JP2515380Y2 - 自動波形判定装置 - Google Patents
自動波形判定装置Info
- Publication number
- JP2515380Y2 JP2515380Y2 JP5814089U JP5814089U JP2515380Y2 JP 2515380 Y2 JP2515380 Y2 JP 2515380Y2 JP 5814089 U JP5814089 U JP 5814089U JP 5814089 U JP5814089 U JP 5814089U JP 2515380 Y2 JP2515380 Y2 JP 2515380Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- peak
- period
- signal
- waveform
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は,レーザーディスクの品質をチェックするた
めの検査装置に関するものである。
めの検査装置に関するものである。
〔考案の概要〕 本考案は,従来オシロスコープを用いて行なっていた
レーザーディスク板の品質検査を自動的に行なうように
したもので,測定者によるデータのばらつきを無くし,
効率的な測定を可能にするものである。
レーザーディスク板の品質検査を自動的に行なうように
したもので,測定者によるデータのばらつきを無くし,
効率的な測定を可能にするものである。
従来,レーザーディスク板の品質をチェックするため
に,プレイヤーからのトラッキングエラー等の信号波形
をオシロスコープにより,異常周期の信号レベル(ピー
ク−ピーク値)を測定し,そのレベルが予め設定された
規格値を越えるか否かにて,良否判定を実施していた。
に,プレイヤーからのトラッキングエラー等の信号波形
をオシロスコープにより,異常周期の信号レベル(ピー
ク−ピーク値)を測定し,そのレベルが予め設定された
規格値を越えるか否かにて,良否判定を実施していた。
この従来の方法では,オシロスコープの画面上に表示
された波形のレベル及び周期を一瞬のうちに測定し,良
否判定を行う必要があった。
された波形のレベル及び周期を一瞬のうちに測定し,良
否判定を行う必要があった。
そのため,測定者の練度によるばらつきが発生し,
又,測定に多くの労力を必要とした。
又,測定に多くの労力を必要とした。
本考案は,これらの信号を自動的に測定することによ
って,測定者によるデータのばらつきを無くし,効率的
な測定を可能とするものである。
って,測定者によるデータのばらつきを無くし,効率的
な測定を可能とするものである。
本考案は上記の目的を達成するために,波形周期弁別
フィルタと,後段のコンパレータと正電位,負電位のピ
ーク値をホールドするピークホールダと,A/D変換器及び
マイクロコンピュータとで波形判定装置を構成したもの
である。
フィルタと,後段のコンパレータと正電位,負電位のピ
ーク値をホールドするピークホールダと,A/D変換器及び
マイクロコンピュータとで波形判定装置を構成したもの
である。
前記手段は次のように動作する。ディスクプレーヤか
らのトラッキングエラー等の信号を波形周期(周波数)
弁別フィルタにより,異常周期を持つ信号のみ抽出し,
後段のピークホールダとコンパレータ等により,一周期
毎のピーク−ピーク値を求め,A/D変換後,マイクロコン
ピュータでその最大値と予め設定された規格値を比較し
て,良否判断を行うものである。
らのトラッキングエラー等の信号を波形周期(周波数)
弁別フィルタにより,異常周期を持つ信号のみ抽出し,
後段のピークホールダとコンパレータ等により,一周期
毎のピーク−ピーク値を求め,A/D変換後,マイクロコン
ピュータでその最大値と予め設定された規格値を比較し
て,良否判断を行うものである。
以下この考案の実施例を第1図及び第2図により説明
する。
する。
両図において,1はレーザーディスクプレーヤ,2はトラ
ッキングサーボアンプ等から検出されるトラッキングエ
ラー信号,3は波形周期(周波数)を弁別するフィルタ,4
は一周期当りのピーク値を測定するために,信号周期を
測定するコンパレータ,5は+側の最大値を検出するピー
クホールダ,6は−側の最大値を検出するピークホール
ダ,7はA/D変換器,8はマイクロコンピュータで,9は弁別
フィルタ3の出力信号,10はコンパレータ4の出力信号,
11,12はピークホールダ5,6の出力信号,13はA/D変換タイ
ミングを示す。
ッキングサーボアンプ等から検出されるトラッキングエ
ラー信号,3は波形周期(周波数)を弁別するフィルタ,4
は一周期当りのピーク値を測定するために,信号周期を
測定するコンパレータ,5は+側の最大値を検出するピー
クホールダ,6は−側の最大値を検出するピークホール
ダ,7はA/D変換器,8はマイクロコンピュータで,9は弁別
フィルタ3の出力信号,10はコンパレータ4の出力信号,
11,12はピークホールダ5,6の出力信号,13はA/D変換タイ
ミングを示す。
以下,この動作について説明する。
レーザーディスクプレーヤ1から検出されるトラッキ
ングエラー等の信号2は波形周期(周波数)弁別フィル
タ3により,異常周期を持つ信号9のみ抽出され,後段
のコンパレータ4,及びピークホールダ5,6へ送出され
る。
ングエラー等の信号2は波形周期(周波数)弁別フィル
タ3により,異常周期を持つ信号9のみ抽出され,後段
のコンパレータ4,及びピークホールダ5,6へ送出され
る。
コンパレータ4では,入力信号と0電位とを比較し,
+側周期と−側周期を測定し,出力信号10をピークホー
ルダ5,6及びA/D変換器7へ送出する。
+側周期と−側周期を測定し,出力信号10をピークホー
ルダ5,6及びA/D変換器7へ送出する。
ピークホールダ5,6ではコンパレータ4からの制御信
号により,ピーク検出タイミング及びホールドタイミン
グを制御される。
号により,ピーク検出タイミング及びホールドタイミン
グを制御される。
すなわち,ピークホールダ5ではコンパレータ4の入
力信号9が正電位時のピーク検出を行い,負電位の時は
その値をホールドし,ピークホールダ6では負電位時の
ピーク検出を行い,正電位の時にその値をホールドす
る。
力信号9が正電位時のピーク検出を行い,負電位の時は
その値をホールドし,ピークホールダ6では負電位時の
ピーク検出を行い,正電位の時にその値をホールドす
る。
A/D変換器7は前段のピークホールダ5,6のホールド期
間中にディジタル信号に変換し,マイクロコンピュータ
8に送出する。マイクロコンピュータ8ではA/D変換器
7からの一周期当りの+側最大値及び−側最大値を入力
し,一周期当りのピーク−ピーク値及び全測定時間内の
+側及び−側の最大値を求め,予め設定された規格値と
比較して,良否判定を行うものである。
間中にディジタル信号に変換し,マイクロコンピュータ
8に送出する。マイクロコンピュータ8ではA/D変換器
7からの一周期当りの+側最大値及び−側最大値を入力
し,一周期当りのピーク−ピーク値及び全測定時間内の
+側及び−側の最大値を求め,予め設定された規格値と
比較して,良否判定を行うものである。
本考案によれば,波形周期(周波数)弁別フィルタ,
コンパレータ及びピークホルダ等の簡単な回路を付加す
ることで,トラッキングエラー等の信号の自動測定が可
能となる。
コンパレータ及びピークホルダ等の簡単な回路を付加す
ることで,トラッキングエラー等の信号の自動測定が可
能となる。
第1図は本考案の全体構成を示すブロック図,第2図は
第1図各部の信号波形を示す波形図である。 1:レーザーディスクプレーヤ,2:トラッキングエラー信
号,3:波形周期(周波数)弁別フィルタ,4:コンパレー
タ,5,6:ピークホールダ,7:A/D変換器,8:マイクロコンピ
ュータ。
第1図各部の信号波形を示す波形図である。 1:レーザーディスクプレーヤ,2:トラッキングエラー信
号,3:波形周期(周波数)弁別フィルタ,4:コンパレー
タ,5,6:ピークホールダ,7:A/D変換器,8:マイクロコンピ
ュータ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 恩蔵 安幸 神奈川県平塚市真土2480番地 三菱樹脂 株式会社平塚工場内
Claims (1)
- 【請求項1】レーザーディスクプレーヤのトラッキング
エラー等の信号測定において,波形周期弁別フィルタに
より,異常周期を持つ信号成分のみを抽出し,後段のコ
ンパレータにより,正電位の波形周期と負電位の波形周
期のタイミングを求めこの間のピーク値をピークホール
ダにて検出することによって,一周期当りのピーク−ピ
ーク値を連続的に求め,その最大値と予め設定された規
格値を比較して,良否判定を行うことを特徴とする自動
波形判定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5814089U JP2515380Y2 (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 自動波形判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5814089U JP2515380Y2 (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 自動波形判定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02149121U JPH02149121U (ja) | 1990-12-19 |
JP2515380Y2 true JP2515380Y2 (ja) | 1996-10-30 |
Family
ID=31583479
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5814089U Expired - Lifetime JP2515380Y2 (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 自動波形判定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2515380Y2 (ja) |
-
1989
- 1989-05-22 JP JP5814089U patent/JP2515380Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02149121U (ja) | 1990-12-19 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |