JPH0322119B2 - - Google Patents
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- JPH0322119B2 JPH0322119B2 JP56026700A JP2670081A JPH0322119B2 JP H0322119 B2 JPH0322119 B2 JP H0322119B2 JP 56026700 A JP56026700 A JP 56026700A JP 2670081 A JP2670081 A JP 2670081A JP H0322119 B2 JPH0322119 B2 JP H0322119B2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/002—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for television cameras
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/10—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from different wavelengths
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/10—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from different wavelengths
- H04N23/13—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from different wavelengths with multiple sensors
- H04N23/15—Image signal generation with circuitry for avoiding or correcting image misregistration
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Color Television Image Signal Generators (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は撮像管走査修正装置、とりわけ電子ビ
ーム走査および(または)自己走査撮像装置で発
生する幾何的誤差、整合誤差およびシエーデイン
グ誤差を修正する走査修正方式に関するものであ
る。
ーム走査および(または)自己走査撮像装置で発
生する幾何的誤差、整合誤差およびシエーデイン
グ誤差を修正する走査修正方式に関するものであ
る。
多撮像管ビデオカメラにおいて、各撮像管のタ
ーゲツトに形成された像は互いに対して正しく空
間的な対応性を有していなければならず、モニ
タ、テレビジヨン受像機などによつてのちに表示
されるカラー成分画像が確実に整合し、すなわち
すべての点で空間的に重なつているようにしなけ
ればならない。したがつてカラー分解装置および
カメラ撮像管は機械的に非常に安定していなけれ
ばならず、撮像管ターゲツトの上を走査する走査
パターンはできる限り安定でかつ同じでなければ
ならない。
ーゲツトに形成された像は互いに対して正しく空
間的な対応性を有していなければならず、モニ
タ、テレビジヨン受像機などによつてのちに表示
されるカラー成分画像が確実に整合し、すなわち
すべての点で空間的に重なつているようにしなけ
ればならない。したがつてカラー分解装置および
カメラ撮像管は機械的に非常に安定していなけれ
ばならず、撮像管ターゲツトの上を走査する走査
パターンはできる限り安定でかつ同じでなければ
ならない。
出力信号および被写体の輝度に関係するカメラ
の諸特性は使用するなんらかのガンマコレクタの
特性とともに、広範囲の被写体輝度にわたつて被
写体輝度の変化と表示される対応の変化との間に
ほぼ線形関係が存在するようにしなければならな
い。したがつていくつかの撮像管といくつかのガ
ンマコレクタを用いるカメラでは1つの撮像管と
それに対応するコレクタの特性を組み合わせたも
のがその他のものと充分に整合していなければな
らない。
の諸特性は使用するなんらかのガンマコレクタの
特性とともに、広範囲の被写体輝度にわたつて被
写体輝度の変化と表示される対応の変化との間に
ほぼ線形関係が存在するようにしなければならな
い。したがつていくつかの撮像管といくつかのガ
ンマコレクタを用いるカメラでは1つの撮像管と
それに対応するコレクタの特性を組み合わせたも
のがその他のものと充分に整合していなければな
らない。
したがつて従来技術の多撮像管を用いるカメラ
システムでは、まずコンピユータで偏向ヨークを
整合させてヨークおよび撮像管に同様の特性を与
えるようにし、したがつて走査ラスタ配置もでき
るだけ整合する。またマスタチユーブ/チヤネル
として1本の撮像管(たとえば緑カラーチヤネル
チユーブ)を選択してもよく、とりわけスレーブ
チユーブ/チヤネルの幾何的および整合走査誤差
と対応するように修正したさまざまなアナログ波
形駆動信号を適当な電子回路を通して印加し、こ
れによつてスレーブチユーブ(単数または複数)
の走査ラスタがマスタチユーブ走査ラスタと整合
する。
システムでは、まずコンピユータで偏向ヨークを
整合させてヨークおよび撮像管に同様の特性を与
えるようにし、したがつて走査ラスタ配置もでき
るだけ整合する。またマスタチユーブ/チヤネル
として1本の撮像管(たとえば緑カラーチヤネル
チユーブ)を選択してもよく、とりわけスレーブ
チユーブ/チヤネルの幾何的および整合走査誤差
と対応するように修正したさまざまなアナログ波
形駆動信号を適当な電子回路を通して印加し、こ
れによつてスレーブチユーブ(単数または複数)
の走査ラスタがマスタチユーブ走査ラスタと整合
する。
そのようなカメラシステムでは、もとの幾何的
および整合走査誤差は2つの走査波形と同期する
充分な数の整形波形を用いることによつて修正
し、つぎにこの波形をもとの走査波形と加算およ
び(または)変調することによつて印加する方法
がとられていた。しかし上述の方法を用いてもす
べての幾何的誤差および整合誤差を除去できるわ
けではなく、これは走査誤差が通常走査修正に用
いられている2次の鋸歯状波形および放物線波形
を近似しているにすぎないからである。
および整合走査誤差は2つの走査波形と同期する
充分な数の整形波形を用いることによつて修正
し、つぎにこの波形をもとの走査波形と加算およ
び(または)変調することによつて印加する方法
がとられていた。しかし上述の方法を用いてもす
べての幾何的誤差および整合誤差を除去できるわ
けではなく、これは走査誤差が通常走査修正に用
いられている2次の鋸歯状波形および放物線波形
を近似しているにすぎないからである。
また手動設定を用いるカメラシステムは中央制
御装置(CCU)と一体となつた制御パネルに配
置されたポテンシオメータを使用している。この
場合CCUはカメラヘツドユニツトから離れてお
りケーブルなどの多心平行導体によつてこれに結
合されている。このアナログ誤差修正信号を符号
化し、多重化し、復号するがこれにはかなりの量
のアナログ回路を必要とし、これはかなりのドリ
フトを発生するので安定性の問題が生ずる。ポテ
ンシオメータは継続的に読み取つて再調整しなけ
ればならず、そのためカメラヘツドシステムは適
切に動作させるためにはCCUからの信号で連続
して制御しなければならない。
御装置(CCU)と一体となつた制御パネルに配
置されたポテンシオメータを使用している。この
場合CCUはカメラヘツドユニツトから離れてお
りケーブルなどの多心平行導体によつてこれに結
合されている。このアナログ誤差修正信号を符号
化し、多重化し、復号するがこれにはかなりの量
のアナログ回路を必要とし、これはかなりのドリ
フトを発生するので安定性の問題が生ずる。ポテ
ンシオメータは継続的に読み取つて再調整しなけ
ればならず、そのためカメラヘツドシステムは適
切に動作させるためにはCCUからの信号で連続
して制御しなければならない。
一例にすぎないが上述の修正技術を利用して走
査およびシエーデイング誤差修正を行う典型的な
カメラシステムには放送用カラーカメラがある。
たとえば米国カリフオルニア州のアンペツクス・
コーポレーシヨンのアンベツクス「サービスデー
タパツケージ」マニユアルNo.180932601に示され
たモデルBCC-1およびBCC-10がある。
査およびシエーデイング誤差修正を行う典型的な
カメラシステムには放送用カラーカメラがある。
たとえば米国カリフオルニア州のアンペツクス・
コーポレーシヨンのアンベツクス「サービスデー
タパツケージ」マニユアルNo.180932601に示され
たモデルBCC-1およびBCC-10がある。
ここで説明するデイジタル走査修正技術は前述
の走査修正システムの欠点を解消するものであ
り、これは、たとえば白黒ビデオカメラまたはカ
ラービデオカメラの撮像センサ内および(または
マルチセンサ間で存在するどんな白黒シエーデイ
ング誤差およびどんな空間誤差をも自動的に検出
し、デイジタル的に処理および蓄積し、修正する
正確な装置を提供することによる。このため誤差
修正データならびに従来の制御信号をデイジタル
的にカメラヘツドシステム自体の中の記憶装置に
蓄積し、これによつてカメラヘツドはそのリアル
タイム動作中CCUとは独立してデイジタル修正
データを取り出す。
の走査修正システムの欠点を解消するものであ
り、これは、たとえば白黒ビデオカメラまたはカ
ラービデオカメラの撮像センサ内および(または
マルチセンサ間で存在するどんな白黒シエーデイ
ング誤差およびどんな空間誤差をも自動的に検出
し、デイジタル的に処理および蓄積し、修正する
正確な装置を提供することによる。このため誤差
修正データならびに従来の制御信号をデイジタル
的にカメラヘツドシステム自体の中の記憶装置に
蓄積し、これによつてカメラヘツドはそのリアル
タイム動作中CCUとは独立してデイジタル修正
データを取り出す。
この目的のために、テレビジヨンカメラの撮像
センサを走査する場合の時間的ばらつきの結果生
ずる幾何的誤差、およびセンサラスタのいずれか
の点において各走査ごとの絶対位置の間に時間的
な差が生ずるためマルチ撮像センサを有するビデ
オカメラ内に生ずる整合誤差を、多数の細かい白
黒水平および垂直線を有する電子的テストパター
ンを設け、1つのセンサまたはマルチセンサのビ
デオ信号をこのテストパターンと選択的に比較す
ることによつて測定する。
センサを走査する場合の時間的ばらつきの結果生
ずる幾何的誤差、およびセンサラスタのいずれか
の点において各走査ごとの絶対位置の間に時間的
な差が生ずるためマルチ撮像センサを有するビデ
オカメラ内に生ずる整合誤差を、多数の細かい白
黒水平および垂直線を有する電子的テストパター
ンを設け、1つのセンサまたはマルチセンサのビ
デオ信号をこのテストパターンと選択的に比較す
ることによつて測定する。
撮像管またはセンサからの出力が均一でないた
めに生ずる白黒シエーデイング誤差によつてビデ
オベースラインのドリフトおよびビデオレベルの
ばらつきが発生し、これはカメラレンズをキヤツ
プしたりしなかつたりすることによつてビデオ信
号の振幅をそれぞれの所定の白黒直流レベルと比
較することによつて測定する。
めに生ずる白黒シエーデイング誤差によつてビデ
オベースラインのドリフトおよびビデオレベルの
ばらつきが発生し、これはカメラレンズをキヤツ
プしたりしなかつたりすることによつてビデオ信
号の振幅をそれぞれの所定の白黒直流レベルと比
較することによつて測定する。
このため、従来のカメラヘツドシステムは適当
なビデオ処理回路に接続された撮像管、およびそ
の撮像管の走査制御装置に接続された増幅/駆動
回路を有する。誤差測定回路をビデオ処理回路に
接続してカメラヘツドシステムから赤、緑および
青のビデオ信号を選択された形で受信し、撮像管
で発生したシエーデイングおよび空間走査誤差を
判定する手段を与える。符号器/復号器および多
重装置/多重分離装置を誤差測定回路に接続し、
データ伝送チヤネルとともに使用してその出力の
デイジタル誤差データをカメラヘツドシステム内
の誤差修正回路に導入する。中央制御ユニツト
(CCU)マイクロプロセツサシステムは制御信号
およびアドレスを誤差測定回路ならびに符号器/
復号器および多重装置/多重分離装置に与える。
なビデオ処理回路に接続された撮像管、およびそ
の撮像管の走査制御装置に接続された増幅/駆動
回路を有する。誤差測定回路をビデオ処理回路に
接続してカメラヘツドシステムから赤、緑および
青のビデオ信号を選択された形で受信し、撮像管
で発生したシエーデイングおよび空間走査誤差を
判定する手段を与える。符号器/復号器および多
重装置/多重分離装置を誤差測定回路に接続し、
データ伝送チヤネルとともに使用してその出力の
デイジタル誤差データをカメラヘツドシステム内
の誤差修正回路に導入する。中央制御ユニツト
(CCU)マイクロプロセツサシステムは制御信号
およびアドレスを誤差測定回路ならびに符号器/
復号器および多重装置/多重分離装置に与える。
誤差修正回路はカメラヘツドマイクロプロセツ
サシステムおよび主記憶装置を有し、データ伝送
チヤネルを通して受信したデイジタル誤差データ
を(従来のカメラヘツド制御信号とともに)処理
する。リアルタイムのカメラ動作中、デイジタル
誤差データはカメラヘツドマイクロプロセツサシ
ステムを通して取り出され、カメラヘツドシステ
ム内の空間走査およびシエーデイング誤差修正回
路に印加される。誤差修正回路は修正されたアナ
ログ走査駆動波形を増幅/駆動回路を通して撮像
管に供給し、修正された直流シエーデイングレベ
ルをビデオ処理回路に印加する。ガンマ修正信号
は直接ビデオ処理回路に印加され、トータルラス
タ誤差修正を行う。
サシステムおよび主記憶装置を有し、データ伝送
チヤネルを通して受信したデイジタル誤差データ
を(従来のカメラヘツド制御信号とともに)処理
する。リアルタイムのカメラ動作中、デイジタル
誤差データはカメラヘツドマイクロプロセツサシ
ステムを通して取り出され、カメラヘツドシステ
ム内の空間走査およびシエーデイング誤差修正回
路に印加される。誤差修正回路は修正されたアナ
ログ走査駆動波形を増幅/駆動回路を通して撮像
管に供給し、修正された直流シエーデイングレベ
ルをビデオ処理回路に印加する。ガンマ修正信号
は直接ビデオ処理回路に印加され、トータルラス
タ誤差修正を行う。
このように誤差測定回路は、リアルタイムカメ
ラ動作に先だつて水平および垂直の幾何的および
整合誤差データを白黒シエーデイング誤差データ
とともに発生する自動装置を備えている。その出
力の誤差データをデイジタル化し、送信し、カメ
ラヘツドシステムに蓄積し、リアルタイムカメラ
動作中誤差修正データの形でそれぞれの撮像管駆
動回路およびビデオ処理回路に印加する。蓄積さ
れたデイジタル誤差データは誤差測定回路からの
新しい入力によつて必要の都度更新される。
ラ動作に先だつて水平および垂直の幾何的および
整合誤差データを白黒シエーデイング誤差データ
とともに発生する自動装置を備えている。その出
力の誤差データをデイジタル化し、送信し、カメ
ラヘツドシステムに蓄積し、リアルタイムカメラ
動作中誤差修正データの形でそれぞれの撮像管駆
動回路およびビデオ処理回路に印加する。蓄積さ
れたデイジタル誤差データは誤差測定回路からの
新しい入力によつて必要の都度更新される。
空間走査誤差とはここではつぎのように定義す
る。すなわち、たとえば多撮像管カラーテレビジ
ヨンカメラなどにおいてカメラの撮像管のターゲ
ツトの任意の点における各電子ビームの絶対位置
が時間的にずれるために生ずる整合誤差と、電子
ビームがテレビジヨンカメラの撮像管のターゲツ
トを横切つて走査するにつれ電子ビームの位置に
ずれが生ずるために発生する幾何学的な誤差との
組合せである。白黒のシエーデイング誤差とは装
置内の光学部品および電子部品に起因するビデオ
信号レベルの変化である。装置内で発生し本発明
によつて修正することのできるすべての誤差の組
合せをここでは「トータルラスタ」誤差と称す
る。
る。すなわち、たとえば多撮像管カラーテレビジ
ヨンカメラなどにおいてカメラの撮像管のターゲ
ツトの任意の点における各電子ビームの絶対位置
が時間的にずれるために生ずる整合誤差と、電子
ビームがテレビジヨンカメラの撮像管のターゲツ
トを横切つて走査するにつれ電子ビームの位置に
ずれが生ずるために発生する幾何学的な誤差との
組合せである。白黒のシエーデイング誤差とは装
置内の光学部品および電子部品に起因するビデオ
信号レベルの変化である。装置内で発生し本発明
によつて修正することのできるすべての誤差の組
合せをここでは「トータルラスタ」誤差と称す
る。
本装置は、ここでは「ボツクス」と称する多数
の小さな領域に画面を分割し、これらのボツクス
内の選択した点における撮像管走査信号をのちに
画面と比較する所定のテストパターンと比較する
ことによつて空間誤差すなわち走査誤差の測定を
自動的に行う。各ボツクスの大きさは典型的な幾
何学的誤差の大きさに比例する一定の係数で重み
づけされている。それぞれのボツクスのすべての
開始点および最後のボツクスの終了点における水
平および垂直位置の絶対誤差に比例する誤差波形
をカメラヘツドシステムの選択された記憶装置に
デイジタル的に蓄積する。これらの点の間の誤差
は、カメラヘツドシステム内の主記憶装置から走
査プロセス中に読み出されるにつれ各測定点間の
誤差をリアルタイムで積分することによつて補間
する。
の小さな領域に画面を分割し、これらのボツクス
内の選択した点における撮像管走査信号をのちに
画面と比較する所定のテストパターンと比較する
ことによつて空間誤差すなわち走査誤差の測定を
自動的に行う。各ボツクスの大きさは典型的な幾
何学的誤差の大きさに比例する一定の係数で重み
づけされている。それぞれのボツクスのすべての
開始点および最後のボツクスの終了点における水
平および垂直位置の絶対誤差に比例する誤差波形
をカメラヘツドシステムの選択された記憶装置に
デイジタル的に蓄積する。これらの点の間の誤差
は、カメラヘツドシステム内の主記憶装置から走
査プロセス中に読み出されるにつれ各測定点間の
誤差をリアルタイムで積分することによつて補間
する。
シエーデイング誤差はつぎのようにして抽出す
る。すなわちビデオ白黒電圧レベルを白のシエー
デイングの場合電子的テストパターンの白領域と
比較し、黒領域に於ては黒のシエーデイング用に
光が光学装置に入らないようにカメラレンズにキ
ヤツプをした場合と比較して、これらの誤差を各
撮像管またはセンサごとに画面全体にわたつて平
均化する。このシエーデイング誤差をデイジタル
化して空間誤差データと共にカメラシステムの記
憶装置に蓄積し、リアルタイムのカメラ動作時に
取り出す。
る。すなわちビデオ白黒電圧レベルを白のシエー
デイングの場合電子的テストパターンの白領域と
比較し、黒領域に於ては黒のシエーデイング用に
光が光学装置に入らないようにカメラレンズにキ
ヤツプをした場合と比較して、これらの誤差を各
撮像管またはセンサごとに画面全体にわたつて平
均化する。このシエーデイング誤差をデイジタル
化して空間誤差データと共にカメラシステムの記
憶装置に蓄積し、リアルタイムのカメラ動作時に
取り出す。
ガンマ誤差は、電子的テストパターンのグレー
領域における平均白/黒直流レベルに対するビデ
オ電圧レベルを比較することによつて抽出し、こ
のガンマ誤差をカメラシステムの記憶装置に蓄積
してのちにリアルタイムで取り出す。
領域における平均白/黒直流レベルに対するビデ
オ電圧レベルを比較することによつて抽出し、こ
のガンマ誤差をカメラシステムの記憶装置に蓄積
してのちにリアルタイムで取り出す。
第1図は本発明の基本的な組合せを示す簡単な
ブロツク図であり、これは全体としてカメラヘツ
ドシステム12を有し、このカメラヘツドシステ
ムは通常誤差測定システム14から離れた所に配
置されている。カメラヘツドシステム12は、通
常従来のカラースプリツト光学レンズ16と、そ
れぞれ赤、緑および青(RGB)ビデオカラー信
号を発生する三管配置18,20,22を有す
る。このRGBカラー信号を対応するビデオ処理
装置24に入力して、これはガンマ修正、マトリ
クシングなどを行い、さらに本発明によれば白黒
のシエーデイング誤差修正信号を受信する。つぎ
にその出力であるRGBカラー信号をトータルラ
スタ誤差測定装置26に入力し、これはその撮像
管が発生するシエーデイング誤差および空間誤差
を判定してそれに比例した誤差信号を発生する。
この誤差信号をデイジタル化し、これは水平およ
び垂直変位誤差信号および白黒シエーデイング誤
差信号を含む。つぎにこのデイジタル誤差データ
を装置28に印加し、この装置は全体として従来
の多重化および符号化機能を有する。装置28は
ここではデータ伝送装置、およびそのデータ伝送
に際してトータルラスタデイジタル誤差データを
復元する多重分離復号装置を有する。誤差測定装
置26、装置28の多重化装置および符号発生器
は中央制御装置(CCU)マイクロプロセツサシ
ステム30によつて制御される。
ブロツク図であり、これは全体としてカメラヘツ
ドシステム12を有し、このカメラヘツドシステ
ムは通常誤差測定システム14から離れた所に配
置されている。カメラヘツドシステム12は、通
常従来のカラースプリツト光学レンズ16と、そ
れぞれ赤、緑および青(RGB)ビデオカラー信
号を発生する三管配置18,20,22を有す
る。このRGBカラー信号を対応するビデオ処理
装置24に入力して、これはガンマ修正、マトリ
クシングなどを行い、さらに本発明によれば白黒
のシエーデイング誤差修正信号を受信する。つぎ
にその出力であるRGBカラー信号をトータルラ
スタ誤差測定装置26に入力し、これはその撮像
管が発生するシエーデイング誤差および空間誤差
を判定してそれに比例した誤差信号を発生する。
この誤差信号をデイジタル化し、これは水平およ
び垂直変位誤差信号および白黒シエーデイング誤
差信号を含む。つぎにこのデイジタル誤差データ
を装置28に印加し、この装置は全体として従来
の多重化および符号化機能を有する。装置28は
ここではデータ伝送装置、およびそのデータ伝送
に際してトータルラスタデイジタル誤差データを
復元する多重分離復号装置を有する。誤差測定装
置26、装置28の多重化装置および符号発生器
は中央制御装置(CCU)マイクロプロセツサシ
ステム30によつて制御される。
このデイジタル誤差データおよび従来のカメラ
ヘツド制御信号(第2図の入力68)をつぎにカ
メラヘツドマイクロプロセツサシステム32に印
加し、焦点、アイリスおよびフレア制御などの従
来の制御信号は主記憶装置72(第2図)に蓄積
し、トータルラスタ誤差データは関連するアドレ
スで規定される番地と共にラスタ誤差コレクタ装
置34の記憶装置(第6図)に蓄積する。つぎに
このデイジタル誤差データをマイクロプロセツサ
システム32によつてリアルタイムで取り出す。
マイクロプロセツサシステムは多重化/多重分離
装置28の多重分離部の制御も行う。記憶装置か
ら取り出したデイジタル誤差およびアドレスデー
タはアナログ誤差修正信号に変換してRGB撮像
管18,20,22に加算増幅駆動装置36を経
由して送る。白黒シエーデイング誤差修正信号は
直接ビデオプロセツサ装置24に入力する。した
がつて構成要素16〜24,32〜36は全体と
して前に述べたカメラヘツドシステム12を構成
する。ここでマイクロプロセツサシステム32は
MOSTEKの製造によるモデルF−8である。
ヘツド制御信号(第2図の入力68)をつぎにカ
メラヘツドマイクロプロセツサシステム32に印
加し、焦点、アイリスおよびフレア制御などの従
来の制御信号は主記憶装置72(第2図)に蓄積
し、トータルラスタ誤差データは関連するアドレ
スで規定される番地と共にラスタ誤差コレクタ装
置34の記憶装置(第6図)に蓄積する。つぎに
このデイジタル誤差データをマイクロプロセツサ
システム32によつてリアルタイムで取り出す。
マイクロプロセツサシステムは多重化/多重分離
装置28の多重分離部の制御も行う。記憶装置か
ら取り出したデイジタル誤差およびアドレスデー
タはアナログ誤差修正信号に変換してRGB撮像
管18,20,22に加算増幅駆動装置36を経
由して送る。白黒シエーデイング誤差修正信号は
直接ビデオプロセツサ装置24に入力する。した
がつて構成要素16〜24,32〜36は全体と
して前に述べたカメラヘツドシステム12を構成
する。ここでマイクロプロセツサシステム32は
MOSTEKの製造によるモデルF−8である。
オフラインの誤差測定期間中、カメラレンズ1
6は全体として水平および垂直の交互の白黒領域
39によつて画成される所定の光学テストパター
ン38を写し、これはここではガンマ修正用の所
定のグレー領域41をその間に有する。この場合
の例では、このテストパターン形状によつてテレ
ビジヨンカメラから電気出力が発生し、これは所
定の基準くりかえし周波数の所定の水平および垂
直タイミング情報を含むばかりでなく、白黒シエ
ーデイングおよびガンマ修正情報も含み、その周
波数は電子テストパターン信号の周波数と一致し
ている。空間修正の場合、この光学テストパター
ンからの電気的ビデオ信号を誤差測定装置26に
含まれたパターン38の電気的に発生した写しと
比較する。この電子的テストパターンは誤差を含
まず、カラーテレビジヨン放送システムの色差信
号の帯域幅に含まれる周波数を有する変調矩形波
の形をとる。
6は全体として水平および垂直の交互の白黒領域
39によつて画成される所定の光学テストパター
ン38を写し、これはここではガンマ修正用の所
定のグレー領域41をその間に有する。この場合
の例では、このテストパターン形状によつてテレ
ビジヨンカメラから電気出力が発生し、これは所
定の基準くりかえし周波数の所定の水平および垂
直タイミング情報を含むばかりでなく、白黒シエ
ーデイングおよびガンマ修正情報も含み、その周
波数は電子テストパターン信号の周波数と一致し
ている。空間修正の場合、この光学テストパター
ンからの電気的ビデオ信号を誤差測定装置26に
含まれたパターン38の電気的に発生した写しと
比較する。この電子的テストパターンは誤差を含
まず、カラーテレビジヨン放送システムの色差信
号の帯域幅に含まれる周波数を有する変調矩形波
の形をとる。
一般にガンマ修正で知られているように、グレ
ー領域41は次の式によつて白黒領域39と関係
するトランスミツタンス(またはリフレクタン
ス)を有する。
ー領域41は次の式によつて白黒領域39と関係
するトランスミツタンス(またはリフレクタン
ス)を有する。
Tgray=(Tblk+Twh/2)2.2
ただし1/2.2はテレビジヨンカメラのガンマ
則である。このシステムが1/2.2のガンマ則を有
しかつそれぞれ黒を0および白を1の値に校正し
た電子的テストパターン信号を発生するならば、
このビデオ回路の出力はつぎのようになる。
則である。このシステムが1/2.2のガンマ則を有
しかつそれぞれ黒を0および白を1の値に校正し
た電子的テストパターン信号を発生するならば、
このビデオ回路の出力はつぎのようになる。
黒=(0)1/2.2=0,白=(1)1/2.2=1,
グレー=〔(0+1/2)2.2〕1/2.2=0.5
したがつて本システムのガンマ則が1/2.2以外
のいずれの値をとるならば、白黒レベルは変化し
ないが、グレーレベルは0.5に等しくならないで
あろう。同様に出力において黒レベルプラス白レ
ベルの1/2がグレーレベルに等しくないならば、
その結果であるガンマ誤差を修正する修正電圧が
発生する(第7図)。
のいずれの値をとるならば、白黒レベルは変化し
ないが、グレーレベルは0.5に等しくならないで
あろう。同様に出力において黒レベルプラス白レ
ベルの1/2がグレーレベルに等しくないならば、
その結果であるガンマ誤差を修正する修正電圧が
発生する(第7図)。
第2図は本システムをさらに詳細に示し、第1
図と同様の構成要素には同じ符号が与えられてい
る。かくしてRGBカラー信号はビデオプロセツ
サ装置24、具体的にはそれぞれRGB差動増幅
器40,42,44の正の入力に与えられ、これ
はつぎに乗算点46,48,50に結合されてい
る。増幅器40,42,44の負の入力はRGB
黒シエーデイング誤差修正信号に結合され、
RGB白シエーデイング誤差修正信号は乗算点4
6,48,50にそれぞれ印加され、これについ
ては以下にさらに説明する。乗算点46,48,
50はビデオ処理回路52に結合され、これはた
とえば口径およびガンマ修正などの回路を形成
し、これは従来多撮像管ビデオカラーカメラに用
いられて放送用品質のカラーテレビジヨン信号を
発生する。このガンマ修正信号は点線のブロツク
53で図示されている従来のガンマ処理回路にマ
イクロプロセツサシステム32から入力線55を
経由して印加される。ビデオ処理回路装置52は
ここでは全体としてRGBカラー信号を発生する
ような従来のやり方で構成されている。
図と同様の構成要素には同じ符号が与えられてい
る。かくしてRGBカラー信号はビデオプロセツ
サ装置24、具体的にはそれぞれRGB差動増幅
器40,42,44の正の入力に与えられ、これ
はつぎに乗算点46,48,50に結合されてい
る。増幅器40,42,44の負の入力はRGB
黒シエーデイング誤差修正信号に結合され、
RGB白シエーデイング誤差修正信号は乗算点4
6,48,50にそれぞれ印加され、これについ
ては以下にさらに説明する。乗算点46,48,
50はビデオ処理回路52に結合され、これはた
とえば口径およびガンマ修正などの回路を形成
し、これは従来多撮像管ビデオカラーカメラに用
いられて放送用品質のカラーテレビジヨン信号を
発生する。このガンマ修正信号は点線のブロツク
53で図示されている従来のガンマ処理回路にマ
イクロプロセツサシステム32から入力線55を
経由して印加される。ビデオ処理回路装置52は
ここでは全体としてRGBカラー信号を発生する
ような従来のやり方で構成されている。
なお、ここで例として示した三管配置は別な個
数の撮像管や固体撮像素子およびその組合せなど
で置き換えてもよい。さらに、このラスタ誤差修
正システムは様々な白黒データ蓄積検索システム
などの高精度の白黒走査装置に使用することもで
き、ここで説明のためのみに示したようなカラー
ビデオシステムに使用するのに制限されるもので
はない。同様にビデオ処理回路52は符号化装置
を有していてもよく、これによつて誤差測定回路
26は第2図に示すRGBカラー信号ではなく符
号化された画像信号を取り扱うことになる。
数の撮像管や固体撮像素子およびその組合せなど
で置き換えてもよい。さらに、このラスタ誤差修
正システムは様々な白黒データ蓄積検索システム
などの高精度の白黒走査装置に使用することもで
き、ここで説明のためのみに示したようなカラー
ビデオシステムに使用するのに制限されるもので
はない。同様にビデオ処理回路52は符号化装置
を有していてもよく、これによつて誤差測定回路
26は第2図に示すRGBカラー信号ではなく符
号化された画像信号を取り扱うことになる。
このRGBカラー信号を誤差測定装置26に印
加し、具体的にはビデオセレクタスイツチ56を
介してその誤差測定回路54(さらに第3A図〜
第3D図および第7図に示す)の基準チヤネルお
よび被測定チヤネルの入力に選択的に印加する。
電子的なテストパターンに対応する外部基準信号
をセレクタスイツチ56にその基準電子テストパ
ターン信号入力58を介して導入するが、これに
ついては第8図にさらに示す。
加し、具体的にはビデオセレクタスイツチ56を
介してその誤差測定回路54(さらに第3A図〜
第3D図および第7図に示す)の基準チヤネルお
よび被測定チヤネルの入力に選択的に印加する。
電子的なテストパターンに対応する外部基準信号
をセレクタスイツチ56にその基準電子テストパ
ターン信号入力58を介して導入するが、これに
ついては第8図にさらに示す。
誤差測定回路54はそのビデオセレクタスイツ
チ56および基準電子テストパターン信号入力5
8に応じて多数の誤差信号出力を発生する。以下
にさらに説明するように、この電子テストパター
ン信号は水平および垂直タイミング基準信号なら
びに白黒シエーデイング振幅基準信号を含む。空
間誤差やシエーデイング誤差を測定する場合、対
応するテストパターン基準信号を選択的に緑のカ
ラー信号と比較して緑チヤネルの誤差修正値を発
生し、つぎにこの緑のカラー信号を選択的に赤お
よび青のカラー信号と比較して赤および青チヤネ
ルの誤差修正値を発生し、このシーケンスはビデ
オセレクタスイツチ56で決定する。誤差測定回
路54の誤差信号出力はつぎのものからなる。す
なわち、水平方向の測定入力と基準入力の時間差
の関数である誤差信号と、垂直方向の各入力の時
間差の関数である誤差信号と、測定入力および基
準入力の電圧の大きさの絶対値に比例し白黒シエ
ーデイング誤差を表わす一対の誤差信号である。
この黒のシエーデイング誤差信号と白のシエーデ
イング誤差信号は、カメラレンズを(電子的に)
キヤツプして光が入らないようにし、測定したビ
デオ信号を真の黒としたときに黒のシエーデイン
グ誤差が検出され、一方キヤツプをしないレンズ
を通して画像を観測しその光に比例するビデオ振
幅を測定して白のシエーデイング誤差が検出され
るという点で異なる。従つてシエーデイング誤差
データは直流電圧レベルで表わされる。
チ56および基準電子テストパターン信号入力5
8に応じて多数の誤差信号出力を発生する。以下
にさらに説明するように、この電子テストパター
ン信号は水平および垂直タイミング基準信号なら
びに白黒シエーデイング振幅基準信号を含む。空
間誤差やシエーデイング誤差を測定する場合、対
応するテストパターン基準信号を選択的に緑のカ
ラー信号と比較して緑チヤネルの誤差修正値を発
生し、つぎにこの緑のカラー信号を選択的に赤お
よび青のカラー信号と比較して赤および青チヤネ
ルの誤差修正値を発生し、このシーケンスはビデ
オセレクタスイツチ56で決定する。誤差測定回
路54の誤差信号出力はつぎのものからなる。す
なわち、水平方向の測定入力と基準入力の時間差
の関数である誤差信号と、垂直方向の各入力の時
間差の関数である誤差信号と、測定入力および基
準入力の電圧の大きさの絶対値に比例し白黒シエ
ーデイング誤差を表わす一対の誤差信号である。
この黒のシエーデイング誤差信号と白のシエーデ
イング誤差信号は、カメラレンズを(電子的に)
キヤツプして光が入らないようにし、測定したビ
デオ信号を真の黒としたときに黒のシエーデイン
グ誤差が検出され、一方キヤツプをしないレンズ
を通して画像を観測しその光に比例するビデオ振
幅を測定して白のシエーデイング誤差が検出され
るという点で異なる。従つてシエーデイング誤差
データは直流電圧レベルで表わされる。
その結果の白黒シエーデイング誤差信号をアナ
ログ・デイジタル(A/D)変換器60にアナロ
グデータセレクトスイツチ62およびサンプルホ
ールド回路64を通して入力する。データセレク
トスイツチ62によつて誤差測定回路54からこ
れに導入されたシエーデイング誤差信号を続けて
選択することができる。またサンプルホールド回
路64は従来のようにA/D変換期間中サンプル
された信号を一定に保つ。
ログ・デイジタル(A/D)変換器60にアナロ
グデータセレクトスイツチ62およびサンプルホ
ールド回路64を通して入力する。データセレク
トスイツチ62によつて誤差測定回路54からこ
れに導入されたシエーデイング誤差信号を続けて
選択することができる。またサンプルホールド回
路64は従来のようにA/D変換期間中サンプル
された信号を一定に保つ。
誤差測定回路54、ビデオセレクタスイツチ5
6、アナログデータセレクトスイツチ62および
A/D変換器60は(線109およびアドレス/
制御線235(第3C図)を通して)CCUマイ
クロプロセツサ30によつて制御される。これ
は、緑のカラー信号と比較する一連のテストパタ
ーン基準信号、一連の空間およびシエーデイング
誤差信号出力アドレス、選択された基準ごとのタ
イミング制御などを選択し、また誤差測定回路5
4に制御信号を選択的に受信供給するものであ
り、これについてはさらに以下に説明する。
6、アナログデータセレクトスイツチ62および
A/D変換器60は(線109およびアドレス/
制御線235(第3C図)を通して)CCUマイ
クロプロセツサ30によつて制御される。これ
は、緑のカラー信号と比較する一連のテストパタ
ーン基準信号、一連の空間およびシエーデイング
誤差信号出力アドレス、選択された基準ごとのタ
イミング制御などを選択し、また誤差測定回路5
4に制御信号を選択的に受信供給するものであ
り、これについてはさらに以下に説明する。
このテレビジヨンカメラの全体の自動設定手順
は特に空間誤差およびシエーデイング誤差修正手
順を含むが、第12図〜第19図のフロー図に示
されており、以下にそのルーチンおよびサブルー
チンをさらに説明する。
は特に空間誤差およびシエーデイング誤差修正手
順を含むが、第12図〜第19図のフロー図に示
されており、以下にそのルーチンおよびサブルー
チンをさらに説明する。
A/D変換器60が発生するデイジタルシエー
デイング誤差データ、ならびにデイジタル化した
水平および垂直空間誤差データを共通のデイジタ
ル誤差データバス65を通して、両方向バス67
からCCUマイクロプロセツサ30へ入力し、つ
ぎに符号化/多重化/多重分離/復号装置28に
相当する符号化/多重化/データ伝送装置66に
印加し、このデイジタルデータを直列データ流に
符号化多重し、カメラヘツドシステム12に転送
する。CCUマイクロプロセツサ30は各誤りデ
ータごとに特定のアドレスを与え、また装置66
のための従来のタイミング制御も行う。他の従来
のカメラヘツドデータ、たとえばカメラに必要な
絞り、焦点、同期、音声などの制御信号もデイジ
タル化して装置66へその入力68を通して加
え、カメラヘツドシステム12に多重化して伝送
する。このデータを所定のケーブルなどを通して
符号化/多重化/多重分離/復号装置28の多重
分離/復号装置70に転送し、この装置70は誤
差測定システム14でなくカメラヘツドシステム
12の中に設けてもよい。
デイング誤差データ、ならびにデイジタル化した
水平および垂直空間誤差データを共通のデイジタ
ル誤差データバス65を通して、両方向バス67
からCCUマイクロプロセツサ30へ入力し、つ
ぎに符号化/多重化/多重分離/復号装置28に
相当する符号化/多重化/データ伝送装置66に
印加し、このデイジタルデータを直列データ流に
符号化多重し、カメラヘツドシステム12に転送
する。CCUマイクロプロセツサ30は各誤りデ
ータごとに特定のアドレスを与え、また装置66
のための従来のタイミング制御も行う。他の従来
のカメラヘツドデータ、たとえばカメラに必要な
絞り、焦点、同期、音声などの制御信号もデイジ
タル化して装置66へその入力68を通して加
え、カメラヘツドシステム12に多重化して伝送
する。このデータを所定のケーブルなどを通して
符号化/多重化/多重分離/復号装置28の多重
分離/復号装置70に転送し、この装置70は誤
差測定システム14でなくカメラヘツドシステム
12の中に設けてもよい。
この復号した誤差およびアドレスデータをカメ
ラヘツドマイクロプロセツサシステム32に転送
し、これはカメラヘツドシステム12のタイミン
グ制御と共に誤差データおよびアドレスの蓄積お
よび読出しの制御を行い、これは多重分離/復号
装置70の制御も含む。マイクロプロセツサシス
テム32は伺記憶装置72、および装置34の誤
差修正回路ごとの空間誤差修正記憶装置280
(第6図)を有し、ここにアドレスデータで規定
されるカメラヘツドシステム12のすべてのラス
タ誤差データが蓄積される。従来の制御データは
主記憶装置72に蓄積されているので、カメラヘ
ツドシステム12は全体としてカメラのリアルタ
イム動作中CCUおよび誤差測定システム14か
ら独立である。カメラのリアルタイム動作中は、
センサの走査に伴なつて時間的にアドレスを発生
し、これによつてそのアドレスに対応する空間誤
差データやシエーデイング誤差データを空間誤差
修正記憶装置280から取り出し、誤差データを
ラスタ誤差修正装置34の各ラスタ誤差修正回路
74〜96に印加する。つぎに回路74〜96は
修正した誤差に対応するそれぞれのアナログ誤差
修正信号を供給する。誤差修正回路74〜96の
例を第6図に示す。
ラヘツドマイクロプロセツサシステム32に転送
し、これはカメラヘツドシステム12のタイミン
グ制御と共に誤差データおよびアドレスの蓄積お
よび読出しの制御を行い、これは多重分離/復号
装置70の制御も含む。マイクロプロセツサシス
テム32は伺記憶装置72、および装置34の誤
差修正回路ごとの空間誤差修正記憶装置280
(第6図)を有し、ここにアドレスデータで規定
されるカメラヘツドシステム12のすべてのラス
タ誤差データが蓄積される。従来の制御データは
主記憶装置72に蓄積されているので、カメラヘ
ツドシステム12は全体としてカメラのリアルタ
イム動作中CCUおよび誤差測定システム14か
ら独立である。カメラのリアルタイム動作中は、
センサの走査に伴なつて時間的にアドレスを発生
し、これによつてそのアドレスに対応する空間誤
差データやシエーデイング誤差データを空間誤差
修正記憶装置280から取り出し、誤差データを
ラスタ誤差修正装置34の各ラスタ誤差修正回路
74〜96に印加する。つぎに回路74〜96は
修正した誤差に対応するそれぞれのアナログ誤差
修正信号を供給する。誤差修正回路74〜96の
例を第6図に示す。
本発明によれば、誤差データがカメラヘツドシ
ステム12の中に蓄積されていると、このカメラ
を誤差測定システム14に接続していない場合更
新誤差情報が供給されることがある。マイクロプ
ロセツサシステム32はこのアドレスをとつて各
記憶装置から前の誤差データを取り出し、誤差測
定システム14を経由して供給された更新誤差デ
ータをとつて、これよを前の誤差データとたし算
またはひき算し、つぎにこの更新した誤差データ
を再び記憶装置に挿入する。つぎにカメラヘツド
システムのリアルタイム動作中この更新した誤差
データを取り出してカメラヘツドシステム12で
使用する。したがつて、空間/シエーデイング/
ガンマ誤差修正信号はカメラヘツド自体のデイジ
タル記憶装置および誤差修正回路を利用すること
により(遠方に位置する)カメラヘツドシステム
12の中で単独で得られることがわかる。
ステム12の中に蓄積されていると、このカメラ
を誤差測定システム14に接続していない場合更
新誤差情報が供給されることがある。マイクロプ
ロセツサシステム32はこのアドレスをとつて各
記憶装置から前の誤差データを取り出し、誤差測
定システム14を経由して供給された更新誤差デ
ータをとつて、これよを前の誤差データとたし算
またはひき算し、つぎにこの更新した誤差データ
を再び記憶装置に挿入する。つぎにカメラヘツド
システムのリアルタイム動作中この更新した誤差
データを取り出してカメラヘツドシステム12で
使用する。したがつて、空間/シエーデイング/
ガンマ誤差修正信号はカメラヘツド自体のデイジ
タル記憶装置および誤差修正回路を利用すること
により(遠方に位置する)カメラヘツドシステム
12の中で単独で得られることがわかる。
この目的のために、マイクロプロセツサシステ
ム32は空間誤差データを水平(H)RGB空間走査
誤差修正回路74,76,78および垂直(V)
RGB空間走査誤差修正回路80,82,84に
それぞれ印加する。ここでは緑のカラー修正回路
76および82をマスタエラーコレクタとして利
用し、これは入力58の基準すなわち電子的テス
トパターンに対して以前に取り出した緑チヤネル
誤差データに対応する空間誤差修正信号を出力す
る。赤および青(スレーブ)誤差修正回路74,
80および78,84はそれぞれ緑チヤネルに対
して以前に取り出した赤および青の誤差データに
対応する赤および青の空間誤差修正信号を発生
し、これによつて各撮像管ごとのどんなHおよび
Vの幾何学的修正、ならびに各撮像管の間のHお
よびVの整合修正を行うことができる。Hおよび
V誤差修正回路74ないし84で発生した走査誤
差修正波形は撮像管18,20,22のHおよび
V走査ヨーク(図示せず)に全体としては従来の
HおよびV加算増幅駆動装置36を介してそれぞ
れ印加される。この修正波形はそれぞれ入力93
および95を通して一般的に通常の方法で導入さ
れたマスタHおよびV鋸歯状波と重畳される。
ム32は空間誤差データを水平(H)RGB空間走査
誤差修正回路74,76,78および垂直(V)
RGB空間走査誤差修正回路80,82,84に
それぞれ印加する。ここでは緑のカラー修正回路
76および82をマスタエラーコレクタとして利
用し、これは入力58の基準すなわち電子的テス
トパターンに対して以前に取り出した緑チヤネル
誤差データに対応する空間誤差修正信号を出力す
る。赤および青(スレーブ)誤差修正回路74,
80および78,84はそれぞれ緑チヤネルに対
して以前に取り出した赤および青の誤差データに
対応する赤および青の空間誤差修正信号を発生
し、これによつて各撮像管ごとのどんなHおよび
Vの幾何学的修正、ならびに各撮像管の間のHお
よびVの整合修正を行うことができる。Hおよび
V誤差修正回路74ないし84で発生した走査誤
差修正波形は撮像管18,20,22のHおよび
V走査ヨーク(図示せず)に全体としては従来の
HおよびV加算増幅駆動装置36を介してそれぞ
れ印加される。この修正波形はそれぞれ入力93
および95を通して一般的に通常の方法で導入さ
れたマスタHおよびV鋸歯状波と重畳される。
この白黒シエーデイング誤差データを前述の順
序アドレスによつてRGB黒シエーデイング誤差
修正回路86,88,90およびRGB白シエー
デイング誤差修正回路92,94,96の空間誤
差修正記憶装置280からそれぞれ取り出す。前
に述べたように、修正回路86,88,90によ
つて発生した黒シエーデイング誤差修正波形はそ
れぞれRGB差動増幅器40,42,44の負の
入力に供給され、また修正回路92,94,96
で発生した白シエーデイング誤差修正波形は
RGB乗算点46,48,50にそれぞれ供給さ
れる。
序アドレスによつてRGB黒シエーデイング誤差
修正回路86,88,90およびRGB白シエー
デイング誤差修正回路92,94,96の空間誤
差修正記憶装置280からそれぞれ取り出す。前
に述べたように、修正回路86,88,90によ
つて発生した黒シエーデイング誤差修正波形はそ
れぞれRGB差動増幅器40,42,44の負の
入力に供給され、また修正回路92,94,96
で発生した白シエーデイング誤差修正波形は
RGB乗算点46,48,50にそれぞれ供給さ
れる。
ラスタ誤差修正装置26、すなわちスイツチ5
6および測定回路54の空間誤差測定部、ならび
にその動作は第4A図ないし第4L図および第5
A図ないし第5M図のグラフに例として示した波
形を参照して第3A図ないし第3D図に詳細に記
載されている。装置26のシエーデイングおよび
ガンマ誤差測定部を一体化したものは第7図に示
され、以下にさらに説明する。
6および測定回路54の空間誤差測定部、ならび
にその動作は第4A図ないし第4L図および第5
A図ないし第5M図のグラフに例として示した波
形を参照して第3A図ないし第3D図に詳細に記
載されている。装置26のシエーデイングおよび
ガンマ誤差測定部を一体化したものは第7図に示
され、以下にさらに説明する。
第3A図ないし第3D図では誤差測定回路54
は、電子パターン検出装置97(第3A図)、な
らびに水平誤差検出装置98(第3B図)および
垂直誤差検出装置99(第3C図および第3D
図)を有する。第3A図を参照すると、第2図の
ビデオセレクタスイツチ56は複数組の接点10
0a,b,c,dおよび102a,b,c,dを
有する。これらの接点は100aおよび102a
が同時に接触し、100bおよび102bが同時
に接触し、以下そのようになるように配置されて
いる。接点100a,b,cは第2図の誤差検出
回路54の「被測定チヤネル」入力に相当し、そ
れぞれビデオプロセツサ回路52から線104で
供給される通常のRGBカラー信号に結合されて
いる。接点100dおよび102dは(ブランク
されない)電子的テストパターン(ETP)信号
(第8図)にバツフア減衰回路106および入力
58を通して結合される。
は、電子パターン検出装置97(第3A図)、な
らびに水平誤差検出装置98(第3B図)および
垂直誤差検出装置99(第3C図および第3D
図)を有する。第3A図を参照すると、第2図の
ビデオセレクタスイツチ56は複数組の接点10
0a,b,c,dおよび102a,b,c,dを
有する。これらの接点は100aおよび102a
が同時に接触し、100bおよび102bが同時
に接触し、以下そのようになるように配置されて
いる。接点100a,b,cは第2図の誤差検出
回路54の「被測定チヤネル」入力に相当し、そ
れぞれビデオプロセツサ回路52から線104で
供給される通常のRGBカラー信号に結合されて
いる。接点100dおよび102dは(ブランク
されない)電子的テストパターン(ETP)信号
(第8図)にバツフア減衰回路106および入力
58を通して結合される。
Gカラー信号も接点102b,cに結合され、
接点102aもバツフア減衰回路106に結合さ
れている。セレクタスイツチ56はパターン/ビ
デオセレクタアドレス回路108によつてアドレ
ス指定され、これは線110を通して垂直ブラン
キング信号も受信する。パターンセレクトアドレ
ス回路108は、誤差測定回路54に供給される
被測定チヤネル入力および基準チヤネル入力に対
してCCUマイクロプロセツサシステム30を介
して線109に与えられる(第2図も参照)チヤ
ネル選択制御信号に応じてつぎの表に示す制御を
行う。A B 基準チヤネル 被測定チヤネル 0 0 ETP ETP 1 0 ETP G 0 1 G R 1 1 G B このETP信号は垂直ブランキング中接点10
0dおよび102dの両方に与えられる。
接点102aもバツフア減衰回路106に結合さ
れている。セレクタスイツチ56はパターン/ビ
デオセレクタアドレス回路108によつてアドレ
ス指定され、これは線110を通して垂直ブラン
キング信号も受信する。パターンセレクトアドレ
ス回路108は、誤差測定回路54に供給される
被測定チヤネル入力および基準チヤネル入力に対
してCCUマイクロプロセツサシステム30を介
して線109に与えられる(第2図も参照)チヤ
ネル選択制御信号に応じてつぎの表に示す制御を
行う。A B 基準チヤネル 被測定チヤネル 0 0 ETP ETP 1 0 ETP G 0 1 G R 1 1 G B このETP信号は垂直ブランキング中接点10
0dおよび102dの両方に与えられる。
ビデオセレクタスイツチ56の接点100およ
び102はそれぞれ実質的に同一の被測定チヤネ
ルおよび基準チヤネルに接続され、具体的には
455キロヘルツ(kHz)のオーダの3極低域フイ
ルタ112および7極低域フイルタ114に接続
されている。7極フイルタ112は0.5メガヘル
ツ(MHz)のテストパターン基準周波数で3極フ
イルタ114の信号を90゜だけ遅らせた信号を発
生する。フイルタ112,114はそれぞれ
100kHzのオーダの高域フイルタ119,120
を通してリミツタ/ダブラ回路116,118に
それぞれ接続されている。この基準チヤネルは基
準2Fパターン信号を線122に発生し、被測定
チヤネルは測定した2Fパターン信号を線124
に発生する。ここでFはテストパターン信号の基
本タイミング周波数成分であり、2Fは基本周波
数の2倍の信号である。これについてはさらに以
下に説明する。
び102はそれぞれ実質的に同一の被測定チヤネ
ルおよび基準チヤネルに接続され、具体的には
455キロヘルツ(kHz)のオーダの3極低域フイ
ルタ112および7極低域フイルタ114に接続
されている。7極フイルタ112は0.5メガヘル
ツ(MHz)のテストパターン基準周波数で3極フ
イルタ114の信号を90゜だけ遅らせた信号を発
生する。フイルタ112,114はそれぞれ
100kHzのオーダの高域フイルタ119,120
を通してリミツタ/ダブラ回路116,118に
それぞれ接続されている。この基準チヤネルは基
準2Fパターン信号を線122に発生し、被測定
チヤネルは測定した2Fパターン信号を線124
に発生する。ここでFはテストパターン信号の基
本タイミング周波数成分であり、2Fは基本周波
数の2倍の信号である。これについてはさらに以
下に説明する。
電子パターン検出装置97はさらに同一の被測
定パターン有効チヤネルおよび基準パターン有効
チヤネルを有し、これらは有効な電子的テストパ
ターンの存否を表わす信号を発生する。この目的
のために、被測定ピーク検出器126および基準
ピーク検出器128が低域フイルタ112および
114にそれぞれ結合され、つぎに低域フイルタ
130,132に結合されている。被測定および
基準比較器134,136がフイルタ130,1
32に結合され、それぞれ線138,140に被
測定および基準パターン有効信号を発生する。こ
れらの信号は被測定および基準チヤネルに用い
た、すなわち線122,124の基準2Fパター
ン信号および被測定2Fパターン信号の発生に用
いた電子的テストパターンが存在し有効であるこ
とを示している。
定パターン有効チヤネルおよび基準パターン有効
チヤネルを有し、これらは有効な電子的テストパ
ターンの存否を表わす信号を発生する。この目的
のために、被測定ピーク検出器126および基準
ピーク検出器128が低域フイルタ112および
114にそれぞれ結合され、つぎに低域フイルタ
130,132に結合されている。被測定および
基準比較器134,136がフイルタ130,1
32に結合され、それぞれ線138,140に被
測定および基準パターン有効信号を発生する。こ
れらの信号は被測定および基準チヤネルに用い
た、すなわち線122,124の基準2Fパター
ン信号および被測定2Fパターン信号の発生に用
いた電子的テストパターンが存在し有効であるこ
とを示している。
ピーク検出器128の搬送波周波数出力端子は
増幅器142に結合され、線144に基準Fデー
タ信号を与え、ピーク検出器126の搬送波周波
数出力端子は増幅器146に結合され線148に
被測定Fデータ信号を与える。パターン検出装置
97で発生した被測定および基準周波数信号は基
本的には、それぞれ到来する被測定および基準チ
ヤネルビデオ信号の特定の時点に対応する遷移点
を有するタイミング信号からなる。
増幅器142に結合され、線144に基準Fデー
タ信号を与え、ピーク検出器126の搬送波周波
数出力端子は増幅器146に結合され線148に
被測定Fデータ信号を与える。パターン検出装置
97で発生した被測定および基準周波数信号は基
本的には、それぞれ到来する被測定および基準チ
ヤネルビデオ信号の特定の時点に対応する遷移点
を有するタイミング信号からなる。
パターン検出装置97の出力は水平および垂直
検出装置98,99にさまざまに印加される。第
3B図において、線122の基準2F信号はORゲ
ート150の一方の入力に印加され、これは位相
検出器152の一体部分を形成し、これは一方の
入力がORゲート150に結合され他方の入力が
線124の被測定2F信号に結合されたラツチを
有する。位相検出器/ラツチ152は電流源15
4に結合され、つぎに158で接地されたコンデ
ンサ156に、接地スイツチ160の片側に、そ
して増幅器162に結合されている。A/D変換
器164が増幅器162に結合され、これは8ビ
ツト並列語を並直列変換器166に供給する。こ
の直列語を直列加算器170の第1の入力を通し
てシフトレジスタ168に入力し、シフトレジス
タはANDゲート172を通して加算器の第2の
入力に帰還される。構成要素168,170,1
72は直列加算および累算回路である。シフトレ
ジスタ168の出力は加算の累積結果を与え、直
並列変換/ラツチ装置174に結合され、これは
マイクロプロセツサシステム30(第2図および
第9図)からの線175の水平駆動信号に応じて
8ビツト並列データ語を水平誤差データバス17
6に発生する。H誤差データバス176は第2図
の共通データバス65に対応する。これらのデー
タ語はリアルタイムカメラ動作において蓄積され
のちに水平空間誤差修正回路74,76,78
(第2図)で使用する水平空間誤差を規定する。
検出装置98,99にさまざまに印加される。第
3B図において、線122の基準2F信号はORゲ
ート150の一方の入力に印加され、これは位相
検出器152の一体部分を形成し、これは一方の
入力がORゲート150に結合され他方の入力が
線124の被測定2F信号に結合されたラツチを
有する。位相検出器/ラツチ152は電流源15
4に結合され、つぎに158で接地されたコンデ
ンサ156に、接地スイツチ160の片側に、そ
して増幅器162に結合されている。A/D変換
器164が増幅器162に結合され、これは8ビ
ツト並列語を並直列変換器166に供給する。こ
の直列語を直列加算器170の第1の入力を通し
てシフトレジスタ168に入力し、シフトレジス
タはANDゲート172を通して加算器の第2の
入力に帰還される。構成要素168,170,1
72は直列加算および累算回路である。シフトレ
ジスタ168の出力は加算の累積結果を与え、直
並列変換/ラツチ装置174に結合され、これは
マイクロプロセツサシステム30(第2図および
第9図)からの線175の水平駆動信号に応じて
8ビツト並列データ語を水平誤差データバス17
6に発生する。H誤差データバス176は第2図
の共通データバス65に対応する。これらのデー
タ語はリアルタイムカメラ動作において蓄積され
のちに水平空間誤差修正回路74,76,78
(第2図)で使用する水平空間誤差を規定する。
水平誤差検出装置98は水平誤差の発生を制御
する回路を有する。この目的のために周波数ダブ
ラ178が線144の基準F信号に結合され、
ANDゲート180がそれぞれ線138,140
の被測定および基準パターン有効信号に結合され
ている。「ボツクス選択」コマンドがサンプルを
抽出するボツクスを識別するものであるが、これ
も線181を通してANDゲート180へ垂直検
出装置99から与えられるが、これについて以下
にさらに説明する。ダブラ178は1/4(÷4)
カウンタ182にクロツクを与え、ANDゲート
180はそのリセツトパルスを発生する。
する回路を有する。この目的のために周波数ダブ
ラ178が線144の基準F信号に結合され、
ANDゲート180がそれぞれ線138,140
の被測定および基準パターン有効信号に結合され
ている。「ボツクス選択」コマンドがサンプルを
抽出するボツクスを識別するものであるが、これ
も線181を通してANDゲート180へ垂直検
出装置99から与えられるが、これについて以下
にさらに説明する。ダブラ178は1/4(÷4)
カウンタ182にクロツクを与え、ANDゲート
180はそのリセツトパルスを発生する。
÷4カウンタ182は4番目の到来パルスごと
に一対の駆動信号を発生し、一方の駆動信号は
ORゲート150に与えられ、その両方がNAND
ゲート184に加えられる。後者はリセツトラツ
チ186に結合され、またD型ラツチ188にも
結合されている。これは線190の500kHzクロ
ツクによつて同期をとつている。D型ラツチ18
8のQ出力はA/D変換器164の「変換開始」
入力に供給され、入力に供給され、リセツトラツ
チ186は接地スイツチ160のスイツチング制
御を行う。遅延回路192は線190の500kHz
クロツクと同期しており、A/D変換器164の
「変換終了」信号に応じてリセツトラツチ186
に出力を供給し、またシフトレジスタ遅延回路1
94のD入力に出力を与える。後者の回路も線1
90の500kHzクロツクで同期しており、1/8
(÷8)カウンタ196に結合されている。カウ
ンタ196の出力信号はカウンタが0を計数する
とANDゲート172の第2の入力に供給され、
その出力信号は第8番目の入力パルスを表わす
が、ラツチ198、直列加算器170の桁上げ入
力、および直並列変換器/ラツチ装置174のス
トローブ入力に供給される。ラツチ198は線2
02のマイクロプロセツサシステム30(第2図
および第9図)からの水平リセツトパルスおよび
サンプル中の列を表わし線204の垂直検出装置
99からのびる「列選択」信号に応じて線200
に水平「データレデイ」信号を発生する。加算器
170、シフトレジスタ168および変換器/ラ
ツチ174のクロツク入力は線190のクロツク
に動作上結合されている。
に一対の駆動信号を発生し、一方の駆動信号は
ORゲート150に与えられ、その両方がNAND
ゲート184に加えられる。後者はリセツトラツ
チ186に結合され、またD型ラツチ188にも
結合されている。これは線190の500kHzクロ
ツクによつて同期をとつている。D型ラツチ18
8のQ出力はA/D変換器164の「変換開始」
入力に供給され、入力に供給され、リセツトラツ
チ186は接地スイツチ160のスイツチング制
御を行う。遅延回路192は線190の500kHz
クロツクと同期しており、A/D変換器164の
「変換終了」信号に応じてリセツトラツチ186
に出力を供給し、またシフトレジスタ遅延回路1
94のD入力に出力を与える。後者の回路も線1
90の500kHzクロツクで同期しており、1/8
(÷8)カウンタ196に結合されている。カウ
ンタ196の出力信号はカウンタが0を計数する
とANDゲート172の第2の入力に供給され、
その出力信号は第8番目の入力パルスを表わす
が、ラツチ198、直列加算器170の桁上げ入
力、および直並列変換器/ラツチ装置174のス
トローブ入力に供給される。ラツチ198は線2
02のマイクロプロセツサシステム30(第2図
および第9図)からの水平リセツトパルスおよび
サンプル中の列を表わし線204の垂直検出装置
99からのびる「列選択」信号に応じて線200
に水平「データレデイ」信号を発生する。加算器
170、シフトレジスタ168および変換器/ラ
ツチ174のクロツク入力は線190のクロツク
に動作上結合されている。
第3C図および第3D図の垂直誤差検出装置9
9は全体として同様な被測定チヤネルおよび基準
チヤネルを介して等価な垂直空間誤差を発生す
る。かくしてD型フリツプフロツプラツチ20
6,208は線201のH/64周波数(1MHz)
クロツクによつて同期しており、それぞれ線14
8,144で電子パターン検出装置97から被測
定F信号および基準F信号を受信する。このラツ
チ出力はそれぞれ2線遅延回路212,214に
供給され、つぎに排他的ORゲート216,21
8に印加される。これらのゲートもそれぞれフリ
ツプフロツプ206,208の出力に結合されて
いる。遅延回路212,214は線210のH/
64クロツクに結線され同期がとられている。線1
38,140の被測定および基準パターン有効信
号はラツチ220,222に供給され、その第2
の入力がそれぞれ2線遅延回路212,214に
結合されている。ラツチ220,222はD型ラ
ツチ224,226のリセツト入力に結合され、
そのD入力はそれぞれ排他的ORゲート216,
218の出力を受信する。ラツチ224,226
はNANDゲート228,230を通してクロツ
ク同期しており、これらの入力は線181のボツ
クス選択コマンドおよび線210のH/64クロツ
クに結合されている。
9は全体として同様な被測定チヤネルおよび基準
チヤネルを介して等価な垂直空間誤差を発生す
る。かくしてD型フリツプフロツプラツチ20
6,208は線201のH/64周波数(1MHz)
クロツクによつて同期しており、それぞれ線14
8,144で電子パターン検出装置97から被測
定F信号および基準F信号を受信する。このラツ
チ出力はそれぞれ2線遅延回路212,214に
供給され、つぎに排他的ORゲート216,21
8に印加される。これらのゲートもそれぞれフリ
ツプフロツプ206,208の出力に結合されて
いる。遅延回路212,214は線210のH/
64クロツクに結線され同期がとられている。線1
38,140の被測定および基準パターン有効信
号はラツチ220,222に供給され、その第2
の入力がそれぞれ2線遅延回路212,214に
結合されている。ラツチ220,222はD型ラ
ツチ224,226のリセツト入力に結合され、
そのD入力はそれぞれ排他的ORゲート216,
218の出力を受信する。ラツチ224,226
はNANDゲート228,230を通してクロツ
ク同期しており、これらの入力は線181のボツ
クス選択コマンドおよび線210のH/64クロツ
クに結合されている。
前に述べたボツクス選択コマンドはデイジタル
振幅比較回路232で発生し、これは入力バス2
33を通して水平および垂直同期発生アドレスに
結合され、入力バス235を通して水平および垂
直ボツクスアドレスに結合されている(第2図も
参照)。これらの同期およびボツクスアドレスは
それぞれCCUマイクロプロセツサシステム30
で発生する8ビツト語からなつている。デイジタ
ル振幅比較回路232は線204に列選択コマン
ドも発生し、これは2フイールドカウンタ23
4、フリツプフロツプ244,246(第3D
図)、および水平誤差検出装置98のラツチ19
8に供給される。マイクロプロセツサシステム3
0からの必要な4ビツトVボツクスアドレスがシ
ステム同期発生器(第10図,第11図の同期発
生器/インタフエースと同様の)システム同期発
生器からの4ビツトV同期アドレスと等しいと、
線204の列選択コマンドが所定のボツクスに対
して発生する。比較器232の垂直部分の列選択
コマンドをその水平部分に印加すると、Hボツク
スアドレスがH同期アドレスに等しくかつ垂直列
期間に等しければボツクス選択コマンドが線18
1に発生する。
振幅比較回路232で発生し、これは入力バス2
33を通して水平および垂直同期発生アドレスに
結合され、入力バス235を通して水平および垂
直ボツクスアドレスに結合されている(第2図も
参照)。これらの同期およびボツクスアドレスは
それぞれCCUマイクロプロセツサシステム30
で発生する8ビツト語からなつている。デイジタ
ル振幅比較回路232は線204に列選択コマン
ドも発生し、これは2フイールドカウンタ23
4、フリツプフロツプ244,246(第3D
図)、および水平誤差検出装置98のラツチ19
8に供給される。マイクロプロセツサシステム3
0からの必要な4ビツトVボツクスアドレスがシ
ステム同期発生器(第10図,第11図の同期発
生器/インタフエースと同様の)システム同期発
生器からの4ビツトV同期アドレスと等しいと、
線204の列選択コマンドが所定のボツクスに対
して発生する。比較器232の垂直部分の列選択
コマンドをその水平部分に印加すると、Hボツク
スアドレスがH同期アドレスに等しくかつ垂直列
期間に等しければボツクス選択コマンドが線18
1に発生する。
ラツチ224,226のQ出力が低域フイルタ
236,238に与えられ、つぎに各スライサ回
路240,242に与えられる。後者はD型フリ
ツプフロツプ244,246のクロツク入力に結
合され、そのリセツト入力は線204の列選択コ
マンドに結合され、そのD入力はプラス5V電圧
源に結合されている。フリツプフロツプ244,
246は被測定チヤネル信号および基準チヤネル
信号をそれぞれ発生し、排他的ORゲート248
に結合されている。基準チヤネルのフリツプフロ
ツプ246もD型フリツプフロツプ250のD入
力に結合されている。後者のクロツク入力は排他
的ORゲート248の出力に結合され、これはま
たNANDゲート252の一方の入力にも供給さ
れている。NANDゲート252の他の入力は線
254の250kHzクロツクに結合されている。
NANDゲート252はカウンタ256のクロツ
クを発生し、そのリセツト入力は前に述べた2フ
イールドカウンタ234のストローブ信号に遅延
回路257を介して結合されている。カウンタ2
56の出力は2つのフイールドに渡つて平均化さ
れた垂直誤差を与え、排他的ORゲート258に
結合されている。このゲートはまたフリツプフロ
ツプ250のQ出力を受信する。誤差の方向に対
応するフリツプフロツプ250の出力は排他的
ORゲート258からの平均誤差信号とともに垂
直データラツチ260へ供給される。データラツ
チ260は2フイールドカウンタ234の出力で
ストローブされ、その駆動入力が線262のマイ
クロプロセツサシステム30(第2図および第9
図)からの垂直3状態駆動信号に結合されてい
る。ラツチ264を2フイールドカウンタ234
の出力で遅延回路265を介してストローブし、
垂直データレデイ信号を線266を通してマイク
ロプロセツサシステム30へ与え、マイクロプロ
セツサからは線268を通して垂直リセツト信号
を受信する。この垂直データレデイ信号はインバ
ータ269を介して2フイールドカウンタ234
のセツト入力に与えられる。垂直誤差信号はデー
タラツチ260から並列8ビツト語として水平誤
差データバス176(第3B図)に相当する垂直
