JPH0548001A - 半導体集積回路の実装方法 - Google Patents

半導体集積回路の実装方法

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JPH0548001A
JPH0548001A JP3206656A JP20665691A JPH0548001A JP H0548001 A JPH0548001 A JP H0548001A JP 3206656 A JP3206656 A JP 3206656A JP 20665691 A JP20665691 A JP 20665691A JP H0548001 A JPH0548001 A JP H0548001A
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Shigeru Okamura
茂 岡村
Norishige Hisatsugu
徳重 久継
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体ICの実装方法に関し、ICチップ間
の配線距離を可能な限り縮小することを目的とする。 【構成】 ICチップの電極端子ピッチに等しいピッチ
で複数の貫通電極が形成されており、また、必要とする
貫通電極と接続する外部接続電極を備えて形成されてい
る配線シートの表裏面にICチップを向い合せて装着し
てモジールを作り、このモジールを構成単位として配線
基板に装着することを特徴として半導体集積回路の実装
方法を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はICチップ相互間の配線
接続距離を短縮した半導体集積回路の実装方法に関す
る。
【0002】高性能の電子装置を実現するには集積回路
(IC)の集積度の向上と高性能化が最も必要である
が、IC相互間の配線距離を短くして信号の伝播遅延時
間を少なくすることも重要である。
【0003】
【従来の技術】配線基板へのICの装着法としてハーメ
チックシールしたセラミックパッケージまたは樹脂モー
ルドパッケージを用い、プリント配線基板に装着して用
いられている。
【0004】然し、 装置の小形化と信号の高速化を特
に必要とする用途に対してはセラミックスよりなる配線
基板上にチップの形で複数個搭載し、これを取替え単位
として実装することも行われている。
【0005】このようにすることによってICチップ間
の距離が短縮し、装置の小形化に成功している。然し、
信号の高速化を達成するには更にICチップ間の距離を
短くして信号の伝播遅延時間を短縮する必要がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】大量の情報を高速に処
理するため情報処理装置はこの装置の主体を構成する半
導体装置の集積度の向上が行われており、LSIやVL
SIが実用化されているが、これと共にこれらIC間の
配線距離を短縮して信号の遅延をできる限り少なくする
ことが必要である。
【0007】そこで、この実装法の開発が課題である。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の課題はICチップ
の電極端子ピッチに等しいピッチで複数の貫通電極が形
成されており、また必要とする貫通電極と接続する外部
接続電極を備えて形成されている配線シートの表裏面に
ICチップを向い合せて装着してモジールを作り、この
モジールを構成単位として配線基板に装着することを特
徴として半導体集積回路の実装方法を構成することによ
り解決することができる。
【0009】
【作用】本発明はICチップの電極端子ピッチと等しい
ピッチで多数の貫通電極が形成されており、また必要と
する貫通電極と接続する導体線路を備えて形成されてい
る配線シートを用い、フリップチップタイプのICを向
かい合わせに装着するものである。
【0010】図2は配線シート1の斜視図(A)と断面
図(B)を示している。こゝで、配線シート1はポリイ
ミドのような耐熱性有機化合物または窒化硅素(Si3N4)
や炭化硅素(SiC) など耐熱性無機化合物よりなり、厚さ
が10〜500 μmの絶縁薄膜で、これにICチップの電極
端子ピッチと等しいピッチで直径が10〜50μm の孔が開
いており、これに金(Au), ニッケル(Ni), 銅(Cu)などの
金属がメッキ法などにより埋め込み成長して貫通電極2
が形成されている。
【0011】こゝで、このような微細孔の形成と金属の
成長は例えばX線リソグラフィ(蝕刻技術)とメッキ技
術を使用するLIGA(Lithography and Galvano-form
ing)プロセスにより作ることができる。
【0012】また、貫通電極2と連絡する外部接続電極
3は真空蒸着法やスパッタ法などの薄膜形成技術と写真
蝕刻技術(フォトリソグラフィ)により形成することが
できる。
【0013】本発明はかゝる配線シート1を使用し、I
Cを上下より向かい合わせて装着してモジールを作り、
これを構成単位として実装を行うものである。図1は本
発明の原理図であって、配線シート1に設けてある貫通
電極2の突起部にフリップチップタイプIC4,5の半
田ボール端子6を加熱融着してモジール7を作り、この
モジール7を回路基板8の上に形成されている導体線路
(例えばバンプ)9に当接して融着するか、あるいは導
体線路(例えばパッド)10とワイヤボンディング接続を
行うものである。
【0014】なお、図1は配線シート1の上下に一個づ
つ同種のICを装着した場合であるが、複数個を装着し
てもよく、また、配線シートに設けてある貫通電極の配
線を変えて異種のICを装着してもよい。
【0015】また、ICの上にこの配線シートを置き、
ROMや論理回路などの副ICを搭載し、このICを従
来のように実装することもできる。このように本発明は
