように設けられている。
復路接続アッセンブリ121 を設けることにより磁石140
により設けられた磁界の強さを増大させるように設けら
れている。受け板138 はまた磁石140 により形成された
磁界の形状を改良する。磁石140 は、磁界が、試料ラッ
ク33がその上に配置されたトレイ38の表面のまたはその
上の領域で集束するようなトレイ表面の下の距離だけ離
れて配置されている。板134 の第１の縁はトレイ表面に
対して直角であり、磁石アッセンブリ121 が試料ラック
33を引き付けられるような比較的強い磁石対を形成して
いる。板134 の第２の後方縁は、以下に記載するよう
に、傾斜した表面を有するように設けられている。
【００７５】この実施の形態においては、トレイ38は、
典型的に約1.6 ｍｍ（約0.0625インチ）の厚さを有する
アルミニウムシートから形成されている。試料ラック33
がその上に配置されているアルミニウムシートの表面に
は、テフロン（商標）のようなポリテトラフルオロエチ
レン型のコーティングがその上に形成されて、トレイ38
の表面と試料ラック33の接触表面との間の摩擦力を減少
させている。ベルト117 は、カバー142 の上面がトレイ
表面38と接触しているかまたはその下にわずかに間隔を
おいて配置されるようなトレイ表面38の下の距離だけ間
隔がおかれて配置されている。
典型的に約1.6 ｍｍ（約0.0625インチ）の厚さを有する
アルミニウムシートから形成されている。試料ラック33
がその上に配置されているアルミニウムシートの表面に
は、テフロン（商標）のようなポリテトラフルオロエチ
レン型のコーティングがその上に形成されて、トレイ38
の表面と試料ラック33の接触表面との間の摩擦力を減少
させている。ベルト117 は、カバー142 の上面がトレイ
表面38と接触しているかまたはその下にわずかに間隔を
おいて配置されるようなトレイ表面38の下の距離だけ間
隔がおかれて配置されている。
【００７６】ここで図７を参照する。ここには、入力行
列の装填位置に試料ラック33が配置されたコンベヤ装置
110 が示されている。図７から分かるように、装填位置
は、トレイ38の肩部38c により一方の側で定義されたチ
ャンネルに対応している。装填位置ガイド150 は装填位
置の近接して配置されている。作動中において、試料ラ
ック33が入力行列の装填位置中に動かされるときに、装
填位置ガイド150 が試料ラック33の前端部に形成された
スロット152 と噛み合う。このガイド150 は、試料ラッ
ク33が装填位置内に適切に位置合わせされていることを
確実にする。
列の装填位置に試料ラック33が配置されたコンベヤ装置
110 が示されている。図７から分かるように、装填位置
は、トレイ38の肩部38c により一方の側で定義されたチ
ャンネルに対応している。装填位置ガイド150 は装填位
置の近接して配置されている。作動中において、試料ラ
ック33が入力行列の装填位置中に動かされるときに、装
填位置ガイド150 が試料ラック33の前端部に形成された
スロット152 と噛み合う。このガイド150 は、試料ラッ
ク33が装填位置内に適切に位置合わせされていることを
確実にする。
【００７７】試料ラック33が装填位置に到達すると、セ
ンサ128 が、制御器28の制御下で給送装置51を始動し、
ベルト84により形材88a および部材90（図３）を回転さ
せて、試料ラック33を処理行列上に駆動する信号を送
る。形材88a を形材88の代表とすると、典型的に約2.54
ｃｍ（約１インチ）の高さＨ、典型的に約1.9 ｃｍ（約
0.750 インチ）の幅Ｗおよび典型的に約3.2 ｍｍ（約0.
125 インチ）の厚さＴを有する形材88a を用意する。形
材88a の底縁89は、トレイ38の上面から所定の距離、典
型的に約6.4 ｍｍ（約0.25インチ）だけ間隔が置かれて
配置されている。
ンサ128 が、制御器28の制御下で給送装置51を始動し、
ベルト84により形材88a および部材90（図３）を回転さ
せて、試料ラック33を処理行列上に駆動する信号を送
る。形材88a を形材88の代表とすると、典型的に約2.54
ｃｍ（約１インチ）の高さＨ、典型的に約1.9 ｃｍ（約
0.750 インチ）の幅Ｗおよび典型的に約3.2 ｍｍ（約0.
125 インチ）の厚さＴを有する形材88a を用意する。形
材88a の底縁89は、トレイ38の上面から所定の距離、典
型的に約6.4 ｍｍ（約0.25インチ）だけ間隔が置かれて
配置されている。
【００７８】上述したように、磁石アッセンブリ121 は
ベルト117 から突出した形材144 と接続されている。磁
石アッセンブリ121 が形材88および滑車118aに近接した
トレイ38の端部に近付くときに、磁石アッセンブリ121
は滑車118aの端部を越えて延ばされて、試料ラック33が
トレイ38の装填位置に完全に動かされていることを確認
する。このように、上述したように磁石140 を形材144
に接続することにより、磁石アッセンブリ121 が、滑車
118aを回るときに、ベルト117 の端部を越えて試料ラッ
ク33を移動させる。
ベルト117 から突出した形材144 と接続されている。磁
石アッセンブリ121 が形材88および滑車118aに近接した
トレイ38の端部に近付くときに、磁石アッセンブリ121
は滑車118aの端部を越えて延ばされて、試料ラック33が
トレイ38の装填位置に完全に動かされていることを確認
する。このように、上述したように磁石140 を形材144
に接続することにより、磁石アッセンブリ121 が、滑車
118aを回るときに、ベルト117 の端部を越えて試料ラッ
ク33を移動させる。
【００７９】図７から分かるように、滑車118aまたは11
8bには、ベルト117 内の対応する凹部と噛み合い、イン
デキシングを保つ一連の歯がある。
8bには、ベルト117 内の対応する凹部と噛み合い、イン
デキシングを保つ一連の歯がある。
【００８０】図６に関して上述したように、一度試料ラ
ック33が装填位置の配置されると、滑車118 が回転し
て、ベルト117 をさらに移動させて、トレイ114 上の他
の試料ラック33を装填位置に向かって移動させる。ベル
ト117 が装填位置から後ろに離れて短く動いたときに、
装填位置まで移動すべきラインにある次の試料ラックの
下に制御器28により置かれた磁石アッセンブリ121 のう
ちの１つによりベルト117 が移動を停止し、装填位置に
ある試料ラック33が装填位置内に止まっている一方で、
他の試料ラック33がわずかに移動して離れ、装填位置で
滞るのを防いでいる。
ック33が装填位置の配置されると、滑車118 が回転し
て、ベルト117 をさらに移動させて、トレイ114 上の他
の試料ラック33を装填位置に向かって移動させる。ベル
ト117 が装填位置から後ろに離れて短く動いたときに、
装填位置まで移動すべきラインにある次の試料ラックの
下に制御器28により置かれた磁石アッセンブリ121 のう
ちの１つによりベルト117 が移動を停止し、装填位置に
ある試料ラック33が装填位置内に止まっている一方で、
他の試料ラック33がわずかに移動して離れ、装填位置で
滞るのを防いでいる。
【００８１】ここで図８および９を参照する。底面図に
おいて、間隔が離れておかれ、トレイ114 の対向する端
部に配置された１組の同じステンレス鋼の軸162,164 を
備えた駆動アッセンブリ116 が示されている。軸164 を
代表とすると、軸164 の各々の端部が、トレイ114 の下
に延びる取付板167a,167b のそれぞれの端部に示したよ
うに取り付けられたボールベアリングアッセンブリ166
に接続されている。このボールベアリングアッセンブリ
166 により、軸162,164 が取付板167 に対して回転でき
る。各々の軸162,164 には、組になった駆動滑車118a,1
18b がその上に取付けられている。１つのベルト滑車11
8bの近くには、駆動ギヤ123 が配置されている。図９に
おいて、別の駆動滑車176 が、軸164 に接続され、軸18
2 、滑車181 およびベルト180 を介して駆動モータ177
により駆動されている。
おいて、間隔が離れておかれ、トレイ114 の対向する端
部に配置された１組の同じステンレス鋼の軸162,164 を
備えた駆動アッセンブリ116 が示されている。軸164 を
代表とすると、軸164 の各々の端部が、トレイ114 の下
に延びる取付板167a,167b のそれぞれの端部に示したよ
うに取り付けられたボールベアリングアッセンブリ166
に接続されている。このボールベアリングアッセンブリ
166 により、軸162,164 が取付板167 に対して回転でき
る。各々の軸162,164 には、組になった駆動滑車118a,1
18b がその上に取付けられている。１つのベルト滑車11
8bの近くには、駆動ギヤ123 が配置されている。図９に
おいて、別の駆動滑車176 が、軸164 に接続され、軸18
2 、滑車181 およびベルト180 を介して駆動モータ177
により駆動されている。
【００８２】図９から明らかに分かるように、駆動軸16
2 はここでは、肩領域196 およびロッキングカラー198
の組合せにより互いに保持された１組の軸192,194 から
形成されている。軸162,164 を多くの別々の片から形成
することにより、軸162,164を容易に組み立て、修理と
交換のために容易にアクセスできるように容易に分解で
きる。
2 はここでは、肩領域196 およびロッキングカラー198
の組合せにより互いに保持された１組の軸192,194 から
形成されている。軸162,164 を多くの別々の片から形成
することにより、軸162,164を容易に組み立て、修理と
交換のために容易にアクセスできるように容易に分解で
きる。
【００８３】図９から明らかに分かるように、入力行列
後縁ガイド44、装填ガイド89、および出力行列後縁ガイ
ド99がトレイ114 上に配置されている。
後縁ガイド44、装填ガイド89、および出力行列後縁ガイ
ド99がトレイ114 上に配置されている。
【００８４】ここで図１０−１７を参照する。ラック33
に相当する試料ラック200 には、第１と第２の対向端20
0a,200b 、上面200c、底面200d（図１４）および１組の
対向側面200e,200f （図１６）がある。必要に応じて、
反射部材201 が表面200e上に配置されている。反射部材
201 は、光を反射して、光学センサ128 （図５）を始動
させる。このように、反射部材を、センサ128 を始動さ
せるように位置合わせされた表面200eのどの部分に沿っ
ても配置しても差支えない。あるいは、好ましくは、部
材201 を省いて（図１１）、表面200eが反射性材料から
作成されているか、または、そこに入射した光を反射し
てセンサ128 を始動させるように研磨されている。
に相当する試料ラック200 には、第１と第２の対向端20
0a,200b 、上面200c、底面200d（図１４）および１組の
対向側面200e,200f （図１６）がある。必要に応じて、
反射部材201 が表面200e上に配置されている。反射部材
201 は、光を反射して、光学センサ128 （図５）を始動
させる。このように、反射部材を、センサ128 を始動さ
せるように位置合わせされた表面200eのどの部分に沿っ
ても配置しても差支えない。あるいは、好ましくは、部
材201 を省いて（図１１）、表面200eが反射性材料から
作成されているか、または、そこに入射した光を反射し
てセンサ128 を始動させるように研磨されている。
【００８５】複数の開口部202a-202e がラック200 の上
面200eに形成されている。典型的な場合には、５つの開
口部がある。開口部202a-202e は、試料含有容器を受け
入れるように選択された形状を有するように設けられて
いる。この特定の実施の形態において、開口部202 は、
所定のサイズの試験管を収容するように選択された円形
を有するように設けられている。各々の開口部202a-202
e には、試料ラック200 の側面200eに対応するスロット
204a-204e が形成されている。
面200eに形成されている。典型的な場合には、５つの開
口部がある。開口部202a-202e は、試料含有容器を受け
入れるように選択された形状を有するように設けられて
いる。この特定の実施の形態において、開口部202 は、
所定のサイズの試験管を収容するように選択された円形
を有するように設けられている。各々の開口部202a-202
e には、試料ラック200 の側面200eに対応するスロット
204a-204e が形成されている。
【００８６】スロット204a-204e は、それぞれの開口部
200a-200e の上部から試料ラック200 の底面200dに向か
って延びている。開口部202a-202e 各々の内部にはフィ
ンガースプリング206a-206e が配置されている。ここで
は、開口部202 は、典型的に約4.3 ｃｍ（約1.7 イン
チ）の長さおよび典型的に約1.7 ｃｍ（約0.675 イン
チ）の直径を有するように形成されている。スプリング
206 は、典型的に約3.8 ｃｍ（約1.5 インチ）の長さお
よび典型的に約8.0 ｍｍ（約0.313 インチ）の幅を有す
るように形成され、スロットは典型的に約8.8 ｍｍ（約
0.345 インチ）の幅を有するように形成されている。ス
ロット壁205 （図１１）は、典型的に約２．０ｍｍ（約
０．０８インチ）の厚さを有するように形成され、スプ
リング206 とともに、３点で接触して（スプリング206
の中央部とスロット204 の縁の間の２つの線および
点）、様々なサイズの試験管を試料ラック200 の開口部
202 内に固定する。
200a-200e の上部から試料ラック200 の底面200dに向か
って延びている。開口部202a-202e 各々の内部にはフィ
ンガースプリング206a-206e が配置されている。ここで
は、開口部202 は、典型的に約4.3 ｃｍ（約1.7 イン
チ）の長さおよび典型的に約1.7 ｃｍ（約0.675 イン
チ）の直径を有するように形成されている。スプリング
206 は、典型的に約3.8 ｃｍ（約1.5 インチ）の長さお
よび典型的に約8.0 ｍｍ（約0.313 インチ）の幅を有す
るように形成され、スロットは典型的に約8.8 ｍｍ（約
0.345 インチ）の幅を有するように形成されている。ス
ロット壁205 （図１１）は、典型的に約２．０ｍｍ（約
０．０８インチ）の厚さを有するように形成され、スプ
リング206 とともに、３点で接触して（スプリング206
の中央部とスロット204 の縁の間の２つの線および
点）、様々なサイズの試験管を試料ラック200 の開口部
202 内に固定する。
【００８７】図１８Ａ−Ｃは、スプリング206 の、検査
試料容器34を保持するときの取付けおよび使用中の圧縮
を示す試料ラック33のスロット204 の中間から下の断面
図である。各々のスロット204 の後方には、それぞれ、
上部と底部に縁がついたスプリング保持溝203 および20
5 がある。これらの溝は、２つの溝203 および205 を構
成するスロット204 の各々の側に形成されたリッジ207
により形成されている。スプリング206 には、溝203 お
よび205 の先端を越えて滑らせることによりラック内に
スプリングを維持するのに役立つ巻かれた端部208 があ
る。スプリング206 の圧力が加えられていない通常の位
置が図１８Ａに示されている。このスプリングが取付け
中に延ばされて、下側の巻かれた端部208 が溝205 に入
るまで、底側端部208 が溝205 に達することができな
い。図１８Ｃに示したように試験管を挿入する際には、
力211 の下でスプリング206 にさらに圧力が加えられ
て、底側端部208 を溝205 のスラック収容延長部213 に
下方に延ばす。試験管を取り出した際には、スプリング
206 が図１８Ｂの状態に戻る。
試料容器34を保持するときの取付けおよび使用中の圧縮
を示す試料ラック33のスロット204 の中間から下の断面
図である。各々のスロット204 の後方には、それぞれ、
上部と底部に縁がついたスプリング保持溝203 および20
5 がある。これらの溝は、２つの溝203 および205 を構
成するスロット204 の各々の側に形成されたリッジ207
により形成されている。スプリング206 には、溝203 お
よび205 の先端を越えて滑らせることによりラック内に
スプリングを維持するのに役立つ巻かれた端部208 があ
る。スプリング206 の圧力が加えられていない通常の位
置が図１８Ａに示されている。このスプリングが取付け
中に延ばされて、下側の巻かれた端部208 が溝205 に入
るまで、底側端部208 が溝205 に達することができな
い。図１８Ｃに示したように試験管を挿入する際には、
力211 の下でスプリング206 にさらに圧力が加えられ
て、底側端部208 を溝205 のスラック収容延長部213 に
下方に延ばす。試験管を取り出した際には、スプリング
206 が図１８Ｂの状態に戻る。
【００８８】試験管214 にはバーコードラベル216 が貼
り付けられている。バーコードラベルが貼り付けられて
いる試験管の一部が、スロット204aを通して露出され、
したがって、読取器83に見えるようになっている。
り付けられている。バーコードラベルが貼り付けられて
いる試験管の一部が、スロット204aを通して露出され、
したがって、読取器83に見えるようになっている。
【００８９】試料ラックは所定の範囲の直径を有する試
験管を保持できるが、この範囲内において、同一の試料
ラック内には同様の直径を有する試験管を配置すること
が好ましい。このように、以下に記載するように、各々
の試料ラックは10.25 ｍｍ−16.5ｍｍの範囲の直径を有
する試験管を保持できるが、特定の範囲内の直径を有す
る試験管を保持する特定のラックを選定することが望ま
しい。
験管を保持できるが、この範囲内において、同一の試料
ラック内には同様の直径を有する試験管を配置すること
が好ましい。このように、以下に記載するように、各々
の試料ラックは10.25 ｍｍ−16.5ｍｍの範囲の直径を有
する試験管を保持できるが、特定の範囲内の直径を有す
る試験管を保持する特定のラックを選定することが望ま
しい。
【００９０】この特定の実施の形態においては、開口部
202a-202e が円形の断面形状を有するように形成されて
いるが、他の断面形状を用いてもよい。例えば、開口部
を、長方形、正方形、三角形または他の断面形状を有す
るように形成してもよい。また、開口部をテーパー状の
壁を有するように形成して、より容易に円錐型容器を保
持するようにしてもよい。中に配置する試料含有容器を
容易に試料ラック200内に配置したりそこから取り出し
たりできるように開口部の特定の形状を選択すべきであ
る。さらに、開口部202a-202e 全てが同一の形状を有す
る必要はない。開口部の大きさおよび形状にかかわら
ず、上述したスプリングの形状を用いて、その中に試料
含有容器を固定し、しっかりと保持することができる。
202a-202e が円形の断面形状を有するように形成されて
いるが、他の断面形状を用いてもよい。例えば、開口部
を、長方形、正方形、三角形または他の断面形状を有す
るように形成してもよい。また、開口部をテーパー状の
壁を有するように形成して、より容易に円錐型容器を保
持するようにしてもよい。中に配置する試料含有容器を
容易に試料ラック200内に配置したりそこから取り出し
たりできるように開口部の特定の形状を選択すべきであ
る。さらに、開口部202a-202e 全てが同一の形状を有す
る必要はない。開口部の大きさおよび形状にかかわら
ず、上述したスプリングの形状を用いて、その中に試料
含有容器を固定し、しっかりと保持することができる。
【００９１】再度図１０−１７を参照する。試料ラック
の前端にはその中に装填スロット152 が形成されてい
る。装填スロット152 が装填ガイド150 を受け入れて、
入力行列の装填位置内に試料ラック200 を適切に位置合
わせする（図７および９）。
の前端にはその中に装填スロット152 が形成されてい
る。装填スロット152 が装填ガイド150 を受け入れて、
入力行列の装填位置内に試料ラック200 を適切に位置合
わせする（図７および９）。
【００９２】同様に、試料ラック200 の後端には、入力
行列縁ガイド48と合わさり（図２、３）、行列縁ガイド
99から出る（図２、３）開口部がある。開口部46には、
入力行列上に試料ラック200 を配置するのに役立ち、ラ
ック200 が入力行列の上で傾いたり、滑るのを防ぐ入力
行列ガイド48上の対応する形状と噛み合う凸部222 があ
る。
行列縁ガイド48と合わさり（図２、３）、行列縁ガイド
99から出る（図２、３）開口部がある。開口部46には、
入力行列上に試料ラック200 を配置するのに役立ち、ラ
ック200 が入力行列の上で傾いたり、滑るのを防ぐ入力
行列ガイド48上の対応する形状と噛み合う凸部222 があ
る。
【００９３】しかしながら、図９に関して上述したよう
に、後縁ガイド99はＬ型部材として設けられている。し
たがって、このガイド99は、ラックを出力行列から容易
に取り出せるように開口部46の前部分46a のみと合わさ
る。
に、後縁ガイド99はＬ型部材として設けられている。し
たがって、このガイド99は、ラックを出力行列から容易
に取り出せるように開口部46の前部分46a のみと合わさ
る。
【００９４】試料ラック200 には、使用者が試料ラック
200 を運ぶのに使用するハンドル224 もある。ハンドル
の上部の角度のついた部分には、凹部226 が形成され
て、使用者にとって掴みやすい人間工学デザインとなっ
ている。
200 を運ぶのに使用するハンドル224 もある。ハンドル
の上部の角度のついた部分には、凹部226 が形成され
て、使用者にとって掴みやすい人間工学デザインとなっ
ている。
【００９５】ハンドル224 にも、垂直なバーコードラベ
ル229 を取り付けてもよい側面228がある。垂直バーコ
ードラベル229 には複数のバーコードが配置されてい
る。バーコードにより、試料ラック200 内に収容されて
いる試験管のサイズ（例えば、直径範囲）を認識する。
スライディングクリップ233 が試料ラック200 のハンド
ル224 の周りに配置されており、使用者がこのクリップ
233 を適切に移動して、試料ラック200 内に実際に配置
された試験管のサイズを認識する。さらなるバーコード
領域230 により試料ラックの連続番号を認識する。この
ように、各々個々の試料ラックには、特有の認識番号が
付けられている。
ル229 を取り付けてもよい側面228がある。垂直バーコ
ードラベル229 には複数のバーコードが配置されてい
る。バーコードにより、試料ラック200 内に収容されて
いる試験管のサイズ（例えば、直径範囲）を認識する。
スライディングクリップ233 が試料ラック200 のハンド
ル224 の周りに配置されており、使用者がこのクリップ
233 を適切に移動して、試料ラック200 内に実際に配置
された試験管のサイズを認識する。さらなるバーコード
領域230 により試料ラックの連続番号を認識する。この
ように、各々個々の試料ラックには、特有の認識番号が
付けられている。
【００９６】作動中に、試料ラック200 が入力行列から
処理行列に動かされた場合にはバーコード読取器が、ス
ライディングクリップ233 により遮断されていないかま
たは強調されているラベル229 上のバーコードを読み取
る。このように、バーコード読取器により、試料ラック
200 内に配置された試験管の種類（すなわち、サイズ）
を認識できる。上述したように、試料ラック200 は異な
る直径および形状を有する試験管を保持することができ
る。しかしながら、試料プローブでの試験管の開口部と
の位置合せを改良するために、システム制御器が好まし
くは試験管の種類を認識している。
処理行列に動かされた場合にはバーコード読取器が、ス
ライディングクリップ233 により遮断されていないかま
たは強調されているラベル229 上のバーコードを読み取
る。このように、バーコード読取器により、試料ラック
200 内に配置された試験管の種類（すなわち、サイズ）
を認識できる。上述したように、試料ラック200 は異な
る直径および形状を有する試験管を保持することができ
る。しかしながら、試料プローブでの試験管の開口部と
の位置合せを改良するために、システム制御器が好まし
くは試験管の種類を認識している。
【００９７】ハンドル224 を含む試料ラック200 全体
を、射出成形技術により１つの部品として設けてもよ
い。あるいは、試料ラック200 の試験管保持部分および
ハンドル224 を別々の部品として用意し、ねじ、エポキ
シ、または当業者によく知られた他の固定技術により互
いに合わせてもよい。図１１に示したように、孔231a,2
31b 内の１組のねじ、例えば、ねじ231c（図示せず）に
よりハンドル224 を試料ラック200 のベース部分に固定
してもよい。
を、射出成形技術により１つの部品として設けてもよ
い。あるいは、試料ラック200 の試験管保持部分および
ハンドル224 を別々の部品として用意し、ねじ、エポキ
シ、または当業者によく知られた他の固定技術により互
いに合わせてもよい。図１１に示したように、孔231a,2
31b 内の１組のねじ、例えば、ねじ231c（図示せず）に
よりハンドル224 を試料ラック200 のベース部分に固定
してもよい。
【００９８】図１２から明らかに分かるように、孔202
の各々には、必要に応じて、その底部にスロット225 を
形成してもよく、孔202 内に試験管を安定化してもよ
い。
の各々には、必要に応じて、その底部にスロット225 を
形成してもよく、孔202 内に試験管を安定化してもよ
い。
【００９９】試料ラック200 の底面には、入力および出
力行列のガイド42,80 （図２）と合わさり、これらを収
容する溝234 が形成されている。
力行列のガイド42,80 （図２）と合わさり、これらを収
容する溝234 が形成されている。
【０１００】試料ラック200 の底面には、１組の長方形
のキャビティ240 （図１３）も形成されている。磁気的
吸引性部材244 （図１５）がキャビティ240 の各々の内
部に配置されている。この磁気的吸引性部材は、試料ラ
ックの底面に成形してもよい。同様に、カバー246 を部
材244 の上の試料ラックに固定してもよい。この部材
は、試料ラック200 の緯度の中心線245 の周りに対称的
に配置されている。
のキャビティ240 （図１３）も形成されている。磁気的
吸引性部材244 （図１５）がキャビティ240 の各々の内
部に配置されている。この磁気的吸引性部材は、試料ラ
ックの底面に成形してもよい。同様に、カバー246 を部
材244 の上の試料ラックに固定してもよい。この部材
は、試料ラック200 の緯度の中心線245 の周りに対称的
に配置されている。
【０１０１】この特定の実施の形態において、磁気的吸
引性部材244 の各々は、略長方形の磁気的吸引性ステン
レス鋼板として設けてもよい。図１５から明らかに分か
るように、底面の第１の部分244cが試料ラック200 の底
面からわずかに窪んでいる（または実質的に位置合せさ
れている）。板244 の第２の部分244bは上述したように
ラック200 の本体中に傾いている。
引性部材244 の各々は、略長方形の磁気的吸引性ステン
レス鋼板として設けてもよい。図１５から明らかに分か
るように、底面の第１の部分244cが試料ラック200 の底
面からわずかに窪んでいる（または実質的に位置合せさ
れている）。板244 の第２の部分244bは上述したように
ラック200 の本体中に傾いている。
【０１０２】図６に関して記載したように、作動中に、
磁石アッセンブリ121 が、磁石が最初に部材244 の傾い
た第２の部分244bを引き付けるような方向から試料ラッ
クに近付く。このように、磁石アッセンブリ121 （図
６）により生じた磁界の力が徐々に部材244 に導入され
る。
磁石アッセンブリ121 が、磁石が最初に部材244 の傾い
た第２の部分244bを引き付けるような方向から試料ラッ
クに近付く。このように、磁石アッセンブリ121 （図
６）により生じた磁界の力が徐々に部材244 に導入され
る。
【０１０３】１組のカバー246 が開口部240 の上に配置
されている。これらカバー246 は、開口部240 に近接し
て形成された溝247 （図１５）中にはまる。カバー246
は、開口部240 中のスナップフィットを形成してラック
200 内の板244 を固定する一方で、部材244 の少なくと
も一部を露出したままにする（図１４）ようなサイズお
よび形状を有するように選択される。
されている。これらカバー246 は、開口部240 に近接し
て形成された溝247 （図１５）中にはまる。カバー246
は、開口部240 中のスナップフィットを形成してラック
200 内の板244 を固定する一方で、部材244 の少なくと
も一部を露出したままにする（図１４）ようなサイズお
よび形状を有するように選択される。
【０１０４】この特定の実施の形態において、試料ラッ
ク部材244 は、試料ラック200 が図８のコンベヤ装置の
ようなコンベヤ装置のトレイ上に配置されたときに、ベ
ルト170a,170b （図８）に接続された磁石アッセンブリ
173 （図８）が部材244 の下を直接通過するように、試
料ラック200 の底面に間隔がおかれて配置されている。
ク部材244 は、試料ラック200 が図８のコンベヤ装置の
ようなコンベヤ装置のトレイ上に配置されたときに、ベ
ルト170a,170b （図８）に接続された磁石アッセンブリ
173 （図８）が部材244 の下を直接通過するように、試
料ラック200 の底面に間隔がおかれて配置されている。
【０１０５】試料ラック200 の底面からは、１組の凸部
またはレール250,252 が突出している。レール250,252
は、行列表面から部材244 とともに試料ラックの底面
を、そして試料ラックが配置されている表面から部材24
4 を離している。このように、レール250,252 は、ラッ
ク200 が配置されているトレイ114 （図５、６）の表面
と接触する試料ラック200 の表面積を減少させている。
その結果、試料ラック200 とトレイ38との間の摩擦力が
減少している。これにより、試料ラック200 をトレイ38
に沿って動かすのに必要とされる磁力が小さてすむ。
またはレール250,252 が突出している。レール250,252
は、行列表面から部材244 とともに試料ラックの底面
を、そして試料ラックが配置されている表面から部材24
4 を離している。このように、レール250,252 は、ラッ
ク200 が配置されているトレイ114 （図５、６）の表面
と接触する試料ラック200 の表面積を減少させている。
その結果、試料ラック200 とトレイ38との間の摩擦力が
減少している。これにより、試料ラック200 をトレイ38
に沿って動かすのに必要とされる磁力が小さてすむ。
【０１０６】本発明の好ましい実施の形態を記載してき
たが、本発明の概念を伴う他の実施の形態を用いてもよ
い。
たが、本発明の概念を伴う他の実施の形態を用いてもよ
い。
【０１０７】例えば、駆動装置に、１つのベルトおよび
それに結合した磁石を設けても差支えない。ベルトおよ
び磁石は好ましくは、移送トレイの中央縦軸に沿って配
置される。そのような場合、試料ラックには、試料ラッ
クの中心に配置され、試料ラックが移送トレイ上に配置
されたときに１つのベルトおよび磁石と位置合せされて
いる１つの磁気的吸引性領域がある。この場合には、試
料ラックが、１つの磁石が結合される地点の周りに旋回
しないように間隔の置かれたガイドによりそこから突出
した１組のガイドを有するトレイを提供することが好ま
しい場合もある。
それに結合した磁石を設けても差支えない。ベルトおよ
び磁石は好ましくは、移送トレイの中央縦軸に沿って配
置される。そのような場合、試料ラックには、試料ラッ
クの中心に配置され、試料ラックが移送トレイ上に配置
されたときに１つのベルトおよび磁石と位置合せされて
いる１つの磁気的吸引性領域がある。この場合には、試
料ラックが、１つの磁石が結合される地点の周りに旋回
しないように間隔の置かれたガイドによりそこから突出
した１組のガイドを有するトレイを提供することが好ま
しい場合もある。
【０１０８】さらに、試料ラックの底面に曲部を有する
部材244 用の板を設けずに、各々の端部に異なる厚さを
有する板を設けても差支えない。例えば、板の第１の端
部が比較的薄く、板の第２の端部が比較的厚くても差支
えない。駆動装置に接続された磁石は最初に、板の薄い
端部と出会う。この結果、比較的弱く磁気的に接続され
る。次いで、磁石が比較的強い力で板の厚い端部と噛み
合う。この配列により、試料ラックは静止状態から移動
状態に滑らかに移行する。
部材244 用の板を設けずに、各々の端部に異なる厚さを
有する板を設けても差支えない。例えば、板の第１の端
部が比較的薄く、板の第２の端部が比較的厚くても差支
えない。駆動装置に接続された磁石は最初に、板の薄い
端部と出会う。この結果、比較的弱く磁気的に接続され
る。次いで、磁石が比較的強い力で板の厚い端部と噛み
合う。この配列により、試料ラックは静止状態から移動
状態に滑らかに移行する。
【０１０９】これらの実施の形態は、開示された実施の
形態に限定されるものではなく、請求項の精神および範
囲のみに限定されるものである。
形態に限定されるものではなく、請求項の精神および範
囲のみに限定されるものである。
【図１】自動分析装置のブロック図
【図２】入力行列、処理行列および出力行列を有する本
発明による試料移送装置の１つの実施の形態を示す斜視
図
発明による試料移送装置の１つの実施の形態を示す斜視
図
【図３】試料移送装置の上面図
【図３Ａ】試料移送装置の一部の斜視図
【図４】試料移送装置の斜視図
【図５】試料移送装置の一部の側面図
【図５Ａ】試料移送装置の一部の詳細を示す斜視図
【図５Ｂ】試料移送装置の一部の詳細を示す上面図
【図６】試料ラックおよび磁石アッセンブリの断面図
【図７】試料移送装置の一部の側面図
【図８】駆動装置の底面図
【図９】別の駆動装置の端面図
【図１０】試料ラックの斜視図
【図１１】別の試料ラックの斜視図
【図１２】試料ラックの上面図
【図１３】試料ラックの側面図
【図１４】試料ラックの底面図
【図１５】磁気試料ラックの一部の断面図
【図１６】試料ラックの側面図
【図１７】試料ラック端面図
【図１８Ａ】スプリングの取付けおよび圧縮を示す試料
ラックスロットの断面図
ラックスロットの断面図
【図１８Ｂ】スプリングの取付けおよび圧縮を示す試料
ラックスロットの断面図
ラックスロットの断面図
【図１８Ｃ】スプリングの取付けおよび圧縮を示す試料
ラックスロットの断面図
ラックスロットの断面図