誤差データバス270に供給され、そして第2図
の共通データバス65に供給される。
236,238に与えられ、つぎに各スライサ回
路240,242に与えられる。後者はD型フリ
ツプフロツプ244,246のクロツク入力に結
合され、そのリセツト入力は線204の列選択コ
マンドに結合され、そのD入力はプラス5V電圧
源に結合されている。フリツプフロツプ244,
246は被測定チヤネル信号および基準チヤネル
信号をそれぞれ発生し、排他的ORゲート248
に結合されている。基準チヤネルのフリツプフロ
ツプ246もD型フリツプフロツプ250のD入
力に結合されている。後者のクロツク入力は排他
的ORゲート248の出力に結合され、これはま
たNANDゲート252の一方の入力にも供給さ
れている。NANDゲート252の他の入力は線
254の250kHzクロツクに結合されている。
NANDゲート252はカウンタ256のクロツ
クを発生し、そのリセツト入力は前に述べた2フ
イールドカウンタ234のストローブ信号に遅延
回路257を介して結合されている。カウンタ2
56の出力は2つのフイールドに渡つて平均化さ
れた垂直誤差を与え、排他的ORゲート258に
結合されている。このゲートはまたフリツプフロ
ツプ250のQ出力を受信する。誤差の方向に対
応するフリツプフロツプ250の出力は排他的
ORゲート258からの平均誤差信号とともに垂
直データラツチ260へ供給される。データラツ
チ260は2フイールドカウンタ234の出力で
ストローブされ、その駆動入力が線262のマイ
クロプロセツサシステム30(第2図および第9
図)からの垂直3状態駆動信号に結合されてい
る。ラツチ264を2フイールドカウンタ234
の出力で遅延回路265を介してストローブし、
垂直データレデイ信号を線266を通してマイク
ロプロセツサシステム30へ与え、マイクロプロ
セツサからは線268を通して垂直リセツト信号
を受信する。この垂直データレデイ信号はインバ
ータ269を介して2フイールドカウンタ234
のセツト入力に与えられる。垂直誤差信号はデー
タラツチ260から並列8ビツト語として水平誤
差データバス176(第3B図)に相当する垂直
誤差データバス270に供給され、そして第2図
の共通データバス65に供給される。
動作を説明すると、パターン検出装置97の入
力58における電子的テストパターンは2次元光
学テストパターン38(第1図,第2図)の電子
的写しであり、水平および垂直の白黒線の完全な
配置(これはその間にガンマ修正用のグレー遷移
を有していてもよい)。パターン検出装置97は
2つの同一の回路、すなわち基準チヤネルおよび
被測定チヤネルを有する。初期設定では、このと
き基準チヤネルおよび被測定チヤネルの電子回路
の間のタイミングのいずれの繰り返し可能な誤差
または不一致は、事実それらが存在していなくて
も空間/シエーデイング誤差として誤つて現れ得
るものであり、測定され本装置によつてのちに使
用するために蓄積される。基準チヤネルと被測定
チヤネル間のこれらの本質的な回路誤差をカメラ
撮像管から信号を受信していない垂直ブランキン
グにおいて測定する。
力58における電子的テストパターンは2次元光
学テストパターン38(第1図,第2図)の電子
的写しであり、水平および垂直の白黒線の完全な
配置(これはその間にガンマ修正用のグレー遷移
を有していてもよい)。パターン検出装置97は
2つの同一の回路、すなわち基準チヤネルおよび
被測定チヤネルを有する。初期設定では、このと
き基準チヤネルおよび被測定チヤネルの電子回路
の間のタイミングのいずれの繰り返し可能な誤差
または不一致は、事実それらが存在していなくて
も空間/シエーデイング誤差として誤つて現れ得
るものであり、測定され本装置によつてのちに使
用するために蓄積される。基準チヤネルと被測定
チヤネル間のこれらの本質的な回路誤差をカメラ
撮像管から信号を受信していない垂直ブランキン
グにおいて測定する。
この目的のため第3A図ないし第3D図を参照
すると、マイクロプロセツサシステム30の線1
09による制御によつてパターン/ビデオ選択ア
ドレス回路108および線110の垂直ブランキ
ング信号に応じてビデオセレクトスイツチ56を
接点100dおよび102dに切り換え、これに
よつて電子テストパターン信号を基準チヤネルお
よび被測定チヤネルの両方に印加する。両入力は
同一であるので、水平および垂直出力バス17
6,270に現われるどんな誤差も内部回路誤差
となり、空間誤差またはシエーデイング誤差では
ない。これらの信号を測定して基準チヤネルおよ
び被測定チヤネルを経由して蓄積する方法は空間
修正誤差を検出する処理と同様であり、これにつ
いて以下にさらに詳細に説明する。
すると、マイクロプロセツサシステム30の線1
09による制御によつてパターン/ビデオ選択ア
ドレス回路108および線110の垂直ブランキ
ング信号に応じてビデオセレクトスイツチ56を
接点100dおよび102dに切り換え、これに
よつて電子テストパターン信号を基準チヤネルお
よび被測定チヤネルの両方に印加する。両入力は
同一であるので、水平および垂直出力バス17
6,270に現われるどんな誤差も内部回路誤差
となり、空間誤差またはシエーデイング誤差では
ない。これらの信号を測定して基準チヤネルおよ
び被測定チヤネルを経由して蓄積する方法は空間
修正誤差を検出する処理と同様であり、これにつ
いて以下にさらに詳細に説明する。
垂直ブランキング期間中固有の回路誤差を測定
して蓄積したのち、ビデオセレクト56をパター
ン/ビデオアドレスセレクト回路108を介して
マイクロプロセツサシステム30の制御によつて
位置100aおよび102aに切り換え、これに
よつて電子的テストパターンが基準チヤネルの低
域フイルタ114に供給され、緑のカラー信号が
被測定チヤネルの低域フイルタ112へ供給され
る。空間/シエーデイング誤差を測定し蓄積する
カメラの設定期間において、入力58の電子テス
トパターン信号は基本的には線104のビデオ信
号と同じであり、ただビデオ信号が訂正すべき空
間誤差およびシエーデイング誤差を含む点で相違
するだけである。第4A図ないし第4L図および
第5A図ないし第5M図はそれぞれ第3A図ない
し第3D図の回路に印加されたりその中で発生し
たりする波形の水平および垂直周波数波形を示し
ている。したがつて第4A図および第5A図はそ
れぞれ水平周波数および垂直周波数における電子
テストパターン信号およびビデオ信号を示してい
る。第4A図は525本の走査線のNTSCテレビジ
ヨン標準方式における0.5MHz矩形波、すなわち
63.55マイクロ秒(μs)の走査線周期の電子的テ
ストパターンのテレビジヨン信号を示す。第5A
図は15.3ミリ秒(ms)の垂直速度における信号
を示し、これは60Hz525NTSCテレビジヨン画像
の動作時間であり、矩形波バーストおよびグレー
レベルがその間に存在する。この矩形波を白黒シ
エーデイング誤差測定および空間誤差測定に使用
し、グレーレベルはここではたとえばガンマ修正
に使用する。したがつて被測定チヤネルの緑のカ
ラー信号を基準チヤネルの電子テストパターン信
号と比較して前者の空間誤差を判定し、これをつ
ぎにデイジタル的に蓄積してのちにカメラのリア
ルタイム動作に使用する。
して蓄積したのち、ビデオセレクト56をパター
ン/ビデオアドレスセレクト回路108を介して
マイクロプロセツサシステム30の制御によつて
位置100aおよび102aに切り換え、これに
よつて電子的テストパターンが基準チヤネルの低
域フイルタ114に供給され、緑のカラー信号が
被測定チヤネルの低域フイルタ112へ供給され
る。空間/シエーデイング誤差を測定し蓄積する
カメラの設定期間において、入力58の電子テス
トパターン信号は基本的には線104のビデオ信
号と同じであり、ただビデオ信号が訂正すべき空
間誤差およびシエーデイング誤差を含む点で相違
するだけである。第4A図ないし第4L図および
第5A図ないし第5M図はそれぞれ第3A図ない
し第3D図の回路に印加されたりその中で発生し
たりする波形の水平および垂直周波数波形を示し
ている。したがつて第4A図および第5A図はそ
れぞれ水平周波数および垂直周波数における電子
テストパターン信号およびビデオ信号を示してい
る。第4A図は525本の走査線のNTSCテレビジ
ヨン標準方式における0.5MHz矩形波、すなわち
63.55マイクロ秒(μs)の走査線周期の電子的テ
ストパターンのテレビジヨン信号を示す。第5A
図は15.3ミリ秒(ms)の垂直速度における信号
を示し、これは60Hz525NTSCテレビジヨン画像
の動作時間であり、矩形波バーストおよびグレー
レベルがその間に存在する。この矩形波を白黒シ
エーデイング誤差測定および空間誤差測定に使用
し、グレーレベルはここではたとえばガンマ修正
に使用する。したがつて被測定チヤネルの緑のカ
ラー信号を基準チヤネルの電子テストパターン信
号と比較して前者の空間誤差を判定し、これをつ
ぎにデイジタル的に蓄積してのちにカメラのリア
ルタイム動作に使用する。
このため、緑のカラー信号および電子テストパ
ターン信号をそれぞれフイルタ112,114に
よつて低域波し、高周波数雑音をすべて除去す
るが、これは所望の情報が低域フイルタ112,
114の周波数、すなわち約500kHz以下の周波
数にわたつて含まれているためである。これらの
フイルタは同一であるが、低域フイルタ112は
0.5MHzのテストパターン基準周波数において3
極フイルタ114に対して正確に90゜遅延させる
7極フイルタである。この低域波した信号を
100kHzの高域通過のオーダの高域フイルタ11
9,120に印加し、これによつてそれぞれ第4
B図,第4C図に示す出力の基準信号および被測
定信号の基底帯域情報がすべて除去される。なお
第4B図ないし第4L図は第4A図に対して拡大
して示されている。フイルタ119からの信号は
フイルタ120からの信号より図示のパターン周
波数において正確に90゜の一定の遅延が与えられ
ている。基準信号および被測定信号はリミツタ/
ダブラ回路116,118によつて制限され、周
波数が2倍にされる。これらの回路は第4D図お
よび第4E図に示すように入力周波数の2倍で到
来帯域通過信号の重なる点において狭い負のパル
スを発生する。この周波数を2倍にして情報量を
2倍にする。測定した2F(倍周波数)波形は約
1μsの周期で基準チヤネルの波から180゜遅れてい
る。
ターン信号をそれぞれフイルタ112,114に
よつて低域波し、高周波数雑音をすべて除去す
るが、これは所望の情報が低域フイルタ112,
114の周波数、すなわち約500kHz以下の周波
数にわたつて含まれているためである。これらの
フイルタは同一であるが、低域フイルタ112は
0.5MHzのテストパターン基準周波数において3
極フイルタ114に対して正確に90゜遅延させる
7極フイルタである。この低域波した信号を
100kHzの高域通過のオーダの高域フイルタ11
9,120に印加し、これによつてそれぞれ第4
B図,第4C図に示す出力の基準信号および被測
定信号の基底帯域情報がすべて除去される。なお
第4B図ないし第4L図は第4A図に対して拡大
して示されている。フイルタ119からの信号は
フイルタ120からの信号より図示のパターン周
波数において正確に90゜の一定の遅延が与えられ
ている。基準信号および被測定信号はリミツタ/
ダブラ回路116,118によつて制限され、周
波数が2倍にされる。これらの回路は第4D図お
よび第4E図に示すように入力周波数の2倍で到
来帯域通過信号の重なる点において狭い負のパル
スを発生する。この周波数を2倍にして情報量を
2倍にする。測定した2F(倍周波数)波形は約
1μsの周期で基準チヤネルの波から180゜遅れてい
る。
低域通過被測定信号および基準信号は被測定パ
ターン有効チヤネルおよび基準パターン有効チヤ
ネルのピーク検出器126,128にそれぞれ印
加される。第5B図に示すように検出器126,
128の出力が低レベルになるとパターンが存在
していることを示す。低レベルの中央にあるグリ
ツチ271はパターンの位相変化を示す。これら
のパターン有効信号をフイルタ130,132に
よつて低域波し、これは約50μsの立上り時間を
有し(第5C図)、それぞれの比較器134,1
36に加えられる。後者は所定の閾値を与えられ
たスライサ回路であり、パターンが存在すると高
レベルを発生する。すなわちパターンが存在し有
効な場合のみ線138および140にそれぞれ被
測定パターン有効信号および基準パターン有効信
号を発生する。(第5D図参照)。
ターン有効チヤネルおよび基準パターン有効チヤ
ネルのピーク検出器126,128にそれぞれ印
加される。第5B図に示すように検出器126,
128の出力が低レベルになるとパターンが存在
していることを示す。低レベルの中央にあるグリ
ツチ271はパターンの位相変化を示す。これら
のパターン有効信号をフイルタ130,132に
よつて低域波し、これは約50μsの立上り時間を
有し(第5C図)、それぞれの比較器134,1
36に加えられる。後者は所定の閾値を与えられ
たスライサ回路であり、パターンが存在すると高
レベルを発生する。すなわちパターンが存在し有
効な場合のみ線138および140にそれぞれ被
測定パターン有効信号および基準パターン有効信
号を発生する。(第5D図参照)。
さて第3B図の水平検出装置98および第4F
図ないし第4L図を参照すると、線144の基準
F周波数信号が第4F図に示され、これは乗算器
178に加えられて1.0MHz(第4G図)の2倍
の基準周波数クロツクを発生し、÷4カウンタ1
82を駆動する。後者の回路は正の立上りを計数
する。線138,140の被測定パターン有効信
号および基準パターン有効信号は線181のボツ
クス選択コマンドとともにANDゲート180へ
加えられ、これによつてANDゲート180は両
パターン信号が有効である。すなわち高レベル
(第4H図)でありかつ所望のボツクス信号が高
レベルであるときのみ÷4カウンタ182のリセ
ツトピンに出力を供給する。つぎにカウンタ18
2は4つのパルスを計数することができ、これに
よつてパルスないしサンプル4個分の幅(第4I
図)を有する駆動信号をORゲート150、すな
わち位相検出器/ラツチ152へ供給する。カウ
ンタ182はまた別の出力パルスを供給し、これ
は1クロツクパルス分幅が広く(第4K図)、
NANDゲート184を通してパルス幅4個分の
駆動信号とともにゲートされる。かくして、位相
検出器/ラツチ152は第4I図の基準チヤネル
4パルス信号によつて一方の状態に設定され、線
124の以前に遅延された被測定チヤネル信号に
よつてその第2の状態にリセツトされる。この4
個の基準パルスの最初のものはラツチ152が第
4I図の信号によつて駆動されていればラツチ1
52を低レベル(第4J図)に設定する。つぎに
この遅延した被測定パルス(4E図)は位相検出
器/ラツチ152を高レベル(第4J図)に設定
し、ラツチ152が低レベルから高レベルへ移る
時間の間隔の変化が測定中の空間誤差に相当す
る。
図ないし第4L図を参照すると、線144の基準
F周波数信号が第4F図に示され、これは乗算器
178に加えられて1.0MHz(第4G図)の2倍
の基準周波数クロツクを発生し、÷4カウンタ1
82を駆動する。後者の回路は正の立上りを計数
する。線138,140の被測定パターン有効信
号および基準パターン有効信号は線181のボツ
クス選択コマンドとともにANDゲート180へ
加えられ、これによつてANDゲート180は両
パターン信号が有効である。すなわち高レベル
(第4H図)でありかつ所望のボツクス信号が高
レベルであるときのみ÷4カウンタ182のリセ
ツトピンに出力を供給する。つぎにカウンタ18
2は4つのパルスを計数することができ、これに
よつてパルスないしサンプル4個分の幅(第4I
図)を有する駆動信号をORゲート150、すな
わち位相検出器/ラツチ152へ供給する。カウ
ンタ182はまた別の出力パルスを供給し、これ
は1クロツクパルス分幅が広く(第4K図)、
NANDゲート184を通してパルス幅4個分の
駆動信号とともにゲートされる。かくして、位相
検出器/ラツチ152は第4I図の基準チヤネル
4パルス信号によつて一方の状態に設定され、線
124の以前に遅延された被測定チヤネル信号に
よつてその第2の状態にリセツトされる。この4
個の基準パルスの最初のものはラツチ152が第
4I図の信号によつて駆動されていればラツチ1
52を低レベル(第4J図)に設定する。つぎに
この遅延した被測定パルス(4E図)は位相検出
器/ラツチ152を高レベル(第4J図)に設定
し、ラツチ152が低レベルから高レベルへ移る
時間の間隔の変化が測定中の空間誤差に相当す
る。
第4K図の幅の広いクロツクパルスはラツタ1
86を介して接地スイツチ160へ加えられる。
このラツチは低レベルでセツトされ、スイツチ1
60が開きコンデンサ156は電流源154によ
つて充電される。接地スイツチ160は以前に閉
じているのでコンデンサ156が地気158に放
電されている。被測定パルス(第4E図)が位相
検出器/ラツチ152をリセツトすると、電流源
が充電を停止しコンデンサ156はその充電レベ
ルに留まる。4個の基準パルスのうちのつぎのも
のがラツチ152を再びセツトすると、充電コン
デンサ156に電流が再び流れ込み、これはつぎ
の被測定パルスが再びラツチ152をリセツトす
るまで新しいレベルに充電される。このサイクル
を4つの基準パルスについて繰り返し、これによ
つてコンデンサ156は4つの充電状態をとる。
したがつてトータルの充電状態は、線181によ
つて選択したサンプル中のボツクスにおいて測定
したいずれの誤差のテレビジヨン走査線の部分に
沿つてとつた4つのサンプルの平均値を有する。
A/D変換器164の入力における被測定アナロ
グ出力を第4L図に示す。コンデンサ156が充
電される期間(第4J図)の変化によつて充電レ
ベルの対応する変化が起り(第4L図)、4個の
基準パルスののち最後の値が蓄積された空間誤差
値を表わしていることがわかる。電流源154が
コンデンサ156を充電している期間は、被測定
チヤネル信号と基準チヤネル信号の絶対時間差プ
ラス2つの低域フイルタ112,114の遅延時
間の差によつて生ずるパターン周波数における
90゜の一定の遅延に直接比例する。
86を介して接地スイツチ160へ加えられる。
このラツチは低レベルでセツトされ、スイツチ1
60が開きコンデンサ156は電流源154によ
つて充電される。接地スイツチ160は以前に閉
じているのでコンデンサ156が地気158に放
電されている。被測定パルス(第4E図)が位相
検出器/ラツチ152をリセツトすると、電流源
が充電を停止しコンデンサ156はその充電レベ
ルに留まる。4個の基準パルスのうちのつぎのも
のがラツチ152を再びセツトすると、充電コン
デンサ156に電流が再び流れ込み、これはつぎ
の被測定パルスが再びラツチ152をリセツトす
るまで新しいレベルに充電される。このサイクル
を4つの基準パルスについて繰り返し、これによ
つてコンデンサ156は4つの充電状態をとる。
したがつてトータルの充電状態は、線181によ
つて選択したサンプル中のボツクスにおいて測定
したいずれの誤差のテレビジヨン走査線の部分に
沿つてとつた4つのサンプルの平均値を有する。
A/D変換器164の入力における被測定アナロ
グ出力を第4L図に示す。コンデンサ156が充
電される期間(第4J図)の変化によつて充電レ
ベルの対応する変化が起り(第4L図)、4個の
基準パルスののち最後の値が蓄積された空間誤差
値を表わしていることがわかる。電流源154が
コンデンサ156を充電している期間は、被測定
チヤネル信号と基準チヤネル信号の絶対時間差プ
ラス2つの低域フイルタ112,114の遅延時
間の差によつて生ずるパターン周波数における
90゜の一定の遅延に直接比例する。
したがつて、被測定チヤネルおよび基準チヤネ
ルが同じであり、かつ電子的テストパターンが両
方に印加されるならば(接点100d,102d
による垂直ブランキング期間中のように)、位相
検出器/ラツチ152の出力は矩形波(第4J
図)となり、コンデンサ156は4つの基準パル
スのおのおのにおいて同じに充電される。しかし
空間誤差測定過程において、緑のカラー信号電子
的テストパターンと比較する場合、または赤もし
くは青のカラー信号を緑のカラー信号と比較する
場合、充電時間間隔が空間誤差に従つて変化し、
それにつれてコンデンサ156の充電レベルが変
化して緑、赤および青の空間誤差を発生する。
ルが同じであり、かつ電子的テストパターンが両
方に印加されるならば(接点100d,102d
による垂直ブランキング期間中のように)、位相
検出器/ラツチ152の出力は矩形波(第4J
図)となり、コンデンサ156は4つの基準パル
スのおのおのにおいて同じに充電される。しかし
空間誤差測定過程において、緑のカラー信号電子
的テストパターンと比較する場合、または赤もし
くは青のカラー信号を緑のカラー信号と比較する
場合、充電時間間隔が空間誤差に従つて変化し、
それにつれてコンデンサ156の充電レベルが変
化して緑、赤および青の空間誤差を発生する。
1つのボツクスに含まれるテレビジヨン走査線
の一部に沿つて4つのサンプルにわたつて誤差を
平均化することは積分処理を含み、これは信号対
雑音比を改善する。また、測定中になんらかの速
度の変化があると、複数のサンプルを平均化する
ことによつて速度の変化も平均化することにな
り、さらに正確な誤差測定ができる。1つのボツ
クス内で4つ以外のサンプルをとつて平均動作を
行つてもよいことは明らかである。
の一部に沿つて4つのサンプルにわたつて誤差を
平均化することは積分処理を含み、これは信号対
雑音比を改善する。また、測定中になんらかの速
度の変化があると、複数のサンプルを平均化する
ことによつて速度の変化も平均化することにな
り、さらに正確な誤差測定ができる。1つのボツ
クス内で4つ以外のサンプルをとつて平均動作を
行つてもよいことは明らかである。
NANDゲート184からの駆動が終了したの
ち、ラツチ188は第4L図に示すようにA/D
変換器164に「変換開始」コマンドを転送し、
これによつて多重測定の最後のものがものがその
ボツクス内で行われた充分あとに変換が行われ
る。この変換処理が終ると、A/D変換器164
は「変換終了」フラグを遅延回路192に転送
し、これはラツチ186をリセツトする。後者の
状態の変化によつて接地スイツチ164が閉じ、
これはコンデンサ156を地気158へ放電す
る。つぎにこの回路は、そのような測定サイクル
を8回、1つのボツクス内の8本の一連の走査線
について繰り返すまでつぎの4パルスの誤差測定
サイクルを同じボツクスまたはつぎのボツクスに
ついて行うことになる。
ち、ラツチ188は第4L図に示すようにA/D
変換器164に「変換開始」コマンドを転送し、
これによつて多重測定の最後のものがものがその
ボツクス内で行われた充分あとに変換が行われ
る。この変換処理が終ると、A/D変換器164
は「変換終了」フラグを遅延回路192に転送
し、これはラツチ186をリセツトする。後者の
状態の変化によつて接地スイツチ164が閉じ、
これはコンデンサ156を地気158へ放電す
る。つぎにこの回路は、そのような測定サイクル
を8回、1つのボツクス内の8本の一連の走査線
について繰り返すまでつぎの4パルスの誤差測定
サイクルを同じボツクスまたはつぎのボツクスに
ついて行うことになる。
A/D変換器166からのデイジタル化した信
号は並列形式をとり、並直列変換器166によつ
て直列形式に変換され、加算器170へ供給され
る。加算器170は÷8カウンタ196によつて
0にセツトされ、第1のデイジタル数がロードさ
れる。加算器170の出力をシフトレジスタ16
8へ結合し、つぎにNANDゲート172を通し
て加算器170へ送つて同じボツクスのつぎの走
査線に対応するつぎの到来直列デイジタル数に加
算される。この直列演算処理を1つのボツクスの
8本の一連の走査線について8回繰り返し、これ
によつて各ボツクス内の空間誤差の32個のサンプ
ルの平均を求める。累積した数を直並列変換器/
ラツチ174へ供給し、この出力を÷8カウンタ
196によつて3ビツト分シフトすることにより
8で割算する。かくして水平誤差データバス17
6に現われるデイジタル出力は水平誤差の真の平
均値となる。カウンタ196はラツチ198およ
び線200を通してCCUマイクロプロセツサシ
ステム30にフラグも転送し、そのデータが用意
できたことを示す。マイクロプロセツサがデータ
を必要とするときは、水平駆動線175を通して
データバス176を駆動し、ラツチ174はこの
データを受信してこれを使用し、リセツトフラグ
を線202に戻してラツチ198をセツトする。
これはまたHおよびVボツクスアドレスコマンド
を垂直誤差検出装置99(第3C図)に送り、具
体的には入力バス235を介してデイジタル振幅
比較回路232へ送り、この装置をサンプルをと
るべきつぎのボツクスにすすめる。そこで誤差測
定回路54はある速度で誤差を発生し、このデー
タを一時的に蓄積する。これによつてこれより遅
くランするCCUマイクロプロセツサシステム3
0は非同期で動作してこのデータをそれ独自のス
ピードで利用する。
号は並列形式をとり、並直列変換器166によつ
て直列形式に変換され、加算器170へ供給され
る。加算器170は÷8カウンタ196によつて
0にセツトされ、第1のデイジタル数がロードさ
れる。加算器170の出力をシフトレジスタ16
8へ結合し、つぎにNANDゲート172を通し
て加算器170へ送つて同じボツクスのつぎの走
査線に対応するつぎの到来直列デイジタル数に加
算される。この直列演算処理を1つのボツクスの
8本の一連の走査線について8回繰り返し、これ
によつて各ボツクス内の空間誤差の32個のサンプ
ルの平均を求める。累積した数を直並列変換器/
ラツチ174へ供給し、この出力を÷8カウンタ
196によつて3ビツト分シフトすることにより
8で割算する。かくして水平誤差データバス17
6に現われるデイジタル出力は水平誤差の真の平
均値となる。カウンタ196はラツチ198およ
び線200を通してCCUマイクロプロセツサシ
ステム30にフラグも転送し、そのデータが用意
できたことを示す。マイクロプロセツサがデータ
を必要とするときは、水平駆動線175を通して
データバス176を駆動し、ラツチ174はこの
データを受信してこれを使用し、リセツトフラグ
を線202に戻してラツチ198をセツトする。
これはまたHおよびVボツクスアドレスコマンド
を垂直誤差検出装置99(第3C図)に送り、具
体的には入力バス235を介してデイジタル振幅
比較回路232へ送り、この装置をサンプルをと
るべきつぎのボツクスにすすめる。そこで誤差測
定回路54はある速度で誤差を発生し、このデー
タを一時的に蓄積する。これによつてこれより遅
くランするCCUマイクロプロセツサシステム3
0は非同期で動作してこのデータをそれ独自のス
ピードで利用する。
上に述べたように、水平誤差検出装置98はこ
のデータを時間対電圧振幅の形から変換し高い水
平データ速度をさらにたやすく調整する。一方垂
直誤差検出装置99は時間対電圧変換をすること
なく完全に時間領域で動作するが、これは垂直走
査速度が非常に遅いためである。しかし水平誤差
検出装置98は、60MHzのオーダの非常に高速の
クロツクを用い、第4J図に示すような位相検出
器/ラツチ152の立下りとつぎの立上りの間に
発生するクロツクパルスの数を数えることによつ
て完全に時間領域で動作するように構成してもよ
い。後者の時間間隔は入力端子104に現われる
各ビデオ信号の空間誤差に時間的に比例する。こ
のクロツクは水平走査のあるパーセンテージを表
わすので、その時間間隔に相当するパルス数の平
均値のデイジタル形式での大きさはパーセントで
表わした空間誤差となる。すなわち、このクロツ
クは水平走査のあるパーセンテージを示すので、
クロツクパルスの誤差の数値もやはりその走査の
パーセンテージとなる。
のデータを時間対電圧振幅の形から変換し高い水
平データ速度をさらにたやすく調整する。一方垂
直誤差検出装置99は時間対電圧変換をすること
なく完全に時間領域で動作するが、これは垂直走
査速度が非常に遅いためである。しかし水平誤差
検出装置98は、60MHzのオーダの非常に高速の
クロツクを用い、第4J図に示すような位相検出
器/ラツチ152の立下りとつぎの立上りの間に
発生するクロツクパルスの数を数えることによつ
て完全に時間領域で動作するように構成してもよ
い。後者の時間間隔は入力端子104に現われる
各ビデオ信号の空間誤差に時間的に比例する。こ
のクロツクは水平走査のあるパーセンテージを表
わすので、その時間間隔に相当するパルス数の平
均値のデイジタル形式での大きさはパーセントで
表わした空間誤差となる。すなわち、このクロツ
クは水平走査のあるパーセンテージを示すので、
クロツクパルスの誤差の数値もやはりその走査の
パーセンテージとなる。
第3C図ないし第3D図および第5A図ないし
第5M図も参照すると、垂直誤差検出装置99は
それぞれ第5D図の線138,140の被測定パ
ターン有効信号および基準パターン有効信号を受
信し、それぞれ第5B図の線144,148の基
準F信号および被測定F信号を受信する。これに
はまた線210でH/64クロツク線233で同期
発生アドレスおよび線235ではボツクスアドレ
スコマンドが導入される。被測定Fデータ信号お
よび基準Fデータ信号はそれぞれ2走査線遅延回
路212,214へD型ラツチ206,208を
介して同期転送され、H/64クロツクはこれに線
210から導入される。H/64クロツクは走査系
と同期しており、データをその最も近い遷移点に
同期させて電子的テストパターンの白黒遷移点が
その走査線と同期するようにする。ラツチ20
6,208の出力は第5E図に示すが、このテス
トパターンでパターン有効信号の中央、すなわち
グリツチ271の時点において極性が変化する。
第5M図も参照すると、垂直誤差検出装置99は
それぞれ第5D図の線138,140の被測定パ
ターン有効信号および基準パターン有効信号を受
信し、それぞれ第5B図の線144,148の基
準F信号および被測定F信号を受信する。これに
はまた線210でH/64クロツク線233で同期
発生アドレスおよび線235ではボツクスアドレ
スコマンドが導入される。被測定Fデータ信号お
よび基準Fデータ信号はそれぞれ2走査線遅延回
路212,214へD型ラツチ206,208を
介して同期転送され、H/64クロツクはこれに線
210から導入される。H/64クロツクは走査系
と同期しており、データをその最も近い遷移点に
同期させて電子的テストパターンの白黒遷移点が
その走査線と同期するようにする。ラツチ20
6,208の出力は第5E図に示すが、このテス
トパターンでパターン有効信号の中央、すなわち
グリツチ271の時点において極性が変化する。
このデータは2走査線被測定遅延回路212お
よび2走査線基準遅延回路214を通過し、これ
らはやはり線210のH/64クロツクと同期して
いる。これによつて同期データは第5F図に示す
ように走査線2本分だけ遅延し、テストパターン
極性の変化の時点も2走査線分遅延する。テスト
パターンが有効でない場合またはパターン存在し
ない場合、パターン検出装置97は垂直誤差検出
装置99に0を供給し、すなわち2走査線遅延回
路212,214に0がロードされ、その出力は
第5F図に示すように低レベルになる。この出力
はパターンが有効であると高レベルになる。
よび2走査線基準遅延回路214を通過し、これ
らはやはり線210のH/64クロツクと同期して
いる。これによつて同期データは第5F図に示す
ように走査線2本分だけ遅延し、テストパターン
極性の変化の時点も2走査線分遅延する。テスト
パターンが有効でない場合またはパターン存在し
ない場合、パターン検出装置97は垂直誤差検出
装置99に0を供給し、すなわち2走査線遅延回
路212,214に0がロードされ、その出力は
第5F図に示すように低レベルになる。この出力
はパターンが有効であると高レベルになる。
排他的ORゲート216,218の入力におい
て、所定の極性でかつ所定の数、たとえば2本の
水平走査線ののち電子的テストパターンの開始に
相当する高レベルでパターン極性が変化する。2
走査線遅延回路212,214のデータ出力はパ
ターン極性が変化しない限り同じである。極性の
変化が発生すると、遅延回路212,214のパ
ターンデータ出力の極性はラツチ206,208
から排他的ORゲート216,218へ直接供給
されたパターンデータの極性とは前者の2走査線
遅延回路のために異なることになる。したがつ
て、排他的ORゲートの出力はこれらの信号が同
一であると低レベルになり、これらの信号が異な
つた極性を有している期間だけ高レベルになる。
排他的ORゲート216,218の出力は第5G
図に示すが、2走査線期間の極性変化に対応する
遷移点を有する。
て、所定の極性でかつ所定の数、たとえば2本の
水平走査線ののち電子的テストパターンの開始に
相当する高レベルでパターン極性が変化する。2
走査線遅延回路212,214のデータ出力はパ
ターン極性が変化しない限り同じである。極性の
変化が発生すると、遅延回路212,214のパ
ターンデータ出力の極性はラツチ206,208
から排他的ORゲート216,218へ直接供給
されたパターンデータの極性とは前者の2走査線
遅延回路のために異なることになる。したがつ
て、排他的ORゲートの出力はこれらの信号が同
一であると低レベルになり、これらの信号が異な
つた極性を有している期間だけ高レベルになる。
排他的ORゲート216,218の出力は第5G
図に示すが、2走査線期間の極性変化に対応する
遷移点を有する。
データ駆動コマンド(第5H図)がそれぞれラ
ツチ220,222を介してラツチ224,22
6に供給され、最初のデータが2走査線遅延のの
ち供給されるとラツチ224,226をセツトす
る。パターン有効信号がなくなると、ラツチ22
4,226はリセツトされ、これによつて後者は
第5I図に示すようにパターン極性が変化する期
間中だけ動作する。したがつてラツチ224,2
26のリセツト入力が高レベルであるとそのQ出
力は低レベルとなる。リセツト入力が低レベルに
なると到来データはQ出力と同期する。排他的
ORゲート216,218の出力はパターン極性
が変化しない間は低レベルである。しかしクロツ
クの端部ではパターン極性が変化し、これによつ
てラツチ224,226のQ出力は正確に走査線
2本分の間、すなわち128μsの間高レベルであり、
その後これらは再び低レベルになる(第5I図)。
ツチ220,222を介してラツチ224,22
6に供給され、最初のデータが2走査線遅延のの
ち供給されるとラツチ224,226をセツトす
る。パターン有効信号がなくなると、ラツチ22
4,226はリセツトされ、これによつて後者は
第5I図に示すようにパターン極性が変化する期
間中だけ動作する。したがつてラツチ224,2
26のリセツト入力が高レベルであるとそのQ出
力は低レベルとなる。リセツト入力が低レベルに
なると到来データはQ出力と同期する。排他的
ORゲート216,218の出力はパターン極性
が変化しない間は低レベルである。しかしクロツ
クの端部ではパターン極性が変化し、これによつ
てラツチ224,226のQ出力は正確に走査線
2本分の間、すなわち128μsの間高レベルであり、
その後これらは再び低レベルになる(第5I図)。
つぎにこの信号は低域フイルタ236,238
に与えられ、積分され(第5J図)、そして所定
のレベルでスライスされる。基準チヤネルスライ
サ回路242および被測定チヤネルスライサ回路
240はそれぞれ第5K図、第5L図に示す矩形
波出力を発生する。この出力が高レベルである時
間は基準信号の期間、すなわちテストパターンの
黒から白への垂直遷移の期間を表わす。これは被
測定チヤネル信号についてもいえる。基準チヤネ
ル信号と被測定チヤネル信号の間に時間遅延がな
い場合、たとえばテストパターンが両方のチヤネ
ルに与えられるときは、第5K図および第5L図
のパルスの立上りの発生が一致する。しかし空間
誤差測定処理中に垂直誤差が存在すると、被測定
スライサ回路240の出力は基準スライサ回路2
42のそれより遅れる(第5L図,第5K図)。
これは真の垂直変位すなわちクロツクパルス数で
表わした誤差を表わす信号を発生する。(第5M
図)。したがつて第5K図,第5L図のパルスは
ラツチされ、排他的ORゲート248へ供給さ
れ、これは前者のパルスが一致しないと第5M図
のパルスを発生する。
に与えられ、積分され(第5J図)、そして所定
のレベルでスライスされる。基準チヤネルスライ
サ回路242および被測定チヤネルスライサ回路
240はそれぞれ第5K図、第5L図に示す矩形
波出力を発生する。この出力が高レベルである時
間は基準信号の期間、すなわちテストパターンの
黒から白への垂直遷移の期間を表わす。これは被
測定チヤネル信号についてもいえる。基準チヤネ
ル信号と被測定チヤネル信号の間に時間遅延がな
い場合、たとえばテストパターンが両方のチヤネ
ルに与えられるときは、第5K図および第5L図
のパルスの立上りの発生が一致する。しかし空間
誤差測定処理中に垂直誤差が存在すると、被測定
スライサ回路240の出力は基準スライサ回路2
42のそれより遅れる(第5L図,第5K図)。
これは真の垂直変位すなわちクロツクパルス数で
表わした誤差を表わす信号を発生する。(第5M
図)。したがつて第5K図,第5L図のパルスは
ラツチされ、排他的ORゲート248へ供給さ
れ、これは前者のパルスが一致しないと第5M図
のパルスを発生する。
この出力をNANDゲート252を介してゲー
トし、カウンタ256用のクロツクを駆動する。
これは250kHzクロツクと同期しており、これに
よつてカウンタ256はその駆動が続く限りの数
のクロツクパルスを発生する。したがつてカウン
タ256は垂直走査誤差のパーセンテージに相当
する二進数を累積する。
トし、カウンタ256用のクロツクを駆動する。
これは250kHzクロツクと同期しており、これに
よつてカウンタ256はその駆動が続く限りの数
のクロツクパルスを発生する。したがつてカウン
タ256は垂直走査誤差のパーセンテージに相当
する二進数を累積する。
NTSC525走査線テレビジヨン標準方式は飛
越し走査を使用しているので、走査線間にわたつ
て変化する真の垂直位置を決めることが望まし
い。したがつて誤差測定は、1つのフイールドに
ついてある数まで計数し、つぎのフイールドにつ
いて別な数まで計数することによつて2フイール
ドカウンタ234を介して2つのフイールドにつ
いて行う。このデータをデータラツチ260へ排
他的ORゲート258を介して蓄積し、水平バス
176の水平誤差データのようにCCUマイクロ
プロセツサシステム30(第2図)で垂直誤差デ
ータバス270から利用することができる。
越し走査を使用しているので、走査線間にわたつ
て変化する真の垂直位置を決めることが望まし
い。したがつて誤差測定は、1つのフイールドに
ついてある数まで計数し、つぎのフイールドにつ
いて別な数まで計数することによつて2フイール
ドカウンタ234を介して2つのフイールドにつ
いて行う。このデータをデータラツチ260へ排
他的ORゲート258を介して蓄積し、水平バス
176の水平誤差データのようにCCUマイクロ
プロセツサシステム30(第2図)で垂直誤差デ
ータバス270から利用することができる。
ラツチ250は被測定チヤネルデータが基準チ
ヤネルデータの前にあるか後にあるか、およびデ
ータラツチ260にロードされたデータの極性を
判定する。
ヤネルデータの前にあるか後にあるか、およびデ
ータラツチ260にロードされたデータの極性を
判定する。
このデータをデータラツチ260にストロープ
するとラツチ264がセツトされて垂直データレ
デイ信号を線266を通してマイクロプロセツサ
システム30へ送る。このデータを垂直誤差デー
タバス270から線266の垂直駆動コマンドに
よつて取り出すと、マイクロプロセツサはラツチ
264を線268によつてリセツトし、そのボツ
クスアドレスを線235のボツクスアドレスコマ
ンドによつて変えてつぎの誤差測定サイクルの準
備を行う。
するとラツチ264がセツトされて垂直データレ
デイ信号を線266を通してマイクロプロセツサ
システム30へ送る。このデータを垂直誤差デー
タバス270から線266の垂直駆動コマンドに
よつて取り出すと、マイクロプロセツサはラツチ
264を線268によつてリセツトし、そのボツ
クスアドレスを線235のボツクスアドレスコマ
ンドによつて変えてつぎの誤差測定サイクルの準
備を行う。
前の図面に示したように、水平および垂直誤差
がデータバス176,270のデイジタルデータ
として装置28に導入され、この装置は送信され
たデータを符号化/多重化、送信および復号/多
重分離を行う。後者の構成要素およびその関連す
る機能はCCUマイクロプロセツサシステム30
および32の制御による。この符号化処理は一般
に例として示すだけであるがミラー平方法を利用
する従来のものであつてよい。デイジタルデータ
の送信は従来の単心または複心ケーブルを通して
符号化された形で好ましく行うことができるさま
ざまな多重化/多重分離技術のいずれをも利用す
ることができる。信号の符号化/復号、多重化/
多重分離および送信の技術は変更してもよく、ま
た一般に当業者に知られているので装置28はこ
れ以上ここでは説明しない。
がデータバス176,270のデイジタルデータ
として装置28に導入され、この装置は送信され
たデータを符号化/多重化、送信および復号/多
重分離を行う。後者の構成要素およびその関連す
る機能はCCUマイクロプロセツサシステム30
および32の制御による。この符号化処理は一般
に例として示すだけであるがミラー平方法を利用
する従来のものであつてよい。デイジタルデータ
の送信は従来の単心または複心ケーブルを通して
符号化された形で好ましく行うことができるさま
ざまな多重化/多重分離技術のいずれをも利用す
ることができる。信号の符号化/復号、多重化/
多重分離および送信の技術は変更してもよく、ま
た一般に当業者に知られているので装置28はこ
れ以上ここでは説明しない。
カメラヘツドマイクロプロセツサ32が対応す
るアドレスで誤差データを受信すると、このシス
テムはそのアドレスを利用して主記憶装置72、
または空間誤差修正記憶装置280の記憶内容を
積分して各誤差信号の現在の動作値を得る。つぎ
にシステム32は到来する更新誤差データを取り
出して、空間誤差修正記憶装置280または主記
憶装置72に存在するデータとたし算またはひき
算し、つぎに更新された誤差データを記憶装置に
再び記憶する。したがつてリアルタイムのトータ
ルラスタ誤差修正を行うのに必要なすべてのデー
タおよび通常のカメラヘツド制御を行うためのデ
ータはカメラヘツドシステム12の中に含まれ
る。
るアドレスで誤差データを受信すると、このシス
テムはそのアドレスを利用して主記憶装置72、
または空間誤差修正記憶装置280の記憶内容を
積分して各誤差信号の現在の動作値を得る。つぎ
にシステム32は到来する更新誤差データを取り
出して、空間誤差修正記憶装置280または主記
憶装置72に存在するデータとたし算またはひき
算し、つぎに更新された誤差データを記憶装置に
再び記憶する。したがつてリアルタイムのトータ
ルラスタ誤差修正を行うのに必要なすべてのデー
タおよび通常のカメラヘツド制御を行うためのデ
ータはカメラヘツドシステム12の中に含まれ
る。
第6図を参照すると、12個の同じ修正回路74
〜96のうちの1つの例が示されており、これは
互いに第1図および第2図のトータルラスタ誤差
修正装置34を形成するものである。したがつて
3個の垂直操作(RGB)修正回路および3個の
水平操作(RGB)修正回路、ならびに3個の白
(RGB)シエーデイング修正回路および3個の黒
(RGB)シエーデイング修正回路がある。このカ
メラシステムのリアルタイム動作において、マイ
クロプロセツサシステム32は12個の修正回路7
4〜96のうちのそれぞれ1つ以上、具体的には
各修正回路のそれぞれの平直列変換器272へ特
定の誤差データを並列語の形で送る。ここで説明
するシステムではこのデイジタル語は4ビツト語
であり、差の誤差値がカメラヘツドシステムに蓄
積されている。しかし、のちに述べる場合のよう
にさらにダイナミツクレジスタが必要な場合には
8ビツトなどの語を使用してもよく、その場合絶
対誤差値をデイジタル化してカメラヘツドシステ
ムに蓄積する。このデータを線274の2MHzシ
ステムクロツクによつて線273を通してロード
する。同時に誤差データのアドレスは線275を
通して印加され、線278のバス制御信号によつ
て並直列アドレス変換器276の部分を通つて10
ビツト語に変換される。線273のデータ語およ
び線275のアドレス語は第10図および第11
図にそれぞれ示すマイクロプロセツサシステム3
2の同期発生器およびインターフエース回路から
取り出される。
〜96のうちの1つの例が示されており、これは
互いに第1図および第2図のトータルラスタ誤差
修正装置34を形成するものである。したがつて
3個の垂直操作(RGB)修正回路および3個の
水平操作(RGB)修正回路、ならびに3個の白
(RGB)シエーデイング修正回路および3個の黒
(RGB)シエーデイング修正回路がある。このカ
メラシステムのリアルタイム動作において、マイ
クロプロセツサシステム32は12個の修正回路7
4〜96のうちのそれぞれ1つ以上、具体的には
各修正回路のそれぞれの平直列変換器272へ特
定の誤差データを並列語の形で送る。ここで説明
するシステムではこのデイジタル語は4ビツト語
であり、差の誤差値がカメラヘツドシステムに蓄
積されている。しかし、のちに述べる場合のよう
にさらにダイナミツクレジスタが必要な場合には
8ビツトなどの語を使用してもよく、その場合絶
対誤差値をデイジタル化してカメラヘツドシステ
ムに蓄積する。このデータを線274の2MHzシ
ステムクロツクによつて線273を通してロード
する。同時に誤差データのアドレスは線275を
通して印加され、線278のバス制御信号によつ
て並直列アドレス変換器276の部分を通つて10
ビツト語に変換される。線273のデータ語およ
び線275のアドレス語は第10図および第11
図にそれぞれ示すマイクロプロセツサシステム3
2の同期発生器およびインターフエース回路から
取り出される。
この直列誤差データは前に述べた線24×1動作
記憶装置280へ印加され、その出力がスイツチ
282を通してその入力および加算器284へ帰
還される。スイツチ282の閉成は線278の両
方向バス制御信号によつて制御され、これは読出
し書込み制御信号を与える。部分アドレス変換器
276はそれぞれ線286,288,290を通
して動作記憶装置280へアドレス信号、書込み
駆動信号およびストローブ信号を送る。加算器2
84は直並列変換器292へ結合されると共に64
ビツトシフトレジスタ294にも結合されてお
り、後者の出力は第2の加算入力帰還される。ス
トローブ/桁上げリセツトおよびオールゼロ信号
が第11図のインターフエース回路から線295
を通して加算器284へ供給される。シフトレジ
スタ294は基本的には1走査線遅延回路であ
る。直並列変換器292はD/A変換器296に
結合され、そのアナログ出力がスイツチ300を
通して線298に取り出される。ブランキングレ
ベルすなわちゼロ誤差に相当する基準電圧信号が
線302およびスイツチ300の第2の接点を通
して導入される。線304の複合HおよびVブラ
ンキング信号はスイツチ300の位置を制御す
る。線361の記憶装置280に対するチツプ選
択コマンド(Cs)が誤差修正回路74〜96の
複数の記憶装置280の選択を制御し、駆動中の
各記憶装置がビデオセレクタスイツチ56によつ
て選択されたチヤネルに対応するようにする(す
なわち緑、赤もしくは青の空間チヤネル、または
黒もしくは白のシエーデイング緑、赤もしくは青
チヤネル)。
記憶装置280へ印加され、その出力がスイツチ
282を通してその入力および加算器284へ帰
還される。スイツチ282の閉成は線278の両
方向バス制御信号によつて制御され、これは読出
し書込み制御信号を与える。部分アドレス変換器
276はそれぞれ線286,288,290を通
して動作記憶装置280へアドレス信号、書込み
駆動信号およびストローブ信号を送る。加算器2
84は直並列変換器292へ結合されると共に64
ビツトシフトレジスタ294にも結合されてお
り、後者の出力は第2の加算入力帰還される。ス
トローブ/桁上げリセツトおよびオールゼロ信号
が第11図のインターフエース回路から線295
を通して加算器284へ供給される。シフトレジ
スタ294は基本的には1走査線遅延回路であ
る。直並列変換器292はD/A変換器296に
結合され、そのアナログ出力がスイツチ300を
通して線298に取り出される。ブランキングレ
ベルすなわちゼロ誤差に相当する基準電圧信号が
線302およびスイツチ300の第2の接点を通
して導入される。線304の複合HおよびVブラ
ンキング信号はスイツチ300の位置を制御す
る。線361の記憶装置280に対するチツプ選
択コマンド(Cs)が誤差修正回路74〜96の
複数の記憶装置280の選択を制御し、駆動中の
各記憶装置がビデオセレクタスイツチ56によつ
て選択されたチヤネルに対応するようにする(す
なわち緑、赤もしくは青の空間チヤネル、または
黒もしくは白のシエーデイング緑、赤もしくは青
チヤネル)。
このように動作中選択されたチヤネルに対する
絶対誤差値はその走査線の開始点における最初の
水平誤差、またはそのビデオ画像の最上部におけ
る最初の垂直誤差を表わし、2つの4ビツト語で
転送される。ここで1つの4ビツト語として示す
ように一連の差の誤差値が与えられることもある
が、これは後者の大きさがかなり小さいためであ
り、本発明の組合せによつて比較的小さな記憶装
置を使用することができる別な特徴が得られる。
この誤差修正システムはここでは特に差分誤差を
蓄積する方式の修正回路および修正方法について
説明してきたが、本システムはカメラヘツドシス
テム内でカメラヘツドの中に大きな記憶装置を用
いることによつて絶対誤差値のデイジタル記憶装
置に容易に適用することができることがわかる。
差分誤差システムは小さな記憶装置を利用してい
るが、絶対誤差システムは大きな記憶装置を必要
としており大きなダイナミツクレインジなどが得
られる。
絶対誤差値はその走査線の開始点における最初の
水平誤差、またはそのビデオ画像の最上部におけ
る最初の垂直誤差を表わし、2つの4ビツト語で
転送される。ここで1つの4ビツト語として示す
ように一連の差の誤差値が与えられることもある
が、これは後者の大きさがかなり小さいためであ
り、本発明の組合せによつて比較的小さな記憶装
置を使用することができる別な特徴が得られる。
この誤差修正システムはここでは特に差分誤差を
蓄積する方式の修正回路および修正方法について
説明してきたが、本システムはカメラヘツドシス
テム内でカメラヘツドの中に大きな記憶装置を用
いることによつて絶対誤差値のデイジタル記憶装
置に容易に適用することができることがわかる。
差分誤差システムは小さな記憶装置を利用してい
るが、絶対誤差システムは大きな記憶装置を必要
としており大きなダイナミツクレインジなどが得
られる。
したがつて、バツクス配列すなわち画像内のす
べてのサンプルについて絶対誤差値をデイジタル
的に蓄積および取出しする誤差修正システムにお
いては、加算器284およびシフトレジスタ29
4を省いてもよい。しかしその場合記憶装置28
0はすべてのサンプルに対応するデータを蓄積で
きるほど充分に大きくなければならず、そのアド
レスはその記憶装置内のすべての番地をアドレス
指定できるほど充分に大きくなければならない。
記憶番地はサンプルポイントごとに取り、デイジ
タル誤差データは直並列変換器292で変換を行
う。後者は各サンプル点ごとに新しいデイジタル
値で更新され、そのデータをD/A変換器に印加
して前述のようなのちの誤差修正を行う。
べてのサンプルについて絶対誤差値をデイジタル
的に蓄積および取出しする誤差修正システムにお
いては、加算器284およびシフトレジスタ29
4を省いてもよい。しかしその場合記憶装置28
0はすべてのサンプルに対応するデータを蓄積で
きるほど充分に大きくなければならず、そのアド
レスはその記憶装置内のすべての番地をアドレス
指定できるほど充分に大きくなければならない。
記憶番地はサンプルポイントごとに取り、デイジ
タル誤差データは直並列変換器292で変換を行
う。後者は各サンプル点ごとに新しいデイジタル
値で更新され、そのデータをD/A変換器に印加
して前述のようなのちの誤差修正を行う。
誤差データはヘツドマイクロプロセツサシステ
ム32を通して取り出す。直列演算は並列の場合
よりも利用するハードウエアが少ない単純な処理
であるので、並直列変換器272を使用して初期
および差分誤差データを直列形式で修正回路74
〜96の個々の動作記憶装置280へ供給する
(第2図も参照)。カメラヘツドシステム12に電
源を投入すると、シフトレジスタ294、したが
つて加算器284に線295のオールゼロコマン
ドによつてゼロをロードすることによつて(12個
の)修正回路74〜96をクリアし(第11図も参
照)、最初の到来データすなわち絶対誤差値を表
わす2つの4ビツトに備える。これらのアドレス
も部分アドレス変換器276によつて10ビツト語
に変換され、これらは直列データ語に対応する。
動作記憶装置280は256個の4ビツト語を蓄積
する線24×1ビツト装置を利用し、これは水平16
個対垂直16個のボツクス配列を表わし、これにビ
デオ画像が分割される。実際にはビデオ画像内に
14×14の動作ボツクスがあり動作画像ラスタから
2つの初期値が得られる。第3A図〜第3D図に
ついて述べた基準チヤネルと測定チヤネルの間の
回路誤差を検出し蓄積しているときにこれらのボ
ツクスのうちの1つを使用し、Vブランキング期
間中に両チヤネルを通して電子的テストパターン
が与えられるとこれらの測定値を取る。
ム32を通して取り出す。直列演算は並列の場合
よりも利用するハードウエアが少ない単純な処理
であるので、並直列変換器272を使用して初期
および差分誤差データを直列形式で修正回路74
〜96の個々の動作記憶装置280へ供給する
(第2図も参照)。カメラヘツドシステム12に電
源を投入すると、シフトレジスタ294、したが
つて加算器284に線295のオールゼロコマン
ドによつてゼロをロードすることによつて(12個
の)修正回路74〜96をクリアし(第11図も参
照)、最初の到来データすなわち絶対誤差値を表
わす2つの4ビツトに備える。これらのアドレス
も部分アドレス変換器276によつて10ビツト語
に変換され、これらは直列データ語に対応する。
動作記憶装置280は256個の4ビツト語を蓄積
する線24×1ビツト装置を利用し、これは水平16
個対垂直16個のボツクス配列を表わし、これにビ
デオ画像が分割される。実際にはビデオ画像内に
14×14の動作ボツクスがあり動作画像ラスタから
2つの初期値が得られる。第3A図〜第3D図に
ついて述べた基準チヤネルと測定チヤネルの間の
回路誤差を検出し蓄積しているときにこれらのボ
ツクスのうちの1つを使用し、Vブランキング期
間中に両チヤネルを通して電子的テストパターン
が与えられるとこれらの測定値を取る。
画面の最初の走査線においてこれらの各構成要
素にゼロがロードされ、シフトレジスタ294は
線295によつてリセツトされる。2つの初期4
ビツト語のうちの最初のものがつぎにシフトレジ
スタにロードされ、加算器284の入力に帰還さ
れ、第2の初期4ビツト語に加算される。直列演
算処理がつぎの4ビツト語について引き続き行わ
れ、これは累積語に引き続き加算される後の差分
誤差値に相当する。誤差測定回路54によつてす
でに測定されている誤差に相当する誤差値はこの
特定の例では各ボツクス内の12本のテレビジヨン
走査線がカメラのリアルタイム動作中走査された
のち累積される。16本の走査線にわたつて行われ
た一連の累積処理は与えられたボツクス内で測定
した誤差の垂直補間を与える。
素にゼロがロードされ、シフトレジスタ294は
線295によつてリセツトされる。2つの初期4
ビツト語のうちの最初のものがつぎにシフトレジ
スタにロードされ、加算器284の入力に帰還さ
れ、第2の初期4ビツト語に加算される。直列演
算処理がつぎの4ビツト語について引き続き行わ
れ、これは累積語に引き続き加算される後の差分
誤差値に相当する。誤差測定回路54によつてす
でに測定されている誤差に相当する誤差値はこの
特定の例では各ボツクス内の12本のテレビジヨン
走査線がカメラのリアルタイム動作中走査された
のち累積される。16本の走査線にわたつて行われ
た一連の累積処理は与えられたボツクス内で測定
した誤差の垂直補間を与える。
各語の終りにおいて、加算器284は桁上げを
累積する。したがつて線295の桁上げリセツト
パルス(第11図も参照)は加算器内の桁上げが
つぎの語に及ぶのを防止する。記憶装置280が
更新される場合、加算器284を動かしている記
憶装置の読出し処理を妨害しないようにしなけれ
ばならない。加算器およびシフトレジスタ294
の4つの最上位ビツトは通常ゼロであり、これに
よつて記憶装置280を更新するのに都合のよい
時間が得られる。線295の蓄積コマンド(第1
1図)は線354の高次のアドレス周波数によつ
てゲートされるが、記憶装置がゼロを読み出して
その記憶装置を更新する時間を選択する。
累積する。したがつて線295の桁上げリセツト
パルス(第11図も参照)は加算器内の桁上げが
つぎの語に及ぶのを防止する。記憶装置280が
更新される場合、加算器284を動かしている記
憶装置の読出し処理を妨害しないようにしなけれ
ばならない。加算器およびシフトレジスタ294
の4つの最上位ビツトは通常ゼロであり、これに
よつて記憶装置280を更新するのに都合のよい
時間が得られる。線295の蓄積コマンド(第1
1図)は線354の高次のアドレス周波数によつ
てゲートされるが、記憶装置がゼロを読み出して
その記憶装置を更新する時間を選択する。
1本の走査線および(または)1つのフイール
ドの終りにおいて、シフトレジスタ294および
加算器284にゼロを設定し、つぎの新しい絶対
誤差データ語に備えることが必要である。線29
5のオールゼロコマンド(第11図)はそのよう
な機能を行う。
ドの終りにおいて、シフトレジスタ294および
加算器284にゼロを設定し、つぎの新しい絶対
誤差データ語に備えることが必要である。線29
5のオールゼロコマンド(第11図)はそのよう
な機能を行う。
このようにして累積する最終ラスタ誤差修正デ
ータは連続的に直並列変換器292へ供給され、
並列データが対応するアナログ誤差信号に変換さ
れ、これはカメラヘツドシステム12の動作中ス
イツチ300および線298を通して各加算増
幅/駆動装置36(第2図)に供給される。この
アナログ誤差修正信号は空間すなわち整合および
幾何的、水平および垂直、走査修正誤差、ならび
に白黒シエーデイング誤差修正信号を含むが、こ
れは前に説明した。ガンマ誤差修正信号はマイク
ロプロセツサシステム32を通して直接ビデオ処
理回路52(第2図)へ供給され、従来のガンマ
修正を行う。
ータは連続的に直並列変換器292へ供給され、
並列データが対応するアナログ誤差信号に変換さ
れ、これはカメラヘツドシステム12の動作中ス
イツチ300および線298を通して各加算増
幅/駆動装置36(第2図)に供給される。この
アナログ誤差修正信号は空間すなわち整合および
幾何的、水平および垂直、走査修正誤差、ならび
に白黒シエーデイング誤差修正信号を含むが、こ
れは前に説明した。ガンマ誤差修正信号はマイク
ロプロセツサシステム32を通して直接ビデオ処
理回路52(第2図)へ供給され、従来のガンマ
修正を行う。
画面の垂直および水平ブランキング期間中、ス
イツチ300は線304の複合ブランキング期間
中、スイツチ300は線304の複合ブランキン
グ入力を通して線302の基準電圧入力へ切り換
えられ、この基準電圧入力は誤差電圧を中心とす
る主直流電圧である。したがつてブランキング中
走査ビームは選択された電圧レベルで駆動され
る。
イツチ300は線304の複合ブランキング期間
中、スイツチ300は線304の複合ブランキン
グ入力を通して線302の基準電圧入力へ切り換
えられ、この基準電圧入力は誤差電圧を中心とす
る主直流電圧である。したがつてブランキング中
走査ビームは選択された電圧レベルで駆動され
る。
誤差修正波形が発生すると垂直および水平積
分、走査ヨークビデオ処理などによつて時間遅延
が生ずる。これらの遅延は一定でありわかつてい
る。したがつて、誤差修正回路アドレス発生器、
したがつてそのアドレス(第6図、第10図、第
11図)をこれら全体として一定の量だけ歩進さ
せ、その遅延処理を補償することが必要である。
これによつて、誤差修正が行われたときはあるボ
ツクス内で平均処理によつて誤差測定を行つた画
像おけるその点に正確に対応するその画像におけ
るその点において確実に位置を定めることができ
る。
分、走査ヨークビデオ処理などによつて時間遅延
が生ずる。これらの遅延は一定でありわかつてい
る。したがつて、誤差修正回路アドレス発生器、
したがつてそのアドレス(第6図、第10図、第
11図)をこれら全体として一定の量だけ歩進さ
せ、その遅延処理を補償することが必要である。
これによつて、誤差修正が行われたときはあるボ
ツクス内で平均処理によつて誤差測定を行つた画
像おけるその点に正確に対応するその画像におけ
るその点において確実に位置を定めることができ
る。
第3A図〜第3D図の回路はトータルラスタ誤
差修生システムの空間走査誤差を判定する誤差測
定回路を示す。第7図は第3A図〜第3D図の回
路と一体となつた回路の例を示し、白黒のシエー
デイング誤差信号およびガンマ誤差信号を発生す
る。その出力である空間、シエーデイングおよび
ガンマ誤差修正信号はビデオ画像トータルラスタ
走査修正を与える。このため第3A図のそれぞれ
低域フイルタ112,114からの低域波した
被測定および基準チヤネルビデオ信号は線30
6,308を通して第7図の黒/白シエーデイン
グ誤差修正回路の被測定チヤネルおよび基準チヤ
ネルの入力に供給される。被測定チヤネルおよび
基準チヤネルは図示の同じ回路を使用している。
したがつて線306,308のビデオ信号はそれ
ぞれバツフア増幅器310,312へ供給され
る。これらの出力は負増幅器314,316へ導
入されるとともにそれぞれ正ピーク検出器31
8,320へ供給される。検出器320の中味は
たとえばバツフア回路に結合されたピーク検出回
路である。増幅器310,312は利得1を有
し、正の被測定および基準チヤネルビデオ信号を
発生し、増幅器314,316は−1の利得を有
し、負の被測定および基準チヤネルビデオ信号を
発生する。負のビデオ信号は正のピーク検出器3
24,326にそれぞれ与えられる。ピーク検出
器318,324,326は検出器320と同一
であるので詳細は図示されていない。ピーク検出
器318,320は正のビデオのピークを検出し
白のビデオ信号レベルをきめるものであり、すな
わち白レベル包絡線に相当する直流波形を発生す
る。検出器324,326は(ビデオ信号が反転
しているので)負のビデオの正のピークを検出し
てビデオ信号の黒レベルを決定し、すなわち黒レ
ベル包絡線に相当する同じ極性の直流波形を発生
する。このビデオ信号を反転して4個の正ピーク
検出器を使用できるようにし、回路を簡単にして
いる。ピーク検出器318,320の出力は差動
増幅器330のそれぞれ負および正の入力に供給
される。ピーク検出器324,326の出力は差
動増幅器332のそれぞれ負および正の入力に供
給される。これらの差動増幅器は基準ピーク直流
黒/白レベルをそれぞれ被測定ピーク直流黒/白
レベルと比較して黒レベルと白レベルの差を第2
図で前に述べたアナログデータセレクトスイツチ
62へ供給する。スイツチ62は線181のボツ
クスセレクトコマンドに応じて黒または白のシエ
ーデイング誤差をサンプルホールド回路64およ
びA/D変換器60へ供給し、つぎに前に述べた
共通データバス176,270および65(第2
図)に対応するシエーデイング誤差データバス3
34へ供給する。構成要素60〜64は第2図に
示すようにCCUマイクロプロセツサシステム3
0で制御され、これによつて差動増幅器332,
330からの白黒シエーデイング誤差信号が供給
されつぎに符号化、多重化されカメラヘツドシス
テム12へ送られる。したがつてA/D変換器6
0の出力は白黒直流レベル誤差の差の大きさを表
わすデイジタル信号である。なお単一のピーク検
出回路および正負スイツチ(図示せず)を第7図
の4つの回路のかわりに使用することもできる
が、この場合シエーデイング誤差を測定するのに
要する時間が増加する。
差修生システムの空間走査誤差を判定する誤差測
定回路を示す。第7図は第3A図〜第3D図の回
路と一体となつた回路の例を示し、白黒のシエー
デイング誤差信号およびガンマ誤差信号を発生す
る。その出力である空間、シエーデイングおよび
ガンマ誤差修正信号はビデオ画像トータルラスタ
走査修正を与える。このため第3A図のそれぞれ
低域フイルタ112,114からの低域波した
被測定および基準チヤネルビデオ信号は線30
6,308を通して第7図の黒/白シエーデイン
グ誤差修正回路の被測定チヤネルおよび基準チヤ
ネルの入力に供給される。被測定チヤネルおよび
基準チヤネルは図示の同じ回路を使用している。
したがつて線306,308のビデオ信号はそれ
ぞれバツフア増幅器310,312へ供給され
る。これらの出力は負増幅器314,316へ導
入されるとともにそれぞれ正ピーク検出器31
8,320へ供給される。検出器320の中味は
たとえばバツフア回路に結合されたピーク検出回
路である。増幅器310,312は利得1を有
し、正の被測定および基準チヤネルビデオ信号を
発生し、増幅器314,316は−1の利得を有
し、負の被測定および基準チヤネルビデオ信号を
発生する。負のビデオ信号は正のピーク検出器3
24,326にそれぞれ与えられる。ピーク検出
器318,324,326は検出器320と同一
であるので詳細は図示されていない。ピーク検出
器318,320は正のビデオのピークを検出し
白のビデオ信号レベルをきめるものであり、すな
わち白レベル包絡線に相当する直流波形を発生す
る。検出器324,326は(ビデオ信号が反転
しているので)負のビデオの正のピークを検出し
てビデオ信号の黒レベルを決定し、すなわち黒レ
ベル包絡線に相当する同じ極性の直流波形を発生
する。このビデオ信号を反転して4個の正ピーク
検出器を使用できるようにし、回路を簡単にして
いる。ピーク検出器318,320の出力は差動
増幅器330のそれぞれ負および正の入力に供給
される。ピーク検出器324,326の出力は差
動増幅器332のそれぞれ負および正の入力に供
給される。これらの差動増幅器は基準ピーク直流
黒/白レベルをそれぞれ被測定ピーク直流黒/白
レベルと比較して黒レベルと白レベルの差を第2
図で前に述べたアナログデータセレクトスイツチ
62へ供給する。スイツチ62は線181のボツ
クスセレクトコマンドに応じて黒または白のシエ
ーデイング誤差をサンプルホールド回路64およ
びA/D変換器60へ供給し、つぎに前に述べた
共通データバス176,270および65(第2
図)に対応するシエーデイング誤差データバス3
34へ供給する。構成要素60〜64は第2図に
示すようにCCUマイクロプロセツサシステム3
0で制御され、これによつて差動増幅器332,
330からの白黒シエーデイング誤差信号が供給
されつぎに符号化、多重化されカメラヘツドシス
テム12へ送られる。したがつてA/D変換器6
0の出力は白黒直流レベル誤差の差の大きさを表
わすデイジタル信号である。なお単一のピーク検
出回路および正負スイツチ(図示せず)を第7図
の4つの回路のかわりに使用することもできる
が、この場合シエーデイング誤差を測定するのに
要する時間が増加する。
第7図では、白黒シエーデイング測定のほかに
ガンマ誤差測定も得られる。したがつて被測定チ
ヤネルピーク検出器324の出力をインバータ3
23を通して加算増幅器322の入力へ結合し、
検出器318は増幅器322の他方の入力に結合
される。後者の出力はしたがつてビデオ信号の平
均の白黒直流値となり、これはそれぞれ白黒コン
デンサ325およびグレーコンデンサ327へス
イツチ328を通して供給される。これらのコン
デンサは差動増幅器329へ結合されている。ス
イツチ328は線138の被測定パターン有効信
号に応じてどのコンデンサが平均白黒直流値をサ
ンプルしているかを判定する。すなわち有効パタ
ーンが存在すると黒対白のパターンの平均値がス
イツチ328を介して白黒コンデンサ325へ供
給される。しかしパターン有効信号が存在しない
と本システムはそのパターンのグレー領域を走査
し、スイツチ328は平均直流値をグレーコンデ
ンサ327へ送る。
ガンマ誤差測定も得られる。したがつて被測定チ
ヤネルピーク検出器324の出力をインバータ3
23を通して加算増幅器322の入力へ結合し、
検出器318は増幅器322の他方の入力に結合
される。後者の出力はしたがつてビデオ信号の平
均の白黒直流値となり、これはそれぞれ白黒コン
デンサ325およびグレーコンデンサ327へス
イツチ328を通して供給される。これらのコン
デンサは差動増幅器329へ結合されている。ス
イツチ328は線138の被測定パターン有効信
号に応じてどのコンデンサが平均白黒直流値をサ
ンプルしているかを判定する。すなわち有効パタ
ーンが存在すると黒対白のパターンの平均値がス
イツチ328を介して白黒コンデンサ325へ供
給される。しかしパターン有効信号が存在しない
と本システムはそのパターンのグレー領域を走査
し、スイツチ328は平均直流値をグレーコンデ
ンサ327へ送る。
黒レベルがゼロであり白レベルが100%である
ので、白黒コンデンサ325でサンプルされた平
均直流値は50%である。ガンマ修正が必要でない
と、グレーコンデンサ327でサンプルされたグ
レー直流レベルも50%であり、すなわち平均白黒
レベルと同じである。しかしコンデンサ325お
よび327のサンプルされた直流レベルがガンマ
誤差が存在するために異なつていると、その差が
差動増幅器329によつて検出される。後者の増
幅器の出力がガンマ誤差であり、これはつぎのデ
ータセレクトスイツチ62に供給され、CCUマ
イクロプロセツサ30の制御に応じて白黒シエー
デイング誤差と共につぎにデイジタル化され符号
化されるなどの処理が行われる。公知のように、
ボツクスごとではなく画像全体にわたつて積分す
ることによつてガンマ修正を行う。ガンマ修正も
空間修正の場合のように撮像管の間でなくカメラ
ヘツドの撮像管ごとに行う。
ので、白黒コンデンサ325でサンプルされた平
均直流値は50%である。ガンマ修正が必要でない
と、グレーコンデンサ327でサンプルされたグ
レー直流レベルも50%であり、すなわち平均白黒
レベルと同じである。しかしコンデンサ325お
よび327のサンプルされた直流レベルがガンマ
誤差が存在するために異なつていると、その差が
差動増幅器329によつて検出される。後者の増
幅器の出力がガンマ誤差であり、これはつぎのデ
ータセレクトスイツチ62に供給され、CCUマ
イクロプロセツサ30の制御に応じて白黒シエー
デイング誤差と共につぎにデイジタル化され符号
化されるなどの処理が行われる。公知のように、
ボツクスごとではなく画像全体にわたつて積分す
ることによつてガンマ修正を行う。ガンマ修正も
空間修正の場合のように撮像管の間でなくカメラ
ヘツドの撮像管ごとに行う。
第8図は前に述べた電子的テストパターンを発
生する1つの回路装置を示し、これはその回路の
出力58に現われ第3A図のFTP入力58に対
応する。線336の第8図に対する500KHz入力
はマイクロプロセツサシステム30(第2図)か
ら必要な電子テストパターン周波数をスイツチ3
38およびインバータ340へ供給する。このス
イツチおよびインバータはテストパターンの白黒
領域において180゜のシフトを与えて垂直情報を与
える。入力342のETPアドレス垂直周波数信
号に応じて2kHzの周波数でスイツチングが行わ
れる。このスイツチされたパターンは第2のスイ
ツチ344へ送られ、これもETPアドレス垂直
周波数信号において制御され、白黒パターン34
6のグレーレベル発生器の間でスイツチングが行
われ、後者を使用してガンマ修正を行う。その出
力である出力58の電子テストパターン信号は第
1図、第2図の光学テストパターン38を電子的
に変換したものである。
生する1つの回路装置を示し、これはその回路の
出力58に現われ第3A図のFTP入力58に対
応する。線336の第8図に対する500KHz入力
はマイクロプロセツサシステム30(第2図)か
ら必要な電子テストパターン周波数をスイツチ3
38およびインバータ340へ供給する。このス
イツチおよびインバータはテストパターンの白黒
領域において180゜のシフトを与えて垂直情報を与
える。入力342のETPアドレス垂直周波数信
号に応じて2kHzの周波数でスイツチングが行わ
れる。このスイツチされたパターンは第2のスイ
ツチ344へ送られ、これもETPアドレス垂直
周波数信号において制御され、白黒パターン34
6のグレーレベル発生器の間でスイツチングが行
われ、後者を使用してガンマ修正を行う。その出
力である出力58の電子テストパターン信号は第
1図、第2図の光学テストパターン38を電子的
に変換したものである。
第9図はCCUマイクロプロセツサシステム3
0と、第2図に示され第3B図、第3D図および
第7図において詳細に示した誤差測定回路54、
A/D変換器60などとの間のインタフエース回
路の例を示す。さまざまな入出力に同様の符号が
つけられている。したがつて共通のデータバス6
5、すなわちバス176,270,334は両方
向バス67を通してマイクロプロセツサシステム
30に結合され、したがつてラツチ347を通し
て符号化/多重化/多重分離/復号装置28に結
合されている。線349の読出し/書込み信号な
らびにHおよびVデータバスセレクト信号はこの
インタフエースおよび誤差測定回路54で発生し
た誤差データの制御をマイクロプロセツサシステ
ム30のさまざまな出力および制御によつて行
う。
0と、第2図に示され第3B図、第3D図および
第7図において詳細に示した誤差測定回路54、
A/D変換器60などとの間のインタフエース回
路の例を示す。さまざまな入出力に同様の符号が
つけられている。したがつて共通のデータバス6
5、すなわちバス176,270,334は両方
向バス67を通してマイクロプロセツサシステム
30に結合され、したがつてラツチ347を通し
て符号化/多重化/多重分離/復号装置28に結
合されている。線349の読出し/書込み信号な
らびにHおよびVデータバスセレクト信号はこの
インタフエースおよび誤差測定回路54で発生し
た誤差データの制御をマイクロプロセツサシステ
ム30のさまざまな出力および制御によつて行
う。
第10図および第11図はそれぞれ同期発生回
路およびその対応するインタフエースを示し、マ
イクロプロセツサシステム32とトータルラスタ
誤差修正装置34(第2図、第6図)との間のさ
まざまな関連の入出力を示している。第10図の
同期発生器は全体としてカウンタ、読出し専用記
憶装置ラツチなどで構成され、さまざまなVおよ
びHアドレスとタイミング制御信号を発生し、こ
れらは第11図のインタフエース回路を通して誤
差修正回路74〜96に印加される。したがつて
VおよびHアドンスはそれぞれ線348,350
を通して第11図のインタフエース回路へ導入さ
れる。さまざまなブランキング信号およびリセツ
ト信号、ならびにさまざまな高次のアドレス周波
数信号はそれぞれ線352,354を通してイン
タフエース回路に入力される。第10図の同期発
生器からの線348,350の水平および垂直ア
ドレス、ならびにマイクロプロセツサシステム3
2からのアドレスバス356の誤差修正装置更新
情報は線354の第11図への250kHz入力に応
じてクオドスイツチヤ358を通してアドレス出
力線275へ交互に送られる。
路およびその対応するインタフエースを示し、マ
イクロプロセツサシステム32とトータルラスタ
誤差修正装置34(第2図、第6図)との間のさ
まざまな関連の入出力を示している。第10図の
同期発生器は全体としてカウンタ、読出し専用記
憶装置ラツチなどで構成され、さまざまなVおよ
びHアドレスとタイミング制御信号を発生し、こ
れらは第11図のインタフエース回路を通して誤
差修正回路74〜96に印加される。したがつて
VおよびHアドンスはそれぞれ線348,350
を通して第11図のインタフエース回路へ導入さ
れる。さまざまなブランキング信号およびリセツ
ト信号、ならびにさまざまな高次のアドレス周波
数信号はそれぞれ線352,354を通してイン
タフエース回路に入力される。第10図の同期発
生器からの線348,350の水平および垂直ア
ドレス、ならびにマイクロプロセツサシステム3
2からのアドレスバス356の誤差修正装置更新
情報は線354の第11図への250kHz入力に応
じてクオドスイツチヤ358を通してアドレス出
力線275へ交互に送られる。
線109を通してビデオセレクタスイツチ56
の位置を最終的に決めるチヤネル制御データ(第
3A図)はマイクロプロセツサシステム32から
データバス360へ導入され、マイクロプロセツ
サシステム32からの誤差データは第11図のイ
ンタフエース回路のデータバス362へ供給され
る。バス362のデータは出力データ線273
(第6図)に対して両方向性であり、記憶装置2
80の読出し書込み動作は入力364および両方
向スイツチ366、ならびにフリツプフロツプ3
68による線278のバス制御信号によつて制御
される。前に述べたオールゼロ(フリツプフロツ
プ370による)蓄積、桁上げリセツト、および
チツプセレクト(CS)の各コマンド(第6図)
は線295および361を通して誤差修正回路7
4ないし96に印加される。スイツチ300は線
304のブランキング信号で制御される。第6図
の加算器284には第11のさまざまなゲートおよ
び出力線294を介して第10図、第11図の線
354のタイミング信号に応じて直列演算タイミ
ング信号が供給される。
の位置を最終的に決めるチヤネル制御データ(第
3A図)はマイクロプロセツサシステム32から
データバス360へ導入され、マイクロプロセツ
サシステム32からの誤差データは第11図のイ
ンタフエース回路のデータバス362へ供給され
る。バス362のデータは出力データ線273
(第6図)に対して両方向性であり、記憶装置2
80の読出し書込み動作は入力364および両方
向スイツチ366、ならびにフリツプフロツプ3
68による線278のバス制御信号によつて制御
される。前に述べたオールゼロ(フリツプフロツ
プ370による)蓄積、桁上げリセツト、および
チツプセレクト(CS)の各コマンド(第6図)
は線295および361を通して誤差修正回路7
4ないし96に印加される。スイツチ300は線
304のブランキング信号で制御される。第6図
の加算器284には第11のさまざまなゲートおよ
び出力線294を介して第10図、第11図の線
354のタイミング信号に応じて直列演算タイミ
ング信号が供給される。
基本ルーチンおよびこの基本ルーチン内のさま
ざまなサブルーチンを表わしたフロー図が第12
図ないし第19図に示されており、これは充分な
空間およびシエーデイング誤差修正を行うテレビ
ジヨンカメラの完全自動設定の手順を示す。これ
らのルーチンはたとえばアイリス、焦点、フレ
ア、ガンマ修正などの付加的な自動設定手順だけ
でなく、本発明による空間および白黒誤差修正も
示している。
ざまなサブルーチンを表わしたフロー図が第12
図ないし第19図に示されており、これは充分な
空間およびシエーデイング誤差修正を行うテレビ
ジヨンカメラの完全自動設定の手順を示す。これ
らのルーチンはたとえばアイリス、焦点、フレ
ア、ガンマ修正などの付加的な自動設定手順だけ
でなく、本発明による空間および白黒誤差修正も
示している。
基本的な自動設定ルーチンは第12A図、第1
2B図に示され、一般にこの図面をみれば充分に
理解できる。したがつて最初の3つのブロツクは
単一のカメラまたは複数のカメラのうちの1つの
選択に関するものであり、またそのカメラが「オ
ンエア」である場合の自動設定動作を防止するた
めのものである。
2B図に示され、一般にこの図面をみれば充分に
理解できる。したがつて最初の3つのブロツクは
単一のカメラまたは複数のカメラのうちの1つの
選択に関するものであり、またそのカメラが「オ
ンエア」である場合の自動設定動作を防止するた
めのものである。
このため第12A図に示すフロー図のあとに第
14図の絶対黒サブルーチンを行い、そのあと第
15図の自動黒/白/自動白/自動ガンマサブル
ーチンが続く。つぎに「選択が自動黒か」なるテ
ストを行い、すでに自動黒サブルーチンが要求さ
れていればそのルーチンは第12B図の自動設定
ルーチンの終了へ進む。
14図の絶対黒サブルーチンを行い、そのあと第
15図の自動黒/白/自動白/自動ガンマサブル
ーチンが続く。つぎに「選択が自動黒か」なるテ
ストを行い、すでに自動黒サブルーチンが要求さ
れていればそのルーチンは第12B図の自動設定
ルーチンの終了へ進む。
この選択が自動黒だけでなかつた場合はそのル
ーチンは第13図の制限サブルーチンのつぎへ進
む。
ーチンは第13図の制限サブルーチンのつぎへ進
む。
制限サブルーチンが成功すると、そのルーチン
は第15図の自動黒/自動白/自動ガンマサブル
ーチンへ進み、これはカメラレンズをキヤツプし
ない状態で行うことによつて自動白設定手順を行
う。後者のサブルーチンの終了においてカメラは
完全にテストパターンの前に設定され、本システ
ムは動作基準状態となる。
は第15図の自動黒/自動白/自動ガンマサブル
ーチンへ進み、これはカメラレンズをキヤツプし
ない状態で行うことによつて自動白設定手順を行
う。後者のサブルーチンの終了においてカメラは
完全にテストパターンの前に設定され、本システ
ムは動作基準状態となる。
第12B図においてつぎのテスト「完全自動設
定が求められたか」が行なわれる。答えがノーで
あると、そのルーチンはフロー図の左側を下へ進
み、これによつてさまざまなテストステツプが順
次行われる。答えがイエスであれば、そのルーチ
ンはフロー図の中央に下へ示すように特定の求め
られたテストを行う。さまざまなテストのどれも
以前に要求されていない場合そのルーチンはフロ
ー図の左側を下へ続行しこのルーチンの終了に至
る。
定が求められたか」が行なわれる。答えがノーで
あると、そのルーチンはフロー図の左側を下へ進
み、これによつてさまざまなテストステツプが順
次行われる。答えがイエスであれば、そのルーチ
ンはフロー図の中央に下へ示すように特定の求め
られたテストを行う。さまざまなテストのどれも
以前に要求されていない場合そのルーチンはフロ
ー図の左側を下へ続行しこのルーチンの終了に至
る。
しかし第12B図のフロー図の左側を下へさが
るテストステツプに沿つたいずれかの点において
答がイエスであると、このルーチンはその特定の
テストすなわちサブルーチンへ分岐する。たとえ
ば完全自動設定が求められるとこのルーチンは、
第16図のアライメント/焦点サブルーチンから
カメラのレンズをキヤツプした黒ビデオセレクタ
テストへ進み、第17図のボツクスセレクトサブ
ルーチンへ進み、カメラのレンズをキヤツプしな
い白ビデオセレクタテストへ進み、第17図のボ
ツクスセレクトサブルーチンへ戻り、位相復調セ
レクタテスト(これは水平および垂直走査修正測
定である)へ進み、再び第17図のボツクスセレ
クトサブルーチンへ戻り、ビデオ間隔セレクタテ
ストへ進み、そして第15図の自動黒/自動白/
自動ガンマサブルーチンを通つてこのルーチンの
終了に至る。
るテストステツプに沿つたいずれかの点において
答がイエスであると、このルーチンはその特定の
テストすなわちサブルーチンへ分岐する。たとえ
ば完全自動設定が求められるとこのルーチンは、
第16図のアライメント/焦点サブルーチンから
カメラのレンズをキヤツプした黒ビデオセレクタ
テストへ進み、第17図のボツクスセレクトサブ
ルーチンへ進み、カメラのレンズをキヤツプしな
い白ビデオセレクタテストへ進み、第17図のボ
ツクスセレクトサブルーチンへ戻り、位相復調セ
レクタテスト(これは水平および垂直走査修正測
定である)へ進み、再び第17図のボツクスセレ
クトサブルーチンへ戻り、ビデオ間隔セレクタテ
ストへ進み、そして第15図の自動黒/自動白/
自動ガンマサブルーチンを通つてこのルーチンの
終了に至る。
このように求められた特定の自動設定手順に応
じて、このルーチンはフロー図の中央および右側
をたどつて完全自動設定を行い、または以前に求
められた特定の自動テストでフロー図の左側を走
つて分岐する。たとえば白または黒のシエーデイ
ング修正順、位相復調セレクタテストなどが終了
すると、このルーチンはボツクスセレクトサブル
ーチンへ分岐し、これはボツクス内の複数のサン
プルの選択を指示し、そのボツクス内の複数の走
査線について前に説明したように空間誤差および
(または)白黒シエーデイング誤差を発生する。
じて、このルーチンはフロー図の中央および右側
をたどつて完全自動設定を行い、または以前に求
められた特定の自動テストでフロー図の左側を走
つて分岐する。たとえば白または黒のシエーデイ
ング修正順、位相復調セレクタテストなどが終了
すると、このルーチンはボツクスセレクトサブル
ーチンへ分岐し、これはボツクス内の複数のサン
プルの選択を指示し、そのボツクス内の複数の走
査線について前に説明したように空間誤差および
(または)白黒シエーデイング誤差を発生する。
これらのサブルーチンを経由して誤差が発生す
るとこれらは前に述べたようにして蓄積される。
つぎにこの誤差は第12B図のルーチンの終了付
近に示すようなサブルーチンで取り出し、これに
よつてつぎにカメラはつぎのサブルーチンでの通
常状態に復帰し誤差を表示することができる。
るとこれらは前に述べたようにして蓄積される。
つぎにこの誤差は第12B図のルーチンの終了付
近に示すようなサブルーチンで取り出し、これに
よつてつぎにカメラはつぎのサブルーチンでの通
常状態に復帰し誤差を表示することができる。
第13図ないし第19図のサブルーチンも全体
としてはそれ自体で説明できる。第13図は制限
サブルーチンを示し、これは第12A図ないし第
12B図のルーチンにおいて一回だけ実行され、
これによつてテストパターンがカメラの前で水平
および垂直の両方において充分な制度で適切にフ
レーム化され、かつそのパターンにおいてさまざ
まなサブルーチンテストを行うのに充分な光があ
るようにする。パターンが適切な位置になかつた
り光が不充分であつたりすると、制限サブルーチ
ンは所定の印字でどこが悪いかを表示し、このプ
ロセスはそのサブルーチンの終了へ進む。
としてはそれ自体で説明できる。第13図は制限
サブルーチンを示し、これは第12A図ないし第
12B図のルーチンにおいて一回だけ実行され、
これによつてテストパターンがカメラの前で水平
および垂直の両方において充分な制度で適切にフ
レーム化され、かつそのパターンにおいてさまざ
まなサブルーチンテストを行うのに充分な光があ
るようにする。パターンが適切な位置になかつた
り光が不充分であつたりすると、制限サブルーチ
ンは所定の印字でどこが悪いかを表示し、このプ
ロセスはそのサブルーチンの終了へ進む。
制限サブルーチンはビデオセレクタ(すなわち
第2図のビデオセレクタスイツチ56)を好まし
くは緑チヤネルに相当するn=1に設定すること
によつて開始し、これによつてテストが行なわれ
そのテストパターンが適切に位置し充分に光があ
るかあるかどうかを判定する。水平および垂直位
置をテストし、このテストのいずれかがノーであ
るとサブルーチンはこのチヤートが「限界外」に
あることを示す印字する。これらのテストがイエ
スであれば、フロー図は空間およびシエーデイン
グ誤差修正の本発明の組合せとは関係のないさま
ざまなアイリス、白フラグなどのステツプへ進
む。しかし一般にレンズアイリスは中央にあつて
テストパターンの上に許容できる光が入るように
し、これによつて空間およびシエーデイング誤差
測定ができるようにしなければならない。したが
つて「レンズが限界内か」というテストが行なわ
れ、もしそうであればテスト「被測定ピークビデ
オレベル」が行なわれる。ビデオが限界内である
と「すべてのテストがイエスを示したか」なるテ
ストが行なわれ、イエスであればアイリスがその
位置に固定され手動制御がロツクされて一連の自
動設定中変えることができないようになる。これ
で制限サブルーチンは終了する。
第2図のビデオセレクタスイツチ56)を好まし
くは緑チヤネルに相当するn=1に設定すること
によつて開始し、これによつてテストが行なわれ
そのテストパターンが適切に位置し充分に光があ
るかあるかどうかを判定する。水平および垂直位
置をテストし、このテストのいずれかがノーであ
るとサブルーチンはこのチヤートが「限界外」に
あることを示す印字する。これらのテストがイエ
スであれば、フロー図は空間およびシエーデイン
グ誤差修正の本発明の組合せとは関係のないさま
ざまなアイリス、白フラグなどのステツプへ進
む。しかし一般にレンズアイリスは中央にあつて
テストパターンの上に許容できる光が入るように
し、これによつて空間およびシエーデイング誤差
測定ができるようにしなければならない。したが
つて「レンズが限界内か」というテストが行なわ
れ、もしそうであればテスト「被測定ピークビデ
オレベル」が行なわれる。ビデオが限界内である
と「すべてのテストがイエスを示したか」なるテ
ストが行なわれ、イエスであればアイリスがその
位置に固定され手動制御がロツクされて一連の自
動設定中変えることができないようになる。これ
で制限サブルーチンは終了する。
第14図の絶対黒測定サブルーチンにおいて、
手動制御がロツクされカメラのレンズは電気的に
キヤツプされる。テスト「ビデオ検出器番号選
択」によつて黒シエーデイングプロセスの選択を
判定し、これによつて黒レベルのアドレスが発生
する。つぎに第18図のビデオセレクタサブルー
チンを実行し、これは順次ビデオセレクタスイツ
チの位置を選択して緑チヤネルをテストパターン
基準チヤネルと比較し、つぎに緑チヤネルに対し
て順次赤チヤネルおよび青チヤネルを比較する。
絶対黒レベルはこれらの比較動作中に測定する。
フレア制御が求められていれば、カメラはキヤツ
プをはずしてフレアを修正し第14図のサブルー
チンを終了する。
手動制御がロツクされカメラのレンズは電気的に
キヤツプされる。テスト「ビデオ検出器番号選
択」によつて黒シエーデイングプロセスの選択を
判定し、これによつて黒レベルのアドレスが発生
する。つぎに第18図のビデオセレクタサブルー
チンを実行し、これは順次ビデオセレクタスイツ
チの位置を選択して緑チヤネルをテストパターン
基準チヤネルと比較し、つぎに緑チヤネルに対し
て順次赤チヤネルおよび青チヤネルを比較する。
絶対黒レベルはこれらの比較動作中に測定する。
フレア制御が求められていれば、カメラはキヤツ
プをはずしてフレアを修正し第14図のサブルー
チンを終了する。
第15図の自動黒/自動白/自動ガンマサブル
ーチンはカメラがキヤツプされていれば自動黒ス
テツプを行い、またカメラがキヤツプされていな
ければ自動白ステツプを行う。どちらの場合も
「ビデオ検出器番号選択」なる処理ののち関連す
るアドレスが発生し、これは最初に緑チヤネルを
選択する。自動黒手順または自動白手順におい
て、第18図のビデオセレクタサブルーチンをつ
ぎに利用し、緑、赤、および青のチヤネルについ
て黒または白のシエーデイング誤差データを得
る。
ーチンはカメラがキヤツプされていれば自動黒ス
テツプを行い、またカメラがキヤツプされていな
ければ自動白ステツプを行う。どちらの場合も
