KR960000254B1 - 액정디스플레이(lcd) 패널 검사 시스템 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

액정디스플레이(LCD) 패널 검사 시스템

제1도는 조립된 LCD 모듈의 단면도.

제2도는 종래의 LCD 패널의 검사 시스템을 나타낸 개략도.

제3도는 종래의 LCD 패널의 오픈/쇼트 테스트를 하기 위한 지그 PCB의 평면도.

제4도는 본 발명에 따른 LCD 패널 검사 시스템의 분해도.

제5도는 제4도에서 X-X선을 따라 취한 단면도.

제6도는 패드 피치 가변장치의 개략 사시도.

제7도는 슬라이딩 도전패드의 사시도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

40 : 액정디스플레이(LCD) 41 : 제브라 콘넥터

43 : 개구 45 : 케이스

47,47′ : 전극 패드 P : 패드 피치 가변장치

55,55′ : 도전성 안내바

본 발명은 액정디스플에이(LCD) 패널 검사 시스템에 관한 것으로 특히, 전극 패드간의 피치에 관계없이 검사가 가능한 만능 LCD 패널 검사 시스템에 관한 것이다.

LCD는 기존의 CRT 표시장치를 대체할 수 있는 새로운 표시장치로서 해상도, 칼라표시 및 대형화의 개발에 박차가 가해지고 있어서 점차 차세대 표시장치로서의 위치를 차지하고 있다.

이러한 LCD 모듈의 예는 각종 문헌에 다수 공지되어 있으나 그중에서 예를들어 1990년 12월 11일장 출원된 실용신안등록출원 제90-19463호롤 참고로 LCD 모듈의 구성을 살펴본다.

제1도에 상기한 종래 LCD 모듈의 개략적인 단면도가 도시되어 있다.

종래의 LCD 모듈은 제1도에 도시된 바와 같이 LCD 패널(12)과, LCD 패널(12)를 구동하기 위한 각종 전자 부품(13)이 장착된 하부기판(14)과, 상기 LCD 패널(12)와 하분기판(14)를 상호 전기적으로 연결하기 위한 제브라(zebra) 콘넥터 (15)와, 나사 결합 수단(19)에 의해 상기 하부기판(14)에 고정되며 상기 LCD 패널(12)를 보호하기 위한 케이싱(16)으로 구성되다.

이와 같은 LCD 모듈을 제조함에 있어서 종래에는 제2도에 도시된 바와 같은 검사 시스템을 사용하고 LCD 모듈에 장착되는 LCD 패널 패턴 불량을 검사하였다.

제2도에서 참조번호 24는 전극패턴(22)이 인쇄된 LCD 패널이고, 26은 LCD 패널(12)의 각종 전극 단자 패넌에 접속되는 다수의 접속핀(27)이 형성된 전기 테스트용 지그(E/T Jig)이며, 28은 케이블(25)과 E/T 지그(26)의 접촉판(27)을 통하여 테스트될 LCD 패널(12)에 오픈/쇼트 검사용 신호를 인가하고 그 출력을 검사·분석하는 검사용 컴퓨터 시스템이고, 29는 컴퓨터 시스템의 처리 결과를 파독하기 위한 모니터이다.

이러한 종래의 검사시스템은 우선 E/T지그(26)가 복잡하고 고가이며, 검사용 컴퓨터 시스템(28) 또한 고가로 구성된다.

따라서 소량 다품종의 LCD 패널을 검사하는 경우에 있어서는 적합하지 못한 단점이 있다.

상기한 고가의 검사 시스템 대신에 저가의 LCD 패널 검사용 지그 PCB가 제3도에 도시되어 있다.

제3도에 도시된 지그 PCB는 각종 규격의 피치를 갖는 LCD 패널의 전극패턴에 대응하는 전극패턴(31)이 2개의 버스선(33,35)에 교대로 연결되어서 절연기판(30) 위에 형성되어 있다. 도시되지 않은 검사될 LCD 패널의 전극패턴과 지그 PCB의 전극 패턴(31)을 도시되지 않은 도전성 콘넥터를 통해 상호 연결한 후 2개 버스선(33,35) 양단에 형성된 패드(37,39) 사이에 검사신호를 인가하여 검사되는 LCD 패널의 오픈/쇼트 검사를 행함에 의해 LCD 패널의 패턴 불량을 검사한다.

그러나, 상기 지그 PCB방식은 LCD 패널의 크기에 따라 전극 패턴의 피치가 다르기 때문에 각 모델별로 지그 PCB를 제작해야하는 단점이 있었다.

본 발명은 상기한 종래기술의 문제점을 고려하여 이루어진 것으로 본 발명의 목적은 LCD 패널의 전극 패드간의 피치에 관계없이 검사를 행할 수 있는 LCD 패널 검사 시스템을 제공하는 것이다.

본 발명은 상기한 종래기술의 문제점을 고려하여 이루어진 것으로 본 발명의 목적은 LCD 패널의 전극 패드간의 피치에 관계없이 검사를 행할 수 있는 LCD 패널 검사 시스템을 제공하는 것이다.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 피검사될 액정디스플레이 패널의 전극 패턴에 접촉되는 바 형태의 제브라 콘넥터와, 상기 제브라 콘넥터가 수용되는 개구를 갖는 케이스와, 상기 케이스의 개구부 하부에 배치된 다수의 좌, 우 이동 가능한 전극 패드와, 상기 다수의 전극 패드와 교대로 전기적으로 접촉하는 1쌍의 도전성 안내바와, 상기 각 전극 패드간의 피치를 가변하기 위한 패드 피치 가변수단으로 구성되는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 패널 검사 시스템을 제공한다.

본 발명에 따르면, 상기 전극 패드는 상, 하측바와 상기 상, 하측바를 상호 연결하는 연결부를 포함하며, 절연성 수지로 이루어진형 몸체부와, 상기 몸체부의 상측바 표면과 상측바의 배면중 어느 한쪽에 형성된 도전성 피막으로 구성된다.

또한, 상기 패드 피치 가변수단은, 상기 각 전극 패드의 하부에 형성된 결합홈에 고정 삽입되는 돌편과, 상기 각 돌편에 각 턴의 상부점이 고정되고 일단이 상기 케이스에 고정된 탄성코일과, 상기 탄성코일의 타단에 일단이 연결되고 상기 케이스와 나사결합된 피치 조정 단자로 구성된다.

더욱, 상기 1쌍의 도전성 안내바는 각각 절연성 바와 상기 절연성바의 표면에 형성된 도전성 라인으로 구성되며, 상기 각 전극패드의 상, 하측바 사이의 공간에 결합되어, 상기 도전성 피막과 상기 도전성 라인이 상호 접촉된다.

따라서, 피치 조정 단자를 좌 또는 우로 회전시키면 이에 따라 탄성코일이 신장 또는 수축되며, 그 결과 탄성 코일이 각 상부점에 고정된 돌편도 함께 신장 또는 수축된다. 돌편의 변위에 따라 돌편과 결합된 전극 패드가 상기 안내바를 따라 이동하므로 전극 패드간의 피치를 측정하고자 하는 액정디스플레이 패널이 전극 패드의 피치와 동일하게 용이하게 조정할 수 있다.

다음에 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 더욱 상세히 설명한다.

제4도에는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 LCD 패널 검사 시스템의 분해도가 도시되어 있고, 제5도에는 제4도에서 X-X선을 따라 취한 단면도가 도시되어 있으며, 제6도에는 제5도에서 패널 피치 가변장치를 확대한 것이 도시되어 있다.

본 발명의 액정디스플레이(LCD) 패널 검사 시스템은 피검사될 액정디스플레이 패널(40)의 양측변에 위치된 전극 패턴과 접촉되는 바 형태의 제브라 콘넥터(41)와, 상기 제브라 콘넥터(42)가 수용되는 개구부(43)를 갖는 케이스(45)와, 상기 케이스 (45)의 개구부(43) 하부에 배치된 다수의 좌, 우 이동 가능한 전극 패드(47,47)와, 상기 다수의 전극 패드(47,47)와 교대로 전기적으로 접촉하는 1쌍의 도전성 안내바 (55,55′)와, 상기 각 전극 패드간의 피치를 가변하기 위한 패드 피치 가변장치 (P)으로 구성된다.

상기 전극 패드(47)의 사시도가 제7도에 도시되어 있다. 제7도에 도시된 사시도는 전극 패드(47)를 뒤집어 놓은 것이다. 제7도에 도시된 바와 같이 상기 전극 패드(47)는, 상, 하측바(74,75)와, 상기 상,하측바(74,75)를 상호 연결하는 연결부 (76)을 포함하며, 절연성 수지로 이루어진 ″ ″형 몸체부(77)와, 상기 몸체부977)의 상측바(74) 표면과 상측바(74)의 배면중 어느 한쪽에 형성된 도전성 피막(73)으로 구성된다.

또한, 제7도에 도시된 전극패드(47)는 도전성 피막(73)이 상측바(74)의 우측 배면부에까지 연장되어 형성되고, 좌측 배면부에는 형성되어 있지 않은 예이다.

따라서, 제3도에 도시된 바와 같은 검사 전극 패턴과 동일한 회로를 구성하기 위하여는 상기 도시된 예와 반대인 제6도에 도시된 전극 패드(47)가 필요하다.

즉, 도전성 피막(73)이 상측바(74)의 상부면과 좌측 배면부에만 형성된 전극패드(47)가 구비되어 제5도에 도시된 도전성 안내바(55)에 제7도에 도시된 전극패드 (47)와 교대로 배치된다.

이를 좀더 상세히 설명하기 위하여 제5도 및 제6도를 참조하면 피드 피치 가변장치(P)는 각 전극 패드(47 또는 47)의 하부에 형성된 결합흠(71)에 고정 삽입되는 돌편(57)과, 상기 각 돌편(57)에 각 턴의 상부점에 고정되고 일단이 상기 케이스(45)에 고정된 탄성코일(53)과, 상기 탄성코일(53)의 타단에 일단이 연결되고 상기 케이스(45)와 나사결합되는 피치 조정 단자(49)로 이루어진다.

또한, 상기 1쌍의 도전성 안내바(55, 55′)는 각각 절연성 플라스틱 수지로 이루어진 바(61, 61′)와 상기 절연성 바(61, 61′)의 표면에 형성된 도전성 라인(63, 63?으로 이루어진다.

따라서, 제6도에 도시된 바와 같이 2종류의 전극 패드(47, 47′)를 교대로 1쌍의 도전성 안내바(55, 55′)의 도전성 라인(63, 63′)과 접촉하게 된다.

상기와 같이 구성된 본 발명의 LCD 패널 검사 시스템은 먼저 상기 피치 조정단자(49)를 좌 또는 우 회전시켜 전극 패드(47,47′)간의 피치를 검사할 LCD 패널(40)의 전극 피치와 동일하게 조정한다.

그후 케이스(45)의 좌, 우측에 형성된 개구부(43)에 도전성 라인이 스트라이프 형태로 이루어진 4각 형태의 1쌍의 제브라 콘넥터(41)를 삽입하여, 개구부(43) 하부에 위치된 전극패드(47,47′)와 접촉시킨다.

그후 상기 1쌍의 제브라 콘넥터(41) 위에 검사할 LCD 패널을 위치시키고 양도전성 안내바(55, 55′)의 도전성 라인(63, 63′)을 통하여 검사 신호를 인가하여 LCD 패널(40)의 패턴 불량을 검사한다.

상기한 바와 같이 본 발명에 따르면, 어떠한 규격의 LCD 패널이라도 용이하게 전극 패드의 피치를 가변함에 의해 편리하고, 염가의 검사 시스템을 구성하는 것이 가능하다.

Claims (1)

1. 피검사될 액정디스플레이 패널(40)의 전극 패턴에 접촉되는 바 형태의 세브라 콘넥터(41)와 : 상기 제브라 콘넥터(41)가 수용되는 개구부(43)를 갖는 케이스(45)와 : 상기 케이스(45)의 개구부(43) 하부에 배치된 다수의 좌, 우 이동 가능한 전극패드(47, 47)와 상기 다수의 전극 패드(47, 47)와 교대로 전기적으로 접촉하는 1쌍의 도전성 안내바(55, 55)와, 상기 각 전극 패드(47, 47)간의 피치를 가변하기 위한 패드 피치 가변수단(P)으로 구성되며, 상기 전극 패드(47)는 상, 하측바(74, 75)와 상기 상, 하측바(74, 75)를 상호 연결하는 연결부(76)를 포함하며 절연성 수지로 이루어진 ″ ″ 형 몸체부(77)와, 상기 몸체부(77)의 상측바(74) 표면과 상측바(74)의 좌, 우 배면중 어느 한쪽에 형성된 도전성 피막(73)으로 구성되고, 상기 패드피치 가변수단 (P)은, 상기 각 전극 패드(47,47)의 하부에 형성된 결합흠(71)에 고정 삽입되는 돌편(57)과, 상기 각 돌편(57)에 각 턴의 상부점이 고정되고 일″단이 상기 케이스 (45)에 고정된 탄성 코일(53)과, 상기 탄성 코일(53)의 타단에 일단이 연결되고 상기 케이스(45)와 나사결합된 피치 조정 단자(49)로 구성되는 것을 특징으로 하는 액정디스플레이 패널 검사 시스템.