10 自動分析装置 12 計測器 14、110 移送装置 16 入力行列 18 処理行列 20 出力行列 22 装填位置 24、51 給送装置 26 バーコード読取器 28 システム制御器 30 排出装置 32、50、136 ハウジング 33、200 試料ラック 34、130 試験管 38、78、114 トレイ 39、224 ハンドル 42、44、80、150 ガイド 46、64、204 スロット 52 運搬部材 53、116 駆動装置 54 支持ブロック 58 スライド 60 処理トレイ 62 プローブチップトレイ 72 プッシャ 74 プッシュロッド 83 バーコード読取器 84、117 ベルト 86、118 、129 、176 滑車 88、144 形材 98、124 、128 センサ 119 駆動モータ 121 磁石アッセンブリ 144 磁石 177 モータ 206 スプリング 229 ラベル 233 クリップ 250 、252 レール
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成８年１０月１８日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正内容】
【書類名】 明細書
【発明の名称】 移送装置およびそれを用いた分析
装置
装置
【特許請求の範囲】
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、分析装置、さらに
詳しくは、分析装置内に検査試料を出入れする装置に関
するものである。
詳しくは、分析装置内に検査試料を出入れする装置に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】この業界で知られているように、病院、
診療所、研究所、並びに、血液、脊髄液、尿、血清、血
漿等の患者の検体試料を検査（アッセイ）する他の場所
においては自動分析装置を用いる傾向がある。このよう
な試料は、一般的に、試料カップ、試験管、キュベット
または他の適した容器等の容器内に入れられている。こ
のような容器１つ以上は、いわゆる試料ラック内に配列
されていてもよい。
診療所、研究所、並びに、血液、脊髄液、尿、血清、血
漿等の患者の検体試料を検査（アッセイ）する他の場所
においては自動分析装置を用いる傾向がある。このよう
な試料は、一般的に、試料カップ、試験管、キュベット
または他の適した容器等の容器内に入れられている。こ
のような容器１つ以上は、いわゆる試料ラック内に配列
されていてもよい。
【０００３】この試料ラックは、分析装置の装填区域内
または入力行列内に配置され、試料の少なくとも一部が
分析装置内での検査のために採集される位置まで動かさ
れる。分析装置内での検査のために試料が採集された
後、試料ラックは、使用者が分析装置からこの試料ラッ
クを取り出せる出力行列または出口行列まで動かされ
る。このように、使用者は、装填区域内で検査すべき１
つ以上の試料を保持する試料ラックを物理的に配置で
き、試料が採集された後に、使用者が試料ラックを出力
行列から取り出すことができる。したがって、分析装置
の入力行列および出力行列は一般的に使用者に露出され
ている。
または入力行列内に配置され、試料の少なくとも一部が
分析装置内での検査のために採集される位置まで動かさ
れる。分析装置内での検査のために試料が採集された
後、試料ラックは、使用者が分析装置からこの試料ラッ
クを取り出せる出力行列または出口行列まで動かされ
る。このように、使用者は、装填区域内で検査すべき１
つ以上の試料を保持する試料ラックを物理的に配置で
き、試料が採集された後に、使用者が試料ラックを出力
行列から取り出すことができる。したがって、分析装置
の入力行列および出力行列は一般的に使用者に露出され
ている。
【０００４】典型的な分析装置において、機械的プッシ
ャまたはコンベヤ機構を用いて、入力行列および出力行
列に沿って試料ラックを動かしている。機械的プッシャ
手法において、プッシャ装置が、試料ラックがその上に
配置されているトレイ上に位置している。モータにより
駆動される親ねじまたはスプリング駆動プッシュブロッ
クがトレイの表面に沿って試料ラックを押している。
ャまたはコンベヤ機構を用いて、入力行列および出力行
列に沿って試料ラックを動かしている。機械的プッシャ
手法において、プッシャ装置が、試料ラックがその上に
配置されているトレイ上に位置している。モータにより
駆動される親ねじまたはスプリング駆動プッシュブロッ
クがトレイの表面に沿って試料ラックを押している。
【０００５】使用者の相互作用の影響が大きい入力およ
び出力行列内にそのような機械的プッシャを用いる場合
には、一般的に特別な注意を払って操作を確実に安全に
しなければならない。例えば、安全シールドおよび安全
ガイドを一般的に用いて機械的プッシャを覆うことによ
り、そうしなければ使用者に露出される移動部品により
使用者が傷付くのを防いでいる。このような保護措置に
より、機械的プッシャには追加の部品が必要となり、こ
のためにこのプッシャの設計が比較的複雑になってしま
う。
び出力行列内にそのような機械的プッシャを用いる場合
には、一般的に特別な注意を払って操作を確実に安全に
しなければならない。例えば、安全シールドおよび安全
ガイドを一般的に用いて機械的プッシャを覆うことによ
り、そうしなければ使用者に露出される移動部品により
使用者が傷付くのを防いでいる。このような保護措置に
より、機械的プッシャには追加の部品が必要となり、こ
のためにこのプッシャの設計が比較的複雑になってしま
う。
【０００６】さらに、入力および出力行列では一般的に
流体試料がこぼれやすいので、これらの行列を容易に洗
浄することが重要である。しかしながら、上述した安全
保護措置により、使用者がトレイにアクセスしずらくな
ってしまう。さらに、移動した機械により使用者が傷付
けられてしまう可能性のために、プッシャ装置の稼働中
に使用者がトレイを洗浄することは望ましくない。した
がって、好ましくはプッシャ装置を停止させて、プッシ
ャ機構に近接した領域にある入力および出力行列を使用
者が洗浄する。このことは通常、装置の稼働を遅くする
かまたは停止させてしまう。
流体試料がこぼれやすいので、これらの行列を容易に洗
浄することが重要である。しかしながら、上述した安全
保護措置により、使用者がトレイにアクセスしずらくな
ってしまう。さらに、移動した機械により使用者が傷付
けられてしまう可能性のために、プッシャ装置の稼働中
に使用者がトレイを洗浄することは望ましくない。した
がって、好ましくはプッシャ装置を停止させて、プッシ
ャ機構に近接した領域にある入力および出力行列を使用
者が洗浄する。このことは通常、装置の稼働を遅くする
かまたは停止させてしまう。
【０００７】さらに、試料ラックがその上に配置される
入力および出力トレイの表面に開口部があると、移送装
置または分析装置の内部に流体がこぼれてしまうかもし
れない。そのような内部区域は一般的に容易にアクセス
できず、そのような区域が流体により汚された場合、洗
浄工程に複雑な操作が必要となる。
入力および出力トレイの表面に開口部があると、移送装
置または分析装置の内部に流体がこぼれてしまうかもし
れない。そのような内部区域は一般的に容易にアクセス
できず、そのような区域が流体により汚された場合、洗
浄工程に複雑な操作が必要となる。
【０００８】コンベヤ型の機構にも同様の問題がある。
コンベヤの手法において、試料ラックが、２つ以上のホ
イールまたは滑車の周りに連続的に動くベルト上に配置
されている。移動しているベルト上に流体試料がこぼれ
た場合、このベルトが流体をコンベヤ装置の内部区域に
運搬し、それによっておそらく、コンベヤ装置または分
析装置の内部を汚してしまう。
コンベヤの手法において、試料ラックが、２つ以上のホ
イールまたは滑車の周りに連続的に動くベルト上に配置
されている。移動しているベルト上に流体試料がこぼれ
た場合、このベルトが流体をコンベヤ装置の内部区域に
運搬し、それによっておそらく、コンベヤ装置または分
析装置の内部を汚してしまう。
【０００９】このコンベヤ手法におけるさらなる問題
は、試料ラックが、入力行列または出力行列のいずれか
の端部まで移動して、ラックの停止地点に停止するよう
になることである。しかしながら、コンベヤベルトは、
行列の端部にある所定の位置に集まり停止するラックの
下で滑り続けなければならない。このために、ベルト、
並びに行列の端部に静止している試料ラックの底面が著
しく摩耗してしまうかもしれない。
は、試料ラックが、入力行列または出力行列のいずれか
の端部まで移動して、ラックの停止地点に停止するよう
になることである。しかしながら、コンベヤベルトは、
行列の端部にある所定の位置に集まり停止するラックの
下で滑り続けなければならない。このために、ベルト、
並びに行列の端部に静止している試料ラックの底面が著
しく摩耗してしまうかもしれない。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】したがって、使用者が
傷付く可能性を最小にする一方で、移送トレイに沿って
試料ラックを動かし、入力および出力行列において使用
者が検査試料に容易にアクセスできるようにし、入力お
よび出力行列を容易に洗浄できるようにした試料移送装
置を提供することが望まれている。本発明の目的はその
ような装置を提供することにある。
傷付く可能性を最小にする一方で、移送トレイに沿って
試料ラックを動かし、入力および出力行列において使用
者が検査試料に容易にアクセスできるようにし、入力お
よび出力行列を容易に洗浄できるようにした試料移送装
置を提供することが望まれている。本発明の目的はその
ような装置を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は、磁気的吸引性
領域を有する試料ラックを移動させる移送装置であっ
て、駆動装置と、駆動装置に接続されこの駆動装置に応
答して移動可能な磁石と、試料ラックを受け入れるよう
に適用された第１の表面を有するトレイとからなり、ト
レイの第１の表面が、磁石により加えられる磁力がトレ
イの第１の表面に存在するように、磁石の第１の表面の
上に配置されてそこから所定の距離だけ離れている移送
装置を提供する。この特定の配列に関して、本発明は磁
気コンベヤ装置を提供する。駆動装置上にトレイを配置
することにより、駆動機構が完全に使用者から隔離さ
れ、したがって、安全上の問題が最小になる。さらに、
試料ラックが駆動装置に磁気的に接続されているので、
トレイの表面には、スロットまたは特定のインデキシン
グ領域を移動させたり備えたりする必要がない。流体が
こぼれた場合でも、流体により移送装置および分析装置
の内部領域が汚されるのを防がれる。さらに、洗浄が容
易な材料からトレイを作成してもよく、それにより、ト
レイを洗浄しやすくすることができる。例えば、トレイ
を、表面にテフロンコーティングを有するアルミニウム
から製造してもよい。また、駆動装置を完全に囲み、さ
らに駆動装置をこぼれた試料や他の汚れから保護するカ
バーにこのトレイを接続しても差支えない。さらに、ラ
ックがその上に配置されるトレイ表面は静止しており、
したがって、静止した試料ラックの底面にある移動ベル
トの一定の摩擦による試料ラックの過剰な摩耗を生じる
ことがない。その上、使用者にさらされる移動部品がな
く、したがって、この移送装置により、分析装置の入力
行列のようなアクセスがたやすい区域における使用者の
安全上の問題が最小となる。
領域を有する試料ラックを移動させる移送装置であっ
て、駆動装置と、駆動装置に接続されこの駆動装置に応
答して移動可能な磁石と、試料ラックを受け入れるよう
に適用された第１の表面を有するトレイとからなり、ト
レイの第１の表面が、磁石により加えられる磁力がトレ
イの第１の表面に存在するように、磁石の第１の表面の
上に配置されてそこから所定の距離だけ離れている移送
装置を提供する。この特定の配列に関して、本発明は磁
気コンベヤ装置を提供する。駆動装置上にトレイを配置
することにより、駆動機構が完全に使用者から隔離さ
れ、したがって、安全上の問題が最小になる。さらに、
試料ラックが駆動装置に磁気的に接続されているので、
トレイの表面には、スロットまたは特定のインデキシン
グ領域を移動させたり備えたりする必要がない。流体が
こぼれた場合でも、流体により移送装置および分析装置
の内部領域が汚されるのを防がれる。さらに、洗浄が容
易な材料からトレイを作成してもよく、それにより、ト
レイを洗浄しやすくすることができる。例えば、トレイ
を、表面にテフロンコーティングを有するアルミニウム
から製造してもよい。また、駆動装置を完全に囲み、さ
らに駆動装置をこぼれた試料や他の汚れから保護するカ
バーにこのトレイを接続しても差支えない。さらに、ラ
ックがその上に配置されるトレイ表面は静止しており、
したがって、静止した試料ラックの底面にある移動ベル
トの一定の摩擦による試料ラックの過剰な摩耗を生じる
ことがない。その上、使用者にさらされる移動部品がな
く、したがって、この移送装置により、分析装置の入力
行列のようなアクセスがたやすい区域における使用者の
安全上の問題が最小となる。
【００１２】所定の数の試料ラックを保持するように選
択された長さを有する長方形のトレイを提供する。ある
実施の形態において、各々の試料ラックは１つ以上の試
験管を保持する。試料ラックを、分析装置の入力行列と
して機能するトレイのいかなる部分上に装填してもよ
い。トレイの第１の表面の下に位置する駆動装置には、
トレイの第１の端部の下に配置される第１の軸、および
トレイの第２の異なる端部の下に配置される第２の軸が
ある。これらの軸はベース内に回転可能に取り付けられ
ている。各々の軸には、その対向端に配置される１組の
滑車がある。ウレタンベルトが、２つの軸の対向する滑
車の周りに配置されている。複数の棒磁石アッセンブリ
がウレタンベルトの間に延びている。これらの滑車の組
が、２つのウレタンベルト、したがって、磁石アッセン
ブリを同時に駆動する。磁石アッセンブリには、各々の
磁石の反対の極が、トレイの第１の表面上の磁界を含む
磁石回路を形成する同一のトレイ表面に面するように向
けられた１組の磁石がある。磁石アッセンブリおよびト
レイの第１の表面は、トレイの表面の下にあるウレタン
ベルトにより磁石が自由に動くように近い間隔で置かれ
ている。
択された長さを有する長方形のトレイを提供する。ある
実施の形態において、各々の試料ラックは１つ以上の試
験管を保持する。試料ラックを、分析装置の入力行列と
して機能するトレイのいかなる部分上に装填してもよ
い。トレイの第１の表面の下に位置する駆動装置には、
トレイの第１の端部の下に配置される第１の軸、および
トレイの第２の異なる端部の下に配置される第２の軸が
ある。これらの軸はベース内に回転可能に取り付けられ
ている。各々の軸には、その対向端に配置される１組の
滑車がある。ウレタンベルトが、２つの軸の対向する滑
車の周りに配置されている。複数の棒磁石アッセンブリ
がウレタンベルトの間に延びている。これらの滑車の組
が、２つのウレタンベルト、したがって、磁石アッセン
ブリを同時に駆動する。磁石アッセンブリには、各々の
磁石の反対の極が、トレイの第１の表面上の磁界を含む
磁石回路を形成する同一のトレイ表面に面するように向
けられた１組の磁石がある。磁石アッセンブリおよびト
レイの第１の表面は、トレイの表面の下にあるウレタン
ベルトにより磁石が自由に動くように近い間隔で置かれ
ている。
【００１３】ある実施の形態において、各々の試料ラッ
クには、その底面に２つのキャビティが設けられてい
る。これらのキャビティは、試料ラックの中心線の反対
側の周りに左右対象に形成されている。試料ラックの底
面に位置する磁化可能なプレートが、試料ラックがトレ
イ上に配置されたときに、このプレートがトレイの表面
の下を通る磁石アッセンブリの磁石と位置合せされるよ
うに、各々のキャビティ内に配置されている。磁石アッ
センブリにより形成される磁界が、試料ラックの底面に
配置されたプレートを引き付け、ベルトが動くときに試
料ラックが磁石アッセンブリと一緒に動くような十分な
力でこのプレートと噛み合う。磁石アッセンブリが最初
に試料ラックに近付くときに、ベルトがラックの後方へ
の加速度を低下させるように動くので、磁石アッセンブ
リにより形成される磁界が徐々に生じるように磁石アッ
センブリに関して所定の角度でこのプレートの第１の表
面の少なくとも一部を配置してもよい。その結果、試料
ラックは滑らかに静止状態から移動状態に移行する。
クには、その底面に２つのキャビティが設けられてい
る。これらのキャビティは、試料ラックの中心線の反対
側の周りに左右対象に形成されている。試料ラックの底
面に位置する磁化可能なプレートが、試料ラックがトレ
イ上に配置されたときに、このプレートがトレイの表面
の下を通る磁石アッセンブリの磁石と位置合せされるよ
うに、各々のキャビティ内に配置されている。磁石アッ
センブリにより形成される磁界が、試料ラックの底面に
配置されたプレートを引き付け、ベルトが動くときに試
料ラックが磁石アッセンブリと一緒に動くような十分な
力でこのプレートと噛み合う。磁石アッセンブリが最初
に試料ラックに近付くときに、ベルトがラックの後方へ
の加速度を低下させるように動くので、磁石アッセンブ
リにより形成される磁界が徐々に生じるように磁石アッ
センブリに関して所定の角度でこのプレートの第１の表
面の少なくとも一部を配置してもよい。その結果、試料