配線シートを用いて半導体モジールを作り、これを用い
て実装を行うもので、従来に較べ導体線路の長さを格段
に短くできるために信号伝播遅延時間を減少することが
できる。
【0016】
【実施例】実施例1:(主ICの上に副ICを搭載して
複合ICを形成した例) 図3は主IC12の上に配線シート13を介して副IC14を
装着して複合IC15を作り、これをセラミックパッケー
ジ16に装着した状態を示す断面図である。こゝで、副I
C14は例えばROMや論理回路などであり、今まで、特
定目的のIC(ASIC)については目的に合わせて集
積回路全体を設計し、製作していたが、この実施例は基
本回路を製作しておき、これに目的に合った集積回路を
添加するもので、この方法を使用することにより各種の
機能をもつ集積回路を実現することができる。
【0017】また、副IC14の代わりに薄膜ICやハイ
ブリッドICなど他の機能部品や回路を搭載することも
可能である。 実施例2:(配線シートを用いて複雑な回路構成を行う
例) 図4は配線シートの貫通電極間を用途により複雑に回路
接続した例であり、同図(A)は側面図、また同図
(B)は平面図を示している。
【0018】すなわち、配線シート17には多数の貫通電
極18が設けられているが、その総てがIC19,20 と接続
している訳ではなく、遊び電極を設けると共に、配線シ
ート17の上で貫通電極間の回路接続を行うものである。
【0019】このような方法をとることにより複雑な回
路構成が可能となる。 実施例3:(三次元構成例) 図5はLIGAプロセスを用いて形成した配線シートを
組合せて断面がコの字形の配線シート21を作り、この配
線シート21の上下にIC22,23 を装着した後、この配線
シート21を従来構造をした配線シート24に装着すること
によりICの三次元構成とする例である。 実施例4:(配線シートの貫通電極を用いて回路接続を
行う例) 図6は配線シートの貫通電極を用いて回路接続を行う例
であって、ICを上下に装着した配線シート26を配線基
板( 例えばセラミックパッケージの基板)27 の導体線路
28に回路接続する場合に、導体線路28に対応する位置に
ある貫通電極29にまで導体線路30をパターン形成してお
くもので、この貫通電極29を用いて配線基板27の導体線
路28と回路接続を行うものである。
【0020】
【発明の効果】以上のように本発明はICの電極端子ピ
ッチに合わせて多数の貫通電極を設けてある配線シート
を介して上下にICの装着を行うもので、本発明の使用
により導体線路長を格段に減少することができ、これに
より信号の伝播遅延時間を減少することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理図である。
【図2】配線シートの構成を示す斜視図と断面図であ
る。
【図3】主ICの上に副ICを装着した複合ICの実装
例である。
【図4】配線シートを用いて複雑な回路構成を行う例で
ある。
【図5】ICの三次元構成例である。
【図6】配線シートの貫通電極を用いて回路接続を行う
例である。
【符号の説明】
1,13,17,21,24,26 配線シート 2,18,29 貫通電極 3 外部接続電極 4,5,19,20,22,23 IC 7 モジール 9,10,28,30 導体線路

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ICチップの電極端子ピッチに等しいピ
    ッチで複数の貫通電極が形成されており、また必要とす
    る貫通電極と接続する外部接続電極を備えて形成されて
    いる配線シートの表裏面にICチップを向い合せて装着
    してモジールを作り、該モジールを構成単位として配線
    基板に装着することを特徴とする半導体集積回路の実装
    方法。
  2. 【請求項2】 前記モジールの配線基板への装着が配線
    シートに設けた外部接続電極と配線基板の導体線路との
    直接接合によるか、或いはワイヤボンディングにより行
    うことを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路の実
    装方法。
  3. 【請求項3】 前記モジールが主ICチップの上に前記
    配線シートを介して副ICチップが向い合せに装着され
    ており、前記主ICチップが配線基板に装着されている
    ことを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路の実装
    方法。
  4. 【請求項4】 前記配線シートに形成されている貫通電
    極の中の複数個が相互に回路接続されて構成されている
    ことを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路の実装
    方法。
  5. 【請求項5】 前記モジールの配線基板への装着がIC
    チップの電極端子を装着した貫通電極と配線基板装着位
    置にある貫通電極とを導体線路で接続し、前記配線基板
    装着位置にある貫通電極を用いて行うことを特徴とする
    請求項1記載の半導体集積回路の実装方法。
JP3206656A 1991-08-19 1991-08-19 半導体集積回路の実装方法 Withdrawn JPH0548001A (ja)

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Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5742477A (en) * 1995-07-06 1998-04-21 Nec Corporation Multi-chip module
US5784264A (en) * 1994-11-28 1998-07-21 Nec Corporation MCM (Multi Chip Module) carrier with external connection teminals BGA (Ball Grid Array) type matrix array form
US6809421B1 (en) 1996-12-02 2004-10-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Multichip semiconductor device, chip therefor and method of formation thereof
JP2005142402A (ja) * 2003-11-07 2005-06-02 Seiko Epson Corp 半導体装置の製造方法及び半導体装置、回路基板及び電子機器
JP2005217205A (ja) * 2004-01-29 2005-08-11 Nec Electronics Corp チップ積層構成の3次元半導体装置及び該装置に用いられるスペーサチップ
WO2005086216A1 (ja) * 2004-03-09 2005-09-15 Japan Science And Technology Agency 半導体素子及び半導体素子の製造方法
WO2005093834A1 (ja) * 2004-03-25 2005-10-06 Nec Corporation チップ積層型半導体装置
JP2006019433A (ja) * 2004-06-30 2006-01-19 Nec Electronics Corp 半導体装置およびその製造方法
US7112468B2 (en) 1998-09-25 2006-09-26 Stmicroelectronics, Inc. Stacked multi-component integrated circuit microprocessor
JP2008072135A (ja) * 2007-10-22 2008-03-27 Toshiba Corp 半導体集積回路装置
JP2009088557A (ja) * 2008-12-15 2009-04-23 Nec Electronics Corp 半導体装置
JP2009177209A (ja) * 2009-05-11 2009-08-06 Nec Electronics Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2009295740A (ja) * 2008-06-04 2009-12-17 Elpida Memory Inc メモリチップ及び半導体装置
JP2010074194A (ja) * 2009-12-28 2010-04-02 Nec Electronics Corp 半導体装置およびその製造方法
US8143716B2 (en) 2004-03-29 2012-03-27 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device with plate-shaped component
WO2018139045A1 (ja) * 2017-01-27 2018-08-02 株式会社村田製作所 回路モジュール及びインターポーザ
US11881464B2 (en) 2020-04-03 2024-01-23 Wolfspeed, Inc. Stacked RF circuit topology using transistor die with through silicon carbide vias on gate and/or drain

Cited By (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5784264A (en) * 1994-11-28 1998-07-21 Nec Corporation MCM (Multi Chip Module) carrier with external connection teminals BGA (Ball Grid Array) type matrix array form
US5742477A (en) * 1995-07-06 1998-04-21 Nec Corporation Multi-chip module
US6809421B1 (en) 1996-12-02 2004-10-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Multichip semiconductor device, chip therefor and method of formation thereof
US7829975B2 (en) 1996-12-02 2010-11-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Multichip semiconductor device, chip therefor and method of formation thereof
US8174093B2 (en) 1996-12-02 2012-05-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Multichip semiconductor device, chip therefor and method of formation thereof
US7335517B2 (en) 1996-12-02 2008-02-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Multichip semiconductor device, chip therefor and method of formation thereof
US8283755B2 (en) 1996-12-02 2012-10-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Multichip semiconductor device, chip therefor and method of formation thereof
US7112468B2 (en) 1998-09-25 2006-09-26 Stmicroelectronics, Inc. Stacked multi-component integrated circuit microprocessor
JP2005142402A (ja) * 2003-11-07 2005-06-02 Seiko Epson Corp 半導体装置の製造方法及び半導体装置、回路基板及び電子機器
JP2005217205A (ja) * 2004-01-29 2005-08-11 Nec Electronics Corp チップ積層構成の3次元半導体装置及び該装置に用いられるスペーサチップ
JP4587676B2 (ja) * 2004-01-29 2010-11-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 チップ積層構成の3次元半導体装置
WO2005086216A1 (ja) * 2004-03-09 2005-09-15 Japan Science And Technology Agency 半導体素子及び半導体素子の製造方法
WO2005093834A1 (ja) * 2004-03-25 2005-10-06 Nec Corporation チップ積層型半導体装置
US8143716B2 (en) 2004-03-29 2012-03-27 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device with plate-shaped component
US8207605B2 (en) 2004-06-30 2012-06-26 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device having a sealing resin and method of manufacturing the same
US8890305B2 (en) 2004-06-30 2014-11-18 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device
US10672750B2 (en) 2004-06-30 2020-06-02 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device
US9324699B2 (en) 2004-06-30 2016-04-26 Renesas Electonics Corporation Semiconductor device
US7795721B2 (en) 2004-06-30 2010-09-14 Nec Electronics Corporation Semiconductor device and method for manufacturing the same
US8193033B2 (en) 2004-06-30 2012-06-05 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device having a sealing resin and method of manufacturing the same
JP2006019433A (ja) * 2004-06-30 2006-01-19 Nec Electronics Corp 半導体装置およびその製造方法
US8541874B2 (en) 2004-06-30 2013-09-24 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device
JP2008072135A (ja) * 2007-10-22 2008-03-27 Toshiba Corp 半導体集積回路装置
JP2009295740A (ja) * 2008-06-04 2009-12-17 Elpida Memory Inc メモリチップ及び半導体装置
JP2009088557A (ja) * 2008-12-15 2009-04-23 Nec Electronics Corp 半導体装置
JP2009177209A (ja) * 2009-05-11 2009-08-06 Nec Electronics Corp 半導体装置およびその製造方法
JP2010074194A (ja) * 2009-12-28 2010-04-02 Nec Electronics Corp 半導体装置およびその製造方法
WO2018139045A1 (ja) * 2017-01-27 2018-08-02 株式会社村田製作所 回路モジュール及びインターポーザ
JPWO2018139045A1 (ja) * 2017-01-27 2019-11-14 株式会社村田製作所 回路モジュール及びインターポーザ
US11450451B2 (en) 2017-01-27 2022-09-20 Murata Manufacturing Co., Ltd. Circuit module and interposer
US11881464B2 (en) 2020-04-03 2024-01-23 Wolfspeed, Inc. Stacked RF circuit topology using transistor die with through silicon carbide vias on gate and/or drain

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