JP2723913B2 - 光ディスクの欠陥検査装置 - Google Patents
光ディスクの欠陥検査装置Info
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- JP2723913B2 JP2723913B2 JP63178481A JP17848188A JP2723913B2 JP 2723913 B2 JP2723913 B2 JP 2723913B2 JP 63178481 A JP63178481 A JP 63178481A JP 17848188 A JP17848188 A JP 17848188A JP 2723913 B2 JP2723913 B2 JP 2723913B2
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は光ディスクの欠陥検査装置に係り、特に、情
報書き込み前の光ディスク上に発生されている欠陥部
を、実際の情報エラーに推定して検出するようにした光
ディスクの欠陥検査装置に関する。
報書き込み前の光ディスク上に発生されている欠陥部
を、実際の情報エラーに推定して検出するようにした光
ディスクの欠陥検査装置に関する。
［従来の技術］ 従来から、光ディスクに情報を書き込むことなく実際
に情報を書き込んだ際に発生される情報エラーを推定す
るようにした光ディスクの欠陥検査装置が種々提案され
ている。これらの光ディスクの欠陥検査装置において
は、情報書き込み前の光ディスク上に検査光が照射され
るとともに、上記光ディスクの情報書き込み位置からの
反射光に基づいて検知信号（RF信号）を得、この検知信
号から光ディスクに発生されている欠陥部が情報書き込
み後の実際の情報エラーに推定されて検出が行なわれる
ようになっている。
に情報を書き込んだ際に発生される情報エラーを推定す
るようにした光ディスクの欠陥検査装置が種々提案され
ている。これらの光ディスクの欠陥検査装置において
は、情報書き込み前の光ディスク上に検査光が照射され
るとともに、上記光ディスクの情報書き込み位置からの
反射光に基づいて検知信号（RF信号）を得、この検知信
号から光ディスクに発生されている欠陥部が情報書き込
み後の実際の情報エラーに推定されて検出が行なわれる
ようになっている。
このような光ディスクの欠陥検査装置には、一般に以
下の２つの手段のいずれかが採用されることとされてい
る。第１の検出手段としては、上記検知信号のレベルが
所定の基準レベルを越えている領域を欠陥長さとして集
計し、これをデータ部の総長で割って欠陥率を求め情報
エラー数を得ることとした手段があり、第２の検出手段
としては、上記検知信号を微分して２値化する途中の微
分波形をそのままカウントすることによって情報エラー
数を得ることとした手段がある。
下の２つの手段のいずれかが採用されることとされてい
る。第１の検出手段としては、上記検知信号のレベルが
所定の基準レベルを越えている領域を欠陥長さとして集
計し、これをデータ部の総長で割って欠陥率を求め情報
エラー数を得ることとした手段があり、第２の検出手段
としては、上記検知信号を微分して２値化する途中の微
分波形をそのままカウントすることによって情報エラー
数を得ることとした手段がある。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら上記第１の検出手段では、検知信号のレ
ベルが所定の基準レベルと比較されるために、レベル変
動は小さいが再生時にエラーとなってしまうような小欠
陥を検出することが困難であるという問題がある。また
第２の検出手段では、微分の時定数で決定される繰り返
し時間内の上記検知信号の欠陥によるレベル変動は、確
実に検出することができるので、その繰り返し時間内で
上記検知信号が欠陥により変化するときは欠陥の検出が
可能となる。また、上記繰り返し時間内で上記検知信号
のレベル変動がないときは、微分波形が得られないの
で、欠陥無しと判断する。ところが、微分の時定数の複
数個分に相当する大きな欠陥があると、欠陥の途中で上
記検知信号が上記繰り返し時間内に変化しなくなるの
で、微分波形が得られず欠陥無しと判断してしまうとい
う問題がある。この場合には、第３図に表わされる情報
エラー数（横軸）と微分カウンター数（微分波形のカウ
ント数：縦軸）との関係において、欠陥長の長いものが
多く含まれるときには、実線で示される本来の関係に関
して破線で示されるようになり、両線の間にずれが生じ
ることとなる。
