JPH0710935U - 縦型熱処理炉 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 縦型熱処理炉でウェット酸化を行なう際に酸
化膜の膜厚ばらつきを低減する。 【構成】 プロセスチューブ10を取囲むように加熱手
段を設ける。プロセスチューブ10の上部には、外部燃
焼装置14からガス導入管12a,12bを介して水素
燃焼による水蒸気を含む酸化性ガスを導入し、プロセス
チューブ10の下部から排気する。外部燃焼装置14に
おいて水素に点火してから炎が安定するまでの間、N2
等の希釈用ガスを20a,20b等のガス導入管を介し
てプロセスチューブ10の上部に導入することにより初
期酸化を抑制する。他の初期酸化抑制策としては、N2
等の非酸化性ガスをプロセスチューブ10の上部に導入
しつつ外部燃焼装置14からの酸化性ガスを排気系にバ
イパスするようにしてもよい。
化膜の膜厚ばらつきを低減する。 【構成】 プロセスチューブ10を取囲むように加熱手
段を設ける。プロセスチューブ10の上部には、外部燃
焼装置14からガス導入管12a,12bを介して水素
燃焼による水蒸気を含む酸化性ガスを導入し、プロセス
チューブ10の下部から排気する。外部燃焼装置14に
おいて水素に点火してから炎が安定するまでの間、N2
等の希釈用ガスを20a,20b等のガス導入管を介し
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期酸化を抑制する。他の初期酸化抑制策としては、N2
等の非酸化性ガスをプロセスチューブ10の上部に導入
しつつ外部燃焼装置14からの酸化性ガスを排気系にバ
イパスするようにしてもよい。
Description
【0001】
この考案は、半導体ウェハ等の被処理ウェハにウェット酸化処理を施すための 縦型熱処理炉に関し、特に外部燃焼装置で水素に点火してから所定時間の間初期 酸化を抑制することにより酸化膜の膜厚ばらつきを低減するようにしたものであ る。
【0002】
従来、半導体ウェハにウェット酸化処理を施すための縦型熱処理炉としては、 図6,7に示すものが知られている。
【0003】 図6,7において、10は、直立配置されるプロセスチューブであり、例えば 円筒状の石英管からなっている。プロセスチューブ10の上部は、閉じられてい るが、便宜上破断した状態で示してある。
【0004】 プロセスチューブ10の側部には、下方のガス導入部12から分岐して上方に 延長する2本の石英製のガス導入管12a,12bが設けられ、ガス導入部12 には、外部燃焼装置14が接続されている。
【0005】 外部燃焼装置14は、水素(H2 )及び酸素(O2 )を受取って水素を燃焼さ せることにより水蒸気等を含む酸化性ガスを発生するもので、該酸化性ガスは、 ガス導入部12及びガス導入管12a,12bを介してプロセスチューブ10の 上部に導入される。
【0006】 プロセスチューブ10の下部には、排気管16が設けられており、チューブ1 0内のガスは、排気管16を介して排気ガスGとして排気系へ排出される。加熱 装置18は、図7に示すようにガス導入管12a,12b及びプロセスチューブ 10を取囲むように設けられている。
【0007】 処理の際には、ウェハ保持具(図示せず)に保持された半導体ウェハWFがプ ロセスチューブ10の下端から内部に挿入され、チューブ10の下端は、ウェハ 保持具と一体の蓋で閉じられる。ウェット酸化処理は、酸化速度が速く、欠陥密 度が小さいなどの特長があり、例えばMOS型ICの製造ではフィールド酸化膜 、ゲート酸化膜等の形成に使用される。
【0008】
上記した縦型熱処理炉にあっては、外部燃焼装置14にO2 を導入した後H2 +O2 を導入し、H2 に点火してH2 を燃焼させることにより炉内にO2 、水蒸 気等を含む酸化性ガスを供給する。この場合、O2 導入から水素の炎が安定する までの1分程度の期間中酸化種の分圧が不安定である。このため、ウェハは、酸 化速度が比較的速い初期酸化膜の形成時に不安定な雰囲気にさらされることにな り、酸化膜の膜厚ばらつきの増大や再現性の低下を招いていた。特に、極薄酸化 膜を歩留りよく形成するのが困難であった。
【0009】 この考案の目的は、酸化膜の膜厚ばらつきを低減することができる新規な縦型 熱処理炉を提供することにある。
【0010】
この考案は、直立配置されるプロセスチューブを取囲むように加熱手段を設け ると共に前記プロセスチューブの上部に外部燃焼装置から水素燃焼による水蒸気 を含む酸化性ガスを導入し且つ前記プロセスチューブの下部から排気することに よりウェット酸化処理を行なうようにした縦型熱処理炉において、 前記外部燃焼装置で水素に点火してから所定時間の間前記外部燃焼装置からの 酸化性ガスを希釈するための非酸化性ガスを前記プロセスチューブの上部に導入 するガス導入手段を設けたことを特徴とするものである。
【0011】 このような構成にあっては、前記外部燃焼装置で水素に点火してから所定時間 の間前記プロセスチューブの上部に非酸化性のガスを導入しつつ前記外部燃焼装 置からの酸化性ガスを排気系にバイパスするガス導入・バイパス手段を前記ガス 導入手段の代りに設けてもよい。
【0012】
この考案の構成によれば、ガス導入手段を設けた場合には、水素に点火してか ら炎が安定するまでの間外部燃焼装置からの酸化性ガスがガス導入手段からの非 酸化性ガスで希釈されるので、初期酸化が抑制される。また、ガス導入・バイパ ス手段を設けた場合にも、水素に点火してから炎が安定するまでの間プロセスチ ューブ内が非酸化性ガスでパージされると共に外部燃焼装置からの酸化性ガスが 排気系にバイパスされるので、初期酸化が抑制される。いずれの場合であっても 、炎が安定してからウェット酸化が進行するようになり、酸化膜の膜厚ばらつき の低減が可能となる。
【0013】
図1は、この考案の第1実施例に係る縦型熱処理炉を示すものであり、図6, 7と同様の部分には同様の符号を付して詳細な説明を省略する。また、加熱装置 が図7で述べたと同様に設けられているが、図示を省略した。
【0014】 外部燃焼装置14には、制御弁V1 を有するガス導入管を介してH2 又はN2 が導入されると共に、制御弁V2 を有するガス導入管を介してO2 又はN2 が導 入されるようになっている。外部燃焼装置14は、一例として集光加熱方式のも のを用いる。この方式のものでは、H2 を導入する導入管の先に取付けられたS iC製の集熱台(図示せず)を赤外線ランプヒータLHで加熱可能になっている 。
【0015】 下方のガス導入部20から分岐して上方に延長するガス導入管20a,20b は、それぞれガス導入管12a,12bに接続されており、ガス導入部20には 、制御弁V3 を介して希釈用の非酸化性ガスとしてN2 が供給されるようになっ ている。
【0016】 制御装置CNTは、炉の温度、炉へのガス供給等を制御するもので、この考案 の実施に関しては、制御弁V1 〜V3 をそれぞれ制御するための制御信号VC1 〜VC3 、ランプヒータLHを制御するための制御信号LC等を発生するように なっている。
【0017】 次に、図2を参照して図1の炉の酸化処理時の制御シーケンスを説明する。
【0018】 まず、外部燃焼装置14の燃焼室をN2 でパージする。そして、時刻t1 から 点火イベントを開始する。点火イベント1及び2は、それぞれ1分47秒及び1 3秒とする。時刻t1 では、制御信号LCによりランプヒータLHをオンする。 この結果、前述の集熱台は、800℃に加熱されるようになる。時刻t2 で点火 イベント1が終り、点火イベント2が始まる。
【0019】 時刻t2 から10秒のスロースタート期間Pを経て制御信号VC2 により制御 弁V2 を開き、装置14の燃焼室内をO2 でパージする。このパージ期間Qは、 10秒とする。パージ期間Qの開始時刻t3 には、パージ用N2 の供給を停止す ると共に、制御信号VC3 により制御弁V3 を開いて希釈用N2 の供給を開始す る。時刻t3 から点火イベント3が始まる。
【0020】 パージ期間Qの終了時刻t4 から10秒のスロースタート期間Rを経て時刻t 5 で制御信号VC1 により制御弁V1 を開いてH2 の供給を開始する。そして、 時刻t5 から9.9秒経過した時刻t6 で制御信号LCによりランプヒータLH をオフする。水素に点火したことは、時刻t6 以降に炎センサで検知される。
【0021】 時刻t6 〜t7 の30秒の期間Sは、炎を安定化させるためのもので、O2 及 びH2 の流量は、いずれも3リットル/分とする。この後、O2 及びH2 の流量 を酸化に必要な設定値まで徐々に増大させ、設定値に達した時刻t8 で制御信号 VC3 により制御弁V3 を閉じて希釈用N2 の供給を停止する。
【0022】 上記した制御シーケンスによれば、水素に点火してから炎が安定するまでの間 水蒸気等を含む酸化性ガスが導入管20a,20bからのN2 により希釈される ため、初期酸化が抑制される。すなわち、H2 O等の酸化種の分圧が不安定な状 態では初期酸化の進行をおさえ、炎が安定してから酸化を進行させるようにした ので、酸化膜の膜厚ばらつきを低減することができる。また、所望膜厚の酸化膜 を再現性よく形成することができ、特に極薄酸化膜を再現性よく形成するのが容 易となる。
【0023】 なお、希釈用N2 を外部燃焼装置14に導入すると、炎が一層不安定になるの で、好ましくない。この考案では、外部燃焼装置14よりプロセスチューブ10 に近い方で希釈を行なうので、炎の安定化を害することがない。
【0024】 図3は、この考案の第2実施例に係る縦型熱処理炉を示すもので、図1と同様 の部分には同様の符号を付して詳細な説明を省略する。
【0025】 第2実施例の特徴は、ガス導入部20からガス導入管20cを介してプロセス チューブ10の上部に直接的に希釈用N2 を導入するようにしたことであり、こ れ以外の構成は、図1で述べたと同様である。また、制御シーケンスも図2で述 べたと同様であり、図1の炉と同様の作用効果が得られる。
【0026】 第2実施例の構成では、プロセスチューブ10の中で希釈用N2 とO2 、水蒸 気等の酸化性ガスとが十分に混合されるように導入管の形状、配置等を工夫する とよい。
【0027】 図4は、この考案の第3実施例に係る縦型熱処理炉を示すもので、図3と同様 の部分には同様の符号を付して詳細な説明を省略する。
【0028】 第3実施例の特徴は、ガス導入部20からガス導入管20cを介してプロセス チューブ10の上部に補助パージ用の非酸化性ガスとしてN2 を供給してチュー ブ10内をパージしつつ外部燃焼装置14からの水蒸気等の酸化性ガスを制御弁 V4 ,V5 の制御により排気ガスG0 として排気系にバイパスするようにしたこ とである。
【0029】 図5は、図4の炉について制御シーケンスを示すもので、図2と同様の部分に は同様の符号を付して詳細な説明を省略する。
【0030】 補助パージ用N2 は、前述の希釈用N2 と同様に時刻t3 〜t8 の期間中プロ セスチューブ10に上部から導入する。時刻t3 より前では、制御弁V4 を開と し且つ制御弁V5 を閉としているが、時刻t3 〜t8 の期間中は制御弁V4 を閉 として且つ制御弁V5 を開として外部燃焼装置14からの水蒸気等の酸化性ガス を排気系へバイパスする。そして、時刻t8 より後では、制御弁V4 を開とし且 つ制御弁V5 を閉とする。
【0031】 図5の制御シーケンスによると、時刻t3 〜t8 の期間中、プロセスチューブ 10内は補助パージ用N2 でパージされると共に、プロセスチューブ10内には 、外部燃焼装置14からの水蒸気等の酸化性ガスが供給されない。従って、初期 酸化は殆ど進行しなくなり、図1〜3の場合に比べて膜厚ばらつき低減等の効果 が一層顕著となる。
【0032】
以上のように、この考案によれば、水素に点火してから炎が安定するまでの間 初期酸化を抑制し、炎が安定してからウェット酸化を進行させるようにしたので 、酸化膜の膜厚ばらつきを低減すると共に再現性を向上させることができ、特に 極薄酸化膜を歩留りよく形成するのが容易となる効果が得られるものである。
【図1】 この考案の第1実施例に係る縦型熱処理炉を
示す一部破断斜視図である。
示す一部破断斜視図である。
【図2】 図1の炉について酸化処理時の制御シーケン
スを示すタイムチャートである。
スを示すタイムチャートである。
【図3】 この考案の第2実施例に係る縦型熱処理炉を
示す一部破断斜視図である。
示す一部破断斜視図である。
【図4】 この考案の第3実施例に係る縦型熱処理炉を
示す一部破断斜視図である。
示す一部破断斜視図である。
【図5】 図4の炉について酸化処理時の制御シーケン
スを示すタイムチャートである。
スを示すタイムチャートである。
【図6】 従来の縦型熱処理炉の一例を示す一部破断斜
視図である。
視図である。
【図7】 図6のX−X’線に沿う断面図である。
10:プロセスチューブ、12a,12b,20a〜2
0c:ガス導入管、14:外部燃焼装置、16:排気
管、18:加熱装置、V1 〜V5 :制御弁、CNT:制
御装置。
0c:ガス導入管、14:外部燃焼装置、16:排気
管、18:加熱装置、V1 〜V5 :制御弁、CNT:制
御装置。
Claims (2)
- 【請求項1】 直立配置されるプロセスチューブを取囲
むように加熱手段を設けると共に前記プロセスチューブ
の上部に外部燃焼装置から水素燃焼による水蒸気を含む
酸化性ガスを導入し且つ前記プロセスチューブの下部か
ら排気することによりウェット酸化処理を行なうように
した縦型熱処理炉であって、 前記外部燃焼装置で水素に点火してから所定時間の間前
記外部燃焼装置からの酸化性ガスを希釈するための非酸
化性ガスを前記プロセスチューブの上部に導入するガス
導入手段を設けたことを特徴とする縦型熱処理炉。 - 【請求項2】 直立配置されるプロセスチューブを取囲
むように加熱手段を設けると共に前記プロセスチューブ
の上部に外部燃焼装置から水素燃焼による水蒸気を含む
酸化性ガスを導入し且つ前記プロセスチューブの下部か
ら排気することによりウェット酸化処理を行なうように
した縦型熱処理炉であって、 前記外部燃焼装置で水素に点火してから所定時間の間前
記プロセスチューブの上部に非酸化性のガスを導入しつ
つ前記外部燃焼装置からの酸化性ガスを排気系にバイパ
スするガス導入・バイパス手段を設けたことを特徴とす
る縦型熱処理炉。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP044645U JPH0710935U (ja) | 1993-07-24 | 1993-07-24 | 縦型熱処理炉 |
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