JPH04196536A - 半導体ウェハの外部燃焼酸化装置 - Google Patents

半導体ウェハの外部燃焼酸化装置

Info

Publication number
JPH04196536A
JPH04196536A JP32835390A JP32835390A JPH04196536A JP H04196536 A JPH04196536 A JP H04196536A JP 32835390 A JP32835390 A JP 32835390A JP 32835390 A JP32835390 A JP 32835390A JP H04196536 A JPH04196536 A JP H04196536A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hydrogen
combustion chamber
oxygen
gas supply
nozzle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP32835390A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiaki Tsuchiya
土屋 善昭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP32835390A priority Critical patent/JPH04196536A/ja
Publication of JPH04196536A publication Critical patent/JPH04196536A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、半導体工業における半導体ウェハ製造工程の
酸化・アニーリング等を行う装置に関する。
[従来の技術] 従来の半導体ウェハの外部燃焼酸化装置は第3図に示す
ように、水素ノズル1.酸素ノズル2゜接続管3.燃焼
室4.ヒータ5.ガス制御装置6゜熱処理用ヒータ7、
石英管8,14.モータ9゜ボールネジ10.ガイド1
1.ボート12.断熱治具15を備えている。また、第
4図に示すように空気作動弁16g〜161.窒素用マ
スフローコントローラ17.酸素用マスフローコントロ
ーラ18.水素用マスフローコントローラ19を備えて
いる。
従来装置では、酸素と水素をガス制御装置6にて適正な
流量に制御を行い、燃焼室4に供給する。
燃焼室4は、ヒータ5により、水素の着火点である65
0℃以上に制御される。燃焼室4のガス接続ノズル1.
2は、酸素用1本、水素、窒素用1本であり、熱処理装
置内の石英管とは、石英接続管によって接続され、燃焼
室内での燃焼後の水蒸気と燃焼残りの酸素が熱処理装置
内に供給される。
半導体ウェハの酸化処理においては、半導体ウェハ積載
用ボートに積載された半導体ウェハをボートエレベータ
−により熱処理炉内に運搬される。
半導体ウェハ(以下ウェハという)運搬時は、室内雰囲
気による酸化を低減するためにガス制御装置の最大流量
の窒素を熱処理炉内に供給する。ウェハが所定の熱処理
位置に到達した後、酸素と水素を燃焼室で反応させ、熱
処理炉内に水蒸気、酸素が供給されて、ウェハの酸化が
行われる。
[発明が解決しようとする課題] この従来の半導体ウェハの外部燃焼酸化装置は、燃焼室
へ水素を供給するノズル形状を以下の理由で選定してい
る。水素の燃焼によるノズルの消耗を少なくし、一定の
寿命を確保する。水素燃焼炎による燃焼室の失透及び変
形を防止する。熱処理炉に供給する水蒸気の量及び供給
範囲2着火時における水素流量及び使用水素圧力、従っ
て水蒸気を多量に欲する熱処理及び酸化処理及び燃焼室
の小型化には、水素ノズルを開くべきではあるが、初期
着火の安全な着火のために、一定以上水素ノズルを絞る
ことができなかった。また、窒素と水素を同じノズルよ
り燃焼室内に供給しているため、窒素の供給量を大きく
するには、窒素の供給圧を高くしなければならないが、
現実には一定以上できないため、供給量を大きくできな
いという問題があった。
本発明の目的は、ガス供給量を増大させることができる
半導体ウェハの外部燃焼酸化装置を提供することにある
[課題を解決するための手段] 前記目的を達成するため、本発明に係る半導体ウェハの
外部燃焼酸化装置は、半導体ウェハを加熱処理する処理
室と、該処理室に半導体ウェハを運搬する運搬機構と、
処理室に不活性ガス、酸素。
水蒸気等の供給を行うガス供給装置とを有する半導体ウ
ェハの酸化装置において、ガス供給装置の酸素、水素の
燃焼を行う燃焼室へのガス供給ノズルを少なくとも2個
以上有し、各々のノズルからのガス供給を独立に制御す
るものである。
〔作用] 燃焼を行う燃焼室へのガス供給ノズルを少なくとも2個
以上有し、各々のノズルからガス供給を独立に制御する
ものである。
〔実施例] 以下、本発明の一実施例を図により説明する。
第1図は、本発明の一実施例を示す断面図、第2図は、
第1図のガス系統図である。
図において、本発明の半導体ウェハの外部燃焼酸化装置
は、水素の燃焼を行う燃焼室4と、燃焼室4を加熱する
ヒータ5と、燃焼室で生成された水蒸気及び余分の酸素
ガスを熱処理炉としての石英管8まで供給する接続管3
と、燃焼室4に水素と窒素を供給する少なくとも2本以
上の水素ノズルla、lbと、酸素を供給する酸素ノズ
ル2と、各ノズルla、lb、2へのガスの供給を制御
するガス供給装置6を備えている。
また、第3図中、7は熱処理用ヒータ、9はモータ、1
0はボールネジ、11はガイド、12は半導体ウェハ用
ボート、13は半導体ウェハ、14は石英管キャップ、
15は断熱治具である。また、第2図中、16a−16
fは空気作動弁、17は窒素用マスフローコントローラ
、18は酸素用マスフローコントローラ、19は水素用
マスフローコントローラである。
半導体ウェハ13を積載した半導体ウェハ用ホード12
は石英管8に挿入される。このとき、室内雰囲気による
°酸化を低減するため、空気作動弁16b、16c、1
6e、16fを開き、2本の水素ノズルla、lbを用
いて窒素を燃焼室4゜接続管3を経由し、石英管8上部
より供給する。
半導体ウェハ13が所定の熱処理位置に到達し、熱処理
装置内の温度が安定した後、酸化を行う。
まず、酸素を燃焼室4に供給するため、空気作動弁16
aを開けて、窒素の供給量を数SLMとする。所定時間
経過後、水素燃焼を開始するため、空気作動弁16b、
16dを開き、空気作動弁16cは閉じる。水素用マス
フローコントローラ19で数SLM程度の水素を燃焼室
4に供給させる。
燃焼室4で着火後、酸素量を所定まで酸素用マスフロー
コントローラ18で増量した後、水素供給量を増量する
。水素ノズル1bの許容水素量以内での酸化は、この後
、空気作動弁16eを閉じ、詐容水素量以上の使用の場
合は、空気作動弁16fを閉じ、空気作動弁16cを開
け、2つの水素ノズルla、lbにて燃焼室4内で酸素
と水素の燃焼を行う。通常、酸素量は、水素量の1/2
より多くするため、石英管8には、水蒸気と酸素の混合
気体が供給され、半導体ウェハ13の酸化を行う。
[発明の効果] 以上説明したように本発明は、半導体ウェハの外部燃焼
酸化装置の酸素と水素を反応、燃焼させる燃焼室への水
素供給ノズルを2個以上備え、各々の水素供給を独立に
制御可能としたので、燃焼室、水素ノズルの寿命を損な
うことなく、多量の水素を燃焼させることができる。ま
た、窒素の供給においても、抵抗が小さくなるので、よ
り多量に流すことができるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例を示す断面図、第2図は、
第1図のガス系統図、第3図は、従来の半導体ウェハの
外部燃焼酸化装置を示す断面図、第4図は、第3図のガ
ス系統図である。 la、lb・・・水素ノズル  2・・・酸素ノズル3
・・・接続管        4・・・燃焼室5・・・
ヒータ         6・・・ガス制御装置7・・
・熱処理用ヒータ     8・・・石英管特許出願人
  日本電気株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体ウェハを加熱処理する処理室と、該処理室
    に半導体ウェハを運搬する運搬機構と、処理室に不活性
    ガス、酸素、水蒸気等の供給を行うガス供給装置とを有
    する半導体ウェハの酸化装置において、ガス供給装置の
    酸素、水素の燃焼を行う燃焼室へのガス供給ノズルを少
    なくとも2個以上有し、各々のノズルからのガス供給を
    独立に制御することを特徴とする半導体ウェハの外部燃
    焼酸化装置。
JP32835390A 1990-11-28 1990-11-28 半導体ウェハの外部燃焼酸化装置 Pending JPH04196536A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32835390A JPH04196536A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 半導体ウェハの外部燃焼酸化装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32835390A JPH04196536A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 半導体ウェハの外部燃焼酸化装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04196536A true JPH04196536A (ja) 1992-07-16

Family

ID=18209297

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32835390A Pending JPH04196536A (ja) 1990-11-28 1990-11-28 半導体ウェハの外部燃焼酸化装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04196536A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0710935U (ja) * 1993-07-24 1995-02-14 ヤマハ株式会社 縦型熱処理炉

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0710935U (ja) * 1993-07-24 1995-02-14 ヤマハ株式会社 縦型熱処理炉

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5127365A (en) Vertical heat-treatment apparatus for semiconductor parts
JP2017166731A (ja) ラジアントチューブバーナー設備
JPH07283164A (ja) 熱処理装置及び熱処理方法
JPH04196536A (ja) 半導体ウェハの外部燃焼酸化装置
US2849221A (en) Heat treating furnace
EP1235262B1 (en) Heat treatment device
US6270581B1 (en) Wet-oxidation apparatus and wet-oxidation method
CN108700293B (zh) 工业炉
JP2008249293A (ja) 加熱炉の内部圧力制御方法
JP6478785B2 (ja) 蓄熱式ガス処理装置の制御方法
JP7408255B2 (ja) 加熱炉の加熱処理方法、連続式加熱炉及びバッチ式加熱炉
JP2006261362A (ja) 基板処理装置
JP5403987B2 (ja) 雰囲気炉
JP3063695B2 (ja) 複数の水素ノズルを有する外部燃焼酸化装置
JP2010021378A (ja) シリコン酸窒化膜の形成方法および形成装置
US5823763A (en) Combustion device and method for use in a thermal oxidation furnace
JP3289437B2 (ja) 蓄熱式バーナを用いた加熱炉の燃焼方法
JP2591970B2 (ja) 流動層炉内雰囲気の制御装置
JP2859642B2 (ja) 流動層加熱炉
JP5701038B2 (ja) 熱処理炉およびその運転方法
JP2008010688A (ja) 基板処理装置
JPS63184339A (ja) 酸化装置
JP4597393B2 (ja) 熱処理装置
JPS63193531A (ja) 半導体の熱酸化法
JPH02156525A (ja) 半導体ウェハー熱処理炉