JPH07141659A - 光ディスク記録装置 - Google Patents
光ディスク記録装置Info
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- JPH07141659A JPH07141659A JP5307342A JP30734293A JPH07141659A JP H07141659 A JPH07141659 A JP H07141659A JP 5307342 A JP5307342 A JP 5307342A JP 30734293 A JP30734293 A JP 30734293A JP H07141659 A JPH07141659 A JP H07141659A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/0045—Recording
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/005—Reproducing
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ディスク面の傷等によるテスト用ＥＦＭ信号
の再生信号レベルピーク値の誤検出を防止して、アシン
メトリを正確に検出し、最適記録パワーを正確に求め
る。 【構成】 ディスクから再生されたテスト用ＥＦＭ信号
はスライサ４８で２値化され、フレーム同期検出回路で
１１Ｔ‐１１Ｔのパターンの同期信号が検出される。同
期信号検出タイミング予想カウンタ５４は同期信号が検
出された時に、次に同期信号が検出されるタイミングを
予想する。また、同期信号の前半、後半の各１１Ｔ信号
の中央部の信号レベルをサンプル・ホールド回路６０，
６２にサンプル・ホールドする。同期判定回路５６は予
想タイミングに同期信号が検出された時にサンプル・ホ
ールド回路６０，６２の出力をサンプル・ホールド回路
６４，６６に転送し、フィルタ６８，７０で平均化し、
アシンメトリ演算回路７２でアシンメトリを演算し、判
定回路７４で最適記録パワーを求める。
の再生信号レベルピーク値の誤検出を防止して、アシン
メトリを正確に検出し、最適記録パワーを正確に求め
る。 【構成】 ディスクから再生されたテスト用ＥＦＭ信号
はスライサ４８で２値化され、フレーム同期検出回路で
１１Ｔ‐１１Ｔのパターンの同期信号が検出される。同
期信号検出タイミング予想カウンタ５４は同期信号が検
出された時に、次に同期信号が検出されるタイミングを
予想する。また、同期信号の前半、後半の各１１Ｔ信号
の中央部の信号レベルをサンプル・ホールド回路６０，
６２にサンプル・ホールドする。同期判定回路５６は予
想タイミングに同期信号が検出された時にサンプル・ホ
ールド回路６０，６２の出力をサンプル・ホールド回路
６４，６６に転送し、フィルタ６８，７０で平均化し、
アシンメトリ演算回路７２でアシンメトリを演算し、判
定回路７４で最適記録パワーを求める。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、書込可能形光ディス
クにＣＤ（コンパクト・ディスク）フォーマットで情報
を記録するためのディスク記録装置に関し、光ディスク
信号を記録しこれを再生してその再生信号レベルからア
シンメトリを求めて最適記録パワー値を求める場合に、
ディスク面の傷、ごみ、汚れあるいは反射面の欠陥等に
よる再生信号レベルピーク値の誤検出を防止することに
よりアシンメトリを正確に検出して、適正記録パワー値
を正確に求められるようにしたものである。
クにＣＤ（コンパクト・ディスク）フォーマットで情報
を記録するためのディスク記録装置に関し、光ディスク
信号を記録しこれを再生してその再生信号レベルからア
シンメトリを求めて最適記録パワー値を求める場合に、
ディスク面の傷、ごみ、汚れあるいは反射面の欠陥等に
よる再生信号レベルピーク値の誤検出を防止することに
よりアシンメトリを正確に検出して、適正記録パワー値
を正確に求められるようにしたものである。
【０００２】
【従来の技術】ディスクあるいはテープのような記録媒
体に信号を記録する際、実際の信号を記録する前に試し
書きを行い、その後試し書きの部分を再生し信号品位を
調べて、書き込み強度の最適値を得るというキャリブレ
ーションが行われることがある。ＣＤ−Ｗｒｉｔｅ Ｏ
ｎｃｅ（ＣＤ−ＷＯ）規格では、この試し書きエリアを
ＰＣＡ（power Caliblation Area）と呼び、ディスクの
最内周に設けられており、前記の一連の動作をＯＰＣ
（Optimum Power Control ）と呼ぶ。
体に信号を記録する際、実際の信号を記録する前に試し
書きを行い、その後試し書きの部分を再生し信号品位を
調べて、書き込み強度の最適値を得るというキャリブレ
ーションが行われることがある。ＣＤ−Ｗｒｉｔｅ Ｏ
ｎｃｅ（ＣＤ−ＷＯ）規格では、この試し書きエリアを
ＰＣＡ（power Caliblation Area）と呼び、ディスクの
最内周に設けられており、前記の一連の動作をＯＰＣ
（Optimum Power Control ）と呼ぶ。
【０００３】一例としてＯＰＣは以下のように行われ
る。まずＰＣＡにレーザーパワーを数段階あるいは連続
的に変化させてテスト用ＥＦＭ信号の書き込みを行う。
次にその書き込み部分を再生してそのＨＦ信号品位か
ら、最適に書き込みが行われた位置を求め、その位置の
ＥＦＭ信号を記録したレーザーパワーを最適値とする。
再生ＨＦ信号品位のチェックは、ＨＦ信号の非対称性
（アシンメトリ）を検出して行われる。
る。まずＰＣＡにレーザーパワーを数段階あるいは連続
的に変化させてテスト用ＥＦＭ信号の書き込みを行う。
次にその書き込み部分を再生してそのＨＦ信号品位か
ら、最適に書き込みが行われた位置を求め、その位置の
ＥＦＭ信号を記録したレーザーパワーを最適値とする。
再生ＨＦ信号品位のチェックは、ＨＦ信号の非対称性
（アシンメトリ）を検出して行われる。
【０００４】各種記録パワーで記録されたテスト用ＥＦ
Ｍ信号を再生してアシンメトリを求め、さらにこれから
最適記録パワーを求めるための従来の回路構成を図２に
ブロック図で示す。光ディスクには予めテスト用ＥＦＭ
信号が記録パワーを順次変化させて記録されている。こ
のテスト用ＥＦＭ信号の記録箇所に再生用レーザ光を照
射しその反射光を受光する。この受光信号として得られ
るＨＦ信号は、ハイパスフィルタ１０で直流分がカット
される。トップピーク検出回路１２、ボトムピーク検出
回路１４は記録パワーごとにＨＦ信号のトップピーク
（＋側のピーク）Ａｔとボトムピーク（−側のピーク）
Ａｂをアナログ処理により検出する。アシンメトリ演算
回路１６は、β＝（Ａｔ＋Ａｂ）÷（Ａｔ−Ａｂ）から
記録パワーごとのアシンメトリβを演算する。判定回路
１８は、求められたアシンメトリβの中から最適とされ
るアシンメトリ（例えば０．０４）に最も近いアシンメ
トリが得られる記録パワーを選び出し、これを最適記録
パワーとして決定する。この決定された最適記録パワー
値を用いてプログラム領域に実記録を行なうことによ
り、最良の再生信号品位を得ることができる。
Ｍ信号を再生してアシンメトリを求め、さらにこれから
最適記録パワーを求めるための従来の回路構成を図２に
ブロック図で示す。光ディスクには予めテスト用ＥＦＭ
信号が記録パワーを順次変化させて記録されている。こ
のテスト用ＥＦＭ信号の記録箇所に再生用レーザ光を照
射しその反射光を受光する。この受光信号として得られ
るＨＦ信号は、ハイパスフィルタ１０で直流分がカット
される。トップピーク検出回路１２、ボトムピーク検出
回路１４は記録パワーごとにＨＦ信号のトップピーク
（＋側のピーク）Ａｔとボトムピーク（−側のピーク）
Ａｂをアナログ処理により検出する。アシンメトリ演算
回路１６は、β＝（Ａｔ＋Ａｂ）÷（Ａｔ−Ａｂ）から
記録パワーごとのアシンメトリβを演算する。判定回路
１８は、求められたアシンメトリβの中から最適とされ
るアシンメトリ（例えば０．０４）に最も近いアシンメ
トリが得られる記録パワーを選び出し、これを最適記録
パワーとして決定する。この決定された最適記録パワー
値を用いてプログラム領域に実記録を行なうことによ
り、最良の再生信号品位を得ることができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】前記図２の構成におい
ては、通常は同期信号である１１Ｔ‐１１Ｔの信号レベ
ルが最も大きくなり、前半の１１ＴでトップピークＡｔ
が検出され、後半の１１ＴでボトムピークＡｂが検出さ
れるが、ディスク面の傷、ごみ、汚れあるいは反射面の
欠陥等があると、これをピーク値として誤検出すること
があった。このため、アシンメトリが正しく検出され
ず、最適記録パワー値が正しく求められない場合があっ
た。誤検出の影響を少なくするためにトップピーク検出
回路１２、ボトムピーク検出回路１４の後段にフィルタ
を配してピーク検出値を平均化してからアシンメトリ演
算を行なうことも考えられるが、ＰＣＡは領域が狭く、
またアシンメトリ検出の応答時間は速いことが要求され
るため、平均化する期間にも制限があり、誤検出の影響
を完全になくすことはできなかった。
ては、通常は同期信号である１１Ｔ‐１１Ｔの信号レベ
ルが最も大きくなり、前半の１１ＴでトップピークＡｔ
が検出され、後半の１１ＴでボトムピークＡｂが検出さ
れるが、ディスク面の傷、ごみ、汚れあるいは反射面の
欠陥等があると、これをピーク値として誤検出すること
があった。このため、アシンメトリが正しく検出され
ず、最適記録パワー値が正しく求められない場合があっ
た。誤検出の影響を少なくするためにトップピーク検出
回路１２、ボトムピーク検出回路１４の後段にフィルタ
を配してピーク検出値を平均化してからアシンメトリ演
算を行なうことも考えられるが、ＰＣＡは領域が狭く、
またアシンメトリ検出の応答時間は速いことが要求され
るため、平均化する期間にも制限があり、誤検出の影響
を完全になくすことはできなかった。
【０００６】また、ＣＤ−ＷＯディスクの一部のもので
は、１１Ｔのような長いマーク（ピット）記録の場合、
図３のようにその後縁部近くで波形歪が起こることがあ
る。この場合前記図２の回路では、ボトムピーク検出は
図３に示したように波形突端部になるため、アシンメト
リ検出精度の悪化を招くことがあった。
は、１１Ｔのような長いマーク（ピット）記録の場合、
図３のようにその後縁部近くで波形歪が起こることがあ
る。この場合前記図２の回路では、ボトムピーク検出は
図３に示したように波形突端部になるため、アシンメト
リ検出精度の悪化を招くことがあった。
【０００７】この発明は、前記従来の技術における問題
点を解決して、ディスク面の傷、ごみ、汚れあるいは反
射面の欠陥等による再生信号レベルピーク値の誤検出を
防止することにより、アシンメトリを正確に検出して、
適正記録パワー値を正確に求めることができるようにし
た光ディスク記録装置を提供しようとするものである。
点を解決して、ディスク面の傷、ごみ、汚れあるいは反
射面の欠陥等による再生信号レベルピーク値の誤検出を
防止することにより、アシンメトリを正確に検出して、
適正記録パワー値を正確に求めることができるようにし
た光ディスク記録装置を提供しようとするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
書込可能形光ディスクに対しＣＤフォーマットのテスト
用ＥＦＭ信号で変調した記録用レーザ光を照射して当該
テスト用ＥＦＭ信号を記録するテスト信号記録手段と、
前記記録用レーザ光のパワーを任意の値に設定する記録
用レーザパワー設定手段と、前記光ディスクにおける前
記テスト用ＥＦＭ信号の記録部分に再生用レーザ光を照
射してその反射光を受光するテスト信号再生手段と、こ
のテスト信号再生手段の受光信号から１１Ｔ‐１１Ｔの
信号パターンの同期信号を検出する同期信号検出手段
と、この検出された同期信号の前半の１１Ｔの信号のレ
ベル値と後半の１１Ｔの信号のレベル値を検出する信号
レベル検出手段と、この検出された両レベル値からアシ
ンメトリを求めるアシンメトリ演算手段とを具備してな
るものである。
書込可能形光ディスクに対しＣＤフォーマットのテスト
用ＥＦＭ信号で変調した記録用レーザ光を照射して当該
テスト用ＥＦＭ信号を記録するテスト信号記録手段と、
前記記録用レーザ光のパワーを任意の値に設定する記録
用レーザパワー設定手段と、前記光ディスクにおける前
記テスト用ＥＦＭ信号の記録部分に再生用レーザ光を照
射してその反射光を受光するテスト信号再生手段と、こ
のテスト信号再生手段の受光信号から１１Ｔ‐１１Ｔの
信号パターンの同期信号を検出する同期信号検出手段
と、この検出された同期信号の前半の１１Ｔの信号のレ
ベル値と後半の１１Ｔの信号のレベル値を検出する信号
レベル検出手段と、この検出された両レベル値からアシ
ンメトリを求めるアシンメトリ演算手段とを具備してな
るものである。
【０００９】請求項２記載の発明は、前記同期信号が検
出された時に次に同期信号が検出されるタイミングを予
想する同期信号検出タイミング予想手段と、この予想さ
れたタイミングまたはその近傍に次の同期信号が検出さ
れた場合に前回検出された同期信号を真の同期信号と判
定する正同期信号判定手段とをさらに具え、前記アシン
メトリ演算手段はこの真の同期信号について検出される
前半１１Ｔと後半１１Ｔの両レベル値に基づいてアシン
メトリを求めることを特徴とするものである。
出された時に次に同期信号が検出されるタイミングを予
想する同期信号検出タイミング予想手段と、この予想さ
れたタイミングまたはその近傍に次の同期信号が検出さ
れた場合に前回検出された同期信号を真の同期信号と判
定する正同期信号判定手段とをさらに具え、前記アシン
メトリ演算手段はこの真の同期信号について検出される
前半１１Ｔと後半１１Ｔの両レベル値に基づいてアシン
メトリを求めることを特徴とするものである。
【００１０】請求項３記載の発明は、前記信号レベル検
出手段が、検出された同期信号の前半、後半各１１Ｔの
波形における不安定な両端部を除いたタイミングで前記
レベル値を検出することを特徴とするものである。
出手段が、検出された同期信号の前半、後半各１１Ｔの
波形における不安定な両端部を除いたタイミングで前記
レベル値を検出することを特徴とするものである。
【００１１】請求項４記載の発明は、書込可能形光ディ
スクに対しＣＤフォーマットのテスト用ＥＦＭ信号で変
調した記録用レーザ光を照射して当該テスト用ＥＦＭ信
号を記録するテスト信号記録手段と、前記記録用レーザ
光のパワーを順次自動的に変化させる記録用レーザパワ
ー可変手段と、前記光ディスクにおける前記テスト用Ｅ
ＦＭ信号の記録部分に再生用レーザ光を照射してその反
射光を受光するテスト信号再生手段と、このテスト信号
再生手段の受光信号から１１Ｔ‐１１Ｔの信号パターン
の同期信号を前記各記録パワーごとに検出する同期信号
検出手段と、この検出された同期信号の前半の１１Ｔの
信号のレベル値と後半の１１Ｔの信号のレベル値を前記
各記録パワーごとに検出する信号レベル検出手段と、こ
の検出された両レベル値から前記各記録パワーごとにア
シンメトリを求めるアシンメトリ演算手段と、前記各記
録パワー値について求められたアシンメトリから最適ア
シンメトリが得られる記録パワーを求める最適記録パワ
ー演算手段と、前記記録用レーザパワー可変手段のレー
ザパワー値を前記求められた最適記録パワーに自動また
は手動で設定して実記録を行なう実記録制御手段とを具
備してなるものである。
スクに対しＣＤフォーマットのテスト用ＥＦＭ信号で変
調した記録用レーザ光を照射して当該テスト用ＥＦＭ信
号を記録するテスト信号記録手段と、前記記録用レーザ
光のパワーを順次自動的に変化させる記録用レーザパワ
ー可変手段と、前記光ディスクにおける前記テスト用Ｅ
ＦＭ信号の記録部分に再生用レーザ光を照射してその反
射光を受光するテスト信号再生手段と、このテスト信号
再生手段の受光信号から１１Ｔ‐１１Ｔの信号パターン
の同期信号を前記各記録パワーごとに検出する同期信号
検出手段と、この検出された同期信号の前半の１１Ｔの
信号のレベル値と後半の１１Ｔの信号のレベル値を前記
各記録パワーごとに検出する信号レベル検出手段と、こ
の検出された両レベル値から前記各記録パワーごとにア
シンメトリを求めるアシンメトリ演算手段と、前記各記
録パワー値について求められたアシンメトリから最適ア
シンメトリが得られる記録パワーを求める最適記録パワ
ー演算手段と、前記記録用レーザパワー可変手段のレー
ザパワー値を前記求められた最適記録パワーに自動また
は手動で設定して実記録を行なう実記録制御手段とを具
備してなるものである。
【００１２】
【作用】請求項１記載の発明によれば、１１Ｔ‐１１Ｔ
の信号パターンの同期信号を検出して、その前半の１１
Ｔの信号レベル値と後半の１１Ｔの信号レベル値からア
シンメトリを求めるようにしたので、ディスク面の傷、
ごみ、汚れあるいは反射面の欠陥等による再生信号レベ
ルピーク値の誤検出を防止することができ、任意の記録
パワーにおけるアシンメトリを正確に検出することがで
き、最適記録パワー値を正確に求めることができる。
の信号パターンの同期信号を検出して、その前半の１１
Ｔの信号レベル値と後半の１１Ｔの信号レベル値からア
シンメトリを求めるようにしたので、ディスク面の傷、
ごみ、汚れあるいは反射面の欠陥等による再生信号レベ
ルピーク値の誤検出を防止することができ、任意の記録
パワーにおけるアシンメトリを正確に検出することがで
き、最適記録パワー値を正確に求めることができる。
【００１３】請求項２記載の発明によれば、同期信号が
検出された時に次に同期信号が検出されるタイミングを
予想してこの予想されたタイミングまたはその近傍に次
の同期信号が検出された場合に前回検出された同期信号
を真の同期信号と判定してこの真の同期信号に基づいて
１１Ｔ‐１１Ｔの両信号レベル値を検出してアシンメト
リを求めるようにしたので、誤検出による同期信号に基
づくアシンメトリの演算が防止され、アシンメトリの検
出をより高精度化して、最適記録パワー値をより正確に
求めることができる。
検出された時に次に同期信号が検出されるタイミングを
予想してこの予想されたタイミングまたはその近傍に次
の同期信号が検出された場合に前回検出された同期信号
を真の同期信号と判定してこの真の同期信号に基づいて
１１Ｔ‐１１Ｔの両信号レベル値を検出してアシンメト
リを求めるようにしたので、誤検出による同期信号に基
づくアシンメトリの演算が防止され、アシンメトリの検
出をより高精度化して、最適記録パワー値をより正確に
求めることができる。
【００１４】請求項３記載の発明によれば、同期信号波
形の不安定部分を除いた部分でレベル値を検出するよう
にしたので、アシンメトリをより高精度に求めて、最適
記録パワー値をより正確に求めることができる。
形の不安定部分を除いた部分でレベル値を検出するよう
にしたので、アシンメトリをより高精度に求めて、最適
記録パワー値をより正確に求めることができる。
【００１５】請求項４記載の発明によれば、記録パワー
を順次自動的に変化させてテスト用ＥＦＭ信号を記録
し、それを再生して各記録パワーにおけるアシンメトリ
を求め、これにより最適アシンメトリが得られる最適記
録パワーを求めて、この求められた最適記録パワーで実
記録を行なうようにしたので、最適記録パワーを効率よ
くかつ高精度に求めて実記録を行なうことができる。
を順次自動的に変化させてテスト用ＥＦＭ信号を記録
し、それを再生して各記録パワーにおけるアシンメトリ
を求め、これにより最適アシンメトリが得られる最適記
録パワーを求めて、この求められた最適記録パワーで実
記録を行なうようにしたので、最適記録パワーを効率よ
くかつ高精度に求めて実記録を行なうことができる。
【００１６】
【実施例】この発明の一実施例を以下説明する。この実
施例では色素系の追記形ディスクにＣＤ−ＷＯ規格で記
録する場合について示す。図４はこの発明が適用された
光ディスク記録再生装置の全体構成を示すものである。
施例では色素系の追記形ディスクにＣＤ−ＷＯ規格で記
録する場合について示す。図４はこの発明が適用された
光ディスク記録再生装置の全体構成を示すものである。
【００１７】フォーカスサーボおよびトラッキングサー
ボ回路２８は、システムコントローラ２９からの指令に
より、光ヘッド２３内の半導体レーザから出射されるレ
ーザ光２１のフォーカスおよびトラッキングを制御す
る。トラッキング制御はディスク２０に形成されたプリ
グルーブを検出することにより行なわれる。フィードサ
ーボ回路２７はシステムコントローラ２９からの指令に
より、フィードモータ３０を駆動して光ヘッド２３をデ
ィスク２０の径方向に移動させる。
ボ回路２８は、システムコントローラ２９からの指令に
より、光ヘッド２３内の半導体レーザから出射されるレ
ーザ光２１のフォーカスおよびトラッキングを制御す
る。トラッキング制御はディスク２０に形成されたプリ
グルーブを検出することにより行なわれる。フィードサ
ーボ回路２７はシステムコントローラ２９からの指令に
より、フィードモータ３０を駆動して光ヘッド２３をデ
ィスク２０の径方向に移動させる。
【００１８】実記録は次のようにして行われる。光ディ
スク２０に記録すべき入力信号は、記録速度倍率に応じ
た速度でディジタル信号の場合は直接データ信号形成回
路３２に入力され、アナログ信号の場合はＡ／Ｄ変換器
３４を経てデータ信号形成回路３２に入力される。デー
タ信号形成回路３２は、入力データにインタリーブをか
けて、エラーチェックコードを付与し、またＴＯＣおよ
びサブコード生成回路３３で生成されるＴＯＣ情報およ
びサブコード情報等を付与し、ＥＦＭ変調してＣＤ規格
のフォーマットおよび記録速度倍率に応じた転送レート
で一連のシリアルデータを形成し、出力する。
スク２０に記録すべき入力信号は、記録速度倍率に応じ
た速度でディジタル信号の場合は直接データ信号形成回
路３２に入力され、アナログ信号の場合はＡ／Ｄ変換器
３４を経てデータ信号形成回路３２に入力される。デー
タ信号形成回路３２は、入力データにインタリーブをか
けて、エラーチェックコードを付与し、またＴＯＣおよ
びサブコード生成回路３３で生成されるＴＯＣ情報およ
びサブコード情報等を付与し、ＥＦＭ変調してＣＤ規格
のフォーマットおよび記録速度倍率に応じた転送レート
で一連のシリアルデータを形成し、出力する。
【００１９】このデータは、ドライブインターフェイス
２５を介してデータ信号補正回路３６でいわゆる（ｎ−
１）ｓｔｒａｔｅｇｙ等による変調を受けてレーザ発生
回路３５に入力される。レーザ発生回路３５はデータ信
号に応じて光ヘッド２３内の半導体レーザを駆動してレ
ーザ光を光ディスク２０の記録面に照射し、ピットを形
成して記録を行なう。この時のレーザパワー（ピットパ
ワー、ボトムパワー）は予め求められた最適記録パワー
値に指令され、ＡＬＰＣ（Automatic Laser Power Cont
rol ）回路でこの指令されたパワーに高精度に制御され
る。これにより、光ディスク１にはＣＤ規格のフォーマ
ット、転送速度および線速度（１．２〜１．４ｍ／ｓ）
でデータが記録される。
２５を介してデータ信号補正回路３６でいわゆる（ｎ−
１）ｓｔｒａｔｅｇｙ等による変調を受けてレーザ発生
回路３５に入力される。レーザ発生回路３５はデータ信
号に応じて光ヘッド２３内の半導体レーザを駆動してレ
ーザ光を光ディスク２０の記録面に照射し、ピットを形
成して記録を行なう。この時のレーザパワー（ピットパ
ワー、ボトムパワー）は予め求められた最適記録パワー
値に指令され、ＡＬＰＣ（Automatic Laser Power Cont
rol ）回路でこの指令されたパワーに高精度に制御され
る。これにより、光ディスク１にはＣＤ規格のフォーマ
ット、転送速度および線速度（１．２〜１．４ｍ／ｓ）
でデータが記録される。
【００２０】以上のようにして記録した光ディスク２０
に再生用レーザ光を照射して再生すると、読出データは
信号再生処理および最適記録パワー検出回路４０で復調
され、そのままディジタル信号として、またＤ／Ａ変換
器４２でアナログ信号に変換されて出力される。
に再生用レーザ光を照射して再生すると、読出データは
信号再生処理および最適記録パワー検出回路４０で復調
され、そのままディジタル信号として、またＤ／Ａ変換
器４２でアナログ信号に変換されて出力される。
【００２１】最適記録パワーの演算は実記録に先だって
図５のようにして行なわれる。まず、光ヘッド２３を光
ディスク２０のリードイン領域よりもさらに内周側のＰ
ＣＡ領域に位置決めする（Ｓ１）。そして、ＣＤフォー
マットのテスト用ＥＦＭ信号を発生して、これで記録用
レーザ光２１を変調して光ディスク２０に記録（試し書
き）する（Ｓ２）。このとき、システムコントローラ２
９からの指令でレーザ発生回路３５は記録パワーを順次
自動的に変化させて（例えば０．３ｍＷステップで４．
１ｍＷから７．７ｍＷまで１５ステップ変化させ
る。）、同じテスト用ＥＦＭ信号を各記録パワーについ
て繰り返し記録する。１つのステップの記録時間は例え
ば１ＡＴＩＰフレーム（１／７５秒）とし、この間１１
Ｔ‐１１Ｔの同期信号を先頭にして５８８チャンネルビ
ット周期でテスト用ＥＦＭ信号を繰り返し記録する。こ
のとき、どの位置をどのパワーで記録したかはディスク
２０に予め記録されている位置情報（ＡＴＩＰ）を検出
しながら記録することにより判別され、この記録位置と
記録パワーとの関係を対応づけてシステムコントローラ
２９内等のメモリに記憶しておく（Ｓ３）。
図５のようにして行なわれる。まず、光ヘッド２３を光
ディスク２０のリードイン領域よりもさらに内周側のＰ
ＣＡ領域に位置決めする（Ｓ１）。そして、ＣＤフォー
マットのテスト用ＥＦＭ信号を発生して、これで記録用
レーザ光２１を変調して光ディスク２０に記録（試し書
き）する（Ｓ２）。このとき、システムコントローラ２
９からの指令でレーザ発生回路３５は記録パワーを順次
自動的に変化させて（例えば０．３ｍＷステップで４．
１ｍＷから７．７ｍＷまで１５ステップ変化させ
る。）、同じテスト用ＥＦＭ信号を各記録パワーについ
て繰り返し記録する。１つのステップの記録時間は例え
ば１ＡＴＩＰフレーム（１／７５秒）とし、この間１１
Ｔ‐１１Ｔの同期信号を先頭にして５８８チャンネルビ
ット周期でテスト用ＥＦＭ信号を繰り返し記録する。こ
のとき、どの位置をどのパワーで記録したかはディスク
２０に予め記録されている位置情報（ＡＴＩＰ）を検出
しながら記録することにより判別され、この記録位置と
記録パワーとの関係を対応づけてシステムコントローラ
２９内等のメモリに記憶しておく（Ｓ３）。
【００２２】テスト用ＥＦＭ信号の記録が終了したら、
再生モードに切換えて、光ヘッド２３から一定パワーの
再生用レーザ光２１をテスト用ＥＦＭ信号の記録箇所に
照射して再生する（Ｓ４）。そして、信号処理および最
適パワー値演算回路４０は、ＡＴＩＰ情報により検出さ
れる記録位置ごとに（つまり記録パワーごとに）、テス
ト用ＥＦＭ信号の１１Ｔ‐１１Ｔの信号パターンの同期
信号を検出（Ｓ５）し、この同期信号の前半の１１Ｔと
後半の１１Ｔの信号レベル値をサンプリングして記録パ
ワーごとのアシンメトリを求める（Ｓ６）。そして、予
め最適アシンメトリとして定められたアシンメトリに最
も近いアシンメトリが得られる記録パワーを最適記録パ
ワーとして採択する（Ｓ７）。なお、段階的に求められ
たアシンメトリと記録パワーとの関係から最適アシンメ
トリにおける記録パワーを補間により求めて、これを用
いることもできる。決定された最適記録パワーの情報は
システムコントローラ２９に送られて、レーザ発生回路
３５がこの記録パワーに設定されて、実記録が行なわれ
る（Ｓ８）。
再生モードに切換えて、光ヘッド２３から一定パワーの
再生用レーザ光２１をテスト用ＥＦＭ信号の記録箇所に
照射して再生する（Ｓ４）。そして、信号処理および最
適パワー値演算回路４０は、ＡＴＩＰ情報により検出さ
れる記録位置ごとに（つまり記録パワーごとに）、テス
ト用ＥＦＭ信号の１１Ｔ‐１１Ｔの信号パターンの同期
信号を検出（Ｓ５）し、この同期信号の前半の１１Ｔと
後半の１１Ｔの信号レベル値をサンプリングして記録パ
ワーごとのアシンメトリを求める（Ｓ６）。そして、予
め最適アシンメトリとして定められたアシンメトリに最
も近いアシンメトリが得られる記録パワーを最適記録パ
ワーとして採択する（Ｓ７）。なお、段階的に求められ
たアシンメトリと記録パワーとの関係から最適アシンメ
トリにおける記録パワーを補間により求めて、これを用
いることもできる。決定された最適記録パワーの情報は
システムコントローラ２９に送られて、レーザ発生回路
３５がこの記録パワーに設定されて、実記録が行なわれ
る（Ｓ８）。
【００２３】なお、検出されたアシンメトリに基づく最
適記録パワーの決定（Ｓ７）は、光ディスク記録再生装
置内での演算処理によらずに、各記録パワーごとに検出
されたアシンメトリを表示させて、操作者がそれを見て
自らの判断で決定することもできる。また、最適記録パ
ワーの設定（Ｓ８）は、操作者が手動で設定することも
できる。
適記録パワーの決定（Ｓ７）は、光ディスク記録再生装
置内での演算処理によらずに、各記録パワーごとに検出
されたアシンメトリを表示させて、操作者がそれを見て
自らの判断で決定することもできる。また、最適記録パ
ワーの設定（Ｓ８）は、操作者が手動で設定することも
できる。
【００２４】次に、図４の信号処理および最適記録パワ
ー検出回路４０における最適記録パワー検出部分の具体
例を図１に示す。この回路は、再生されたテスト用ＥＦ
Ｍ信号の１１Ｔ‐１１Ｔの同期信号のレベルをサンプリ
ングするタイミング信号を作成するためのサンプリング
タイミング作成ブロック４４とサンプリングされた同期
信号レベルから最適パワー値を求める最適パワー値検出
ブロック４６とで構成されている。各回路について説明
する。 (1） サンプリングタイミング作成ブロック４４ 再生されたテスト用ＥＦＭ信号（ＨＦ信号）はスライサ
４８で“１”，“０”に２値量子化され、クロック再生
回路５０でクロック抽出が行なわれる。フレーム同期検
出回路５２は１１Ｔ‐１１Ｔの同期信号を検出し検出パ
ルスａを出力する。同期信号検出タイミング予想カウン
タ５４はパルスａによりリセットがかけられて再生クロ
ックをカウントし、次に同期信号が予想されるタイミン
グ（５８８カウント目）またはこのタイミングを含みや
や幅を持たせた期間でパルスｂを出力する。また、同カ
ウンタ５４は、パルスｂを出力する以前の同期信号の前
半の１１Ｔと後半の１１Ｔの各中央部分（例えば開始か
ら５〜６Ｔ）のタイミングでその信号レベル値を検出す
るためのサンプリングパルスＴ１，Ｔ２を出力する。同
期判定回路５６は、パルスａ，ｂのタイミングの一致、
不一致を検出し、一致したときに前の同期信号を真の同
期信号と判定して正同期検出信号ＳＹＯＫを出力する。
サンプリングタイミング作成ブロック４４の動作を図６
に示す。なお、以上の構成は、サンプリングパルスＴ
１，Ｔ２を出す以外は再生ＥＦＭ信号を復調するために
従来から備えられていた構成であり、その構成をそのま
ま流用することができる。 (2) 最適パワー値検出ブロック４６ 再生されたテスト用ＥＦＭ信号は、ハイパスフィルタ５
８で直流成分がカットされる。ハイパスフィルタ５８の
カットオフ時定数は、記録パワーを段階的に変化させて
試し書きされたＰＣＡ領域を再生するとき、その１段階
を再生する時間（例えば１／７５秒）より充分短い時定
数でなおかつ再生されたテスト用ＥＦＭ信号に歪を与え
ない程度に設定される。直流カットされたＨＦ信号の信
号レベル値はサンプル・ホールド回路６０，６２におい
て前記サンプリングパルスＴ1 ，Ｔ2 のタイミングでサ
ンプル・ホールドされ、第２のサンプル・ホールド回路
６４，６６へ転送される。第２のサンプル・ホールド回
路６４，６６では正同期検出信号ＳＹＯＫによってサン
プル・ホールドする。これは、フレーム同期が正常すな
わち第２のサンプル・ホールド回路６４，６６に入る信
号が正常な値であるときのみサンプル・ホールドするこ
とを意味している。
ー検出回路４０における最適記録パワー検出部分の具体
例を図１に示す。この回路は、再生されたテスト用ＥＦ
Ｍ信号の１１Ｔ‐１１Ｔの同期信号のレベルをサンプリ
ングするタイミング信号を作成するためのサンプリング
タイミング作成ブロック４４とサンプリングされた同期
信号レベルから最適パワー値を求める最適パワー値検出
ブロック４６とで構成されている。各回路について説明
する。 (1） サンプリングタイミング作成ブロック４４ 再生されたテスト用ＥＦＭ信号（ＨＦ信号）はスライサ
４８で“１”，“０”に２値量子化され、クロック再生
回路５０でクロック抽出が行なわれる。フレーム同期検
出回路５２は１１Ｔ‐１１Ｔの同期信号を検出し検出パ
ルスａを出力する。同期信号検出タイミング予想カウン
タ５４はパルスａによりリセットがかけられて再生クロ
ックをカウントし、次に同期信号が予想されるタイミン
グ（５８８カウント目）またはこのタイミングを含みや
や幅を持たせた期間でパルスｂを出力する。また、同カ
ウンタ５４は、パルスｂを出力する以前の同期信号の前
半の１１Ｔと後半の１１Ｔの各中央部分（例えば開始か
ら５〜６Ｔ）のタイミングでその信号レベル値を検出す
るためのサンプリングパルスＴ１，Ｔ２を出力する。同
期判定回路５６は、パルスａ，ｂのタイミングの一致、
不一致を検出し、一致したときに前の同期信号を真の同
期信号と判定して正同期検出信号ＳＹＯＫを出力する。
サンプリングタイミング作成ブロック４４の動作を図６
に示す。なお、以上の構成は、サンプリングパルスＴ
１，Ｔ２を出す以外は再生ＥＦＭ信号を復調するために
従来から備えられていた構成であり、その構成をそのま
ま流用することができる。 (2) 最適パワー値検出ブロック４６ 再生されたテスト用ＥＦＭ信号は、ハイパスフィルタ５
８で直流成分がカットされる。ハイパスフィルタ５８の
カットオフ時定数は、記録パワーを段階的に変化させて
試し書きされたＰＣＡ領域を再生するとき、その１段階
を再生する時間（例えば１／７５秒）より充分短い時定
数でなおかつ再生されたテスト用ＥＦＭ信号に歪を与え
ない程度に設定される。直流カットされたＨＦ信号の信
号レベル値はサンプル・ホールド回路６０，６２におい
て前記サンプリングパルスＴ1 ，Ｔ2 のタイミングでサ
ンプル・ホールドされ、第２のサンプル・ホールド回路
６４，６６へ転送される。第２のサンプル・ホールド回
路６４，６６では正同期検出信号ＳＹＯＫによってサン
プル・ホールドする。これは、フレーム同期が正常すな
わち第２のサンプル・ホールド回路６４，６６に入る信
号が正常な値であるときのみサンプル・ホールドするこ
とを意味している。
【００２５】第２のサンプル・ホールド回路６４，６６
の出力はフィルタ回路６８，７０に入り、同一記録パワ
ー内で平均した値をＡ１，Ａ２として出力する。これら
Ａ１，Ａ２は同期信号を特定タイミングでサンプルホー
ルドするディジタル処理検出により検出されるため、同
期信号の記録位相の極性により正負が特定されず、正及
び負、または負及び正のいずれかとなる。アシンメトリ
演算回路７２は、β＝（Ａ１＋Ａ２）÷｜Ａ１−Ａ２｜
により記録パワーごとのアシンメトリβを求める。この
演算によれば、Ａ１，Ａ２の極性がいずれであっても、
アシンメトリβは従来どおり正しく検出できる。判定回
路７４は、各記録パワーごとに求められたアシンメトリ
βの中から最適アシンメトリとして規定された値（例え
ばβ＝０．０４）に最も近いアシンメトリが得られる記
録パワーを選び出し、これを最適記録パワーとし決定す
る。
の出力はフィルタ回路６８，７０に入り、同一記録パワ
ー内で平均した値をＡ１，Ａ２として出力する。これら
Ａ１，Ａ２は同期信号を特定タイミングでサンプルホー
ルドするディジタル処理検出により検出されるため、同
期信号の記録位相の極性により正負が特定されず、正及
び負、または負及び正のいずれかとなる。アシンメトリ
演算回路７２は、β＝（Ａ１＋Ａ２）÷｜Ａ１−Ａ２｜
により記録パワーごとのアシンメトリβを求める。この
演算によれば、Ａ１，Ａ２の極性がいずれであっても、
アシンメトリβは従来どおり正しく検出できる。判定回
路７４は、各記録パワーごとに求められたアシンメトリ
βの中から最適アシンメトリとして規定された値（例え
ばβ＝０．０４）に最も近いアシンメトリが得られる記
録パワーを選び出し、これを最適記録パワーとし決定す
る。
【００２６】これによれば、１１Ｔ‐１１Ｔの信号パタ
ーンの同期信号を検出して、その前半の１１Ｔの信号レ
ベル値と後半の１１Ｔの信号レベル値からアシンメトリ
βを求めるようにしたので、ディスク面の傷、ごみ、汚
れあるいは反射面の欠陥等による再生信号レベルピーク
値の誤検出を防止することができる。したがって各記録
パワーにおけるアシンメトリβを正確に検出することが
でき、最適記録パワー値を正確に求めることができる。
また、同期信号が検出された時に次に同期信号が検出さ
れるタイミングを予想してこの予想されたタイミングま
たはその近傍に次の同期信号が検出された場合に前回検
出された同期信号を真の同期信号と判定してこの真の同
期信号に基づいて１１Ｔ‐１１Ｔの両信号レベル値を検
出してアシンメトリβを求めるようにしたので、誤検出
による同期信号に基づくアシンメトリの演算が防止さ
れ、アシンメトリの検出をより高精度化して、最適記録
パワー値をより正確に求めることができる。また、同期
信号波形の不安定部分を除いた各１１Ｔの中央部分でレ
ベル値を検出するようにしたので、アシンメトリをより
高精度に求めて、最適記録パワー値をより正確に求める
ことができる。
ーンの同期信号を検出して、その前半の１１Ｔの信号レ
ベル値と後半の１１Ｔの信号レベル値からアシンメトリ
βを求めるようにしたので、ディスク面の傷、ごみ、汚
れあるいは反射面の欠陥等による再生信号レベルピーク
値の誤検出を防止することができる。したがって各記録
パワーにおけるアシンメトリβを正確に検出することが
でき、最適記録パワー値を正確に求めることができる。
また、同期信号が検出された時に次に同期信号が検出さ
れるタイミングを予想してこの予想されたタイミングま
たはその近傍に次の同期信号が検出された場合に前回検
出された同期信号を真の同期信号と判定してこの真の同
期信号に基づいて１１Ｔ‐１１Ｔの両信号レベル値を検
出してアシンメトリβを求めるようにしたので、誤検出
による同期信号に基づくアシンメトリの演算が防止さ
れ、アシンメトリの検出をより高精度化して、最適記録
パワー値をより正確に求めることができる。また、同期
信号波形の不安定部分を除いた各１１Ｔの中央部分でレ
ベル値を検出するようにしたので、アシンメトリをより
高精度に求めて、最適記録パワー値をより正確に求める
ことができる。
【００２７】図１の最適パワー値検出ブロック４６をデ
ィジタル化したときの回路構成例を図７に示す。正同期
検出信号ＳＹＥＱは、図１の正同期検出信号ＳＹＯＫと
同様に同期信号検出タイミングａと同期信号予想タイミ
ングｂとが一致した時に“１”となるが、次の同期信号
予想タイミングまで“１”を持続する点が異なる（図８
参照）。したがって、正同期検出信号ＳＹＥＱは、同期
信号予想タイミングに同期信号が検出され続けている限
り、“１”を持続し、同期信号予想タイミングに同期信
号が検出されなくなると、次に同期信号予想タイミング
に同期信号が検出されるまでの間“０”を持続する。
ィジタル化したときの回路構成例を図７に示す。正同期
検出信号ＳＹＥＱは、図１の正同期検出信号ＳＹＯＫと
同様に同期信号検出タイミングａと同期信号予想タイミ
ングｂとが一致した時に“１”となるが、次の同期信号
予想タイミングまで“１”を持続する点が異なる（図８
参照）。したがって、正同期検出信号ＳＹＥＱは、同期
信号予想タイミングに同期信号が検出され続けている限
り、“１”を持続し、同期信号予想タイミングに同期信
号が検出されなくなると、次に同期信号予想タイミング
に同期信号が検出されるまでの間“０”を持続する。
【００２８】再生されたＥＦＭ信号（２′ｓコンプリメ
ント符号）は、ハイパスフィルタ５８で直流カットさ
れ、ＡＤ変換器７６に入り量子化される。このＡＤ変換
器７６のサンプリングクロックは、ＥＦＭの再生クロッ
クを用いている。ＡＤ変換器７６でディジタル化された
信号はバイナリコードのため、その極性ビットをインバ
ータ反転して２′ｓコンプリメントに変換された後、前
記サンプリングパルスＴ１，Ｔ２のタイミングでラッチ
回路７８，８０にラッチされ、加算器８２および減算器
８４でそれぞれの和Ａ１＋Ａ２と差Ａ１−Ａ２がとられ
る。この出力が次のアンド回路８６，８８でゲートされ
る。そのゲート信号は、ラッチ回路７８，８０にラッチ
された信号の極性信号（２′ｓコンプリメント符号のＭ
ＳＢ）を排他的論理和回路９０に入力して得られる信号
と、正同期検出信号ＳＹＥＱとをアンド回路９２におい
て論理積を取った信号を信号Ｔ３（正同期が検出された
後または正同期が検出されなかった場合は予想タイミン
グの後のタイミングで出力される信号。図８参照）のタ
イミングでラッチ回路９４にラッチした信号である。こ
れは、アシンメトリを求めるためのデータの選択条件と
して、同期信号が正規のタイミングに得られることに加
え、サンプリングパルスＴ１とＴ２でサンプリングした
データが必ずその極性が正と負あるいは負と正になって
いることを条件にしたものである。これらの条件が揃う
と信号Ｔ３のタイミングでラッチ回路９４に“１”がラ
ッチされ、揃わないと信号Ｔ３のタイミングでラッチ回
路９４に“０”がラッチされる。
ント符号）は、ハイパスフィルタ５８で直流カットさ
れ、ＡＤ変換器７６に入り量子化される。このＡＤ変換
器７６のサンプリングクロックは、ＥＦＭの再生クロッ
クを用いている。ＡＤ変換器７６でディジタル化された
信号はバイナリコードのため、その極性ビットをインバ
ータ反転して２′ｓコンプリメントに変換された後、前
記サンプリングパルスＴ１，Ｔ２のタイミングでラッチ
回路７８，８０にラッチされ、加算器８２および減算器
８４でそれぞれの和Ａ１＋Ａ２と差Ａ１−Ａ２がとられ
る。この出力が次のアンド回路８６，８８でゲートされ
る。そのゲート信号は、ラッチ回路７８，８０にラッチ
された信号の極性信号（２′ｓコンプリメント符号のＭ
ＳＢ）を排他的論理和回路９０に入力して得られる信号
と、正同期検出信号ＳＹＥＱとをアンド回路９２におい
て論理積を取った信号を信号Ｔ３（正同期が検出された
後または正同期が検出されなかった場合は予想タイミン
グの後のタイミングで出力される信号。図８参照）のタ
イミングでラッチ回路９４にラッチした信号である。こ
れは、アシンメトリを求めるためのデータの選択条件と
して、同期信号が正規のタイミングに得られることに加
え、サンプリングパルスＴ１とＴ２でサンプリングした
データが必ずその極性が正と負あるいは負と正になって
いることを条件にしたものである。これらの条件が揃う
と信号Ｔ３のタイミングでラッチ回路９４に“１”がラ
ッチされ、揃わないと信号Ｔ３のタイミングでラッチ回
路９４に“０”がラッチされる。
【００２９】アンド回路８６でゲートされた信号差信号
Ａ１−Ａ２は、絶対値回路９６で絶対値がとられた後積
算器１００に入力される。一方、アンド回路８６でゲー
トされた和信号Ａ１＋Ａ２はそのまま積算器９８に入力
される。積算器６８，７０は、図１のフィルタ６８，７
０に相当するものである。積算器６８は、加算器１０２
においてアンド回路８６の出力とラッチ回路１０４の出
力を加算したデータを信号Ｔ４（信号Ｔ３の後のタイミ
ングで出力される信号。図８参照）のタイミングでラッ
チ回路１０４にラッチすることにより、和信号Ａ１＋Ａ
２を順次積算（平均化）していく。また、積算器７０
は、加算器１０６において絶対値回路９６の出力とラッ
チ回路１０８の出力を加算したデータを信号Ｔ４のタイ
ミングでラッチ回路１０８にラッチすることにより、差
信号の絶対値｜Ａ１−Ａ２｜を順次積算（平均化）して
いく。
Ａ１−Ａ２は、絶対値回路９６で絶対値がとられた後積
算器１００に入力される。一方、アンド回路８６でゲー
トされた和信号Ａ１＋Ａ２はそのまま積算器９８に入力
される。積算器６８，７０は、図１のフィルタ６８，７
０に相当するものである。積算器６８は、加算器１０２
においてアンド回路８６の出力とラッチ回路１０４の出
力を加算したデータを信号Ｔ４（信号Ｔ３の後のタイミ
ングで出力される信号。図８参照）のタイミングでラッ
チ回路１０４にラッチすることにより、和信号Ａ１＋Ａ
２を順次積算（平均化）していく。また、積算器７０
は、加算器１０６において絶対値回路９６の出力とラッ
チ回路１０８の出力を加算したデータを信号Ｔ４のタイ
ミングでラッチ回路１０８にラッチすることにより、差
信号の絶対値｜Ａ１−Ａ２｜を順次積算（平均化）して
いく。
【００３０】カウンタ１１０は積算回数をカウントする
もので、ラッチ回路９４の出力でイネーブルされて信号
Ｔ４のタイミングでカウントされる。積算の途中で前記
データの選択条件が揃わなくなると、ラッチ回路９４に
は信号Ｔ３のタイミングで“０”がラッチされるので、
アンド回路８６，８８の出力は０となり、積算器６８，
７０の積算値は変化しない。また、カウンタ１１０の値
も変化しない。したがって、積算器９８，１００からは
前記データの選択条件が揃った時の和Ａ１＋Ａ２と差の
絶対値｜Ａ１＋Ａ２｜の積算値Ｂ，Ｃが出力され、カウ
ンタ１１０からは、実際に積算した回数を示すデータＤ
が出力される。なお、積算器９８，１００、カウンタ１
１０のクリア信号ＣＬＡは、１ＡＴＩＰフレームの最後
のＥＦＭフレームのデータ積算が終了しその積算値を次
段にロードした後、出力される。データＢ，Ｃ，Ｄはマ
イクロプロセッサなどに送られて、同一記録パワー値に
ついて積算回数Ｄが所定値に達した時のデータＢ，Ｃか
らＢ÷Ｃの演算を行なってその記録パワーにおけるアシ
ンメトリが算出される。そして、これを各記録パワーに
ついて行ない、最適アシンメトリに最も近いアシンメト
リが得られる記録パワーを最適記録パワーとして採択す
る。
もので、ラッチ回路９４の出力でイネーブルされて信号
Ｔ４のタイミングでカウントされる。積算の途中で前記
データの選択条件が揃わなくなると、ラッチ回路９４に
は信号Ｔ３のタイミングで“０”がラッチされるので、
アンド回路８６，８８の出力は０となり、積算器６８，
７０の積算値は変化しない。また、カウンタ１１０の値
も変化しない。したがって、積算器９８，１００からは
前記データの選択条件が揃った時の和Ａ１＋Ａ２と差の
絶対値｜Ａ１＋Ａ２｜の積算値Ｂ，Ｃが出力され、カウ
ンタ１１０からは、実際に積算した回数を示すデータＤ
が出力される。なお、積算器９８，１００、カウンタ１
１０のクリア信号ＣＬＡは、１ＡＴＩＰフレームの最後
のＥＦＭフレームのデータ積算が終了しその積算値を次
段にロードした後、出力される。データＢ，Ｃ，Ｄはマ
イクロプロセッサなどに送られて、同一記録パワー値に
ついて積算回数Ｄが所定値に達した時のデータＢ，Ｃか
らＢ÷Ｃの演算を行なってその記録パワーにおけるアシ
ンメトリが算出される。そして、これを各記録パワーに
ついて行ない、最適アシンメトリに最も近いアシンメト
リが得られる記録パワーを最適記録パワーとして採択す
る。
【００３１】
【変更例】上記実施例ではＣＤ−ＷＯ規格の光ディスク
記録再生装置について説明したが、この発明は、再生信
号のアシンメトリを用いて記録パワーを制御するような
ものであれば種々の規格の光ディスクの記録再生に適用
できる。例えばＣＤ−ＭＯ規格の光磁気ディスクについ
ても光変調記録を行なうものであれば、アシンメトリ制
御が可能であるのでこの発明を適用可能である。
記録再生装置について説明したが、この発明は、再生信
号のアシンメトリを用いて記録パワーを制御するような
ものであれば種々の規格の光ディスクの記録再生に適用
できる。例えばＣＤ−ＭＯ規格の光磁気ディスクについ
ても光変調記録を行なうものであれば、アシンメトリ制
御が可能であるのでこの発明を適用可能である。
【００３２】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１記載の発
明によれば、１１Ｔ‐１１Ｔの信号パターンの同期信号
を検出して、その前半の１１Ｔの信号レベル値と後半の
１１Ｔの信号レベル値からアシンメトリを求めるように
したので、ディスク面の傷、ごみ、汚れあるいは反射面
の欠陥等による再生信号レベルピーク値の誤検出を防止
することができ、任意の記録パワーにおけるアシンメト
リを正確に検出することができ、最適記録パワー値を正
確に求めることができる。
明によれば、１１Ｔ‐１１Ｔの信号パターンの同期信号
を検出して、その前半の１１Ｔの信号レベル値と後半の
１１Ｔの信号レベル値からアシンメトリを求めるように
したので、ディスク面の傷、ごみ、汚れあるいは反射面
の欠陥等による再生信号レベルピーク値の誤検出を防止
することができ、任意の記録パワーにおけるアシンメト
リを正確に検出することができ、最適記録パワー値を正
確に求めることができる。
【００３３】請求項２記載の発明によれば、同期信号が
検出された時に次に同期信号が検出されるタイミングを
予想してこの予想されたタイミングまたはその近傍に次
の同期信号が検出された場合に前回検出された同期信号
を真の同期信号と判定してこの真の同期信号に基づいて
１１Ｔ‐１１Ｔの両信号レベル値を検出してアシンメト
リを求めるようにしたので、誤検出による同期信号に基
づくアシンメトリの演算が防止され、アシンメトリの検
出をより高精度化して、最適記録パワー値をより正確に
求めることができる。
検出された時に次に同期信号が検出されるタイミングを
予想してこの予想されたタイミングまたはその近傍に次
の同期信号が検出された場合に前回検出された同期信号
を真の同期信号と判定してこの真の同期信号に基づいて
１１Ｔ‐１１Ｔの両信号レベル値を検出してアシンメト
リを求めるようにしたので、誤検出による同期信号に基
づくアシンメトリの演算が防止され、アシンメトリの検
出をより高精度化して、最適記録パワー値をより正確に
求めることができる。
【００３４】請求項３記載の発明によれば、同期信号波
形の不安定部分を除いた部分でレベル値を検出するよう
にしたので、アシンメトリをより高精度に求めて、最適
記録パワー値をより正確に求めることができる。
形の不安定部分を除いた部分でレベル値を検出するよう
にしたので、アシンメトリをより高精度に求めて、最適
記録パワー値をより正確に求めることができる。
【００３５】請求項４記載の発明によれば、記録パワー
を順次自動的に変化させてテスト用ＥＦＭ信号を記録
し、それを再生して各記録パワーにおけるアシンメトリ
を求め、これにより最適アシンメトリが得られる最適記
録パワーを求めて、この求められた最適記録パワーで実
記録を行なうようにしたので、最適記録パワーを効率よ
くかつ高精度に求めて実記録を行なうことができる。
を順次自動的に変化させてテスト用ＥＦＭ信号を記録
し、それを再生して各記録パワーにおけるアシンメトリ
を求め、これにより最適アシンメトリが得られる最適記
録パワーを求めて、この求められた最適記録パワーで実
記録を行なうようにしたので、最適記録パワーを効率よ
くかつ高精度に求めて実記録を行なうことができる。
【図１】 この発明の一実施例を示す図で、図４の信号
処理および最適記録パワー検出回路３０における最適記
録パワー検出部分の具体例を示すブロック図である。
処理および最適記録パワー検出回路３０における最適記
録パワー検出部分の具体例を示すブロック図である。
【図２】 最適記録パワーを求めるための従来の構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図３】 １１Ｔのピットを再生した時のピット後縁部
での波形の否を示す波形図である。
での波形の否を示す波形図である。
【図４】 この発明が適用されたディスク記録再生装置
の全体構成を示すブロック図である。
の全体構成を示すブロック図である。
【図５】 図４の装置において最適記録パワーを求める
手順を示すフローチャートである。
手順を示すフローチャートである。
【図６】 図４の各部における信号のタイミングを示す
タイムチャートである。
タイムチャートである。
【図７】 図１における最適パワー値検出ブロック４６
をディジタル化したときの回路構成例を示す回路図であ
る。
をディジタル化したときの回路構成例を示す回路図であ
る。
【図８】 図７の各部における信号のタイミングを示す
タイムチャートである。
タイムチャートである。
２０ 光ディスク ２１ 記録用レーザ光、再生用レーザ光 ２３ 光ヘッド（テスト信号記録手段、テスト信号再生
手段） ２９ システムコントローラ（テスト信号記録手段、テ
スト信号再生手段、記録用レーザパワー設定手段、記録
用レーザパワー可変手段、実記録制御手段） ３５ レーザ発生回路（記録用レーザパワー設定手段、
記録用レーザパワー可変手段） ５２ フレーム同期検出回路（同期信号検出手段） ５４ 同期信号検出タイミング予想カウンタ（同期信号
検出タイミング予想手段） ５６ 同期判定回路（正同期信号判定手段） ６０，６２ サンプル・ホールド回路（信号レベル検出
手段） ７２ アシンメトリ演算回路（アシンメトリ演算手段） ７４ 判定回路（最適記録パワー演算手段）
手段） ２９ システムコントローラ（テスト信号記録手段、テ
スト信号再生手段、記録用レーザパワー設定手段、記録
用レーザパワー可変手段、実記録制御手段） ３５ レーザ発生回路（記録用レーザパワー設定手段、
記録用レーザパワー可変手段） ５２ フレーム同期検出回路（同期信号検出手段） ５４ 同期信号検出タイミング予想カウンタ（同期信号
検出タイミング予想手段） ５６ 同期判定回路（正同期信号判定手段） ６０，６２ サンプル・ホールド回路（信号レベル検出
手段） ７２ アシンメトリ演算回路（アシンメトリ演算手段） ７４ 判定回路（最適記録パワー演算手段）
Claims (4)
- 【請求項１】書込可能形光ディスクに対しＣＤフォーマ
ットのテスト用ＥＦＭ信号で変調した記録用レーザ光を
照射して当該テスト用ＥＦＭ信号を記録するテスト信号
記録手段と、 前記記録用レーザ光のパワーを任意の値に設定する記録
用レーザパワー設定手段と、 前記光ディスクにおける前記テスト用ＥＦＭ信号の記録
部分に再生用レーザ光を照射してその反射光を受光する
テスト信号再生手段と、 このテスト信号再生手段の受光信号から１１Ｔ‐１１Ｔ
の信号パターンの同期信号を検出する同期信号検出手段
と、 この検出された同期信号の前半の１１Ｔの信号のレベル
値と後半の１１Ｔの信号のレベル値を検出する信号レベ
ル検出手段と、 この検出された両レベル値からアシンメトリを求めるア
シンメトリ演算手段とを具備してなる光ディスク記録装
置。 - 【請求項２】前記同期信号が検出された時に次に同期信
号が検出されるタイミングを予想する同期信号検出タイ
ミング予想手段と、 この予想されたタイミングまたはその近傍に次の同期信
号が検出された場合に前回検出された同期信号を真の同
期信号と判定する正同期信号判定手段とをさらに具え、 前記アシンメトリ演算手段はこの真の同期信号について
検出される前半１１Ｔと後半１１Ｔの両レベル値に基づ
いてアシンメトリを求めることを特徴とする請求項１記
載の光ディスク記録装置。 - 【請求項３】前記信号レベル検出手段が、検出された同
期信号の前半、後半各１１Ｔの波形における不安定な両
端部を除いたタイミングで前記レベル値を検出すること
を特徴とする請求項１または２記載の光ディスク記録装
置。 - 【請求項４】書込可能形光ディスクに対しＣＤフォーマ
ットのテスト用ＥＦＭ信号で変調した記録用レーザ光を
照射して当該テスト用ＥＦＭ信号を記録するテスト信号
記録手段と、 前記記録用レーザ光のパワーを順次自動的に変化させる
記録用レーザパワー可変手段と、 前記光ディスクにおける前記テスト用ＥＦＭ信号の記録
部分に再生用レーザ光を照射してその反射光を受光する
テスト信号再生手段と、 このテスト信号再生手段の受光信号から１１Ｔ‐１１Ｔ
の信号パターンの同期信号を前記各記録パワーごとに検
出する同期信号検出手段と、 この検出された同期信号の前半の１１Ｔの信号のレベル
値と後半の１１Ｔの信号のレベル値を前記各記録パワー
ごとに検出する信号レベル検出手段と、 この検出された両レベル値から前記各記録パワーごとに
アシンメトリを求めるアシンメトリ演算手段と、 前記各記録パワー値について求められたアシンメトリか
ら最適アシンメトリが得られる記録パワーを求める最適
記録パワー演算手段と、 前記記録用レーザパワー可変手段のレーザパワー値を前
記求められた最適記録パワーに自動または手動で設定し
て実記録を行なう実記録制御手段とを具備してなる光デ
ィスク記録装置。
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|---|---|---|---|
| JP5307342A JP2827855B2 (ja) | 1993-11-12 | 1993-11-12 | 光ディスク記録装置 |
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|---|---|---|---|
| JP5307342A JP2827855B2 (ja) | 1993-11-12 | 1993-11-12 | 光ディスク記録装置 |
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|---|---|
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| JP2827855B2 JP2827855B2 (ja) | 1998-11-25 |
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Family Applications (1)
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