JPH05502311A - 導電性、光減衰反射防止被覆 - Google Patents

導電性、光減衰反射防止被覆

Info

Publication number
JPH05502311A
JPH05502311A JP3517074A JP51707491A JPH05502311A JP H05502311 A JPH05502311 A JP H05502311A JP 3517074 A JP3517074 A JP 3517074A JP 51707491 A JP51707491 A JP 51707491A JP H05502311 A JPH05502311 A JP H05502311A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
nitride
coating
thickness
wavelength
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3517074A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3446833B2 (ja
Inventor
ビョルナール,エリック・ジェイ
Original Assignee
バイラテック・シン・フィルムズ・インコーポレイテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by バイラテック・シン・フィルムズ・インコーポレイテッド filed Critical バイラテック・シン・フィルムズ・インコーポレイテッド
Publication of JPH05502311A publication Critical patent/JPH05502311A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3446833B2 publication Critical patent/JP3446833B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/10Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
    • G02B1/11Anti-reflection coatings
    • G02B1/113Anti-reflection coatings using inorganic layer materials only
    • G02B1/115Multilayers
    • G02B1/116Multilayers including electrically conducting layers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/34Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
    • C03C17/3411Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials
    • C03C17/3429Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating
    • C03C17/3435Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials at least one of the coatings being a non-oxide coating comprising a nitride, oxynitride, boronitride or carbonitride
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2217/00Coatings on glass
    • C03C2217/70Properties of coatings
    • C03C2217/73Anti-reflective coatings with specific characteristics
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2217/00Coatings on glass
    • C03C2217/70Properties of coatings
    • C03C2217/78Coatings specially designed to be durable, e.g. scratch-resistant
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24942Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including components having same physical characteristic in differing degree
    • Y10T428/2495Thickness [relative or absolute]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24942Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including components having same physical characteristic in differing degree
    • Y10T428/2495Thickness [relative or absolute]
    • Y10T428/24967Absolute thicknesses specified
    • Y10T428/24975No layer or component greater than 5 mils thick

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)
  • Indole Compounds (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 導電性、光減衰反射防止被覆 発明の背景 この発明は薄膜反射防止被覆に関し、かつより特定的には光を弱める導電性の反 射防止被覆に関する。
ある物品は熱減少(reduc t 1on) 、目の保護および改良された視 界のような様々な理由のために光を弱めるように製作される。これらの物品はま たその少なくとも1つの表面上て反射防止被覆を必要とする。そのような物品は サングラス、太陽制御用のつや出しおよびコントラスト増強(enhancem ent)フィルタを含む。
サングラスにおいて、光の減衰は明るい光から目を保護し、かつ反射防止被覆は 目に直面するレンズの表面からの反射された眩しい光を減少する。サングラスの ための反射防止特性は通常は真空で堆積された透明な誘電膜を含む多層被覆によ って与えられる。光減衰の特徴はレンズの固有の特性であり得る。この特徴はま たレンズを染めることによって外部的に導入され得る。好ましくは、サングラス は約90%の可視光を弱める。
太陽制御用のつや出しはたとえば乗物や建物の内部に伝えられた太陽エネルギを 弱める。これらのつや出しは好ましくはそれらの内部表面上に低い反射処理を有 し、反射か拡散することを減少させる。低い放射率(E)被覆は反射を減少させ るために使用され得る。太陽制御のためのつや出しに対する光の減衰は光吸収ガ ラスを使用することによって達成され得る。光減衰はまた真空で堆積された金属 膜または金属膜て被覆されかつ適当な接着剤によってつや出しへと付着されたプ ラスチックソートによって与えられ得る。光減衰は約50%の可視光である。
コントラスト増強フィルタはしばしば画像コントラストを高めるためにかつビデ オ表示端末(VDT)のスクリーンから眩しい光を減少させるために使用される 。このフィルタはVDTオペレータとスクリーンとの間に位置される。
コントラスト増強フィルタは光吸収ガラスから作られ得る。
そのガラスは約30%の入射光を透過することができる。
窓および光設備のような外部の源からの光はフィルタを通りかつそれがスクリー ンから反射される前に弱められる。
それかスクリーンから反射された後、オペレータによって観察される前に再びフ ィルタを通過しなければならない。
第2の通過の後、光はそれかフィルタなしてあった場合の輝度の約10%にまで 減衰される。もしスクリーンの反射率が約4%であると、外部光源の画像および 対象物は99゜5%以上減少され得る。
スクリーンの画像からの光はコントラスト増強フィルタを1回だけ通過する。こ うして、それは約70%のみ減衰され得る。そのようにして、画像の視界か高め られる。コントラスト増強フィルタはその外部仕上げ表面に反射防止処理か与え られる場合にのみ効果的である。好ましくは、その内部および外部表面の双方が 処理されるへきである。
反射防止処理は多層の反射防止被覆を含み得る。そのような被覆は可視光に対し て認められた視界を存し得、それは通常明所視(pho t op i c)反 射または明所視の視界と呼ばれ、それは約0.25%よりも少ない。約0.15 %よりも少ない明所視覚を有するフィルタか好ましい。
コントラスト増強フィルタはガラスまたはプラスチックから作られ得る。もしフ ィルタが陰極線管(CRT)に密接して位置されると、それは静電荷を蓄積し得 る。こうして、フィルタの一方または双方の表面か好ましく導電性でありかつ静 電荷の蓄積を妨げるように接地される。もしフィルタの表面に多層の反射防止被 覆か設けられると、導電性は被覆の固有の特性であり得る。インジウム錫の酸化 物のような導電性の透光性のフィルムはそのような被覆に使用され得る。
導電性のフィルタの費用はVDTの費用の約30%であり得る。これらのフィル タの高いコストかそれらの使用を思いとどまらせる。
光吸収フィルムか反射防止層システムを構成するために使用され得るということ は周知である。最も単純な光吸収システムはガラスまたはプラスチック基板に接 触してクロムまたはモリブデンのような低い反射率の金属膜および低い反射率の フィルムに接触してフッ化マグネシウムまたは二酸化ケイ素のような透光性の誘 電材の層を含む。これらの金属膜は約5ナノメートル(mn)のオーダて非常に 薄くあり得る。そのような薄膜の光学的特性は堆積工程の初期の部分の間金属か 酸化しやすいために制卸することか困難である。その後に被覆の酸化または腐食 かまた起こり得る。薄い金@膜はまた不適当な導電性および約40%のみの可視 光の減衰を与え得る。
図1は約1.6nmの厚みのクロム膜および約754nmの厚みの二酸化ケイ素 膜を含む2層システムの計算された透過(曲線A)および反射(曲線B)値を示 す。膜は約1.52の屈折率を有するガラス基板上に堆積される。
システムの明所視反射は基板の反対側のシステムの側から、すなわちシステムの 空気側から観察されるときに約0. 35%である。明所視透過は約75%であ る。
別の反射防止システムは低いE被覆であり、それは銀膜を含み、それは高い屈折 率を有しかつ誘電膜によって片側上に結合される。最も低い反射は銀の相対的に 薄い膜、たとえば6ないし8nm厚みて得られる。可視光の減衰は、しかしなが ら無視してもよい。
銀誘電層システムは1つの付加的な銀膜を含むように延在され得る。このことは システムの導電性を増しかつその反射防止性能を改良する。銀膜は相対的に高い 屈折率の誘電材によって分離され得、それは約510nmの波長で約2分の1の 波長の光学的厚みを有し、それは可視スペクトルのほぼ中間である。各々の銀幕 はまた誘電材の層によって結合されるてあろう。各々の誘電層は約510nmの 波長で約4分の1の波長の屈折率を有するであろう。
このシステムは米国特許第4.799.745号に説明された光透過、熱反射被 覆にその機能において類似である。
この被覆の銀膜は最も低い可能な反射を与えるために相対的に薄くなくてはなら ない。この被覆のための可視光の減衰は約10%のオーダである。シート抵抗は 約1平方につきlOオーム(10Ω/口)てあり、大部分の目的に対して適切な 導電性を与える。
図2は2つの銀膜および3つの誘電層を含むシステムのための透過(曲線C)お よび反射(曲線D)値を示す。システムはガラス基板上に堆積される。基板から 始まる層ソーケンスおよび物理的厚みは以下のとおりてあり、すなわち酸化亜鉛 (45,7層m)、銀(6,9層m)、酸化亜鉛(85,3層m)、銀(18, 4層m)および酸化亜鉛(43,3層m)である。ガラス基板の屈折率は1,5 2である。
クロムのような高い光吸金属と銀または金のような低い光吸収材との組合せを使 用するシステムかまた構成さね得る。そのような組合せは明所視透過の異なる値 を許容するか、少なくとも1つの表面から相対的に低い反射をなおも与える。一 般的にはしかしなから、銀、金または銅のような薄い軟金属膜を含むシステムは 乏しい耐引っかき性を存する。銀または銅の薄膜を含むシステムはまた腐食に弱 くかつ保護されない表面上で使用されるときには2,3ケ月以内に劣化し得る。
上で説明された層システムは以下のうちのいずれかを発生することかてき、すな わち、(1)高い導電性および低い反射、(2)適切な光減衰および低い反射、 または(3)適切な光減衰および高い導電性である。これらのシステムは高い導 電性、低い反射および適切な光減衰を有する単一の構造を与えはしない。
そのように、この発明の目的は導電性の、反射防止層システムを提供することて あり、それは可視光のための広い範囲の減衰値を与えるか、さらに低い明所視反 射を与える。
1平方あたり約100オームよりも少ないソート抵抗を有し得る光減衰、反射防 止層システムを提供することはこの発明のさらなる目的である。
耐磨耗性および耐食性てあ名導電性の、光減衰反射防止層システムを提供するこ とかこの発明のさらに別の目的である。
建築上のガラス被覆のために使用される型のイン−ライン被覆機械におけるDC 反応性スパッタリングによって堆積され得る耐食性、耐磨耗性で導電性、適切な 光減衰の反射防止システムを提供することもまたこの発明の目的である。
この発明の付与目的な目的および利点は以下に続く説明において述−\られ、か つその一部はその説明から明らかであるか、またはこの発明の実施によって理解 され得るであろう。この発明の目的および利点は特許請求の範囲にお0て指摘さ れる手段および組合せによって認識されかつ理解さこの発明は物品の被覆に向け られる。被覆は第1の層を含み、それは可視光に実質的に透光性の材料を含みか つ約135および19の間の屈折率を有イる1、第1の層の光学的厚みは約48 0および560ナノメートルの間の約4分の1の波長である。第1の層は被覆の 最外層である。
被覆はさらに第2の層を含み、それは実質的に約5および40ナノメートルの間 の厚みを有する遷移金属の窒化物を含む。被覆の第3の層は可視光に実質的に透 光性の材料を含みがつ約l 35および265の間の屈折率を有する。
第3の層の光学的厚みは約480と560ナノメートルとの間の波長で約4分の 1の波長より少ないかまたはそれに等しい。被覆の第4の層はまた実質的に約5 および40ナノメートルの間の厚みを有する遷移金属の窒化物を含む。
被覆はまた実質的に可視光に対して透光性かあり、かつ135および265の間 の屈折率を有する材料の第5の層を含み得る。第5の層の光学的厚みは約480 および560ナノメートルの間の波長で4分の1の波長よりも少ないかまたはそ れに等しい。この実施例はまた約5および40ナノメートルの間の厚みを有する 実質的に遷移金属の窒化物の第6の層を含み得る。
この発明はまた約5および15ナノメートルの間の厚みを育する遷移金属の窒化 物の第1の層を含む被覆に向けられる。第2の層は第1の層に隣接して位置され る。第2の層は実質的に可視光に透光性のかつ約1.35および2゜65の間の 屈折率を有する材料を含む。第2の層の厚みは約2および15ナノメートルの間 である。
この発明の構造は導電性、光減衰の反射防止被覆を提供する。構造の明所視反射 は約0.25%よりも少なくなり得る。その構造によって与えられる光減衰の割 合は約50および90%の間になり得る。構造の電気的シート抵抗は1平方につ き約200オームかまたはそれよりも少なくなり得る。構造は耐磨耗性でありか つ耐食性である。
その構造は多くの応用に適当である高い導電性、低い反射および光減衰を与える 。この発明の構造は建築上のガラス被覆のために使用される型のイン−ライン被 覆機械におけるり、C反応性スパッタリングによって商業的な規模で適用され得 る。
図面の説明 組入れられ、かつ明細書の一部を構成する添付の図面はこの発明の好ましい実施 例を概略的に示し、かつそれとともに上て与えられた一般的な説明および以下に 与えられる好ましい実施例の詳細な説明はこの発明の詳細な説明するのに役立つ 。
図1はクロムおよび二酸化ケイ素を含む2層の、光吸収反射防止システムの波長 の機能として、計算された反射および透過値をグラフで示す。
図2は銀および酸化亜鉛膜を含む5層の光吸収反射防止システムの波長の機能と して、計算された反射および透過値をグラフで示す。
図3はこの発明に従った4層システムを概略的に示す。
図4は第1の層に二酸化ケイ素を、第2および第4の層に窒化チタンをかつ第3 の層に酸化錫を使用するこの発明の実施例のために波長の機能として、計算され た反射および透過値をグラフで示す。
図5は図4に参照された実施例のために、波長の機能として計測された反射およ び透過値をグラフて示す。
図6は窒化チタン膜のための交互の光学定数を使用するこの発明の実施例のため に、波長の機能として、計算された反射および透過値をグラフで示す。
図7は第1の層に二酸化ケイ素を使用し、第2および第4の層に窒化チタンを使 用し、かつ第3の層に二酸化チタンを使用するこの発明の実施例のために波長の 機能として、計算された反射および透過値をグラフで示す。
図8は図7に参照されるか窒化チタンのより薄い膜を使用する実施例のために波 長の機能として、計算された反射および透過値をグラフで示す。
図9は図8に参照された実施例のための波長の機能として、計測された反射およ び透過値をグラフで示す。
図10は第1の層に二酸化ケイ素を、第2および第4の層に窒化チタンをかつ第 3の層に二酸化ケイ素を使用するこの発明の実施例のための波長の機能として、 計算された反射および透過値をグラフで示す。
図11は第1の層に酸化アルミニウム、第2および第4の層に窒化チタンをかつ 第3の層に二酸化ケイ素または二酸化チタンを使用するこの発明の実施例のため の波長の機能として、計算された反射値をグラフで示す。
図12は第1の層に二酸化ケイ素を、第2および第4の層に窒化チタンを、第3 の1に二酸化ケイ素をかつ第5の層に二酸化チタンを使用するこの発明の5層シ ステムのための波長の機能として、計算された反射および透過値をグラフで示す 。
図13は第1の層に二酸化ケイ素を、第2、第4および第6の層に窒化チタンを かつ第3および第5の層に酸化錫を使用するこの発明の6層システムのための波 長の機能として、計算された反射および透過値をグラフに示す。
図14はこの発明に従う2層システムを概略的に示す。
図15は様々な被覆で窒化チタン層を使用する図14のシステムの計算された反 射および透過値をグラフて示す。
図16は窒化チタン層のための波長の機能として、計測された反射および透過値 をグラフで示す。
図17はヒデオ表示スクリーンとともに使用されるフントラスト増強フィルタを 概略的に示す。
図18はこの発明に従う4層システムて一方の側上に被覆されかつ窒化チタンの 単相で反対側上を被覆されるコントラスト増強フィルタのための波長の機能とし て、計測された反射および透過値を示す。
発明の詳細な説明 この発明はある遷移金属の窒化物の層を使用して導電性、光減衰の反射防止被覆 を提供する。そのように、それらは層システムの1つの構造において特性の範囲 を与え、それは通常特性のうちの2つを有する構造の組合せによって与えられ、 基板かその他を有する。
窒化物を形成するものとして既知てありかつこの発明に有用である遷移金属はチ タン、ジルコニウム、ハフニウム、バナジウム、タンタル、ニオブおよびクロム を含む。これらの遷移金属の窒化物は金属と類似の光学的特性を有し得、かつそ れらは導電性の物品である。薄膜の形状で、それらは硬い、耐磨耗性のかつ耐食 性のものてあり得る。
これらの膜を堆積する好ましい方法は窒素またはアンモニアを含む大気における 金属のDC反応性スノク・ツタリングによるものである。膜はまた化学的気相成 長によって堆積され得る。窒化膜の特性は炭素の含有によって修飾され得る。そ のような材料は一般的には炭窒化物と呼ばれる。炭素は膜の反射色、導電性また はその形態を変え得る。この発明の構造は層を含み、それらは実質的には遷移金 属の窒遷移金属の窒化物の最も一般的な物品は窒化チタンである。窒化チタンは 時計および宝石に対するめつき材として広く使用される。それは一般的には「金 トーン(goldtone)Jめっきと呼ばれる。滑らかな磨かれた表面上に堆 積されるとき、金から区別することは非常に困難である。金と違って、しかしな がらそれは硬質でありかつ高い度合の耐引っかき性を有する。それはまた日常の 使用において出くわす大部分の腐食剤に耐える。
窒化物の光学的特性はProc 5PIE Int、Soc、Opt、Eng  の第401巻、375−81頁(1983)のバルコーネン(Va 1kone n)L”)による論文「薄い錫膜の選択的な透過」に述べられ、その全体のテキ ストは引用により援用される。
金属および光吸収材の光学的特性は複合屈折率、n−jkの点から一般的に特定 される。n(複合指数の実際の部分)およびk(複合指数の想像上の部分)の値 は金属の光学定数と呼ばれる。それらは金属の異なる結晶性および物理形状によ って異なり得る。
窒化チタン膜の光学的特性は膜の厚みに依存する。この発明の状況に有用な厚み において、すなわち約5ないし40nmて、遷移金属の窒化物の光学定数は約2 0%よりも多くは変化し得ない。この発明は膜の厚みを調整することによって光 学定数における変形を適応させるように構成され得る。
窒化チタン膜および他の遷移金属の窒化物のための光学定数はスパッタリングガ スの流速、混合ガス比、スパッタリング圧力およびスパッタリング電力のような 方法パラメータの機能として変化し得る。これらの変形は約600nmよりも長 い波長でより大きくなるであろう。約600nmよりも少ない波長に対して、変 形はたとえば約15%以内のような相対的に狭い範囲て起こり得る。
表1は約15および25nmの厚みの窒化チタン膜のための光学定数(n、k) を示す。これらの光学定数は既知の厚みの膜の反射および透過計測によって決定 さtlな。膜はチタンターゲノ)・を使用1.てアルゴン/窒素の混合ガスを流 し、平面マグネトロンからDC反応性スパッタリングによって堆積された。スパ ッタリング電圧は420ボルトであり、スパッタリング圧力は3.17ミリトル てありアルボ〉のための流速は1分間につき25Off準立方センチメートル( sccm)であり、かつ窒素のための流速は220sccr+rnであった。2 5nrriの厚みの膜は1分間に75インチの線速度て堆積された。15nm[ tは1分間につき136イ゛シチの線速度て堆積さえl/二。
表1 窒化チタンの光学定数 波長 15nm 波長 15nm 厚み 厚み (nm) n k (nm) n k 380 K、32 1..45 380 1.32 145430 +、45  1.45 430 !、、34 ]、、42470 1.48 1.48 48 0 1.36 1.40500 1.50 +、50 520 1.40 +、 48550 1.65 157 550 !、47 1..46600 1.8 3 1.74 600 +、50 1.85700 +、95 2.10 70 0 +、79 2.37800 2.20 2.50 800 2.15 2. 95表1の光学定数は以下に説明される、二の発明の様々な実施例の光学的特性 を計算することにおいて使用された。遷移金属の膜はそれらの電気および反射特 性に関して「金属のような」と説明さ′Fl得る。約600nmよりも少ない波 長での光学定数の値は、しかしながら金属とは著しく異なる。
窒化チタンと一般の金属との光学的特性の間の差異は表1のfan、kを表2に 示されるいくつかの一般の金属に対する値n、にと比較することによって理解さ れ得る。
表2 波長 金属 n k (nm) 500 銀 0.2 2.9 500 ニッケル 1.8 3.4 500 モリブデン 3.1 3.0 薄い金属膜の反射率および透過を計算するための式は複雑である。以下の「親指 の法則」はしかしなからこの発明の理解において助(ゴを与えることかできる。
厚い不透明の膜または磨かれたバルク材の形状の金属の反射率または明るさは1 り/nの比に直接比′例し、すなわちこの比率か高くなれば、金属かより明るく なる。薄い金属膜を介する光の透過はnの埴か減少するに従って増JJa l、 、かつkの値か減少するに従って少なくなる。銀は相対的に厚い膜の形状で高度 に反射しかつ相対的に薄膜の形状で透光性を存する。k/nの相対的に低い値を 有するクロム膜は高度に反射しない。りaム膜はまた大変強度に光吸収性を有す る。
窒化チタン膜はまた非常に光を吸(仮性の高いものである。
しかしなから、膜のためのnおよびkの値はそれらか約5006の可視光を吸収 するように少なくとも約30nmの厚みでなけれはならない。他方、4n、mの 厚みのクロム膜は約50%の可ン見光を吸収し得る。約25nmまたはそれ以上 の厚みの窒化チタン膜はこの発明の低いノート抵抗の目的に、すなわち1平方あ た〕′ン約200オームかそれよりも少ないもの(:かなってあろう。そのよう (こ、それらは適切な導電性を与え静電荷の蓄積を防ぐ。そわらはまた十分な光 減衰も与えるであろう。
因3に示されるように、この発明の構造15の好ましいシステムはガラスまたは プラスチック基板28上に堆積さjた4つの膜20.22.26および24を含 む。第1のおよび最外膜20は実質的には可視光に透光性がありかつ約510n mの波長で好ましくは約1.9よりも少ない屈折率を有する。その光学的厚みは 約480nmおよび560nmの間の波長での約4分の1の波長である。膜21 3はまた可視光に実質的に透光性かありかつ約51On、mの波長で約135お よび約2.65の範囲にお(プる屈折率を育する。その光学的厚みは約480お よび560nmの間の波長て約4分の1の波長よりも少ないかまたはそれに等[ 5い。膜の光学的厚みは膜の屈折率か増加するに従って少なく:なり得る。
層22および24は遷移金属の窒化膜であり、各々は約5および40nmの間の 物理的厚みを有する。正確な厚みは必要とされる光減衰および反射の度合いに、 がっ透光性の膜2Gおよび26の屈折率に依存するであろう。構造15は矢印A の方向に沿って観察者または観察器具29によってH察されるとき、最も低い反 射率を有するように設計される。基FFi、2Bを介して観察されるとき構造の 反射率はより高くなり得る。
この発明に従う層システムの詳細な例は以下に説明される。例は遷移金属の窒化 物成分のために窒化チタンを使用する。表3ないしl]において、この発明に従 う異なる構造か以下に述べられかつ説明され、TiN(1)およびTiN (2 )によって示される材料は15%mおよび25%mの厚みの膜のために表1に載 せられる光学定数nおよびkをそれぞれに有する。
すべての表において、基板は約510nmの波長で約152の屈折率を有するガ ラスであると推定される。すへての計算に対して、図面に示される結果は単一の 表面または境界を介する透過および反射値である。すへての計算において、層シ ステムは約425 nmから約675nmの範囲の波長、すなわち可視スペクト ルの一般的に認められる限界の範囲内で最も低い可能な反射を生しるように最適 化されてきた。
好ましい構造15は2つの窒化チタン(TiN)@22および24、二酸化ケイ 素(SiO=)膜2oおよび錫/酸化物(SnOz)膜26を含み得る。この構 造の詳細は表3に与えられ、かつ図4は構造の計算された反射(曲線E)および 透過(曲MF)値を示す。図5は表3に詳細に説明されるように構成される実際 の構造15のための計測された反射(曲線H)および透過(曲線■)値を示す。
構造か約35%の透過、すなわち約6596の光減衰を与えるということは理解 され得る。構造はまた約0.12%の明所視反射率を有し、より優れた反射防止 特性を与える。この構造はまた1平方につき約66オームのソート抵抗を存し、 良好な導電性を与える。
表3 層 材料 厚み(nm) 空気 入口媒体 I 5102 75.2 2 TiN(1) 12.7 3 5n02 484 4 TiN(2) 20.9 ガス 基板 上で説明されたように、表3の窒化膜の厚みは表1に与えられた窒化チタンに対 する光学定数を使用して計算された。TiN(1)およびTiN(2)層に対し て、15および25%mの厚みの膜のための値かそれぞれに使用された。実際に 、しかしながら表3の12.7%mおよび209nmの膜に対する光学定数値は 僅かに異なり得る。さらに、たとえ混合ガスおよび流速か名目上置しであるとし ても、もし構造か異なるスパッタリング装置によって堆積されると、構造の計算 された光学的特性と実際の光学的特性(n、k)との間のいくつかの差異に遭遇 し得る。実際に、そのような差異は膜の厚みを変化させることによって調節され 得る。連続的な、イン−ライン被覆をシステムを使用することによって、このこ とは試行錯誤で3時間以内に達成され得る。
堆積の間、基板は定速、すなわち線速度で機械を介して輸送される。各々の陰極 でのスパッタリング状態は基板が陰極または陰極の群に露出される時間の間材料 の所望の厚みを堆積するように設定される。2.3%の厚みにおける変形はスパ ッタリング電力を調整することによって達成され得る。
計算された構造から実際の構造への相対的に単純な調整はこの発明の重要な特徴 である。調整は通常必要とされる反射率レベルに達成するために窒化膜のい″ず れか1つの厚みの変更を第1に伴う。窒化膜の元来の厚み比は調整の間維持され る。反射防止領域は第3の膜26、すなわち窒化膜22と24との間の透光性の 厚みを調整することによって所望の波長範囲へと回復する。第3の膜の厚みは通 常窒化膜に対して反対のセンスにおいて調整され得る。
計算された構造か最適な低い反射結果を与えるであろう異なる厚みの値の範囲を 育し得るということもまた決定されてきた。そのような2つの構造の間の差異は 透過の異なる値として理解され得る。この発明の構造の特性か、実際の最適化か 相対的に単純であることの理由となり得るということか信じられる。
図3の計算された値と図4の計測された結果との間の一致は良好である。いずれ かの所与の波長での差異は曲線の波長の変位によって主に説明され得る。計測さ れた曲線Hは計算された曲線Eと比較されるとき約2ないし3%たけより長い波 長へと変位される。
表3の構造のサンプルは1時間の開場化ナトリウム(NaCI)の5%溶液にお ける煮沸に耐えた。構造はまたMIL−に−675Aの標準摩耗試験の50回の こすりに曝されたときいずれの損害も示さなかった。こうして、構造は耐食性お よび耐磨耗性を示した。
層システムはスチルポースキー(Szczyrbowski)9による「薄い錫 層の光学的および電気的特性J(Optical and Electrica l Properties of Th1n TiN−LayerS)の論文、 バキューム テクニック(Vakuum Technik)、37.14−18  (1988)において与えられる。この構造は表4に示される。TiN(3) はスチルポースキー値およびTiN (1) 、表1の15nm厚みの膜に対す る光学定数値を示す。この構造に対する反射(曲線J)および透過(曲線K)値 は図6に示される。
表4 層 材料 厚み(nm) 空気 入口媒体 I 5iOz 65.2 2 TiN(1) 16.1 3 5nOt 42.4 4 TiN(2) 36.6 ガラス 基板 表4の構造は約0.1%の明所視反射率を有し得る。表4の構造はこの発明か表 1の特定的な光学定数に限定されないということを示す。
、二の発明のコンテキストにおいて、層26(図3を参照を有し得る。ある値は 好ましい、すなわち1,9および23Sの間の値であるか、すへ、ての値が容認 できる低い反射を与え得る。層26(ご対する異なる屈折率は層22および24 の異なる厚みによって補償され、最適反射減少を与える。いずれかの所与の屈折 率に対して、層の厚みの組合せの1つ以上か低い反射を与え得る。組諭せにおけ る差異はまた異なる透過値という結果に終わり得る。この機構は構造のための光 減衰の所望の値を発生するために使用され得る。以下の例はこの原理を説明する ために役に立つ。
表5はこの発明の別の実施例を詳細に示す。計算された反射(曲線L)および透 過(曲線M)値は図7に示される。
この実施例において約510nmの波長ての約235の屈折率を有する二酸化チ タン(TiO2)か膜26のために使用されてきた。
表5 曙 材料 厚み(nrn) 空気 人口媒体 4 TiN(2) 29.8 ガラス 基板 表5の構造は約016の計算された明所視反射率および約30%の明所視透過を 有し得る。窒化チタン層の全体の厚みか約41n、mであるということか理解さ れ得る。表3の実施例において、窒化チタンの全体の厚みは約34nmでありか つ明所視透過は約35%である。表5の実施例にお(プる付加的な窒化チタン材 は可視光のより大きな減衰を与える。このことは図4の透過値を図7のそれらと 比較することによって理解され得る。
表6はこの発明の別の実施例の詳細を示し、ここでは窒化物層はより薄いもので ある。
表6 層 材料 厚み(nm) 空気 入口媒体 4 TiN(2) 19.9 ガラス 基板 構造は約008%の計算された明所視反射および約48%の計算された明所視透 過を有する。反射(曲線N)および透過(曲線○)の計算された値は図8に示さ れる。表6の構造の計測された反射(曲線P)および透過(曲線Q)値は図9に 示される。5:れらの曲線から理解され得るように、表6の構造は低い反射を与 える一方で高い透過を与える。表6の構造の導電性は表5のそれよりも低し)も のであるか、静電荷の蓄積を防ぐためにはなおも適切であろう。
表7はこの発明のさらに別の実施例をさらに詳細に示す。
計算された反射(曲線R)および透過(曲線S)値は図10において示される。
約51.0%mの波長で約146の屈折率を有する二酸化ケイ素(SiO7)” か@26を形成するために使用されてきた。
表7 層 材料 厚み(nm) 空気 人口媒体 4 TiN(2) 30.5 ガラス 基板 構造の明所視反射率は約02%であり得る。窒化チタン層の全体の厚みは約51 nmてあり約15%の明所視透過を与える。表7の構造を表5の構造と比較する ことによって、実質的に異なる屈折率を存する材料か第3の膜のために使用され 得るか、一方で非常に低い反射値をなおし達成するということか理解され得る。
一般的に、外膜20の屈折率か低くなるにつれて、システムからの反射かより低 くなるであろう。層20の屈折率は1.35の低さてあり得るか、そのような低 い値を有する材料は実際的なものとして十分に耐久性のあるものではあり得ない 。もし膜20の屈折率か約146よりも大きいと、膜26のために可能な屈折率 値の範囲はより狭くなる。特定的に、相対的に高い屈折率の膜のみが1%の約4 分の1かまたはそねよりも少ない明所視反射率を生じ得る。
例を使用して、表8はシステムの構成を示し、ここでは外部膜20は酸化アルミ ニウム(△L、03)である。酸化アルミニウム膜は約510nmの波長で約1 65の屈折率を有し得る。膜26は酸化錫てあり、それは約5]Onmの波長で 約1.92の屈折率を有し得る。構造の明所視反射率は約0049%であり得る 。
表8 層 材料 厚み(nm) 空気 入口媒体 I A1.20s 50. 9 2 TiN(1) 22.5 3 5n02 44.0 ・4 TiN(2) 28゜0 ガラス 基板 表9は層システムまたは構造の詳細を載せ、ここでは外部膜20は酸化アルミニ ウムでありかっ膜26は二酸化チタンであり、そねは約510nrnの波長で約 235の屈折率を存し得る。このシステムの明所視反射率は約03%である。
表9 層 材料 厚み(nm) 2 TiN(1) 22.5 3 TiO244,0 4TiN(2) 28.0 ガラス 基板 図11は表8および9の構造のため計算された反射値(曲線Uおよび曲線T)を それぞれに示す。
第1の層20の屈折率に対する実際的な上限か十分に高い反射率を存する透光性 の材料の存効性によって決定されるということか上の例から明らかになるへきで ある。実際に、可視光に対して実質的に透光性かある材料に対する最も高い屈折 率は約265であり得、それほぼは二酸化チタンのルチル結晶形状の屈折率であ る。
約19の屈折率を有する内部膜20、窒化チタン膜22および24ならびに約2 65の屈折率を有する膜26は約075%かまたはそれよりも少ない反射率を有 し得る。0.75!%の反射率はサングラスなとのようなある適用に対して容認 され得る。
この発明の他の実施例は4つの層以上を含み得る。たとえば、第5の膜か窒化チ タン膜24と基板28との間に加えられ得る。そのような構造の詳細は表10に 示される。
この構造のための反射(曲線V)および透過(曲線W)値は図12に示される。
層 材料 厚み(nm) 空気 入口媒体 I SiO□ 75.2 2 TiN(1) 12.4 3 SnQ、’ 49.6 4 TiN(2) 21.7 5 5no2 9.8 ガラス 基板 表10の構造は各々の構造における最初の4つの層の材料か同しであるので表3 の構造と比較され得る。理解されるように、酸化錫層の(Sn○2)の付加的な 層は窒化チタン層の厚みを増加させることによってかつその間の酸化錫層の厚み を減少させることによって適応される。
図】2の曲線を図4のそれらと比較することによって、第5の層の付加か反射防 止性能にお1プる重要な改良または可視光の減衰における重要な差異を生じ得な いということか示される。第5の層の屈折率か約510nmの波長で1゜35か ら2.65へと変形された上て説明された5層構造の変形は調査されてきた。屈 折率のすべての値に対して、層の厚みノーケンスか確率され、それは約0.25 %の明所視反射率を生じ得るということが決定されたきた。屈折率のすへての値 に対して、第5の層の厚みは約480nmから560nmの波長の範囲において 8分の1の波長よりも少ないものであった。
この発明の別の実施例は6つの層を含む。この実施例は可視光に対して実質的に 透光性の材料の膜によって分離された3つの遷移金属の窒化物層を含む。4のよ うな構造の層システムは表11を参照することによって示される。構造の反射( 曲線X)および透過(曲線Y)値は図13に示層 材料 厚み(n m ) 空気 入口媒体 ガラス 基板 表IIの構造は約01%の明所視反射率を有し得る。
反射率は表3の4つの膜構造よりも著しく低いわけてはない。しかしながら、付 加的な窒化チタン層は4つの膜構造のための約35%と比較して約17%の明所 視透過を与える。
上で説明された実施例のいずれかにおいて、1つまたはそれ以上の透光性の材料 をより薄い層の組合せ、すなわちほぼ同し全体の光学的厚みを有するか異なる屈 折率を有する副層に取換えることか可能であり得る。この技法は特定の屈折率を 有する材料の層をシミュレーションする方法として当該技術において周知である 。この技法は、屈折率のいずれかの所望の値を存する材料か存在しない、容易に 堆積されない、または適当な物理的特性を存さないときに使用され得る。そのよ うな修飾はこの発明の真意および範囲から逸脱することなしに可能である。
上で説明された実施例のために与えられた反射率値は基板から遠く離れた構造の 側から観察された値である。光吸収膜を含む構造か構造の異なる側面上で異なる 反射値を有し得るということは周知である。
窒化チタンまたは別の遷移金属の窒化物を含む構造は被覆された物品または装置 の基板側から観察されるように反射を減少させるように設計され得る。そのよう な構造は2つの層のみを必要とし、その1つは窒化物層であり、非常に低い明所 視反射を与える。
この発明のそのような実施例は図14に示される。構造25は基板32上に堆積 された窒化物30の薄膜を含む。
可視光に実質的に透光性のある材料の膜34は窒化膜30上に堆積される。膜の 厚みは矢印への方向において観察されるように可視光に対して最も低い反射率を 与えるように調整される。窒化物層30は約6および9n、mの厚みの間てあり 得る。好ましくは、それは約8nmの厚みである。
透光性の層は2および151mの間の厚みであり、それは透光性の材料の屈折率 に依存する。この層の屈折率は約510nmの波長で約1935および265の 間である。
層30は窒化チタンであり得、かつ層34は二酸化ケイ素、酸化錫または二酸化 チタンであり得る。窒化チタンの光学定数は15nmの厚みの膜に対して表1に 示される物品であり得る。層34の厚みは約510nmの波長で約2゜35の屈 折率を有する二酸化チタンに対しては約2.5nmてあり、かつ約510n、m の波長で約1.46の屈折率を存する二酸化ケイ素に対しては約10.8nmで あり得る。
図15は窒化チタン膜(曲線Z)および二酸化ケイ素(曲線AA)、、酸化錫( 曲線BB)または二酸化チタン(曲線CC)で覆われた窒化チタン膜の計算され た反射率を示す。図15における反射率値は0ないし1%のスケールで示され、 異なる被覆材て得られた反射における差異を強調する。理解され得るように、反 射値は層34の異なる被覆の屈折率の広い範囲に対して非常に低いものである。
約5]、Onmの波長で約1..35から約265の範囲におけるいずれかの屈 折率は効果的な被覆を生じるために使用さね、得る。
図16はガラス基板(n= 1. 52)上の約80nmの厚みの窒化チタンの 単一膜のための計測された反射(曲線DD)および透過(曲線EE)値を示す。
図面は基板(曲線FF)の被覆されない表面からの反射を含む。計測された反射 曲線DD(図16)は計算された曲線Z(図15)と比較され得る。計測された 曲線DDは計算された曲線Zとほぼ同しである最小値を示す。計測された曲線の 最小値は計算された曲線よりも大きな波長で起こる。計測されたデータは基板を 介して見られるときの反射に対するものである。
上で説明された実施例において、窒化チタンは遷移金属の窒化物として使用され た。しかしなから、遷移金属の窒化物のいずれかかこの発明の構造において使用 され得るということか明らかになるであろう。たとえば、池の遷移金属の窒化物 は透過の異なる1//\ルまたはシー)・抵抗の異なる値を与えるために有用て あり得る。それはまた構造において2つまたはそれ以北の異なる遷移金属の窒化 物を使用するために有用てあり得る。
一ヒて説明された実施例において、金属酸化物か透光性の材料として使用されて きた。しかしなから、他の材料、たとえば窒化ケイ素のような実質的に透光性の 窒化物、またはシリコン酸窒化物のような酸窒化物か使用され得るということが 明らかになるであろう。フッ化物またはサルフィドのような材料もまた使用され 得るか、それらは反応性スパッタリングによって容易に堆積され得ない。
、二の発明の被覆はコントラス)・増強フィルタを構成するt二めに使用され? 辱る。そのようなフィルタはもしそれらか両方の表面上で反射防止被覆を有する なら最大限に効果的である。光減衰5反射防止被覆は一方の表面にのみ適用され 得る。他方の表面は別の型の反射防止被覆を受(プ取り得る。この他の被覆は図 14に示される。二の廠明の2層の実施例であり得るかまたは窒化チタンの単一 膜であり得る。
図17に示されるように、コントラスト0はV D Tスクリーン52の前に配 置され得る。フィルタ50は透光性の基板40を含み、それは表3の4層構造1 5てその表面42上て被覆される。基板40の表面46は2層構造25て被覆さ れ得る。構造25は約7.8nrnの厚みの窒化チタンの層を含み得る。
被覆15および25の低い反射側面は観察者またはオペ1ノータ54に面する。
観察の方向は矢印へによって示される。フィルタ50の光減衰特性はスクリーン 52からの反射56の抑制を引き起こす。
図18はコノI・ラス)へ増強フィル、り50の計測された透過(曲線GG)お よび反射(曲線1−I H )値を示す。反射計測は矢印Aの方向においてなさ れた。表面40および46は1平方につき約150および250オームのシート 抵抗をそれぞれに育する。そのように、もし表面40か電気的に接地されると、 静電荷の蓄積か妨げられるてあろう。
コントラスト増強フィルタはこの発明の唯一の応用である。この発明か太陽制御 つや出し、サレグラスおよび保護アイウェア(eyewear)を含む池の応用 において使用され得るということか説明された実施例から明らかになるであろう 。この発明の実施例は物品または装置の一方または両方の表面−ヒて使用され得 る。この発明の実施例は反対側の表面上で薄膜干渉被覆の別の型を有する物品の 1つの表面上で使用され得る。この発明の実施例はまた反対側の表面」二で化学 エツチングのような反射防止処理を有する物品の1つの表面上て使用され得る。
被覆組合せの選択は物品の特定の要求によって決定される。
上で説明された実施例を構成するように使用される材料はまた商業的に利用可能 なスパッタリング陰極を使用して商業的に利用可能な機械において堆積され得る しかつそうされてきた。材料はまた連続する、イン−ラインスパッタリングまた は他の機械において堆積され得る。材料はDC反応性スパッタリングまたは他の 方法によって堆積され得る。膜の光学的特性は、しかしながら、すてに説明され たように異なり得、かつその差異は適当な膜の17みを決定する際に考慮されな ければならない。
表3および表6、ならびに図14および図17の被覆または構造を堆積するため に使用される機械はイン−ラインスパッタ被覆機械であった.、機械は真空ロッ クによって分離された5つの別個のチャンバを含む。各々のチャンバは3つまで のスパッタリング陰極を含み得、それらは平面マグネトロンまたは回転円筒マグ ネトロンであり得る。装置は長さ2メートルに幅1メートルまでの基板を許容す るであろう。上で説明された実施例において、窒化チタン膜は平面マグネトロン を使用して堆積された。二酸化ケイ素および酸化錫膜は回転円筒マグネトロンを 使用して堆積された。
上で説明されたイン−ラインスパッタリング機械はカリフォルニア フェアフィ ールド(Fairfield)のエアコ・コーティング・チクノロシーズ・イン コーホレーテッド(Airco Coating Technol。
gies Inc、)によって供給された修飾されたDIモデルコーター(co ater)である。機械への修飾は以下のものを含み、すなわち原型のエトワー ズ(Edwards)油拡散ポンプとパリアン(Varian)(バラアルド、 カリフォルニア)モデル185油拡散ポンプとの取り換えてあり、それによって ボンピング容量において2層の増加を与え、真空ロックトンネルにわたる別個の ポンプアパーチャの付加を含み、それによって真空ロックの基板の通過の間に圧 力変動を減少させ、原型のプラスチック製の気体人口管とステンレス鋼の管との 置き換えをさらに含む。回転マグネトロンにはアーク抑制構造および遮へいか装 備され、それはディツキ−(Dickey)らによる「回転マグネトロンスバノ タリングンステムにおけるアーク抑制のためのシールディングJ (Shiel dingfor Arc 5uppression in Rotating  Magnatron SputteringSys t ems)と題された1 990年8月10日の日付で出願された同時継続出願連続番号第 号に、かつス テイーブンソン(Stevenson)らによる「回転円筒マグネトロンのため の片持ちばり装着J (Cantilever Mount For Rota ting Cylindrical Magnetrons)と題された199 0年8月IO日の日付で出願された同時継続出願連続番号第 号に説明され、両 方の出願はこの発明の意図される譲受人に謙譲され得、かつこれらの2つの出願 の全体の開示は引用により援用される。回転マグネトロン(こはまたカリフォル ニア、フェアフィールドのエアコ・コーディング・チクノロシーズ・インコーホ レーテッドから利用可能な電子アークタイバータか装備され得る。
この発明は多数の実施例に関して説明されたきた。この発明はしかしながら描写 されかつ説明された実施例に限定されない。むしろ、この発明の範囲は添付の請 求の範囲によって規定される。
k′)−9 FIC,−3 FIC,−14 FIG、−7 FIG、−10 要約 ある遷移金属の窒化物の層(22,24)を含み導電性、光減衰の反射防止表面 を与える物品(28)のための被覆(15)。
PCT/LIS91105299 国際調査報告 ml#Mm1ii、alm PC”υ891105299

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.物品のための被覆であって、 3つの層の群を含み、そこでは前記層の2つが実質的に遷移金属の窒化物を含み 、前記2つの層の各々は約5nmおよび40nmの間の厚みを有し、かつ第3の 層は前記2つの層の間であり、前記第3の層は可視光に実質的に透光性のある材 料を含み、かつ約480nmおよび560nmの間の波長で約4分の1の波長よ りも少ないか素たはそれに等しい光学的厚みならびに約510nmの波長て約1 .35および約2.65の間の屈折率を有し、物品から遠く離れたその側面上で 前記3つの層の群に隣接する第4の層をさらに含み、前記第4の層は可視光に案 質的に透光性のある材料を食み、かつ510nmの波長で約1.35および1. 9の間の屈折率ならびに約480nmおよび約560nmの間の約4分の1の波 長の光学的厚みを存する被覆。 2.前記遷移金属の窒化物層が窒化チタン、窒化ジルコニウム、窒化ハフニウム 、窒化バナジウム、窒化ニオブ、窒化タンタルおよび窒化クロムからなる群から 選択された材料を含む、請求項1に記載の被覆。 3.前記2層が窒化チタンを含む、請求項1に記載の被覆。 4.可視光に実質的に透光性のある材料の第5の層をさらに含み、前記第5の層 が約1.35ないし約2.65の間の屈折率および約480nmから560nm の範囲内の波長での8分の1の波長よりも少ない光学的厚みを有し、前記第5の 層が物品に接近するその側面上で前記3つの層の群に隣接する,請求項1に記載 の被覆。 5.可視光に実質的に透光性のある材料のうちの少なくとも1つの層が異なる屈 折率を有する少なくとも2つの副層を含む、請求項1に記載の被覆。 6.基板のための導電性、反射減少被覆であって、5層の群を含み、そこでは前 記層のうちの3つが約5ナノメートルおよび40ナノメートルの間の厚みを存す る遷移金属の窒化物を含み、前記3つの層は前記5層の群の2つの他の層で交互 に配置され、前記2つの他の層は可視光に実質的に透光性のある材料を含みかつ 約480nmから560nmの範囲内の波長で約4分の1の波長よりも少ないか またはそれに等しい光学的厚みならびに約510nmの波長で約1.35および 2.65の間の屈折率を有し、基板から遠く離れたその側面上に前記5層の群に 隣接する付加的な層をさらに含み、前記付加的な層は可視光に実質的に透光性の ある材料を含み、かつ約510nmの波長で約1.35および1.9の間の屈折 率ならびに約480nmおよび560ナノメートルの間の約4分の1の波長の光 学的厚みを有する被覆。 7.前記遷移金属の窒化物層が窒化チタン、窒化ジルコニウム、窒化ハフニウム 、窒化バナジウム、窒化ニオブ、窒化タンタルおよび窒化クロムからなる群から 選択された材料を含む、請求項6に記載の被覆。 8.前記遷移金属の窒化物層が窒化チタンを含む、請求項6に記載の被覆。 9.可視光に実質的に透光性のある材料の第7の層をさらに含み、前記第7の層 が約1.35から約2.65の範囲内の屈折率および約480nmから560n mの範囲内の波長で8分の1の波長よりも少ない光学的厚みを有し、前記第7の 層は前記基板に接近するその側面上で前記5層の群に隣接する。 10.可視光に実質的に透光性のある材料の少なくとも1つの層が異なる屈折率 を有する少なくとも2つの副層を含む、請求項6に記載の被覆。 11.基板のための被覆であって、 実質的に遷移金属の窒化物を含みかつ約6nmおよび9nmの間の厚みを有する 第1の層と、前記第1の層に隣接する第2の層とを含み、前記第2の層は可視光 に実質的に透光性のある材料を含み、約510nmの波長で約1.35および2 .65の間の屈折率ならびに約2.nmないし15nmの間の厚みを有する被覆 。 12.前記遷移第1の層が窒化チタン、窒化ジルコニウム、窒化ハフニウム、窒 化バナジウム、窒化ニオブ、窒化タンタルおよび窒化クロムからなる群から選択 された材料を含む、請求項11に記載の被覆。 13.前記第1が実質的に窒化チタンを含む、請求項11に記載の被覆。 14.物品のための導電性の反射減少被覆であって、3つの層の群を含み、ここ では前記層の2つが実質的に窒化チタンを含み、前記2つの眉の各々は約5nm および約400nmの間の厚みを有し、かつ第3の層は前記2つの層の間であり 、前記第3の層は金属酸化物を含み、それは約480nmおよび560nmの間 の波長で約4分の1の波長よりも少ないかまたはそれに等しい光学的厚みならび に約510nmの波長で約1.35および2.65の間の屈折率を有し、物品か ら遠く離れたその側面上で前記3層の群に隣接する第4の層をさらに含み、前記 第4の層は金属酸化物を含み、それは約510nmの波長で約1.35および1 .9の間の屈折率ならびに約480nmないし560nmの間の約4分の1の波 長の光学的厚みを有する被覆。 15.金属酸化物の第5の層をさらに含み、前記層は約1.35および2.65 の間の屈折率ならびに約480nmないし560nmの間の8分の1の波長より も少ない光学的厚みを有し、前記第5の層は物品に最も接近するその側面上で前 記3層の群に隣接する、請求項14に記載の被覆。 16.金属酸化物の少なくとも1つの層が異なる屈折率を有する少なくとも2つ の副層を有する、請求項14または15に記載の被覆。 17.基板のための導電性、反射減少被覆であって、5つの隣接する層の群を含 み、ここでは前記層のうちの3つが実質的に約5nmおよび40nmの間の厚み を有する窒化チタンを含み、前記3つの層は約480nmおよび560nmの間 の波長で約4分の1の波長よりも少ないかまたはそれに等しい光学的厚みならび に約510nmの波長で約1.35および2.65の間の屈折率を有する金属酸 化物の2つの他の層で交互に配置され、基板から遠く離れたその側面上で前記5 層の群に隣接する第6の層をさらに含み、前記第6の層は金属酸化物を含み、そ れは約510nmの波長で約1.35から約1.9の範囲内の屈折率ならびに約 480nmないし560nmの間の波長で約4分の1の波長の光学的厚みを有す る被覆。 18.金属酸化物の第7の層をさらに含み、前記層が約1.35から約2.65 の範囲内の屈折率および約480から560nmの範囲内の波長で8分の1の波 長よりも少ない光学的厚みを有し、前記層が前記基板に最も接近するその側面上 で前記第5層の群に隣接する、請求項17に記載の被覆。 19.金属酸化物の少なくとも1つの層が異なる屈折率を有する少なくとも2つ の副層を含む、請求項17または18に記載の被覆。 20.物品のための被覆であって、 第1の層を含み、それは可視光に実質的に透光性のある材料を含みかつ約1.3 5および1.9の間の屈折率ならびに約480nmおよび約560nmの間の波 長で約4分の1の波長の光学的厚みを有し、前記第1の層は前記被覆の最外層で あり、実質的に遷移金属の窒化物を含みかつ約5nmおよび40nmの間の厚み を有する前記第2の層に隣接し、第3の層をさらに含み、それは前記第2の層に 隣接しかつ可視光に実質的に透光性のある材料を含みかつ約1.35および2. 65の間の屈折率ならびに約480nmおよび約560nmの間の約4分の1の 波長よりも少ないかまたはそれに等しい光学的厚みを有し、前記第3の層に隣接 する第4の層をさらに含み、それは約5nmおよび40nmの間の厚みを有する 遷移金属の窒化物を実質的に含む被覆。 21.前記遷移金属の窒化物層が窒化チタン、窒化ジルコニウム、窒化ハフニウ ム、窒化バナジウム、窒化ニオブ、窒化タンタルおよび窒化クロムからなる群か ら選択された材料を実質的に含む、請求項20に記載の被覆。 22.前記遷移金属の窒化物層が実質的に窒化チタンを含む、請求項20に記載 の被覆。 23.可視光に実質的に透光性のある材料の第5の層をさらに含み、前記層が約 1.35ないし約2.65の間の屈折率ならびに約480nmおよび560nm の間の波長で8分の1の波長よりも少ない光学的厚みを有し、かつ前記第5の層 に隣接する前記層が前記第4の層に隣接する、請求項20に記載の被覆。 24.可視光に実質的に透光性のある材料の少なくとも1つの層が異なる屈折率 を有する少なくとも2つの副層を含む、請求項20に記載の被覆。 25.物品のための反射減少光減衰被覆であって、第1の層を含み、それは可視 光に実質的に透光性のある材料を含みかつ約1.35および1.9の間の屈折率 ならびに約480nmおよび約560nmの間の約4分1の波長の光学的厚みを 有し、前記第1の層は前記被覆の最外層であり、第2の層を含み、それは実質的 に遷移金属の窒化物を含みかつ約5nmおよび40nmの間の厚みを有し、第3 の層を含み、それは可視光に実質的に透光性のある材料を含みかつ約1.35お よび約2.65の間の屈折率ならびに約480nmおよび約560nmの間の約 4分の1の波長よりも少ないかまたはそれに等しい光学的厚みを有し、第4の層 を食み、それは実質的に遷移金属の窒化物を含みかつ約5nmおよび40nmの 間の厚みを有し、第5の層を含み、それは可視光に実質的に透光性のある材料を 食みかつ約1.35および約2.65の間の屈折率ならびに約480nmおよび 約560nmの間の約4分の1の波長よりも少ないかまたはそれに等しい光学的 厚みを存し、第6の層をさらに含み、それか実質的に遷移金属の窒化物を含みか つ約5nmおよび40nmの間の厚みを有する被覆。 26.前記遷移金属の窒化物層が窒化チタン、窒化ジルコニウム、窒化ハフニウ ム、窒化バナジウム、窒化ニオブ、窒化タンタルおよび窒化クロムからなる群か ら選択された材料を実質的に含む、請求項25に記載の被覆。 27.前記遷移金属の窒化物層が実質的に窒化チタンを食む、請求項25に記載 の被覆。 28.可視光に実質的に透光性のある材料の少なくとも1つの層か異なる屈折率 を有する少なくとも2つの副層を含む、請求項25に記載の被覆。 29.物品の表面からの反射を減少するための被覆であって、実質的に遷移金属 の窒化物を含む層を含み、前記層は約6および9nmの間の厚みを有し、かつ前 記反射は前記物品を介するその上での光入射の前記表面からの反射である被覆。 30.前記遷移金属の窒化物がLISTからなる群からの材料を実質的に含む、 請求項29に記載の被覆。 31.前記遷移金属の窒化物が実質的に窒化チタンを含む、請求項29に記載の 被覆。 32.可視光に突質的に透光性のある材料の層を含み、前記表面から遠く離れた その側面上て前記層に隣接し、前記層が約1.35および2.65の間の屈折率 ならびに約2nmおよび15nmの間の厚みを有する、請求項29に記載の被覆 。 33.被覆された物品てあって、 透光性のある基板と、 前記基板の1つの表面上に被覆とを含み、それは第1の層を含み、それは可視光 に実質的に透光性のある材料を含みかつ約1.35および1.9の間の屈折率な らびに480nmおよび560nmの間のいずれかの波長での約4分の1の波長 の光学的厚みを有し、前記第1の層は前記被覆の最外層てあり、第2の層を含み 、それは約5nmないし40nmの間の厚みを有する遷移金属の窒化物を実質的 に含み、前記第2の層に隣接して第3の層を含み、それは可視光に実質的に透光 性のある材料を含みかつ約1.35から約2.65の範囲内の屈折率ならびに約 480nmないし約560nmの間の波長で約4分の1の波長よりも少ないかま たはそれに等しい光学的厚みを有し、第4の層をさらに含み、それは遷移金属の 窒化物を実質的に含みかつ約5nmから40nmの範囲内の厚みを有する物品。 34.前記反射防止被覆が第5の層をさらに含み、それは可視光に実質的に透光 性のある材料を含み約1.35および約2.65の間の屈折率ならびに約480 nmおよび約560nmの間の波長で8分の1の波長よりも少ない光学的厚みを 有し、前記第5の層は前記第4の層と前記基板との間に位置される、請求項33 に記載の物品。 35.前記反射防止被覆が前記第4の膜に隣接する第5の膜をさらに含み、それ は可視光に実質的に透光性のある材料を含みかつ約1.35および約2.65の 間の屈折率ならびに約480nmから560nmの範囲内の波長で約4分の1の 波長よりも少ないかまたはそれに等しい光学的厚みを有し、前記第5の膜に隣接 する第6の膜をさらに含み、前記第6の膜が遷移金属の窒化物を実質的に含みか つ約5nmおよび40nmの間の厚みを有する、請求項33に記載の物品。 36.前記4電光減衰被覆に対向する前記基板の表面上での反射防止処理をさら に含む、請求項33、34または35に記載の物品。 37.前記反射防止処理が多層反射防止被覆である、請求項36に記載の物品。 38、前記多層反射防止被覆が前記基板に隣接する層を含み、それは遷移金属の 窒化物を実質的に含みかつ約5nmから15nmの範囲内の厚みを有し、かつ前 記窒化層に隣接して可視光に実質的に透光性のある材料の層を含み、それは約1 .35から2.65の範囲内の屈折率ならびに約2nmから15.Inmの範囲 内の厚みを有する、請求項37に記載の物品。
JP51707491A 1990-08-10 1991-07-31 導電性光減衰反射防止被覆およびそれを施した物品 Expired - Lifetime JP3446833B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US566,052 1990-08-10
US07/566,052 US5091244A (en) 1990-08-10 1990-08-10 Electrically-conductive, light-attenuating antireflection coating
PCT/US1991/005299 WO1992002364A1 (en) 1990-08-10 1991-07-31 An electrically-conductive, light-attenuating antireflection coating

