JPH0821667B2 - リードフレーム - Google Patents
リードフレームInfo
- Publication number
- JPH0821667B2 JPH0821667B2 JP62252939A JP25293987A JPH0821667B2 JP H0821667 B2 JPH0821667 B2 JP H0821667B2 JP 62252939 A JP62252939 A JP 62252939A JP 25293987 A JP25293987 A JP 25293987A JP H0821667 B2 JPH0821667 B2 JP H0821667B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin
- semiconductor element
- element mounting
- mounting portion
- sealing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、主に樹脂封止型電子部品に利用することが
できるリードフレームに関するものである。
できるリードフレームに関するものである。
従来の技術 近年、電子部品、とりわけ、半導体装置の封止技術
は、低圧トランスファ成形による樹脂封止が主流であ
り、これにリードフレームが用いられている。
は、低圧トランスファ成形による樹脂封止が主流であ
り、これにリードフレームが用いられている。
以下に、従来の樹脂封止型半導体装置用リードフレー
ムについて説明する。第３図は樹脂封止工程中の成形金
型内での半導体装置の側断面図、第４図は樹脂封止後の
半導体装置の側断面図であり、１は半導体素子載置部、
２はリード、３は半導体素子、４は半導体素子３とリー
ド２を電気的に接続する金属細線、５は封止樹脂、６は
上金型、７は下金型、８は封止樹脂注入口である。
ムについて説明する。第３図は樹脂封止工程中の成形金
型内での半導体装置の側断面図、第４図は樹脂封止後の
半導体装置の側断面図であり、１は半導体素子載置部、
２はリード、３は半導体素子、４は半導体素子３とリー
ド２を電気的に接続する金属細線、５は封止樹脂、６は
上金型、７は下金型、８は封止樹脂注入口である。
封止樹脂５は下金型７の端部の封止樹脂注入口８より
注入され、リードフレーム下部から上部に向かって充填
される。
注入され、リードフレーム下部から上部に向かって充填
される。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記の従来の構成では、封止樹脂５が
リードフレームの下部から先に充填されていくため、封
止樹脂注入時の封止樹脂５の圧力により半導体素子載置
部１、樹脂成形体内に封止されるリード２などが封止樹
脂５の流れ方向に向かって位置ずれ，変形などを起こ
し、歩留り増大，品質低下を招くという欠点を有してい
た。
リードフレームの下部から先に充填されていくため、封
止樹脂注入時の封止樹脂５の圧力により半導体素子載置
部１、樹脂成形体内に封止されるリード２などが封止樹
脂５の流れ方向に向かって位置ずれ，変形などを起こ
し、歩留り増大，品質低下を招くという欠点を有してい
た。
本発明は上記従来の問題点を解決するもので、半導体
装置の樹脂封止工程中の半導体素子載置部１の位置ず
れ，変形などを防止する構造を有する半導体装置用リー
ドフレームを提供することを目的とする。
装置の樹脂封止工程中の半導体素子載置部１の位置ず
れ，変形などを防止する構造を有する半導体装置用リー
ドフレームを提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段 この目的を達成するために、樹脂封止用の上下金型の
うち一方の金型から注入された封止樹脂により外囲が樹
脂封止される樹脂封止型半導体装置用の半導体素子搭載
部を備えたリードフレームにおいて、前記上下金型のう
ち封止樹脂が注入される側の金型とは反対側の金型に接
触して、封止樹脂注入時の樹脂圧力による前記半導体素
子搭載部の位置ずれおよび変形を防止するための突起部
を前記半導体素子搭載部の対角端部に備えたものであ
る。
うち一方の金型から注入された封止樹脂により外囲が樹
脂封止される樹脂封止型半導体装置用の半導体素子搭載
部を備えたリードフレームにおいて、前記上下金型のう
ち封止樹脂が注入される側の金型とは反対側の金型に接
触して、封止樹脂注入時の樹脂圧力による前記半導体素
子搭載部の位置ずれおよび変形を防止するための突起部
を前記半導体素子搭載部の対角端部に備えたものであ
る。
作用 この構成によって、上下金型のうち封止樹脂が注入さ
れる側の金型、例えば下金型から封止樹脂が注入される
場合、その反対側の金型である上金型に半導体素子搭載
部に設けた突起部が接触し、半導体素子搭載部が封止樹
脂の樹脂圧力を受けても、突起部により半導体素子搭載
部が支持されているので、位置ずれおよび変形が起きる
ことを防止できるものである。また半導体素子搭載部の
突起部も半導体素子搭載部の対角端部に設けているの
で、金型に接触する際はバランスを保ちつつ支持するこ
とができ、封止樹脂の樹脂圧力に対しても強固に半導体
素子搭載部を支持し、位置ずれおよび変形の防止を確実
にして、安定封止ができる。
れる側の金型、例えば下金型から封止樹脂が注入される
場合、その反対側の金型である上金型に半導体素子搭載
部に設けた突起部が接触し、半導体素子搭載部が封止樹
脂の樹脂圧力を受けても、突起部により半導体素子搭載
部が支持されているので、位置ずれおよび変形が起きる
ことを防止できるものである。また半導体素子搭載部の
突起部も半導体素子搭載部の対角端部に設けているの
で、金型に接触する際はバランスを保ちつつ支持するこ
とができ、封止樹脂の樹脂圧力に対しても強固に半導体
素子搭載部を支持し、位置ずれおよび変形の防止を確実
にして、安定封止ができる。
実施例 以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら
説明する。第１図は本発明の実施例半導体装置用リード
フレームを示す斜視図、第２図は樹脂封止後の半導体装
置の側断面図であり、各図中、９は回路素子載置部であ
る半導体素子載置部１を支えるアンカー、10はリードフ
レームの外枠、11は突起部である。なお、第１図，第２
図に示す本実施例の装置は、基本的には第３図，第４図
に示した従来の装置と同じ構成であるので、同一構成部
分には同一番号を付して詳細な説明を省略する。
説明する。第１図は本発明の実施例半導体装置用リード
フレームを示す斜視図、第２図は樹脂封止後の半導体装
置の側断面図であり、各図中、９は回路素子載置部であ
る半導体素子載置部１を支えるアンカー、10はリードフ
レームの外枠、11は突起部である。なお、第１図，第２
図に示す本実施例の装置は、基本的には第３図，第４図
に示した従来の装置と同じ構成であるので、同一構成部
分には同一番号を付して詳細な説明を省略する。
突起部11は半導体素子載置部１の端部から上方向に向
かって延びており、半導体素子載置面に対する角度を40
゜〜90゜とし、その高さは樹脂封止工程時に上金型６と
突起部11との間隔が０〜1mmの範囲に設定されている。
したがって、樹脂封止工程時に半導体素子載置部１は突
起部11を介して上金型６によって固定されるため、封止
樹脂注入口８から注入される封止樹脂５の下から上に向
かう圧力による半導体素子載置部１の位置ずれ，変形な
どがなくなる。なお、封止樹脂注入口８の位置によって
は、突起部11は半導体素子載置部１の端部から下方向に
向かって延びるように設定される。
かって延びており、半導体素子載置面に対する角度を40
゜〜90゜とし、その高さは樹脂封止工程時に上金型６と
突起部11との間隔が０〜1mmの範囲に設定されている。
したがって、樹脂封止工程時に半導体素子載置部１は突
起部11を介して上金型６によって固定されるため、封止
樹脂注入口８から注入される封止樹脂５の下から上に向
かう圧力による半導体素子載置部１の位置ずれ，変形な
どがなくなる。なお、封止樹脂注入口８の位置によって
は、突起部11は半導体素子載置部１の端部から下方向に
向かって延びるように設定される。
発明の効果 本発明によると、半導体素子載置部の端部に樹脂成形
上面または下面まで延びる突起部を設けることにより、
樹脂封止工程時に起こる半導体素子載置部の位置ずれ，
変形などを防止することができるため、金属細線の半導
体素子端部への接触や断線を防止することができ、品質
の向上と歩留り向上に極めて大きな効果を上げることが
できる。
上面または下面まで延びる突起部を設けることにより、
樹脂封止工程時に起こる半導体素子載置部の位置ずれ，
変形などを防止することができるため、金属細線の半導
体素子端部への接触や断線を防止することができ、品質
の向上と歩留り向上に極めて大きな効果を上げることが
できる。
第１図は本発明実施例の半導体装置用リードフレームの
斜視図、第２図は樹脂封止後の半導体装置の側断面図、
第３図は従来の半導体装置の樹脂封止工程中の断面図、
第４図は樹脂封止後の断面図である。 １……半導体素子載置部、２……リード、３……半導体
素子、４……金属細線、５……封止樹脂、６……上金
型、７……下金型、８……封止樹脂注入口、９……アン
カー、10……リードフレームの外枠、11……突起部。
斜視図、第２図は樹脂封止後の半導体装置の側断面図、
第３図は従来の半導体装置の樹脂封止工程中の断面図、
第４図は樹脂封止後の断面図である。 １……半導体素子載置部、２……リード、３……半導体
素子、４……金属細線、５……封止樹脂、６……上金
型、７……下金型、８……封止樹脂注入口、９……アン
カー、10……リードフレームの外枠、11……突起部。
Claims (1)
- 【請求項１】樹脂封止用の上下金型のうち一方の金型か
ら注入された封止樹脂により外囲が樹脂封止される樹脂
封止型半導体装置用の半導体素子搭載部を備えたリード
フレームであって、前記上下金型のうち封止樹脂が注入
される側の金型とは反対側の金型に接触して、封止樹脂
注入時の樹脂圧力による前記半導体素子搭載部の位置ず
れおよび変形を防止するための突起部を前記半導体素子
搭載部の対角端部に備えたことを特徴とするリードフレ
ーム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62252939A JPH0821667B2 (ja) | 1987-10-07 | 1987-10-07 | リードフレーム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62252939A JPH0821667B2 (ja) | 1987-10-07 | 1987-10-07 | リードフレーム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0195544A JPH0195544A (ja) | 1989-04-13 |
| JPH0821667B2 true JPH0821667B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=17244260
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62252939A Expired - Lifetime JPH0821667B2 (ja) | 1987-10-07 | 1987-10-07 | リードフレーム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0821667B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02253646A (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-12 | Nec Kyushu Ltd | リードフレーム |
| JPH0494744U (ja) * | 1991-01-09 | 1992-08-17 | ||
| JPH04368163A (ja) * | 1991-06-17 | 1992-12-21 | Nec Kyushu Ltd | Ｉｃ用リードフレーム |
| JPH08125097A (ja) * | 1994-10-27 | 1996-05-17 | Nec Corp | リードフレーム |
| KR100458640B1 (ko) * | 2002-03-20 | 2004-12-03 | 삼성테크윈 주식회사 | 리이드 프레임, 반도체 팩키지 및 반도체 팩키지 제조 방법 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6282909A (ja) * | 1985-10-04 | 1987-04-16 | 加藤電機株式会社 | サイドスライド機構 |
| JPS63249358A (ja) * | 1987-04-06 | 1988-10-17 | Hitachi Ltd | 樹脂封止型半導体装置 |
-
1987
- 1987-10-07 JP JP62252939A patent/JPH0821667B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0195544A (ja) | 1989-04-13 |
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