ラックは滑らかに静止状態から移動状態に移行する。
【００１４】底面から１組のレールが突出した試料ラッ
クを提供する。これらのレールが、トレイと接触し、そ
れゆえ、試料ラックとトレイとの間の摩擦力を減少させ
る試料ラックの表面積を減少させる。試料ラックの底面
に、トレイの第１の表面から突出したガイドを受け入れ
る凹部を設ける。このガイドがトレイに沿って試料ラッ
クを配置する。試料ラックには、試料ラックがトレイ上
にある間に試料ラックが傾かないようにする前後の縁ガ
イドがあり、ラックがトレイに正確に位置合せされてい
ることを確実にする。前縁ガイドは、試料ラックがトレ
イの装填位置内に配置されたときに、試料ラックが傾か
ないようにする。
クを提供する。これらのレールが、トレイと接触し、そ
れゆえ、試料ラックとトレイとの間の摩擦力を減少させ
る試料ラックの表面積を減少させる。試料ラックの底面
に、トレイの第１の表面から突出したガイドを受け入れ
る凹部を設ける。このガイドがトレイに沿って試料ラッ
クを配置する。試料ラックには、試料ラックがトレイ上
にある間に試料ラックが傾かないようにする前後の縁ガ
イドがあり、ラックがトレイに正確に位置合せされてい
ることを確実にする。前縁ガイドは、試料ラックがトレ
イの装填位置内に配置されたときに、試料ラックが傾か
ないようにする。
【００１５】試料ラックには、試験管のような試料含有
容器を収容する開口部がある。各々の開口部には、試料
含有容器がこの開口部に配置されたときに圧縮状態にお
かれるフィンガースプリングが配置されており、このよ
うに試料ラック内に試料容器を固定している。このスプ
リングは、異なるサイズの試験管が配置され試料ラック
内に適切に固定されるようなサイズである。
容器を収容する開口部がある。各々の開口部には、試料
含有容器がこの開口部に配置されたときに圧縮状態にお
かれるフィンガースプリングが配置されており、このよ
うに試料ラック内に試料容器を固定している。このスプ
リングは、異なるサイズの試験管が配置され試料ラック
内に適切に固定されるようなサイズである。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、図面に示す実施の形態を参
照して本発明を詳細に説明する。
照して本発明を詳細に説明する。
【００１７】ここで図１を参照する。検査試料について
診断検査を行なうために使用する自動分析装置10は、計
測器12および移送装置14を備えている。計測器12は、一
般的に、1994年11月10日に出願された米国特許出願第08
/338,022号に記載された種類のものと同様の保温室およ
び処理ステーション、1993年 3月19日に出願された米国
特許出願第08/035,341号等に記載された種類のものと同
様の発光計測器（luminometer ）、並びにロボット式ア
ームにより制御されたピペットから一般的に構成された
流体移動装置を備えている。上述した出願の各々をここ
に引用する。移送装置14により、無中断検査のために試
料を連続的に供給できる。
診断検査を行なうために使用する自動分析装置10は、計
測器12および移送装置14を備えている。計測器12は、一
般的に、1994年11月10日に出願された米国特許出願第08
/338,022号に記載された種類のものと同様の保温室およ
び処理ステーション、1993年 3月19日に出願された米国
特許出願第08/035,341号等に記載された種類のものと同
様の発光計測器（luminometer ）、並びにロボット式ア
ームにより制御されたピペットから一般的に構成された
流体移動装置を備えている。上述した出願の各々をここ
に引用する。移送装置14により、無中断検査のために試
料を連続的に供給できる。
【００１８】移送装置14は、入力行列16、処理行列18お
よび出力行列20を備えている。この入力行列16は、試験
管のような試料含有容器を、例えば、入力行列16の一方
の端部に位置する装填位置22に向かって移動させる。こ
の試験管は、分析装置10により分析すべき患者の体液検
体等の試料を保有している。一度試験管が装填位置22に
到達すると、給送（infeed）装置24が試料含有試験管を
入力行列16から処理行列18の所定の位置まで移動させ
る。
よび出力行列20を備えている。この入力行列16は、試験
管のような試料含有容器を、例えば、入力行列16の一方
の端部に位置する装填位置22に向かって移動させる。こ
の試験管は、分析装置10により分析すべき患者の体液検
体等の試料を保有している。一度試験管が装填位置22に
到達すると、給送（infeed）装置24が試料含有試験管を
入力行列16から処理行列18の所定の位置まで移動させ
る。
【００１９】試験管が入力行列16から処理行列18まで動
くときに、この試験管が、入力行列16の装填位置22に近
接して配置されたバーコード読取器26を通過する。この
バーコード読取器26は、ラベルにより各々の試験管およ
び各々のラックに一般的に取り付けられたバーコードを
解読し、その情報を、処理行列18に供給された試料の追
跡および試料を検査する順番の計画を含む様々な機能を
果たすシステム制御器28に伝達する。
くときに、この試験管が、入力行列16の装填位置22に近
接して配置されたバーコード読取器26を通過する。この
バーコード読取器26は、ラベルにより各々の試験管およ
び各々のラックに一般的に取り付けられたバーコードを
解読し、その情報を、処理行列18に供給された試料の追
跡および試料を検査する順番の計画を含む様々な機能を
果たすシステム制御器28に伝達する。
【００２０】一度試験管が試料ラック内で処理行列18ま
で動かされると、計測器12が試験管から試料の一部を吸
引し、続いて、この試料の一部を、計測器12内に配置さ
れたキュベットのような反応容器中に計量分配する。こ
こで、上記出願第08/338,022号により試料の一部が処理
される。
で動かされると、計測器12が試験管から試料の一部を吸
引し、続いて、この試料の一部を、計測器12内に配置さ
れたキュベットのような反応容器中に計量分配する。こ
こで、上記出願第08/338,022号により試料の一部が処理
される。
【００２１】試料が試験管から吸引され、反応容器中に
計量分配された後、検査結果が得られるまで、試料ラッ
クは一般的に処理行列内に保持される。したがって、検
査結果がうまく得られなかった場合には、試験管から試
料の一部を吸引し、これを別の反応容器中に計量分配す
ることにより、検査を再度行なうことができる。一度試
料ラック内の各々の試料がうまく検査されると、処理行
列18が試料ラックを排出装置30の前に配置する。この排
出装置30が試料ラックを処理行列18から出力行列20まで
移動させる。一度試験管が出力行列20まで移動させられ
ると、試料含有試験管に再度使用者がアクセスでき、一
般的に、これらの試験管は周期的に移送装置14から取り
出される。
計量分配された後、検査結果が得られるまで、試料ラッ
クは一般的に処理行列内に保持される。したがって、検
査結果がうまく得られなかった場合には、試験管から試
料の一部を吸引し、これを別の反応容器中に計量分配す
ることにより、検査を再度行なうことができる。一度試
料ラック内の各々の試料がうまく検査されると、処理行
列18が試料ラックを排出装置30の前に配置する。この排
出装置30が試料ラックを処理行列18から出力行列20まで
移動させる。一度試験管が出力行列20まで移動させられ
ると、試料含有試験管に再度使用者がアクセスでき、一
般的に、これらの試験管は周期的に移送装置14から取り
出される。
【００２２】処理行列18は保護ハウジング32内に包囲さ
れており、試験管が入力行列16から処理行列18まで動か
された後には、使用者が試料含有試験管にアクセスでき
ないようにしている。このように、試験管が入力行列16
上にある間には試験管に容易にアクセスでき、任意に順
番付けて配列したり、再配列したりできるが、一度試料
が処理行列18まで動かされると、試料の配置および順番
を使用者が変えることはできない。この処理行列18で、
制御器が試験管の位置の記録を有している。
れており、試験管が入力行列16から処理行列18まで動か
された後には、使用者が試料含有試験管にアクセスでき
ないようにしている。このように、試験管が入力行列16
上にある間には試験管に容易にアクセスでき、任意に順
番付けて配列したり、再配列したりできるが、一度試料
が処理行列18まで動かされると、試料の配置および順番
を使用者が変えることはできない。この処理行列18で、
制御器が試験管の位置の記録を有している。
【００２３】ここで図２、３、３Ａおよび４を参照す
る。移送装置14´は、入力行列16、処理行列18および出
力行列20を備えている。複数の試料ラック33が、概して
長方形の入力行列16上に配置されている。各々の試料ラ
ック33は複数の試料含有試験管34を保持するように適用
されており、したがって、試料ラック33は多数の試験管
34を、入力行列16から処理行列18まで、並びに、処理行
列18から出力行列20まで同時に動かすことができる。
る。移送装置14´は、入力行列16、処理行列18および出
力行列20を備えている。複数の試料ラック33が、概して
長方形の入力行列16上に配置されている。各々の試料ラ
ック33は複数の試料含有試験管34を保持するように適用
されており、したがって、試料ラック33は多数の試験管
34を、入力行列16から処理行列18まで、並びに、処理行
列18から出力行列20まで同時に動かすことができる。
【００２４】作動中において、使用者は１つ以上の試料
ラック33を入力行列16上のどの位置に配置してもよい。
試料ラック33が入力行列16に沿って動かされている間
に、使用者は試料ラック33を取り出したり、または任意
の順番または所定の順番に配列しても差支えない。この
ように、入力行列16は一般的に、自動分析装置10（図
１）の、使用者に容易にアクセスされる区域である。
ラック33を入力行列16上のどの位置に配置してもよい。
試料ラック33が入力行列16に沿って動かされている間
に、使用者は試料ラック33を取り出したり、または任意
の順番または所定の順番に配列しても差支えない。この
ように、入力行列16は一般的に、自動分析装置10（図
１）の、使用者に容易にアクセスされる区域である。
【００２５】入力行列16は、長方形、例えば、約13.2ｃ
ｍ（約5.2 インチ）の幅Ｗおよび約44.5ｃｍ（約17.5イ
ンチ）の長さＬを有するトレイ38から構成されている。
トレイ38の幅Ｗは、試料ラック33の長さを収容するよう
に選択しなければならず、また、トレイ38の長さＬは多
数の試料ラック33を収容するように選択しなければなら
ない。
ｍ（約5.2 インチ）の幅Ｗおよび約44.5ｃｍ（約17.5イ
ンチ）の長さＬを有するトレイ38から構成されている。
トレイ38の幅Ｗは、試料ラック33の長さを収容するよう
に選択しなければならず、また、トレイ38の長さＬは多
数の試料ラック33を収容するように選択しなければなら
ない。
【００２６】試料ラック33は、各々の試料ラック33のハ
ンドル39が使用者に近接するトレイ38の側に位置するよ
うに、トレイの第１の表面38a 上に装填されている。ハ
ンドル39により、使用者がトレイ38上の試料ラック33を
容易に保持し、したがって、動かしたり配列させたりす
ることができる。
ンドル39が使用者に近接するトレイ38の側に位置するよ
うに、トレイの第１の表面38a 上に装填されている。ハ
ンドル39により、使用者がトレイ38上の試料ラック33を
容易に保持し、したがって、動かしたり配列させたりす
ることができる。
【００２７】各々の試料ラック33には、試験管34をその
中に配置する複数の開口部を有する上面33a 、前端、後
端および中に凹部40が形成された低面がある。
中に配置する複数の開口部を有する上面33a 、前端、後
端および中に凹部40が形成された低面がある。
【００２８】トレイ38には、その長さに亘り隆起中央部
分（以下ガイドと称する）42がある。ガイド42は、試料
ラック33が入力トレイ38の第１の端部から第２の端部ま
で移動するときに試料ラック33が沿って動くガイドとし
て機能する（図２の左から右）。
分（以下ガイドと称する）42がある。ガイド42は、試料
ラック33が入力トレイ38の第１の端部から第２の端部ま
で移動するときに試料ラック33が沿って動くガイドとし
て機能する（図２の左から右）。
【００２９】このガイド42は、トレイ38とは別の片とし
て設けてもよく、あるいは好ましくは、ガイド42は、ア
ルミニウム内のプラスチックの型打ちまたはプラスチッ
クの射出成形によりトレイ38の一体部品として設けても
よい。このガイド42は、試料ラック33がガイド42に引っ
掛かったりもつれたりしないような高さを有さなければ
ならない。
て設けてもよく、あるいは好ましくは、ガイド42は、ア
ルミニウム内のプラスチックの型打ちまたはプラスチッ
クの射出成形によりトレイ38の一体部品として設けても
よい。このガイド42は、試料ラック33がガイド42に引っ
掛かったりもつれたりしないような高さを有さなければ
ならない。
【００３０】トレイ38には、試料ラック33の後端にある
スロット46と噛み合い、試料ラック33がトレイ38から外
れてしまったり、傾くのを防ぐ後端ガイド44が設けられ
ている。
スロット46と噛み合い、試料ラック33がトレイ38から外
れてしまったり、傾くのを防ぐ後端ガイド44が設けられ
ている。
【００３１】トレイ38は、試料ラック33の駆動装置を囲
むハウジング50上に配置されている。この駆動装置は、
トレイ38の下側で生じる磁力により、入力トレイ38の上
面に沿って試料ラック33を移動させる。トレイ38および
ハウジング50は、駆動装置を覆い、したがって、この駆
動装置を使用者の環境から隔てている。
むハウジング50上に配置されている。この駆動装置は、
トレイ38の下側で生じる磁力により、入力トレイ38の上
面に沿って試料ラック33を移動させる。トレイ38および
ハウジング50は、駆動装置を覆い、したがって、この駆
動装置を使用者の環境から隔てている。
【００３２】トレイ38およびハウジング50は駆動装置を
完全に囲んでいるので、駆動装置の移動部品に使用者を
さらすことによる安全上の問題が最小になる。さらに、
トレイ38およびハウジング50は、流体がこぼれたり、他
の望ましくない要因（例えば、埃および泥）が駆動装
置、または移送装置14´が接続されて作動する分析装置
の他の区域を汚すのを防ぐ。また、使用者はいかなる移
動部品にもさらされないので、使用者が怪我したり、駆
動装置の作動が妨害されたりするのを防ぐために、トレ
イ38の洗浄前または洗浄の最中に駆動装置を停止させる
必要がない。
完全に囲んでいるので、駆動装置の移動部品に使用者を
さらすことによる安全上の問題が最小になる。さらに、
トレイ38およびハウジング50は、流体がこぼれたり、他
の望ましくない要因（例えば、埃および泥）が駆動装
置、または移送装置14´が接続されて作動する分析装置
の他の区域を汚すのを防ぐ。また、使用者はいかなる移
動部品にもさらされないので、使用者が怪我したり、駆
動装置の作動が妨害されたりするのを防ぐために、トレ
イ38の洗浄前または洗浄の最中に駆動装置を停止させる
必要がない。
【００３３】さらに、トレイ38の表面には開口部がない
ので、トレイ38は比較的洗浄しやすい。トレイ38の洗浄
は、試料ラックの位置合せ構造の妨害を受けない。この
ことにより、移送装置14´の操作を中断せずに、試料ラ
ック33を任意にトレイ38に装填したり、トレイ38から取
り出したり、並べ変えたりすることができる。
ので、トレイ38は比較的洗浄しやすい。トレイ38の洗浄
は、試料ラックの位置合せ構造の妨害を受けない。この
ことにより、移送装置14´の操作を中断せずに、試料ラ
ック33を任意にトレイ38に装填したり、トレイ38から取
り出したり、並べ変えたりすることができる。
【００３４】処理行列18は、試料ラック33が入力行列16
から処理行列18まで都合よくそして容易に移動できるよ
うに、入力行列16に隣接して配置されている。この実施
の形態において、処理行列18は移動可能な運搬部材52上
に取り付けられている。
から処理行列18まで都合よくそして容易に移動できるよ
うに、入力行列16に隣接して配置されている。この実施
の形態において、処理行列18は移動可能な運搬部材52上
に取り付けられている。
【００３５】この運搬部材52上には、正方形の断面を有
し、厚さが一般的に約2.54ｃｍ（約１インチ）のアルミ
ニウム部材として設けてもよい支持ブロック54が配置さ
れている。支持ブロック54は、スライド58を運搬部材52
上から所定の距離に支持し、運搬部材52を構造的にさら
に支持している。駆動装置53は、制御器28からの信号に
応答して処理行列18を移動させるように接続されてい
る。
し、厚さが一般的に約2.54ｃｍ（約１インチ）のアルミ
ニウム部材として設けてもよい支持ブロック54が配置さ
れている。支持ブロック54は、スライド58を運搬部材52
上から所定の距離に支持し、運搬部材52を構造的にさら
に支持している。駆動装置53は、制御器28からの信号に
応答して処理行列18を移動させるように接続されてい
る。
【００３６】処理トレイ60はスライド58上に取り付けら
れて、処理トレイ60の底面に取り付けられたリニアベア
リング上で動く。
れて、処理トレイ60の底面に取り付けられたリニアベア
リング上で動く。
【００３７】処理トレイ60には、そのベース表面から突
出した等しい間隔で配置された複数の仕切壁61が設けら
れている。この仕切壁61は、試料ラック33が保持される
複数のスロット64を形成する。
出した等しい間隔で配置された複数の仕切壁61が設けら
れている。この仕切壁61は、試料ラック33が保持される
複数のスロット64を形成する。
【００３８】給送装置51が入力行列16上の所定の位置に
取り付けられている。図示した実施の形態において、給
送装置51がトレイ38の端部に取り付けられている。給送
装置51は試料ラックを入力行列16の遠い端部の装填位置
から処理行列18の空のスロット64まで移動させる。この
給送装置51について、図３および４を参照して詳細に記
載する。処理トレイ60は、制御器28により、空のスロッ
ト64が給送装置51により供給される試料ラック33を受け
入れるのに利用できることを確認にする位置に向けられ
ている。
取り付けられている。図示した実施の形態において、給
送装置51がトレイ38の端部に取り付けられている。給送
装置51は試料ラックを入力行列16の遠い端部の装填位置
から処理行列18の空のスロット64まで移動させる。この
給送装置51について、図３および４を参照して詳細に記
載する。処理トレイ60は、制御器28により、空のスロッ
ト64が給送装置51により供給される試料ラック33を受け
入れるのに利用できることを確認にする位置に向けられ
ている。
【００３９】処理トレイ60は一般的に、一方の端部また
は他方の端部に運搬器68内にあるプローブチップトレイ
62を搭載している。このプローブチップトレイ62には、
複数の使い捨てプローブチップ70が配列されている複数
の孔66がある。
は他方の端部に運搬器68内にあるプローブチップトレイ
62を搭載している。このプローブチップトレイ62には、
複数の使い捨てプローブチップ70が配列されている複数
の孔66がある。
【００４０】移送装置14´はさらに、モータ駆動装置76
により駆動されるプッシュロッド74を有する排出プッシ
ャ72を備えている。このモータ駆動装置76は、スロット
64を通してプッシュロッド74を駆動し、それによって、
試料ラック33が、制御器28の制御下で処理行列18から出
力行列20の出力トレイ78の表面78a 上に動かされる。
により駆動されるプッシュロッド74を有する排出プッシ
ャ72を備えている。このモータ駆動装置76は、スロット
64を通してプッシュロッド74を駆動し、それによって、
試料ラック33が、制御器28の制御下で処理行列18から出
力行列20の出力トレイ78の表面78a 上に動かされる。
【００４１】出力トレイ78には、入力トレイ38上のガイ
ド42と同様のガイド80がある。試料ラックが処理行列へ
と処理行列から動かされる場所には、ガイド42,44,80お
よび99はない。一度試料ラック33が処理行列18から出力
行列20まで動かされると、インデスク機構が出力トレイ
78の上面に沿って試料ラックを移動させる。このインデ
クス機構については図３Ａを参照して詳細に説明する。
ド42と同様のガイド80がある。試料ラックが処理行列へ
と処理行列から動かされる場所には、ガイド42,44,80お
よび99はない。一度試料ラック33が処理行列18から出力
行列20まで動かされると、インデスク機構が出力トレイ
78の上面に沿って試料ラックを移動させる。このインデ
クス機構については図３Ａを参照して詳細に説明する。
【００４２】この特定の実施の形態において、20の試料
ラック33を保持するのに十分に長いトレイを有する入力
行列16を選択する。ここでは、各々の試料ラック33は５
つの試験管34を保持している。
ラック33を保持するのに十分に長いトレイを有する入力
行列16を選択する。ここでは、各々の試料ラック33は５
つの試験管34を保持している。
【００４３】試験管34の各々には、バーコードラベルが
貼り付けられている。試験管34は、貼り付けられたバー
コードラベルが入力行列16のの装填位置22に近接して配
置されたバーコード読取器にさらされるように、試料ラ
ック33内で向けられている。ここで、試料ラックは処理
行列の外に動かされる。
貼り付けられている。試験管34は、貼り付けられたバー
コードラベルが入力行列16のの装填位置22に近接して配
置されたバーコード読取器にさらされるように、試料ラ
ック33内で向けられている。ここで、試料ラックは処理
行列の外に動かされる。
【００４４】給送機構51を、１組の滑車86a,86b の周り
を無限に回転するベルト64を含むものとして図示する。
より明らかに図４に見られるように、第１の滑車86a が
ステッパモータのような二方向性モータ104 に接続され
ている。
を無限に回転するベルト64を含むものとして図示する。
より明らかに図４に見られるように、第１の滑車86a が
ステッパモータのような二方向性モータ104 に接続され
ている。
【００４５】ここで再度図３を参照する。ベルト84に
は、複数の外側に延びたパドルまたは形材88,88a-88bが
接続されている。形材88はベルト84の一部のみに配置さ
れている。端にある形材88a,88h の位置は、試料ラック
33がそれらの間の装填位置22内に置かれ、一方で、形材
88b-88h が、試料ラックが形材88a と88h の間から動か
されるときに、装填位置22に隣接した試料ラック33a が
装填位置に進入するのを妨げるように選択する。
は、複数の外側に延びたパドルまたは形材88,88a-88bが
接続されている。形材88はベルト84の一部のみに配置さ
れている。端にある形材88a,88h の位置は、試料ラック
33がそれらの間の装填位置22内に置かれ、一方で、形材
88b-88h が、試料ラックが形材88a と88h の間から動か
されるときに、装填位置22に隣接した試料ラック33a が
装填位置に進入するのを妨げるように選択する。
【００４６】ある実施の形態において、ベルト84および
形材88はウレタンであり、射出成形技術を用いて一体片
として製造してもよい。あるいは、形材88をベルト84と
は別々の片として製造してもよい。この場合、形材を、
超音波溶接または当業者によく知られた他の固定技術に
よりベルト84に取り付けることができる。
形材88はウレタンであり、射出成形技術を用いて一体片
として製造してもよい。あるいは、形材88をベルト84と
は別々の片として製造してもよい。この場合、形材を、
超音波溶接または当業者によく知られた他の固定技術に
よりベルト84に取り付けることができる。
【００４７】装填位置22に近接した入力行列16には装填
位置ガイド89が接続されている。装填位置ガイド89は装
填位置22内の試料ラックが傾くのを防いでいる。
位置ガイド89が接続されている。装填位置ガイド89は装
填位置22内の試料ラックが傾くのを防いでいる。
【００４８】ベルト84が反時計方向に回転し、形材88を
入力トレイ38上に配置された試料ラック33と反対の位置
に移動させる場合、装填位置が試料ラック33を受け入れ
るのに利用できる。形材88に隣接した試料ラック33が、
その存在が以下に記載するセンサにより知覚される装填
位置22の空間中に移動させられる。
入力トレイ38上に配置された試料ラック33と反対の位置
に移動させる場合、装填位置が試料ラック33を受け入れ
るのに利用できる。形材88に隣接した試料ラック33が、
その存在が以下に記載するセンサにより知覚される装填
位置22の空間中に移動させられる。
【００４９】モータ104 （図４）はベルト84および形材
88を時計方向に駆動する。形材88aには、現在入力行列1
6の装填位置22内に配置されている試料ラック33の第１
の端部と接触するアルミニウムブロック90が接続されて
いる。ベルト84が時計方向に動くときに、試料ラック33
a が、入力トレイ38の装填位置22から、処理行列18内の
スロット64まで制御器28の制御下で押される。
88を時計方向に駆動する。形材88aには、現在入力行列1
6の装填位置22内に配置されている試料ラック33の第１
の端部と接触するアルミニウムブロック90が接続されて
いる。ベルト84が時計方向に動くときに、試料ラック33
a が、入力トレイ38の装填位置22から、処理行列18内の
スロット64まで制御器28の制御下で押される。
【００５０】ブロック90は、試料ラック33の端部と接触
する表面が移動して、試料ラック33が入力行列16から処
理行列18上まで完全に押されることを確実にする距離だ
け延びる。
する表面が移動して、試料ラック33が入力行列16から処
理行列18上まで完全に押されることを確実にする距離だ
け延びる。
【００５１】処理行列18は給送機構51によりそこに供給
される試料ラック33を受け入れる。上述したように、処
理行列18は、入力行列16からの試料ラック33が処理行列
18の異なる空間64中に供給されるように、トラックに沿
って線形に動く。また、処理行列18は、制御器28の制御
下でトラックに沿って動き、特定の試料ラック33を排出
プッシャ72と位置合せする。
される試料ラック33を受け入れる。上述したように、処
理行列18は、入力行列16からの試料ラック33が処理行列
18の異なる空間64中に供給されるように、トラックに沿
って線形に動く。また、処理行列18は、制御器28の制御
下でトラックに沿って動き、特定の試料ラック33を排出
プッシャ72と位置合せする。
【００５２】処理行列18は、その試料が排出プッシャ72
の前で処理行列18内でうまく検査された試料ラック33を
配置する。排出プッシャ72は二方向性モータ76により駆
動されるプッシュロッド74を備えている。位置97で、プ
ッシャアッセンブリ100 内のプッシャ108 （図３Ａ）が
試料ラックを出力行列上に押し出す。
の前で処理行列18内でうまく検査された試料ラック33を
配置する。排出プッシャ72は二方向性モータ76により駆
動されるプッシュロッド74を備えている。位置97で、プ
ッシャアッセンブリ100 内のプッシャ108 （図３Ａ）が
試料ラックを出力行列上に押し出す。
【００５３】出力行列20の端部にあるセンサ98が、出力
行列20が試料ラック33で満たされると、信号を制御器28
に知らせ、使用者に、試料ラック33の出口行列20からの
取出しのような作業を行なうことを知らせる、および／
またはさらに追加の試料ラック33が、出口行列20上の空
間が利用できるようになるまで、処理行列18から出口行
列20に移動するのを防ぐ。このようなセンサは、トレイ
78の上面または底面に配置してもよい。
行列20が試料ラック33で満たされると、信号を制御器28
に知らせ、使用者に、試料ラック33の出口行列20からの
取出しのような作業を行なうことを知らせる、および／
またはさらに追加の試料ラック33が、出口行列20上の空
間が利用できるようになるまで、処理行列18から出口行
列20に移動するのを防ぐ。このようなセンサは、トレイ
78の上面または底面に配置してもよい。
【００５４】移送装置14´には、緊急試料ラック入力行
列105 が設けられている。入力行列105 には、スタット
入力位置101 、スタットセンサ102 およびスタット装填
位置103 がある。スタット入力位行列105 の目的は、使
用者に、分析装置10にスタット入力行列105 内に装填さ
れた試料について、できるだけ早く、順番を飛ばして検
査を行なわせることにある。
列105 が設けられている。入力行列105 には、スタット
入力位置101 、スタットセンサ102 およびスタット装填
位置103 がある。スタット入力位行列105 の目的は、使
用者に、分析装置10にスタット入力行列105 内に装填さ
れた試料について、できるだけ早く、順番を飛ばして検
査を行なわせることにある。
【００５５】使用者が試料ラック33をスタット入力位置
101 中に配置すると、スタットセンサ102 が、ベルト84
の適切な側に固定された形材88により試料ラックをスタ
ット入力位置101 からスタット装填位置103 に押し出す
プッシャブロック108 （図３Ａ）を始動させる。スタッ
ト装填位置ガイド113 がスタット装填位置103 に近接し
て配置され、スタット装填位置103 内の試料ラックが傾
くのを防いでいる。次いで、給送装置51が試料ラックを
ベルト84の逆回転によりスタット装填位置103から処理
行列18まで動かす。
101 中に配置すると、スタットセンサ102 が、ベルト84
の適切な側に固定された形材88により試料ラックをスタ
ット入力位置101 からスタット装填位置103 に押し出す
プッシャブロック108 （図３Ａ）を始動させる。スタッ
ト装填位置ガイド113 がスタット装填位置103 に近接し
て配置され、スタット装填位置103 内の試料ラックが傾
くのを防いでいる。次いで、給送装置51が試料ラックを
ベルト84の逆回転によりスタット装填位置103から処理
行列18まで動かす。
【００５６】移送装置14´はさらに、スタット入力位置
101 に近接して配置されたバーコード読取器を備えてい
る。ここでは、バーコード読取器83の大部分は取り除か
れて、プッシャバー106 およびプッシャブロック108 を
よく見えるようにしている。このバーコード読取器83
は、例えば、取付ブラケットとして設けられている取付
部材109 によりプッシャブロック108 の上の固定位置に
保持されている。バーコード読取器83は好ましくは、入
力行列16上の装填位置22（図３）またはスタット装填位
置103 のいずれかから処理行列18に動かされる試験管に
貼り付けられたラベルのバーコードを読み取れるように
配置されている。
101 に近接して配置されたバーコード読取器を備えてい
る。ここでは、バーコード読取器83の大部分は取り除か
れて、プッシャバー106 およびプッシャブロック108 を
よく見えるようにしている。このバーコード読取器83
は、例えば、取付ブラケットとして設けられている取付
部材109 によりプッシャブロック108 の上の固定位置に
保持されている。バーコード読取器83は好ましくは、入
力行列16上の装填位置22（図３）またはスタット装填位
置103 のいずれかから処理行列18に動かされる試験管に
貼り付けられたラベルのバーコードを読み取れるように
配置されている。
【００５７】試料ラック33および試験管が入力トレイ38
から処理行列18まで動かされるときに、バーコードラベ
ルがバーコード読取器83を通過して、このバーコード読
取器83がバーコードラベルからの情報の暗号を解いて、
そのような情報をシステム制御器28に送る（図１）。こ
の情報には、患者、試料、および他の直接的な流体のデ
ータを含めてもよい。各々の試料について行なうべき検
査は、制御器28に別々に入力する。いくつかの試料は、
バッチ内の全ての検体に関する特定の群の検査を意味す
る「バッチラン」と確認してもよい。
から処理行列18まで動かされるときに、バーコードラベ
ルがバーコード読取器83を通過して、このバーコード読
取器83がバーコードラベルからの情報の暗号を解いて、
そのような情報をシステム制御器28に送る（図１）。こ
の情報には、患者、試料、および他の直接的な流体のデ
ータを含めてもよい。各々の試料について行なうべき検
査は、制御器28に別々に入力する。いくつかの試料は、
バッチ内の全ての検体に関する特定の群の検査を意味す
る「バッチラン」と確認してもよい。
【００５８】ここで、図５、５Ａ、６、７および８を参
照する。磁気コンベヤ110 に入力行列18が設けられてい
る。トレイ38の下には、駆動装置116 がある。この特定
の実施の形態において、駆動装置116 は、駆動モータ11
9 により駆動される、１組の滑車118a,118b の周りに配
置された第１および第２の駆動ベルト117 を備えてい
る。ベルト117 は、トレイ38の前部分および後部分の近
くに配置されている。
照する。磁気コンベヤ110 に入力行列18が設けられてい
る。トレイ38の下には、駆動装置116 がある。この特定
の実施の形態において、駆動装置116 は、駆動モータ11
9 により駆動される、１組の滑車118a,118b の周りに配
置された第１および第２の駆動ベルト117 を備えてい
る。ベルト117 は、トレイ38の前部分および後部分の近
くに配置されている。
【００５９】再度、図５、５Ａおよび５Ｂを参照する。
ここでは、駆動モータ119 が、滑車キヤ118b（図５Ｂ）
として設けられている滑車118bに接続された駆動ギヤ12
3 を有するステッパモータ119 として設けられている。
接続は、２：１のギヤ減速比で行なわれている。
ここでは、駆動モータ119 が、滑車キヤ118b（図５Ｂ）
として設けられている滑車118bに接続された駆動ギヤ12
3 を有するステッパモータ119 として設けられている。
接続は、２：１のギヤ減速比で行なわれている。
【００６０】点線で示す駆動装置116 の別の実施の形態
において、駆動モータ119 をトレイ38の下に配置し、駆
動ベルト120 を介して滑車118aに接続してもよい。
において、駆動モータ119 をトレイ38の下に配置し、駆
動ベルト120 を介して滑車118aに接続してもよい。
【００６１】複数の磁石アッセンブリ121a-121e が各々
駆動ベルト117 に接続されている。磁石アッセンブリ12
1a-121e が所定の距離だけ等間隔で離れている。トレイ
38は、図５に示す磁石アッセンブリ121a,121c および12
1eがトレイ38の下を所定の距離だけ通過するように、ベ
ルト117 の上で所定の距離だけ離れて配置されている。
各々の磁石アッセンブリ121a-121e は、磁力が少なくと
もトレイ38の表面114aで、この実施の形態においては好
ましくはその上に発生するように、十分なおおきさの磁
力を有する磁石を備えている。
駆動ベルト117 に接続されている。磁石アッセンブリ12
1a-121e が所定の距離だけ等間隔で離れている。トレイ
38は、図５に示す磁石アッセンブリ121a,121c および12
1eがトレイ38の下を所定の距離だけ通過するように、ベ
ルト117 の上で所定の距離だけ離れて配置されている。
各々の磁石アッセンブリ121a-121e は、磁力が少なくと
もトレイ38の表面114aで、この実施の形態においては好
ましくはその上に発生するように、十分なおおきさの磁
力を有する磁石を備えている。
【００６２】試料ラック33には、磁石アッセンブリ121
の磁力により噛み合うことのできる磁気的吸引性領域が
ある。この磁石アッセンブリ121 は、駆動装置が試料ラ
ック112 をトレイ38の表面に沿って移動させるように、
試料ラック33を駆動装置に磁気的に接続している。
の磁力により噛み合うことのできる磁気的吸引性領域が
ある。この磁石アッセンブリ121 は、駆動装置が試料ラ
ック112 をトレイ38の表面に沿って移動させるように、
試料ラック33を駆動装置に磁気的に接続している。
【００６３】この実施の形態においては、５つの磁石ア
ッセンブリ121a-121e が、ベルト117 を介して１組の滑
車118 の周りに駆動され、試料ラック112 を転写トレイ
114に沿って移動させている。磁石アッセンブリ121 が
互いに離れている距離は、限定されるものではないが、
各々個々の磁石アッセンブリ121 が動かせる試料ラック
33の数を含む様々な要因により選択する。この特定の実
施の形態において、各々の磁石アッセンブリ121 は、い
くつかの試料ラック33を動かすのに十分な磁力のもので
ある。もちろん、より多くのまたより少ない磁石アッセ
ンブリ121 を用いても差支えない。コンベヤ装置110 は
さらに、ベースプレート126 に接続され、ベルト117 の
表面の下に配置されたセンサ124 を備えている。センサ
124 は、例えば、ホール効果センサとして設けてもよ
く、磁石アッセンブリ121 がその上を通過するときはい
つも信号を生じるように配置されている。センサ124
は、磁石アッセンブリ121 の位置を示す。ベルト117 上
の磁石アッセンブリ121a-121eの各々の他のものに関す
る位置は分かっているので、磁石アッセンブリ121 のう
ちの１つの位置が分かれば、磁石アッセンブリ121 の各
々の位置も分かる。
ッセンブリ121a-121e が、ベルト117 を介して１組の滑
車118 の周りに駆動され、試料ラック112 を転写トレイ
114に沿って移動させている。磁石アッセンブリ121 が
互いに離れている距離は、限定されるものではないが、
各々個々の磁石アッセンブリ121 が動かせる試料ラック
33の数を含む様々な要因により選択する。この特定の実
施の形態において、各々の磁石アッセンブリ121 は、い
くつかの試料ラック33を動かすのに十分な磁力のもので
ある。もちろん、より多くのまたより少ない磁石アッセ
ンブリ121 を用いても差支えない。コンベヤ装置110 は
さらに、ベースプレート126 に接続され、ベルト117 の
表面の下に配置されたセンサ124 を備えている。センサ
124 は、例えば、ホール効果センサとして設けてもよ
く、磁石アッセンブリ121 がその上を通過するときはい
つも信号を生じるように配置されている。センサ124
は、磁石アッセンブリ121 の位置を示す。ベルト117 上
の磁石アッセンブリ121a-121eの各々の他のものに関す
る位置は分かっているので、磁石アッセンブリ121 のう
ちの１つの位置が分かれば、磁石アッセンブリ121 の各
々の位置も分かる。
【００６４】移送装置110 はさらに、例えば、隣接する
試料ラック33の表面から反射する光を検出する光学セン
サとして設けてもよい、装填位置センサ128 を備えてい
る。稼働中に、試料ラック33が形材88a の前の装填位置
中に入るときに、試料ラック33の表面201 （図１０）を
光が反射して、装填位置センサ128 を始動させる。
試料ラック33の表面から反射する光を検出する光学セン
サとして設けてもよい、装填位置センサ128 を備えてい
る。稼働中に、試料ラック33が形材88a の前の装填位置
中に入るときに、試料ラック33の表面201 （図１０）を
光が反射して、装填位置センサ128 を始動させる。
【００６５】装填位置センサ128 により発せられた信号
に応答して、滑車129 に接続された駆動モータ119 が、
一般的に、３つの磁石アッセンブリ121 がセンサ124 を
通過するまで、時計方向にベルト117 を回転させる。こ
の工程により、トレイ38の左側に位置する試料ラック33
がトレイ114 の全長だけ移動することを確認する。
に応答して、滑車129 に接続された駆動モータ119 が、
一般的に、３つの磁石アッセンブリ121 がセンサ124 を
通過するまで、時計方向にベルト117 を回転させる。こ
の工程により、トレイ38の左側に位置する試料ラック33
がトレイ114 の全長だけ移動することを確認する。
【００６６】次いで駆動モータ119 が所定の短い距離だ
け離れて（一般的に0.06インチ）反時計方向にベルト11
7 を回転させて、隣接した試料ラックにより、装填位置
内の試料ラックに加えられた圧力を解放する。装填位置
にある試料ラックへの力を減少させることにより、給送
装置51は試料ラックを入力行列16（図３）から処理行列
18（図３）までいっそう容易に駆動できる。
け離れて（一般的に0.06インチ）反時計方向にベルト11
7 を回転させて、隣接した試料ラックにより、装填位置
内の試料ラックに加えられた圧力を解放する。装填位置
にある試料ラックへの力を減少させることにより、給送
装置51は試料ラックを入力行列16（図３）から処理行列
18（図３）までいっそう容易に駆動できる。
【００６７】ここではベルト117 、滑車118 およびモー
タ119 から構成した駆動システムは完全にトレイ38およ
び磁石アッセンブリ121 からは独立している。したがっ
て、駆動システム116 は、電磁手段または他の手段のよ
うな磁石アッセンブリ121 を移動させる手段により、構
成してもよい。
タ119 から構成した駆動システムは完全にトレイ38およ
び磁石アッセンブリ121 からは独立している。したがっ
て、駆動システム116 は、電磁手段または他の手段のよ
うな磁石アッセンブリ121 を移動させる手段により、構
成してもよい。
【００６８】例えば、磁石アッセンブリは、スイッチを
入れたり切ったりして、試料ラックの磁気的吸引性領域
を引き付ける電磁石を有するものとして設けてもよい。
このように電磁石は、ベルト117 と同様のゴンベヤ型ベ
ルトによるか、またはトレイの下で線形方向に前後に移
動するプッシャロッドにより移動させてもよい。プッシ
ャロッドの手法に関して、プッシャロッドが磁石および
試料ラックを装填位置の端の位置から装填位置に近接し
た位置まで移動させるときに、電磁石が活性化される。
次いで、プッシャロッドが装填位置から電磁石を引っ込
めた後に、電磁石が不活性化される。さらに、完全に満
たされた入力トレイに関して、ベルト117 上で電磁石を
用いた場合には、電磁石を切って、磁力を連続的に試料
ラックに対して押し付けるのを防ぐ必要はないが、むし
ろ、電磁石を切ってもよい。
入れたり切ったりして、試料ラックの磁気的吸引性領域
を引き付ける電磁石を有するものとして設けてもよい。
このように電磁石は、ベルト117 と同様のゴンベヤ型ベ
ルトによるか、またはトレイの下で線形方向に前後に移
動するプッシャロッドにより移動させてもよい。プッシ
ャロッドの手法に関して、プッシャロッドが磁石および
試料ラックを装填位置の端の位置から装填位置に近接し
た位置まで移動させるときに、電磁石が活性化される。
次いで、プッシャロッドが装填位置から電磁石を引っ込
めた後に、電磁石が不活性化される。さらに、完全に満
たされた入力トレイに関して、ベルト117 上で電磁石を
用いた場合には、電磁石を切って、磁力を連続的に試料
ラックに対して押し付けるのを防ぐ必要はないが、むし
ろ、電磁石を切ってもよい。
【００６９】図６を参照する。図５に関して上述した磁
石コンベヤ110 の一部の３つの試料ラック33がその上に
配置された様子が示されている。各々の試料ラック33の
上部分が省かれて、各々の試料ラック内に配置された試
験管130 を暴露している。試料ラック33の底部分は、切
り去られて、断面で、試料ラック33の底部分内に配置さ
れた板134 を露出している。この板134 は、磁気的吸引
性の材料から構成してもよい。
石コンベヤ110 の一部の３つの試料ラック33がその上に
配置された様子が示されている。各々の試料ラック33の
上部分が省かれて、各々の試料ラック内に配置された試
験管130 を暴露している。試料ラック33の底部分は、切
り去られて、断面で、試料ラック33の底部分内に配置さ
れた板134 を露出している。この板134 は、磁気的吸引
性の材料から構成してもよい。
【００７０】この特定の実施の形態において、板134
は、一般的に約3.2 ｍｍ（約0.125 インチ）の厚さを有
する磁気ステンレス鋼から形成してもよい。しかしなが
ら、別の実施の形態においては、鉄、非ステンレス鋼ま
たは磁石材料のような他の材料を用いてもよい。板134
を磁石材料から形成する場合には、板134 の磁極が磁石
アッセンブリ121 の磁極とは反対ではないことを確認し
なければならない。
は、一般的に約3.2 ｍｍ（約0.125 インチ）の厚さを有
する磁気ステンレス鋼から形成してもよい。しかしなが
ら、別の実施の形態においては、鉄、非ステンレス鋼ま
たは磁石材料のような他の材料を用いてもよい。板134
を磁石材料から形成する場合には、板134 の磁極が磁石
アッセンブリ121 の磁極とは反対ではないことを確認し
なければならない。
【００７１】磁石アッセンブリ121 は、断面で示すよう
に、受け板138 、棒磁石140 および磁石カバー142 がそ
の上に配置されている、典型的に約2.2 ｍｍ（約0.090
インチ）の厚さを有するアルミニウムハウジング136 を
備えている。受け板138 は磁気ステンレス鋼から形成さ
れ、一般的に約1.5 ｍｍ（約0.060 インチ）の厚さを有
している。磁石140 は、典型的に約6.4 ｍｍ（約0.250
インチ）の厚さを有するネオジム−鉄−ホウ素磁石とし
て用意してもよく、磁石カバー142 はアセタールのよう
なプラスチック材料または典型的に約1.0 ｍｍ（約0.04
0 インチ）の厚さを有する同様の材料から形成してもよ
い。
に、受け板138 、棒磁石140 および磁石カバー142 がそ
の上に配置されている、典型的に約2.2 ｍｍ（約0.090
インチ）の厚さを有するアルミニウムハウジング136 を
備えている。受け板138 は磁気ステンレス鋼から形成さ
れ、一般的に約1.5 ｍｍ（約0.060 インチ）の厚さを有
している。磁石140 は、典型的に約6.4 ｍｍ（約0.250
インチ）の厚さを有するネオジム−鉄−ホウ素磁石とし
て用意してもよく、磁石カバー142 はアセタールのよう
なプラスチック材料または典型的に約1.0 ｍｍ（約0.04
0 インチ）の厚さを有する同様の材料から形成してもよ
い。
【００７２】磁石アッセンブリ121 はベルト117 の表面
から突出している形材144 に接続されている。形材144
は図３および４に関して上述した形材88と同様であって
もよい。
から突出している形材144 に接続されている。形材144
は図３および４に関して上述した形材88と同様であって
もよい。
【００７３】磁石アッセンブリ121 は、形材144 内に設
けられたクリアランスホールを通り、アルミニウムハウ
ジング136 内に設けられたねじ孔と合わさるねじにより
形材144 に接続されていても差支えなく、もしくは、エ
ポキシまたは当業者に知られた溶接技術により形材144
に固定されていてもよい。
けられたクリアランスホールを通り、アルミニウムハウ
ジング136 内に設けられたねじ孔と合わさるねじにより
形材144 に接続されていても差支えなく、もしくは、エ
ポキシまたは当業者に知られた溶接技術により形材144
に固定されていてもよい。
【００７４】受け板138 は、各々のベルト117 に関して
復路接続アッセンブリ121 を設けることにより磁石140
により設けられた磁界の強さを増大させるように設けら
れている。受け板138 はまた磁石140 により形成された
磁界の形状を改良する。磁石140 は、磁界が、試料ラッ
ク33がその上に配置されたトレイ38の表面のまたはその
上の領域で集束するようなトレイ表面の下の距離だけ離
れて配置されている。板134 の第１の縁はトレイ表面に
対して直角であり、磁石アッセンブリ121 が試料ラック
33を引き付けられるような比較的強い磁石対を形成して
いる。板134 の第２の後方縁は、以下に記載するよう
に、傾斜した表面を有するように設けられている。
復路接続アッセンブリ121 を設けることにより磁石140
により設けられた磁界の強さを増大させるように設けら
れている。受け板138 はまた磁石140 により形成された
磁界の形状を改良する。磁石140 は、磁界が、試料ラッ
ク33がその上に配置されたトレイ38の表面のまたはその
上の領域で集束するようなトレイ表面の下の距離だけ離
れて配置されている。板134 の第１の縁はトレイ表面に
対して直角であり、磁石アッセンブリ121 が試料ラック
33を引き付けられるような比較的強い磁石対を形成して
いる。板134 の第２の後方縁は、以下に記載するよう
に、傾斜した表面を有するように設けられている。
【００７５】この実施の形態においては、トレイ38は、
典型的に約1.6 ｍｍ（約0.0625インチ）の厚さを有する
アルミニウムシートから形成されている。試料ラック33
がその上に配置されているアルミニウムシートの表面に
は、テフロン（商標）のようなポリテトラフルオロエチ
レン型のコーティングがその上に形成されて、トレイ38
の表面と試料ラック33の接触表面との間の摩擦力を減少
させている。ベルト117 は、カバー142 の上面がトレイ
表面38と接触しているかまたはその下にわずかに間隔を
おいて配置されるようなトレイ表面38の下の距離だけ間
隔がおかれて配置されている。
典型的に約1.6 ｍｍ（約0.0625インチ）の厚さを有する
アルミニウムシートから形成されている。試料ラック33
がその上に配置されているアルミニウムシートの表面に
は、テフロン（商標）のようなポリテトラフルオロエチ
レン型のコーティングがその上に形成されて、トレイ38
の表面と試料ラック33の接触表面との間の摩擦力を減少
させている。ベルト117 は、カバー142 の上面がトレイ
表面38と接触しているかまたはその下にわずかに間隔を
おいて配置されるようなトレイ表面38の下の距離だけ間
隔がおかれて配置されている。
【００７６】ここで図７を参照する。ここには、入力行
列の装填位置に試料ラック33が配置されたコンベヤ装置
110 が示されている。図７から分かるように、装填位置
は、トレイ38の肩部38c により一方の側で定義されたチ
ャンネルに対応している。装填位置ガイド150 は装填位
置の近接して配置されている。作動中において、試料ラ
ック33が入力行列の装填位置中に動かされるときに、装
填位置ガイド150 が試料ラック33の前端部に形成された
スロット152 と噛み合う。このガイド150 は、試料ラッ
ク33が装填位置内に適切に位置合わせされていることを
確実にする。
列の装填位置に試料ラック33が配置されたコンベヤ装置
110 が示されている。図７から分かるように、装填位置
は、トレイ38の肩部38c により一方の側で定義されたチ
ャンネルに対応している。装填位置ガイド150 は装填位
置の近接して配置されている。作動中において、試料ラ
ック33が入力行列の装填位置中に動かされるときに、装
填位置ガイド150 が試料ラック33の前端部に形成された
スロット152 と噛み合う。このガイド150 は、試料ラッ
ク33が装填位置内に適切に位置合わせされていることを
確実にする。
【００７７】試料ラック33が装填位置に到達すると、セ
ンサ128 が、制御器28の制御下で給送装置51を始動し、
ベルト84により形材88a および部材90（図３）を回転さ
せて、試料ラック33を処理行列上に駆動する信号を送
る。形材88a を形材88の代表とすると、典型的に約2.54
ｃｍ（約１インチ）の高さＨ、典型的に約1.9 ｃｍ（約
0.750 インチ）の幅Ｗおよび典型的に約3.2 ｍｍ（約0.
125 インチ）の厚さＴを有する形材88a を用意する。形
材88a の底縁89は、トレイ38の上面から所定の距離、典
型的に約6.4 ｍｍ（約0.25インチ）だけ間隔が置かれて
配置されている。
ンサ128 が、制御器28の制御下で給送装置51を始動し、
ベルト84により形材88a および部材90（図３）を回転さ
せて、試料ラック33を処理行列上に駆動する信号を送
る。形材88a を形材88の代表とすると、典型的に約2.54
ｃｍ（約１インチ）の高さＨ、典型的に約1.9 ｃｍ（約
0.750 インチ）の幅Ｗおよび典型的に約3.2 ｍｍ（約0.