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05502311A true JPH05502311A (ja) 1993-04-22
JP3446833B2 JP3446833B2 (ja) 2003-09-16

Family

ID=24261272

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP51707491A Expired - Lifetime JP3446833B2 (ja) 1990-08-10 1991-07-31 導電性光減衰反射防止被覆およびそれを施した物品

Country Status (8)

Country Link
US (1) US5091244A (ja)
EP (1) EP0495979B1 (ja)
JP (1) JP3446833B2 (ja)
AT (1) ATE143927T1 (ja)
CA (1) CA2066043C (ja)
DE (1) DE69122602T2 (ja)
DK (1) DK0495979T3 (ja)
WO (1) WO1992002364A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08327818A (ja) * 1994-11-14 1996-12-13 Optical Coating Lab Inc 安定した反射率と視覚信号ミラーを有する光学フィルター
JP4794857B2 (ja) * 2002-09-20 2011-10-19 ヒューパー オプティク インターナショナル プライベート リミテッド 割れに対する窒化チタンの脆弱性の低減

Families Citing this family (95)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5262894A (en) * 1989-06-20 1993-11-16 The Dow Chemical Company Multicomponent, multilayer polymeric reflective bodies
US5270858A (en) * 1990-10-11 1993-12-14 Viratec Thin Films Inc D.C. reactively sputtered antireflection coatings
JP3249992B2 (ja) * 1990-12-25 2002-01-28 ミノルタ株式会社 シリコン基板またはゲルマニウム基板用反射防止膜
DK0678483T3 (da) * 1991-04-30 1999-08-23 Saint Gobain Vitrage Glassubstrat overtrukket med flere tynde lag, til beskyttelse mod sol
JP3355654B2 (ja) * 1992-04-06 2002-12-09 松下電器産業株式会社 画像表示装置およびその製造方法
JP2791525B2 (ja) * 1992-04-16 1998-08-27 三菱電機株式会社 反射防止膜の選定方法およびその方法により選定された反射防止膜
US5667880A (en) * 1992-07-20 1997-09-16 Fuji Photo Optical Co., Ltd. Electroconductive antireflection film
US5508091A (en) * 1992-12-04 1996-04-16 Photran Corporation Transparent electrodes for liquid cells and liquid crystal displays
WO1994019709A1 (en) * 1993-02-19 1994-09-01 Photran Corporation A light attenuating anti-reflection coating including electrically conductive layers
CA2120875C (en) * 1993-04-28 1999-07-06 The Boc Group, Inc. Durable low-emissivity solar control thin film coating
US5521759A (en) * 1993-06-07 1996-05-28 National Research Council Of Canada Optical filters for suppressing unwanted reflections
FR2711983B1 (fr) * 1993-11-02 1996-01-19 Saint Gobain Vitrage Substrat transparent muni d'une couche de nitrure métallique.
US5798182A (en) * 1993-11-08 1998-08-25 Optical Coating Laboratory, Inc. Wear resistant thin film coating and combination
US6673438B1 (en) 1994-05-03 2004-01-06 Cardinal Cg Company Transparent article having protective silicon nitride film
US5521765A (en) * 1994-07-07 1996-05-28 The Boc Group, Inc. Electrically-conductive, contrast-selectable, contrast-improving filter
GB9417112D0 (en) * 1994-08-24 1994-10-12 Glaverbel Coated substrate and process for its formation
US5579162A (en) * 1994-10-31 1996-11-26 Viratec Thin Films, Inc. Antireflection coating for a temperature sensitive substrate
US5691044A (en) * 1994-12-13 1997-11-25 Asahi Glass Company, Ltd. Light absorptive antireflector
JP2906118B2 (ja) * 1995-01-19 1999-06-14 理化学研究所 軟x線光学素子用多層膜構造
US5858519A (en) * 1995-01-27 1999-01-12 Optical Coating Laboratory, Inc. Absorbing anti-reflection coatings for computer displays
US5918147A (en) * 1995-03-29 1999-06-29 Motorola, Inc. Process for forming a semiconductor device with an antireflective layer
US5744227A (en) * 1995-04-03 1998-04-28 Southwall Technologies Inc. Antireflective coatings comprising a lubricating layer having a specific surface energy
US5662395A (en) * 1995-06-07 1997-09-02 Nova Solutions, Inc. Underdesk computer desk structure with antireflecting viewing window
DE69620065T2 (de) * 1995-07-06 2002-11-14 Sony Corp Elektrisch leitender, Antireflektionsbelag
US6248448B1 (en) 1995-07-06 2001-06-19 Sony Corporation Anti-reflection film
DE19541014B4 (de) * 1995-11-03 2011-06-01 Applied Materials Gmbh & Co. Kg Antireflexschichtsystem und Verfahren zur Herstellung eines Antireflexschichtsystems
IT1282106B1 (it) * 1996-01-31 1998-03-12 Sola Optical Italia S P A Substrato trasparente fotocromatico comprendente un rivestimento superficiale antiriflesso
US5728456A (en) * 1996-02-01 1998-03-17 Optical Coating Laboratory, Inc. Methods and apparatus for providing an absorbing, broad band, low brightness, antireflection coating
US5776612A (en) * 1996-02-21 1998-07-07 Exotic Materials Inc. Window that transmits light energy and selectively absorbs microwave energy
US5741626A (en) * 1996-04-15 1998-04-21 Motorola, Inc. Method for forming a dielectric tantalum nitride layer as an anti-reflective coating (ARC)
DE19636970A1 (de) * 1996-09-12 1998-03-19 Leybold Systems Gmbh Optisch wirkendes Antireflexschichtsystem
WO1998020389A1 (en) * 1996-11-08 1998-05-14 Optical Coating Laboratory, Inc. Coated flexible glass films for visual display units
TW347369B (en) * 1996-12-17 1998-12-11 Asahi Glass Co Ltd Organic substrate provided with a light absorptive antireflection film and process for production
US5925225A (en) * 1997-03-27 1999-07-20 Applied Materials, Inc. Method of producing smooth titanium nitride films having low resistivity
US5851674A (en) * 1997-07-30 1998-12-22 Minnesota Mining And Manufacturing Company Antisoiling coatings for antireflective surfaces and methods of preparation
US6184073B1 (en) 1997-12-23 2001-02-06 Motorola, Inc. Process for forming a semiconductor device having an interconnect or conductive film electrically insulated from a conductive member or region
US6074730A (en) * 1997-12-31 2000-06-13 The Boc Group, Inc. Broad-band antireflection coating having four sputtered layers
US6277485B1 (en) 1998-01-27 2001-08-21 3M Innovative Properties Company Antisoiling coatings for antireflective surfaces and methods of preparation
US6111698A (en) * 1998-03-06 2000-08-29 Southwall Technologies, Inc. Multilayer absorbing antireflective coating
US6040378A (en) * 1998-05-15 2000-03-21 Afg Industries, Inc. Coating for glass substrate for anti-reflective properties with abrasion, chemical and UV resistance
WO2000026973A1 (en) * 1998-11-02 2000-05-11 Presstek, Inc. Transparent conductive oxides for plastic flat panel displays
US6188512B1 (en) * 1998-11-02 2001-02-13 Southwall Technologies, Inc. Dual titanium nitride layers for solar control
JP2000147206A (ja) * 1998-11-11 2000-05-26 Sony Corp 反射防止体
JP2000171601A (ja) * 1998-12-08 2000-06-23 Sony Corp 反射防止膜および表示装置
US6144479A (en) * 1998-12-16 2000-11-07 3M Innovative Properties Company Low reflectivity contrast enhancement filter
DE19948839A1 (de) 1999-10-11 2001-04-12 Bps Alzenau Gmbh Leitende transparente Schichten und Verfahren zu ihrer Herstellung
US6225219B1 (en) * 1999-12-20 2001-05-01 United Microelectronics Corp. Method of stabilizing anti-reflection coating layer
US6337771B1 (en) * 2000-05-03 2002-01-08 Applied Vacuum Coating Technologies Co., Ltd. Anti-reflection high conductivity multi-layer coating on CRT surface made by vacuum sputtering and wet coating
US6441964B1 (en) * 2001-01-10 2002-08-27 Applied Vacuum Coating Technologies Co., Ltd. Anti-reflection high conductivity multi-layer coating for flat CRT products
US20030002043A1 (en) * 2001-04-10 2003-01-02 Kla-Tencor Corporation Periodic patterns and technique to control misalignment
US6586101B2 (en) 2001-04-18 2003-07-01 Applied Vacuum Coating Technologies Co., Ltd. Anti-reflection coating with transparent surface conductive layer
US6478932B1 (en) 2001-06-21 2002-11-12 Applied Vacuum Coating Technologies Co., Ltd. Combination process of vacuum sputtering and wet coating for high conductivity and light attenuation anti-reflection coating on CRT surface
US6589657B2 (en) 2001-08-31 2003-07-08 Von Ardenne Anlagentechnik Gmbh Anti-reflection coatings and associated methods
SE523348C2 (sv) * 2002-08-15 2004-04-13 Totalfoersvarets Forskningsins Genomsynlig ruta med radarreflekterande egenskaper
US7215473B2 (en) * 2002-08-17 2007-05-08 3M Innovative Properties Company Enhanced heat mirror films
US6933051B2 (en) * 2002-08-17 2005-08-23 3M Innovative Properties Company Flexible electrically conductive film
US6929864B2 (en) * 2002-08-17 2005-08-16 3M Innovative Properties Company Extensible, visible light-transmissive and infrared-reflective film and methods of making and using the film
US6890659B2 (en) * 2003-04-25 2005-05-10 Guardian Industries Corp. Heat treatable coated article with niobium zirconium inclusive IR reflecting layer and method of making same
US20050008784A1 (en) * 2003-06-27 2005-01-13 3M Innovative Properties Company Removal and replacement of antisoiling coatings
NL1023880C2 (nl) * 2003-07-10 2005-01-11 Tno Emissieverhogende coating, voorwerp waarop de coating is aangebracht, en werkwijze voor het aanbrengen van de coating op een oppervlak.
US20050136180A1 (en) * 2003-12-19 2005-06-23 3M Innovative Properties Company Method of coating a substrate with a fluoropolymer
JP4311739B2 (ja) * 2004-09-24 2009-08-12 フジノン株式会社 干渉計装置用光量比調整フィルタ、干渉計装置および光干渉測定方法
US20060244678A1 (en) * 2005-04-29 2006-11-02 Lg Electronics Inc Filter for display apparatus and plasma display apparatus comprising filter
CA2606478C (en) * 2005-05-05 2013-10-08 H.C. Starck Gmbh Method for coating a substrate surface and coated product
JP4904341B2 (ja) * 2005-05-05 2012-03-28 ハー.ツェー.スタルク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング スパッタターゲット及びx線アノードを製造又は再処理するための被覆方法
US7994600B2 (en) * 2005-12-21 2011-08-09 Texas Instruments Incorporated Antireflective coating
US20070236798A1 (en) * 2006-04-05 2007-10-11 Shelestak Larry J Antireflective coating and substrates coated therewith
JP2008032949A (ja) * 2006-07-28 2008-02-14 Sony Corp 反射防止膜、金属膜の加熱方法、及び、加熱装置
US20080078268A1 (en) * 2006-10-03 2008-04-03 H.C. Starck Inc. Process for preparing metal powders having low oxygen content, powders so-produced and uses thereof
MX2009004773A (es) * 2006-11-07 2009-05-21 Starck H C Gmbh Metodo para revestir una superficie de sustrato y producto revestido.
US20080145688A1 (en) 2006-12-13 2008-06-19 H.C. Starck Inc. Method of joining tantalum clade steel structures
US9822454B2 (en) * 2006-12-28 2017-11-21 3M Innovative Properties Company Nucleation layer for thin film metal layer formation
US7662464B2 (en) * 2007-04-04 2010-02-16 Innovation & Infinity Global Corp. Anti-reflection coating with low resistivity function and transparent conductive coating as outermost layer
US8197894B2 (en) * 2007-05-04 2012-06-12 H.C. Starck Gmbh Methods of forming sputtering targets
US8350451B2 (en) * 2008-06-05 2013-01-08 3M Innovative Properties Company Ultrathin transparent EMI shielding film comprising a polymer basecoat and crosslinked polymer transparent dielectric layer
US8198612B2 (en) * 2008-07-31 2012-06-12 Cymer, Inc. Systems and methods for heating an EUV collector mirror
US8246903B2 (en) 2008-09-09 2012-08-21 H.C. Starck Inc. Dynamic dehydriding of refractory metal powders
US7641349B1 (en) 2008-09-22 2010-01-05 Cymer, Inc. Systems and methods for collector mirror temperature control using direct contact heat transfer
US8043655B2 (en) * 2008-10-06 2011-10-25 H.C. Starck, Inc. Low-energy method of manufacturing bulk metallic structures with submicron grain sizes
US8842963B2 (en) * 2010-09-01 2014-09-23 Intuitive Surgical Operations, Inc. Reducing reflection at termination of optical fiber in a small volume
EP2426737A1 (en) * 2010-09-03 2012-03-07 Applied Materials, Inc. Thin-film solar fabrication process, deposition method for solar cell precursor layer stack, and solar cell precursor layer stack
US9412568B2 (en) 2011-09-29 2016-08-09 H.C. Starck, Inc. Large-area sputtering targets
US8986921B2 (en) 2013-01-15 2015-03-24 International Business Machines Corporation Lithographic material stack including a metal-compound hard mask
US8853095B1 (en) 2013-05-30 2014-10-07 International Business Machines Corporation Hybrid hard mask for damascene and dual damascene
FR3012131B1 (fr) * 2013-10-18 2018-01-19 Centre National De La Recherche Scientifique Supports amplificateurs de contraste pour l'observation d'un echantillon, leur procedes de fabrication et leurs utilisations
JP5983596B2 (ja) 2013-12-26 2016-08-31 ウシオ電機株式会社 紫外線偏光光照射方法及び光配向層付き基板の製造方法
US9759655B2 (en) * 2014-09-30 2017-09-12 Li-Cor, Inc. Laser beam stop elements and spectroscopy systems including the same
HUE063934T2 (hu) 2015-12-17 2024-02-28 Alcon Inc Újrahasználható lencseszerszámok, valamint eljárások azok használatára
JP2018185446A (ja) * 2017-04-27 2018-11-22 セイコーエプソン株式会社 反射防止膜、光デバイスおよび反射防止膜の製造方法
FR3068032B1 (fr) * 2017-06-26 2019-08-02 Saint-Gobain Glass France Vitrage a proprietes antisolaires comprenant une couche de nitrure de titane
US10429673B2 (en) 2017-09-11 2019-10-01 Quantum Innovations, Inc. High energy visible light absorbing material for ophthalmic substrate and application method
FR3090622B1 (fr) 2018-12-21 2022-07-22 Saint Gobain Vitrage de contrôle solaire comprenant deux couches à base de nitrure de titane
FR3098215B1 (fr) * 2019-07-05 2021-12-31 Saint Gobain Vitrage a double couche de tin pour controle solaire
KR20210010710A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
FR3107703B1 (fr) * 2020-02-28 2023-06-23 Saint Gobain Vitrage de controle solaire comprenant une couche de nitrure de titane

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE787599A (fr) * 1971-08-16 1973-02-16 Battelle Memorial Institute Vitrage filtrant antisolaire et isolant thermique
CH563945A5 (ja) * 1971-10-20 1975-07-15 Balzers Patent Beteilig Ag
JPS5310861B2 (ja) * 1972-04-26 1978-04-17
US3761160A (en) * 1972-05-31 1973-09-25 Optical Coating Laboratory Inc Wide band anti-reflection coating and article coated therewith
DE2334875C2 (de) * 1972-07-10 1982-03-25 Minolta Camera K.K., Osaka Vierschichtiger Antireflex-Belag für ein optisches Glassubstrat
CH557546A (de) * 1972-10-19 1974-12-31 Balzers Patent Beteilig Ag Aus einer mehrzahl von einfachen oder zusammengesetzen (lambda)/4-schichten bestehender reflexionsvermindernder belag.
JPS5314227B2 (ja) * 1973-06-18 1978-05-16
US4308316A (en) * 1977-04-04 1981-12-29 Gordon Roy G Non-iridescent glass structures
JPS56138701A (en) * 1980-03-31 1981-10-29 Minolta Camera Co Ltd Antireflection film
DD204693A1 (de) * 1981-11-27 1983-12-07 Helmut Bollinger Verfahren zur herstellung waermereflektierender scheiben
DD203903A1 (de) * 1981-11-27 1983-11-09 Peter Grigull Waermereflektierende scheibe
DD225860A3 (de) * 1981-12-17 1985-08-07 Forschungsinst M V Ardenne Verfahren zur herstellung selektiv reflektierender titannitridschichten
US4422721A (en) * 1982-08-09 1983-12-27 Optical Coating Laboratory, Inc. Optical article having a conductive anti-reflection coating
DD209176A1 (de) * 1982-09-03 1984-04-25 Adw Ddr Verfahren zur herstellung goldfarben hinterlegter dekore auf glas
US4524718A (en) * 1982-11-22 1985-06-25 Gordon Roy G Reactor for continuous coating of glass
DE3311815C3 (de) * 1983-03-31 1997-12-04 Leybold Ag Verfahren zum Herstellen von Scheiben
JPS60124243A (ja) * 1983-12-09 1985-07-03 株式会社豊田中央研究所 熱線遮蔽積層体
US4732454A (en) * 1985-04-22 1988-03-22 Toray Industries, Inc. Light-transmissible plate shielding electromagnetic waves
CH670318A5 (ja) * 1985-10-22 1989-05-31 Satis Vacuum Ag
US4690871A (en) * 1986-03-10 1987-09-01 Gordon Roy G Protective overcoat of titanium nitride films
US4799745A (en) * 1986-06-30 1989-01-24 Southwall Technologies, Inc. Heat reflecting composite films and glazing products containing the same
US4847157A (en) * 1986-08-28 1989-07-11 Libbey-Owens-Ford Co. Glass coating method and resulting article
JPS6374005A (ja) * 1986-09-18 1988-04-04 Hoya Corp 多層膜裏面反射鏡
JPH0684256B2 (ja) * 1987-02-24 1994-10-26 旭硝子株式会社 単板熱線反射ガラス
JPS63242948A (ja) * 1987-03-31 1988-10-07 Asahi Glass Co Ltd 熱線反射ガラス
DE3941797A1 (de) * 1989-12-19 1991-06-20 Leybold Ag Belag, bestehend aus einem optisch wirkenden schichtsystem, fuer substrate, wobei das schichtsystem insbesondere eine hohe antireflexwirkung aufweist, und verfahren zur herstellung des belags

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08327818A (ja) * 1994-11-14 1996-12-13 Optical Coating Lab Inc 安定した反射率と視覚信号ミラーを有する光学フィルター
JP4794857B2 (ja) * 2002-09-20 2011-10-19 ヒューパー オプティク インターナショナル プライベート リミテッド 割れに対する窒化チタンの脆弱性の低減

Also Published As

Publication number Publication date
DE69122602T2 (de) 1997-05-28
DE69122602D1 (de) 1996-11-14
WO1992002364A1 (en) 1992-02-20
EP0495979B1 (en) 1996-10-09
CA2066043C (en) 2004-02-17
US5091244A (en) 1992-02-25
EP0495979A1 (en) 1992-07-29
CA2066043A1 (en) 1992-02-11
ATE143927T1 (de) 1996-10-15
JP3446833B2 (ja) 2003-09-16
EP0495979A4 (en) 1993-02-03
DK0495979T3 (da) 1997-03-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH05502311A (ja) 導電性、光減衰反射防止被覆
JP3444880B2 (ja) 導電性光減衰型反射防止被膜
US5728456A (en) Methods and apparatus for providing an absorbing, broad band, low brightness, antireflection coating
CN103885100B (zh) 包括在紫外区和可见光区中具有低反射的抗反射涂层的光学制品
JP2887530B2 (ja) 車両特に自動車用バックミラー
JPH05502310A (ja) 酸化ニオブを含むdc反応性スパッタリングされた光学被覆
JPH05503372A (ja) D.c.反応性スパッタリングされた反射防止被覆
CN111045127B (zh) 可透视覆盖件及其制备方法
US5022726A (en) Magnesium film reflectors
WO2018110017A1 (ja) 光学製品
CN215895150U (zh) 一种超低反清底色防蓝光树脂镜片
JPH03187735A (ja) 選択透過膜付きガラスの製造方法
JP2566634B2 (ja) 多層反射防止膜
JP3012712B2 (ja) 反射防止膜を有する光学部材
JP2906524B2 (ja) 赤外反射物品
JP2746602B2 (ja) 分光フイルター
JPH01128829A (ja) 反射防止膜付着透明板
JPH1130704A (ja) 眼鏡プラスチックレンズ
KR970000902B1 (ko) 저반사 코팅유리 및 그 제조방법
JPH1130705A (ja) 反射防止膜を有する眼鏡プラスチックレンズ
AU636009C (en) Magnesium film reflectors
JPH01294032A (ja) 低い可視光透過率の熱線遮断板
CN113093315A (zh) 抗反射复合膜及其制备方法
JPH0720301A (ja) 反射防止膜
JPH03178430A (ja) 赤外反射物品

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080704

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080704

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090704

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090704

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100704

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110704

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110704

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120704

Year of fee payment: 9

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120704

Year of fee payment: 9