JPH07140485A - 半導体装置およびその作製方法 - Google Patents
半導体装置およびその作製方法Info
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Abstract
画素電極において、TFTやキャパシタの信頼性を高め
る。 【構成】 その周囲に酸化物層18、19が形成された
ゲイト電極を覆って、窒化珪素膜20を成膜する。こう
することで、このTFTの他部において形成されるキャ
パシタを薄い酸化物層18と窒化珪素膜で構成すること
ができ、信頼性の高い画素構成を実現できる。
Description
縁ゲイト型電界効果トランジスタ(以下TFTという)
の構成に関する。また、TFTをアクティブマトリック
ス型の液晶表示装置に利用した構成に関する。
置の画素部分を駆動するアクティブメトリックス型の液
晶表示装置が知られている。通常、このアクティブマト
リックス型の液晶表示装置の画素部分は、TFTの一方
の出力が画素電極とキャパシタとに連結された構成を有
している。そこで、TFTとキャパシタとを効率良く形
成することが求められる。また、キャパシタは、画素の
開口率を高めるためになるべく小さな面積で形成される
ことが望まれる。
アルミを主成分とするものを用い、その周囲を陽極酸化
して酸化物層を形成する構成が知られている。この構成
は、アルミゲイトの上面、及び側面に酸化物層を形成
し、その上面部分を絶縁層として用い、その周囲をオフ
セットゲイト領域の形成のために用いるものである。こ
のオフセットゲイトの形成は、イオン注入法によるソー
ス/ドレイン領域の形成の際に、このゲイト電極周囲の
酸化物層の厚さだけオフセットゲイト領域が形成でき、
オフ電流の小さいTFTを得るこのできる技術である。
化物層をキャパシタを形成するための誘電体として利用
することができるが、アルミの酸化物のみを誘電体とし
たキャパシタは、耐圧や高周波特性に劣るという問題が
ある。この問題を解決する方法としては、前記アルミの
酸化物層上面に形成される層間絶縁膜をも誘電体とした
キャパシタを構成する方法が考えられるが、その場合、
層間絶縁膜を構成する材料の選択が問題となる。
必要とされるので、キャパシタの誘電体として利用した
場合、その容量が増大してしまい、開口率が増大してし
まうという問題がある。さらに、アクティブマトリック
ス型の液晶表示装置の画素部分に形成する場合には、そ
の最表面を平坦にする必要があるので、層間絶縁物とし
てポリイミド等の有機樹脂を利用することが望まれる。
しかし、有機樹脂をキャパシタの誘電体として利用する
ことは、信頼性や耐圧、さらには高周波特性の問題から
好ましいものではない。
主成分とするゲイト配線の一部を切除する工程が必要と
なるが、この際にアルミ材料が露呈してしまう。これ
は、陽極酸化工程においては、各画素に設けられたTF
Tのゲイト電極がすべて電気的に接続されているので、
最表面を構成する層間絶縁膜の形成に先立ち、各ゲイト
配線毎に分離することが必要だからである。
必要であるが、層間絶縁物の形成の最には、300度以
上の加熱工程が必要であり(特に有機樹脂を用いた場合
には、300度以上のベーク工程が不可欠である)、こ
の最に、前述のアルミが露呈した部分にヒロックが発生
するという問題が生じる。このヒロックの発生は、配線
部の不良や断線を引き起こす原因となるので、避けなけ
ればならない。なお、陽極酸化によって酸化物層が形成
されている場合には、アルミ表面にヒロックが発生する
ことを抑制することができるので、400度程度の加熱
工程までの加熱工程に耐えることができる。
も必要とする容量を有するキャパシタを形成することは
困難であった。また、ゲイト配線をゲイト電極の形成と
同時にアルミを主成分とする材料で構成する場合には、
ゲイト配線の形成に難があり、その一部にヒロックが発
生してしまうという問題があった。
み、本発明は、 ・開口率を確保したキャパシタの作製。 ・ゲイト配線端部におけるヒロック発生の問題の解決。 といったことを解決することを目的とする。
1を用いて説明する。図1(C)に示すように、アルミ
を主成分とするゲイト電極17の周囲の酸化物層18と
119を陽極酸化工程によって形成し、さらに窒化珪素
膜20を形成する。勿論、これらの工程に間にソース/
ドレイン領域101、103への不純物イオンの注入や
活性化の工程が必要とされる。
領域101、103へのレーザー光の照射の際に、保護
膜として作用し、半導体層中への不純物の混入の防止す
る。また、図3(C)に示すように、この窒化珪素膜2
0は、酸化物層19とともに、キャパシタの誘電体を構
成する。このキャパシタは、画素電極であるITO電極
105と、ゲイト電極と同時に形成されるアルミの共通
配線53との間で構成される。
がその周囲に形成されたアルミを主成分とする電極や配
線を切断する工程が必要であるが、この工程で露呈した
部分を窒化珪素膜で覆うことによって、後の加熱工程で
アルミを主成分とする材料の表面にヒロックが発生する
ことを防ぐことができる。また、ゲイト電極を構成する
材料としては、Al、Ti、Ta、Cr、Mo、Si、W やこれらの
多層膜を利用することができる。
晶表示装置の画素部分に、TFTとキャパシタとを形成
した例である。本実施例の全体の概略を示す上面図を図
5に示す。図5において、A−A’で切った断面が図1
(D)であり、その作製工程を図1(A)〜(D)に示
す。また、B−B’で切った断面が図2(D)であり、
その作製工程が図2(A)〜(D)である。また、C−
C’で切った断面が図3(D)であり、その作製工程が
図3(A)〜(D)である。各工程図の(A)〜(D)
はそれぞれ対応しており、例えば図1(B)の工程は、
図2(B)と図3(B)とにそれぞれ対応する。また原
則として、各図において、同じ符号が同じ部分、または
同一工程で同一材料で形成される部分を示す。
であり、図5には示されていない。以下において、
(A)の工程というのは、図1(A)と図2(A)と図
3(A)と図4(A)とを指すもので、それらの工程は
同時に行われる。
る部分について説明する。図1は、図5のA−A’で切
り取られる断面を示すものであり、TFTの断面を示す
ものである。図2は、図1とは90度異なる角度である
図5のB−B’で切り取られるTFTの断面を示すもの
である。図3は、図5のC−C’で切り取られる部分を
示すものであり、図において、左側が共通配線、右側が
ゲイト配線を示す。図4は、ゲイト配線の端部を示すも
のであり、図5には記載されていない。
(A)の工程においてガラス基板11上に下地膜として
酸化珪素膜13をスパッタ法によって2000Åの厚さ
に形成する。そして、活性層13を形成するための珪素
膜を形成し、素子間分離パターニングを行うことによっ
て、活性層13を形成する。活性層13には、ソース/
ドレイン領域とチャネル形成領域が形成される。また、
活性層13を構成する珪素膜は、非晶質(アモルファ
ス)珪素膜、微結晶珪素膜、多結晶珪素膜、その他結晶
性を有する珪素膜を利用することができる。一般には、
気相法で形成された非晶質珪素膜を加熱やレーザー光の
照射、さらには強光の照射によって結晶性を有せしめた
珪素膜を用いるのが有用である。
を1000Åの厚さにスパッタ法によって形成する。そ
して、ゲイト電極およびゲイト配線を構成するアルミを
主成分とする膜15を5000Åの厚さに形成する。こ
のアルミを主成分とする膜には、Ta、Ti、Si、S
cから選ばれた少なくとも一種類の元素を含有させるの
は有効である。これは、加熱工程におけるヒロックが発
生するのを防ぐためである。本実施例においては、Si
を2重量%の割合で含有させた。
めのレジストマスク16を形成し、(A)に示す状態を
得る。ゲイト配線は、図5において、51、54で示さ
れる。また53はゲイト配線と同時に同一材料で形成さ
れる共通配線であり、キャパシタの一方の電極を構成す
る配線である。またゲイト配線からは、17で示される
ように、TFTのゲイト電極が延在しており、同一工程
でゲイト配線とゲイト電極とは形成される。
アルミ膜15をパターニングし、図5に示すようにゲイ
ト配線51、54とゲイト電極17とを同時に形成す
る。さらに、レジストマスク16が残存した状態におい
て、第1の陽極酸化工程を行い、パターニングされたゲ
イト電極17とゲイト配線51、54、さらには共通電
極53の露呈した側面に酸化物層18を形成する。この
陽極酸化工程は、3〜20%のクエン酸もしくはショウ
酸、燐酸、クロム酸、硫酸等の水溶液中を用いて行うも
ので、10V程度の低電圧で多孔質の酸化物層を形成す
るものである。この工程で形成される多孔質の酸化物層
は、その厚さを厚くすることができるので、後のソース
/ドレイン工程へのイオン注入工程において、オフセッ
トゲイト領域を形成するためには極めて有効である。た
だし、緻密な膜ではないので、耐圧の問題に対しては不
利である。
2の陽極酸化工程を行う。この陽極酸化工程は、3〜1
0%の酒石液、硼酸、硝酸が含まれたエチレングルコー
ル溶液を用いるものであり、緻密で硬質な酸化物層を得
ることができる。ただし、200V以上の高電圧を印加
する必要があり、2000Åを越える膜厚を確保するこ
とは困難である。従って、第1の陽極酸化工程におい
て、多孔質の酸化物層18を3000Å程度の厚さに形
成し、その後に1000Å程度の緻密な酸化物層19を
(C)に示すように薄く形成することが有用である。
ために必要とされるゲイト電極17側面の酸化物層(そ
の厚さは3000Å程度が好ましい)を形成し、さらに
緻密な酸化物層をゲイト電極17の上面に形成する。ま
た図示してはいないが、この際、ゲイト電極17の側面
にも緻密で薄い酸化物層が形成される。また、第2の陽
極酸化工程で形成される薄い酸化物層19は、図3
(C)の右側で示されるように、キャパシタを構成する
ためにも利用される。このように、緻密で耐圧に優れた
膜をキャパシタに利用することは有用である。
極17とゲイト配線51、54、さらには共通配線53
が形成される。また、このゲイト電極とゲイト配線の周
囲には、酸化物層が形成されている。
配線51/54さらには共通配線53の端部を切除す
る。この状態において、ゲイト配線の一部は切断され、
アルミが直接露呈する状態となる。またこの工程に前後
して、図1(C)において、ゲイト電極17およびゲイ
ト配線51/54下以外の酸化珪素膜14を除去する。
00Åここでは1000Åの厚さに成膜する。この窒化
珪素膜20の形成は、アンモニアとシランとを用いたプ
ラズマCVD法を用いるのが一般的であるが、スパッタ
法を用いるのでもよい。
に、ゲイト配線51/54を構成するアルミの端部にお
いても、その表面が窒化珪素膜20で覆われることにな
るから、後の加熱工程において、ヒロックの発生を防ぐ
ことができる。勿論、この工程において、共通電極53
の端部も窒化珪素膜20で覆われることになる。
ース/ドレイン領域へのPまたはBのイオン注入を行な
い、ソース/ドレイン領域101、103を形成する。
この工程によって、ソース/ドレイン領域101、10
3とチャネル形成領域とが自己整合的に同時に形成され
る。このイオン注入の後に、レーザー光、あるいは強光
の照射を行ない、アニールを行う。この際、ゲイト電極
あるいはゲイト配線は、300度程度の温度に加熱され
ることが有用であるが、この際において、その周囲を陽
極酸化による酸化物層が覆っているので、ヒロックの発
生を抑制することができる。
に、ソース/ドレイン領域の表面が窒化珪素膜で覆われ
ているので、その結晶性の改善の効果を大きくすること
ができる。また、ソース/ドレイン領域表面のシート抵
抗を低減させることができるので、TFTの特性を向上
させることができる。
4(C)に示すゲイト配線端部40の部分が窒化珪素膜
で覆われるため、後の加熱工程において、アルミからの
ヒロックが発生することがない構成とすることができ
る。
成する。ここでポリイミドを用いるのは、最表面を平坦
にするためである。つぎに、穴空け工程によって、図1
においてはソース/ドレイン領域へのコンタクトホール
(106/107で示される部分)を形成し、同時に図
3(D)に示されるように、キャパシタが形成される部
分の層間絶縁物を除去する。また同時に図4に示される
ようにゲイト配線51/54へのコンタクトホール(図
4の41で示される)をその端部において形成する。ま
た、このゲイト配線へのコンタクトホール形成の際に、
第2の陽極酸化工程において形成された酸化物層が薄い
ので、コンタクトホールが形成し易いという作製工程上
の有用性がある。
極となるITO電極105を形成し、さらにソース/ド
レイン電極106、107を形成し、さらにゲイト配線
へのコンタクト電極41を形成する。これらの電極配線
は、窒化チタン膜とアルミ膜との2層膜とすると接触抵
抗を下げるために有効である。こうして、図5にその上
面から見た全容を示す画素部分を完成する。勿論このよ
うな画素が同時に多数(例えば数十万以上)形成され
る。
部分に形成されるキャパシタの作製工程が示されてい
る。図3に示すように、キャパシタは、画素電極である
ITO電極105と共通電極53とで構成される。この
際、キャパシタの容量Cを決定するのは、その対向する
部分の電極面積Sと挟まれる誘電体の誘電率ε、さらに
は電極間隔dによって決まる。これらパラメーターは、
C=εS/dの関係を有している。
を構成する酸化物層19は1000Å程度と薄くするこ
とができ、またその比誘電率は8程度である。また、窒
化珪素膜20も1000Åと薄く、その比誘電率も6程
度と大きいので、結果として、小さな面積で所定の容量
を有するキャパシタを構成することができる。即ち、図
5に示すように、共通配線53と画素電極105との重
なる部分が画素におけるキャパシタの占有部分となり、
その面積を小さくすることができる。従って、画素の開
口率を大きくすることができる。
線51/54の端部、さらには共通配線の端部が窒化珪
素膜でコートされるので、ソース/ドレイン領域の活性
化の際や、層間絶縁物の形成の際における加熱工程にお
いて、40で示される部分にヒロックが発生するのを防
ぐことができる。
TFTの構造において、オフセットゲイト構造に加え
て、LDD構造(ライト・ドープ・ドレイン構造)を作
用した例である。本実施例の概要を図6に示す。以下に
作製工程を示す。
板11上に下地膜12として酸化珪素膜を2000Åの
厚さにスパッタ法で形成する。つぎに、活性層14を結
晶性を有する1000Å厚の珪素膜で形成する。ここで
はこの活性層14として、プラズマCVD法で形成した
非晶質珪素膜を加熱により結晶化させたものを用いるも
のとする。そして、素子間分離工程によって、活性層1
4を確定する。
を5000Åの厚さに形成し、図1(A)の形状を得
る。そして、マスク16を用いてパターニングを行い、
ゲイト電極17を形成する。そして、実施例1と同様に
第1回目の陽極酸化工程によって、多孔質の陽極酸化膜
18をゲイト電極17の周囲に3000Åの厚さに形成
する。こうして、図6(A)に示す状態を得る。
い、ソース/ドレイン領域となる10と103とにPま
たはBをライトドープする。この際、ゲイト電極17と
その周囲の酸化物層18とレジストマスク16とがマス
クとなり、自己整合的に101と103の領域にイオン
注入が行われる。このイオン注入工程において、イオン
のドーズ量は、0.3〜5×1014cm-2、例えば1×
1014cm-2とし、ソース/ドレイン領域101と10
3とを弱いN型半導体または弱いP型半導体とする。
し、図6(B)に示すように、酸化珪素膜110を80
00Åの厚さに形成する。そして、RIE法による垂直
異方性エッチングを行うことによって、111で示すよ
うな概略三角形状の酸化珪素を残存させる。111で示
される概略三角形状の残存物のおおよそ幅は、酸化珪素
膜111の膜厚によって決めることができる。一般的に
は、この概略三角形状の残存物の幅の2〜5の倍の膜厚
に酸化珪素膜110を成膜すればよい。また、成膜には
111の形状は、三角ではなく方形状に近いと見ること
もできるが、本明細書においては概略三角形状というこ
ととする。
00Åとしたので、111の幅は2000Å程度とする
ことができる。そして、2回目のイオン注入を行う。こ
の工程は、ソース/ドレイン領域101、103に1×
1015〜8×1015cm-2のドーズ量で第1回目と同じ
不純物をドープする。この工程においては、111で示
される部分がマスクとなるので、その外側の部分に主に
イオン注入がされることになる。そして、112で示さ
れる部分はライトドープ領域として残存することとな
る。また、101と103の領域はさらにイオン注入が
なされてN型またはP型となり、ソース/ドレイン領域
として構成される。
ライトドープ領域112とを有したTFT構造を実現で
きる。本実施例においては、陽極酸化工程によって形成
されるアルミの酸化物層18によって3000Åの幅に
オフセットゲイト領域を形成し、さらに111で示す残
存物によって、2000Åの幅にライトドープ領域を形
成したが、この幅は必要とするTFTの特性に鑑みて適
時定めればよい。
化珪素膜20を1000Åの厚さに形成する。そして、
ポリイミド樹脂で層間絶縁物104を形成し、穴開け工
程を経て、画素電極となるITO電極105とソース/
ドレイン電極104、107、さらにゲイト電極108
を形成する。この時、ソース/ドレイン電極とゲイト電
極、さらにはそれらの配線を図6(D)に示すように窒
化チタン(下側)とアルミ(上側)との2層構造として
構成することは、接触抵抗を低減させるためには有用で
ある。こうして、実施例1と同様に画素にTFTを形成
することができる。
とにより、安定性と信頼性に優れ、しかも開口率の大き
い画素構成を実現できる。また、ゲイト配線としてアル
ミ配線を用い、その周囲に酸化物層を形成する構成を採
用した場合において、ゲイト配線の切断によって生じる
アルミの露呈部分を窒化珪素膜で覆うことによって、後
の加熱工程においてヒロックが発生しない構成を実現で
きる。
Claims (5)
- 【請求項1】 同一絶縁基板上に薄膜トランジスタとキ
ャパシタとが設けられており、 前記キャパシタは、下側電極上の酸化物絶縁膜と窒化珪
素膜を利用して構成されていることを特徴とする半導体
装置。 - 【請求項2】 アルミを主成分とする電極または配線を
形成する工程と、 前記アルミを主成分とする電極または配線の周囲に酸化
物層を形成する工程と、 窒化珪素膜を形成する工程と、 を有し、 前記アルミ電極またはアルミ配線の一部はゲイト電極を
構成し、他の一部はキャパシタの一方の電極を構成し、 前記キャパシタは、前記酸化物層と前記窒化珪素膜とを
利用して構成されていることを特徴とする半導体装置作
製方法。 - 【請求項3】 請求項2において、キャパシタの他の一
方の電極は、画素電極によって構成されていることを特
徴とする半導体装置作製方法。 - 【請求項4】 アルミ電極を形成する工程と、 前記アルミ電極の表面に酸化物層を形成する工程と、 前記アルミ電極を切断する工程と、 窒化珪素膜を形成する工程と、 を有する半導体装置作製方法。
- 【請求項5】 薄膜トランジスタとキャパシタとが設け
られたアクティブマトリックス型の液晶表示装置の画素
部分の構成であって、 ゲイト電極、およびゲイト配線、およびキャパシタの一
方の電極となるアルミを主成分とする材料を形成する工
程と、 前記アルミを主成分とする材料の表面に酸化物層を形成
する工程と、 前記アルミを主成分とする材料の一部を切断する工程
と、 前記アルミを主成分とする材料と酸化物層を覆って窒化
珪素膜を形成する工程と、 前記酸化物層と窒化珪素膜とを利用して、前記アルミを
主成分とする電極と画素電極との間でキャパシタを構成
する工程と、 を有する半導体装置作製方法。
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