ベルが所定の基準レベルと比較されるために、レベル変
動は小さいが再生時にエラーとなってしまうような小欠
陥を検出することが困難であるという問題がある。また
第２の検出手段では、微分の時定数で決定される繰り返
し時間内の上記検知信号の欠陥によるレベル変動は、確
実に検出することができるので、その繰り返し時間内で
上記検知信号が欠陥により変化するときは欠陥の検出が
可能となる。また、上記繰り返し時間内で上記検知信号
のレベル変動がないときは、微分波形が得られないの
で、欠陥無しと判断する。ところが、微分の時定数の複
数個分に相当する大きな欠陥があると、欠陥の途中で上
記検知信号が上記繰り返し時間内に変化しなくなるの
で、微分波形が得られず欠陥無しと判断してしまうとい
う問題がある。この場合には、第３図に表わされる情報
エラー数（横軸）と微分カウンター数（微分波形のカウ
ント数：縦軸）との関係において、欠陥長の長いものが
多く含まれるときには、実線で示される本来の関係に関
して破線で示されるようになり、両線の間にずれが生じ
ることとなる。
そこで本発明は、光ディスク上にある小欠陥および長
い欠陥の両者を欠落することなく良好に検出し、より正
確に情報エラーを推定することができるようにした光デ
ィスクの欠陥検査装置を提供することを目的とする。
い欠陥の両者を欠落することなく良好に検出し、より正
確に情報エラーを推定することができるようにした光デ
ィスクの欠陥検査装置を提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 請求項１記載の発明は、光ディスクの情報書き込み位
置からの反射光による検知信号に基づいて、情報書き込
み前の光ディスク上に発生している欠陥部を情報書き込
み後の実際の情報エラーに推定して検出し、その結果に
より光ディスクの品質判定を行なうようにした光ディス
クの欠陥検査装置において、上記検知信号のレベルが所
定の基準レベルを越えている領域を情報エラー数として
検出する第１検出手段と、上記検知信号を微分して得ら
れる信号のレベルが所定の基準レベルを越えている領域
を情報エラー数として検出し上記微分の時定数が情報ピ
ットと同じ長さとなるように設定された第２検出手段
と、上記第一検出手段及び上記第２検出手段により得ら
れた情報エラー数の少なくとも一方が一定量に達したと
きに不合格と判断する判定手段とを備えたものである。
置からの反射光による検知信号に基づいて、情報書き込
み前の光ディスク上に発生している欠陥部を情報書き込
み後の実際の情報エラーに推定して検出し、その結果に
より光ディスクの品質判定を行なうようにした光ディス
クの欠陥検査装置において、上記検知信号のレベルが所
定の基準レベルを越えている領域を情報エラー数として
検出する第１検出手段と、上記検知信号を微分して得ら
れる信号のレベルが所定の基準レベルを越えている領域
を情報エラー数として検出し上記微分の時定数が情報ピ
ットと同じ長さとなるように設定された第２検出手段
と、上記第一検出手段及び上記第２検出手段により得ら
れた情報エラー数の少なくとも一方が一定量に達したと
きに不合格と判断する判定手段とを備えたものである。
請求項２記載の発明は、光ディスクの情報書き込み位
置からの反射光による検知信号に基づいて、情報書き込
み前の光ディスク上に発生している欠陥部を情報書き込
み後の実際の情報エラーに推定して検出し、その結果に
より光ディスクの品質判定を行なうようにした光ディス
クの欠陥検査装置において、上記検知信号のレベルが、
上記検知信号のゆるやかな電圧変動に追従するように定
められる基準レベルを越えている領域を情報エラー数と
して検出する第１検出手段と、上記検知信号を微分して
得られる信号のレベルが所定の基準レベルを越えている
領域を情報エラー数として検出し上記微分の時定数が情
報ピットと同じ長さとなるように設定された第２検出手
段と、上記第１検出手段及び上記第２検出手段により得
られた情報エラー数の少なくとも一方が一定量に達した
ときに不合格と判断する判定手段とを備えたものであ
る。
置からの反射光による検知信号に基づいて、情報書き込
み前の光ディスク上に発生している欠陥部を情報書き込
み後の実際の情報エラーに推定して検出し、その結果に
より光ディスクの品質判定を行なうようにした光ディス
クの欠陥検査装置において、上記検知信号のレベルが、
上記検知信号のゆるやかな電圧変動に追従するように定
められる基準レベルを越えている領域を情報エラー数と
して検出する第１検出手段と、上記検知信号を微分して
得られる信号のレベルが所定の基準レベルを越えている
領域を情報エラー数として検出し上記微分の時定数が情
報ピットと同じ長さとなるように設定された第２検出手
段と、上記第１検出手段及び上記第２検出手段により得
られた情報エラー数の少なくとも一方が一定量に達した
ときに不合格と判断する判定手段とを備えたものであ
る。
［作用］ このような構成を有する装置においては、第１検出手
段で長い欠陥が欠落することなく良好に検出されるとと
もに、第２検出手段で小欠陥が欠落することなく良好に
検出される。そして光ディスクの品質判定に当っては、
判定手段において上記両検出手段により得られた情報エ
ラー数の少なくとも一方が一定量に達したときに不合格
と判断され、両方の合格条件を満たして始めて合格と判
断されるようになっている。
段で長い欠陥が欠落することなく良好に検出されるとと
もに、第２検出手段で小欠陥が欠落することなく良好に
検出される。そして光ディスクの品質判定に当っては、
判定手段において上記両検出手段により得られた情報エ
ラー数の少なくとも一方が一定量に達したときに不合格
と判断され、両方の合格条件を満たして始めて合格と判
断されるようになっている。
［実 施 例］ 以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第１図に示されるように、情報書き込み前の光ディス
ク１に対して、光ピックアップ２から検査光が照射され
ている。前記光ディスク１の情報書き込み位置からの反
射光は、光ピックアップ２で再び受けられ、ピックアッ
プ制御回路３から、書き込み位置の反射光量を示す検知
信号（RF信号）が例えば第２図（ａ）で示されるような
波形で発せられる。この検知信号は、微分回路４、バッ
ファ回路５およびローパスフィルター６にそれぞれ出力
されている。
ク１に対して、光ピックアップ２から検査光が照射され
ている。前記光ディスク１の情報書き込み位置からの反
射光は、光ピックアップ２で再び受けられ、ピックアッ
プ制御回路３から、書き込み位置の反射光量を示す検知
信号（RF信号）が例えば第２図（ａ）で示されるような
波形で発せられる。この検知信号は、微分回路４、バッ
ファ回路５およびローパスフィルター６にそれぞれ出力
されている。
上記微分回路４は、第２図（ａ）で示される検知信号
を受けて第２図（ｃ）に示されるような微分波形を出力
する機能を有している。そしてこの微分波形出力が、基
準電圧発生回路７から発せられる基準電圧と比較回路８
において比較され、その比較結果は、ゲート回路９を通
してカウンター回路11に出力される。上記カウンター回
路11においては、前記検知信号の微分波形出力が基準電
圧を越えている数の集計が行なわれ、この集計値に基づ
いてマイコン演算部12で演算処理が行なわれて情報エラ
ー数が推定される。この場合、微分の時定数が情報ピッ
トと同じ長さとなるように設定されるため、情報ピット
以上の長さを有する欠陥部の検出は行なわれないことと
なるが、小欠陥部に関しては欠落することなく良好に検
出操作が行なわれる。
を受けて第２図（ｃ）に示されるような微分波形を出力
する機能を有している。そしてこの微分波形出力が、基
準電圧発生回路７から発せられる基準電圧と比較回路８
において比較され、その比較結果は、ゲート回路９を通
してカウンター回路11に出力される。上記カウンター回
路11においては、前記検知信号の微分波形出力が基準電
圧を越えている数の集計が行なわれ、この集計値に基づ
いてマイコン演算部12で演算処理が行なわれて情報エラ
ー数が推定される。この場合、微分の時定数が情報ピッ
トと同じ長さとなるように設定されるため、情報ピット
以上の長さを有する欠陥部の検出は行なわれないことと
なるが、小欠陥部に関しては欠落することなく良好に検
出操作が行なわれる。
上記ローパスフィルター６には基準電圧発生回路13が
付設されている。この基準電圧発生回路13から発せられ
る基準電圧は、ローパスフィルター６を通して得られた
検知信号のゆるやかな電圧変動に追従するようにして上
限値および下限値が増幅して定められている。そして前
記バッファ回路５からの出力が、上記基準電圧回路13か
ら発せられる基準電圧と比較回路14において比較され、
第２図（ｂ）に示されるような出力が得られる。この出
力は、基準パルス発生回路15から発せられる１ピットの
長さ（例えば0.5μ単位）に相当する欠陥長基準パルス
とゲート回路16においてANDがとられ、第２図（ｂ）に
示されるパルス列としてカウンター回路17に出力され
る。カウンター回路17で得られた集計値は欠陥長さとし
てマイコン演算部12に発せられ、そこで行なわれる演算
処理によって情報エラー数が推定される。この場合に
は、検知信号のレベルが所定の基準レベルと比較される
ために、レベル変動は小さいが再生時にエラーとなって
しまうような小欠陥部の検出は行なわれないこととなる
が、情報ピット以上の長さの欠陥部に関しては欠落する
ことなく良好に検出動作が行なわれる。
付設されている。この基準電圧発生回路13から発せられ
る基準電圧は、ローパスフィルター６を通して得られた
検知信号のゆるやかな電圧変動に追従するようにして上
限値および下限値が増幅して定められている。そして前
記バッファ回路５からの出力が、上記基準電圧回路13か
ら発せられる基準電圧と比較回路14において比較され、
第２図（ｂ）に示されるような出力が得られる。この出
力は、基準パルス発生回路15から発せられる１ピットの
長さ（例えば0.5μ単位）に相当する欠陥長基準パルス
とゲート回路16においてANDがとられ、第２図（ｂ）に
示されるパルス列としてカウンター回路17に出力され
る。カウンター回路17で得られた集計値は欠陥長さとし
てマイコン演算部12に発せられ、そこで行なわれる演算
処理によって情報エラー数が推定される。この場合に
は、検知信号のレベルが所定の基準レベルと比較される
ために、レベル変動は小さいが再生時にエラーとなって
しまうような小欠陥部の検出は行なわれないこととなる
が、情報ピット以上の長さの欠陥部に関しては欠落する
ことなく良好に検出動作が行なわれる。
さらに上記マイコン演算部12には、光ディスクの品質
判定を行なう判定回路が設けられている。この品質判定
回路は、上記両検出手段により得られた情報エラー数の
少なくとも一方が一定量に達したときに不合格と判断す
る機能を有しており、両方の合格条件を満たしてはじめ
て合格判断が行なわれるようになっている。このような
品質判定回路によれば、前記２系統の検出手段の欠点部
分が互いに補完され合うこととなり、情報エラー数の推
定動作が正確に行なわれているようになっている。
判定を行なう判定回路が設けられている。この品質判定
回路は、上記両検出手段により得られた情報エラー数の
少なくとも一方が一定量に達したときに不合格と判断す
る機能を有しており、両方の合格条件を満たしてはじめ
て合格判断が行なわれるようになっている。このような
品質判定回路によれば、前記２系統の検出手段の欠点部
分が互いに補完され合うこととなり、情報エラー数の推
定動作が正確に行なわれているようになっている。
なお光ディスクに短い長さの欠陥のみが含まれる場合
には、微分に基づく検出手段のみによって検査すること
ができる。
には、微分に基づく検出手段のみによって検査すること
ができる。
［発明の効果］ 以上のように、請求項１記載の発明によれば、上記構
成により、光ディスク上の小欠陥及び長い欠陥の両者を
欠落することなく良好に検出することができ、より正確
に情報エラーを推定することができる。
成により、光ディスク上の小欠陥及び長い欠陥の両者を
欠落することなく良好に検出することができ、より正確
に情報エラーを推定することができる。
また、請求項２記載の発明によれば、上記構成によ
り、光ディスク上の小欠陥及び長い欠陥の両者を欠落す
ることなく良好に検出することができ、より正確に情報
エラーを推定することができる。
り、光ディスク上の小欠陥及び長い欠陥の両者を欠落す
ることなく良好に検出することができ、より正確に情報
エラーを推定することができる。
第１図は本発明の一実施例における光ディスクの欠陥検
査装置を表わしたブロック線図、第２図（ａ），
（ｂ），（ｃ）および（ｄ）は各回路からの出力波形を
表わした線図、第３図はカウンター数と情報エラー数と
の関係を表わした線図である。 １……光ディスク、２……光ピックアップ、４……微分
回路、５……バッファ回路、６……ローパスフィルタ
ー、7,13……基準電圧発生回路、8,14……比較回路、1
1,17……カウンター回路、12……マイコン演算部。
査装置を表わしたブロック線図、第２図（ａ），
（ｂ），（ｃ）および（ｄ）は各回路からの出力波形を
表わした線図、第３図はカウンター数と情報エラー数と
の関係を表わした線図である。 １……光ディスク、２……光ピックアップ、４……微分
回路、５……バッファ回路、６……ローパスフィルタ
ー、7,13……基準電圧発生回路、8,14……比較回路、1
1,17……カウンター回路、12……マイコン演算部。
Claims (2)
- 【請求項１】光ディスクの情報書き込み位置からの反射
光による検知信号に基づいて、情報書き込み前の光ディ
スク上に発生している欠陥部を情報書き込み後の実際の
情報エラーに推定して検出し、その結果により光ディス
クの品質判定を行なうようにした光ディスクの欠陥検査
装置において、上記検知信号のレベルが所定の基準レベ
ルを越えている領域を情報エラー数として検出する第１
検出手段と、上記検知信号を微分して得られる信号のレ
ベルが所定の基準レベルを越えている領域を情報エラー
数として検出し上記微分の時定数が情報ピットと同じ長
さとなるように設定された第２検出手段と、上記第１検
出手段及び上記第２検出手段により得られた情報エラー
数の少なくとも一方が一定量に達したときに不合格と判
断する判定手段とを備えたことを特徴とする光ディスク
の欠陥検査装置。 - 【請求項２】光ディスクの情報書き込み位置からの反射
光による検知信号に基づいて、情報書き込み前の光ディ
スク上に発生している欠陥部を情報書き込み後の実際の
情報エラーに推定して検出し、その結果により光ディス
クの品質判定を行なうようにした光ディスクの欠陥検査
装置において、上記検知信号のレベルが、上記検知信号
のゆるやかな電圧変動に追従するように定められる基準
レベルを越えている領域を情報エラー数として検出する
第１検出手段と、上記検知信号を微分して得られる信号
のレベルが所定の基準レベルを越えている領域を情報エ
ラー数として検出し上記微分の時定数が情報ピットと同
じ長さとなるように設定された第２検出手段と、上記第
１検出手段及び上記第２検出手段により得られた情報エ
ラー数の少なくとも一方が一定量に達したときに不合格
と判断する判定手段とを備えたことを特徴とする光ディ
スクの欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63178481A JP2723913B2 (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | 光ディスクの欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63178481A JP2723913B2 (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | 光ディスクの欠陥検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0227241A JPH0227241A (ja) | 1990-01-30 |
| JP2723913B2 true JP2723913B2 (ja) | 1998-03-09 |
Family
ID=16049233
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63178481A Expired - Fee Related JP2723913B2 (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | 光ディスクの欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2723913B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR970020443A (ko) * | 1995-10-13 | 1997-05-28 | 김광호 | 화상형성장치의 전자기방식을 이용한 잉크젯 프린트헤드 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0782668B2 (ja) * | 1984-10-26 | 1995-09-06 | 東芝イ−エムアイ株式会社 | 記録媒体の非接触式欠陥検出方法及び装置 |
| JPS62291550A (ja) * | 1986-06-12 | 1987-12-18 | Canon Inc | 光デイスク検査装置 |
-
1988
- 1988-07-18 JP JP63178481A patent/JP2723913B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0227241A (ja) | 1990-01-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |