JP4561699B2

JP4561699B2 - 記録再生装置

Info

Publication number: JP4561699B2
Application number: JP2006175482A
Authority: JP
Inventors: 佑揮藤原
Original assignee: Victor Company of Japan Ltd
Current assignee: Victor Company of Japan Ltd
Priority date: 2006-06-26
Filing date: 2006-06-26
Publication date: 2010-10-13
Anticipated expiration: 2026-06-26
Also published as: JP2008004235A

Description

本発明は記録再生装置に係り、特に書き換え可能な光ディスク規格ＢＤ（Blu-ray）−ＲＥや、追記型光ディスク規格ＢＤ−Ｒなどで定められた記録可能な光ディスクのテスト領域に複数種類のライトストラテジを順次切り替えながら記録を行い、評価データを用いて最適なライトストラテジを決定する記録再生装置に関する。

ＢＤ−Ｒ規格及びＢＤ−ＲＥ規格では、光ディスクに実際に信号を記録する際に記録性能を上げるための１つの方法として、熱記録であることを考慮したライトストラテジと呼ばれる記録レーザ出力のマルチパルス変調を規定している。図８にＢＤ−ＲＥ規格の基本的なライトストラテジを示す。同図（Ａ）は、光ディスク上の記録部分の一部の上面図を示しており、１つの記録マーク１に対して、トラック走査方向の前後にスペース２ａ、２ｂが存在する。

このような１つの記録マーク１を光ディスクに記録するために、ＢＤ−ＲＥ規格では、図８（Ｂ）に示すように、記録用レーザー光を出射するレーザーダイオードを駆動するレーザーパルスを、幅Ｔｔｏｐのトップパルスと、幅Ｔｍｐの中間パルスとに分割し、レーザパワーのレベルとしては、３値制御（ピーク、イレース、バイアス）を採用している。なお、図８（Ｂ）において、幅ｄＴｅは、冷却パルスの終端位置のシフト量を示す。また、トップパルスの開始位置のシフト量も設定されることがある。なお、図８（Ｂ）はマーク長４Ｔの記録マークを形成する場合の例である。以上の手法により前後の記録マーク間での熱干渉や記録マーク後端部での熱蓄積が緩和され、良好な記録再生ＲＦ信号を得ることが可能となる。

また、このＢＤ−Ｒ規格及びＢＤ−ＲＥ規格では、薄型光透過保護層（厚さ０.１ｍｍ）、短波長（４０５ｎｍ）の光源、高開口数（ＮＡ＝０.８５）の対物レンズ、高効率符号化変調１−７ｐｐ（２Ｔ系）等の採用によって、ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）の約５倍の記録密度を実現しているため、ＤＶＤに比較してライトストラテジに敏感である。更に、高倍速記録への対応も要求され、ライトストラテジのパルス幅も微細化の傾向にある。

よって、記録性能を向上させるためには、最適なライトストラテジを見つけ出す必要がある。そのため、ＢＤ−Ｒ規格及びＢＤ−ＲＥ規格の光ディスクでは、ディスクの所定領域にライトストラテジ推奨値が記録されているが、最適なライトストラテジは、ドライブとの相性やオーバーライト数、半径位置などに左右されるため、推奨値を用いることで十分な記録性能を得ることができるとは限らない。

このようにライトストラテジは、光ディスク毎に、ホストコンピュータから受信したデータを記録する前に最適化されて用いる必要があるが、市場に投入されている光ディスクだけでなく、将来的に発売される光ディスクにも対応しなければならないので、ドライブメーカーが全ての光ディスクを把握し、予め適切なライトストラテジを用意しておくことは不可能である。

このような問題に対して、光ディスクの予め定められたテスト領域において、複数種類のライトストラテジを順次切り替えながら記録し、ジッタが最小となるライトストラテジを選択する方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。

特開２０００−１８２２４４号公報

しかしながら、特許文献１の記録再生方法では、設定可能な全てのライトストラテジの組み合わせを光ディスクのテスト領域に試し書きした後再生して、ジッタを検出しなければならない。このようなライトストラテジの最適化は、ドライブの起動時や実際に記録する直前に行うため、短時間で最適化することが必要なので、膨大なライトストラテジの組み合わせ全てに対して試し書きし、さらにジッタを検出することは極めて困難である。

また、ジッタは検出誤差や光ディスク上の欠陥であるディフェクトによる影響を受ける可能性があるため、ジッタの差がそのままライトストラテジの記録性能の差にならず、検出したジッタが最小となるライトストラテジが最適であるとは限らない。

本発明は以上の点に鑑みなされたもので、設定可能な全てのライトストラテジの組み合わせのうち一部のライトストラテジに対する評価データから、最小二乗法の２次近似を用いることで、測定誤差を取り除き、さらに試し書きを行わなかったライトストラテジに対する評価データを予測することで、短時間にかつ正確に最適なライトストラテジを選択し得る記録再生装置を提供することを目的とする。

上記の目的を達成するため、本発明は、消去パワーから消去パワーより大なるピークパワーへ立ち上がるトップパルスと、消去パワーより小なるバイアスパワーとピークパワーとの間で形成される中間パルスと、バイアスパワーから消去パワーへ立ち上がる冷却パルスとよりなる記録パルスパターンに応じて、光ディスクにレーザ光を照射して所望の長さのマークを形成する記録手段と、トップパルスのパルス幅Ｔtopと中間パルスのパルス幅Ｔmpと冷却パルスの立ち上がりが１Ｔ期間の周期に対して遅れる量を示すシフト量ｄＴｅとを一組のライトストラテジとした複数組のライトストラテジのうち、複数組のライトストラテジより少ない組数となる第１の組のライトストラテジを用いて光ディスクの予め定められたテスト領域に各ライトストラテジに応じたテスト信号を試し書きするテスト信号記録手段と、光ディスクのテスト領域から再生したテスト信号に基づいて、第１の組のライトストラテジの記録性能をそれぞれ評価するジッタを検出する評価データ検出手段と、評価データ検出手段が検出した第１の組のライトストラテジのジッタに基づいて、複数組のライトストラテジから第１の組のライトストラテジを除いた第２の組のライトストラテジのジッタを最小二乗法の２次近似を用いて算出する近似評価データ算出手段と、評価データ検出手段と近似評価データ算出手段とが検出又は算出した複数組のライトストラテジのジッタのうち、ジッタが最良であるライトストラテジを最適ライトストラテジとして決定する最適ライトストラテジ決定手段と、を備え、記録手段は、最適ライトストラテジに基づいて、光ディスクにレーザ光を照射して情報を記録することを特徴とする。

高密度化や高速度化によるライトストラテジの微細化により、最適化しなければいけないライトストラテジのパラメータが増大し、設定可能なライトストラテジの組み合わせが膨大になっているが、この発明では、設定可能な全てのライトストラテジよりも少ない予め定めた複数種類のライトストラテジに対応した複数種類のテスト信号を、所定の記録単位で順次切り替えながら光ディスクのテスト領域に記録再生して複数種類の評価データを検出し、この検出した複数種類の評価データから最小二乗法の２次近似を用いて、予め定めた複数種類のライトストラテジを除いた残りのライトストラテジに対する評価データの近似値を算出するようにしたため、設定可能な全てのライトストラテジのテスト信号を記録再生することなく、予め定めた複数種類のライトストラテジに対する検出評価データから設定可能な全てのライトストラテジに対する評価データの近似値を計算により得ることができる。

また、上記の目的を達成するため、本発明は、第１の組のライトストラテジは、光ディスクの所定領域に記録されているライトストラテジ推奨値と、そのライトストラテジ推奨値を構成する複数のパラメータのそれぞれに対して設定した最小単位のｍ倍（ｍは絶対値が２以上の正又は負の整数）異なる値のパラメータで構成された複数のライトストラテジとからなることを特徴とする。

本発明によれば、設定可能な全てのライトストラテジのテスト信号を記録し再生することなく、予め定めた複数種類のライトストラテジのテスト信号だけを試し書きし再生して、それらのライトストラテジに対する検出評価データから設定可能な全てのライトストラテジに対する評価データの近似値を計算により得るようにしたため、それらの評価データの中から最適な評価データが得られる最適なライトストラテジを短時間で選択することができる。

また、本発明によれば、近似値を算出する際に際に最小二乗法の２次近似を用いることで測定誤差を最小限に止めることが可能となり、正確に最適なライトストラテジを選択することができる。

更に、本発明によれば、複数種類の評価データを比較することで記録性能が良いライトストラテジを最終的に選択するようにしたため、ディフェクトの影響などにより、各ライトストラテジに対する評価データを正確に検出できずに、最適なライトストラテジを選択することができなかった場合でも、記録が破綻することを防ぐことができる。

次に、本発明の実施の形態について図面と共に説明する。図１は本発明になる記録再生装置の一実施の形態のブロック図を示す。同図において、ＢＤ−Ｒ規格又はＢＤ−ＲＥ規格の光ディスク１０は、スピンドルモータ１１により等線速度（ＣＬＶ）あるいは等角速度（ＣＡＶ）で回転される。光ディスク１０に離間対向してピックアップ１２が設けられ、ピックアップ１２から設定されているライトストラテジのレーザ光を射出して光ディスク１０に集光することにより、光ディスク１０にデータを記録することができる。

すなわち、データを記録する場合、記録データはエンコーダ１６で所定フォーマットにエンコードされた後、レーザ駆動部１３に供給される。レーザ駆動部１３は、エンコードされた記録データに基づき駆動信号を生成し、ピックアップ１２内の半導体レーザを、その半導体レーザから射出されるレーザ光の強度が記録データで変調されるように駆動して、レーザ光を光ディスク１０上に焦点一致して照射させることにより、データを記録する。レーザ駆動部１３におけるライトストラテジは制御部１５からの制御信号により決定される。

一方、再生時は、ピックアップ１２から再生条件のレーザ光を射出して光ディスク１０に集光し、これにより光ディスク１０から反射される反射光をピックアップ１２内の検出光学系で受光して光電変換することにより、光ディスク１０の記録データを読み取ることができる。ピックアップ１２内の検出光学系から出力された再生ＲＦ信号は、ＲＦ信号処理部１４に供給される。ＲＦ信号処理部１４は再生ＲＦ信号に対して所定の信号処理を行って得たベースバンド帯の信号をデコーダ１７に供給する。デコーダ１７は、入力信号をデコードし再生データとして出力する。

制御部１５は、データの再生信号品質に基づき最適なライトストラテジを決定する。すなわち、ＲＦ信号処理部１４からの再生ＲＦ信号の評価データを検出し、評価データを用いて最適な記録条件を決定する。

図２は制御部１５の一実施の形態のブロック図を示す。図２に示すように、制御部１５は、評価データ検出部１５１、ライトストラテジメモリ部１５２、評価データメモリ部１５３、近似評価データ算出部１５４、及び最適ライトストラテジ決定部１５５から構成される。

評価データ検出部１５１は、入力された再生ＲＦ信号から評価データを検出する。ライトストラテジメモリ部１５２は、予め定められたテスト領域に試し書きする複数種類のライトストラテジを保持する。評価データメモリ部１５３は、試し書きした複数種類のライトストラテジに対する評価データを保持する。

近似評価データ算出部１５４は、入力された評価データから最小二乗法により近似式を算出し、設定可能な全てのライトストラテジに対する評価データの近似値を算出する。最適ライトストラテジ決定部１５５は、入力された評価データの近似値のうち記録性が最良である評価データに対するライトストラテジを最適とする。

次に、本実施の形態の動作原理を、図を用いて説明する。ここでは、図８（Ｂ）に示した３種類のパルス幅を決定するパラメータＴｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅの組み合わせによるライトストラテジのうちジッタが最小となる最適なライトストラテジを選択する例について図３〜図６を用いて説明する。

ただし、ここでは以下の条件で最適なライトストラテジを選択する。

（１）Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅの設定最小単位を０.０４Ｔ（ただし、Ｔはチャネルクロックの周期；以下同じ）とする。

（２）Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅの基準値（Ｔｔｏｐ＿ｓｔｄ、Ｔｍｐ＿ｓｔｄ、ｄＴｅ＿ｓｔｄ）を光ディスクの所定領域に記録されているライトストラテジ推奨値から算出する。

（３）最適なＴｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄｔｅの設定値は、基準値±０.０８Ｔ内から選択する。

まず、光ディスク１０の所定領域に記録されている記録パワー推奨値を基に、制御部１５はＯＰＣ（Optimum Power Control）と呼ばれる試し書きにより最適記録パワーを算出し、設定する（図３のステップＳ１０１）。ここでは、公知のＢＤ−Ｒ規格又はＢＤ−ＲＥ規格で定められた変調度又はアシンメトリを用いたＯＰＣを行い、記録パワー（前述したピーク、イレース、バイアスの各パワー）を最適にする。このように、ライトストラテジ最適化の前にＯＰＣにより記録パワーの最適化を行うことで、より良い記録性能を得ることができる。

続いて、制御部１５はレーザ駆動部１３を制御して、ライトストラテジメモリ部１５２に記憶されている、以下に示すＴｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅの組み合わせで表わせる全２７通りのライトストラテジを設定し、光ディスク１０の予め定められたテスト領域に、ステップＳ１０１で設定した最適記録パワーで、２７通りのライトストラテジの各テスト信号を所定期間ずつ切り替えながら順次試し書きする（図３のステップＳ１０２）。

Ｔｔｏｐ＝Ｔｔｏｐ＿ｓｔｄ＋（−0.08Ｔ，0.00Ｔ，0.08Ｔ）
Ｔｍｐ＝Ｔｍｐ＿ｓｔｄ＋（−0.08Ｔ，0.00Ｔ，0.08Ｔ）
ｄＴｅ＝ｄＴｅ＿ｓｔｄ＋（−0.08Ｔ，0.00Ｔ，0.08Ｔ）
なお、上式のTtop_std、Tmp_std、dTe_stdは光ディスク１０の所定領域に記録されている図８（Ｂ）に示したＴｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅの推奨値である。Ttop_stdが例えば0.50Ｔのときには、Ｔｔｏｐは、上式から0.42Ｔ、0.50Ｔ、0.58Ｔの３通りとなる。他のＴｍｐ、ｄＴｅも上記と同様であり、Tmp_stdが例えば0.40Ｔであるときは、Ｔｍｐは0.32Ｔ、0.40Ｔ、0.48Ｔの３通りあり、dTe_stdが例えば0.10Ｔであるときは、ｄＴｅは0.02Ｔ、0.10Ｔ、0.18Ｔの３通りある。

続いて、ピックアップ１２により光ディスク１０の試し書きを行ったテスト領域を再生し、制御部１５は試し書きした２７通りのライトストラテジのジッタをその再生信号から評価データ検出部１５１により検出する（図３のステップＳ１０３）。ここで、ジッタは、例えば、再生信号を２値化した信号の、再生信号から位相同期ループ（ＰＬＬ）回路で生成したクロックに対する立ち上がりと立下りの両エッジの差の時間を積分し、平均化した値を、クロック周期で除算した値に１００を乗じた値（単位％）であり、ジッタの値が小さいほど良好な再生状態であるといえる。評価データ検出部１５１により検出されたジッタは、評価データメモリ部１５３に記憶される。

続いて、制御部１５は評価データメモリ部１５３に記憶されている、ステップＳ１０３で検出したジッタから、近似評価データ算出部１５４により最小二乗法を用いて２次近似式を複数算出し、以下に示すＴｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅの値の組み合わせで表される全１２５通りのライトストラテジに対するジッタの近似値を求める（図３のステップＳ１０４）。

Ｔｔｏｐ＝Ｔｔｏｐ＿ｓｔｄ＋（−0.08Ｔ，−0.04Ｔ，0.00Ｔ，0.04Ｔ，0.08Ｔ）
Ｔｍｐ＝Ｔｍｐ＿ｓｔｄ＋（−0.08Ｔ，−0.04Ｔ，0.00Ｔ，0.04Ｔ，0.08Ｔ）
ｄＴｅ＝ｄＴｅ＿ｓｔｄ＋（−0.08Ｔ，−0.04Ｔ，0.00Ｔ，0.04Ｔ，0.08Ｔ）
最小二乗法の２次近似は、Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅの内１種類が変動し、２種類が固定でジッタが３つ以上分かっている場合に近似式を求めることができる。例えば、dTe＝dTe_std−0.08Ｔのときの、２５通りのライトストラテジに対するジッタの近似値を求める手順を図４〜図６により説明する。図３のステップＳ１０２、ステップＳ１０３で試し書きしジッタを検出した時点で、dTe＝dTe_std−0.08Ｔのときは、前述した式から図４に○で示す９つのジッタが検出される。

この９つの検出ジッタのうち、Tmp＝Tmp_std−0.08Ｔ，dTe＝dTe_std−0.08Ｔのときは図４に示したように、Ttop＝Ttop_std−0.08Ｔ，Ttop_std，Ttop_std＋0.08Ｔに対する３つのジッタは検出済みなので、最小二乗法により、ジッタとＴｔｏｐの関係を表す２次近似式を算出することができる。よって、Tmp＝Tmp_std−0.08Ｔ，dTe＝dTe_std−0.08Ｔのときは、Ttop＝Ttop_std−0.04Ｔ，Ttop_std＋0.04Ｔに対するジッタの近似値を最小二乗法により算出することができる。

このように、図４において縦横の列で３点以上のジッタを検出した列は最小二乗法によりジッタの近似値を算出することができる。よって、図４に○で示す９個の検出ジッタから図５に△で示すジッタの近似値を最小二乗法により算出することができる。

更に、図５に○で示す９個の検出ジッタと△で示す１２個のジッタの近似値とから、上記と同様の最小二乗法の処理を実行することで、図６に×で示す４個のジッタの近似値を算出することができる。この結果、図６に示すように、dTe＝dTe_std−0.08Ｔのときの２５通りのライトストラテジに対するジッタの近似値を求めることができる。更に、上記と同様の手法をdTe＝dTe_std＋（−0.04Ｔ，0.00Ｔ，0.04Ｔ,＋0.08Ｔ）のそれぞれについて用いることにより、全部で１２５通り全てのライトストラテジに対するジッタの近似値（ジッタの検出値含む）を算出する（図３のステップＳ１０４）。

そして、制御部１５は最適ライトストラテジ決定部１５５により、全部で１２５通り全てのライトストラテジに対するジッタの近似値（ジッタの検出値含む）の中から最小となるＴｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅを最適なライトストラテジとする（図３のステップＳ１０５）。

このように、本実施の形態によれば、一部のライトストラテジに対する検出ジッタから設定可能な全てのライトストラテジに対するジッタを近似値として予測し、それらのジッタの中からジッタが最小となる最適なライトストラテジを選択するようにしたため、短時間で最適なライトストラテジを選択することができる。また、近似値のジッタを用いることで、検出誤差を最小限に止めることが可能となり、正確に最適なライトストラテジを選択することができる。

更に、本実施の形態によれば、記録性能が良いライトストラテジを最終的に選択することで、ディフェクトの影響などにより、各ライトストラテジに対するジッタを正確に検出できずに、最適なライトストラテジを選択することができなかった場合でも、記録が破綻することを防ぐことができる。

次に、本発明の第２の実施の形態の動作原理を説明する。図８に示す３種類のパルス幅を決定するパラメータＴｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅの組み合わせによるライトストラテジのうちジッタが最小となる最適なライトストラテジを選択する例について図７，図８を用いて説明する。ただし、本実施の形態では以下の条件で最適なライトストラテジを選択する。

（１）Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅの設定最小単位を０.０２Ｔとする。

（２）Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅの基準値（Ｔｔｏｐ＿ｓｔｄ，Ｔｍｐ＿ｓｔｄ、ｄＴｅ＿ｓｔｄ）を光ディスクの所定領域に記録されているライトストラテジ推奨値から算出する。

（３）最適なＴｔｏｐ，Ｔｍｐ，ｄＴｅの設定値は、基準値±０.０８Ｔ内から選択する。

本実施の形態も図３のフローチャートに従い、まず、光ディスク１０の所定領域に記録されている記録パワー推奨値を基に、制御部１５はＯＰＣにより最適記録パワーを算出し、設定する（図３のステップＳ１０１）。続いて、以下に示すＴｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅの組み合わせで表わせる全２７通りのライトストラテジを設定し、光ディスク１０の予め定められたテスト領域に、ステップＳ１０１で設定した最適記録パワーで、２７通りのライトストラテジの各テスト信号を所定期間ずつ切り替えながら順次試し書きする（図３のステップＳ１０２）。

Ｔｔｏｐ＝Ｔｔｏｐ＿ｓｔｄ＋（−0.08Ｔ，0.00Ｔ，0.08Ｔ）
Ｔｍｐ＝Ｔｍｐ＿ｓｔｄ＋（−0.08Ｔ，0.00Ｔ，0.08Ｔ）
ｄＴｅ＝ｄＴｅ＿ｓｔｄ＋（−0.08Ｔ，0.00Ｔ，0.08Ｔ）
続いて、試し書きした２７通りのライトストラテジのジッタをその再生信号から検出する（図３のステップＳ１０３）。以上のステップＳ１０１〜Ｓ１０３の処理は前記の実施の形態と同様であるが、本実施の形態は、以下のステップＳ１０４の処理が異なる。すなわち、ステップＳ１０４では、検出したジッタから最小二乗法を用いて２次近似式を複数算出し、以下に示すＴｔｏｐ，Ｔｍｐ，ｄＴｅの組合せで表される全７２９通りのライトストラテジに対するジッタの近似値を求める。

Ｔｔｏｐ＝Ttop_std＋（−0.08Ｔ，−0.06Ｔ，−0.04Ｔ，−0.02Ｔ，0.00Ｔ，0.02Ｔ，0.04Ｔ，0.06Ｔ，0.08Ｔ）
Ｔｍｐ＝Tmp_std＋（−0.08Ｔ，−0.06Ｔ，−0.04Ｔ，−0.02Ｔ，0.00Ｔ，0.02Ｔ，
0.04Ｔ，0.06Ｔ，0.08Ｔ）
ｄＴｅ＝dTe_std＋（−0.08Ｔ，−0.06Ｔ，−0.04Ｔ，−0.02Ｔ，0.00Ｔ，0.02Ｔ，
0.04Ｔ，0.06Ｔ，0.08Ｔ）
ジッタの近似値の算出方法は、第１の実施の形態と同様であり、dTe＝dTe_std−0.08Ｔのときには図７に示したように、８１通りのジッタを検出及び算出することができる。ここで、図７は図６に対応しており、○が検出したジッタ、△が検出したジッタ（○）から最小二乗法の２次近似を用いて算出したジッタの近似値、×がジッタの近似値（△）から最小二乗法の２次近似を用いて算出したジッタの近似値をそれぞれ表している。

そして、ジッタの近似値が最小となるＴｔｏｐ，Ｔｍｐ，ｄＴｅを最適なライトストラテジとする（図３のステップＳ１０５）。

このように、本実施の形態によれば、Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅの設定最小単位を０.０２Ｔとしたため、第１の実施の形態に比べてジッタの近似値の数は多くなっているが、第１の実施の形態と同様に、一部のライトストラテジに対する検出ジッタから設定可能な全てのライトストラテジに対するジッタを近似値として予測し、それらのジッタの中からジッタが最小となる最適なライトストラテジを選択するようにしたため、短時間で最適なライトストラテジを選択することができる。また、近似値のジッタを用いることで、検出誤差を最小限に止めることが可能となり、正確に最適なライトストラテジを選択することができる。

なお、以上の実施の形態では、図８（Ｂ）に示した３種類のパルス幅を決定するパラメータＴｔｏｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｅの組み合わせによるライトストラテジのうちジッタが最小となる最適なライトストラテジを選択する例について説明したが、トップパルスの開始位置のシフト量も３種類のパルス幅を決定するパラメータとして含める場合も、上記と同様にして一部のライトストラテジに対する検出ジッタから設定可能な全てのライトストラテジに対するジッタを近似値として予測することができる。

また、以上の実施の形態では、最適なライトストラテジを選択するための評価データとしてジッタを用いたが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、再生信号のエラーレートを評価データとして用いるようにしてもよく、エラーレートが最小となるライトストラテジを最適なライトストラテジとして選択するようにしてもよい。

本発明の記録再生装置の一実施の形態のブロック図である。図１の本発明装置中の制御部の一実施の形態のブロック図である。本発明によるラストストラテジ最適化処理のフローチャートである。本発明装置において検出したジッタの一例を示す図である。図４に示した検出ジッタから近似したジッタの一例を示す図である。図５に示した検出ジッタ及び近似したジッタから更に近似したジッタの一例を示す図である。本発明装置において、検出したジッタと算出したジッタの近似値の他の例を示す図である。マルチパルス波形の一例を示す図である。

符号の説明

１０光ディスク
１１スピンドルモータ
１２ピックアップ
１３レーザ駆動部
１４ＲＦ信号処理部
１５制御部
１６エンコーダ
１７デコーダ
１５１評価データ検出部
１５２ライトストラテジメモリ部
１５３評価データメモリ部
１５４近似評価データ算出部
１５５最適ライトストラテジ決定部

Claims

消去パワーから前記消去パワーより大なるピークパワーへ立ち上がるトップパルスと、前記消去パワーより小なるバイアスパワーと前記ピークパワーとの間で形成される中間パルスと、前記バイアスパワーから前記消去パワーへ立ち上がる冷却パルスとよりなる記録パルスパターンに応じて、光ディスクにレーザ光を照射して所望の長さのマークを形成する記録手段と、
前記トップパルスのパルス幅Ｔtopと前記中間パルスのパルス幅Ｔmpと前記冷却パルスの立ち上がりが１Ｔ期間の周期に対して遅れる量を示すシフト量ｄＴｅとを一組のライトストラテジとした複数組のライトストラテジのうち、前記複数組のライトストラテジより少ない組数となる第１の組のライトストラテジを用いて前記光ディスクの予め定められたテスト領域に各ライトストラテジに応じたテスト信号を試し書きするテスト信号記録手段と、
前記光ディスクの前記テスト領域から再生した前記テスト信号に基づいて、前記第１の組のライトストラテジの記録性能をそれぞれ評価するジッタを検出する評価データ検出手段と、
前記評価データ検出手段が検出した前記第１の組のライトストラテジのジッタに基づいて、前記複数組のライトストラテジから前記第１の組のライトストラテジを除いた第２の組のライトストラテジのジッタを最小二乗法の２次近似を用いて算出する近似評価データ算出手段と、
前記評価データ検出手段と前記近似評価データ算出手段とが検出又は算出した前記複数組のライトストラテジのジッタのうち、ジッタが最良であるライトストラテジを最適ライトストラテジとして決定する最適ライトストラテジ決定手段と、
を備え、前記記録手段は、前記最適ライトストラテジに基づいて、前記光ディスクに前記レーザ光を照射して情報を記録することを特徴とする記録再生装置。
前記第１の組のライトストラテジは、前記光ディスクの所定領域に記録されているライトストラテジ推奨値と、そのライトストラテジ推奨値を構成する複数のパラメータのそれぞれに対して設定した最小単位のｍ倍（ｍは絶対値が２以上の正又は負の整数）異なる値のパラメータで構成された複数のライトストラテジとからなることを特徴とする請求項１記載の記録再生装置。