125 インチ）の厚さＴを有する形材88a を用意する。形
材88a の底縁89は、トレイ38の上面から所定の距離、典
型的に約6.4 ｍｍ（約0.25インチ）だけ間隔が置かれて
配置されている。
【００７８】上述したように、磁石アッセンブリ121 は
ベルト117 から突出した形材144 と接続されている。磁
石アッセンブリ121 が形材88および滑車118aに近接した
トレイ38の端部に近付くときに、磁石アッセンブリ121
は滑車118aの端部を越えて延ばされて、試料ラック33が
トレイ38の装填位置に完全に動かされていることを確認
する。このように、上述したように磁石140 を形材144
に接続することにより、磁石アッセンブリ121 が、滑車
118aを回るときに、ベルト117 の端部を越えて試料ラッ
ク33を移動させる。
ベルト117 から突出した形材144 と接続されている。磁
石アッセンブリ121 が形材88および滑車118aに近接した
トレイ38の端部に近付くときに、磁石アッセンブリ121
は滑車118aの端部を越えて延ばされて、試料ラック33が
トレイ38の装填位置に完全に動かされていることを確認
する。このように、上述したように磁石140 を形材144
に接続することにより、磁石アッセンブリ121 が、滑車
118aを回るときに、ベルト117 の端部を越えて試料ラッ
ク33を移動させる。
【００７９】図７から分かるように、滑車118aまたは11
8bには、ベルト117 内の対応する凹部と噛み合い、イン
デキシングを保つ一連の歯がある。
8bには、ベルト117 内の対応する凹部と噛み合い、イン
デキシングを保つ一連の歯がある。
【００８０】図６に関して上述したように、一度試料ラ
ック33が装填位置の配置されると、滑車118 が回転し
て、ベルト117 をさらに移動させて、トレイ114 上の他
の試料ラック33を装填位置に向かって移動させる。ベル
ト117 が装填位置から後ろに離れて短く動いたときに、
装填位置まで移動すべきラインにある次の試料ラックの
下に制御器28により置かれた磁石アッセンブリ121 のう
ちの１つによりベルト117 が移動を停止し、装填位置に
ある試料ラック33が装填位置内に止まっている一方で、
他の試料ラック33がわずかに移動して離れ、装填位置で
滞るのを防いでいる。
ック33が装填位置の配置されると、滑車118 が回転し
て、ベルト117 をさらに移動させて、トレイ114 上の他
の試料ラック33を装填位置に向かって移動させる。ベル
ト117 が装填位置から後ろに離れて短く動いたときに、
装填位置まで移動すべきラインにある次の試料ラックの
下に制御器28により置かれた磁石アッセンブリ121 のう
ちの１つによりベルト117 が移動を停止し、装填位置に
ある試料ラック33が装填位置内に止まっている一方で、
他の試料ラック33がわずかに移動して離れ、装填位置で
滞るのを防いでいる。
【００８１】ここで図８および９を参照する。底面図に
おいて、間隔が離れておかれ、トレイ114 の対向する端
部に配置された１組の同じステンレス鋼の軸162,164 を
備えた駆動アッセンブリ116 が示されている。軸164 を
代表とすると、軸164 の各々の端部が、トレイ114 の下
に延びる取付板167a,167b のそれぞれの端部に示したよ
うに取り付けられたボールベアリングアッセンブリ166
に接続されている。このボールベアリングアッセンブリ
166 により、軸162,164 が取付板167 に対して回転でき
る。各々の軸162,164 には、組になった駆動滑車118a,1
18b がその上に取付けられている。１つのベルト滑車11
8bの近くには、駆動ギヤ123 が配置されている。図９に
おいて、別の駆動滑車176 が、軸164 に接続され、軸18
2 、滑車181 およびベルト180 を介して駆動モータ177
により駆動されている。
おいて、間隔が離れておかれ、トレイ114 の対向する端
部に配置された１組の同じステンレス鋼の軸162,164 を
備えた駆動アッセンブリ116 が示されている。軸164 を
代表とすると、軸164 の各々の端部が、トレイ114 の下
に延びる取付板167a,167b のそれぞれの端部に示したよ
うに取り付けられたボールベアリングアッセンブリ166
に接続されている。このボールベアリングアッセンブリ
166 により、軸162,164 が取付板167 に対して回転でき
る。各々の軸162,164 には、組になった駆動滑車118a,1
18b がその上に取付けられている。１つのベルト滑車11
8bの近くには、駆動ギヤ123 が配置されている。図９に
おいて、別の駆動滑車176 が、軸164 に接続され、軸18
2 、滑車181 およびベルト180 を介して駆動モータ177
により駆動されている。
【００８２】図９から明らかに分かるように、駆動軸16
2 はここでは、肩領域196 およびロッキングカラー198
の組合せにより互いに保持された１組の軸192,194 から
形成されている。軸162,164 を多くの別々の片から形成
することにより、軸162,164を容易に組み立て、修理と
交換のために容易にアクセスできるように容易に分解で
きる。
2 はここでは、肩領域196 およびロッキングカラー198
の組合せにより互いに保持された１組の軸192,194 から
形成されている。軸162,164 を多くの別々の片から形成
することにより、軸162,164を容易に組み立て、修理と
交換のために容易にアクセスできるように容易に分解で
きる。
【００８３】図９から明らかに分かるように、入力行列
後縁ガイド44、装填ガイド89、および出力行列後縁ガイ
ド99がトレイ114 上に配置されている。
後縁ガイド44、装填ガイド89、および出力行列後縁ガイ
ド99がトレイ114 上に配置されている。
【００８４】ここで図１０−１７を参照する。ラック33
に相当する試料ラック200 には、第１と第２の対向端20
0a,200b 、上面200c、底面200d（図１４）および１組の
対向側面200e,200f （図１６）がある。必要に応じて、
反射部材201 が表面200e上に配置されている。反射部材
201 は、光を反射して、光学センサ128 （図５）を始動
させる。このように、反射部材を、センサ128 を始動さ
せるように位置合わせされた表面200eのどの部分に沿っ
ても配置しても差支えない。あるいは、好ましくは、部
材201 を省いて（図１１）、表面200eが反射性材料から
作成されているか、または、そこに入射した光を反射し
てセンサ128 を始動させるように研磨されている。
に相当する試料ラック200 には、第１と第２の対向端20
0a,200b 、上面200c、底面200d（図１４）および１組の
対向側面200e,200f （図１６）がある。必要に応じて、
反射部材201 が表面200e上に配置されている。反射部材
201 は、光を反射して、光学センサ128 （図５）を始動
させる。このように、反射部材を、センサ128 を始動さ
せるように位置合わせされた表面200eのどの部分に沿っ
ても配置しても差支えない。あるいは、好ましくは、部
材201 を省いて（図１１）、表面200eが反射性材料から
作成されているか、または、そこに入射した光を反射し
てセンサ128 を始動させるように研磨されている。
【００８５】複数の開口部202a-202e がラック200 の上
面200eに形成されている。典型的な場合には、５つの開
口部がある。開口部202a-202e は、試料含有容器を受け
入れるように選択された形状を有するように設けられて
いる。この特定の実施の形態において、開口部202 は、
所定のサイズの試験管を収容するように選択された円形
を有するように設けられている。各々の開口部202a-202
e には、試料ラック200 の側面200eに対応するスロット
204a-204e が形成されている。
面200eに形成されている。典型的な場合には、５つの開
口部がある。開口部202a-202e は、試料含有容器を受け
入れるように選択された形状を有するように設けられて
いる。この特定の実施の形態において、開口部202 は、
所定のサイズの試験管を収容するように選択された円形
を有するように設けられている。各々の開口部202a-202
e には、試料ラック200 の側面200eに対応するスロット
204a-204e が形成されている。
【００８６】スロット204a-204e は、それぞれの開口部
200a-200e の上部から試料ラック200 の底面200dに向か
って延びている。開口部202a-202e 各々の内部にはフィ
ンガースプリング206a-206e が配置されている。ここで
は、開口部202 は、典型的に約4.3 ｃｍ（約1.7 イン
チ）の長さおよび典型的に約1.7 ｃｍ（約0.675 イン
チ）の直径を有するように形成されている。スプリング
206 は、典型的に約3.8 ｃｍ（約1.5 インチ）の長さお
よび典型的に約8.0 ｍｍ（約0.313 インチ）の幅を有す
るように形成され、スロットは典型的に約8.8 ｍｍ（約
0.345 インチ）の幅を有するように形成されている。ス
ロット壁205 （図１１）は、典型的に約２．０ｍｍ（約
０．０８インチ）の厚さを有するように形成され、スプ
リング206 とともに、３点で接触して（スプリング206
の中央部とスロット204 の縁の間の２つの線および
点）、様々なサイズの試験管を試料ラック200 の開口部
202 内に固定する。
200a-200e の上部から試料ラック200 の底面200dに向か
って延びている。開口部202a-202e 各々の内部にはフィ
ンガースプリング206a-206e が配置されている。ここで
は、開口部202 は、典型的に約4.3 ｃｍ（約1.7 イン
チ）の長さおよび典型的に約1.7 ｃｍ（約0.675 イン
チ）の直径を有するように形成されている。スプリング
206 は、典型的に約3.8 ｃｍ（約1.5 インチ）の長さお
よび典型的に約8.0 ｍｍ（約0.313 インチ）の幅を有す
るように形成され、スロットは典型的に約8.8 ｍｍ（約
0.345 インチ）の幅を有するように形成されている。ス
ロット壁205 （図１１）は、典型的に約２．０ｍｍ（約
０．０８インチ）の厚さを有するように形成され、スプ
リング206 とともに、３点で接触して（スプリング206
の中央部とスロット204 の縁の間の２つの線および
点）、様々なサイズの試験管を試料ラック200 の開口部
202 内に固定する。
【００８７】図１８Ａ−Ｃは、スプリング206 の、検査
試料容器34を保持するときの取付けおよび使用中の圧縮
を示す試料ラック33のスロット204 の中間から下の断面
図である。各々のスロット204 の後方には、それぞれ、
上部と底部に縁がついたスプリング保持溝203 および20
5 がある。これらの溝は、２つの溝203 および205 を構
成するスロット204 の各々の側に形成されたリッジ207
により形成されている。スプリング206 には、溝203 お
よび205 の先端を越えて滑らせることによりラック内に
スプリングを維持するのに役立つ巻かれた端部208 があ
る。スプリング206 の圧力が加えられていない通常の位
置が図１８Ａに示されている。このスプリングが取付け
中に延ばされて、下側の巻かれた端部208 が溝205 に入
るまで、底側端部208 が溝205 に達することができな
い。図１８Ｃに示したように試験管を挿入する際には、
力211 の下でスプリング206 にさらに圧力が加えられ
て、底側端部208 を溝205 のスラック収容延長部213 に
下方に延ばす。試験管を取り出した際には、スプリング
206 が図１８Ｂの状態に戻る。
試料容器34を保持するときの取付けおよび使用中の圧縮
を示す試料ラック33のスロット204 の中間から下の断面
図である。各々のスロット204 の後方には、それぞれ、
上部と底部に縁がついたスプリング保持溝203 および20
5 がある。これらの溝は、２つの溝203 および205 を構
成するスロット204 の各々の側に形成されたリッジ207
により形成されている。スプリング206 には、溝203 お
よび205 の先端を越えて滑らせることによりラック内に
スプリングを維持するのに役立つ巻かれた端部208 があ
る。スプリング206 の圧力が加えられていない通常の位
置が図１８Ａに示されている。このスプリングが取付け
中に延ばされて、下側の巻かれた端部208 が溝205 に入
るまで、底側端部208 が溝205 に達することができな
い。図１８Ｃに示したように試験管を挿入する際には、
力211 の下でスプリング206 にさらに圧力が加えられ
て、底側端部208 を溝205 のスラック収容延長部213 に
下方に延ばす。試験管を取り出した際には、スプリング
206 が図１８Ｂの状態に戻る。
【００８８】試験管214 にはバーコードラベル216 が貼
り付けられている。バーコードラベルが貼り付けられて
いる試験管の一部が、スロット204aを通して露出され、
したがって、読取器83に見えるようになっている。
り付けられている。バーコードラベルが貼り付けられて
いる試験管の一部が、スロット204aを通して露出され、
したがって、読取器83に見えるようになっている。
【００８９】試料ラックは所定の範囲の直径を有する試
験管を保持できるが、この範囲内において、同一の試料
ラック内には同様の直径を有する試験管を配置すること
が好ましい。このように、以下に記載するように、各々
の試料ラックは10.25 ｍｍ−16.5ｍｍの範囲の直径を有
する試験管を保持できるが、特定の範囲内の直径を有す
る試験管を保持する特定のラックを選定することが望ま
しい。
験管を保持できるが、この範囲内において、同一の試料
ラック内には同様の直径を有する試験管を配置すること
が好ましい。このように、以下に記載するように、各々
の試料ラックは10.25 ｍｍ−16.5ｍｍの範囲の直径を有
する試験管を保持できるが、特定の範囲内の直径を有す
る試験管を保持する特定のラックを選定することが望ま
しい。
【００９０】この特定の実施の形態においては、開口部
202a-202e が円形の断面形状を有するように形成されて
いるが、他の断面形状を用いてもよい。例えば、開口部
を、長方形、正方形、三角形または他の断面形状を有す
るように形成してもよい。また、開口部をテーパー状の
壁を有するように形成して、より容易に円錐型容器を保
持するようにしてもよい。中に配置する試料含有容器を
容易に試料ラック200内に配置したりそこから取り出し
たりできるように開口部の特定の形状を選択すべきであ
る。さらに、開口部202a-202e 全てが同一の形状を有す
る必要はない。開口部の大きさおよび形状にかかわら
ず、上述したスプリングの形状を用いて、その中に試料
含有容器を固定し、しっかりと保持することができる。
202a-202e が円形の断面形状を有するように形成されて
いるが、他の断面形状を用いてもよい。例えば、開口部
を、長方形、正方形、三角形または他の断面形状を有す
るように形成してもよい。また、開口部をテーパー状の
壁を有するように形成して、より容易に円錐型容器を保
持するようにしてもよい。中に配置する試料含有容器を
容易に試料ラック200内に配置したりそこから取り出し
たりできるように開口部の特定の形状を選択すべきであ
る。さらに、開口部202a-202e 全てが同一の形状を有す
る必要はない。開口部の大きさおよび形状にかかわら
ず、上述したスプリングの形状を用いて、その中に試料
含有容器を固定し、しっかりと保持することができる。
【００９１】再度図１０−１７を参照する。試料ラック
の前端にはその中に装填スロット152 が形成されてい
る。装填スロット152 が装填ガイド150 を受け入れて、
入力行列の装填位置内に試料ラック200 を適切に位置合
わせする（図７および９）。
の前端にはその中に装填スロット152 が形成されてい
る。装填スロット152 が装填ガイド150 を受け入れて、
入力行列の装填位置内に試料ラック200 を適切に位置合
わせする（図７および９）。
【００９２】同様に、試料ラック200 の後端には、入力
行列縁ガイド48と合わさり（図２、３）、行列縁ガイド
99から出る（図２、３）開口部がある。開口部46には、
入力行列上に試料ラック200 を配置するのに役立ち、ラ
ック200 が入力行列の上で傾いたり、滑るのを防ぐ入力
行列ガイド48上の対応する形状と噛み合う凸部222 があ
る。
行列縁ガイド48と合わさり（図２、３）、行列縁ガイド
99から出る（図２、３）開口部がある。開口部46には、
入力行列上に試料ラック200 を配置するのに役立ち、ラ
ック200 が入力行列の上で傾いたり、滑るのを防ぐ入力
行列ガイド48上の対応する形状と噛み合う凸部222 があ
る。
【００９３】しかしながら、図９に関して上述したよう
に、後縁ガイド99はＬ型部材として設けられている。し
たがって、このガイド99は、ラックを出力行列から容易
に取り出せるように開口部46の前部分46a のみと合わさ
る。
に、後縁ガイド99はＬ型部材として設けられている。し
たがって、このガイド99は、ラックを出力行列から容易
に取り出せるように開口部46の前部分46a のみと合わさ
る。
【００９４】試料ラック200 には、使用者が試料ラック
200 を運ぶのに使用するハンドル224 もある。ハンドル
の上部の角度のついた部分には、凹部226 が形成され
て、使用者にとって掴みやすい人間工学デザインとなっ
ている。
200 を運ぶのに使用するハンドル224 もある。ハンドル
の上部の角度のついた部分には、凹部226 が形成され
て、使用者にとって掴みやすい人間工学デザインとなっ
ている。
【００９５】ハンドル224 にも、垂直なバーコードラベ
ル229 を取り付けてもよい側面228がある。垂直バーコ
ードラベル229 には複数のバーコードが配置されてい
る。バーコードにより、試料ラック200 内に収容されて
いる試験管のサイズ（例えば、直径範囲）を認識する。
スライディングクリップ233 が試料ラック200 のハンド
ル224 の周りに配置されており、使用者がこのクリップ
233 を適切に移動して、試料ラック200 内に実際に配置
された試験管のサイズを認識する。さらなるバーコード
領域230 により試料ラックの連続番号を認識する。この
ように、各々個々の試料ラックには、特有の認識番号が
付けられている。
ル229 を取り付けてもよい側面228がある。垂直バーコ
ードラベル229 には複数のバーコードが配置されてい
る。バーコードにより、試料ラック200 内に収容されて
いる試験管のサイズ（例えば、直径範囲）を認識する。
スライディングクリップ233 が試料ラック200 のハンド
ル224 の周りに配置されており、使用者がこのクリップ
233 を適切に移動して、試料ラック200 内に実際に配置
された試験管のサイズを認識する。さらなるバーコード
領域230 により試料ラックの連続番号を認識する。この
