JPH0229987A - 半導体メモリ回路 - Google Patents

半導体メモリ回路

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JPH0229987A
JPH0229987A JP63181023A JP18102388A JPH0229987A JP H0229987 A JPH0229987 A JP H0229987A JP 63181023 A JP63181023 A JP 63181023A JP 18102388 A JP18102388 A JP 18102388A JP H0229987 A JPH0229987 A JP H0229987A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体メモリ回路に関し、特に1ワード分の
メモリセルに同一の情報を1回のアクセスで書き込むこ
とのできる半導体メモリ回路に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の半導体メモリ回路は、1ワード分のメモ
リセルに同一の情報を1回のアクセスで書き込むフラッ
シュライトモードの時も1ビツトのメモリセルに書き込
む通常の書込時と同じ信号パスタイミングで書き込みが
行なわれていtこ。以下に第6図及び第7図を用いて従
来例の構成および動作を説明する。
第6図は、従来例を示すブロック図である。メモリセル
アレイ606の行側のワード線WL6..09には、ロ
ウアドレスデコーダ608およびロウアドレスバッファ
607が接続され、ロウアドレスバッファ607にはア
ドレスビンを介してアドレスデータが入力される。また
、メモリセルアレイ606の列側のビット線にはセンス
アンプ610およびカラム選択スイッチ601(以下カ
ラムスイッチと記す)が接続される。カラムスイッチ6
01には、アドレスピンを介してカラムアドレスバッフ
7613にストアされたアドレスデータがカラムアドレ
スデコーダ611でデコードされ、カラムアドレスデコ
ーダ出力612として入力される。さらにカラムスイッ
チ601は入出力バス(I10バス)602,603を
介してラッチ回路614に接続され、ラッチ回路614
は入出力端子I10に接続されている。これらのロウア
ドレスバッファ607.ロウアドレスデコーダ60g。
センスアンプ610.カラムアドレスデコーダ611、
カラムアドレスバッファ613およびラッチ回路614
はコントローラ615に入力される諸信号、例えばロウ
アドレスストローブ信号RAS、カラムアドレスストロ
ーブ1号cAs。
ライトイネーブル信4wg、フラッシュライトイネーブ
ル信号FW等によって制御される。
第6図に示した従来の半導体メモリ回路の動作は第7図
のようになる。
フラッシュライトイネーブル信号が高レベルとなって活
性化されるとフラッシュライトモードに入り、続いてロ
ウアドレスストローブ信号RASが立ち上がり、フラッ
シュライトするワードのアドレスがロウアドレスバッフ
ァ607にストアされ、そのアドレスをロウアドレスデ
コーダ608でデコードして、ワード線WL609のう
ちの1本が選択され(ハイになり)、メモリセルのデー
タ、たとえば“1”がビット線へとり出される。
続いてセンスアンプ610が活性化信号616により活
性化してビット線上のデータを増幅する。
その後フラッシュライトモードを知らせる信号617が
コントローラ615からカラムアドレスデコーダ611
へ印加され、カラムアドレスデコーダ611が動作して
、その全出力612を付勢1選択すると、ビット線とI
10バス602゜603の間に設けられたカラムスイッ
チ609が全てオンし、フラッシュライトイネーブル信
号FWの活性化時にI10バス602,603上に送出
されていたフラッシュライトデータ、たとえば“0″が
選択されたワード線に接続する全てのメモリセルに書き
込まれる。この場合、カラムアドレスデコーダ611が
フラッシュライト時には、1ワード分のカラムスイッチ
を全て同時にオンさせる構成が必要である。このような
構成を有するカラムアドレスデコーダを第8図に示す。
このカラムアドレスデコーダはカラムアドレスバッファ
613からの出力A。A + +・・・A、、を入力と
し、コントローラ615からのデコーダイネーブル信号
によって出力のうち1本だけをローとするデコーダ部6
11Aと、このデコーダ部出力毎に設けられ、かつデコ
ーダの出力を一方の入力とし、コントローラ615から
出力、されるフラッシュライト時のみローとなる信号6
17を他方の入力で受けるNAND群611Bとからな
り、これらのNAND群611Bの出力がカラムスイッ
チ601へ出力される。
第8図の回路を用いた場合、1ワード線にN個のメモリ
セルがつながっているとすると、フラッシュライト機能
がない時のデコーダに比べて、2N個のトランジスタが
多く必要になる。すなわちフラッシュライト機能がない
場合には第8図のNAND素子NAはインバータでよく
、インバータを構成するトランジスタの数はNANDの
半分で良く、かつ、1個あたりのサイズも小さくてすむ
。従って、面積的には2N個のトランジスタ分以上の増
加となる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の半導体メモリ回路では、第9図に示した
ようにフラッシュライト時に、全出力が選択レベルにな
るようなカラムアドレスデコーダを用いているため、デ
コーダ部の面積が非常に大きいものになってしまうとい
う欠点がある。またカラムアドレスデコーダの全出力が
同時にハイになるということはカラムアドレスデコーダ
からカラムスイッチにつながっているN本の配線容量と
、2N個のカラムスイッチのゲート容量を同時にドライ
ブするということなので、−度に多くの電流が流れる。
そのために周辺の回路にノイズが生じてしまうという欠
点がある。
加えて、前述したようにビット線上にメモリセルから取
り出されたデータをセンスアンプで増幅した後でフラッ
シュライトデータを書き込むためメモリセルに書き込ま
れているデータがフラッシュライトデータと逆であった
場合には、たとえばV。。またはGND電位になってい
るビット線をGNDまたはVCCの電位まで変化させな
くてはならない。従って、そのようなメモリセルが多く
あった場合に備えて、I10バスのドライバーに非常に
大きい能力が必要となるので、パワー、面積を多く必要
とするという欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体メモリ回路は、ワード線とビット線の交
点にメモリセルが配置され、ビット線の情報を増幅する
センスアンプと、メモリセルの1ワード分の情報を1度
に書き込むことのできるフラッシュライト機能を有する
半導体メモリにおいて、フラッシュライトメ用のデータ
バスと、同一センスアンプに入力しているビット線対の
うちの一方と、前記データバスとの間にフラッシュライ
ト専用のスイッチとを有し、センスアンプが活性化する
前に前記フラッシュライト専用のスイッチを導通状態と
して、前記データバス上のデータを前記ビット線上に書
き込むことを骨子とするものである。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例を示すブロック図である
。メモリセルアレイ106の行側のワード線WL109
には、ロウアドレスデコーダ108およびロウアドレス
バッファ107が接続され、ロウアドレスバッファ10
7にはアドレスビンを介してアドレスデータが入力され
る。またメモリセルアレイ1060列側のビット線には
センスアンプ110.カラムスイッチ101およびフラ
ッシュライトスイッチ104が接続される。カラムスイ
ッチ101には、アドレスピンを介してカラムアドレス
バッファ113にストアされたアドレスデータがカラム
アドレスデコーダ111でデコードされ、カラムアドレ
スデコーダ出力112として入力される。さらにカラム
スイッチ101は、入出力バス(工10バス)102,
103を介してラッチ回路114に接続され、ラッチ回
路114は入出力端子に接続されている。フラッシュラ
イトスイッチ104はフラッシュライトデータバス10
5を介してラッチ回路114に接続されている。これら
のフラッシュライトスイッチ104.ロウアドレスバッ
ファ107.ロウアドレスデコーダ108.センスアン
プllO,カラムアドレスデコーダ111.カラムアド
レスバッファ113およびラッチ回路114はコントロ
ーラ115に入力される諸信号、例えばロウアドレスス
トローブ信号RAS、カラムアドレスストローブ信号C
AS、ライトイネーブル信号WE。
フラッシュライトイネーブル信号F’W等によって制御
される。
本発明においては、通常の半導体メモリが有するカラム
スイッチ101とI10バス102゜103の他にフラ
ッシュライト専用のスイッチ104とデータバス105
を有している。通常工10バスは書き込み(または読み
出し)データが乗るバス102と、その逆相のデータが
乗るバス10302本が対になっているが、本実施例で
はフラッシュライトデータバス105は正相(又は逆相
)のデータが乗る1本のみである。
第2図に本実施例の要部の具体回路例を示す。
ここでは説明の都合上、ビット線Di、Diに着目して
説明する。ワード線WLI、WL2とビット線対DI、
DIとの各交点にメモリセルMCI。
MC2が接続され、各ビット線対り、D毎にセンスアン
プSAIに接続されている。また、ビット線DIおよび
Dlは夫々スイッチQl、Ql’を介してT7でおよび
I10バスに接続される。さス)に接続されている。ス
イッチQl、Ql’ はカラムアドレスデコーダ出力Y
SWIによって制御され、フラッシュライトスイッチS
W1は、フラッシュライトスイッチ開閉信号F’WSW
により制御される。この場合、フラッシュライトデータ
バス(FWババスには、正相のフラッシュライト・デー
タが送出されるため、フラッシュライトスイッチSWI
は、ビット線D1に接続されるが、これに限らす逆相の
フラッシュライトデータなデータバスに送出し、スイッ
チをビット線Diに接続しても良い。
本実施例では、カラムアドレスデコーダ出力YSWI、
YSW2・・・を出力するデコーダ111は第6図の構
成の内、デコーダ部611A、又はその均等物によって
構成されNAND群611Bは不要である。
次に第3図および第4図のタイミングチャートを参照し
て本実施例の動作を説明する。フラッシュライトモード
の場合、第3図に示すようにまずフラッシュライトイネ
ーブル信号FWの活性化に続いてRASが活性化状態に
なると、フラッシュライトを行なうワードのアドレスが
第1図に示したロウアドレスバッファ107にストアさ
れ、ロウアドレスデコーダ108でデコードされて、ワ
ード線WL109のうちの1本、たとえばWLlがハイ
になる。そのため、メモリセルMCIに書き込まれてい
たデータ“1”がビット線上に取り出される。このとき
、フラッシュライトイネーブル信号FWの活性化により
ラッチ回路114からフラッシュライトデータバス(F
Wババス上に正相のフラッシュライトデータが送出され
ている。
次にフラッシュライトスイッチ開閉信号FWSWを活性
化することによりフラッシュライトスイッチが導通して
ビット線上にフラッシュライトデータ、たとえば“0”
が送出されてビット線上のデータが書き換えられる。さ
らにセンスアンプ活性化信号を活性化すると、vo。レ
ベルを供給する信号SEPとGNDレベルを供給する信
号SENが活性化状態となってセンスアンプSAIを活
性化してビット線上のフラッシュライトデータを増幅し
てメモリセルMOLに書き込む。
フラッシュライトモードの場合はセンスアンプ110が
活性化する前にフラッシュライトで書き込むデータ(フ
ラッシュライトデータ)がフラッシュライトf〃ス10
5上に乗り、続いてフラッシュライトスイッチ104を
開いてビット線上へデータを書き込む。この時書き込む
データはセンスアンプにより増幅できる情報量であれば
よく、微小信号である。本実施例では説明の都合上、ワ
ー ド線WL1に接続されたメモリセルMCIについて
のみ述べたが、フラッシュライトモードにおいては、ワ
ード線WLIに接続される全てのメモリセルについて、
フラッシュライトデータの書き込みが行なわれることは
言うまでもない。
通常の読み出し動作の場合は第4図に示すように、RA
Sの活性化により所定のロウアドレスのワード線、たと
えばWLIが活性化されてビット線上にメモリセルMC
1のデータ、たとえば“1″が取り出される。続いて、
センスアンプ活性化信号によってセンスアンプSAIが
活性化さレセルテータが増幅されたころにカラムスイッ
チQl、Ql”をオンし、ビット線対のデータはIlo
、mバス上に取り出される。書き込み動作の場合には、
逆にカラ、ムスイッチをオンすることによってIlo、
mバス上のデータがビット線対に送出される。
第5図は本発明の第2の実施例のブロック図である。メ
モリセルアレイ506−1,506−2は、2つのブロ
ックに分れており、メモリセルアレイ506−1に対応
して入出力バス5o2−1.503−1、フラッシュラ
イトデータバス505−1、ラッチ回路514−1およ
びワード線509−1が設けられ、メモリセルアレイ5
06−2に対応して入出力バス502−2,503−2
、フラッシュライトデータバス505−2、ラッチ回路
514−2およびワード線509−2が設けられている
ため、ブロックごとに異なるデータを書き込むことがで
きる。動作については第1の実施例と同様であるので省
略する。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、フラッシュライト専用の
データバスとスイッチを設け、さらにそれらをビット線
対り、Dのうちの一方のみと接続することにより、低面
積、低パワー、低ノイズでフラッシュライト機能を実現
できるという効果がある。さらにフラッシュライト用の
バスを1本にしたことと、フラッシュライトデータなデ
ジット線に書き込んでからセンスアンプを動作させるよ
うにしたことにより低面積、低パワーでフラッシュライ
トが行なえるという効果を有する。
本発明ではフラッシュライト機能を付けたことによる面
積の増加はフラッシュライトスイッチとして用いるトラ
ンジスタの数とデータバスに依存する。例えば、1ワー
ド線にN個のセルがつながっている時、スイッチをNチ
ャネルトランジスタで構成するとすればN個のNチャネ
ルトランジスタと1本のデータバス分の面積が増加する
だけであるから、従来例の2N個のNチャネル、Pチャ
ネルトランジスタ分の面積の増大に比べて非常に少ない
面積の増加でフラッシュライト機能が実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の半導体メモリ回路の第10実施例な示
すブロック図、第2図は本発明の第1の実施例の部分回
路図、第3図は本発明の第1の実施例の動作を表すタイ
ミングチャート、第4図は本発明の半導体メモリ回路に
おいて通常の1ビツトをアクセスする時の動作を表すタ
イミングチャート、第5図は本発明の第2の実施例のブ
ロック図、第6図は半導体メモリ回路の従来例を示すブ
ロック図、第7図は従来例の動作を表すタイミングチャ
ート、第8図は従来メの半導体メモリ回路のカラムレコ
ーダを示す構成図である。 101.501−1,501−2,601・・・・・・
カラムスイッチ、102,103,502−1゜502
−2,503−1,503−2,602゜603・・・
・・・I10バス、104,504−1゜504−2・
・・・・・フラッシュライトスイッチ、105゜505
−1,505−2・・・・・・フラッシュライトデータ
バス、106,506−1,506−2゜606・・・
・・・メモリセルアレイ、107,507゜607・・
・・・・ロウアドレスバッファ、108,508゜60
8・・・・・・ロウアドレスデコーダ、109,509
−1,509−2,609・・・・・・ワード線、11
0゜510−1,510−2,610・・・・・・セン
スアン7’、111,511,611・・・・・・カラ
ムアドレスデコーダ、112,512−1,512−2
゜612・・・・・・カラムアドレスデコーダ出力、1
13゜513.613・・・・・・カラ与アドレスバッ
ファ、114.514−1,514−2,614・・・
・・・ラッチ回路、115,515,615・・・・・
・コントローラ、611A・・・・・・デコーダ部、6
11B・・・・・・NAND群。 代理人 弁理士  内 原   晋 第 1図 D/ D/ D? 第4図 SEI’

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ワード線とビット線の交点に配置されたメモリセルと、
    ビット線の情報を増幅するセンスアンプと、メモリセル
    の1ワード分の情報を1度に書き込むことのできるフラ
    ッシュライト機能を有する半導体メモリ回路において、
    フラッシュライト用のデータが与えられるデータバスと
    、同一センスアンプに入力しているビット線対のうちの
    一方と前記データバスとの間にフラッシュライト専用の
    スイッチとを有し、前記センスアンプが活性化する以前
    に前記フラッシュライト専用のスイッチを導通状態とし
    て前記データバス上のデータを前記ビット線上に書き込
    むことを特徴とする半導体メモリ回路。
JP63181023A 1988-07-19 1988-07-19 半導体メモリ回路 Expired - Lifetime JPH0770212B2 (ja)

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JP63181023A JPH0770212B2 (ja) 1988-07-19 1988-07-19 半導体メモリ回路
EP19890112973 EP0352572A3 (en) 1988-07-19 1989-07-14 Semiconductor memory device with flash write mode of operation
US07/381,901 US5003510A (en) 1988-07-19 1989-07-19 Semiconductor memory device with flash write mode of operation

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JPH0229987A true JPH0229987A (ja) 1990-01-31
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04132073A (ja) * 1990-09-20 1992-05-06 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体メモリ
JPH04177693A (ja) * 1990-11-09 1992-06-24 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体メモリ装置
JPH04205995A (ja) * 1990-11-30 1992-07-28 Toshiba Corp 半導体メモリ装置
JPH04212777A (ja) * 1990-03-12 1992-08-04 Nec Corp 半導体メモリ装置
EP0644549A2 (en) 1993-09-14 1995-03-22 Nec Corporation Method of flash writing with small operation current and semiconductor memory circuit according to the method
US5659507A (en) * 1994-07-28 1997-08-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Clock synchronous type DRAM with data latch

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69033262T2 (de) 1989-04-13 2000-02-24 Sandisk Corp EEPROM-Karte mit Austauch von fehlerhaften Speicherzellen und Zwischenspeicher
JPH07109703B2 (ja) * 1989-11-15 1995-11-22 株式会社東芝 半導体メモリ装置
EP0446847B1 (en) * 1990-03-12 1998-06-17 Nec Corporation Semiconductor memory device having improved write function
KR100214435B1 (ko) * 1990-07-25 1999-08-02 사와무라 시코 동기식 버스트 엑세스 메모리
US5119331A (en) * 1990-09-04 1992-06-02 Nec Electronics Inc. Segmented flash write
JPH04123471A (ja) * 1990-09-14 1992-04-23 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置のデータ書込みおよび消去方法
JPH04216392A (ja) * 1990-12-18 1992-08-06 Mitsubishi Electric Corp ブロックライト機能を備える半導体記憶装置
US5249158A (en) * 1991-02-11 1993-09-28 Intel Corporation Flash memory blocking architecture
JPH04268287A (ja) * 1991-02-22 1992-09-24 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体メモリ回路
JP3084801B2 (ja) * 1991-06-27 2000-09-04 日本電気株式会社 半導体メモリ装置
JPH0528756A (ja) * 1991-07-24 1993-02-05 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JPH05101201A (ja) * 1991-10-09 1993-04-23 Rohm Co Ltd オプシヨン設定回路
US5261055A (en) * 1992-02-19 1993-11-09 Milsys, Ltd. Externally updatable ROM (EUROM)
JPH05250872A (ja) * 1992-03-09 1993-09-28 Oki Electric Ind Co Ltd ランダム・アクセス・メモリ
JPH05314763A (ja) * 1992-05-12 1993-11-26 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US5241500A (en) * 1992-07-29 1993-08-31 International Business Machines Corporation Method for setting test voltages in a flash write mode
KR960006272B1 (ko) * 1992-09-04 1996-05-13 삼성전자주식회사 반도체 메모리장치의 플레시라이트 회로
KR940026946A (ko) * 1993-05-12 1994-12-10 김광호 데이타출력 확장방법과 이를 통한 신뢰성있는 유효데이타의 출력이 이루어지는 반도체집적회로
US5337273A (en) * 1993-07-30 1994-08-09 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Charge sharing flash clear for memory arrays
US5539696A (en) * 1994-01-31 1996-07-23 Patel; Vipul C. Method and apparatus for writing data in a synchronous memory having column independent sections and a method and apparatus for performing write mask operations
US5724286A (en) * 1994-12-14 1998-03-03 Mosaid Technologies Incorporated Flexible DRAM array
KR0164359B1 (ko) * 1995-09-06 1999-02-18 김광호 싸이클시간을 감소시키기 위한 반도체 메모리 장치
KR100371022B1 (ko) * 1998-11-26 2003-07-16 주식회사 하이닉스반도체 다중비트 메모리셀의 데이터 센싱장치
US6091633A (en) * 1999-08-09 2000-07-18 Sandisk Corporation Memory array architecture utilizing global bit lines shared by multiple cells
DE10219066B4 (de) * 2002-04-29 2006-12-14 Infineon Technologies Ag RAM-Speicherschaltung
WO2006075896A1 (en) * 2005-01-13 2006-07-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Host device, portable storage device, and method for updating meta information regarding right objects stored in portable storage device

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56156986A (en) * 1980-04-30 1981-12-03 Nec Corp Semiconductor storage device
JPS63266691A (ja) * 1987-04-22 1988-11-02 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5785255A (en) * 1980-11-17 1982-05-27 Nec Corp Memory storage for integrated circuit
US4587629A (en) * 1983-12-30 1986-05-06 International Business Machines Corporation Random address memory with fast clear
JPS6148192A (ja) * 1984-08-11 1986-03-08 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
DE3884859T2 (de) * 1987-06-04 1994-02-03 Nec Corp Dynamische Speicherschaltung mit einem Abfühlschema.

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56156986A (en) * 1980-04-30 1981-12-03 Nec Corp Semiconductor storage device
JPS63266691A (ja) * 1987-04-22 1988-11-02 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04212777A (ja) * 1990-03-12 1992-08-04 Nec Corp 半導体メモリ装置
JPH04132073A (ja) * 1990-09-20 1992-05-06 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体メモリ
JPH04177693A (ja) * 1990-11-09 1992-06-24 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体メモリ装置
JPH04205995A (ja) * 1990-11-30 1992-07-28 Toshiba Corp 半導体メモリ装置
EP0644549A2 (en) 1993-09-14 1995-03-22 Nec Corporation Method of flash writing with small operation current and semiconductor memory circuit according to the method
JPH0785672A (ja) * 1993-09-14 1995-03-31 Nec Corp 半導体メモリ回路
US5473565A (en) * 1993-09-14 1995-12-05 Nec Corporation Method of flash writing with small operation current and semiconductor memory circuit according to the method
US5659507A (en) * 1994-07-28 1997-08-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Clock synchronous type DRAM with data latch
US5754481A (en) * 1994-07-28 1998-05-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Clock synchronous type DRAM with latch

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US5003510A (en) 1991-03-26

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