JPH0227241A - 光ディスクの欠陥検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は光ディスクの欠陥検査装置に係り、特に、情報
書き込み前の光ディスク上に発生されている欠陥部を、
実際の情報エラーに推定して検出するようにした光ディ
スクの欠陥検査装置に関する。

［従来の技術］ 従来から、光ディスクに情報を書き込むことなく実際に
情報を書き込んだ際に発生される情報エラーを推定する
ようにした光ディスクの欠陥検査装置が種々提案されて
いる。これらの光ディスクの欠陥検査装置においては、
情報書き込み前の光ディスク上に検査光が照射されると
ともに、上記光ディスクの情報書き込み位置からの反射
光に基づいて検知信号（ＲＦ倍信号を得、この検知信号
から光ディスクに発生されている欠陥部が情報書き込み
後の実際の情報エラーに推定されて検出が行なわれるよ
うになっている。

このような光ディスクの欠陥検査装置には。

般に以下の２つの手段のいずれかが採用されることとさ
れている。第１の検出手段としては、上記検知信号のレ
ベルが所定の基準レベルを越えている領域を欠陥長さと
して集計し、これをデータ部の総長で割って欠陥率を求
め情報エラー数を得ることとした手段があり、第２の検
出手段としては、」二記検知信号を微分して２値化する
途中の微分波形をそのままカウントすることによって情
報エラー数を得ることとした手段がある。

［発明が解決しようとする課ＭＥ しかしながら上記第１の検出手段では、検知信号のレベ
ルが所定の基準レベルと比較されるために、レベル変動
は小さいが再生時にエラーとなってしまうような小欠陥
を検出することが困難であるという問題がある。また第
２の検出手段では、微分の時定数が情報ピットと同じ長
さとなるように設定されるため、情報ピット以上の長さ
の欠陥を検出することができなくなり、それによる検出
誤差を生じるという問題がある。この場合には。

第３図に表わされる情報エラー数（横軸）と微分カウン
ター数（縦軸）との関係において、欠陥長の長いものが
多く含まれるときには、実線で示される本来の関係に対
して破線で示されるようになり、両・線の間にずれが生
じることとなる。

そこで本発明は、光ディスク上にある小欠陥および長い
欠陥の両者を欠落することなく良好に検出し、より正確
に情報エラーを推定することができるようにした光ディ
スクの欠陥検査装置を提供することを目的とする。

［課題を解決すべき手段］ 上記目的を達成するため本発明は、光ディスクの情報書
き込み位置からの反射光による検知信号に基づいて、情
報書き込み前の光ディスク上に発生されている欠陥部を
情報書き込み後の実際の情報エラーに推定して検出し、
その結果により光ディスクの品質判定を行なうようにし
た光ディスクの欠陥検査装置において、上記検知信号の
レベルが所定の基準レベルを越えている領域を情報エラ
ー数として検出する第１検出手段と、上記検知信号を微
分して得られる信号のレベルが所定の基準レベルを越え
ている領域を情報エラー数として検出する第２検出手段
と、上記両検出手段により得られた情報エラー数の少な
くとも一方が一定量に達したときに不合格と判断する判
定手段とを備える構成を有している。

［作　　用コ このような構成を有する装置においては、第１検出手段
で長い欠陥が欠落することなく良好に検出されるととも
に、第２検出手段で小欠陥が欠落することなく良好に検
出される。そして光ディスクの品質判定に当っては、判
定手段において上記両検出手段により得られた情報エラ
ー数の少なくとも一方が一定量に達したときに不合格と
判断され、両方の合格条件を満たして始めて合格と判断
されるようになっている。

［実　施　例コ 以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。

第１図に示されるように、情報書き込み前の光ディスク
１に対して、光ピンクアップ２から検査光が照射されて
いる。前記光ディスク１の情報書き込み位置からの反射
光は、光ピツクアップ２で再び受けられ、ピックアップ
制御回路３から、書き込み位置の反射光量を示す検知信
号（ＲＦ倍信号が例えば第２図（ａ）で示されるような
波形で発せられる。この検知信号は、微分回路４、バッ
ファ回路５およびローパスフィルター６にそれぞれ出力
されている。

