JPH05101769A - 電子放出素子と該素子を用いた電子線発生装置及び画像形成装置 - Google Patents

電子放出素子と該素子を用いた電子線発生装置及び画像形成装置

Info

Publication number
JPH05101769A
JPH05101769A JP26036091A JP26036091A JPH05101769A JP H05101769 A JPH05101769 A JP H05101769A JP 26036091 A JP26036091 A JP 26036091A JP 26036091 A JP26036091 A JP 26036091A JP H05101769 A JPH05101769 A JP H05101769A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron
region
emitting device
electrodes
electron beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP26036091A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3072795B2 (ja
Inventor
Yoshikazu Sakano
嘉和 坂野
Ichiro Nomura
一郎 野村
Hidetoshi Suzuki
英俊 鱸
Rie Ueno
理恵 上野
Takashi Noma
敬 野間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP26036091A priority Critical patent/JP3072795B2/ja
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to AT92117137T priority patent/ATE136399T1/de
Priority to DE69209607T priority patent/DE69209607T2/de
Priority to CA002080091A priority patent/CA2080091C/en
Priority to AU26293/92A priority patent/AU667833B2/en
Priority to EP92117137A priority patent/EP0536731B1/en
Publication of JPH05101769A publication Critical patent/JPH05101769A/ja
Priority to US08/304,216 priority patent/US5530314A/en
Priority to US08/590,511 priority patent/US5645462A/en
Priority to AU45769/96A priority patent/AU678121B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3072795B2 publication Critical patent/JP3072795B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J1/00Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J1/02Main electrodes
    • H01J1/30Cold cathodes, e.g. field-emissive cathode
    • H01J1/316Cold cathodes, e.g. field-emissive cathode having an electric field parallel to the surface, e.g. thin film cathodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J31/00Cathode ray tubes; Electron beam tubes
    • H01J31/08Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
    • H01J31/10Image or pattern display tubes, i.e. having electrical input and optical output; Flying-spot tubes for scanning purposes
    • H01J31/12Image or pattern display tubes, i.e. having electrical input and optical output; Flying-spot tubes for scanning purposes with luminescent screen
    • H01J31/123Flat display tubes
    • H01J31/125Flat display tubes provided with control means permitting the electron beam to reach selected parts of the screen, e.g. digital selection
    • H01J31/127Flat display tubes provided with control means permitting the electron beam to reach selected parts of the screen, e.g. digital selection using large area or array sources, i.e. essentially a source for each pixel group
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/02Manufacture of electrodes or electrode systems
    • H01J9/022Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes
    • H01J9/027Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes of thin film cathodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2201/00Electrodes common to discharge tubes
    • H01J2201/30Cold cathodes
    • H01J2201/316Cold cathodes having an electric field parallel to the surface thereof, e.g. thin film cathodes
    • H01J2201/3165Surface conduction emission type cathodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2329/00Electron emission display panels, e.g. field emission display panels

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
  • Printers Or Recording Devices Using Electromagnetic And Radiation Means (AREA)
  • Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
  • Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 特に、素子電流の変動率、放出電流の変動率
が極めて小さい電子放出素子及び電子線発生装置の提供
にある。さらには、電子放出効率が高く、長寿命の電子
放出素子及び電子線発生装置の提供にある。また、高コ
ントラストで鮮明な画像の得られる画像形成装置の提供
にあり、特に、発光画像の輝度ムラ、表示のちらつきの
極めて少ない画像形成装置の提供にある。 【構成】 基体上に設けられた電極間に電子放出部を有
する電子放出素子において、該電極間に領域A及び領域
Bを有し、該電極の少なくとも一方に対し、該領域Aが
該領域Bを介して並設されており、該領域Aを構成する
主材料の導電率σ1及び該領域Bを構成する主材料の導
電率σ2がσ1>σ2の関係を満たし、且つ、該領域Aが
電子放出部であることを特徴とする電子放出素子、及び
該電子放出素子を用いた電子線発生装置と画像形成装
置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、特に、冷陰極型の電子
放出素子及び該電子放出素子を用いた電子線発生装置並
びに画像形成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、簡単な構造で電子の放出が得られ
る素子として、例えば、エム アイエリンソン(M.
I.Elinson)等によって発表された冷陰極素子
が知られている[ラジオ エンジニアリング エレクト
ロン フィジックス(Radio Eng.Elect
ron Phys.)第10巻、1290〜1296
頁、1965年].これは、基板上に形成された小面積
の薄膜に平行に電流を流すことにより、電子放出が生ず
る現象を利用するもので、一般には表面伝導形電子放出
素子と呼ばれている。この表面伝導形電子放出素子とし
ては、前記エリンソン等により開発された、SnO
2(Sb)薄膜を用いたもの、Au薄膜によるもの[ジ
ー・ディトマー“スイン ソリド フィルムス”(G.
Dittmer:“Thin Solid Film
s”)第9巻、317頁、1972年)、ITO薄膜に
よるもの[エム ハートウエル アンド シージーフォ
ンスタッド“アイイーイーイートランス”イーディーコ
ンファレン(M.Hartwelland C.G.F
onstad;“IEEETrans.ED Con
f.”)519頁、1983年]等が報告されている。
【0003】これらの表面伝導形電子放出素子の典型的
な素子構成を図23に示す。同図において32及び33
は電気的接続を得るための電極、35は電子放出材料で
形成される薄膜、31は基板、34は電子放出部を示
す。従来、これらの表面伝導形電子放出素子において
は、電子放出を行なう前に予めフォーミングと呼ばれる
通電加熱処理によって電子放出部を形成する。即ち、前
記電極32と電極33の間に電圧を印加する事により、
薄膜35に通電し、これにより発生するジュール熱で薄
膜35を局所的に破壊、変形もしくは変質せしめ、電気
的に高抵抗な状態にした電子放出部34を形成すること
により電子放出機能を得ている。尚、電気的に高抵抗な
状態とは、薄膜35の一部に、0.5μm〜5μmの長
さの亀裂を有し、かつ亀裂内がいわゆる島構造を有する
不連続状態膜を言う。島構造とは一般に数十オングスト
ロームから数ミクロンメーター径の微粒子が基板31に
あり、各微粒子は空間的に不連続で電気的には連続な膜
をいう。従来、表面伝導形電子放出素子は上述の高抵抗
不連続膜に電極32、33により電圧を印加し、素子表
面に電流を流すことにより、上述微粒子より電子を放出
せしめるものである。
【0004】また、本発明者らは、特開平1−2005
32号公報及び特開平2−56822号公報において、
電極間に電子を放出せしめる微粒子を分散配置した新規
な表面伝導形電子放出素子を技術開示した。この電子放
出素子は、(1)高い電子放出効率が得られる。(2)
構造が簡単であるため、製造が容易である。(3)同一
基板上に多数の素子を配列形成できる。等の利点を有す
る素子である。これらの表面伝導形電子放出素子の典型
的な素子構成を図24に示す。図24において、32及
び33は電気的接続を得るための電極、36は電子放出
せしめる微粒子が分散配置した電子放出部、31は絶縁
性基板である。
【0005】近年、上述した表面伝導形電子放出素子を
画像形成装置に用いようとする試みが成されている。そ
の例を図25に示す。同図は上述した電子放出素子を多
数並べた画像形成装置を示すものである。ここで、42
及び43は電極、44は電子放出部、45はグリット電
極、46は電子通過孔、47は画像形成部材である。こ
の画像形成部材は例えば、蛍光体、レジスト材等、電子
衝突することにより発光、変色、帯電、変質等する部材
から成る。また、この画像形成装置は、電極42及び4
3の間に複数の電子放出部44が線状に並べられた線状
電子源とグリット電極45でXYマトリックス駆動を行
ない、画像形成部材47に、情報信号に応じて電子を衝
突させることにより画像形成を行なう装置である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】以上述べた従来の表面
伝導形電子放出素子は、10-5〜10-9torr程度の
真空環境下で、好ましい電子放出特性を示すものである
が、真空度が低下するにつれて、25〜40%程度もの
放出電流の変動を生じるものであった。また、このよう
な放出電流の変動が余りにも極端に生じる場合には、特
に、上記画像形成装置においては大きな影響をもたら
し、例えば、図25の画像形成装置において画像形成部
材が蛍光体であるような電子線ディスプレー装置におい
ては、(1)各電子放出素子からの電子放出量が変動す
るため、蛍光体の輝度ムラが生じる。(2)蛍光体の各
輝点の光放出量が変動するため、表示にちらつきを生じ
るなどの問題点を生じるものであった。
【0007】そこで本発明の目的は、とりわけ、放出電
流の変動率が極めて小さい電子放出素子及び電子線発生
装置の提供にある。さらに、本発明の目的は、電子放出
効率が高く、長寿命の電子放出素子及び電子線発生装置
の提供にある。また、本発明の他の目的は、高コントラ
ストで鮮明な画像の得られる画像形成装置の提供にあ
り、特に、蛍光画像の輝度ムラ、表示のちらつきの極め
て少ない画像形成装置の提供にある。
【0008】
【問題点を解決するための手段】上記目的は以下の本発
明によって達成される。即ち、本発明は、基体上に設け
られた電極間に電子放出部を有する電子放出素子におい
て、該電極間に領域A及び領域Bを有し、該電極の少な
くとも一方に対して、該領域Aが該領域Bを介して並設
されており、該領域Aを構成する主材料の導電率σ1
び該領域Bを構成する主材料の導電率σ2がσ1>σ2
関係を満たし、且つ、該領域Aが電子放出部であること
を特徴とする電子放出素子である。さらに本発明は、上
記電子放出素子の複数と、該電子放出素子から放出され
る電子線を情報信号に応じて変調する変調手段とを有す
る電子線発生装置である。さらに本発明は、上記電子放
出素子の複数と、該電子放出素子から放出される電子線
を情報信号に応じて変調する変調手段と、電子線の照射
により画像を形成する画像形成部材とを有する画像形成
装置である。
【0009】以下に、まず本発明の電子放出素子につい
て詳述する。まず、本発明の電子放出素子の主たる特徴
部分について、図1(平面図)及び図2(図1のA−A
断面図)を用いて説明する。同図において、1は絶縁性
基体、2及び3は電極、4は領域A、5は領域Bを示
す。上記領域Aと上記領域Bとは異種の材料を主体とし
て構成されるが、本発明において、かかる異種材料とは
その導電率が互いに異なっており、領域Aを構成する主
材料の導電率σ1と領域Bを構成する主材料の導電率σ2
とはσ1>σ2なる関係(a)を満たしていなければなら
ない。更に本発明の電子放出素子においては、上記関係
(a)の異種の材料よりなる領域が互いに一定の配置関
係をもって電極間に設けられていることもまた必要とさ
れる。すなわち、図1及び図2から明らかな様に、電極
2及び3に対して、上記領域Aは上記領域Bを介して並
設されていなければならない。或は、特にこの領域Aと
領域Bとの配置に関し、図3に示すごとき態様であって
も本発明に含まれる。図3に示される態様では、領域A
は電極2に対しては領域Bを介して並設されているが、
電極3に対しては直接接触するように配置されている。
すなわち、本発明の電子放出素子における領域Aと領域
Bとの上記配置関係は、一対の電極のうち少なくとも一
方の電極に対して領域Aが非接触となる様に、領域Bを
介して配置されていれば良い。また、図4に示すごとき
態様であっても本発明に含まれる。すなわち、一対の電
極と領域Aと領域Bとが積層されていても良く、かかる
積層順序においても、一対の電極のうち少なくとも一方
の電極に対して、領域Aが領域Bを介して積層されてい
れば良い。更に、本発明の電子放出素子は、電極2及び
3の間に電圧を印加することにより、上記領域A及び上
記領域Bに電流(素子電流)が流れ、上記領域A(図
1、図2、図3及び図4の4)より電子放出する素子で
ある。尚、図1、図2及び図3に示した電子放出素子は
本発明の一実施態様例に過ぎず、後述する実施例からも
明らかである様に、本発明の電子放出素子はかかる態様
例に限定されるものではない。本発明の電子放出素子
は、以上の構成を採ることにより、後に詳述するよう
に、とりわけ、素子電流及び放出電流の変動率を極めて
小さくすることができ、更には、電子放出効率が高く、
長寿命の電子放出素子とすることができる。
【0010】上述した本発明の電子放出素子の更に好ま
しい態様について以下に説明する。本発明の電子放出素
子がσ1>σ2且つ102≦(σ1・S2)/(σ2・S1
≦107(但し、S1は領域Aの面積、S2は領域Bの面
積を示す)の関係(b)を満たしていること、あるい
は、σ1>σ2且つ1≦(σ1・W2)/(σ2・W1)≦1
9(但し、W1は領域Aの幅、W2は領域Bの幅を示
す)の関係(c)を満たしていることは、上記素子電流
及び放出電流の変動率をより一層低下させ得るという点
で特に好まし態様である。特に、上記(b)或は上記
(c)の関係を満たす電子放出素子を後述する電子線発
生装置及び画像形成装置に適用した場合、複数の電子放
出素子間(或は複数の電子放出部間)での電子放出特性
(素子電流及び放出電流の変動率、電子放出効率等)が
極めて均一となるため、各電子線間での放出ムラが無
く、画像形成にあっても、極めてコントラストの高く、
高精細な画像が形成できる。また、上記関係(b)にお
いて面積S1、S2、は、S1<S2であることが望まし
く、上記関係(c)において、領域Aの幅W1は0.0
1ミクロンメータから10ミクロンメータ、領域Bの幅
2は0.1ミクロンメータから10ミリメータとされ
るのが好ましい。
【0011】本発明の電子放出素子において、上述の各
パラメータの設定にあたっては、まず、電極間に配置さ
れる領域A及び領域Bの構成材料が選定される。本発明
の電子放出素子の上記領域A及び領域Bは導電性膜より
なる。特に、導電性を有する微粒子を主体に構成された
膜(以下、微粒子膜という)であることが望ましく、こ
の場合、その微粒子の粒径が10オングストロームから
10ミクロンメータの範囲にあることは、該素子を低駆
動電圧にて効率良く駆動し得るという点では特に好まし
い態様である。即ち、特に、該粒径が大きすぎると連続
薄膜のごとく作用するため、とりわけ領域Bにおいて
は、該領域が大きな抵抗体として作用して、結果として
素子の駆動電圧が高くなってしまう。また、上記微粒子
膜は微粒子のみから構成される膜に限られず、例えば、
上記微粒子を分散したカーボン膜の様に、微粒子が他の
媒体に分散された薄膜であっても、上記微粒子を主体に
形成された膜であれば構わない。上記領域A及び領域B
は、上述の如くσ1>σ2なる関係を満たす材料を適宜選
択し、電極間に形成されるものであるが、好ましくは、
104Ω-1-1≦σ2<σ1となるように上記材料を選択
することが望ましい。上記領域Aを構成する好適な材料
は、その導電率が1Ω-1-1〜108Ω-1-1の範囲に
ある導電性材料であり、中でも特に好適に用いられる材
料の具体例を挙げるならば、Pd,Ag,Au,Ti,
In,Cu,Cr,Fe,Zn,Sn,Ta,W,Pb
等の金属、PdO,SnO2,In23等の酸化物導電
体等である。一方、上記領域Bを構成する好適な材料
は、その導電率が10-4Ω-1-1〜106Ω-1-1の範
囲にある導電性材料であり、中でも特に好適に用いられ
る材料の具体例を挙げるならば、ZrB2,HfB2,L
aB6,CeB6,YB4,GdB4,等の硼化物、Ti
C,ZrC,HfC,TaC,SiC,WC等の炭化
物、TiN,ZrN,HfN等の窒化物、Nb,Mo,
Rh,Hf,Ta,W,Re,Ir,Pt,Ti,A
u,Ag,Cu,Cr,Al,Co,Ni,Fe,P
b,Pd,Cs,Ba等の金属、In23,SnO2
Sb23,PdO,PbO等の金属酸化物、Si,Ge
等の半導体、カーボン、AgMg,NiCu,PbSn
等である。
【0012】また、本発明の電子放出素子において、領
域Aと領域Bとを構成する主材料とし、上記具体例の中
から特に、領域Aを金属を主体に構成し、前記領域Bを
該金属の酸化物または窒化物を主体に構成することは、
酸化還元、窒化還元作用を容易に行うことができるの
で、基体上に該作用を利用し、任意に領域Aもしくは領
域Bを精度よく形成でき、素子間の特性のバラツキの少
ない電子放出素子が得られるので好ましい。例えば、以
下の表1、表2に示される組合せで使用される。
【0013】
【表1】
【0014】
【表2】
【0015】本発明の電子放出素子の領域A及び領域B
は、上述の導電性材料を電極間に、例えば、ガスデポジ
ション法、分散塗布法、ディッピング法、スピナー法等
によって形成される。上記導電性材料の導電率はその材
料固有の物理定数を用いれば良く、電極間の幅、長さ、
複数の領域の面積は、作成時に任意に設計せしめる。ま
た、一対の電極間に電気的に接続された上記導電率の異
なる領域A及びBの材料種および、該領域の幅等は作成
された素子から、電極間を電子線回折、X線回折等の分
析法により材料種を同定でき、また、電極間の幅は、電
極間を走査型オージエ等の分析法により、複数の領域の
電極間に位置する幅を用いれば良く、電極間の複数の領
域の面積は、前記電極間幅と電極間長さの積を用いれば
良い。
【0016】本発明の電子放出素子のその他の構成要件
について、まず、基体は通常、絶縁性基板が用いられ、
例えば、青板ガラス、白板ガラス、石英ガラス等のガラ
ス基板が使用される。電極は該電極間に配置された上記
領域A及びBに所望の電圧を印加するためのものであ
り、充分低抵抗な材料であれば特に限定されないが、通
常、金属薄膜で形成される。該電極を基体上に形成する
にあたっては、通常良く用いられる薄膜成膜技術とフォ
トリソグラフィー技術により所望の間隔で形成され、厚
さは8ミクロンメートル以下、とりわけ、1ミクロンメ
ートル以下に形成されるのが好ましい。また本発明の電
子放出素子は、前記領域Aが、前記電極間に複数設けら
れている態様、例えば図14、図15に示す態様も含
む。
【0017】上述の如き本発明の電子放出素子は、先述
した従来の電子放出素子に比べ、とりわけ、放出電流の
変動率が極めて小さいという優位性を有する。その理由
については、いまだ充分には解明されてはいないが、本
発明者等によれば次のようなことが主たる理由であると
考えられる。すなわち、従来の電子放出素子において、
放出電流の変動率が大きくなる原因は、1).電極間に
配置された前記島状不連続膜あるいは前記微粒子分散膜
の構造が、該素子に電圧を印加することにより変化し、
素子電流(If)が変動する。この素子電流の変動に伴
い放出電流(Ie)もまた変動する。2).前記島、微
粒子からなる電子放出部にガラス分子等が吸着あるいは
脱着することにより仕事関数が変化し、放出電流(I
e)が変動する。3).電子放出部近傍で形成されたイ
オン化ガスが電子放出部に衝突することにより放出電流
(Ie)が変動する。本発明者等は上記原因の中でも
1)に着目し、とりわけ、素子電流Ifの変動を抑える
ことにより放出電流Ieの変動も大きく改善され得るこ
とを知検し、電子放出素子の電極間に配置される膜の性
状について鋭意研究の結果、上述の本発明に至った。ま
た、本発明者等は上記1)の素子電流(If)の変動に
ついて更に考察してみるに、Ifの変動量は、素子の
駆動時間数に伴って徐々に大きくなる傾向があること、
電極間隔を狭くしていくほど大きくなる傾向があるこ
と、駆動電圧の大きい素子ほど大きくなる傾向がある
ことも知検した。すなわち、本発明において素子電流の
変動を極めて少なくできるということは、素子寿命も一
層改善され、また、電極間隔を一層狭く採れるため電子
放出部より高精細な配置が得られることとなり、一層高
精細で鮮明な画像の得られる画像形成装置を提供するこ
とができることも知検した。
【0018】即ち、本発明において、とりわけ、上記関
係(a)を満たし且つ領域A及び領域Bの上記配置関係
を満たすことは、少なくとも一方の電極と電子放出部で
ある領域Aとの間に、充分制御された適切な高抵抗な部
位が形成され、該電極間に電圧を印加した際に、該領域
Aにパルス的な電流(ラッシュカレント)が流れること
なく安定的に電圧が印加され、かかる電圧による領域A
を構成する膜構造の変化も極めて少なくなる。とりわ
け、かかる領域Aの膜構造の変化の極めて少ないこと
が、電極間への安定な電圧印加を可能にし、よって、素
子電流を安定化し、放出電流の急激な変化がなくなり、
該変動率が大幅に低減する結果となる。更に、本発明に
おいて上記関係(b)或は(c)をも満たすことは、該
素子の上記領域Bが、素子電流の伝導をより一層安定化
する抵抗(安定化抵抗)を示し、放出電流が安定化する
様に作用する。
【0019】ここで、上述の素子電流、放出電流につい
て、その測定評価装置の概略構成図(図5)を用いて説
明する。図5においては、1は絶縁性基板、2及び3は
電極、4は領域A(電子放出部)、5は領域B、6は素
子に電圧を印加するための電源、7は素子電流Ifを測
定するための電流計、8は素子より発生する放出電流I
eを測定するためのアノード電極、9はアノード電極8
に電圧を印加するための高圧電源、10は放出電流を測
定するための電流計である。ここで、上記素子電流と
は、電流計7によって測定される電流量であり、また、
上記放出電流とは電流計10により測定される電流量で
ある。電子放出素子の上記素子電流、放出電流の測定に
あたっては、素子電極2、3に電源6と電流計7とを接
続し、該電子放出素子の上方に電源9と電流計10とを
接続したアノード電極8を配置し、真空度1×10-5
orrの環境下で該測定を行う。測定結果から、放出電
流及び素子電流の変動量は、以下の式で定義される変動
率[%]をもって表される。即ち、放出電流の変動率X
はX=(△Ie/Ie)×100[%]、素子電流の変
動率YはY=(△If/If)×100[%]、(但
し、△Ie及び△Ifは、図6に示す様にそれぞれ1H
z以上の放出電流の変動量及び素子電流の変動量を表
す)。また、上述の測定結果から、本発明の電子放出素
子は、放出電流の変動率が15%以下である電子放出素
子、或は、素子電流の変動率が10%以下である電子放
出素子であると定義することができる。
【0020】次に、以下で本発明の電子線発生装置及び
画像形成装置について詳述する。本発明の電子線発生装
置及び画像形成装置は、上述した電子放出素子を用いた
ことを主たる特徴とするものである。まず、本発明の電
子線発生装置は、上記電子放出素子の複数と、該電子放
出素子から放出される電子線を情報信号に応じて変調す
る変調手段とを有するものである。その一実施態様例を
図7、8、9及び10を用いて説明する。図7、8、9
及び10において、1は絶縁性基板、2、3は電極、4
は領域A(電子放出部)、5は領域B、11は変調手段
を示す。図7、8、9に示す態様は、電子放出部である
Aを一対の電極間に複数有する線電子放出素子が、該基
板面上に複数並設されており、上記変調手段として複数
のグリット電極(変調電極)11が、該複数の線電子放
出素子に対して、行列配置(XYマトリクス状配置)さ
れている。該グリット電極は、図7では該電子放出素子
の電子放出面上方空間内に配置されており、図8では該
電子放出素子と同一基板面に並設されており、図9では
該電子放出素子と基板を介して積層されている。また、
図10に示す態様は、単一の電子放出部(領域A)を有
する電子放出素子の複数が行列配置され、各素子が信号
配線電極12と走査配線電極13により同図の様に接続
配線された、一般に単純マトリクス構成と呼ばれる態様
であり、この信号配線電極12と走査配線電極13とが
上記変調手段として作用する。以上例示した本発明の電
子線発生装置の駆動方法は、図7、8、9においては、
まず、1ラインの線電子放出素子の電極2、3に10V
〜14Vの電圧パルスを印加して、複数の電子放出部よ
り電子線を放出させる。放出された電子線は、該グリッ
ト電極群11に、情報信号に対応して+20V〜−50
Vの電圧を印加することによりオン−オフが制御され、
該1ライン分の情報信号に対応する電子線放出が得られ
る。かかる動作を上記ラインの隣の線電子放出素子に対
し順次行うことにより、一画面分の電子線放出が行われ
る。また、図10においては、まず、1ライン上の複数
の電子放出素子に対し走査配線電極13により0Vor
7Vの電圧パルスを印加し、次に、情報信号に対応して
信号配線電極群12に7Vor14Vの電圧パルスを印
加することで、1ライン分の情報信号に対応する電子線
放出が得られる。かかる動作を上記ラインの隣のライン
に対して順次行うことにより、一画面分の電子線放出が
行われる。
【0021】次に、本発明の画像形成装置について説明
する。本発明の画像形成装置は上記電子線発生装置の電
子線放出側に画像形成部材が配置された構成を有する。
該画像形成部材としては、蛍光体等の発光体、レジスト
材等、電子衝突することにより発光、変色、帯電、変質
等する部材から成る。図11に本発明の画像形成装置の
一例を示す。同図において、14はリアプレート(ただ
し、前記絶縁性基体1を兼用しても良い)、11は変調
手段(図9のグリット電極で示したが、図7、8のグリ
ット電極あるいは図10の変調手段であっても構わな
い)、2及び3は電極、4は電子放出部(領域A)、5
は領域B、18はフェースプレート、17はガラス板、
15は透明電極、16は蛍光体である。以上の本発明の
画像形成装置の駆動方法は、まず、画像形成部材(図1
1においては、透明電極15)に500V〜10kVの
電圧を印加し、次に、上記電子線発生装置と同様の駆動
方法を行うことで、該画像形成部材に情報信号に応じた
画像が形成される(図11においては、蛍光画像が表示
される)。また、上記画像形成装置において、画像形成
部材が発光体(例えば、蛍光体)の場合、一画素につい
てかかる発光体をレッド、グリーン、ブルーの三原色発
光体とすることによって、フルカラーの表示画像が得ら
れる。また、以上述べた電子線発生装置及び画像形成装
置は、通常は、真空度が10-4〜10-9torrで駆動
される。
【0022】
【実施例】以下に実施例を挙げて、本発明を更に詳述す
る。
【0023】(実施例1)本実施例の電子放出素子の平
面図を図1に示し、図1のA−A断面図を図2に示し
た。図1及び図2において、1は絶縁性基体、2及び3
は電極、4は領域A、5は領域Bを示す。以上の本実施
例の電子放出素子は、以下の様に作成された。
【0024】.絶縁性基体1として石英基板を用い、
これを有機溶剤により充分に洗浄後、該基体1面上に、
電極1、2を形成した(図12のa)。電極の材料とし
て、Ni金属を該いた。電極間隔Wは500ミクロンメ
ータとし、電極の長さLを300ミクロンメータ、その
厚さを1000オングストロームとした。.次に、図
12のbに示す様に、所望の位置にディッピング法によ
り、有機パラジウム(奥野製薬(株)製、ccp−42
30)を塗布した後、300℃で加熱処理をして、酸化
パラジウム(Pd0)微粒子(粒径:10オングストロ
ーム〜150オングストローム)からなる微粒子膜5
(領域B)を形成した。ここで、該領域Bの幅W21及び
22はそれぞれ249ミクロンメータとした。また、上
記酸化パラジウムの導電率(σ2)は100Ω-1-1
ある。.次に図12のcに示される様に、上記微粒子
膜5(領域B)の間に、酸化スズ(SnO2)分散液
(SnO2:1g、MEK/シクロヘキサノン=3/1
溶剤:1000cc、ブラチール:1g)を上記と同
様に塗布、加熱処理して、酸化スズ微粒子(粒径:10
0オングストローム〜1000オングストローム)から
なる微粒子膜4(領域A)を形成した。ここで、該領域
Aの幅W1は2ミクロンメータとした。また、上記酸化
スズの導伝率(σ1)は2500Ω-1-1である。以上
の〜の工程により作成された本実施例の素子は、σ
2(=100Ω-1-1)<σ1(=2500Ω-1-1)で
あり、(σ1・W2)/(σ2・W1)=(σ1・S2)/
(σ2・S1)=6225。該素子を1×10-5torr
の真空下にて、電極2及び3の間に電圧14Vを印加し
たところ、上記領域Aより電子が放出するのが確認され
た。
【0025】(実施例2)本実施例の電子放出素子の平
面図を図3に示した。図3においても、1は絶縁性基
体、2及び3は電極、4は領域A、5は領域Bを示す。
以上の本実施例の電子放出素子も、実施例1と同様の方
法にて作成され、よってσ1>σ2の関係を満たし、(σ
1・W2)/(σ2・W1)=(σ1・S2)/(σ2,S1
=6225。該素子を1×10-5torrの真空下に
て、電極2及び3の間に電圧14Vを印加したところ、
上記領域Aより電子が放出するのが確認された。
【0026】(実施例3)本実施例の電子放出素子を以
下の様に作成した。
【0027】絶縁性基体1面上に所望の位置にガスデ
ポジション法により酸化インジウム(In23)微粒子
(粒径:20Å〜200Å)からなる微粒子膜5(領域
B)を膜さ45μm形成した。ここで上記酸化インジウ
ムの導電率(σ2)は1×103v/mである。 次に上記酸化インジウム微粒子膜5上にと同じ方法
で銀(Ag)微粒子(粒径:20Å〜250Å)からな
る微粒子膜4(領域A)膜さ10μm形成した。ここで
上記銀の導伝率(σ1)は6×107v/mである。 次にと同様に銀微粒子膜4上に酸化インジウム微粒
子膜5(領域B)を膜さ45μm形成し、次いで斜方蒸
着により電極1、2を形成した。ここで、電極の長さL
を500μmとした。
【0028】以上の〜の工程により作成された本実
施例の素子は微粒子膜4(領域A)と微粒子膜5(領域
B)からなる段差側面により電子放出するもので、上記
微粒子膜の厚さが電極間の各領域の幅となる。すなわ
ち、領域Aの幅(W1)は10μm、領域Bの幅(W21
及びW22)は45μmとなる。以上の如く本実施例の素
子はσ1(=6×107Ω-1-1)>σ2(=1×103Ω
-1-1)であり、(σ1・W2)/(σ2・W1)=(σ1
・S2)/(σ2・S1)=5.4×105。該素子を1×
10-5torrの真空下にて、電極2及び3の間に電圧
14Vを印加したところ、上記領域Aより電子が放出す
るのが確認された。
【0029】(実施例4)本実施例の電子放出素子は、
図1及び2において、微粒子膜4(領域A)をPd(粒
径:10オングストローム〜100オングストローム)
微粒子にて形成し、微粒子膜5(領域B)をSnO
2(粒径:100オングストローム〜1000オングス
トローム)微粒子にて形成した以外は、実施例1と同様
に作成された。ここで、上記Pdの導電率(σ1)は7
×106Ω-1-1、上記SnO2の導電率(σ2)は2.
5×103Ω-1-1であり、本発明の素子はσ1>σ2
関係を満たし、(σ1・W2)/(σ2・W1)=(σ1
2)/(σ2・S1)=6.97×105。上記工程によ
り作成された本実施例の素子を1×10-5torrの真
空下にて、電極2及び3の間に電圧14Vを印加したと
ころ、上記領域Aより電子が放出するのが確認された。
【0030】(実施例5)本実施例の電子放出素子の平
面図を図13に示した。図13においても、1は絶縁性
基体、2及び3は電極、4は領域A、5は領域Bを示
す。以上の本実施例の電子放出素子も、実施例1と同様
の方法で作成された。即ち、.実施例1と同様に、絶
縁性基体1面上に電極1、2を形成した。但し、本実施
例では電極間隔Wを400ミクロンメータとした。.
次に所望の位置にガスデポジション法より、ZrB2
粒子(粒径:20オングストローム〜250オングスト
ローム)からなる微粒子膜5(領域B)を形成した。こ
こで、該領域Bの幅W21及びW22はそれぞれ249ミク
ロンメータとし、長さL2は300ミクロンメータとし
た。また、上記ZrB2の導電率(σ2)は、1×103
Ω-1-1である。.次に、上記微粒子膜5(領域B)
の間に、Pt微粒子(粒径:10オングストローム〜2
00オングストローム)からなる微粒子膜4(領域A)
を形成した。ここで、該領域Aの幅W1は1ミクロンメ
ータとし、長さL1を150ミクロンメータとした。ま
た、上記Ptの導電率(σ1)は9.1×10-6Ω-1
-1である。以上の〜の工程により作成された本実施
例の素子は、σ1(=9.1×106Ω-1-1)>σ
2(=1×103Ω-1-1)であり(σ1・W2)/(σ2
・W1)=2.27×106、(σ1・S2)/(σ2
1)=4.53×106。上記工程により作成された本
実施例の素子を1×10-5torrの真空下にて、電極
2及び3の間に電圧14Vを印加したところ、上記領域
Aより電子が放出するのが確認された。
【0031】(実施例6)本実施例の電子放出素子の平
面図を図14に示した。図14においても、1は絶縁性
基体、2及び3は電極、4は領域A、5は領域Bを示
す。以上の本実施例の電子放出素子は、領域Aを電極2
及び3の長さL方向に分割し設け、Lを500ミクロン
メータとし、L1、L2をいずれも150ミクロンメータ
とし、Wを100ミクロンメータ、W1を10ミクロン
メータ、W21及びW22を45ミクロンメータとした以外
は実施例3と同様に作成した。以上の素子はσ1>σ2
関係を満たし、(σ1・W2)/(σ2・W1)=2.25
×102、(σ1・S2)/(σ2・S1)=3.92×1
2。該素子を1×10-5torrの真空下にて、電極
2及び3の間に電圧14Vを印加したところ、上記複数
の領域Aより電子が放出するのが確認された。
【0032】(実施例7)本実施例の電子放出素子の平
面図を図15に示した。図15においても、1は絶縁性
基体、2及び3は電極、4は領域A、5は領域Bを示
す。以上の本実施例の電子放出素子は、領域Aを電極
2、3の長さL方向に7個設け、Lを1500ミクロン
メータL1〜L7をいずれも100ミクロンメータとし、
領域Bの幅W21,W22をいずれも200ミクロンメー
タ、領域Aの幅W1を、2ミクロンメータとした以外は
実施例1と同様に作成した。以上の素子はσ1>σ2の関
係を満たし、(σ1・W2)/(σ2・W1)=5.0×1
3、(σ1・S2)/(σ2・S1)=9.37×103
該素子を1×10-5torrの真空下にて該素子を1×
10-5torrの真空下にて、電極2及び3の間に電圧
14Vを印加したところ、上記複数の領域Aより電子が
放出するのが確認された。
【0033】(実施例8)本実施例の電子放出素子は、
図4において、微粒子膜4(領域A)をAu(粒径:3
0オングストローム〜250オングストローム)微粒子
にて形成し、微粒子膜5(領域B)をHfB2(粒径:
30オングストローム〜300オングストローム)微粒
子にて形成し、領域Aの幅W1を0.05ミクロンメー
タ、領域Bの幅W2(W21+W22)を0.3ミクロンメ
ータとした以外は、実施例3と同様に作成された。ここ
で、上記Auの導電率(σ1)は4.4×107Ω
-1-1、上記HfB2の導電率(σ2)は1×103Ω-1
-1であり、本発明の素子はσ1>σ2の関係を満たし、
(σ1・W2)/(σ2・W1)=(σ1・S2)/(σ2
1)=2.64×105。上記工程により作成された本
実施例の素子を1×10-5torrの真空下にて、電極
2及び3の間に電圧14Vを印加したところ、上記領域
Aより電子が放出するのが確認された。
【0034】(実施例9)本実施例の電子放出素子を以
下の様に作成した。.実施例1と同様に、絶縁性基体
1面上に電極1、2を形成した(図17のa)。但し、
本実施例では電極間隔Wを4ミクロンメータ、電極の長
さLを50ミクロンメータとした。.次に、図17の
bに示す様に、所望の位置にスピナー法により、有機パ
ラジウム(奥野製薬(株)製、ccp−4230)を塗
布した後、250℃で加熱処理をして、酸化パラジウム
(PdO)微粒子(粒径:10オングストローム〜15
0オングストローム)を主体とする微粒子膜5(領域
B)を形成した。ここで、上記酸化パラジウムの導電率
(σ2)は100Ω-1-1である。.次に図17のc
に示される様に、上記微粒子膜5(領域B)に対して、
真空中で電子線を照射(24)して微粒子膜5の所望の
位置を還元することで、Pb微粒子からなる微粒子膜4
(領域A)を形成した。ここで、上記領域Aの幅W1
0.1ミクロンメータ、上記Pd微粒子の粒径は、5オ
ングストローム〜100オングストローム、上記Pdの
導電率σ1は7.7×106Ω-1-1である。尚、上記電
子線の照射は真空中で行ったが、上記領域Bを形成する
金属酸化物が還元されれば良く、よって、還元雰囲気中
で行っても良い。また、電子線の他、赤外光、レーザー
光等を用いても良い。以上の〜の工程により作成さ
れた本実施例の素子は、σ1(7.7×106Ω-1-1
>σ2(=100Ω-1-1)であり、(σ1・W2)/
(σ2・W1)=(σ1・S2)/(σ2・S1)=3.0×
106。上記工程により作成された該素子を1×10-5
torrの真空下にて、電極2及び3の間に電圧14V
を印加したところ、上記領域Aより電子が放出するのが
確認された。
【0035】(実施例10)本実施例の電子放出素子を
以下の様に作成した。.実施例9と同様に、絶縁性基
体1面上に電極1、2を形成した(図18のa)。但
し、本実施例では電極間隔Wを10ミクロンメータ、電
極の長さLを200ミクロンメータとした。.次に、
図18のbに示す様に、所望の位置にガスデポジション
法により、鉄(Fe)微粒子(粒径:30オングストロ
ーム〜150オングストローム)からなる微粒子膜4
(領域A)を形成した。ここで、上記鉄の導電率
(σ1)は1.03×107Ω-1-1である。.次に図
18のcに示される様に、上記微粒子膜4(領域A)に
対して、大気中で赤外線を照射(24)して微粒子膜4
の所望の位置を酸化することで、酸化鉄(Fe34)微
粒子からなる微粒子膜5(領域B)を形成した。ここ
で、上記領域Aの幅W1は2ミクロンメータ、上記酸化
鉄微粒子の粒径は、50オングストローム〜300オン
グストローム、上記領域Bの幅W2は8ミクロンメー
タ、上記酸化鉄の導電率σ2は1×104Ω-1-1であ
る。以上の〜の工程により作成された本実施例の素
子は、σ1(=1.03×107Ω-1-1)>σ2(=1
×104Ω-1-1)であり、(σ1・W2)/(σ2
1)=(σ1・S2)/(σ2・S1)=4.1×103
該素子を1×10-5torrの真空下にて、電極2及び
3の間に電圧14Vを印加したところ、上記領域Aより
電子が放出するのが確認された。
【0036】(実施例11)本実施例の電子放出素子の
断面図を図16に示した。図16においても、1は絶縁
性基体、2及び3は電極、4は領域A、5は領域Bを示
す。また、23は段差形成層でSiO2よりなる。以上
の本実施例の電子放出素子は、以下の様に作成された。
【0037】絶縁性基体1として石英基板を用い、こ
れを有機溶剤により充分に洗浄後、該基板1面上に、S
iO2からなる段差形成層23を形成し、次にて斜方蒸
着により電極2、3を形成した。
【0038】次にSiO223の側端面に、ガスデポ
ジション法により酸化インジウム(In23)微粒子
(粒径:20オングストローム〜200オングストロー
ム)からなる微粒子膜5(領域B)を形成した。ここで
上記酸化インジウムの導電率(σ2)は1×103Ω-1
-1である。
【0039】次に、上記微粒子膜5(領域B)に対し
て、実施例9と同様に真空中で電子線を照射して微粒子
膜5の所望の位置を還元することでIn微粒子からなる
微粒子膜4(領域A)を形成した。ここで上記領域Aの
幅は0.1μm、上記In微粒子の粒径は10〜120
Å、上記Inの導電率σ1は1.2×107ν/mであ
る。
【0040】上記〜の工程により作成された本実施
例の素子は、σ1(=1.2×107Ω-1-1)>σ
2(=1×103Ω-1-1)であり、(σ1・W2)/(σ
2・W1)=(σ1・S2)/(σ2・S1)=1.08×1
5。該素子を1×10-5torrの真空下にて、電極
2及び3の間に電圧14Vを印加したところ、上記領域
Aより電子が放出するのが確認された。
【0041】(実施例12)本実施例の電子放出素子
を、微粒子膜4(領域A)に亜鉛(Zn)微粒子(粒
径:50オングストローム〜300オングストローム)
を用いた以外は上記実施例10と同様に作成した。酸化
亜鉛(ZnO)微粒子(粒径:100オングストローム
〜450オングストローム)からなる幅8ミクロンメー
タの微粒子膜5(領域B)が形成された。上記亜鉛の導
電率(σ1)は1.03×107Ω-1-1、上記酸化亜鉛
の導電率(σ2)は1.06×10-2Ω-1-1であり、
σ1>σ2を満たし、(σ1・W2)/(σ2・W1)=(σ
1・S2)/(σ2・S1)=4.86×108。該素子を
1×10-5torrの真空下にて、電極2及び3の間に
電圧14Vを印加したところ、上記領域Aより電子が放
出するのが確認された。
【0042】(実施例13)本実施例の電子放出素子を
以下の様に作成した。.実施例9と同様に、絶縁性基
体1面上に電極1、2を形成した(図18のa)。但
し、本実施例では電極間隔Wを200ミクロンメータ、
電極の長さLを300ミクロンメータとした。.次
に、図18のbに示す様に、所望の位置に図19に示す
装置を用いてガスデポジション法により微粒子膜4及び
5を形成した。即ち、上記で作成した電極付きの基体
を微粒子堆積室26にセットし、真空排気系により1×
10-6torr以下の真空になるまで排気した後、Ar
+N2ガスをArを30sccm、N210sccmの割
合で微粒子生成室25に導入した。このとき微粒子生成
室の圧力は6×10-2torr,微粒子堆積室の圧力は
1×10-4torrとなり2ケタの真空度の差を生じ
た。また、ノズル27の口径は4ミリメータ、ノズル2
7と基体1間距離は150ミリメータ、堆積マスク28
と基体1間距離は2ミリメータ、堆積マスク28の開口
部29の幅を10ミクロンメータとした。次に、スパッ
タ法により、クロム(Cr)微粒子をスパッタさせて、
2ガスとの反応により窒化クロム(CrN)微粒子を
生成し、基体1上に堆積させる。この時、堆積マスク2
8の開口部29を電極2の端面から移動させながら、電
極2の端から180ミクロンメータ(領域Bの幅とな
る)まで堆積させる。次に、導入したAr+N2ガス
をArガス(45sccm)のみ導入し、クロム(C
r)微粒子を残りの20ミクロンメータ(領域Aの幅と
なる)堆積させた。
【0043】上記〜の工程により作成された本実施
例の素子は、上記Crの導電率(σ1)が7.76×1
6Ω-1-1、上記CrNの導電率(σ2)が1.56×
105Ω-1-1)であり、σ1>σ2を満たし、(σ1・W
2)/(σ2・W1)=(σ1・S2)/(σ2・S1)=
4.48×102。また、上記Cr微粒子は粒径が50
オングストローム〜100オングストロームであり、上
記CrN微粒子は粒径が80オングストロームから15
0オングストロームであった。該素子を1×10-5to
rrの真空下にて、電極2及び3の間に電圧14Vを印
加したところ、上記領域Aより電子が放出するのが確認
された。
【0044】(実施例14)本実施例の電子放出素子を
実施例13と同様に作成した。但し、微粒子膜4(領域
A)をタンタル(Ta)微粒子(粒径:200オングス
トローム〜250オングストローム)にて形成し、微粒
子膜5(領域B)を上記実施例13と同様の方法で、タ
ンタル微粒子を窒化させることにより、窒化タンタル
(TaN)微粒子(粒径:280オングストローム〜3
50オングストローム)にて形成した。本実施例の素子
は、上記Taの導電率(σ1)が7.41×106Ω-1
-1、上記TaNの導電率(σ2)が5.05×105Ω-1
-1であり、σ1>σ2を満たし、(σ1・W2)/(σ2
・W1)=(σ1・S2)/(σ2・S1)=1.32×1
2。該素子を1×10-5torrの真空下にて、電極
2及び3の間に電圧14Vを印加したところ、上記領域
Aより電子が放出するのが確認された。
【0045】(比較例1)比較用の電子放出素子を以下
の様に作成した。
【0046】絶縁性基体1面上に電極1、2を形成し
た。電極間隔Wは5μmとし電極の長さLを300μ
m、その厚さを1000Åとした。
【0047】次にスピナー法により酸化スズ(SnO
2)分散液(SnO2:1g,MEK/シクロヘキサノン
=3/1溶剤:1000cc、ブチラール:1g)を塗
布し、加熱処理して、酸化スズ微粒子(粒径:100Å
〜1000Å)からなる微粒子膜を形成した。
【0048】該素子を1×10-5torrの真空下に
て、電極2及び3の間に電圧14Vを印加したところ、
該電極間領域より電子が放出するのが確認された。
【0049】(比較例2)比較用の電子放出素子を以下
の様に作成した。
【0050】絶縁性基体1面上に電極1、2を形成し
た。電極間隔Wは4μmとし電極の長さLを300μ
m、その厚さを1000Åとした。 次にスピンナー法により、有機ペラジウム(奥野製薬
(株)製、ccp−4230)を塗布した後、300℃
で加熱処理をして、酸化パラジウム(pdo)微粒子
(粒径:10Å〜150Å)からなる微粒子膜を形成し
た。
【0051】該素子を1×10-5torrの真空下に
て、電極2及び3の間に電圧14Vを印加したところ、
該電極間領域より電子が放出するのが確認された。
【0052】以上の実施例1〜14及び、比較例1、2
の電子放出素子に関し、図5に示す測定評価装置を用い
て、1)素子電圧、2)素子電流、3)放出電流、4)
素子電流の変動率、5)放出電流の変動率の測定を行な
った。その結果を表3、表4に示す。
【0053】
【表3】
【0054】
【表4】
【0055】以上の様に、本発明の電子放出素子は従来
の電子放出素子に比べ、とりわけ、素子電流の変動率及
び放出電流の変動率が極めて小さい素子であった。更
に、本発明の電子放出素子は、電子放出効率に優れ、長
寿命の電子放出素子であった。
【0056】(実施例15)上記実施例9の電子放出素
子を直線状に複数配置し、図20に示す様な電子線発生
装置を作成した。図20において、1は絶縁性基体(リ
アプレート)、2及び3は(配線)電極、4は領域A
(電子放出部)、5は領域B、G1〜GLは変調手段(グ
リッド電極)である。絶縁性基体1と変調手段11との
間隔は10μmとした。以上の電子線発生装置を次の方
法にて駆動した。即ち、該装置を真空度10-5torr
の環境下に配置し、まず、(配線)電極2、3間に14
Vの電圧パルスを印加し、次に、情報信号に応じて変調
手段11に+20Vの電圧を印加した。その結果、複数
の領域Aから該情報信号に応じた電子線の放出が得られ
た。上記実施例1と同様の方法で、本実施例の電子線発
生装置の上記駆動により放出された各電子線について、
その放出電流の変動率について測定したところ、いずれ
の電子線もその変動率が極めて小さく、均一な値を示し
た。しかも、いずれの電子線もその放出量が極めて均一
であり、本装置は長寿命を呈した。
【0057】(実施例16)上記実施例9の電子放出素
子を直線状に複数配列した線電子放出素子を、図7に示
す様に複数併設した電子線発生装置を作成した。絶縁性
基体1と変調手段11との間隔は10μm、各線電子放
出素子の間隔は1mmとした。以上の電子線発生装置を
次の方法にて駆動した。即ち、該装置を真空度10-5
orrの環境下に配置し、まず、(配線)電極2、3間
に14Vの電圧パルスを印加し、次に、変調手段11に
情報信号に応じた電圧を印加した。即ち、0V以下で電
子線をオフ制御でき、+20V以上でオン制御できた。
また、+20V〜0Vの間で電子線の電子量を連続的に
変化し得た。その結果、(配線)電極2、3間の複数の
領域Aから該1ライン分の情報信号に応じた電子線の放
出が得られた。以上の動作を隣接する線電子放出素子に
対し順次行うことにより、全情報信号に応じた電子線の
放出が得られた。上記実施例1と同様の方法で、本実施
例の電子線発生装置の上記駆動により放出された各電子
線について、その放出電流の変動率について測定したと
ころ、いずれの電子線もその変動率が極めて小さく、均
一な値を示した。しかも、いずれの電子線もその放出量
が極めて均一であり、本装置は長寿命を呈した。
【0058】(実施例17)図8に示す様に、変調手段
(グリット電極)11を絶縁性基体1の面上に配設した
ことを除いて、上記実施例16と同様の電子線発生装置
を作成した。該装置の駆動も上記実施例16と同様に行
い、情報信号に応じた電子線の放出が得られた。但し、
本装置においては、変調手段に印加される電圧として、
−30V以下で電子線をオフ制御でき+20V以上でオ
ン制御できた。また、−30V〜+20Vの間で、電子
線の電子量を連続的に変化し得た。本実施例の電子線発
生装置の上記駆動により放出された各電子線について、
その放出電流の変動率について測定したところ、いずれ
の電子線もその変動率が極めて小さく、均一な値を示し
た。しかも、いずれの電子線もその放出量が極めて均一
であり、本装置は長寿命を呈した。
【0059】(実施例18)図9に示す様に、変調手段
(グリット電極)11を絶縁性基体1を介して、線電子
放出素子の電子放出面に対して反対側面に配設したこと
を除いて、上記実施例16と同様の電子線発生装置を作
成した。該装置の駆動も上記実施例16と同様に行い、
情報信号に応じた電子線の放出が得られた。但し、本装
置においては、変調手段に印加される電圧として、−2
5V以下で電子線をオフ制御でき+30V以上でオン制
御できた。また、−25V〜+30Vの間で電子線の電
子量を連続的に変化し得た。本実施例の電子線発生装置
の上記駆動により放出された各電子線について、その放
出電流の変動率について測定したところ、いずれの電子
線もその変動率が極めて小さく、均一な値を示した。し
かも、いずれの電子線もその放出量が極めて均一であ
り、本装置は長寿命を呈した。
【0060】(実施例19)図21に示す画像形成装置
を上記実施例16の電子線発生装置を用いて作成した。
同図において、18はフェースプレート、17はガラス
板、15は透明電極、16は蛍光体である。フェースプ
レート17とリアプレート14との間隔は5ミリメータ
とした。以上の画像形成装置を以下の方法にて駆動し
た。フェースプレート17及びリアプレート14で構成
されるパネル容器内を真空度10-5torrとし、蛍光
体面の電圧をEV端子19を通じて5KV〜10KVに
設定し、配線20、21を通じて、まず一対の配線電極
2、3に14Vの電圧パルスを印加した。次に、情報信
号に対応して変調手段に配線22を通じて電圧を印加す
ることにより該放出電子線のオン−オフを制御した。こ
こで、−20V以下で電子線をオフ制御でき、0V以上
でオン制御できた。また、−20V〜+10Vの間で電
子線の電子量を連続的に変化でき諧調表示も可能であっ
た。上記変調手段により放出された該情報信号に対応す
る電子線は、蛍光体16に衝突し、蛍光体16は情報信
号に応じて1ラインの表示を行った。以上の動作を隣の
線電子放出素子に対し順次行うことで、一画面の表示を
行うことができた。本実施例の画像形成装置により得ら
れた上記表示画像は、輝度ムラ、全体の表示のちらつき
が極めて少なく、高コントラストで鮮明な画像であっ
た。
【0061】(実施例20)図22に示す画像形成装置
を上記実施例17の電子線発生装置を用いて作成した。
上記実施例19と同様に駆動し、蛍光体の発光画像を表
示した。但し、変調手段に印加する電圧として、−50
V以下で電子線のオフ制御を行い、+10V以上で電子
線のオン制御を行った。又、−50V〜+10Vの間で
電子線の電子量を連続的に変化でき諧調表示も可能であ
った。本実施例の画像形成装置により得られた上記表示
画像も、輝度ムラ、全体の表示のちらつきが極めて少な
く、高コントラストで鮮明な画像であった。
【0062】(実施例21)図11に示す画像形成装置
を上記実施例18の電子線発生装置を用いて作成した。
上記実施例19と同様に駆動し、蛍光体の発光画像を表
示した。但し、変調手段に印加する電圧として、−40
V以下で電子線のオフ制御を行い、+10V以上で電子
線のオン制御を行った。又、−40V〜+10Vの間で
電子線の電子量を連続的に変化でき諧調表示も可能であ
った。本実施例の画像形成装置により得られた上記表示
画像も、輝度ムラ、全体の表示のちらつきが極めて少な
く、高コントラストで鮮明な画像であった。
【0063】
【発明の効果】以上詳述した本発明の電子放出素子及び
電子線発生装置は、とりわけ、素子電流の変動率及び放
出電流の変動率が極めて小さい。更には、本発明の電子
放出素子及び電子線発生装置は、長寿命、高電子放出効
率の素子である。更に、本発明の電子線発生装置は、上
記電子放出特性のバラツキが各素子間(または各電子放
出部間)で極めて少ない装置であり、また、該電子線発
生装置を用いた本発明の画像形成装置は、上述の如く個
々の電子放出素子(又は電子放出部)が電子放出特性に
優れしかも互いに該特性のバラツキが少ないことによ
り、情報信号に忠実な高コントラストで鮮明な画像が得
られる装置である。とりわけ、画像形成部材として発光
体を有するディスプレー装置にあっては、発光画像の輝
度ムラ、表示のちらつきの極めて少ない装置である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電子放出素子の実施態様例を示す概略
構成図(平面図)。
【図2】図1のA−A断面図。
【図3】本発明の電子放出素子の他の実施態様例を示す
概略構成図(平面図)。
【図4】本発明の電子放出素子の他の実施態様例を示す
概略構成図(断面図)。
【図5】電子放出素子の素子電流量及び放出電流量を測
定するための測定装置を示す概略構成図。
【図6】図5の測定装置を用いて得られた、素子電流及
び放出電流の測定データ。
【図7】本発明の電子線発生装置の実施態様例を示す概
略構成図(斜視図)。
【図8】本発明の電子線発生装置の他の実施態様例を示
す概略構成図(斜視図)。
【図9】本発明の電子線発生装置の他の実施態様例を示
す概略構成図(斜視図)。
【図10】本発明の電子線発生装置の他の実施態様例を
示す概略構成図(斜視図)。
【図11】本発明の画像形成装置の実施態様例を示す概
略構成図(斜視図)。
【図12】本発明の電子放出素子の作成方法を説明する
ための図(断面図)。
【図13】本発明の電子放出素子の他の実施態様例を示
す概略構成図(平面図)。
【図14】本発明の電子放出素子の他の実施態様例を示
す概略構成図(平面図)。
【図15】本発明の電子放出素子の他の実施態様例を示
す概略構成図(平面図)。
【図16】本発明の電子放出素子の他の実施態様例を示
す概略構成図(断面図)。
【図17】本発明の電子放出素子の他の作成方法を説明
するための図(断面図)。
【図18】本発明の電子放出素子の他の作成方法を説明
するための図(断面図)。
【図19】本発明の電子放出素子の作成に用いられる装
置の説明図。
【図20】本発明の電子線発生装置の他の実施態様例を
示す概略構成図(斜視図)。
【図21】本発明の画像形成装置の他の実施態様例を示
す概略構成図(斜視図)。
【図22】本発明の画像形成装置の他の実施態様例を示
す概略構成図(斜視図)。
【図23】従来の電子放出素子を示す概略構成図(平面
図)。
【図24】従来の他の電子放出素子を示す概略構成図
(平面図)。
【図25】従来の画像形成装置を示す概略構成図(斜視
図)。
【符号の説明】
1,31,41 基体(絶縁性基体) 2,3,32,33,42,43 素子電極 4 領域A(電子放出部) 5 領域B 6,9 電源 7,10 電流計 8 アノード電極 11 変調手段 12 信号配線電極 13 走査配線電極 14 リアプレート 15 透明電極 16 蛍光体 17 ガラス板 18 フェースプレート 19 EV端子 20,21 素子配線 22 グリット電極配線 23 段差形成層 24 放射線照射装置 25 微粒子生成室 26 微粒子堆積室 27 ノズル 28 堆積マスク 29 マスク開口部 30 スパッタ装置 34,44 電子放出部 35 薄膜 36 電子放出部材(微粒子) 45 グリット電極 46 電子通過孔 47 画像形成部材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上野 理恵 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤノ ン株式会社内 (72)発明者 野間 敬 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤノ ン株式会社内

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基体上に設けられた電極間に電子放出部
    を有する電子放出素子において、該電極間に領域A及び
    領域Bを有し、該電極の少なくとも一方に対し、該領域
    Aが該領域Bを介して並設されており、該領域Aを構成
    する主材料の導電率σ1及び該領域Bを構成する主材料
    の導電率σ2がσ1>σ2の関係を満たし、且つ該領域A
    が電子放出部であることを特徴とする電子放出素子。
  2. 【請求項2】 前記領域Aの面積をS1、前記領域Bの
    面積をS2とするとき、102≦(σ1・S2)/(σ2
    1)≦107の関係を満たす請求項1に記載の電子放出
    素子。
  3. 【請求項3】 前記領域Aの幅をW1、前記領域Bの幅
    をW2とするとき、1≦(σ1・W2)/(σ2・W1)≦
    109の関係を満たす請求項1に記載の電子放出素子。
  4. 【請求項4】 前記領域A及びBを構成する主材料が、
    粒径10オングスロームから10ミクロンメータの範囲
    にある微粒子である請求項1に記載の電子放出素子。
  5. 【請求項5】 前記導電率σ1が1〜108Ω-1-1の範
    囲であり、且つ、前記導電率σ2が10-4〜106Ω-1
    -1の範囲である請求項1に記載の電子放出素子。
  6. 【請求項6】 前記領域Aが金属を主体に構成され、前
    記領域Bが該金属の化合物を主体に構成されている請求
    項1に記載の電子放出素子。
  7. 【請求項7】 前記領域Aが金属を主体に構成され、前
    記領域Bが該金属の酸化物を主体に構成されている請求
    項1に記載の電子放出素子。
  8. 【請求項8】 前記領域Aが金属を主体に構成され、前
    記領域Bが該金属の窒化物を主体に構成されている請求
    項1に記載の電子放出素子。
  9. 【請求項9】 前記領域AがPd,In,Ti,Cu,
    Cr,Fe,Zn,W,Sn,Ta,及びPbの中から
    選ばれる少なくとも一種の金属より構成され、前記領域
    Bが該金属の酸化物より構成されている請求項1に記載
    の電子放出素子。
  10. 【請求項10】 前記領域AがCr,Ta及びNiの中
    から選ばれる少なくとも一種の金属より構成され、前記
    領域Bが該金属の窒化物より構成されている請求項1に
    記載の電子放出素子。
  11. 【請求項11】 前記基体が、絶縁性材料よりなる請求
    項1に記載の電子放出素子。
  12. 【請求項12】 前記領域Aが、前記電極間に複数設け
    られている請求項1に記載の電子放出素子。
  13. 【請求項13】 素子電流の変動率が10%以下である
    請求項1に記載の電子放出素子。
  14. 【請求項14】 放出電流の変動率が15%以下である
    請求項1に記載の電子放出素子。
  15. 【請求項15】 請求項1〜14のいずれかに記載の電
    子放出素子の複数と、該電子放出素子から放出される電
    子線を情報信号に応じて変調する変調手段とを有する電
    子線発生装置。
  16. 【請求項16】 請求項1〜14のいずれかに記載の電
    子放出素子の複数と、該電子放出素子から放出される電
    子線を情報信号に応じて変調する変調手段と、電子線の
    照射により画像を形成する画像形成部材とを有する画像
    形成装置。
  17. 【請求項17】 請求項1〜14のいずれかに記載の電
    子放出素子の複数と、該電子放出素子から放出される電
    子線を情報信号に応じて変調する変調手段と、電子線の
    照射により発光する発光体とを有する画像形成装置。
  18. 【請求項18】 請求項1〜14のいずれかに記載の電
    子放出素子の複数と、該電子放出素子から放出される電
    子線を情報信号に応じて変調する変調手段と、電子線の
    照射により発光するレッド、グリーン、ブルーの三原色
    発光体とを有する画像形成装置。
JP26036091A 1991-10-08 1991-10-08 電子放出素子と該素子を用いた電子線発生装置及び画像形成装置 Expired - Fee Related JP3072795B2 (ja)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26036091A JP3072795B2 (ja) 1991-10-08 1991-10-08 電子放出素子と該素子を用いた電子線発生装置及び画像形成装置
DE69209607T DE69209607T2 (de) 1991-10-08 1992-10-07 Elektronemittierende Vorrichtung und Elektronenstrahlerzeugungsgerät und diese Vorrichtung verwendendes Bilderzeugungsgerät
CA002080091A CA2080091C (en) 1991-10-08 1992-10-07 Electron-emitting device, and electron beam-generating apparatus and image-forming apparatus employing the device
AU26293/92A AU667833B2 (en) 1991-10-08 1992-10-07 Electron-emitting device, and electron beam-generating apparatus and image-forming apparatus employing the device
AT92117137T ATE136399T1 (de) 1991-10-08 1992-10-07 Elektronemittierende vorrichtung und elektronenstrahlerzeugungsgerät und diese vorrichtung verwendendes bilderzeugungsgerät
EP92117137A EP0536731B1 (en) 1991-10-08 1992-10-07 Electron-emitting device, and electron beam-generating apparatus and image-forming apparatus employing the device
US08/304,216 US5530314A (en) 1991-10-08 1994-09-12 Electron-emitting device and electron beam-generating apparatus and image-forming apparatus employing the device
US08/590,511 US5645462A (en) 1991-10-08 1996-01-24 Electron-emitting device, and electron beam-generating apparatus and image-forming apparatus employing the device
AU45769/96A AU678121B2 (en) 1991-10-08 1996-02-27 Electron-emitting device, and electron beam-generating apparatus and image-forming apparatus employing the device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26036091A JP3072795B2 (ja) 1991-10-08 1991-10-08 電子放出素子と該素子を用いた電子線発生装置及び画像形成装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05101769A true JPH05101769A (ja) 1993-04-23
JP3072795B2 JP3072795B2 (ja) 2000-08-07

Family

ID=17346861

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26036091A Expired - Fee Related JP3072795B2 (ja) 1991-10-08 1991-10-08 電子放出素子と該素子を用いた電子線発生装置及び画像形成装置

Country Status (7)

Country Link
US (2) US5530314A (ja)
EP (1) EP0536731B1 (ja)
JP (1) JP3072795B2 (ja)
AT (1) ATE136399T1 (ja)
AU (2) AU667833B2 (ja)
CA (1) CA2080091C (ja)
DE (1) DE69209607T2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6184626B1 (en) 1995-01-31 2001-02-06 Canon Kabushiki Kaisha Electron beam apparatus and method of driving the same
US6262701B1 (en) 1994-12-05 2001-07-17 Canon Kabushiki Kaisha Electron-emission device and apparatus and image-formation using same
CN1306540C (zh) * 1993-12-27 2007-03-21 佳能株式会社 电子发射器件的制造方法
KR100709174B1 (ko) * 2004-03-10 2007-04-20 캐논 가부시끼가이샤 전자방출소자, 전자원, 화상표시장치 및 해당 화상표시장치를 이용한 정보표시재생장치, 그리고 그의 제조방법
CN100438589C (zh) * 1993-12-27 2008-11-26 佳能株式会社 电视机及图像显示装置

Families Citing this family (64)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE40566E1 (en) 1987-07-15 2008-11-11 Canon Kabushiki Kaisha Flat panel display including electron emitting device
USRE40062E1 (en) 1987-07-15 2008-02-12 Canon Kabushiki Kaisha Display device with electron-emitting device with electron-emitting region insulated from electrodes
USRE39633E1 (en) 1987-07-15 2007-05-15 Canon Kabushiki Kaisha Display device with electron-emitting device with electron-emitting region insulated from electrodes
JP3072809B2 (ja) 1991-10-08 2000-08-07 キヤノン株式会社 電子放出素子と該素子を用いた電子線発生装置及び画像形成装置
DE69411350T2 (de) * 1993-10-28 1998-11-19 Canon Kk Elektronenquelle, Bilderzeugungsgerät, Herstellungsverfahren und deren Steuerverfahren
AU747308B2 (en) * 1993-12-27 2002-05-16 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing an electron-emitting device
US6802752B1 (en) 1993-12-27 2004-10-12 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing electron emitting device
AU747313B2 (en) * 1993-12-27 2002-05-16 Canon Kabushiki Kaisha Electron source and image-forming apparatus
AU724811B2 (en) * 1993-12-27 2000-09-28 Canon Kabushiki Kaisha Electron-emitting device
JP3072825B2 (ja) * 1994-07-20 2000-08-07 キヤノン株式会社 電子放出素子、電子源、及び、画像形成装置の製造方法
ATE261611T1 (de) * 1994-09-22 2004-03-15 Canon Kk Verfahren zur herstellung einer elektronen- emittierenden einrichtung sowie einer elektronenquelle und eines bilderzeugungsgerätes mit derartigen elektronen-emittierenden einrichtungen
JP2916887B2 (ja) * 1994-11-29 1999-07-05 キヤノン株式会社 電子放出素子、電子源、画像形成装置の製造方法
US5905335A (en) * 1995-02-03 1999-05-18 Canon Kabushiki Kaisha Electron generation using a fluorescent element and image forming using such electron generation
JP3083076B2 (ja) * 1995-04-21 2000-09-04 キヤノン株式会社 画像形成装置
JP3311246B2 (ja) 1995-08-23 2002-08-05 キヤノン株式会社 電子発生装置、画像表示装置およびそれらの駆動回路、駆動方法
US6140761A (en) * 1996-01-31 2000-10-31 Canon Kabushiki Kaisha Electron generation using a fluorescent element and image forming using such electron generation
JP3278375B2 (ja) 1996-03-28 2002-04-30 キヤノン株式会社 電子線発生装置、それを備える画像表示装置、およびそれらの駆動方法
US6231412B1 (en) * 1996-09-18 2001-05-15 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing and adjusting electron source array
DE69711577T2 (de) * 1996-12-26 2002-09-26 Canon Kk Substrat mit Elektronenquelle, Elektronenquelle, Bilderzeugungsgerät mit solchem Substrat und Herstellungsverfahren
JP3352385B2 (ja) 1997-03-21 2002-12-03 キヤノン株式会社 電子源基板およびそれを用いた電子装置の製造方法
JP3025249B2 (ja) 1997-12-03 2000-03-27 キヤノン株式会社 素子の駆動装置及び素子の駆動方法及び画像形成装置
KR100464294B1 (ko) * 1998-01-12 2005-05-27 삼성에스디아이 주식회사 저항체층겸용음극층을갖는필드에미션어레이및그제조방법
JP3323847B2 (ja) 1999-02-22 2002-09-09 キヤノン株式会社 電子放出素子、電子源および画像形成装置の製造方法
JP3323851B2 (ja) * 1999-02-26 2002-09-09 キヤノン株式会社 電子放出素子およびこれを用いた電子源およびこれを用いた画像形成装置
JP3323852B2 (ja) * 1999-02-26 2002-09-09 キヤノン株式会社 電子放出素子およびこれを用いた電子源およびこれを用いた画像形成装置
JP3323848B2 (ja) * 1999-02-26 2002-09-09 キヤノン株式会社 電子放出素子およびこれを用いた電子源およびこれを用いた画像形成装置
US6376149B2 (en) 1999-05-26 2002-04-23 Yale University Methods and compositions for imaging acids in chemically amplified photoresists using pH-dependent fluorophores
KR100346548B1 (ko) * 2000-01-05 2002-07-26 삼성에스디아이 주식회사 표면 전도형 전자 방출원을 갖는 평판 디스플레이 장치
JP2001319564A (ja) * 2000-05-08 2001-11-16 Canon Inc 電子源形成用基板、該基板を用いた電子源並びに画像表示装置
US6963598B1 (en) 2000-05-23 2005-11-08 Finisar Corporation System and method for VCSEL polarization control
US6660074B1 (en) 2000-11-16 2003-12-09 Egl Company, Inc. Electrodes for gas discharge lamps; emission coatings therefore; and methods of making the same
US6990135B2 (en) * 2002-10-28 2006-01-24 Finisar Corporation Distributed bragg reflector for optoelectronic device
US7065124B2 (en) * 2000-11-28 2006-06-20 Finlsar Corporation Electron affinity engineered VCSELs
US6905900B1 (en) * 2000-11-28 2005-06-14 Finisar Corporation Versatile method and system for single mode VCSELs
US6836501B2 (en) * 2000-12-29 2004-12-28 Finisar Corporation Resonant reflector for increased wavelength and polarization control
TWI227799B (en) * 2000-12-29 2005-02-11 Honeywell Int Inc Resonant reflector for increased wavelength and polarization control
US6965626B2 (en) * 2002-09-03 2005-11-15 Finisar Corporation Single mode VCSEL
US6813293B2 (en) * 2002-11-21 2004-11-02 Finisar Corporation Long wavelength VCSEL with tunnel junction, and implant
US20040222363A1 (en) * 2003-05-07 2004-11-11 Honeywell International Inc. Connectorized optical component misalignment detection system
US20040247250A1 (en) * 2003-06-03 2004-12-09 Honeywell International Inc. Integrated sleeve pluggable package
US7298942B2 (en) 2003-06-06 2007-11-20 Finisar Corporation Pluggable optical optic system having a lens fiber stop
US7433381B2 (en) 2003-06-25 2008-10-07 Finisar Corporation InP based long wavelength VCSEL
US7277461B2 (en) * 2003-06-27 2007-10-02 Finisar Corporation Dielectric VCSEL gain guide
US7054345B2 (en) 2003-06-27 2006-05-30 Finisar Corporation Enhanced lateral oxidation
US7075962B2 (en) * 2003-06-27 2006-07-11 Finisar Corporation VCSEL having thermal management
US20060056762A1 (en) * 2003-07-02 2006-03-16 Honeywell International Inc. Lens optical coupler
US20050013542A1 (en) * 2003-07-16 2005-01-20 Honeywell International Inc. Coupler having reduction of reflections to light source
US7210857B2 (en) * 2003-07-16 2007-05-01 Finisar Corporation Optical coupling system
US20050013539A1 (en) * 2003-07-17 2005-01-20 Honeywell International Inc. Optical coupling system
US6887801B2 (en) * 2003-07-18 2005-05-03 Finisar Corporation Edge bead control method and apparatus
KR20050014430A (ko) * 2003-07-31 2005-02-07 삼성에스디아이 주식회사 평판 표시소자의 전자 방출원 형성용 조성물 및 이로부터제조되는 전자 방출원
US7031363B2 (en) * 2003-10-29 2006-04-18 Finisar Corporation Long wavelength VCSEL device processing
KR20050049842A (ko) * 2003-11-24 2005-05-27 삼성에스디아이 주식회사 전계 방출 표시장치
US7596165B2 (en) * 2004-08-31 2009-09-29 Finisar Corporation Distributed Bragg Reflector for optoelectronic device
US7829912B2 (en) * 2006-07-31 2010-11-09 Finisar Corporation Efficient carrier injection in a semiconductor device
US7920612B2 (en) * 2004-08-31 2011-04-05 Finisar Corporation Light emitting semiconductor device having an electrical confinement barrier near the active region
KR20060104657A (ko) * 2005-03-31 2006-10-09 삼성에스디아이 주식회사 전자 방출 소자
KR20060104652A (ko) * 2005-03-31 2006-10-09 삼성에스디아이 주식회사 전자 방출 소자
JP4143665B2 (ja) * 2005-12-13 2008-09-03 キヤノン株式会社 電子放出素子の製造方法、及びそれを用いた、電子源並びに画像表示装置の製造方法
US8031752B1 (en) 2007-04-16 2011-10-04 Finisar Corporation VCSEL optimized for high speed data
JP5936374B2 (ja) * 2011-02-15 2016-06-22 キヤノン株式会社 圧電振動型力センサ及びロボットハンド並びにロボットアーム
JP6335460B2 (ja) 2013-09-26 2018-05-30 キヤノン株式会社 ロボットシステムの制御装置及び指令値生成方法、並びにロボットシステムの制御方法
JP6964989B2 (ja) 2017-02-09 2021-11-10 キヤノン株式会社 制御方法、ロボットシステム、物品の製造方法、プログラム、及び記録媒体
EP3366433B1 (en) 2017-02-09 2022-03-09 Canon Kabushiki Kaisha Method of controlling robot, method of teaching robot, and robot system

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8621600D0 (en) * 1986-09-08 1987-03-18 Gen Electric Co Plc Vacuum devices
JPH07114104B2 (ja) * 1987-10-09 1995-12-06 キヤノン株式会社 電子放出素子及びその製造方法
US4855636A (en) * 1987-10-08 1989-08-08 Busta Heinz H Micromachined cold cathode vacuum tube device and method of making
US5023110A (en) * 1988-05-02 1991-06-11 Canon Kabushiki Kaisha Process for producing electron emission device
JPH0687392B2 (ja) * 1988-05-02 1994-11-02 キヤノン株式会社 電子放出素子の製造方法
JP2630988B2 (ja) * 1988-05-26 1997-07-16 キヤノン株式会社 電子線発生装置
JP2923787B2 (ja) * 1989-03-22 1999-07-26 キヤノン株式会社 電子放出素子、それを用いた電子源及び画像形成装置
JP2981751B2 (ja) * 1989-03-23 1999-11-22 キヤノン株式会社 電子線発生装置及びこれを用いた画像形成装置、並びに電子線発生装置の製造方法
US5505647A (en) * 1993-02-01 1996-04-09 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing image-forming apparatus

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1306540C (zh) * 1993-12-27 2007-03-21 佳能株式会社 电子发射器件的制造方法
CN100438589C (zh) * 1993-12-27 2008-11-26 佳能株式会社 电视机及图像显示装置
US6262701B1 (en) 1994-12-05 2001-07-17 Canon Kabushiki Kaisha Electron-emission device and apparatus and image-formation using same
US6184626B1 (en) 1995-01-31 2001-02-06 Canon Kabushiki Kaisha Electron beam apparatus and method of driving the same
KR100709174B1 (ko) * 2004-03-10 2007-04-20 캐논 가부시끼가이샤 전자방출소자, 전자원, 화상표시장치 및 해당 화상표시장치를 이용한 정보표시재생장치, 그리고 그의 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
AU678121B2 (en) 1997-05-15
US5645462A (en) 1997-07-08
EP0536731B1 (en) 1996-04-03
CA2080091A1 (en) 1993-04-09
DE69209607T2 (de) 1996-08-29
CA2080091C (en) 1999-08-03
JP3072795B2 (ja) 2000-08-07
US5530314A (en) 1996-06-25
AU2629392A (en) 1993-04-22
AU4576996A (en) 1996-05-16
ATE136399T1 (de) 1996-04-15
AU667833B2 (en) 1996-04-18
DE69209607D1 (de) 1996-05-09
EP0536731A1 (en) 1993-04-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3072795B2 (ja) 電子放出素子と該素子を用いた電子線発生装置及び画像形成装置
CA2112431C (en) Electron source, and image-forming apparatus and method of driving the same
EP0301545B1 (en) Surface conduction electron-emitting device
EP0628982A2 (en) Driving method for an electron beam emitting device
US6777868B1 (en) Electrification moderating film, electron beam system, image forming system, member with the electrification moderating film, and manufacturing method of image forming system
JP2010123338A (ja) 画像表示装置
US6824437B2 (en) Electron-emitting device, electron source, and manufacture method for image-forming apparatus
JP3072809B2 (ja) 電子放出素子と該素子を用いた電子線発生装置及び画像形成装置
EP0536732B1 (en) Electron-emitting device, and electron beam-generating apparatus and image-forming apparatus employing the device
JPH0612997A (ja) 電子放出素子及びその製造方法並びに該電子放出素子を用いた画像形成装置
JP2946153B2 (ja) 電子放出膜及び電子放出素子の作製方法
JP2961477B2 (ja) 電子放出素子、電子線発生装置及び画像形成装置の製造方法
JP3131752B2 (ja) 電子放出素子、電子線発生装置及び画像形成装置並びにそれらの製造方法
JPH06203741A (ja) 電子放出素子、電子線発生装置及び画像形成装置
JPH02247936A (ja) 電子源及びそれを用いた画像形成装置
JP3413027B2 (ja) 画像形成装置
JPH06203742A (ja) 電子放出素子、電子線発生装置及び画像形成装置
JP3210129B2 (ja) 電子源及び画像形成装置
JP2715314B2 (ja) 画像形成装置及びその駆動方法
JP3416345B2 (ja) 電子源と画像形成装置
JPH02247937A (ja) 電子放出素子、それを用いた電子源及び画像形成装置
JPH1055745A (ja) 電子放出素子及びそれを備えた電子源並びに画像形成装置
JPH0945223A (ja) 電子放出素子、電子線発生装置及び画像表示装置
JPH1055746A (ja) 電子放出素子、それを用いた電子源及び画像形成装置、並びにそれらの駆動方法
JPH103852A (ja) 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20000516

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090602

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090602

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100602

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110602

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees