JPH0321996B2 - - Google Patents

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JPH0321996B2
JPH0321996B2 JP57125687A JP12568782A JPH0321996B2 JP H0321996 B2 JPH0321996 B2 JP H0321996B2 JP 57125687 A JP57125687 A JP 57125687A JP 12568782 A JP12568782 A JP 12568782A JP H0321996 B2 JPH0321996 B2 JP H0321996B2
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JP
Japan
Prior art keywords
lines
data line
memory device
semiconductor memory
data
Prior art date
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Expired - Lifetime
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JP57125687A
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English (en)
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JPS5919291A (ja
Inventor
Kyoo Ito
Ryoichi Hori
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Priority to EP83107070A priority patent/EP0101884A3/en
Priority to US06/515,519 priority patent/US4590588A/en
Priority to KR1019830003347A priority patent/KR910002962B1/ko
Publication of JPS5919291A publication Critical patent/JPS5919291A/ja
Publication of JPH0321996B2 publication Critical patent/JPH0321996B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/06Arrangements for interconnecting storage elements electrically, e.g. by wiring
    • G11C5/063Voltage and signal distribution in integrated semi-conductor memory access lines, e.g. word-line, bit-line, cross-over resistance, propagation delay
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1006Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、半導体メモリ装置、特に、高S/N
化ならびに高速化に好適な半導体メモリ装置に関
する。
従来高S/N化を達成する手段として、特願昭
56−081042がある。すなわち、第1図に示すよう
に、第1の1本のデータ線を複数個、たとえば
D00,D01,D02,D03あるいはD10,D11,D12
D13に分割し、これらの分割されたデータ線と、
スイツチSW00などを介して第2のデータ線I/
O0,I/O1,I/O2,I/O3とでデータ
の授受を行う方式である。この方式では、第1の
データ線が細分化されるために、その分だけメモ
リセルからみた負荷容量が小さくなり高S/N比
あるいは高速化が可能となる。しかし本方式は、
第2のデータ線I/O0,I/O1,I/O2,
I/O3には多数のスイツチに関係する多数のト
ランジスタが接続されるので、これら第2のデー
タ線の負荷容量が大になるので高S/N化、高速
化には限界がある。
なお、Wはワードライン、XDECおよびYDEC
はXおよびYデコーダ、RWCはリードライトコ
ントローラ、MCはメモリセル、WEはライトイ
ネーブル信号、Diは入力データ、Dputは出力デー
タを示す。
本発明の目的は、第2のデータ線の容量を抵減
するメモリ装置を提供することにある。
第2図は、本発明の概念図である。すなわち第
2のデータ線I/O0,I/O1を、分割された
第1のデータ線D00,D01,D02,D03等と並行に
配置したものである。こうすることによつて、
I/O0,I/O1の負荷容量は、1本のデータ
線の分割数に対応した少数のスイツチに関係する
トランジスタのみが接続されるので、第1図に比
べて格段と小さくなる。したがつて、例えばスイ
ツチSW00,SW01等によつてI/O0,I/O1
に高速にとり出された信号はYデコーダYDECに
よつて制御されるスイツチSWY0,SWY1のいずれ
かが選択されて第3のデータ線I/Oに出力さ
れ、リードライト制御回路RWCによつてデータ
出力Dputとなる。
第3図は、第2図の更に詳細な実施例で、各デ
ータ線にセンスアンプSA1,SA2,SA3を設けた
例である。これによつて各データ線に現われた信
号を高速に増幅することができる。場合によつて
は、各センスアンプを適宜とり除いた構成もとれ
ることは自明である。
第4図は、第2図の変形でデータ線が対線で構
成される例である。
第5〜第7はデータ線が対線で構成されるメモ
リセルの具体例である。第5図は、スタテイツク
RAMなどで用いられているフリツプフロツプ型
メモリセルMCである。第6図は、例えば、特願
昭50−59783に開示されているツインメモリセル
の例、第7図は、例えば、特願昭49−148056に開
示されている如きメモリセルである。
第8図は、特願昭49−148056の従来例として記
述されているメモリセル(Open Bit Line Cell)
に対して、本発明を適用した例である。
第9図は、第3図の具体的実施例を、1ビツト
のメモリセルが1トランジスタとキヤパシターで
構成されるセルについて示したものである。動作
の概要は下記の通りである。
まずワード線Wが選択されると、メモリセル
MCが接続されるデータ線D00,D10,D20,D30
に、各セルMCから微少な読み出し信号が出力さ
れる。同時にダミーワード線DWLにもパルス電
圧が印加され、ダミーセルDCが接続されるデー
タ線D00,D10,D20,D30に、各ダミーセルDCか
ら、上記メモリセルMCからの“1”と“0”の
出力信号の中間レベルが出力される。これらデー
タ線D00,D10などの対線の出力信号がデータ線
GCLをONすることによつてセンスアンプSA1
伝達され、センスアンプSA1によつて差動増幅さ
れる。この増幅された信号は、アドレス信号で制
御することによつて、信号IOC0あるいはIOC1
いずれかをONすることによつてセンスアンプ
SA2に出力される。たとえば、信号IOC0をONす
れば、対線D10とD10ならびに対線D30とD30のそ
れぞれの信号がそれぞれに対応したセンスアンプ
SA2に出力される。同様に、信号IOC1をONにす
れば、対線D00とD00ならびに対線D20とD20の信
号がそれぞれに対応したセンスアンプSA2に出力
される。本例では対線I/O0とI/O0ならび
に対線I/O1とI/O1の配線ピツチを大にす
るために信号IOC0、IOC1でデコードした例であ
る。本方式は、対線I/O0とI/O0などを、
特願昭56−081042のように、配線ピツチを大にす
る製造が比較的難かしい2層目のAlで形成した
場合に有効である。尚信号IOC2、IOC3で制御さ
れる回路SAIO(図中の詳細は簡単のため省略)
の動作についても同様である。
以上述べた実施例で明らかなように、本発明で
は、従来に比べてデータ線の負荷容量が軽減され
る結果、高S/Nを維持したままで高速化が達成
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の構成図、第2〜9図は本発明の
実施例で、第2図は概念図、第3図は一実施例の
回路図、第4図は他の実施例の回路図、第5図〜
第7図はメモリセルの構成図、第8図および第9
図はさらに他の実施例の回路図を示す。 D00,D01,D02……第1のデータ線、I/O
0,I/O1……第2のデータ線。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 複数のワード線と、該ワード線と交差するよ
    うに配置された複数の第1のデータ線と、第1の
    スイツチと、該第1のスイツチを介して上記第1
    のデータ線とデータの授受を行うための第2のデ
    ータ線と、第2のスイツチと、該第2のスイツチ
    を介して上記第2のデータ線とデータの授受を行
    うための第3のデータ線と、上記ワード線と第1
    のデータ線とが交差する所望の部分に配置された
    メモリセルと、上記ワード線を選択するための第
    1のデコーダと、上記第1、第2、及び第3のデ
    ータ線のうち少なくともひとつを選択するための
    第2のデコーダとを有し、 上記第1のデータ線はデータ線が伸びる方向に
    分割され、上記第2のデータ線は上記第1のデー
    タ線とほぼ同一方向に配置され、かつ、上記第2
    のデータ線は上記第3のデータ線とほぼ直角方向
    に配置されていることを特徴とする半導体メモリ
    装置。 2 特許請求の範囲第1項記載の半導体メモリ装
    置において、 上記第1のスイツチはアドレス信号によつて制
    御されることを特徴とする半導体メモリ装置。 3 特許請求の範囲第1項又は第2項記載の半導
    体メモリ装置において、 上記第2のスイツチはアドレス信号によつて制
    御されることを特徴とする半導体メモリ装置。 4 特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれか
    に記載の半導体メモリ装置において、 上記第1、第2ならびに第3のデータ線は対線
    からなることを特徴とする半導体メモリ装置。 5 特許請求の範囲第1項乃至第4項のいずれか
    に記載の半導体メモリ装置において、 上記第1のデータ線にはそれぞれセンスアンプ
    が設けられていることを特徴とする半導体メモリ
    装置。 6 特許請求の範囲第1項乃至第5項のいずれか
    に記載の半導体メモリ装置において、 上記第2のデータ線にはそれぞれセンスアンプ
    が設けられていることを特徴とする半導体メモリ
    装置。 7 特許請求の範囲第1項乃至第6項のいずれか
    に記載の半導体メモリ装置において、 上記第3のデータ線にはそれぞれセンスアンプ
    が設けられていることを特徴とする半導体メモリ
    装置。 8 特許請求の範囲第1項乃至第7項のいずれか
    に記載の半導体メモリ装置において、 上記第2のデータ線は、上記ワード線又は第1
    のデータ線を構成する層とは異なる層で設けられ
    たことを特徴とする半導体メモリ装置。 9 特許請求の範囲第1項乃至第8項のいずれか
    に記載の半導体メモリ装置において、 上記第2のデータ線は対線からなり、該対線は
    互いに近接して平行に配置され、かつ、互いに異
    なる情報を有することを特徴とする半導体メモリ
    装置。 10 特許請求の範囲第1項乃至第9項のいずれ
    かに記載の半導体メモリ装置において、 上記第1のデータ線は対線からなり、該対線は
    互いに近接して平行に配置され、かつ、互いに異
    なる情報を有することを特徴とする半導体メモリ
    装置。 11 特許請求の範囲第1項乃至第9項のいずれ
    かに記載の半導体メモリ装置において、 上記第1のデータ線は対線からなり、該対線は
    互いにセンスアンプを中心にして直線状に配置さ
    れ、かつ、互いに異なる情報を有することを特徴
    とする半導体メモリ装置。 12 特許請求の範囲第1項乃至第11項のいず
    れかに記載の半導体メモリ装置において、 上記第3のデータ線は対線からなり、該対線は
    互いに近接して平行に配置され、かつ、互いに異
    なる情報を有することを特徴とする半導体メモリ
    装置。 13 特許請求の範囲第1項乃至第10項及び第
    12項のいずれかに記載の半導体メモリ装置にお
    いて、 上記第1のデータ線が構成する対線のうち、2
    組の対線に対して1個のセンスアンプが設けられ
    たことを特徴とする半導体メモリ装置。 14 特許請求の範囲第1項乃至第13項のいず
    れかに記載の半導体メモリ装置において、 上記メモリセルは1トランジスタとキヤパシタ
    ーからなることを特徴とする半導体メモリ装置。 15 特許請求の範囲第1項乃至第10項、第1
    2項及び第13項のいずれかに記載の半導体メモ
    リ装置において、 上記メモリセルはフリツプフロツプ型メモリセ
    ルからなることを特徴とする半導体メモリ装置。 16 複数のワード線と、該ワード線と交差する
    ように配置された複数の第1のデータ線と、第1
    のスイツチと、該第1のスイツチを介して上記第
    1のデータ線とデータの授受を行うための第2の
    データ線と、上記ワード線と第1のデータ線とが
    交差する所望の部分に配置されたメモリセルと、
    上記ワード線を選択するための第1のデコーダ
    と、上記第1、及び第2のデータ線のうち少なく
    ともひとつを選択するための第2のデコーダとを
    有し、 上記第1のデータ線はデータ線が伸びる方向に
    分割され、上記第2のデータ線は上記第1のデー
    タ線とほぼ同一方向に配置され、上記メモリセル
    は1トランジスタとキヤパシターからなり、 上記第1のデータ線は対線からなり、該対線は
    互いに近接して平行に配置され、かつ、互いに異
    なる情報を有し、 上記第2のデータ線は対線からなり、該対線は
    互いに近接して平行に配置され、かつ、互いに異
    なる情報を有することを特徴とする半導体メモリ
    装置。
JP57125687A 1982-07-21 1982-07-21 半導体メモリ装置 Granted JPS5919291A (ja)

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US06/515,519 US4590588A (en) 1982-07-21 1983-07-20 Monolithic semiconductor memory
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