JPH0464924A - 光ピックアップ装置の欠陥検出回路 - Google Patents
光ピックアップ装置の欠陥検出回路Info
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- JPH0464924A JPH0464924A JP2176977A JP17697790A JPH0464924A JP H0464924 A JPH0464924 A JP H0464924A JP 2176977 A JP2176977 A JP 2176977A JP 17697790 A JP17697790 A JP 17697790A JP H0464924 A JPH0464924 A JP H0464924A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 40
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 41
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/002—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier
- G11B7/0037—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs
- G11B7/00375—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs arrangements for detection of physical defects, e.g. of recording layer
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0938—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following servo format, e.g. guide tracks, pilot signals
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光ピックアップ装置の欠陥検出回路に関する
。
。
従来の技術
従来、光ピックアップ装置において、トラッキングサー
ボやフォーカスサーボをサンプルサーボ方式を用いて行
うものとしては、例えば、特開昭６３−１５５４２６号
公報に開示されているものがある。これは、フォーカス
やトラッキング等の光情報記録媒体への光スポットの照
射位置制、御をサンプリング制御で行うに際し、新たに
サンプルしたはエラー量を１つ前にサンプルした値と比
較し、両者の差が所定幅の範囲内であれば、その値をそ
のまま新しいサンプル値として採用し、両者の差が前記
所定幅を超える場合には、１つ前のサンプル値にその所
定幅を加えた値を新しいサンプル値とするようにしたも
のである。
ボやフォーカスサーボをサンプルサーボ方式を用いて行
うものとしては、例えば、特開昭６３−１５５４２６号
公報に開示されているものがある。これは、フォーカス
やトラッキング等の光情報記録媒体への光スポットの照
射位置制、御をサンプリング制御で行うに際し、新たに
サンプルしたはエラー量を１つ前にサンプルした値と比
較し、両者の差が所定幅の範囲内であれば、その値をそ
のまま新しいサンプル値として採用し、両者の差が前記
所定幅を超える場合には、１つ前のサンプル値にその所
定幅を加えた値を新しいサンプル値とするようにしたも
のである。
このようにサンプルサーボ方式におけるプリピット部の
欠陥検出をウィンドウ法を用いて行うことによって、光
情報記録媒体面上でビットの欠陥などが原因で発生する
誤サンプルによりサーボ系が乱されるようなことがなく
なるため、誤サンプル等のノイズの影響を低減させるこ
とができる。
欠陥検出をウィンドウ法を用いて行うことによって、光
情報記録媒体面上でビットの欠陥などが原因で発生する
誤サンプルによりサーボ系が乱されるようなことがなく
なるため、誤サンプル等のノイズの影響を低減させるこ
とができる。
第５図（ａ）〜（Ｃ）は、従来のサンプルサーボ方式を
示したものであり、（ａ）に示すように、光情報記録媒
体としての光ディスクｌの表面のトラック中心２から左
右にはずれた位置にトラッキング制御用のプリピット部
としてのウオブリングビットＡ、Ｂを形成し、そのトラ
ック中心２上にＰＬＬ制御の同期をとるためにグロック
ビットＣを形成したものに対して、そのトラック中心２
上に沿って光スポット３を走査させることによって再生
（ＲＦ）信号４を検出しその信号のレベル差によりトラ
ッキングサーボを行うようにしたものである。すなわち
、（ｂ）、（Ｃ）に示すように、光スポット３がトラッ
ク中心２から左右どちらかにはずれた状態で走査した場
合、ウオブリングビットＡ、Ｂにて検出される再生信号
４のピーク値が変わるためそのピーク値間の差分△Ｖを
求めることにより、光スポット３のトラック中心２から
の変位量を求め、これによりトラッキング制御を行うよ
うにしたものである。
示したものであり、（ａ）に示すように、光情報記録媒
体としての光ディスクｌの表面のトラック中心２から左
右にはずれた位置にトラッキング制御用のプリピット部
としてのウオブリングビットＡ、Ｂを形成し、そのトラ
ック中心２上にＰＬＬ制御の同期をとるためにグロック
ビットＣを形成したものに対して、そのトラック中心２
上に沿って光スポット３を走査させることによって再生
（ＲＦ）信号４を検出しその信号のレベル差によりトラ
ッキングサーボを行うようにしたものである。すなわち
、（ｂ）、（Ｃ）に示すように、光スポット３がトラッ
ク中心２から左右どちらかにはずれた状態で走査した場
合、ウオブリングビットＡ、Ｂにて検出される再生信号
４のピーク値が変わるためそのピーク値間の差分△Ｖを
求めることにより、光スポット３のトラック中心２から
の変位量を求め、これによりトラッキング制御を行うよ
うにしたものである。
この場合、もし、プリピット（ウオブリングビットＡ、
ＢやクロックビットＣ）に欠陥があった場合、その欠陥
部分でのサンプリング信号をそのまま用いて制御を行っ
てしまうと、トラックはずれやＰＬＬ不良の原因となっ
てしまう。従って、そのような誤サンプリング信号を取
り込まないようにする必要があり、このためプリピット
の欠陥検出が重要な課題となる。その−例を第６図（ａ
）（ｂ）に基づいて説明する。（ａ）は正常なプリピッ
ト５が配列された中に１個だけ欠陥ビット６が存在した
様子を示すものであり、この場合、再生信号４のピーク
値のレベル差へＶは一定位置」二あるため、その欠陥ビ
ット６の検出を行うことができる。しかし、（ｂ）に示
すように、正常ビット７−少し欠けているビット８−欠
陥ビット９が順次隣接して存在しているような場合、そ
の再生信号４のピーク値のレベル差へＶ１〜八ｖ４が一
定値以上にならない場合が存在し、これにより欠陥ビッ
トの検出を行うことができないという問題が生じる。
ＢやクロックビットＣ）に欠陥があった場合、その欠陥
部分でのサンプリング信号をそのまま用いて制御を行っ
てしまうと、トラックはずれやＰＬＬ不良の原因となっ
てしまう。従って、そのような誤サンプリング信号を取
り込まないようにする必要があり、このためプリピット
の欠陥検出が重要な課題となる。その−例を第６図（ａ
）（ｂ）に基づいて説明する。（ａ）は正常なプリピッ
ト５が配列された中に１個だけ欠陥ビット６が存在した
様子を示すものであり、この場合、再生信号４のピーク
値のレベル差へＶは一定位置」二あるため、その欠陥ビ
ット６の検出を行うことができる。しかし、（ｂ）に示
すように、正常ビット７−少し欠けているビット８−欠
陥ビット９が順次隣接して存在しているような場合、そ
の再生信号４のピーク値のレベル差へＶ１〜八ｖ４が一
定値以上にならない場合が存在し、これにより欠陥ビッ
トの検出を行うことができないという問題が生じる。
発明が解決しようとする課題
一般に、ビットの欠陥検出方法としては、その第一の方
法として、プリピット部での再生信号が一定のパターン
になることを利用して、それ以外のパターンが発生した
時は欠陥であると判定するパターンマツチング法や、ま
た、第二の方法として、隣接サンプル点間でのサンプル
値の変化が一定位置」二になる時を欠陥であると判定す
るウィンドウ法（前述したような従来例がこれに該当す
る）が知られている。
法として、プリピット部での再生信号が一定のパターン
になることを利用して、それ以外のパターンが発生した
時は欠陥であると判定するパターンマツチング法や、ま
た、第二の方法として、隣接サンプル点間でのサンプル
値の変化が一定位置」二になる時を欠陥であると判定す
るウィンドウ法（前述したような従来例がこれに該当す
る）が知られている。
第一の方法の場合、パターンマツチング法に関しては、
パターンを判定するため再生信号を２値化するに際して
のしきい値設定などに困鎚な点があり、今日においては
、あまり実用化されていない。また、第二の方法の場合
、回路規模も割りと小さく実現か容易であるが、しかし
、このウィンドウ法は隣接サンプル点間でのサンプル値
の変化を見るため相対値による判定となり、このような
相対値により判定たけでは欠陥部の検出漏れを起こすこ
とになる。
パターンを判定するため再生信号を２値化するに際して
のしきい値設定などに困鎚な点があり、今日においては
、あまり実用化されていない。また、第二の方法の場合
、回路規模も割りと小さく実現か容易であるが、しかし
、このウィンドウ法は隣接サンプル点間でのサンプル値
の変化を見るため相対値による判定となり、このような
相対値により判定たけでは欠陥部の検出漏れを起こすこ
とになる。
課題を解決するための手段
そこで、このような問題点を解決するために、本発明は
、光情報記録媒体の表面にプリピット部やミラー部の形
成されたプリフォーマット部を備え、サンプルサーボ方
式を用いて前記プリピット部や０４７記ミラー部をサン
プリングすることによりサンプリング信号を検出し、こ
のサンプリング信号をもとにフォーカスサーボ′やトラ
ッキングサーボを行う光ピックアップ装置において、現
在サンプリングを行っている現ミラー部でのサンプリン
グ信号を記憶する第一レジスタと現在サンプリングを行
っているーっ前のミラー部でのサンプリング信号を記憶
する第二レジスタとこれら第一レジスタと第二レジスタ
との出力を減算する第一減算器とこの第一減算器の出力
と第一固定値の出力との比較を行う第一比較器とを翁す
る相対値欠陥検出回路を設け、現ミラー部でのサンプリ
ング信号と第二固定値とを比較する第二比較器を有する
絶対値欠陥検出回路を設（づ、この絶対値欠陥検出回路
からの出力とＯｊｆ記相対値欠陥検出回路からの出力と
に基づき現ミラー部の欠陥の有無を判定する判定回路を
設け、この判定回路の出力により現ミラー部でのサンプ
リング信号か前記第二固定値の出力かを選択するセレク
タとこのセレクタからの出力と第三固定値との減算を行
う第二減算器とこの第二減算器からの出力と前記サンプ
リング信号との大小を比較する第三比較器とを有するし
きい値発生欠陥比較回路を設けた。
、光情報記録媒体の表面にプリピット部やミラー部の形
成されたプリフォーマット部を備え、サンプルサーボ方
式を用いて前記プリピット部や０４７記ミラー部をサン
プリングすることによりサンプリング信号を検出し、こ
のサンプリング信号をもとにフォーカスサーボ′やトラ
ッキングサーボを行う光ピックアップ装置において、現
在サンプリングを行っている現ミラー部でのサンプリン
グ信号を記憶する第一レジスタと現在サンプリングを行
っているーっ前のミラー部でのサンプリング信号を記憶
する第二レジスタとこれら第一レジスタと第二レジスタ
との出力を減算する第一減算器とこの第一減算器の出力
と第一固定値の出力との比較を行う第一比較器とを翁す
る相対値欠陥検出回路を設け、現ミラー部でのサンプリ
ング信号と第二固定値とを比較する第二比較器を有する
絶対値欠陥検出回路を設（づ、この絶対値欠陥検出回路
からの出力とＯｊｆ記相対値欠陥検出回路からの出力と
に基づき現ミラー部の欠陥の有無を判定する判定回路を
設け、この判定回路の出力により現ミラー部でのサンプ
リング信号か前記第二固定値の出力かを選択するセレク
タとこのセレクタからの出力と第三固定値との減算を行
う第二減算器とこの第二減算器からの出力と前記サンプ
リング信号との大小を比較する第三比較器とを有するし
きい値発生欠陥比較回路を設けた。
作用
従って、プリピット部やミラー部の欠陥を検出する際に
相対値による検出と絶対値による検出とを併用させるこ
とによって、プリピット部やミラー部の欠陥検出を高精
度で確実に行うことかできる。
相対値による検出と絶対値による検出とを併用させるこ
とによって、プリピット部やミラー部の欠陥検出を高精
度で確実に行うことかできる。
実施例
本発明の一実施例を第１図ないし第４図に基づいて説明
する。第１図は本装置の全体構成を示すものである。こ
の本装置は、相対値欠陥検出回路１０と絶対値欠陥検出
回路１１と判定回路１２としきい値発生欠陥比較回路１
３とに大きく分類することができる。前記相対値欠陥検
出回路１０には、サンプリングを行っている現ミラー部
でのサンプリング信号を記憶する第一レジスタ１４と、
サンプリングを行っている一つ前のミラー部でのサンプ
リング信号を記憶する第二レジスタ１５と、これら第一
レジスタ１４と第二レジスタ１５との出力を減算する第
一減算器１６と、この第一減算器１６の出力と第一固定
値１７の出力との比較を行う第一比較器１８とか設けら
れている。
する。第１図は本装置の全体構成を示すものである。こ
の本装置は、相対値欠陥検出回路１０と絶対値欠陥検出
回路１１と判定回路１２としきい値発生欠陥比較回路１
３とに大きく分類することができる。前記相対値欠陥検
出回路１０には、サンプリングを行っている現ミラー部
でのサンプリング信号を記憶する第一レジスタ１４と、
サンプリングを行っている一つ前のミラー部でのサンプ
リング信号を記憶する第二レジスタ１５と、これら第一
レジスタ１４と第二レジスタ１５との出力を減算する第
一減算器１６と、この第一減算器１６の出力と第一固定
値１７の出力との比較を行う第一比較器１８とか設けら
れている。
また、前記絶対値欠陥検出回路１１には、現ミラー部で
のサンプリング信号と第二固定値１９とを比較する第二
比較器２０が設けられている。
のサンプリング信号と第二固定値１９とを比較する第二