ように、各々個々の試料ラックには、特有の認識番号が
付けられている。
【００９６】作動中に、試料ラック200 が入力行列から
処理行列に動かされた場合にはバーコード読取器が、ス
ライディングクリップ233 により遮断されていないかま
たは強調されているラベル229 上のバーコードを読み取
る。このように、バーコード読取器により、試料ラック
200 内に配置された試験管の種類（すなわち、サイズ）
を認識できる。上述したように、試料ラック200 は異な
る直径および形状を有する試験管を保持することができ
る。しかしながら、試料プローブでの試験管の開口部と
の位置合せを改良するために、システム制御器が好まし
くは試験管の種類を認識している。
処理行列に動かされた場合にはバーコード読取器が、ス
ライディングクリップ233 により遮断されていないかま
たは強調されているラベル229 上のバーコードを読み取
る。このように、バーコード読取器により、試料ラック
200 内に配置された試験管の種類（すなわち、サイズ）
を認識できる。上述したように、試料ラック200 は異な
る直径および形状を有する試験管を保持することができ
る。しかしながら、試料プローブでの試験管の開口部と
の位置合せを改良するために、システム制御器が好まし
くは試験管の種類を認識している。
【００９７】ハンドル224 を含む試料ラック200 全体
を、射出成形技術により１つの部品として設けてもよ
い。あるいは、試料ラック200 の試験管保持部分および
ハンドル224 を別々の部品として用意し、ねじ、エポキ
シ、または当業者によく知られた他の固定技術により互
いに合わせてもよい。図１１に示したように、孔231a,2
31b 内の１組のねじ、例えば、ねじ231c（図示せず）に
よりハンドル224 を試料ラック200 のベース部分に固定
してもよい。
を、射出成形技術により１つの部品として設けてもよ
い。あるいは、試料ラック200 の試験管保持部分および
ハンドル224 を別々の部品として用意し、ねじ、エポキ
シ、または当業者によく知られた他の固定技術により互
いに合わせてもよい。図１１に示したように、孔231a,2
31b 内の１組のねじ、例えば、ねじ231c（図示せず）に
よりハンドル224 を試料ラック200 のベース部分に固定
してもよい。
【００９８】図１２から明らかに分かるように、孔202
の各々には、必要に応じて、その底部にスロット225 を
形成してもよく、孔202 内に試験管を安定化してもよ
い。
の各々には、必要に応じて、その底部にスロット225 を
形成してもよく、孔202 内に試験管を安定化してもよ
い。
【００９９】試料ラック200 の底面には、入力および出
力行列のガイド42,80 （図２）と合わさり、これらを収
容する溝234 が形成されている。
力行列のガイド42,80 （図２）と合わさり、これらを収
容する溝234 が形成されている。
【０１００】試料ラック200 の底面には、１組の長方形
のキャビティ240 （図１３）も形成されている。磁気的
吸引性部材244 （図１５）がキャビティ240 の各々の内
部に配置されている。この磁気的吸引性部材は、試料ラ
ックの底面に成形してもよい。同様に、カバー246 を部
材244 の上の試料ラックに固定してもよい。この部材
は、試料ラック200 の緯度の中心線245 の周りに対称的
に配置されている。
のキャビティ240 （図１３）も形成されている。磁気的
吸引性部材244 （図１５）がキャビティ240 の各々の内
部に配置されている。この磁気的吸引性部材は、試料ラ
ックの底面に成形してもよい。同様に、カバー246 を部
材244 の上の試料ラックに固定してもよい。この部材
は、試料ラック200 の緯度の中心線245 の周りに対称的
に配置されている。
【０１０１】この特定の実施の形態において、磁気的吸
引性部材244 の各々は、略長方形の磁気的吸引性ステン
レス鋼板として設けてもよい。図１５から明らかに分か
るように、底面の第１の部分244cが試料ラック200 の底
面からわずかに窪んでいる（または実質的に位置合せさ
れている）。板244 の第２の部分244bは上述したように
ラック200 の本体中に傾いている。
引性部材244 の各々は、略長方形の磁気的吸引性ステン
レス鋼板として設けてもよい。図１５から明らかに分か
るように、底面の第１の部分244cが試料ラック200 の底
面からわずかに窪んでいる（または実質的に位置合せさ
れている）。板244 の第２の部分244bは上述したように
ラック200 の本体中に傾いている。
【０１０２】図６に関して記載したように、作動中に、
磁石アッセンブリ121 が、磁石が最初に部材244 の傾い
た第２の部分244bを引き付けるような方向から試料ラッ
クに近付く。このように、磁石アッセンブリ121 （図
６）により生じた磁界の力が徐々に部材244 に導入され
る。
磁石アッセンブリ121 が、磁石が最初に部材244 の傾い
た第２の部分244bを引き付けるような方向から試料ラッ
クに近付く。このように、磁石アッセンブリ121 （図
６）により生じた磁界の力が徐々に部材244 に導入され
る。
【０１０３】１組のカバー246 が開口部240 の上に配置
されている。これらカバー246 は、開口部240 に近接し
て形成された溝247 （図１５）中にはまる。カバー246
は、開口部240 中のスナップフィットを形成してラック
200 内の板244 を固定する一方で、部材244 の少なくと
も一部を露出したままにする（図１４）ようなサイズお
よび形状を有するように選択される。
されている。これらカバー246 は、開口部240 に近接し
て形成された溝247 （図１５）中にはまる。カバー246
は、開口部240 中のスナップフィットを形成してラック
200 内の板244 を固定する一方で、部材244 の少なくと
も一部を露出したままにする（図１４）ようなサイズお
よび形状を有するように選択される。
【０１０４】この特定の実施の形態において、試料ラッ
ク部材244 は、試料ラック200 が図８のコンベヤ装置の
ようなコンベヤ装置のトレイ上に配置されたときに、ベ
ルト170a,170b （図８）に接続された磁石アッセンブリ
173 （図８）が部材244 の下を直接通過するように、試
料ラック200 の底面に間隔がおかれて配置されている。
ク部材244 は、試料ラック200 が図８のコンベヤ装置の
ようなコンベヤ装置のトレイ上に配置されたときに、ベ
ルト170a,170b （図８）に接続された磁石アッセンブリ
173 （図８）が部材244 の下を直接通過するように、試
料ラック200 の底面に間隔がおかれて配置されている。
【０１０５】試料ラック200 の底面からは、１組の凸部
またはレール250,252 が突出している。レール250,252
は、行列表面から部材244 とともに試料ラックの底面
を、そして試料ラックが配置されている表面から部材24
4 を離している。このように、レール250,252 は、ラッ
ク200 が配置されているトレイ114 （図５、６）の表面
と接触する試料ラック200 の表面積を減少させている。
その結果、試料ラック200 とトレイ38との間の摩擦力が
減少している。これにより、試料ラック200 をトレイ38
に沿って動かすのに必要とされる磁力が小さてすむ。
またはレール250,252 が突出している。レール250,252
は、行列表面から部材244 とともに試料ラックの底面
を、そして試料ラックが配置されている表面から部材24
4 を離している。このように、レール250,252 は、ラッ
ク200 が配置されているトレイ114 （図５、６）の表面
と接触する試料ラック200 の表面積を減少させている。
その結果、試料ラック200 とトレイ38との間の摩擦力が
減少している。これにより、試料ラック200 をトレイ38
に沿って動かすのに必要とされる磁力が小さてすむ。
【０１０６】本発明の好ましい実施の形態を記載してき
たが、本発明の概念を伴う他の実施の形態を用いてもよ
い。
たが、本発明の概念を伴う他の実施の形態を用いてもよ
い。
【０１０７】例えば、駆動装置に、１つのベルトおよび
それに結合した磁石を設けても差支えない。ベルトおよ
び磁石は好ましくは、移送トレイの中央縦軸に沿って配
置される。そのような場合、試料ラックには、試料ラッ
クの中心に配置され、試料ラックが移送トレイ上に配置
されたときに１つのベルトおよび磁石と位置合せされて
いる１つの磁気的吸引性領域がある。この場合には、試
料ラックが、１つの磁石が結合される地点の周りに旋回
しないように間隔の置かれたガイドによりそこから突出
した１組のガイドを有するトレイを提供することが好ま
しい場合もある。
それに結合した磁石を設けても差支えない。ベルトおよ
び磁石は好ましくは、移送トレイの中央縦軸に沿って配
置される。そのような場合、試料ラックには、試料ラッ
クの中心に配置され、試料ラックが移送トレイ上に配置
されたときに１つのベルトおよび磁石と位置合せされて
いる１つの磁気的吸引性領域がある。この場合には、試
料ラックが、１つの磁石が結合される地点の周りに旋回
しないように間隔の置かれたガイドによりそこから突出
した１組のガイドを有するトレイを提供することが好ま
しい場合もある。
【０１０８】さらに、試料ラックの底面に曲部を有する
部材244 用の板を設けずに、各々の端部に異なる厚さを
有する板を設けても差支えない。例えば、板の第１の端
部が比較的薄く、板の第２の端部が比較的厚くても差支
えない。駆動装置に接続された磁石は最初に、板の薄い
端部と出会う。この結果、比較的弱く磁気的に接続され
る。次いで、磁石が比較的強い力で板の厚い端部と噛み
合う。この配列により、試料ラックは静止状態から移動
状態に滑らかに移行する。
部材244 用の板を設けずに、各々の端部に異なる厚さを
有する板を設けても差支えない。例えば、板の第１の端
部が比較的薄く、板の第２の端部が比較的厚くても差支
えない。駆動装置に接続された磁石は最初に、板の薄い
端部と出会う。この結果、比較的弱く磁気的に接続され
る。次いで、磁石が比較的強い力で板の厚い端部と噛み
合う。この配列により、試料ラックは静止状態から移動
状態に滑らかに移行する。
【０１０９】これらの実施の形態は、開示された実施の
形態に限定されるものではなく、請求項の精神および範
囲のみに限定されるものである。
形態に限定されるものではなく、請求項の精神および範
囲のみに限定されるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】自動分析装置のブロック図
【図２】入力行列、処理行列および出力行列を有する本
発明による試料移送装置の１つの実施の形態を示す斜視
図
発明による試料移送装置の１つの実施の形態を示す斜視
図
【図３】試料移送装置の上面図
【図３Ａ】試料移送装置の一部の斜視図
【図４】試料移送装置の斜視図
【図５】試料移送装置の一部の側面図
【図５Ａ】試料移送装置の一部の詳細を示す斜視図
【図５Ｂ】試料移送装置の一部の詳細を示す上面図
【図６】試料ラックおよび磁石アッセンブリの断面図
【図７】試料移送装置の一部の側面図
【図８】駆動装置の底面図
【図９】別の駆動装置の端面図
【図１０】試料ラックの斜視図
【図１１】別の試料ラックの斜視図
【図１２】試料ラックの上面図
【図１３】試料ラックの側面図
【図１４】試料ラックの底面図
【図１５】磁気試料ラックの一部の断面図
【図１６】試料ラックの側面図
【図１７】試料ラック端面図
【図１８Ａ】スプリングの取付けおよび圧縮を示す試料
ラックスロットの断面図
ラックスロットの断面図
【図１８Ｂ】スプリングの取付けおよび圧縮を示す試料
ラックスロットの断面図
ラックスロットの断面図
【図１８Ｃ】スプリングの取付けおよび圧縮を示す試料
ラックスロットの断面図
ラックスロットの断面図
【符号の説明】 10 自動分析装置 12 計測器 14、110 移送装置 16 入力行列 18 処理行列 20 出力行列 22 装填位置 24、51 給送装置 26 バーコード読取器 28 システム制御器 30 排出装置 32、50、136 ハウジング 33、200 試料ラック 34、130 試験管 38、78、114 トレイ 39、224 ハンドル 42、44、80、150 ガイド 46、64、204 スロット 52 運搬部材 53、116 駆動装置 54 支持ブロック 58 スライド 60 処理トレイ 62 プローブチップトレイ 72 プッシャ 74 プッシュロッド 83 バーコード読取器 84、117 ベルト 86、118 、129 、176 滑車 88、144 形材 98、124 、128 センサ 119 駆動モータ 121 磁石アッセンブリ 144 磁石 177 モータ 206 スプリング 229 ラベル 233 クリップ 250 、252 レール
【手続補正２】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２
【補正方法】変更
【補正内容】
【図２】
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図３
【補正方法】変更
【補正内容】
【図３】
【手続補正４】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図４
【補正方法】変更
【補正内容】
【図４】
【手続補正５】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図８
【補正方法】変更
【補正内容】
【図８】
【手続補正６】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１０
【補正方法】変更
【補正内容】
【図１０】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 デイヴィッド ジェイ ラペウス アメリカ合衆国 オハイオ州 44125 ガ ーフィールド ヘイツ ウッドワード ブ ールヴァード 13124 (72)発明者 メアリー ベス ホワイトセル アメリカ合衆国 オハイオ州 44044 グ ラフトン クルック ストリート 37545
Claims (14)
- 【請求項１】 (a) 第１と第２の端部を有する入力行
列、 (b) 該入力行列の第２の端部に近接して配置された給
送装置、 (c) 前記入力行列に近接して配置された処理行列、お
よび (d) 該処理行列に近接して配置された出力行列、から
なる移送装置であって、 前記入力行列、処理行列および出力行列のうちの第１の
行列が、 第１と第２の対向端部および第１と第２の対向面を有す
るトレイ、 該トレイに近接して配置された磁石、および前記トレイ
の第１と第２の対向端部の間の第１と第２の方向で前記
磁石を移動させる、該磁石に接続された駆動装置、を備
えていることを特徴とする移送装置。 - 【請求項２】 前記入力行列に近接して配置されたバー
コード読取器を備えていることを特徴とする請求項１記
載の移送装置。 - 【請求項３】 前記入力行列、処理行列および出力行列
のうちの第２の行列が、 第１と第２の対向端部および第１と第２の対向面を有す
るトレイ、 該トレイの近接して配置された駆動装置、 前記トレイに近接して配置された磁石、および前記トレ
イの第１と第２の対向端部の間の第１と第２の方向で前
記磁石を移動させる、該磁石に接続された駆動装置、を
備えていることを特徴とする請求項２記載の移送装置。 - 【請求項４】 前記処理行列が排出プッシャを備え、 該排出プッシャが、 少なくともその一部から突出した複数の歯を有するロッ
ド、 ラックと噛み合うように適用された小歯車、およびモー
タの動きに応答して前記小歯車が直線方向に移動するよ
うに該小歯車に接続されたモータ、からなることを特徴
とする請求項３記載の移送装置。 - 【請求項５】 前記給送装置が、 第１の滑車、 第２の滑車、 該第１と第２の滑車の周りに配置されたベルト、 該ベルトの第１の表面から突出した複数の形材、および
前記滑車の周りに前記ベルトを駆動する、前記第１と第
２の滑車のうちの第１の滑車に接続されたモータ、から
なることを特徴とする請求項４記載の移送装置。 - 【請求項６】 試料ラックにより保持される試料容器内
に配置される試料を分析する分析装置であって、 少なくとも１つの入口地点および移送地点を有し、該入
口地点から該移送地点まで前記試料ラックを磁気的に移
動させる手段を備えた入力行列、 該入力行列の移送地点に位置合せされた入口地点および
移送地点を有する処理行列、 前記入力行列の移送地点から前記処理行列の入口地点ま
で前記試料ラックを移動させる給送装置、および前記処
理行列の移送地点に位置合せされた入口地点を有する出
力行列、からなることを特徴とする分析装置。 - 【請求項７】 前記入力行列および出力行列に近接して
配置されたバーコード読取器を備えていることを特徴と
する請求項６記載の分析装置。 - 【請求項８】 前記処理行列から前記出力行列まで前記
試料ラックを移動させる、前記処理行列に近接して配置
された第２の手段を備えていることを特徴とする請求項
６記載の分析装置。 - 【請求項９】 前記第２の手段が、 モータ、および該モータに接続され、該モータの回転に
応答して前記試料ラックの表面と接触して該試料ラック
を移動させるプッシュロッド、 からなることを特徴とする請求項８記載の分析装置。 - 【請求項１０】 前記処理行列内に配置された前記試料
ラックへのアクセスを妨げる、該処理行列の周りに配置
されたカバーを備えていることを特徴とする請求項６記
載の分析装置。 - 【請求項１１】 前記入力行列が、前記試料ラックの一
部と噛み合うように適用されたガイドを有することを特
徴とする請求項６記載の分析装置。 - 【請求項１２】 前記ガイドが、前記入力行列の第１の
表面上に設けられたボスであり、該ボスが前記試料ラッ
ク内に設けられた凹部領域と噛み合うように適用されて
いることを特徴とする請求項１１記載の分析装置。 - 【請求項１３】 前記試料ラックの中心部分に設けられ
た凹部領域と噛み合う、前記入力行列の第１の中心部分
に沿って該入力行列の第１の表面から突出した第１のガ
イド、 前記試料ラックの第１の端部と噛み合う、前記入力行列
の第１の縁に沿って該入力行列の第１の表面から突出し
た第２のガイド、および前記試料ラックの第２の端部と
噛み合う、前記入力行列の第２の縁に沿って該入力行列
の第１の表面から突出した第３のガイド、を備えている
ことを特徴とする請求項６記載の分析装置。 - 【請求項１４】 前記入力行列および出力行列のうちの
第１の行列が、 スタット入口地点および前記処理行列の入口地点と位置
合せされたスタット装填地点、並びに前記入力行列およ
び前記出力行列のうちの第１の行列上に配置され、前記
スタット入口地点内の前記試料ラックの配置に応答する
信号を送るセンサ、を備えていることを特徴とする請求
項６記載の分析装置。
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