JP2515380Y2 - 自動波形判定装置 - Google Patents
自動波形判定装置Info
- Publication number
- JP2515380Y2 JP2515380Y2 JP5814089U JP5814089U JP2515380Y2 JP 2515380 Y2 JP2515380 Y2 JP 2515380Y2 JP 5814089 U JP5814089 U JP 5814089U JP 5814089 U JP5814089 U JP 5814089U JP 2515380 Y2 JP2515380 Y2 JP 2515380Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- peak
- period
- signal
- waveform
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は，レーザーディスクの品質をチェックするた
めの検査装置に関するものである。
めの検査装置に関するものである。
〔考案の概要〕 本考案は，従来オシロスコープを用いて行なっていた
レーザーディスク板の品質検査を自動的に行なうように
したもので，測定者によるデータのばらつきを無くし，
効率的な測定を可能にするものである。
レーザーディスク板の品質検査を自動的に行なうように
したもので，測定者によるデータのばらつきを無くし，
効率的な測定を可能にするものである。
従来，レーザーディスク板の品質をチェックするため
に，プレイヤーからのトラッキングエラー等の信号波形
をオシロスコープにより，異常周期の信号レベル（ピー
ク−ピーク値）を測定し，そのレベルが予め設定された
規格値を越えるか否かにて，良否判定を実施していた。
に，プレイヤーからのトラッキングエラー等の信号波形
をオシロスコープにより，異常周期の信号レベル（ピー
ク−ピーク値）を測定し，そのレベルが予め設定された
規格値を越えるか否かにて，良否判定を実施していた。
この従来の方法では，オシロスコープの画面上に表示
された波形のレベル及び周期を一瞬のうちに測定し，良
否判定を行う必要があった。
された波形のレベル及び周期を一瞬のうちに測定し，良
否判定を行う必要があった。
そのため，測定者の練度によるばらつきが発生し，
又，測定に多くの労力を必要とした。
又，測定に多くの労力を必要とした。
本考案は，これらの信号を自動的に測定することによ
って，測定者によるデータのばらつきを無くし，効率的
な測定を可能とするものである。
って，測定者によるデータのばらつきを無くし，効率的
な測定を可能とするものである。
本考案は上記の目的を達成するために，波形周期弁別
フィルタと，後段のコンパレータと正電位，負電位のピ
ーク値をホールドするピークホールダと,A/D変換器及び
マイクロコンピュータとで波形判定装置を構成したもの
である。
フィルタと，後段のコンパレータと正電位，負電位のピ
ーク値をホールドするピークホールダと,A/D変換器及び
マイクロコンピュータとで波形判定装置を構成したもの
である。
前記手段は次のように動作する。ディスクプレーヤか
らのトラッキングエラー等の信号を波形周期（周波数）
弁別フィルタにより，異常周期を持つ信号のみ抽出し，
後段のピークホールダとコンパレータ等により，一周期
毎のピーク−ピーク値を求め,A/D変換後，マイクロコン
ピュータでその最大値と予め設定された規格値を比較し
て，良否判断を行うものである。
らのトラッキングエラー等の信号を波形周期（周波数）
弁別フィルタにより，異常周期を持つ信号のみ抽出し，
後段のピークホールダとコンパレータ等により，一周期
毎のピーク−ピーク値を求め,A/D変換後，マイクロコン
ピュータでその最大値と予め設定された規格値を比較し
て，良否判断を行うものである。
以下この考案の実施例を第１図及び第２図により説明
する。
する。
両図において,1はレーザーディスクプレーヤ,2はトラ
ッキングサーボアンプ等から検出されるトラッキングエ
ラー信号,3は波形周期（周波数）を弁別するフィルタ,4
は一周期当りのピーク値を測定するために，信号周期を
測定するコンパレータ,5は＋側の最大値を検出するピー
クホールダ,6は−側の最大値を検出するピークホール
ダ,7はA/D変換器,8はマイクロコンピュータで,9は弁別
フィルタ３の出力信号,10はコンパレータ４の出力信号,
11,12はピークホールダ5,6の出力信号,13はA/D変換タイ
ミングを示す。
ッキングサーボアンプ等から検出されるトラッキングエ
ラー信号,3は波形周期（周波数）を弁別するフィルタ,4
は一周期当りのピーク値を測定するために，信号周期を
測定するコンパレータ,5は＋側の最大値を検出するピー
クホールダ,6は−側の最大値を検出するピークホール
ダ,7はA/D変換器,8はマイクロコンピュータで,9は弁別
フィルタ３の出力信号,10はコンパレータ４の出力信号,
11,12はピークホールダ5,6の出力信号,13はA/D変換タイ
ミングを示す。
以下，この動作について説明する。
レーザーディスクプレーヤ１から検出されるトラッキ
ングエラー等の信号２は波形周期（周波数）弁別フィル
タ３により，異常周期を持つ信号９のみ抽出され，後段
のコンパレータ4,及びピークホールダ5,6へ送出され
る。
ングエラー等の信号２は波形周期（周波数）弁別フィル