比較器２０が設けられている。
さらに、前記絶対値欠陥検出回路１１と１１１記相対値
欠陥検出回路１０との出力側は前記判定回路１２に接続
されており、この判定回路１２はそれら２つの回路１０
．１１からの出力に基づいて現ミラー部の欠陥の有無を
判定する働きがある。
欠陥検出回路１０との出力側は前記判定回路１２に接続
されており、この判定回路１２はそれら２つの回路１０
．１１からの出力に基づいて現ミラー部の欠陥の有無を
判定する働きがある。
さらに、また、前記判定回路１２はしきい値発生欠陥比
較回路１３に接続されている。このしきい値発生欠陥比
較回路１３には、前記判定回路１２の出力により現ミラ
ー部でのサンプリング信号か前記第二固定値１８の出力
かを選択するセレクタ２１と、このセレクタ２１からの
出力と第三固定値２２との減算を行う第二減算器２３と
、この第二減算器２３からの出力と前記サンプリング信
号との大小を比較する第三比較器２４とが設けられてい
る。
較回路１３に接続されている。このしきい値発生欠陥比
較回路１３には、前記判定回路１２の出力により現ミラ
ー部でのサンプリング信号か前記第二固定値１８の出力
かを選択するセレクタ２１と、このセレクタ２１からの
出力と第三固定値２２との減算を行う第二減算器２３と
、この第二減算器２３からの出力と前記サンプリング信
号との大小を比較する第三比較器２４とが設けられてい
る。
このような構成において、まず、相対値欠陥検出回路Ｉ
Ｏについて説明する。サンプリング信号としての再生（
ＲＦ）信号をアナログ−デジタル変換したデータ（以下
、Ａ／Ｄデータと呼ぶ）を第一レジスタ１４に入力する
。また、各セグメント毎に配置されるミラー部（第３図
参照）でのＡ／Ｄデータを前記第一レジスタ１４へ各セ
グメント毎にラッチする。次に、第一レジスタ１４の出
力を第二レジスタ１５に入力すると共に、第一レジスタ
１４のラッチタイミングと同じタイミングで第一レジス
タ１４の出力データを第二レジスタ１５ヘラツチする。
Ｏについて説明する。サンプリング信号としての再生（
ＲＦ）信号をアナログ−デジタル変換したデータ（以下
、Ａ／Ｄデータと呼ぶ）を第一レジスタ１４に入力する
。また、各セグメント毎に配置されるミラー部（第３図
参照）でのＡ／Ｄデータを前記第一レジスタ１４へ各セ
グメント毎にラッチする。次に、第一レジスタ１４の出
力を第二レジスタ１５に入力すると共に、第一レジスタ
１４のラッチタイミングと同じタイミングで第一レジス
タ１４の出力データを第二レジスタ１５ヘラツチする。
これにより、第二レジスタ１５の出力データは、第一レ
ジスタ１４の出力データとなる現在のセグメントめ″ミ
ラー部（前述した現ミラー部）におけるＡ／Ｄデータよ
りもｌセグメント前のＡ／Ｄデータを保持していること
になる。
ジスタ１４の出力データとなる現在のセグメントめ″ミ
ラー部（前述した現ミラー部）におけるＡ／Ｄデータよ
りもｌセグメント前のＡ／Ｄデータを保持していること
になる。
また、第一レジスタ１４及び第二レジスタ１５の出力を
第一減算器１６に入力して、現在のセグメントと１セグ
メント前とのミラー部におけるＡ／Ｄデータの差分を求
める。この差分値を第一比較器１８に入力して第一固定
値１７との比較を行う。この第一固定値１７には、現在
のセグメントと１セグメント前との欠陥がない時のミラ
ー部のＡ／Ｄデータの変化量の許容値を設定する。この
第一比較器１８によって、第一減算器１６の出ツノであ
る現在のセグメントと１セグメント前とのミラー部にお
けるＡ／Ｄデータの差分が、第一固定値１７以内にあれ
ばミラー部に欠陥なしと判定することができ、また、Ａ
／Ｄデータの差分が第一固定値１７を超えていれば、現
在のセグメントのミラー部に欠陥がある尼判定すること
ができることになる。
第一減算器１６に入力して、現在のセグメントと１セグ
メント前とのミラー部におけるＡ／Ｄデータの差分を求
める。この差分値を第一比較器１８に入力して第一固定
値１７との比較を行う。この第一固定値１７には、現在
のセグメントと１セグメント前との欠陥がない時のミラ
ー部のＡ／Ｄデータの変化量の許容値を設定する。この
第一比較器１８によって、第一減算器１６の出ツノであ
る現在のセグメントと１セグメント前とのミラー部にお
けるＡ／Ｄデータの差分が、第一固定値１７以内にあれ
ばミラー部に欠陥なしと判定することができ、また、Ａ
／Ｄデータの差分が第一固定値１７を超えていれば、現
在のセグメントのミラー部に欠陥がある尼判定すること
ができることになる。
次に、絶対値欠陥検出回路１１について説明する。第一
レジスタ１４の出力となる現在のセグメントのミラー部
におけるＡ／Ｄデータを第二比較器２０に入力し、第二
固定値１８と比較する。この第二固定値１８には、メデ
ィアの反射率変動などにより生じるＲＦ倍信号許容変動
分を考慮し、ミラー部が欠陥でない時のＡ／Ｄデータの
最小値付近の値を設定する。これにより、その第二比較
器２０によって、ミラー部のＡ／Ｄデータの絶対値が欠
陥であるか否かを判定することができる。
レジスタ１４の出力となる現在のセグメントのミラー部
におけるＡ／Ｄデータを第二比較器２０に入力し、第二
固定値１８と比較する。この第二固定値１８には、メデ
ィアの反射率変動などにより生じるＲＦ倍信号許容変動
分を考慮し、ミラー部が欠陥でない時のＡ／Ｄデータの
最小値付近の値を設定する。これにより、その第二比較
器２０によって、ミラー部のＡ／Ｄデータの絶対値が欠
陥であるか否かを判定することができる。
次に、このようにして相対値欠陥検出回路１０により得
られた相対値出力と絶対値欠陥検出回路１１により得ら
れた絶対値出力との２つのミラー部における欠陥検出結
果を判定回路１２に入力する。この判定回路１２におい
て、ミラー部におけるＡ／Ｄデータの値を採用するか否
かを判定する。
られた相対値出力と絶対値欠陥検出回路１１により得ら
れた絶対値出力との２つのミラー部における欠陥検出結
果を判定回路１２に入力する。この判定回路１２におい
て、ミラー部におけるＡ／Ｄデータの値を採用するか否
かを判定する。
第１表は、その判定回路１２の判定結果の様子を示すも
のである。
のである。
この第１表からもわかるように、判定回路１２の出力で
、相対値出力結果と絶対値出力結果とから共にミラー部
において欠陥がない（○）と判定された場合にはそのミ
ラー部のＡ／Ｄデータを出力値とし、また、ミラー部に
欠陥がある（×）と判定された場合にはそのＡ／Ｄデー
タの代わりに第二固定値１８を出力値とする。
、相対値出力結果と絶対値出力結果とから共にミラー部
において欠陥がない（○）と判定された場合にはそのミ
ラー部のＡ／Ｄデータを出力値とし、また、ミラー部に
欠陥がある（×）と判定された場合にはそのＡ／Ｄデー
タの代わりに第二固定値１８を出力値とする。
次に、しきい値発生欠陥比較回路１３について説明する
。判定回路１２から出力されたＡ／Ｄデータ若しくは第
二固定値１８はセレクタ２１によりセレクトされる。そ
して、そのセレクタ２１がらの出力と第三固定値２２と
は、第二減算器２３に入力され減算が行われる。この第
二減算器２３の出力値は、ミラー部の欠陥検出用のしき
い値Ｐとされる。第２図に示すように、このしきい値Ｐ
とＡ／Ｄデータとの大小比較を第三比較器２４により行
うことによって、ミラー部において欠陥かあるか否かを
検出することができる。
。判定回路１２から出力されたＡ／Ｄデータ若しくは第
二固定値１８はセレクタ２１によりセレクトされる。そ
して、そのセレクタ２１がらの出力と第三固定値２２と
は、第二減算器２３に入力され減算が行われる。この第
二減算器２３の出力値は、ミラー部の欠陥検出用のしき
い値Ｐとされる。第２図に示すように、このしきい値Ｐ
とＡ／Ｄデータとの大小比較を第三比較器２４により行
うことによって、ミラー部において欠陥かあるか否かを
検出することができる。
第３図（ａ、） （ｂ）は、その欠陥検出の一例を示
すものである。（ａ）に示すように、ウオブリングピッ
ｌ−Ａ、ＢやクロックビットＣからなるプリピット部２
５、及び、ミラー部２６に欠陥がないような場合には、
プリピット部２５におけるＡ／Ｄデータ （ＲＦ倍信号
はしきい値Ｐよりも小さくなり、そのプリピット部２５
以外のミラー部２６におけるＡ／Ｄデータはしきい値■
）よりも大きくなる。一方、（１））に示すように、プ
リピット部２５やミラー部２６に欠陥がある時には、そ
のプリピット部２５ではＡ、 ／ Ｄデータかしきい値
Ｐよりも大きくなり、ミラー部２６ではＡ、 ／ Ｄデ
ータがしきい値Ｐよりも小さくなることにより、欠陥を
検出することかできる。
すものである。（ａ）に示すように、ウオブリングピッ
ｌ−Ａ、ＢやクロックビットＣからなるプリピット部２
５、及び、ミラー部２６に欠陥がないような場合には、
プリピット部２５におけるＡ／Ｄデータ （ＲＦ倍信号
はしきい値Ｐよりも小さくなり、そのプリピット部２５
以外のミラー部２６におけるＡ／Ｄデータはしきい値■
）よりも大きくなる。一方、（１））に示すように、プ
リピット部２５やミラー部２６に欠陥がある時には、そ
のプリピット部２５ではＡ、 ／ Ｄデータかしきい値
Ｐよりも大きくなり、ミラー部２６ではＡ、 ／ Ｄデ
ータがしきい値Ｐよりも小さくなることにより、欠陥を
検出することかできる。
この第３図のように、プリピット部２５の後方にミラー
部２６が配置されたようなフォーマツＩ・構成では、し
きい値Ｐをもとにミラー部２６における欠陥も検出する
ことかできる。この場合におけるしきい値Ｐは、■セグ
メント前のミラー部２６より求められるものとなり、現
セグメントのミラー部２６より求められるしきい値Ｐは
次のセグメントでの欠陥検出用として利用される。
部２６が配置されたようなフォーマツＩ・構成では、し
きい値Ｐをもとにミラー部２６における欠陥も検出する
ことかできる。この場合におけるしきい値Ｐは、■セグ
メント前のミラー部２６より求められるものとなり、現
セグメントのミラー部２６より求められるしきい値Ｐは
次のセグメントでの欠陥検出用として利用される。
また、第４図は、ミラー部２６がプリピット部２５の前
に配置されているフォーマット構成を示すものであり、
現セグメントのミラー部２６より求めたしきい値Ｐをそ
のまま現セグメントのプリピット部２５やミラー部２６
の欠陥検出用として使用できる場合を示したものである
。この場合にも第３図と同様にして欠陥を検出すること
ができる。
に配置されているフォーマット構成を示すものであり、
現セグメントのミラー部２６より求めたしきい値Ｐをそ
のまま現セグメントのプリピット部２５やミラー部２６
の欠陥検出用として使用できる場合を示したものである
。この場合にも第３図と同様にして欠陥を検出すること
ができる。
上述したように、プリピット部２５やミラー部２６にお
ける欠陥を検出する際に、相対値欠陥検出回路１０によ
り求めた相対値による出力結果と絶対値欠陥検出回路］
１により求めた絶対値による出力結果とを併用させるこ
とによって、プリピット部２５やミラー部２６の欠陥検
出を高精度で確実に行うことができる。
ける欠陥を検出する際に、相対値欠陥検出回路１０によ
り求めた相対値による出力結果と絶対値欠陥検出回路］
１により求めた絶対値による出力結果とを併用させるこ
とによって、プリピット部２５やミラー部２６の欠陥検
出を高精度で確実に行うことができる。
発明の効果
本発明は、光情報記録媒体の表面にプリピット部やミラ
ー部の形成されたプリフォーマット部を備え、サンプル
サーボ方式を用いて前記プリピット部や前記ミラー部を
サンプリングすることによりサンプリング信号を検出し
、このサンプリング信号をもとにフォーカスサーボやト
ラッキングサーボを行う光ピックアップ装置において、
現在サンプリングを行っている現ミラー部でのサンプリ
ング信号を記憶する第一レジスタと現在サンプリングを
行っている一つ前のミラー部でのサンプリング信号を記
憶する第二レジスタとこれら第一レジスタと第二レジス
タとの出力を減算する第一減算器とこの第一減算器の出
力と第一固定値の出力との比較を行う第一比較器とを有
する相対値欠陥検出回路を設け、現ミラー部でのサンプ
リング信号と第二固定値とを比較する第二比較器を有す
る絶対値欠陥検出回路を設け、この絶対値欠陥検出回路
からの出力と前記相対値欠陥検出回路からの出力とに基
づき現ミラー部の欠陥の有無を判定する判定回路を設け
、この判定回路の出力により現ミラー部でのサンプリン
グ信号か前記第二固定値の出力かを選択するセレクタと
このセレクタからの出力と第三固定値との減算を行う第
二減算器とこの第二減算器からの出力と前記サンプリン
グ信号との大小を比較する第三比較器とを有するしきい
個発生欠陥比較回路を設けたので、プリピット部やミラ
ー部の欠陥を検出する際に相対値による検出と絶対値に
よる検出とを併用させることによって、プリピット部や
ミラー部の欠陥検出を高精度で確実に行うことができる
ものである。
ー部の形成されたプリフォーマット部を備え、サンプル
サーボ方式を用いて前記プリピット部や前記ミラー部を
サンプリングすることによりサンプリング信号を検出し
、このサンプリング信号をもとにフォーカスサーボやト
ラッキングサーボを行う光ピックアップ装置において、
現在サンプリングを行っている現ミラー部でのサンプリ
ング信号を記憶する第一レジスタと現在サンプリングを
行っている一つ前のミラー部でのサンプリング信号を記
憶する第二レジスタとこれら第一レジスタと第二レジス
タとの出力を減算する第一減算器とこの第一減算器の出
力と第一固定値の出力との比較を行う第一比較器とを有
する相対値欠陥検出回路を設け、現ミラー部でのサンプ
リング信号と第二固定値とを比較する第二比較器を有す
る絶対値欠陥検出回路を設け、この絶対値欠陥検出回路
からの出力と前記相対値欠陥検出回路からの出力とに基
づき現ミラー部の欠陥の有無を判定する判定回路を設け
、この判定回路の出力により現ミラー部でのサンプリン
グ信号か前記第二固定値の出力かを選択するセレクタと
このセレクタからの出力と第三固定値との減算を行う第
二減算器とこの第二減算器からの出力と前記サンプリン
グ信号との大小を比較する第三比較器とを有するしきい
個発生欠陥比較回路を設けたので、プリピット部やミラ
ー部の欠陥を検出する際に相対値による検出と絶対値に
よる検出とを併用させることによって、プリピット部や
ミラー部の欠陥検出を高精度で確実に行うことができる
ものである。
第１図は本発明の一実施例を示す回路図、第２図はしき
い値の設定例を示す説明図、第３図はビット欠陥の有無
における欠陥検出例を示す説明図、第４図はプリフォー
マット部の変形例を示す説明図、第５図は従来のトラッ
クエラー信号の検出原理を示す説明図、第６図は従来に
おけるビット欠陥検出例を示す説明図である。
い値の設定例を示す説明図、第３図はビット欠陥の有無
における欠陥検出例を示す説明図、第４図はプリフォー
マット部の変形例を示す説明図、第５図は従来のトラッ
クエラー信号の検出原理を示す説明図、第６図は従来に
おけるビット欠陥検出例を示す説明図である。
Claims (1)
- 光情報記録媒体の表面にプリピット部やミラー部の形成
されたプリフオーマット部を備え、サンプルサーボ方式
を用いて前記プリピット部や前記ミラー部をサンプリン
グすることによりサンプリング信号を検出し、このサン
プリング信号をもとにフォーカスサーボやトラッキング
サーボを行う光ピックアップ装置において、現在サンプ
リングを行っている現ミラー部でのサンプリング信号を
記憶する第一レジスタと現在サンプリングを行っている
一つ前のミラー部でのサンプリング信号を記憶する第二
レジスタとこれら第一レジスタと第二レジスタとの出力
を減算する第一減算器とこの第一減算器の出力と第一固
定値の出力との比較を行う第一比較器とを有する相対値
欠陥検出回路を設け、現ミラー部でのサンプリング信号
と第二固定値とを比較する第二比較器を有する絶対値欠
陥検出回路を設け、この絶対値欠陥検出回路からの出力
と前記相対値欠陥検出回路からの出力とに基づき現ミラ
ー部の欠陥の有無を判定する判定回路を設け、この判定
回路の出力により現ミラー部でのサンプリング信号か前
記第二固定値の出力かを選択するセレクタとこのセレク
タからの出力と第三固定値との減算を行う第二減算器と
この第二減算器からの出力と前記サンプリング信号との
大小を比較する第三比較器とを有するしきい値発生欠陥
比較回路を設けたことを特徴とする光ピックアップ装置
の欠陥検出回路。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2176977A JP2813042B2 (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 光ピックアップ装置の欠陥検出回路 |
| US07/721,707 US5195076A (en) | 1990-07-04 | 1991-06-26 | Defect detection circuit for optical pick up device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2176977A JP2813042B2 (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 光ピックアップ装置の欠陥検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0464924A true JPH0464924A (ja) | 1992-02-28 |
| JP2813042B2 JP2813042B2 (ja) | 1998-10-22 |
Family
ID=16023019
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2176977A Expired - Fee Related JP2813042B2 (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 光ピックアップ装置の欠陥検出回路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5195076A (ja) |
| JP (1) | JP2813042B2 (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR0138143B1 (ko) * | 1992-07-14 | 1998-05-15 | 강진구 | 광디스크 재생장치의 재생방법 |
| JP3732650B2 (ja) * | 1998-03-26 | 2006-01-05 | パイオニア株式会社 | プリピット検出装置 |
| US6657929B1 (en) | 1998-06-23 | 2003-12-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical disk recording apparatus and method for recording data on optical disk |
| KR100294106B1 (ko) * | 1998-08-25 | 2001-07-12 | 구자홍 | 복수의빔을이용한광디스크의서보장치및방법 |
| JP3271181B2 (ja) * | 1998-11-09 | 2002-04-02 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | ディスクドライブ装置、ディスクドライブ装置のエラー回復処理方法及びディスクドライブ制御装置 |
| TWI239512B (en) * | 2002-07-24 | 2005-09-11 | Mediatek Inc | ADIP demodulation method and apparatus |
| JP4245436B2 (ja) * | 2003-08-08 | 2009-03-25 | パナソニック株式会社 | ディフェクト検出装置 |
| US7656763B1 (en) * | 2007-06-04 | 2010-02-02 | Western Digital Technologies, Inc. | Calibrating a defect scan parameter for a disk drive |
| US8094396B1 (en) | 2010-02-11 | 2012-01-10 | Western Digital Technologies, Inc. | Media defect scan |
| US8194338B1 (en) | 2010-03-31 | 2012-06-05 | Western Digital Technologies, Inc. | Parallel media defect scan in sector read |
| US8493681B1 (en) | 2010-11-23 | 2013-07-23 | Western Digital Technologies, Inc. | Disk drive generating map of margin rectangles around defects |
| US8964320B1 (en) | 2010-12-09 | 2015-02-24 | Western Digital Technologies, Inc. | Disk drive defect scanning by writing consecutive data tracks and skipping tracks when reading the data tracks |
| US8619529B1 (en) | 2012-03-22 | 2013-12-31 | Western Digital Technologies, Inc. | Methods and devices for enhanced adaptive margining based on channel threshold measure |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4748609A (en) * | 1985-03-29 | 1988-05-31 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for composite tracking servo system with track offset correction and rotary optical disc having at least one correction mark for correcting track offset |
| JPH0782656B2 (ja) * | 1986-07-11 | 1995-09-06 | 株式会社日立製作所 | 光デイスク装置 |
| JP2796285B2 (ja) * | 1986-07-11 | 1998-09-10 | 株式会社日立製作所 | トラッキング方法及びそれを用いた光ディスク装置 |
| JP2523555B2 (ja) * | 1986-12-19 | 1996-08-14 | 株式会社日立製作所 | 光スポットの制御方法及び位置制御装置 |
| JPS63239621A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-05 | Sony Corp | 診断機能付光デイスク記録・再生装置 |
-
1990
- 1990-07-04 JP JP2176977A patent/JP2813042B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-06-26 US US07/721,707 patent/US5195076A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5195076A (en) | 1993-03-16 |
| JP2813042B2 (ja) | 1998-10-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |