JPH05504021A - 封止型電界放出素子 - Google Patents

封止型電界放出素子

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JPH05504021A
JPH05504021A JP3504144A JP50414491A JPH05504021A JP H05504021 A JPH05504021 A JP H05504021A JP 3504144 A JP3504144 A JP 3504144A JP 50414491 A JP50414491 A JP 50414491A JP H05504021 A JPH05504021 A JP H05504021A
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ケイン・ロバート シー
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 封止型電界放出素子 本発明は、一般的に電界放出素子(field emission devic es)に関し、更に詳しくは非平面的な(non−p l ana r)形状を 具現化する電界放出素子に関する。
背景技術 電界放出現象はよく知られている。真空管技術では、加熱した陰極を設けること によって誘起される電子放出に一般的に依存していた。最近は、ソリッド・ステ ート素子が提案され、ここでは電子放出作用は冷陰極(cold cathod e)と関連して発生する。後者の技術の利点は電磁パルス現象に対する抵抗性を 有する。
ソリッド・ステート電界放出素子の予期されている利点にもかかわらず、現在こ の技術の広汎な適用を妨げる多くの問題点に直面している。1つの問題は、この ような素子の製作に信頼性のないことに関する。これらの素子の最近の非平面的 な構成では、エミッタ・コーンを顕微鏡レベルで構成する必要がある。このよう なコーンを相当量、層の上に層を堆積する工程によって製作することは、今日の 製造上の能力に対する大きな挑戦である。明らかに製作がより容易である平面的 な(planar)構成の素子も、また提案されている。しかしこのような平面 的な構成は、必ずしも全ての所望の用途に適しているわけではない。
したがって、公知の製造技術を使用して容易に製作することができ、種々の用途 に適用するのに適した電界放出素子に対する必要性が存在する。
発明の開示 これらの必要性及びその他の必要性は、ここに開示する電界放出素子を提供する ことによって実質的に満足される。
本発明によって構成される電界放出素子は概略的に、陽極と、この陽極の周囲に 配置された陰極とを有する。
本発明の1つの実施例では、陰極は陽極に対して軸方向に変位している。
本発明の更に他の実施例では、ゲートもまた陽極の周囲に配置され、陽極と陰極 の両方に対して軸方向に変位している。
本発明の更に他の実施例では、陰極に設けられた縁部(e d g e)によっ て、この縁部に近接する増強した電界によって誘起される電子放出がサポートさ れる。
図面の簡単な説明 第1図は、本発明によって構成した電界放出素子の側部断面図である。
第2A図と第2B図は、本発明の2つの実施例の上部平面図である。
第3図は、共通の基板上に本発明によって構成した複数の電界放出素子の縮小側 面図である。
発明を実施するための最良の形態 第1図に示すように、一般的に本発明によって構成された電界放出素子を参照番 号100で示す。素子(100)は、シリコン、石英または他の絶縁材料によっ て構成される支持基板(101)を有する。異なった実施例では、この層に導電 材料を使用することも適当であるかも知れない。
前記のように絶縁層を使用する場合には、表面に適当な導電経路を設け、以下で 説明するように素子の陽極に電気的に結合し、この素子の意図した用途をサポー トしてもよい。
この場合にはポリイミド物質等で構成された他の絶縁層(102)を支持層(1 01)の上に堆積する。次に適当なエツチング法を使用して、この第2の絶縁層 (102)に空洞(103)を形成する。この空洞(103)は、該空洞と結合 して位置し、支持基板(101)の上に形成された導電経路にアクセスするよう に十分に深く延びるのが好ましい。
次に適当な金属被膜工程によって、第2絶縁層(10,2)の上に導電層(10 4)を加える。この金属被膜層(104)はゲートを構成する。この工程の間に 、空洞(103)の内部にも金属被膜層を堆積し、この金属被膜層は素子(10 0)の陽極(106)を形成する。
次に空洞(103)の内部に適当なマスク材料を堆積して陽極(106)を保護 し、他の絶縁層(107)をゲート層(104)の上に堆積するかまたは成長さ せる。これに続いて、他の金属被膜層(108)を堆積する。次に他の絶縁層( 109)を付は加えることもできる。
次に適当なエツチング工程を使用して、最後の金属被膜層(108)と最後の絶 縁層の側部を工、yチングによって除去する。このエツチング工程は、異方性的 にエツチングするように計算された工程でなければならない。この工程によって 、傾斜面を有する露出した金属被膜面(110)と比較的明確に構成された縁部 (111)が形成される。
この最後の金属被膜層(108)は素子(100)の陰極を構成し、縁部(11 1)は不連続な形状を構成し、この不連続形状は素子(100)の動作に有利な 電界増強特性に貢献する。
また、エツチング工程またはリフト・オフ工程を使用して、空洞(103)の内 部に堆積した材料を取り除き、再び陽極(106)を露出してもよい。次に角度 の低い気相堆積工程を使用し、この構造(100)の頂部に、酸化アルミまたは 酸化ケイ素のような適当な絶縁層(112)を堆積し、これによって封止型の素 子を製作する。後者の堆積工程は真空中で行われるのが好ましく、その結果、空 洞(103)は、真空になり、これは再び素子の予期した動作に有利に作用する 。
このように構成し、陰極(108)と陽極(106)に適当な電位を供給すれば 、[主として陰極(108)の縁部(111)が示す形状の不連続性によって] 電子(113)が放出され、これは陽極(106)に向けて移動する。
周知の方法によってゲート(104)を適当に制御することによって、この流れ を一般的に調整することができる。
素子(100)の他の実施例では、この素子と関連する中間金属被膜層(104 )と絶縁層(107)を省くことができる。この結果、ダイオードのような2電 極素子が得られる。
特定の用途如何によって、空洞(103)を円形(第2a図参照)、矩形(第2 b図参照)、またはいずれか複数の側部を有する他のチェンバ(chamber )として形成してもよい。重要なことは、これらの実施例のいずれの場合でも、 陽極(106)の周囲に陰極(108)を配置することである。これらの特定の 実施例では、陰極はまた陽極に対して軸方向に変位し、第1図に示す電極が3つ の素子の場合には、陽極の周囲にゲートを配置し、このゲートはまた残りの2つ の電極に対し軸方向に変位している。
第3図を参照して、この素子(100)の重要な利点を説明する。上述したよう な電界放出素子は、顕微鏡レベルで構成される。その結果、支持基板(101) は、一般的には厳密な平面にはならない。その代りに、第3図で一般的に示すよ うに、表面にばらつきが発生し得るし、また発生する。これら変動する表面摂動 によって、第2素子(302)の陽極(106)と比較した場合、第1素子(3 01)の陽極(106)のレベルと第2素子(302)の陽極(106)のレベ ルの間に垂直方向の変位(B)を生ずる。同様に、第2素子(302)の陽極( 106)のレベルと第3素子(303)の陽極(106)のレベルの間に、別の 変位(C)か存在する。
これらの当然発生するばらつきにもかかわらず、各素子(301,302および 303)の陰極の縁部(111)と陽極(106)の間の距離は、実質的に等し い(A)ままである。素子間のこのような対応は、各素子および複数の素子全体 としての予測可能な性能に寄与する所大である。
同時に、これらの素子は、公知の金属被膜、酸化物の成長、エツチングおよび気 相堆積の諸技術を使用して容易に製作することか可能である。
第2A図 要約書 ソリッド・ステート電界放出素子(100)が開示され、この電界放出素子は、 陽極(106)の周囲に配置され、この陽極に対して軸方向に変位した陰極(1 11)を有する。この素子自体は封止型で製造が容易であり、量産された場合に 、相互と比較して類似の動作特性を有する。
国際調査報告