上記微分回路４は、第２図（ａ）で示される検知信号を
受けて第２図（ｃ）に示されるような微分波形を出力す
る機能を有している。そしてこの微分波形出力が、基準
電圧発生回路７から発せられる基＄電圧と比較回路８に
おいて比較され、その比較結果は、ゲート回路９を通し
てカウンター回路１１に出力される。上記カウンター回
路１１においては、前記検知信号の微分波形出力が基準
電圧を越えている数の集計が行なわれ、この集計値に基
づいてマイコン演算部１２で演算処理が行なわれて情報
エラー数が推定される。この場合。

微分の時定数が情報ピットと同じ長さとなるように設定
されるため、情報ピット以上の長さを有する欠陥部の検
出は行なわれないこととなるが、小欠陥部に関しては欠
落することなく良好に検出動作が行なわれる。

上記ローパスフィルター６には基準′重圧発生回路１３
が付設されている。この基準電圧発生回路１３から発せ
られる基準電圧は、ローパスフィルター６を通して得ら
れた検知信号のゆるやかな電圧変動に追従するようにし
て上限値および下限値が増幅して定められている。そし
て前記バッファ回路５からの出力が、上記基４！！電圧
回路上３から発せられる基Ｑ電圧と比較回路１４におい
て比較され、第２図（ｂ）に示されるような出力が得ら
れる。この出力は、基準パルス発生回路１５から発せら
れる１ビツトの長さ（例えば０．５μ単位）に相当する
欠陥長基準パルスとゲート回路１６においてＡＮＤがと
られ、第２図（ｂ）に示されるパルス列としてカウンタ
ー回路１７に出力される。カウンター回路１７で得られ
た集計値は欠陥長さとしてマイコン演算部１２に発せら
れ、そこで行なわれる演算処理によって情報エラー数が
推定される。この場合には、検知信゛号のレベルが所定
の基準レベルと比較されるために、レベル変動は小さい
が再生時にエラーとなってしまうような小欠陥部の検出
は行なわれないこととなるが、情報ピット以上の長さの
欠陥部に関しては欠落することなく良好に検出動作が行
なわれる。

さらに上記マイコン演算部１２には、光ディスクの品質
判定を行なう判定回路が設けられている。

この品質判定回路は、上記両検出手段により得られた情
報エラー数の少なくとも一方が一定量に達したときに不
合格と判断する機能を有しており、両方の合格条件を満
たしてはじめて合格判断が行なわれるようになっている
。このような品質判定回路によれば、前記２系統の検出
手段の欠点部分が互いに補完され合うこととなり、情報
エラー数の推定動作が正確に行なわれるようになってい
る。

なお光ディスクに短い長さの欠陥のみが含まれる場合に
は、微分に基づく検出手段のみによって検査することが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例における光ディスクの欠陥検
査装置を表わしたブロック線図、第２図（ａ）、（ｂ）
、（ｃ）および（ｄ）は各回路からの出力波形を表わし
た線図、第３図はカウンター数と情報エラー数との関係
を表わした線図である。 １・・・光ディスク、２・・・光ピツクアップ、４・・
・微分回路、５・・・バッファ回路、６・・・ローパス
フィルター、７，１３・・・基準電圧発生回路、８，１
４・・・比較回路、１４．１７・・・カウンター回路、
１２・・・マイコン演算部。 第２図 懲σ久 （は　か　１　名） 大。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 光ディスクの情報書き込み位置からの反射光による検知
   信号に基づいて、情報書き込み前の光ディスク上に発生
   されている欠陥部を情報書き込み後の実際の情報エラー
   に推定して検出し、その結果により光ディスクの品質判
   定を行なうようにした光ディスクの欠陥検査装置におい
   て、上記検知信号のレベルが所定の基準レベルを越えて
   いる領域を情報エラー数として検出する第１検出手段と
   、上記検知信号を微分して得られる信号のレベルが所定
   の基準レベルを越えている領域を情報エラー数として検
   出する第２検出手段と、上記両検出手段により得られた
   情報エラー数の少なくとも一方が一定量に達したときに
   不合格と判断する判定手段とを備えていることを特徴と
   する光ディスクの欠陥検査装置。