JPH0358670B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0358670B2
JPH0358670B2 JP60105541A JP10554185A JPH0358670B2 JP H0358670 B2 JPH0358670 B2 JP H0358670B2 JP 60105541 A JP60105541 A JP 60105541A JP 10554185 A JP10554185 A JP 10554185A JP H0358670 B2 JPH0358670 B2 JP H0358670B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electro
optic effect
liquid crystal
transparent electrode
anisotropic conductive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP60105541A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS61264267A (ja
Inventor
Seiichi Naito
Shuji Katayama
Takashi Kawai
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP60105541A priority Critical patent/JPS61264267A/ja
Publication of JPS61264267A publication Critical patent/JPS61264267A/ja
Publication of JPH0358670B2 publication Critical patent/JPH0358670B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】 イ 「発明の目的」 〔産業上の利用分野〕 本発明は、デジタル回路のLSI、IC、プリント
板等の端子の電気的状態がどのようになつている
か視覚的に観測することができる装置に関するも
のである。
〔従来の技術〕
プリント板に組込まれたLSIやIC等の動作を検
査する手段としてはLSIテスタ等が使用される。
LSIテスタは、LSIの取付けピンにおける複数の
端子電圧を同時に取込んで、各端子における信号
の相互のタイミング等を検査し、LSI等の動作チ
エツクを行なつている。
このようなLSIテスタは、非常に高価なもので
あり、また形状や重量も大きなものである。
また、LSIテスタに用いられるプローブは複数
本の針を備え、この各針にリード線が接続された
構成をしてる。そして、この複数本の針を検査対
象のLSIの各取付けピンに丁度一致する位置に配
置することで、LSIの端子電圧をテスタ内に取込
んでいる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、LSIテスタは、非常に高価なものであ
り、形状・重量も大きいので、手軽に入手し、持
運ぶわけには行かない。
また、LSIテスタのプローブは、LSIの取付け
ピンの配列やプリント板のパターンの変化に対応
して針の配列・寸法を定めなければならない問題
も有している。
本発明の目的は、簡単な手段でLSI等の動作を
視覚的に判断することができ、しかも、LSIやIC
の取付けピンの配列やプリント板のパターンの変
化に対応することができる端子状態の観測装置を
提供することである。
ロ 「発明の構成」 〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、上記問題点を解決するために、平板
形状であつて厚み方向に導電性を生ずるようにし
た異方性導電ゴムと、平板形状の絶縁基板に導体
が高密度で設けられこの個々の導体が絶縁基板の
表裏間を導通するように構成された多チヤンネル
プレートと、一方の面に透明電極が設けられた電
気光学効果を有した部材と、偏光子板とを備え、
多チヤンネルプレートの一方の面に異方性導電ゴ
ムを密接し、多チヤンネルプレートの他方の面に
電気光学効果部材を密接し、電気光学効果部材の
透明電極側に偏光子を配置するように構成した。
異方性導電ゴムの測定対象の端子に押付ける
と、端子電圧の生じている端子部分が電気光学効
果部材の面に表示され、電圧の生じていない端子
部分は何も表示されないので、複数の端子の電圧
状態をパターンとして観測することができる。
〔実施例〕
以下、図面を用いて本発明を詳しく説明する。
第1図は、本発明に係る端子状態の観測装置を
用いてプリント板に装着されたICを検査してい
る状態を示す断面図、第2図は多チヤンネルプレ
ートの構成を示した図、第3図は電気光学効果部
材の表示例を示した図である。
第1図において、1は異方性導電ゴムであり、
平板の形状をしている。異方性導電ゴムは、導電
性を有しこれが方向性を持つている。例えば、縦
方向に電気抵抗を有した無数の経路が存在し、各
経路間は電気的に絶縁されている。そして、この
縦方向に圧力が加わると、経路の電気抵抗値が減
少する特性を持つものである。第1図では、平板
形状の厚み方向に導電性が生ずるように配置して
ある。
2は多チヤンネルプレートであり、第2図で示
すように、平板形状の絶縁基板2aに導体2bが
高密度で設けられ、この個々の導体2bが絶縁基
板2aの表裏間を導通するように構成されてい
る。この多チヤンネルプレート2を介して次に説
明する電気光学効果部材(例えば、液晶)に信号
電圧を与え、これを駆動するため、少なくとも電
気光学効果部材が配置される側の多チヤンネルプ
レート2の面は、滑らかな面となつている。
3は電気光学効果部材であり、例えば液晶であ
る。以下、本明細書では、この電気光学効果部材
として、液晶を例に取つて説明する。この液晶3
の部分の構成は、透明ガラス基板5の上に透明電
極4が配置されており、この透明電極4の上に液
晶3が形成されている。そして、多チヤンネルプ
レート2の滑かな面に液晶3側を向けて液晶を密
接する如く配置する。なお、第1図では図示して
いないが、透明電極4は、通常、後述するプリン
ト板の回路アースに接続されている。
6は偏光子であり、液晶の透明電極4側に第1
図の如く配置される。
8は検査対象のICであり、9はこのIC8が取
付けられているプリント板である。
以上のような第1図の構成の動作を説明する。
第1図の如く、IC8が取付けられているプリン
ト板9のハンダ面からIC8の取付け足(端子)
の部分に異方性導電ゴム1を取付ける。通常、ハ
ンダ面には、電子部品の足が、突出しており、こ
の足がハンダでプリント板に固着されている。異
方性導電ゴムは、この僅かに突出した足により圧
力を受けて、その足に該当する部分の経路の電気
抵抗が周囲と比べて低下する。そして、その経路
の他端(異方性導電ゴム1の地面)には、十分な
導体密度の多チヤンネルプレート2が密接して設
けられているので、突出た取付け足の部分に該当
する位置の多チヤンネルプレート2の液晶側の面
には、取付け足における電圧が出力されている。
このような状態で液晶3を見た場合、透明電極
4は回路アースに接続されているので、取付け足
に電圧(例えば、5V)が生じていれば、その部
分に該当する液晶3は、電気光学効果を起こして
いる。逆に、取付け足に電圧が生じていなけれ
ば、液晶3に電圧がかからないので、その部分の
液晶は電気光学効果を起こさない。
一方、第1図のようにA方向から光が入射した
とする。入射光は、偏光子板5を通り、直線偏光
となる。そして、ガラス基板5、透明電極4を通
過し、液晶3の電気光学効果を起こしている部分
では入射光は吸収され、電気光学効果を起こして
いない部分では入射光は吸収されず、反射され
る。これが第1図のように外部から見ると、例え
ば第3図のように見える。即ち、電圧が生じてい
るICの足(端子)は、光が吸収されるので、例
えば、黒色に見え、その他の部分と区別でる。こ
のように複数の端子の電圧パターンを同一面上に
表示することができる。
なお、液晶の周波数応答は低いので、電気光学
効果材料として液晶を用いた場合は、第1図で得
られる電圧パターンは、通常、或る状態における
静的なものである。そして、高速に端子電圧がオ
ン・オフしている場合は、その端子の状態は第3
図では、黒色に表示される。
また、第1図では、液晶3の表示を人の目で観
察している状態を示したが、液晶の画面をイメー
ジセンサ(図示せず)を介して、CRT(図示せ
ず)に映像するようにすることもできる。この場
合は、液晶の応答スピード内で、液晶のオン・オ
フ画像状態をメモリに格納し、その後、ゆつくり
CRTに表示することで、次々と端子電圧パター
ンの変化する状態を見ることができる。
また、第1図では、液晶3に対して異方性導電
ゴム1と透明電極4が直接に接する構成として説
明したが、実際は、液晶3の表面は配向膜に保護
され、この配向膜を介して異方性導電ゴム1と透
明電極4とに接触するように構成されている。こ
の配向膜は通常、絶縁物であるポリイミドの薄い
膜で構成され、液晶3が電極により酸化されるこ
とを防ぐ効果、及び液晶3のコントラストを高め
る効果を有するものである。
ハ 「発明の効果」 以上述べたように、本発明によれば複数端子の
電圧パターンを同一画面に表示することができ
る。また、第1図から分るように非常に簡単な構
成である。また、従来のロープのような針という
概念がないので位置決め精度の必要がなく、LSI
のピン配列やプリント板のパターン変化に対応す
ることもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る端子状態の観測装置を用
いてプリント板に装着されたICを検査している
状態を示す断面図、第2図は多チヤンネルプレー
トの構成を示した図、第3図は電気光学効果部材
の表示例を示した図である。 1……異方性導電ゴム、2……多チヤンネルプ
レート、2a……絶縁基板、2b……導体、3…
…電気光学効果部材、4……透明電極、5……ガ
ラス基板、6……偏光子板。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 平板形状であつて、厚み方向に導電性を生ず
    るようにした異方性導電ゴムと、 平板形状をした絶縁基板に導体が高密度で設け
    られ、この個々の導体が絶縁基板の表裏間を導通
    するように構成された多チヤンネルプレートと、 一方の面に透明電極が設けられた電気光学効果
    を有した部材と、 偏光子板とを備え、 多チヤンネルプレートの一方の面に異方性導電
    ゴムを密接し、多チヤンネルプレートの他方の面
    に電気光学効果部材を密接し、電気光学効果部材
    の透明電極側に偏光子板を配置するように構成し
    たことを特徴とする端子状態の観測装置。 2 前記電気光学効果部材として、液晶を用いた
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の端
    子状態の観測装置。
JP60105541A 1985-05-17 1985-05-17 端子状態の観測装置 Granted JPS61264267A (ja)

Priority Applications (1)

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JP60105541A JPS61264267A (ja) 1985-05-17 1985-05-17 端子状態の観測装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP60105541A JPS61264267A (ja) 1985-05-17 1985-05-17 端子状態の観測装置

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JPS61264267A JPS61264267A (ja) 1986-11-22
JPH0358670B2 true JPH0358670B2 (ja) 1991-09-06

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JP60105541A Granted JPS61264267A (ja) 1985-05-17 1985-05-17 端子状態の観測装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0772770B2 (ja) * 1989-10-20 1995-08-02 株式会社富士通ゼネラル Plzt表示装置

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JPS61264267A (ja) 1986-11-22

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