「ビデオ検出器番号選択」なる処理ののち関連す
るアドレスが発生し、これは最初に緑チヤネルを
選択する。自動黒手順または自動白手順におい
て、第18図のビデオセレクタサブルーチンをつ
ぎに利用し、緑、赤、および青のチヤネルについ
て黒または白のシエーデイング誤差データを得
る。
第16図のアライメント/焦点サブルーチンは
画面の中央における各ボツクスの中心におけるア
ライメントを測定し、画面全体にわたる焦点を測
定する。後者の手順は本発明の組合せには関係な
いが、テレビジヨンカメラの全体の自動設定にと
つて欠くことのできないものであり、一般にそれ
自体で理解できるものである。
画面の中央における各ボツクスの中心におけるア
ライメントを測定し、画面全体にわたる焦点を測
定する。後者の手順は本発明の組合せには関係な
いが、テレビジヨンカメラの全体の自動設定にと
つて欠くことのできないものであり、一般にそれ
自体で理解できるものである。
第17図のボツクス選択サブルーチンを基本ル
ーチンのさまざまなサブルーチンの中で複数回使
用し、前に述べたようにボツクス配列の各ボツク
スの一連の選択を行う。これらのボツクスはこの
サブルーチンで、たとえば単なる例示にすぎない
最上部左側に最初のボツクスAAで識別され、水
平および垂直ボツクス配列の最下部右の最後のボ
ツクスYYを通る。したがつて一般にボツクス選
択サブルーチンはビデオ画像の最上部左側ボツク
スに対応するボツクスAAで測定を開始し、各ボ
ツクスの水平列に沿つて最初の列の最後のボツク
スまで進む。この測定プロセスをその画像の左側
にある各ボツクスの第2の列について続けて行い
以下これを繰り返し、水平および垂直ボツクスの
配列全体を通つて最後のボツクス列に至り、そし
て最後のボツクスYYへ進む。
ーチンのさまざまなサブルーチンの中で複数回使
用し、前に述べたようにボツクス配列の各ボツク
スの一連の選択を行う。これらのボツクスはこの
サブルーチンで、たとえば単なる例示にすぎない
最上部左側に最初のボツクスAAで識別され、水
平および垂直ボツクス配列の最下部右の最後のボ
ツクスYYを通る。したがつて一般にボツクス選
択サブルーチンはビデオ画像の最上部左側ボツク
スに対応するボツクスAAで測定を開始し、各ボ
ツクスの水平列に沿つて最初の列の最後のボツク
スまで進む。この測定プロセスをその画像の左側
にある各ボツクスの第2の列について続けて行い
以下これを繰り返し、水平および垂直ボツクスの
配列全体を通つて最後のボツクス列に至り、そし
て最後のボツクスYYへ進む。
各ボツクスを選択したのちこのサブルーチンは
対応するアドレスを発生し、つぎに第18図のビ
デオセレクタサブルーチンへ進む。ビデオセレク
タサブルーチンを終了すると、変換終了信号が発
生してつぎのボツクスを選択する。このサブルー
チンの間処理は「ボツクス位置がYYをこえた
か」なるテストに進み、もしこえていなければ次
のボツクスを選択し、アドレスを発生してビデオ
セレクタサブルーチンが再び求められる。このサ
イクルは最後のボツクスYYで測定が行われるま
で続ける。つぎにサブルーチンは「全ボツクス選
択」へ進み、僅かな遅延ののち「すべてのボツク
スが選択されたか」なるテストを行う。答えがイ
エスであれば、このサブルーチンは第18図のビ
デオ選択サブルーチンへ戻りつぎのチヤネルすな
わち赤または青チヤネルを選択してこれを緑チヤ
ネルと比較し、3つのチヤネルがすべて比較され
るまでこれを行う。各チヤネルにおいてすべての
ボツクスによつてすべての測定を行つたのちボツ
クス選択サブルーチンはビデオセレクタサブルー
チンで終了する。
対応するアドレスを発生し、つぎに第18図のビ
デオセレクタサブルーチンへ進む。ビデオセレク
タサブルーチンを終了すると、変換終了信号が発
生してつぎのボツクスを選択する。このサブルー
チンの間処理は「ボツクス位置がYYをこえた
か」なるテストに進み、もしこえていなければ次
のボツクスを選択し、アドレスを発生してビデオ
セレクタサブルーチンが再び求められる。このサ
イクルは最後のボツクスYYで測定が行われるま
で続ける。つぎにサブルーチンは「全ボツクス選
択」へ進み、僅かな遅延ののち「すべてのボツク
スが選択されたか」なるテストを行う。答えがイ
エスであれば、このサブルーチンは第18図のビ
デオ選択サブルーチンへ戻りつぎのチヤネルすな
わち赤または青チヤネルを選択してこれを緑チヤ
ネルと比較し、3つのチヤネルがすべて比較され
るまでこれを行う。各チヤネルにおいてすべての
ボツクスによつてすべての測定を行つたのちボツ
クス選択サブルーチンはビデオセレクタサブルー
チンで終了する。
第18図のビデオセレクタサブルーチンは緑、
赤または青チヤネルに対応するn=1,2または
3なる3本のチヤネルの1つを選択する手順であ
る。したがつてその開始点ではビデオセレクタは
n=1すなわち緑チヤネルを選択し、これは緑の
絶対測定値、すなわち基準チヤネルと比較される
緑チヤネルであつてもよい。テスト「フレーム番
号が〇〇〇か」を行い、イエスであれば命令「A
=0/dbセツト」によつて本システムの利得を
1に設定する。これらのアドレスはその緑のフレ
ーム番号および誤差信号のフレーム番号から発生
する。つぎの「引き算」命令は0を発生して誤差
修正システムをプリセツトし、焦点手順が選択さ
れていなければ第19図の「測定誤差」サブルー
チンを行い、これは空間および白黒シエーデイン
グ誤差測定プロセスに絶対(初期)誤差値および
一連の差分誤差値を与える。テスト「サブルーチ
ン終了」においてnが3未満であれば第18図の
サブルーチンはつぎのチヤネルに進みこのサイク
ルを再び実行する。したがつてサブルーチンはフ
ロー図の左側に示す同じ経路を通つて赤および緑
チヤネルへ進行する。
赤または青チヤネルに対応するn=1,2または
3なる3本のチヤネルの1つを選択する手順であ
る。したがつてその開始点ではビデオセレクタは
n=1すなわち緑チヤネルを選択し、これは緑の
絶対測定値、すなわち基準チヤネルと比較される
緑チヤネルであつてもよい。テスト「フレーム番
号が〇〇〇か」を行い、イエスであれば命令「A
=0/dbセツト」によつて本システムの利得を
1に設定する。これらのアドレスはその緑のフレ
ーム番号および誤差信号のフレーム番号から発生
する。つぎの「引き算」命令は0を発生して誤差
修正システムをプリセツトし、焦点手順が選択さ
れていなければ第19図の「測定誤差」サブルー
チンを行い、これは空間および白黒シエーデイン
グ誤差測定プロセスに絶対(初期)誤差値および
一連の差分誤差値を与える。テスト「サブルーチ
ン終了」においてnが3未満であれば第18図の
サブルーチンはつぎのチヤネルに進みこのサイク
ルを再び実行する。したがつてサブルーチンはフ
ロー図の左側に示す同じ経路を通つて赤および緑
チヤネルへ進行する。
このサブルーチンの間引き算命令ののち「最下
位ビツトに誤差があるか」なるテストを行い、誤
差がなければその誤差およびアドレスを蓄積しの
ちに表示するために使用する。
位ビツトに誤差があるか」なるテストを行い、誤
差がなければその誤差およびアドレスを蓄積しの
ちに表示するために使用する。
絶対黒の測定において「フレーム番号が〇〇〇
か」なるテストののち、答えがノーであれば利得
を前後に12db動かし、前のフレームと現在のフ
レームの黒レベルの変化を一次的に蓄積する。
か」なるテストののち、答えがノーであれば利得
を前後に12db動かし、前のフレームと現在のフ
レームの黒レベルの変化を一次的に蓄積する。
第19図の誤差測定サブルーチンはボツクスの
各列の開始において「水平絶対値」および画像の
最上部において(垂直絶対値)絶対、すなわち初
期誤差の測定値を与え、その後フイールド全体に
わたつてその絶対値に対する画像の一連の差動誤
差を与える。これらの測定はCCUマイクロプロ
セツサシステム30において第2図、第9図の共
通バス65および両方向バス67を通して行なわ
れ、これによつて絶対誤差データおよびそのとき
のそれ以降の差動誤差データが前に述べたように
装置28を通してカメラヘツドマイクロプロセツ
サシステム32へ供給される。
各列の開始において「水平絶対値」および画像の
最上部において(垂直絶対値)絶対、すなわち初
期誤差の測定値を与え、その後フイールド全体に
わたつてその絶対値に対する画像の一連の差動誤
差を与える。これらの測定はCCUマイクロプロ
セツサシステム30において第2図、第9図の共
通バス65および両方向バス67を通して行なわ
れ、これによつて絶対誤差データおよびそのとき
のそれ以降の差動誤差データが前に述べたように
装置28を通してカメラヘツドマイクロプロセツ
サシステム32へ供給される。
したがつて誤差測定サブルーチンはテスト
「黒/白/空間誤差修正が求められたか」で始ま
る。答えがノーであればこのサブルーチンはその
フロー図の最下部へ進む。イエスであれば現在の
誤差値を取り出してテスト「現在の値が初期値で
あるか」を行う。答えがイエスであればアドレス
を発生し、初期誤差値を転送する。ノーであれば
前の誤差値を取り出し、現在の誤差値を前の誤差
値から差き引き、アドレスを発生してその結果の
差分誤差値を転送する。このサブルーチンは3つ
のチヤネル、緑、赤および青についてその配列の
すべてのボツクスに対して続行し、ビデオセレク
タスイツチ56によつて選択されるように各チヤ
ネルごとに水平および垂直空間誤差値、ならびに
白黒シエーデイング誤差値を選択的に発生する。
ガンマ誤差測定は前述のように基本ルーチン(第
12B図)において行う。
「黒/白/空間誤差修正が求められたか」で始ま
る。答えがノーであればこのサブルーチンはその
フロー図の最下部へ進む。イエスであれば現在の
誤差値を取り出してテスト「現在の値が初期値で
あるか」を行う。答えがイエスであればアドレス
を発生し、初期誤差値を転送する。ノーであれば
前の誤差値を取り出し、現在の誤差値を前の誤差
値から差き引き、アドレスを発生してその結果の
差分誤差値を転送する。このサブルーチンは3つ
のチヤネル、緑、赤および青についてその配列の
すべてのボツクスに対して続行し、ビデオセレク
タスイツチ56によつて選択されるように各チヤ
ネルごとに水平および垂直空間誤差値、ならびに
白黒シエーデイング誤差値を選択的に発生する。
ガンマ誤差測定は前述のように基本ルーチン(第
12B図)において行う。
絶対誤差値を測定し蓄積するシステムにおい
て、第19図のフロー図の差分誤差値の測定を取
り扱う部分は必要ない。
て、第19図のフロー図の差分誤差値の測定を取
り扱う部分は必要ない。
第3A図ないし第3D図、第6図ないし第11
図のブロツク図ではさまざまな集積回路チツプの
ブロツクおよび記号が従来のようにそれぞれの製
造会社の部品番号で表示されており、そのさまざ
まなピンや部品も全図面を通じて従来の方法で表
示されている。
図のブロツク図ではさまざまな集積回路チツプの
ブロツクおよび記号が従来のようにそれぞれの製
造会社の部品番号で表示されており、そのさまざ
まなピンや部品も全図面を通じて従来の方法で表
示されている。
本発明を要約すると、カメラヘツド内に修正デ
ータを蓄積するデイジタル記憶装置を使用したト
ータルラスタ誤差測定および修正回路で二次元の
テレビジヨン画面内の空間走査誤差、シエーデイ
ング誤差などを修正する。基本的な空間誤差修正
回路は垂直走査の多数の離散的な走査線の上に水
平速度波形を効果的に合成する。離散的な走査線
の間のすべての走査された線について2つの離散
的な波形の間の線形近似を行い垂直方向に連続な
波形を形成する。カメラのレンズをキヤツプした
りしなかつたにりして白黒ビデオレベルをそれぞ
れ所定の白黒直流レベルと比較することによつて
白黒シエーデイング誤差を測定する。白と黒のピ
ークレベルを比較することによつてどんなグレー
レベル誤差も抽出しガンマ修正を行う。記憶装置
からトータルラスタ誤差修正データを取り出して
リアルタイム動作中カメラヘツドシステム内の所
定の撮像センサおよび対応するビデオ処理回路に
印加する。
ータを蓄積するデイジタル記憶装置を使用したト
ータルラスタ誤差測定および修正回路で二次元の
テレビジヨン画面内の空間走査誤差、シエーデイ
ング誤差などを修正する。基本的な空間誤差修正
回路は垂直走査の多数の離散的な走査線の上に水
平速度波形を効果的に合成する。離散的な走査線
の間のすべての走査された線について2つの離散
的な波形の間の線形近似を行い垂直方向に連続な
波形を形成する。カメラのレンズをキヤツプした
りしなかつたにりして白黒ビデオレベルをそれぞ
れ所定の白黒直流レベルと比較することによつて
白黒シエーデイング誤差を測定する。白と黒のピ
ークレベルを比較することによつてどんなグレー
レベル誤差も抽出しガンマ修正を行う。記憶装置
からトータルラスタ誤差修正データを取り出して
リアルタイム動作中カメラヘツドシステム内の所
定の撮像センサおよび対応するビデオ処理回路に
印加する。
第1図は本発明のトータルラスタ誤差修正シス
テムの簡単なブロツク図、第2図は第1図のシス
テムの詳細なブロツク図、第3A図ないし第3D
図は第2図のシステムの誤差測定システムの詳細
なブロツク図、第4A図ないし第4L図および第
5A図ないし第5M図は第3A図ないし第3D図
の回路に沿つたさまざまな点で発生する波形のグ
ラフ、第6図は第2図のシステムの12個の同じト
ータルラスタ誤差修正回路のうちの1つを例にと
つて示すブロツク図、第7図は第3A図ないし第
3D図の空間誤差測定システムと一体となつた白
黒シエーデイング誤差およびガンマ誤差測定回路
を示すブロツク図、第8図ないし第11図はそれ
ぞれ第3A図ないし第3D図、第7図および第6
図の誤差測定システムおよび誤差修正システムの
さまざまなインタフエース回路のブロツク図であ
り、第8図は電子テストパターン発生器を示し、
第9図はCCUマイクロプロセツサシステムと共
通デイジタル誤差データバスとの間のインタフエ
ース回路を示し、第10図および第11図はそれ
ぞれ誤差修正システムおよびカメラヘツドマイク
ロプロセツサシステムとインタフエースする同期
発生器および対応のインタフエースを示し、第1
2A図、第12B図はテレビジヨンカメラの完全
な自動設定ルーチンの各ステツプを示すフロー図
であり、とくに本発明の空間およびシエーデイン
グ誤差修正手順を示し、第13図ないし第19図
は第15A図、第12B図のルーチンにおいて用
いるさまざまなサブルーチンを示すフロー図であ
る。 16…カラースプリツト光学レンズ、18,2
0,22…三管配置、24…ビデオ処理装置、2
6…トータルラスタ誤差測定装置、28…符号
化/多重化/多重分離/復号装置、30…CCU
マイクロプロセツサ、32…カメラヘツドマイク
ロプロセツサシステム、34…ラスタ誤差修正装
置、36…加算増幅駆動装置、38…光学テスト
パターン。
テムの簡単なブロツク図、第2図は第1図のシス
テムの詳細なブロツク図、第3A図ないし第3D
図は第2図のシステムの誤差測定システムの詳細
なブロツク図、第4A図ないし第4L図および第
5A図ないし第5M図は第3A図ないし第3D図
の回路に沿つたさまざまな点で発生する波形のグ
ラフ、第6図は第2図のシステムの12個の同じト
ータルラスタ誤差修正回路のうちの1つを例にと
つて示すブロツク図、第7図は第3A図ないし第
3D図の空間誤差測定システムと一体となつた白
黒シエーデイング誤差およびガンマ誤差測定回路
を示すブロツク図、第8図ないし第11図はそれ
ぞれ第3A図ないし第3D図、第7図および第6
図の誤差測定システムおよび誤差修正システムの
さまざまなインタフエース回路のブロツク図であ
り、第8図は電子テストパターン発生器を示し、
第9図はCCUマイクロプロセツサシステムと共
通デイジタル誤差データバスとの間のインタフエ
ース回路を示し、第10図および第11図はそれ
ぞれ誤差修正システムおよびカメラヘツドマイク
ロプロセツサシステムとインタフエースする同期
発生器および対応のインタフエースを示し、第1
2A図、第12B図はテレビジヨンカメラの完全
な自動設定ルーチンの各ステツプを示すフロー図
であり、とくに本発明の空間およびシエーデイン
グ誤差修正手順を示し、第13図ないし第19図
は第15A図、第12B図のルーチンにおいて用
いるさまざまなサブルーチンを示すフロー図であ
る。 16…カラースプリツト光学レンズ、18,2
0,22…三管配置、24…ビデオ処理装置、2
6…トータルラスタ誤差測定装置、28…符号
化/多重化/多重分離/復号装置、30…CCU
マイクロプロセツサ、32…カメラヘツドマイク
ロプロセツサシステム、34…ラスタ誤差修正装
置、36…加算増幅駆動装置、38…光学テスト
パターン。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 テレビジヨンカメラに含まれた中央制御装置
並びに遠隔に位置できるカメラヘツド装置のそれ
ぞれがマイクロプロセツサ手段及び同期回路手段
とを有しており、前記カメラヘツド装置は撮像装
置と一体の走査制御手段と該撮像装置に接続して
ビデオ画像に対応する選択したビデオ信号を発生
するためのビデオ処理手段を含むテレビジヨンカ
メラにおける撮像装置の全てのラスタ関連誤差を
修正するトータルラスタ誤差修正装置において、 前記カメラヘツド装置とは独立して前記中央制
御装置内に配置されかつ前記ビデオ処理手段に結
合されて、所定の電子基準信号に関するトータル
ラスタ誤差を自動的にかつ電子的に測定し、トー
タルラスタ誤差に対応するデイジタル誤差データ
を発生して引続いて前記カメラヘツド装置に記憶
するようにするための誤差測定手段であつて、
黒/白と白/黒遷移に対応する周波数の変調矩形
波の形で電気的テストパターン基準信号を発生す
る手段を含み、又、該黒と白のレベルに対応して
それぞれ選ばれた最小と最大の電圧レベルを含む
誤差測定手段と、 前記カメラヘツド装置と一体的に設けられ、前
記誤差測定手段と作用的に結合されて、デイジタ
ルトータルラスタ誤差データを記憶し、該デイジ
タルトータルラスタ誤差をリアルタイムで自動的
に選択的に検索して読出し、前記走査制御手段及
びビデオ処理手段に前記中央制御装置とは独立に
トータルラスタ誤差を表すアナログ誤差修正信号
をリアルタイムで選択的に供給する誤差修正手段
と、 を含み、前記カメラヘツド装置はリアルタイムカ
メラ動作期間中前記誤差測定手段とは全く独立さ
れうるよう構成されていることを特徴とするトー
タルラスタ誤差修正装置。 2 ビデオ画像に対応するビデオ信号を発生する
カメラヘツド装置の撮像装置における全てのラス
タに関係する誤差を修正する自動修正装置におい
て、 選択されたパターン周波数に対応する黒及び白
の交互の水平及び垂直領域を有し、選択されたグ
レー領域をその間に有する光学テストパターン手
段と、 前記カメラヘツド装置とは独立して設けられ、
前記ビデオ信号を受信して、前記ビデオ画像の選
ばれたボツクス領域内の選ばれたサンプル点にお
いて前記撮像装置の走査における誤差に対応する
水平及び垂直空間誤差データを発生し、前記テス
トパターン手段から取出した選ばれた黒及び白の
ビデオ電圧レベルに対する該ビデオ信号内の誤差
に対応する黒及び白のシエーデイング誤差データ
を発生する誤差測定手段と、 該誤差測定手段に結合され該誤差測定手段の出
力誤差データをデイジタル化するA/D変換器手
段と、 該デイジタル誤差データを受信して記憶するよ
う前記カメラヘツド装置内に配置されたデイジタ
ル記憶/読出し手段を含み、該カメラヘツド装置
のリアルタイム動作中該カメラヘツド装置から直
接前記デイジタル誤差データを順次選択的に検索
して読出し、アナログ空間誤差修正信号を前記撮
像装置の走査に、並びに黒及び白のシエーデイン
グ誤差を前記ビデオ信号にそれぞれ印加する誤差
修正手段と、 を含み、前記カメラヘツド装置はリアルタイムカ
メラ動作期間中前記誤差測定手段とは全く独立さ
れうるよう構成されていることを特徴とする自動
修正装置。 3 ビデオ画像に対応するビデオ信号と、黒及び
白のビデオ信号レベルと撮像装置のガンマ修正信
号とを発生するテレビジヨンカメラヘツド装置の
各撮像装置の緑、赤及び青の走査のラスタに関連
する空間誤差及びその間のラスタに関連する空間
誤差を選択的かつ自動的に修正する方式におい
て、 光学テストパターンのビデオ画像に対応するボ
ツクス配列の特定のボツクス内の選ばれた点にお
ける走査の位置を該ビデオ画像に関連する所定の
黒及び白直流電圧レベルの電子的テストパターン
信号に対して比較する手段と、 各ボツクス内の選ばれたサンプル点においてそ
のボツクス内の選ばれた走査線にわたつて水平及
び垂直位置の誤差に対応する空間誤差データを発
生する手段と、 前記カメラヘツド装置内に設けられ、前記空間
誤差データを該カメラヘツド装置内にデイジタル
的に記憶する手段と、 前記カメラヘツド装置内に設けられ、誤差測定
の過程で誤差が検出されると、カメラヘツドのリ
アルタイム動作中前記ボツクス配列内の誤差の位
置に対して選ばれたタイミングで前記デイジタル
的に記憶された空間誤差データを前記カメラヘツ
ド装置内から検索して取出す手段と、 前記カメラヘツド装置内に設けられ、該カメラ
ヘツド装置内で、リアルタイムで、前記取出され
たデイジタル空間誤差データからアナログ誤差修
正信号を発生し、該アナログ誤差修正信号を対応
する撮像装置に印加して何れの検出された空間誤
差をも修正する手段と、 を含むことを特徴とする誤差修正方式。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/124,370 US4285004A (en) | 1980-02-25 | 1980-02-25 | Total raster error correction apparatus and method for the automatic set up of television cameras and the like |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56158588A JPS56158588A (en) | 1981-12-07 |
JPH0322119B2 true JPH0322119B2 (ja) | 1991-03-26 |
Family
ID=22414456
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country | Link |
---|---|
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BE (1) | BE887650A (ja) |
CA (1) | CA1150825A (ja) |
DE (1) | DE3107042C2 (ja) |
FR (1) | FR2476954B1 (ja) |
GB (1) | GB2072453B (ja) |
IT (1) | IT1170748B (ja) |
NL (1) | NL8100902A (ja) |
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