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.A)陽極(106);および B)前記陽極の周囲に配置された陰極(111);を具備することを特徴とする 電界放出素子。
  2. 2.前記陰極は、前記陽極に対して軸方向に変位していることを更に特徴とする 請求の範囲第1項記載の電界放出素子。
  3. 3.ゲート(104)が前記陽極の周囲に配置されることを更に特徴とする請求 の範囲第1項記載の電界放出素子。
  4. 4.前記陽極、ゲートおよび陰極は、それぞれ相互に対して軸方向に変位してい ることを更に特徴とする請求の範囲第3項記載の電界放出素子。
  5. 5.複数の電界放出素子(301、302および303)によって構成される電 子素子に於いて、前記各電界放出素子は: A)陽極(106);および B)陰極(111); を含み、前記各電界放出素子について、前記陽極はその関連する陰極から実質的 に第1の値(A)に等しい距離だけ離れて位置し、全ての陽極は相互に実質的同 一平面ではないことを特徴とする電子素子。
JP3504144A 1990-02-09 1991-01-30 封止型電界放出素子 Pending JPH05504021A (ja)

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WO (1) WO1991012625A1 (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5247223A (en) * 1990-06-30 1993-09-21 Sony Corporation Quantum interference semiconductor device
US5536193A (en) 1991-11-07 1996-07-16 Microelectronics And Computer Technology Corporation Method of making wide band gap field emitter
US6127773A (en) 1992-03-16 2000-10-03 Si Diamond Technology, Inc. Amorphic diamond film flat field emission cathode
US5449970A (en) 1992-03-16 1995-09-12 Microelectronics And Computer Technology Corporation Diode structure flat panel display
US5679043A (en) * 1992-03-16 1997-10-21 Microelectronics And Computer Technology Corporation Method of making a field emitter
US5600200A (en) 1992-03-16 1997-02-04 Microelectronics And Computer Technology Corporation Wire-mesh cathode
US5543684A (en) 1992-03-16 1996-08-06 Microelectronics And Computer Technology Corporation Flat panel display based on diamond thin films
US5763997A (en) 1992-03-16 1998-06-09 Si Diamond Technology, Inc. Field emission display device
US5675216A (en) 1992-03-16 1997-10-07 Microelectronics And Computer Technololgy Corp. Amorphic diamond film flat field emission cathode
US5256888A (en) * 1992-05-04 1993-10-26 Motorola, Inc. Transistor device apparatus employing free-space electron emission from a diamond material surface
US5598052A (en) * 1992-07-28 1997-01-28 Philips Electronics North America Vacuum microelectronic device and methodology for fabricating same
JPH08510588A (ja) * 1993-01-19 1996-11-05 ダニロビッチ カルポフ,レオニド 電界放出素子
KR100366191B1 (ko) 1993-11-04 2003-03-15 에스아이 다이아몬드 테크놀로지, 인코포레이티드 플랫패널디스플레이시스템및구성소자의제조방법
US5442193A (en) * 1994-02-22 1995-08-15 Motorola Microelectronic field emission device with breakdown inhibiting insulated gate electrode
US5604399A (en) * 1995-06-06 1997-02-18 International Business Machines Corporation Optimal gate control design and fabrication method for lateral field emission devices
JPH10289650A (ja) 1997-04-11 1998-10-27 Sony Corp 電界電子放出素子及びその製造方法並びに電界電子放出型ディスプレイ装置
US6441550B1 (en) 1998-10-12 2002-08-27 Extreme Devices Inc. Carbon-based field emission electron device for high current density applications
US6181055B1 (en) 1998-10-12 2001-01-30 Extreme Devices, Inc. Multilayer carbon-based field emission electron device for high current density applications
JP5708910B2 (ja) * 2010-03-30 2015-04-30 ソニー株式会社 薄膜トランジスタおよびその製造方法、並びに表示装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3883760A (en) * 1971-04-07 1975-05-13 Bendix Corp Field emission x-ray tube having a graphite fabric cathode
JPS6025132A (ja) * 1983-07-22 1985-02-07 Hitachi Ltd 二極形電子銃
JPS63185025A (ja) * 1987-01-28 1988-07-30 Canon Inc 電子放出装置
JPS6433833A (en) * 1987-07-29 1989-02-03 Canon Kk Electron emitting element
JPH01128332A (ja) * 1987-09-04 1989-05-22 General Electric Co Plc:The <Gec> 電界放出デバイス形成方法および該方法による前記電界放出デバイス

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB730920A (en) * 1952-04-09 1955-06-01 Philips Electrical Ind Ltd Improvements in or relating to high-vacuum electric discharge tubes of the kind comprising cold electrodes
US3755704A (en) * 1970-02-06 1973-08-28 Stanford Research Inst Field emission cathode structures and devices utilizing such structures
US3789471A (en) * 1970-02-06 1974-02-05 Stanford Research Inst Field emission cathode structures, devices utilizing such structures, and methods of producing such structures
US3812559A (en) * 1970-07-13 1974-05-28 Stanford Research Inst Methods of producing field ionizer and field emission cathode structures
US3735187A (en) * 1971-12-22 1973-05-22 Bendix Corp Cathode blade for a field emission x-ray tube
US3894332A (en) * 1972-02-11 1975-07-15 Westinghouse Electric Corp Solid state radiation sensitive field electron emitter and methods of fabrication thereof
JPS5325632B2 (ja) * 1973-03-22 1978-07-27
US3970887A (en) * 1974-06-19 1976-07-20 Micro-Bit Corporation Micro-structure field emission electron source
JPS5436828B2 (ja) * 1974-08-16 1979-11-12
US3921022A (en) * 1974-09-03 1975-11-18 Rca Corp Field emitting device and method of making same
US4178531A (en) * 1977-06-15 1979-12-11 Rca Corporation CRT with field-emission cathode
SU855782A1 (ru) * 1977-06-28 1981-08-15 Предприятие П/Я Г-4468 Эмиттер электронов
NL184589C (nl) * 1979-07-13 1989-09-01 Philips Nv Halfgeleiderinrichting voor het opwekken van een elektronenbundel en werkwijze voor het vervaardigen van een dergelijke halfgeleiderinrichting.
US4350926A (en) * 1980-07-28 1982-09-21 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Hollow beam electron source
US4307507A (en) * 1980-09-10 1981-12-29 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Method of manufacturing a field-emission cathode structure
US4578614A (en) * 1982-07-23 1986-03-25 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Ultra-fast field emitter array vacuum integrated circuit switching device
US4513308A (en) * 1982-09-23 1985-04-23 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy p-n Junction controlled field emitter array cathode
FR2568394B1 (fr) * 1984-07-27 1988-02-12 Commissariat Energie Atomique Dispositif de visualisation par cathodoluminescence excitee par emission de champ
GB8621600D0 (en) * 1986-09-08 1987-03-18 Gen Electric Co Plc Vacuum devices
FR2604823B1 (fr) * 1986-10-02 1995-04-07 Etude Surfaces Lab Dispositif emetteur d'electrons et son application notamment a la realisation d'ecrans plats de television
US4685996A (en) * 1986-10-14 1987-08-11 Busta Heinz H Method of making micromachined refractory metal field emitters
US4721885A (en) * 1987-02-11 1988-01-26 Sri International Very high speed integrated microelectronic tubes
GB2204991B (en) * 1987-05-18 1991-10-02 Gen Electric Plc Vacuum electronic devices
US4874981A (en) * 1988-05-10 1989-10-17 Sri International Automatically focusing field emission electrode
US4956574A (en) * 1989-08-08 1990-09-11 Motorola, Inc. Switched anode field emission device
EP0500543A4 (en) * 1989-09-29 1992-11-19 Motorola, Inc. Flat panel display using field emission devices
JP2634295B2 (ja) * 1990-05-17 1997-07-23 双葉電子工業株式会社 電子放出素子

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3883760A (en) * 1971-04-07 1975-05-13 Bendix Corp Field emission x-ray tube having a graphite fabric cathode
JPS6025132A (ja) * 1983-07-22 1985-02-07 Hitachi Ltd 二極形電子銃
JPS63185025A (ja) * 1987-01-28 1988-07-30 Canon Inc 電子放出装置
JPS6433833A (en) * 1987-07-29 1989-02-03 Canon Kk Electron emitting element
JPH01128332A (ja) * 1987-09-04 1989-05-22 General Electric Co Plc:The <Gec> 電界放出デバイス形成方法および該方法による前記電界放出デバイス

Also Published As

Publication number Publication date
US5079476A (en) 1992-01-07
EP0514444B1 (en) 1997-04-02
DE4103585A1 (de) 1991-08-14
ATE151198T1 (de) 1997-04-15
DE69125478T2 (de) 1997-10-02
CN1020828C (zh) 1993-05-19
CN1056375A (zh) 1991-11-20
EP0514444A4 (en) 1993-02-17
WO1991012625A1 (en) 1991-08-22
DE69125478D1 (de) 1997-05-07
EP0514444A1 (en) 1992-11-25

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