JP2774516B2 - ディスク欠陥検出回路 - Google Patents
ディスク欠陥検出回路Info
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- JP2774516B2 JP2774516B2 JP63202861A JP20286188A JP2774516B2 JP 2774516 B2 JP2774516 B2 JP 2774516B2 JP 63202861 A JP63202861 A JP 63202861A JP 20286188 A JP20286188 A JP 20286188A JP 2774516 B2 JP2774516 B2 JP 2774516B2
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9506—Optical discs
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光ディスク等の光学的ディスクの欠陥を検出
するディスク欠陥検出回路に関する。
するディスク欠陥検出回路に関する。
従来、欠陥検出回路は被検物を光ビームで走査してそ
の反射光量を受光素子で検出し、この検出信号を固定の
検出レベル（上限値と下限値）と比較することにより被
検物上の欠陥を検出している。
の反射光量を受光素子で検出し、この検出信号を固定の
検出レベル（上限値と下限値）と比較することにより被
検物上の欠陥を検出している。
上記従来の欠陥検出回路では検出レベルが固定してい
るので、被検物の反射光量が変動することにより誤検出
を行い、かつディスク上の欠陥を検出する場合にはディ
スク上の番地を示す連続番号や，書き込みがあったこと
を示すフラグ等によって構成されるID（I dentificatio
n）部を欠陥として誤って検出してしまう。
るので、被検物の反射光量が変動することにより誤検出
を行い、かつディスク上の欠陥を検出する場合にはディ
スク上の番地を示す連続番号や，書き込みがあったこと
を示すフラグ等によって構成されるID（I dentificatio
n）部を欠陥として誤って検出してしまう。
本発明は上記欠点を除去し、ディスクの反射光量の変
動やディスク上のID部による誤検出を行わないディスク
欠陥検出回路を提供することを目的とする。
動やディスク上のID部による誤検出を行わないディスク
欠陥検出回路を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、請求項１の発明は、ディ
スクに光ビームを照射してその反射光量を検出する検出
手段と、この検出手段の検出信号が入力されるローパス
フィルタと、このローパスフィルタの出力信号に追従し
て上限値及び下限値を発生する検出レベル発生手段と、
この検出レベル発生手段からの上限値及び下限値と前記
検出手段からの検出信号とを比較して前記ディスクの欠
陥を検出する比較手段と、前記検出手段の検出信号から
前記ディスク上のID部と他の部分とを区別するID判定手
段と、このID判定手段の出力信号により前記検出レベル
発生手段の入力信号を前記ディスク上のID部に対してホ
ールドし又は所定の検出レベルに固定する検出レベル固
定化手段とを有するものである。
スクに光ビームを照射してその反射光量を検出する検出
手段と、この検出手段の検出信号が入力されるローパス
フィルタと、このローパスフィルタの出力信号に追従し
て上限値及び下限値を発生する検出レベル発生手段と、
この検出レベル発生手段からの上限値及び下限値と前記
検出手段からの検出信号とを比較して前記ディスクの欠
陥を検出する比較手段と、前記検出手段の検出信号から
前記ディスク上のID部と他の部分とを区別するID判定手
段と、このID判定手段の出力信号により前記検出レベル
発生手段の入力信号を前記ディスク上のID部に対してホ
ールドし又は所定の検出レベルに固定する検出レベル固
定化手段とを有するものである。
検出手段はディスクに光ビームを照射してその反射光
量を検出し、この検出手段の検出信号がローパスフィル
タに入力される。検出レベル発生手段はローパスフィル
タの出力信号に追従して上限値及び下限値を発生し、比
較手段が検出レベル発生手段からの上限値及び下限値と
前記検出手段からの検出信号とを比較して前記ディスク
の欠陥を検出する。ID判定手段は前記検出手段の検出信
号から前記ディスク上のID部と他の部分とを区別し、検
出レベル固定化手段がID判定手段の出力信号により前記
検出レベル発生手段の入力信号を前記ディスク上のID部
に対してホールドし又は所定の検出レベルに固定する。
量を検出し、この検出手段の検出信号がローパスフィル
タに入力される。検出レベル発生手段はローパスフィル
タの出力信号に追従して上限値及び下限値を発生し、比
較手段が検出レベル発生手段からの上限値及び下限値と
前記検出手段からの検出信号とを比較して前記ディスク
の欠陥を検出する。ID判定手段は前記検出手段の検出信
号から前記ディスク上のID部と他の部分とを区別し、検
出レベル固定化手段がID判定手段の出力信号により前記
検出レベル発生手段の入力信号を前記ディスク上のID部
に対してホールドし又は所定の検出レベルに固定する。
第２図は本発明の一実施例を示す。
この実施例は光ディスク上の欠陥を検出する例であ
る。ピックアップ12は光ディスク11に裏面側から半導体
レーザによる光ビームを照射してその反射光を検出手段
としての受光素子で受光することにより反射光量を検出
し、光ディスク11がモータにより回転駆動されるととも
にピックアップ12がシーク機構により光ディスク11の半
径方向へ移動することによりピッくアップ12の半導体レ
ーザによる光ビームが光ディスク11のトラック上を移動
する。制御回路13はピックアップ12における上記受光素
子からの信号により上記光ビームのフォーカシング及び
トラッキングを行い、かつRF信号と言われる光ディスク
11の反射光量の総和に比例した電圧を出力する。欠陥検
出回路14は制御回路13からのRF信号を基準信号と比較し
て光ディスク11上の反射光量が下がる位置と長さを演算
する。
る。ピックアップ12は光ディスク11に裏面側から半導体
レーザによる光ビームを照射してその反射光を検出手段
としての受光素子で受光することにより反射光量を検出
し、光ディスク11がモータにより回転駆動されるととも
にピックアップ12がシーク機構により光ディスク11の半
径方向へ移動することによりピッくアップ12の半導体レ
ーザによる光ビームが光ディスク11のトラック上を移動
する。制御回路13はピックアップ12における上記受光素
子からの信号により上記光ビームのフォーカシング及び
トラッキングを行い、かつRF信号と言われる光ディスク
11の反射光量の総和に比例した電圧を出力する。欠陥検
出回路14は制御回路13からのRF信号を基準信号と比較し
て光ディスク11上の反射光量が下がる位置と長さを演算
する。
第１図は上記欠陥検出回路14の構成を示す。
制御回路13からの第４図（１）に示すようなRF信号は
アナログスイッチ25を通ってローパスフィルタ15により
低周波分の全体レベルの変動が抽出され、上限値発生回
路16がローパスフィルタ15の出力信号に追従して上限値
を発生すると同時に下限値発生回路17がローパスフィル
タ15の出力信号に追従して下限値を発生する。ここに、
上限値発生回路16及び下限値発生回路17はローパスフィ
ルタ15の出力信号に追従して上限値及び下限値を発生す
る検出レベル発生手段を構成することになる。そして、
制御回路13からのRF信号をバッファ回路18を経て比較手
段としてのウインドコンパレータからなる比較回路19に
より上限値発生回路16からの上限値，下限値発生回路17
からの下限値と比較することにより、光ディスク11上の
欠陥を検出する。この比較回路19の出力信号はゲート24
を通過してカウンタ22によりカウントされる。従来は第
５図に示すように上限値発生回路16及び下限値発生回路
17が固定の上限値及び下限値を発生していたので、比較
回路19の出力信号に被検物の反射光量の変動による誤差
（図示斜線部分）を生じた。しかし、この実施例では上
限値発生回路16及び下限値発生回路17が第４図（１）の
ようにローパスフィルタ15の出力信号に追従して上限値
及び下限値を発生するので、比較回路19の出力信号に光
ディスク11の反射光量の変動による誤差が生じない。
アナログスイッチ25を通ってローパスフィルタ15により
低周波分の全体レベルの変動が抽出され、上限値発生回
路16がローパスフィルタ15の出力信号に追従して上限値
を発生すると同時に下限値発生回路17がローパスフィル
タ15の出力信号に追従して下限値を発生する。ここに、
上限値発生回路16及び下限値発生回路17はローパスフィ
ルタ15の出力信号に追従して上限値及び下限値を発生す
る検出レベル発生手段を構成することになる。そして、
制御回路13からのRF信号をバッファ回路18を経て比較手
段としてのウインドコンパレータからなる比較回路19に
より上限値発生回路16からの上限値，下限値発生回路17
からの下限値と比較することにより、光ディスク11上の
欠陥を検出する。この比較回路19の出力信号はゲート24
を通過してカウンタ22によりカウントされる。従来は第
５図に示すように上限値発生回路16及び下限値発生回路
17が固定の上限値及び下限値を発生していたので、比較
回路19の出力信号に被検物の反射光量の変動による誤差
（図示斜線部分）を生じた。しかし、この実施例では上
限値発生回路16及び下限値発生回路17が第４図（１）の
ようにローパスフィルタ15の出力信号に追従して上限値
及び下限値を発生するので、比較回路19の出力信号に光
ディスク11の反射光量の変動による誤差が生じない。
ところが、一般に光ディスク11はID部があり、このID
部により上限値発生回路16及び下限値発生回路17の上限
値及び下限値が第４図（２）のように正常な位置につく
までに誤差を生ずる。
部により上限値発生回路16及び下限値発生回路17の上限
値及び下限値が第４図（２）のように正常な位置につく
までに誤差を生ずる。
この実施例では、ID判定手段としてのID判定部23は制
御回路13からのRF信号により光ディスク11上におけるID
部をデータ部と区別して検出する。ゲート24はID判定部
23から第４図（３）のようにディスク11上のID部で低レ
ベルになってディスク11上のデータ部で高レベルとなる
信号が入力されると共に、基準パルス発生回路20からの
基準パルス及び比較回路19の出力信号が入力され、制御
回路13からRF信号におけるディスク11上のデータ部に対
応する部分が出力されていて基準パルス発生回路20から
の基準パルスが入力されたときに比較回路19の出力信号
を通過させる。このゲート24の出力信号はカウンタ22に
よりカウントされる。またゲート24は制御回路13からRF
信号におけるディスク11上のID部に対応する部分が出力
されているときにはオフとなり、比較回路19の出力信号
はゲート24により阻止されてカウンタ22でカウントされ
ない。
御回路13からのRF信号により光ディスク11上におけるID
部をデータ部と区別して検出する。ゲート24はID判定部
23から第４図（３）のようにディスク11上のID部で低レ
ベルになってディスク11上のデータ部で高レベルとなる
信号が入力されると共に、基準パルス発生回路20からの
基準パルス及び比較回路19の出力信号が入力され、制御
回路13からRF信号におけるディスク11上のデータ部に対
応する部分が出力されていて基準パルス発生回路20から
の基準パルスが入力されたときに比較回路19の出力信号
を通過させる。このゲート24の出力信号はカウンタ22に
よりカウントされる。またゲート24は制御回路13からRF
信号におけるディスク11上のID部に対応する部分が出力
されているときにはオフとなり、比較回路19の出力信号
はゲート24により阻止されてカウンタ22でカウントされ
ない。
しかし、ゲート24がローパスフィルタ15の時定数だけ
実際のID部の長さに相当する時間より長く閉じている
と、データ部の欠陥検出を行える長さが短くなる。そこ
で、この実施例は、ゲート24が閉じている間はローパス
フィルタ15の入力電圧を固定するものである。アナログ
スイッチ25はID判定部23の出力信号によりディスク11上
のID部でオフになって制御回路13からローパスフィルタ
15へのRF信号を阻止し、ディスク11上のデータ部でオン
して制御回路13からローパスフィルタ15へのRF信号を通
過させる。アナログスイッチ26はID判定部23の出力信号
がインバータ27で反転されて入力されることによりディ
スク11上のID部でオンになって固定の基準電圧をローパ
スフィルタ15へ入力させ、ディスク11上のデータ部でオ
フして固定基準電圧のローパスフィルタ15への入力を阻
止する。したがってゲート24が開いてから上限値発生回
路16及び下限値発生回路17の上限値及び下限値が本来の
値になるまでの時間が短くなり、欠陥検出を行えるデー
タ部の長さが長くなる。ここに、アナログスイッチ25、
26及びインバータ27はID判定回路23の出力信号により上
限値発生回路16及び下限値発生回路17の入力信号をディ
スク上のID部に対して所定の検出レベルに固定する検出
レベル固定化手段を構成することになる。
実際のID部の長さに相当する時間より長く閉じている
と、データ部の欠陥検出を行える長さが短くなる。そこ
で、この実施例は、ゲート24が閉じている間はローパス
フィルタ15の入力電圧を固定するものである。アナログ
スイッチ25はID判定部23の出力信号によりディスク11上
のID部でオフになって制御回路13からローパスフィルタ
15へのRF信号を阻止し、ディスク11上のデータ部でオン
して制御回路13からローパスフィルタ15へのRF信号を通
過させる。アナログスイッチ26はID判定部23の出力信号
がインバータ27で反転されて入力されることによりディ
スク11上のID部でオンになって固定の基準電圧をローパ
スフィルタ15へ入力させ、ディスク11上のデータ部でオ
フして固定基準電圧のローパスフィルタ15への入力を阻
止する。したがってゲート24が開いてから上限値発生回
路16及び下限値発生回路17の上限値及び下限値が本来の
値になるまでの時間が短くなり、欠陥検出を行えるデー
タ部の長さが長くなる。ここに、アナログスイッチ25、
26及びインバータ27はID判定回路23の出力信号により上
限値発生回路16及び下限値発生回路17の入力信号をディ
スク上のID部に対して所定の検出レベルに固定する検出
レベル固定化手段を構成することになる。
第３図の実施例は上記実施例において欠陥検出回路14
として第３図に示すものを用いた例であり、ゲート24が
閉じている間はその閉じる瞬間のローパスフィルタ15の
入力電圧を保持するものである。ワンパルス発生回路28
はID判定部23の出力信号によりディスク11上のID部の最
初でパルスを１つ発生し、このパルスによりサンプルホ
ールド回路29が制御回路13からのRF信号をサンプルして
ホールドする。このサンプルホールド回路29の出力はア
ナログスイッチ26によりディスク11上のID部で基準電圧
としてローパスフィルタ15へ入力される。ここに、サン
プルホールド回路29、ワンパルス発生回路28、アナログ
スイッチ25、26及びインバータ27はID判定回路23の出力
信号により上限値発生回路16及び下限値発生回路17の入
力信号をディスク上のID部に対してホールドする検出レ
ベル固定化手段を構成することになる。
として第３図に示すものを用いた例であり、ゲート24が
閉じている間はその閉じる瞬間のローパスフィルタ15の
入力電圧を保持するものである。ワンパルス発生回路28
はID判定部23の出力信号によりディスク11上のID部の最
初でパルスを１つ発生し、このパルスによりサンプルホ
ールド回路29が制御回路13からのRF信号をサンプルして
ホールドする。このサンプルホールド回路29の出力はア
ナログスイッチ26によりディスク11上のID部で基準電圧
としてローパスフィルタ15へ入力される。ここに、サン
プルホールド回路29、ワンパルス発生回路28、アナログ
スイッチ25、26及びインバータ27はID判定回路23の出力
信号により上限値発生回路16及び下限値発生回路17の入
力信号をディスク上のID部に対してホールドする検出レ
ベル固定化手段を構成することになる。
〔発明の効果〕 以上のように請求項１の発明では、ディスクに光ビー
ムを照射してその反射光量を検出する検出手段と、この
検出手段の検出信号が入力されるローパスフィルタと、
このローパスフィルタの出力信号に追従して上限値及び
下限値を発生する検出レベル発生手段と、この検出レベ
ル発生手段からの上限値及び下限値と前記検出手段から
の検出信号とを比較して前記ディスクの欠陥を検出する
比較手段と、前記検出手段の検出信号から前記ディスク
上のID部と他の部分とを区別するID判定手段と、このID
判定手段の出力信号により前記検出レベル発生手段の入
力信号を前記ディスク上のID部に対してホールドし又は
所定の検出レベルに固定する検出レベル固定化手段とを
有するので、ディスクの反射光量の変動による誤検出や
ディスク上のID部による誤検出を行わなくなり、ディス
ク上の欠陥検出を行えるデータ部の長さが長くなる。
ムを照射してその反射光量を検出する検出手段と、この
検出手段の検出信号が入力されるローパスフィルタと、
このローパスフィルタの出力信号に追従して上限値及び
下限値を発生する検出レベル発生手段と、この検出レベ
ル発生手段からの上限値及び下限値と前記検出手段から
の検出信号とを比較して前記ディスクの欠陥を検出する
比較手段と、前記検出手段の検出信号から前記ディスク
上のID部と他の部分とを区別するID判定手段と、このID
判定手段の出力信号により前記検出レベル発生手段の入
力信号を前記ディスク上のID部に対してホールドし又は
所定の検出レベルに固定する検出レベル固定化手段とを
有するので、ディスクの反射光量の変動による誤検出や
ディスク上のID部による誤検出を行わなくなり、ディス
ク上の欠陥検出を行えるデータ部の長さが長くなる。
第１図は本発明の一実施例における欠陥検出回路を示す
ブロック図、第２図は同実施例を示すブロック図、第３
図は本発明の他の実施例における欠陥検出回路を示すブ
ロック図、第４図は上記実施例の各信号波形を示す波形
図、第５図は従来の欠陥検出回路における各信号波形を
示す波形図である。 11……光ディスク、12……ピッくアップ、13……制御回
路、15……ローパスフィルタ、16,17……検出レベル発
生手段、19……比較手段、23……ID判定手段、24……ゲ
ート、25,26……アナログスイッチ、27……インバー
タ、28……ワンパルス発生回路、29……サンプルホール
ド回路。
ブロック図、第２図は同実施例を示すブロック図、第３
図は本発明の他の実施例における欠陥検出回路を示すブ
ロック図、第４図は上記実施例の各信号波形を示す波形
図、第５図は従来の欠陥検出回路における各信号波形を
示す波形図である。 11……光ディスク、12……ピッくアップ、13……制御回
路、15……ローパスフィルタ、16,17……検出レベル発
生手段、19……比較手段、23……ID判定手段、24……ゲ
ート、25,26……アナログスイッチ、27……インバー
タ、28……ワンパルス発生回路、29……サンプルホール
ド回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−107749（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−148145（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−223652（ＪＰ，Ａ) 実開 昭64−44453（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/90
Claims (1)
- 【請求項１】ディスクに光ビームを照射してその反射光
量を検出する検出手段と、この検出手段の検出信号が入
力されるローパスフィルタと、このローパスフィルタの
出力信号に追従して上限値及び下限値を発生する検出レ
ベル発生手段と、この検出レベル発生手段からの上限値
及び下限値と前記検出手段からの検出信号とを比較して
前記ディスクの欠陥を検出する比較手段と、前記検出手
段の検出信号から前記ディスク上のID部と他の部分とを
区別するID判定手段と、このID判定手段の出力信号によ
り前記検出レベル発生手段の入力信号を前記ディスク上
のID部に対してホールドし又は所定の検出レベルに固定
する検出レベル固定化手段とを有することを特徴とする
ディスク欠陥検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63202861A JP2774516B2 (ja) | 1988-08-15 | 1988-08-15 | ディスク欠陥検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63202861A JP2774516B2 (ja) | 1988-08-15 | 1988-08-15 | ディスク欠陥検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0252242A JPH0252242A (ja) | 1990-02-21 |
| JP2774516B2 true JP2774516B2 (ja) | 1998-07-09 |
Family
ID=16464410
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63202861A Expired - Fee Related JP2774516B2 (ja) | 1988-08-15 | 1988-08-15 | ディスク欠陥検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2774516B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02166646A (ja) * | 1988-12-20 | 1990-06-27 | Csk Corp | 光記憶媒体欠陥検査装置 |
| US7239588B2 (en) | 2002-05-30 | 2007-07-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and apparatus for detecting foreign body on object surface, and optical disk apparatus |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60107749A (ja) * | 1983-11-15 | 1985-06-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク検査装置 |
-
1988
- 1988-08-15 JP JP63202861A patent/JP2774516B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0252242A (ja) | 1990-02-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |