JPH0727885B2 - 半導体ウエハ遠心乾燥装置 - Google Patents

半導体ウエハ遠心乾燥装置

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JPH0727885B2
JPH0727885B2 JP61136035A JP13603586A JPH0727885B2 JP H0727885 B2 JPH0727885 B2 JP H0727885B2 JP 61136035 A JP61136035 A JP 61136035A JP 13603586 A JP13603586 A JP 13603586A JP H0727885 B2 JPH0727885 B2 JP H0727885B2
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JP
Japan
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wafer
rotor
semiconductor wafer
cradle
carrier
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JP61136035A
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義文 平野
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MYAZAKI OKI DENKI KK
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
MYAZAKI OKI DENKI KK
Oki Electric Industry Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体ウエハ遠心乾燥装置において、特にシ
リコンウエハの洗浄における乾燥工程において使用する
半導体ウエハ遠心乾燥装置に関するものである。
(従来の技術) 従来、半導体ウエハの洗浄における乾燥工程においては
遠心乾燥装置が使用されている。
第2図は係る従来のウエハ遠心乾燥装置の構成図であ
り、第2図(a)はその半導体ウエハが収納されるキャ
リアの斜視図、第2図(b)はそのウエハ遠心乾燥装置
の一部破断斜視図である。
これらの図に基づいて従来のウエハ遠心乾燥装置につい
て説明する。
これらの図において、1はシリコンウエハ(以下、単に
ウエハという)であり、このウエハ1はキャリア2に彫
設されるカギ状のキャリア溝(キャリアの溝)3に収納
される。なお、このキャリア溝3はウエハの厚さの2乃
至3倍の寸法を有しており、ウエハのキャリアへのロー
ド,アンロードを容易にするものである。4は円筒状の
容器、5はその容器4の中に設けられるステンレス製の
ケース(以下、クレードルという)であり、これはウエ
ハ1が装填されたキャリア2を固定するために設けられ
ている。6はクレードル5を回転できるように、ロータ
回転軸7と一体になっているロータであり、この回転軸
7の下にはモータ8があり、このモータ8の駆動によ
り、ロータ6が回転し、遠心力によってウエハ上の水分
が飛散するように構成されている。
第3図は従来のウエハ遠心乾燥装置のロータの構成図で
あり、第3図(a)はその上面図、第3図(b)はその
部分側面図である。第3図(b)においては、クレード
ルの垂直回転移動をも示している。
これらの図において、ロータ6は容器内に収納され、ロ
ータ6の上部は開口しており、容器の蓋に設けられたフ
ィルタを通してクリーンエアーをロータ6内に取り込
み、遠心力と共に気流をガイドとなる壁6−1に向かわ
せ脱水する。5−1はクレードル5をロータに固定する
ためのクレードル枢支軸であり、この枢支軸5−1を回
転中心として、クレードル5は約90゜回転可能である。
即ち、第3図(b)の点線の位置Aがロータ静止時、つ
まり、キャリアをクレードル5に装填する際のクレード
ルの位置であり、第3図(b)の実線の位置Bがロータ
回転時のクレードル位置である。このクレードル位置B
はクレードルストッパ9によって決定され、この位置は
従来ではウエハ面とロータ回転面とが平行を成す位置に
設定されていた。
なお、この種の従来技術として、例えば、特開昭59−36
930号公報、特開昭57−160130号公報、昭56−8823号公
報などが挙げられる。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、以上述べた従来のウエハ遠心乾燥装置の
回転時のクレードル位置では、第4図に示されるよう
に、ウエハ面10とほぼ平行に遠心力が加わるために、ウ
エハはキャリア溝3に安定的に固定されず、ロータの回
転によって発生する風、或いはクレードル振動によりウ
エハ1がキャリア溝3内で点線で示されるように振動す
る。このためにウエハ1とキャリア溝3との接触部から
塵埃が発生する。また、ウエハの振動によってウエハ周
辺の気流11が不安定となり、気流による水分除去効果が
小さくなり、ウエハ乾燥において満足できるものではな
かった。
本発明は、以上述べたウエハの振動を阻止して塵埃発生
を低下させ、また、水分除去効果を高め得る半導体ウエ
ハ遠心乾燥装置を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、上記目的を達成するために、半導体ウエハ遠
心乾燥装置において、容器と、この容器内に回転可能に
設けられるロータと、このロータに設けられるクレード
ルと、このクレードルに装着される半導体ウエハが収納
される溝を有するキャリアを具備する半導体ウエハ遠心
乾燥装置において、半導体ウエハの回転時に半導体ウエ
ハがキャリアの溝内で振動を生じるのを阻止すべき角度
にロータの半径方向に対する半導体ウエハ面の傾斜手段
を設けるようにしたものである。
(作用) 本発明によれば、半導体ウエハ遠心乾燥装置において、
ロータ回転面と半導体ウエハ面とが2.5゜〜30゜未満の
角度を成すように、例えば、クレードルストッパとクレ
ードル底との間にスペーサを設けるようにしたので、ロ
ータ回転時の遠心力によって、半導体ウエハが、キャリ
ア溝に安定的に固定され、半導体ウエハの振動が阻止
(防止)される。
従って、ウエハ周辺の気流は安定し、ウエハの水分除去
効果を高めることができる。
(実施例) 以下、本発明の実施例について図面を参照しながら詳細
に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す半導体ウエハ遠心乾燥
装置の構成図である。
この図において、21はロータ回転時のクレードル位置決
めスペーサであり、このスペーサ21はキャリア2の底面
に固定し、ロータ回転軸7に垂直な面と半導体ウエハ面
10とがロータの半径方向に対して角度θ、例えば、11゜
の傾きを保ち、半導体ウエハ(以下、単にウエハ)1が
装填されたキャリア2が保持される。これによってロー
タ回転時にこの角度θを保ちつつ、ウエハ1が回転し乾
燥する。なお、この図において、点線の位置Aはロータ
静止時、つまり、キャリアをクレードル5に装填する際
のクレードルの位置を、実線の位置Bはロータ回転時の
クレードル位置をそれぞれ示している。
この実施例においては、このスペーサ21はキャリア2の
底面に固定しておき、クレードルストッパ9に当接する
ようにしているが、スペーサ21はロータ6側に固定する
ようにしてもよい。また、クレードルストッパの位置を
調整できるようにして角度θをバリアブルにしたり、ク
レードル5の懸垂の仕方を変えたりすることにより、種
々の変形が可能である。
この角度θを設けたことで、第5図に示されるように、
半導体ウエハ面10に対して傾いた状態で遠心力がウエハ
に加えられ、ウエハ1がキャリア溝3に安定に固定され
ることになり、ウエハ1の振動が阻止される。その結
果、ウエハ1とキャリア溝3との接触部からの塵埃発生
が低下することになる。また、ウエハの振動が阻止され
ることにより、ウエハ1の周辺部の気流11が安定し、そ
の気流11によるウエハ1の水分除去効果が高まる。
この角度θはロータ回転速度が1000回転/分で回転軸と
ウエハ重心との距離が10mmの場合は、ウエハに加わる遠
心力でウエハの振動を阻止するためには2.5゜以上が必
要である。又、30゜以上の傾きになると気流がブロック
され、ウエハの背面の乾燥状態も悪くなる(従来のウエ
ハ乾燥装置の寸法では30゜以上の傾きになると、クレー
ドル5が一部装置内壁に接触する)。従って、角度θは
2.5゜から30゜未満が適当である。なお、実験によれ
ば、ウエハの振動を阻止するために必要な最小角度θmi
nとロータの回転数は次の通りである。
このように、ウエハの遠心乾燥装置を構成した場合、例
えば第1図に示すロータに、125mmφのウエハを装填
し、1000回転/分にて70秒間回転する際に、クレードル
位置決めスペーサ21によって、ロータ回転面とウエハ面
10とが11゜を成すようにした本発明の実施例の場合と従
来方法の場合とを比較すると以下のようになる。
(a)塵埃効果 ここでは、ウエハ上欠陥検査機によって0.3μmφ以上
の粒子数を評価した。
その結果、 (1)従来の方法においては、 ロータの回転にてウエハ上に付着する粒子平均数=31.5
個/ウエハ(n=12)であり、 (2)本発明の方法においては、 ロータの回転にてウエハ上に付着する粒子平均数=24.3
個/ウエハ(n=12)であった。
(b)水分除去効果 第6図及び第7図はロータを5回連続して回転し、その
内の水滴発生残り発生度数をヒストグラム表示したもの
である。
その結果、従来方法においては、第6図に示されるよう
に、乾燥に150秒要するのに対し、本発明の方法によれ
ば、第7図に示されるように、50秒で乾燥可能である。
従って、上記(a),(b)の理由により、半導体装置
の歩留まりの向上、生産性の向上を図ることができるも
のである。
なお、上記実施例によれば、代表な例として、ロータ回
転面とウエハ面との傾斜手段として、キャリアの底面と
クレードルストッパ間にスペーサを設けるようにしてい
るが、ウエハの出入口を上方にして斜めに切られた収納
棚を有するキャリアをクレードルに装着するようにして
もよい。
また、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能であり、これ
らを本発明の範囲から排除するものではない。
(発明の効果) 以上、詳細に示されるように、本発明によれば、円筒状
の容器と、該容器内に回転可能に設けられるロータと、
このロータに設けられるクレードルと、このクレードル
に装着されるウエハが収納されるキャリアとを有するウ
エハ遠心乾燥装置において、ウエハの回転時に、前記ウ
エハがキャリアの溝内で振動を生じるのを阻止すべき角
度に、ロータの半径方向に対するウエハ面の傾斜手段を
設けるようにしたので、ロータ回転時の遠心力によって
ウエハがキャリア溝に安定的に固定され、ウエハの振動
が阻止されると共に、ウエハ周辺の気流は安定し、ウエ
ハの水分除去効果を高めることができる。
従って、半導体装置の歩留まり向上、生産性の向上に貢
献できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す半導体ウエハ遠心乾燥
装置の要部構成図、第2図は従来の半導体ウエハ遠心乾
燥装置の構成図、第3図は従来の半導体ウエハ遠心乾燥
装置のロータの構成図、第4図は従来の半導体ウエハ乾
燥状態の説明図、第5図は本発明の半導体ウエハ乾燥状
態の説明図、第6図は従来の半導体ウエハ乾燥方法によ
る乾燥能力の説明図、第7図は本発明の半導体ウエハ乾
燥方法による乾燥能力の説明図である。 1……ウエハ、2……キャリア、3……キャリア溝、4
……容器、5……クレードル、5−1……クレードル枢
支軸、6……ロータ、6−1……壁、7……ロータ回転
軸、θ……ロータ回転面と遠心乾燥装置面とのなす角
度、8……モータ、9……クレードルストッパ、10……
半導体ウエハ面、11……気流、21……クレードル位置決
めスペーサ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】容器と、該容器内に回転可能に設けられる
    ロータと、該ロータに設けられるクレードルと、該クレ
    ードルに装着される半導体ウエハが収納される溝を有す
    るキャリアを具備する半導体ウエハ遠心乾燥装置におい
    て、半導体ウエハの回転時に半導体ウエハがキャリアの
    溝内で振動を生じるのを阻止すべき角度にロータの半径
    方向に対する半導体ウエハ面の傾斜手段を設けるように
    したことを特徴とする半導体ウエハ遠心乾燥装置。
  2. 【請求項2】前記角度が2.5゜乃至30゜未満の範囲にあ
    るように設定したことを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載の半導体ウエハ遠心乾燥装置。
JP61136035A 1986-06-12 1986-06-13 半導体ウエハ遠心乾燥装置 Expired - Lifetime JPH0727885B2 (ja)

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JP61136035A JPH0727885B2 (ja) 1986-06-13 1986-06-13 半導体ウエハ遠心乾燥装置
US07/058,934 US4777732A (en) 1986-06-12 1987-06-05 Wafer centrifugal drying apparatus
FR878707983A FR2606498B1 (fr) 1986-06-12 1987-06-09 Procede et appareil de sechage de plaquettes par centrifugation
KR1019870005934A KR960000951B1 (ko) 1986-06-12 1987-06-11 웨이퍼의 원심건조방법 및 장치
US09/451,128 USRE37627E1 (en) 1986-06-12 1999-11-30 Wafer centrifugal drying apparatus

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JPS6117732U (ja) * 1984-07-07 1986-02-01 関西日本電気株式会社 遠心乾燥機

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JPS62293617A (ja) 1987-12-21

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