タ３により，異常周期を持つ信号９のみ抽出され，後段
のコンパレータ4,及びピークホールダ5,6へ送出され
る。
コンパレータ４では，入力信号と０電位とを比較し，
＋側周期と−側周期を測定し，出力信号10をピークホー
ルダ5,6及びA/D変換器７へ送出する。
＋側周期と−側周期を測定し，出力信号10をピークホー
ルダ5,6及びA/D変換器７へ送出する。
ピークホールダ5,6ではコンパレータ４からの制御信
号により，ピーク検出タイミング及びホールドタイミン
グを制御される。
号により，ピーク検出タイミング及びホールドタイミン
グを制御される。
すなわち，ピークホールダ５ではコンパレータ４の入
力信号９が正電位時のピーク検出を行い，負電位の時は
その値をホールドし，ピークホールダ６では負電位時の
ピーク検出を行い，正電位の時にその値をホールドす
る。
力信号９が正電位時のピーク検出を行い，負電位の時は
その値をホールドし，ピークホールダ６では負電位時の
ピーク検出を行い，正電位の時にその値をホールドす
る。
A/D変換器７は前段のピークホールダ5,6のホールド期
間中にディジタル信号に変換し，マイクロコンピュータ
８に送出する。マイクロコンピュータ８ではA/D変換器
７からの一周期当りの＋側最大値及び−側最大値を入力
し，一周期当りのピーク−ピーク値及び全測定時間内の
＋側及び−側の最大値を求め，予め設定された規格値と
比較して，良否判定を行うものである。
間中にディジタル信号に変換し，マイクロコンピュータ
８に送出する。マイクロコンピュータ８ではA/D変換器
７からの一周期当りの＋側最大値及び−側最大値を入力
し，一周期当りのピーク−ピーク値及び全測定時間内の
＋側及び−側の最大値を求め，予め設定された規格値と
比較して，良否判定を行うものである。
本考案によれば，波形周期（周波数）弁別フィルタ，
コンパレータ及びピークホルダ等の簡単な回路を付加す
ることで，トラッキングエラー等の信号の自動測定が可
能となる。
コンパレータ及びピークホルダ等の簡単な回路を付加す
ることで，トラッキングエラー等の信号の自動測定が可
能となる。
第１図は本考案の全体構成を示すブロック図，第２図は
第１図各部の信号波形を示す波形図である。 1:レーザーディスクプレーヤ,2:トラッキングエラー信
号,3:波形周期（周波数）弁別フィルタ,4:コンパレー
タ,5,6:ピークホールダ,7:A/D変換器,8:マイクロコンピ
ュータ。
第１図各部の信号波形を示す波形図である。 1:レーザーディスクプレーヤ,2:トラッキングエラー信
号,3:波形周期（周波数）弁別フィルタ,4:コンパレー
タ,5,6:ピークホールダ,7:A/D変換器,8:マイクロコンピ
ュータ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 恩蔵 安幸 神奈川県平塚市真土2480番地 三菱樹脂 株式会社平塚工場内
Claims (1)
- 【請求項１】レーザーディスクプレーヤのトラッキング
エラー等の信号測定において，波形周期弁別フィルタに
より，異常周期を持つ信号成分のみを抽出し，後段のコ
ンパレータにより，正電位の波形周期と負電位の波形周
期のタイミングを求めこの間のピーク値をピークホール
ダにて検出することによって，一周期当りのピーク−ピ
ーク値を連続的に求め，その最大値と予め設定された規
格値を比較して，良否判定を行うことを特徴とする自動
波形判定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5814089U JP2515380Y2 (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 自動波形判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5814089U JP2515380Y2 (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 自動波形判定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02149121U JPH02149121U (ja) | 1990-12-19 |
| JP2515380Y2 true JP2515380Y2 (ja) | 1996-10-30 |
Family
ID=31583479
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5814089U Expired - Lifetime JP2515380Y2 (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 自動波形判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2515380Y2 (ja) |
-
1989
- 1989-05-22 JP JP5814089U patent/JP2515380Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02149121U (ja) | 1990-12-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |