JP2813042B2 - 光ピックアップ装置の欠陥検出回路 - Google Patents
光ピックアップ装置の欠陥検出回路Info
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- G11—INFORMATION STORAGE
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/002—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier
- G11B7/0037—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs
- G11B7/00375—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs arrangements for detection of physical defects, e.g. of recording layer
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0938—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following servo format, e.g. guide tracks, pilot signals
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光ピックアップ装置の欠陥検出回路に関す
る。
る。
従来の技術 従来、光ピックアップ装置において、トラッキングサ
ーボやフォーカスサーボをサンプルサーボ方式を用いて
行うものとしては、例えば、特開昭63−155426号公報に
開示されているものがある。これは、フォーカスやトラ
ッキング等の光情報記録媒体への光スポットの照射位置
制御をサンプリング制御で行うに際し、新たにサンプル
したはエラー量を１つ前にサンプルした値と比較し、両
者の差が所定幅の範囲内であれば、その値をそのまま新
しいサンプル値として採用し、両者の差が前記所定幅を
超える場合には、１つ前のサンプル値にその所定幅を加
えた値を新しいサンプル値とするようにしたものであ
る。
ーボやフォーカスサーボをサンプルサーボ方式を用いて
行うものとしては、例えば、特開昭63−155426号公報に
開示されているものがある。これは、フォーカスやトラ
ッキング等の光情報記録媒体への光スポットの照射位置
制御をサンプリング制御で行うに際し、新たにサンプル
したはエラー量を１つ前にサンプルした値と比較し、両
者の差が所定幅の範囲内であれば、その値をそのまま新
しいサンプル値として採用し、両者の差が前記所定幅を
超える場合には、１つ前のサンプル値にその所定幅を加
えた値を新しいサンプル値とするようにしたものであ
る。
このようにサンプルサーボ方式におけるプリピット部
の欠陥検出をウィンドウ法を用いて行うことによって、
光情報記録媒体面上でピットの欠陥などが原因で発生す
る誤サンプルによりサーボ系が乱されるようなことがな
くなるため、誤サンプル等のノイズの影響を低減させる
ことができる。
の欠陥検出をウィンドウ法を用いて行うことによって、
光情報記録媒体面上でピットの欠陥などが原因で発生す
る誤サンプルによりサーボ系が乱されるようなことがな
くなるため、誤サンプル等のノイズの影響を低減させる
ことができる。
第５図（ａ）〜（ｃ）は、従来のサンプルサーボ方式
を示したものであり、（ａ）に示すように、光情報記録
媒体としての光ディスク１の表面のトラック中心２から
左右にはずれた位置にトラッキング制御用のプリピット
部としてのウォブリングピットA,Bを形成し、そのトラ
ック中心２上にPLL制御の同期をとるためにクロックピ
ットＣを形成したものに対して、そのトラック中心２上
に沿って光スポット３を走査させることによって再生
（RF）信号４を検出しその信号のレベル差によりトラッ
キングサーボを行うようにしたものである。すなわち、
（ｂ）、（ｃ）に示すように、光スポット３がトラック
中心２から左右どちらかにはずれた状態で走査した場
合、ウォブリングピットA,Bにて検出される再生信号４
のピーク値が変わるためそのピーク値間の差分ΔＶを求
めることにより、光スポット３のトラック中心２からの
変位量を求め、これによりトラッキング制御を行うよう
にしたものである。
を示したものであり、（ａ）に示すように、光情報記録
媒体としての光ディスク１の表面のトラック中心２から
左右にはずれた位置にトラッキング制御用のプリピット
部としてのウォブリングピットA,Bを形成し、そのトラ
ック中心２上にPLL制御の同期をとるためにクロックピ
ットＣを形成したものに対して、そのトラック中心２上
に沿って光スポット３を走査させることによって再生
（RF）信号４を検出しその信号のレベル差によりトラッ
キングサーボを行うようにしたものである。すなわち、
（ｂ）、（ｃ）に示すように、光スポット３がトラック
中心２から左右どちらかにはずれた状態で走査した場
合、ウォブリングピットA,Bにて検出される再生信号４
のピーク値が変わるためそのピーク値間の差分ΔＶを求
めることにより、光スポット３のトラック中心２からの
変位量を求め、これによりトラッキング制御を行うよう
にしたものである。
この場合、もし、プリピット（ウォプリングピットA,
BやクロックピットＣ）に欠陥があった場合、その欠陥
部分でのサンプリング信号をそのまま用いて制御を行っ
てしまうと、トラックはずれやPLL不良の原因となって
しまう。従って、そのような誤サンプリング信号を取り
込まないようにする必要があり、このためプリピットの
欠陥検出が重要な課題となる。その一例を第６図（ａ）
（ｂ）に基づいて説明する。（ａ）は正常なプリピット
５が配列された中に１個だけ欠陥ピット６が存在した様
子を示すものであり、この場合、再生信号４のピーク値
のレベル差ΔＶを一定値以上あるため、その欠陥ピット
６の検出を行うことができる。しかし、（ｂ）に示すよ
うに、正常ピット７−少し欠けているピット８−欠陥ピ
ット９が順次隣接して存在しているような場合、その再
生信号４のピーク値のレベル差ΔV1〜ΔV4が一定値以上
にならない場合が存在し、これにより欠陥ピットの検出
を行うことができないという問題が生じる。
BやクロックピットＣ）に欠陥があった場合、その欠陥
部分でのサンプリング信号をそのまま用いて制御を行っ
てしまうと、トラックはずれやPLL不良の原因となって
しまう。従って、そのような誤サンプリング信号を取り
込まないようにする必要があり、このためプリピットの
欠陥検出が重要な課題となる。その一例を第６図（ａ）
（ｂ）に基づいて説明する。（ａ）は正常なプリピット
５が配列された中に１個だけ欠陥ピット６が存在した様
子を示すものであり、この場合、再生信号４のピーク値
のレベル差ΔＶを一定値以上あるため、その欠陥ピット
６の検出を行うことができる。しかし、（ｂ）に示すよ
うに、正常ピット７−少し欠けているピット８−欠陥ピ
ット９が順次隣接して存在しているような場合、その再
生信号４のピーク値のレベル差ΔV1〜ΔV4が一定値以上
にならない場合が存在し、これにより欠陥ピットの検出
を行うことができないという問題が生じる。
発明が解決しようとする課題 一般に、ピットの欠陥検出方法としては、その第一の
方法として、プリピット部での再生信号が一定のパター
ンになることを利用して、それ以外のパターンが発生し
た時は欠陥であると判定するパターンマッチング法や、
また、第二の方法として、隣接サンプル点間でのサンプ
ル値の変化が一定値以上になる時を欠陥であると判定す
るウィンドウ法（前述したような従来例がこれに該当す
る）が知られている。
方法として、プリピット部での再生信号が一定のパター
ンになることを利用して、それ以外のパターンが発生し
た時は欠陥であると判定するパターンマッチング法や、
また、第二の方法として、隣接サンプル点間でのサンプ
ル値の変化が一定値以上になる時を欠陥であると判定す
るウィンドウ法（前述したような従来例がこれに該当す
る）が知られている。
第一の方法の場合、パターンマッチング法に関して
は、パターンを判定するため再生信号を２値化するに際
してのしきい値設定などに困難な点があり、今日におい
ては、あまり実用化されていない。また、第二の方法の
場合、回路規模も割りと小さく実現が容易であるが、し
かし、このウィンドウ法は隣接サンプル点間でのサンプ
ル値の変化を見るため相対値による判定となり、このよ
うな相対値により判定だけでは欠陥部の検出漏れを起こ
すことになる。
は、パターンを判定するため再生信号を２値化するに際
してのしきい値設定などに困難な点があり、今日におい
ては、あまり実用化されていない。また、第二の方法の
場合、回路規模も割りと小さく実現が容易であるが、し
かし、このウィンドウ法は隣接サンプル点間でのサンプ
ル値の変化を見るため相対値による判定となり、このよ
うな相対値により判定だけでは欠陥部の検出漏れを起こ
すことになる。
課題を解決するための手段 そこで、このような問題点を解決するために、本発明
は、光情報記録媒体の表面にプリピット部やミラー部の
形成されたプリフォーマット部を備え、サンプルサーボ
方式を用いて前記プリピット部や前記ミラー部をサンプ
リングすることによりサンプリング信号を検出し、この
サンプリング信号をもとにフォーカスサーボやトラッキ
ングサーボを行う光ピックアップ装置において、現在サ
ンプリングを行っている現ミラー部でのサンプリング信
号を記憶する第一レジスタと現在サンプリングを行って
いる一つ前のミラー部でのサンプリング信号を記憶する
第二レジスタとこれら第一レジスタと第二レジスタとの
出力を減算する第一減算器とこの第一減算器の出力と第
一固定値の出力との比較を行う第一比較器とを有する相
対値欠陥検出回路を設け、現ミラー部でのサンプリング
信号と第二固定値とを比較する第二比較器を有する絶対
値欠陥検出回路を設け、この絶対値欠陥検出回路からの
出力と前記相対値欠陥検出回路からの出力とに基づき現
ミラー部の欠陥の有無を判定する判定回路を設け、この
判定回路の出力により現ミラー部でのサンプリング信号
か前記第二固定値の出力かを選択するセレクタとこのセ
レクタからの出力と第三固定値との減算を行う第二減算
器とこの第二減算器からの出力と前記サンプリング信号
との大小を比較する第三比較器とを有するしきい値発生
欠陥比較回路を設けた。
は、光情報記録媒体の表面にプリピット部やミラー部の
形成されたプリフォーマット部を備え、サンプルサーボ
方式を用いて前記プリピット部や前記ミラー部をサンプ
リングすることによりサンプリング信号を検出し、この
サンプリング信号をもとにフォーカスサーボやトラッキ
ングサーボを行う光ピックアップ装置において、現在サ
ンプリングを行っている現ミラー部でのサンプリング信
号を記憶する第一レジスタと現在サンプリングを行って
いる一つ前のミラー部でのサンプリング信号を記憶する
第二レジスタとこれら第一レジスタと第二レジスタとの
出力を減算する第一減算器とこの第一減算器の出力と第
一固定値の出力との比較を行う第一比較器とを有する相
対値欠陥検出回路を設け、現ミラー部でのサンプリング
信号と第二固定値とを比較する第二比較器を有する絶対
値欠陥検出回路を設け、この絶対値欠陥検出回路からの
出力と前記相対値欠陥検出回路からの出力とに基づき現
ミラー部の欠陥の有無を判定する判定回路を設け、この
判定回路の出力により現ミラー部でのサンプリング信号
か前記第二固定値の出力かを選択するセレクタとこのセ
レクタからの出力と第三固定値との減算を行う第二減算
器とこの第二減算器からの出力と前記サンプリング信号
との大小を比較する第三比較器とを有するしきい値発生
欠陥比較回路を設けた。
作用 従って、プリピット部やミラー部の欠陥を検出する際
に相対値による検出と絶対値による検出とを併用させる
ことによって、プリピット部やミラー部の欠陥検出を高
精度で確実に行うことができる。
に相対値による検出と絶対値による検出とを併用させる
ことによって、プリピット部やミラー部の欠陥検出を高
精度で確実に行うことができる。
実施例 本発明の一実施例を第１図ないし第４図に基づいて説
明する。第１図は本装置の全体構成を示すものである。
この本装置は、相対値欠陥検出回路10と絶対値欠陥検出
回路11と判定回路12としきい値発生欠陥比較回路13とに
大きく分類することができる。前記相対値欠陥検出回路
10には、サンプリングを行っている現ミラー部でのサン
プリング信号を記憶する第一レジスタ14と、サンプリン
グを行っている一つ前のミラー部でのサンプリング信号
を記憶する第二レジスタ15と、これら第一レジスタ14と
第二レジスタ15との出力を減算する第一減算器16と、こ
の第一減算器16の出力と第一固定値17の出力との比較を
行う第一比較器18とが設けられている。
明する。第１図は本装置の全体構成を示すものである。
この本装置は、相対値欠陥検出回路10と絶対値欠陥検出
回路11と判定回路12としきい値発生欠陥比較回路13とに
大きく分類することができる。前記相対値欠陥検出回路
10には、サンプリングを行っている現ミラー部でのサン
プリング信号を記憶する第一レジスタ14と、サンプリン
グを行っている一つ前のミラー部でのサンプリング信号
を記憶する第二レジスタ15と、これら第一レジスタ14と
第二レジスタ15との出力を減算する第一減算器16と、こ
の第一減算器16の出力と第一固定値17の出力との比較を
行う第一比較器18とが設けられている。
また、前記絶対値欠陥検出回路11には、現ミラー部で
のサンプリング信号と第二固定値19とを比較する第二比
較器20が設けられている。
のサンプリング信号と第二固定値19とを比較する第二比
較器20が設けられている。
さらに、前記絶対値欠陥検出回路11と前記相対値欠陥
検出回路10との出力側は前記判定回路12に接続されてお
り、この判定回路12はそれら２つの回路10,11からの出
力に基づいて現ミラー部の欠陥の有無を判定する働きが
ある。
検出回路10との出力側は前記判定回路12に接続されてお
り、この判定回路12はそれら２つの回路10,11からの出
力に基づいて現ミラー部の欠陥の有無を判定する働きが
ある。
さらに、また、前記判定回路12はしきい値発生欠陥比
較回路13に接続されている。このしきい値発生欠陥比較
回路13には、前記判定回路12の出力により現ミラー部で
のサンプリング信号が前記第二固定値19の出力かを選択
するセレクタ21と、このセレクタ21からの出力と第三固
定値22との減算を行う第二減算器23と、この第二減算器
23からの出力と前記サンプリング信号との大小を比較す
る第三比較器24とが設けられている。
較回路13に接続されている。このしきい値発生欠陥比較
回路13には、前記判定回路12の出力により現ミラー部で
のサンプリング信号が前記第二固定値19の出力かを選択
するセレクタ21と、このセレクタ21からの出力と第三固
定値22との減算を行う第二減算器23と、この第二減算器
23からの出力と前記サンプリング信号との大小を比較す
る第三比較器24とが設けられている。
このような構成において、まず、相対値欠陥検出回路
10について説明する。サンプリング信号としての再生
（RF）信号をアナログ−デジタル変換したデータ（以
下、A/Dデータと呼ぶ）を第一レジスタ14に入力する。
また、各セグメント毎に配置されるミラー部（第３図参
照）でのA/Dデータを前記第一レジスタ14へ各セグメン
ト毎にラッチする。次に、第一レジスタ14の出力を第二
レジスタ15に入力すると共に、第一レジスタ14のラッチ
タイミングと同じタイミングで第一レジスタ14の出力デ
ータを第二レジスタ15へラッチする。これにより、第二
レジスタ15の出力データは、第一レジスタ14の出力デー
タとなる現在のセグメントのミラー部（前述した現ミラ
ー部）におけるA/Dデータよりも１セグメント前のA/Dデ
ータを保持していることになる。
10について説明する。サンプリング信号としての再生
（RF）信号をアナログ−デジタル変換したデータ（以
下、A/Dデータと呼ぶ）を第一レジスタ14に入力する。
また、各セグメント毎に配置されるミラー部（第３図参
照）でのA/Dデータを前記第一レジスタ14へ各セグメン
ト毎にラッチする。次に、第一レジスタ14の出力を第二
レジスタ15に入力すると共に、第一レジスタ14のラッチ
タイミングと同じタイミングで第一レジスタ14の出力デ
ータを第二レジスタ15へラッチする。これにより、第二
レジスタ15の出力データは、第一レジスタ14の出力デー
タとなる現在のセグメントのミラー部（前述した現ミラ
ー部）におけるA/Dデータよりも１セグメント前のA/Dデ
ータを保持していることになる。
また、第一レジスタ14及び第二レジスタ15の出力を第
一減算器16に入力して、現在のセグメントと１セグメン
ト前とのミラー部におけるA/Dデータの差分を求める。
この差分値を第一比較器18に入力して第一固定値17との
比較を行う。この第一固定値17には、現在のセグメント
と１セグメント前との欠陥がない時のミラー部のA/Dデ
ータの変化量の許容値を設定する。この第一比較器18に
よって、第一減算器16の出力である現在のセグメントと
１セグメント前とのミラー部におけるA/Dデータの差分
が、第一固定値17以内にあればミラー部に欠陥なしと判
定することができ、また、A/Dデータの差分が第一固定
値17を超えていれば、現在のセグメントのミラー部に欠
陥があると判定することができることになる。
一減算器16に入力して、現在のセグメントと１セグメン
ト前とのミラー部におけるA/Dデータの差分を求める。
この差分値を第一比較器18に入力して第一固定値17との
比較を行う。この第一固定値17には、現在のセグメント
と１セグメント前との欠陥がない時のミラー部のA/Dデ
ータの変化量の許容値を設定する。この第一比較器18に
よって、第一減算器16の出力である現在のセグメントと
１セグメント前とのミラー部におけるA/Dデータの差分
が、第一固定値17以内にあればミラー部に欠陥なしと判
定することができ、また、A/Dデータの差分が第一固定
値17を超えていれば、現在のセグメントのミラー部に欠
陥があると判定することができることになる。
次に、絶対値欠陥検出回路11について説明する。第一
レジスタ14の出力となる現在のセグメントのミラー部に
おけるA/Dデータを第二比較器20に入力し、第二固定値1
9と比較する。この第二固定値19には、メディアの反射
率変動などにより生じるRF信号の許容変動分を考慮し、
ミラー部が欠陥でない時のA/Dデータの最小値付近の値
を設定する。これにより、その第二比較器20によって、
ミラー部のA/Dデータの絶対値が欠陥であるか否かを判
定することができる。
レジスタ14の出力となる現在のセグメントのミラー部に
おけるA/Dデータを第二比較器20に入力し、第二固定値1
9と比較する。この第二固定値19には、メディアの反射
率変動などにより生じるRF信号の許容変動分を考慮し、
ミラー部が欠陥でない時のA/Dデータの最小値付近の値
を設定する。これにより、その第二比較器20によって、
ミラー部のA/Dデータの絶対値が欠陥であるか否かを判
定することができる。
次に、このようにして相対値欠陥検出回路10により得
られた相対値出力と絶対値欠陥検出回路11により得られ
た絶対値出力との２つのミラー部における欠陥検出結果
を判定回路12に入力する。この判定回路12において、ミ
ラー部におけるA/Dデータの値を採用するか否かを判定
する。第１表は、その判定回路12の判定結果の様子を示
すものである。
られた相対値出力と絶対値欠陥検出回路11により得られ
た絶対値出力との２つのミラー部における欠陥検出結果
を判定回路12に入力する。この判定回路12において、ミ
ラー部におけるA/Dデータの値を採用するか否かを判定
する。第１表は、その判定回路12の判定結果の様子を示
すものである。
この第１表からもわかるように、判定回路12の出力
で、相対値出力結果と絶対値出力結果とから共にミラー
部において欠陥がない（○）と判定された場合にはその
ミラー部のA/Dデータを出力値とし、また、ミラー部に
欠陥がある（×）と判定された場合にはそのA/Dデータ
の代わりに第二固定値19を出力値とする。
で、相対値出力結果と絶対値出力結果とから共にミラー
部において欠陥がない（○）と判定された場合にはその
ミラー部のA/Dデータを出力値とし、また、ミラー部に
欠陥がある（×）と判定された場合にはそのA/Dデータ
の代わりに第二固定値19を出力値とする。
次に、しきい値発生欠陥比較回路13について説明す
る。判定回路12から出力されたA/Dデータ若しくは第二
固定値19はセレクタ21によりセレクトされる。そして、
そのセレクタ21からの出力と第三固定値22とは、第二減
算器23に入力され減算が行われる。第三固定値22は第２
図のように欠陥でないときのプリピット部A/Dデータの
最大値とミラー部A/Dデータとの差分より小さめに設定
する。この第二減算器23の出力値は、ミラー部の欠陥検
出用のしきい値Ｐとされる。第２図に示すように、この
しきい値ＰとA/Dデータとの大小比較を第三比較器24に
より行うことによって、ミラー部において欠陥があるか
否かを検出することができる。
る。判定回路12から出力されたA/Dデータ若しくは第二
固定値19はセレクタ21によりセレクトされる。そして、
そのセレクタ21からの出力と第三固定値22とは、第二減
算器23に入力され減算が行われる。第三固定値22は第２
図のように欠陥でないときのプリピット部A/Dデータの
最大値とミラー部A/Dデータとの差分より小さめに設定
する。この第二減算器23の出力値は、ミラー部の欠陥検
出用のしきい値Ｐとされる。第２図に示すように、この
しきい値ＰとA/Dデータとの大小比較を第三比較器24に
より行うことによって、ミラー部において欠陥があるか
否かを検出することができる。
第３図（ａ）（ｂ）は、その欠陥検出の一例を示すも
のである。（ａ）に示すように、ウォブリングピットA,
BやクロックピットＣからなるプリピット部25、及び、
ミラー部26に欠陥がないような場合には、プリピット部
25におけるA/Dデータ（RF信号）はしきい値Ｐよりも小
さくなり、そのプリピット部25以外のミラー部26におけ
るA/Dデータはしきい値Ｐよりも大きくなる。一方、
（ｂ）に示すように、プリピット部25やミラー部26に欠
陥がある時には、そのプリピット部25ではA/Dデータが
しきい値Ｐよりも大きくなり、ミラー部26ではA/Dデー
タがしきい値Ｐよりも小さくなることにより、欠陥を検
出することができる。
のである。（ａ）に示すように、ウォブリングピットA,
BやクロックピットＣからなるプリピット部25、及び、
ミラー部26に欠陥がないような場合には、プリピット部
25におけるA/Dデータ（RF信号）はしきい値Ｐよりも小
さくなり、そのプリピット部25以外のミラー部26におけ
るA/Dデータはしきい値Ｐよりも大きくなる。一方、
（ｂ）に示すように、プリピット部25やミラー部26に欠
陥がある時には、そのプリピット部25ではA/Dデータが
しきい値Ｐよりも大きくなり、ミラー部26ではA/Dデー
タがしきい値Ｐよりも小さくなることにより、欠陥を検
出することができる。
この第３図のように、プリピット部25の後方にミラー
部26が配置されたようなフォーマット構成では、しきい
値Ｐをもとにミラー部26における欠陥も検出することが
できる。この場合におけるしきい値Ｐは、１セグメント
前のミラー部26より求められるものとなり、現セグメン
トのミラー部26より求められるしきい値Ｐは次のセグメ
ントでの欠陥検出用として利用される。
部26が配置されたようなフォーマット構成では、しきい
値Ｐをもとにミラー部26における欠陥も検出することが
できる。この場合におけるしきい値Ｐは、１セグメント
前のミラー部26より求められるものとなり、現セグメン
トのミラー部26より求められるしきい値Ｐは次のセグメ
ントでの欠陥検出用として利用される。
また、第４図は、ミラー部26がプリピット部25の前に
配置されているフォーマット構成を示すものであり、現
セグメントのミラー部26より求めたしきい値Ｐをそのま
ま現セグメントのプリピット部25やミラー部26の欠陥検
出用として使用できる場合を示したものである。この場
合にも第３図と同様にして欠陥を検出することができ
る。
配置されているフォーマット構成を示すものであり、現
セグメントのミラー部26より求めたしきい値Ｐをそのま
ま現セグメントのプリピット部25やミラー部26の欠陥検
出用として使用できる場合を示したものである。この場
合にも第３図と同様にして欠陥を検出することができ
る。
上述したように、プリピット部25やミラー部26におけ
る欠陥を検出する際に、相対値欠陥検出回路10により求
めた相対値による出力結果と絶対値欠陥検出回路11によ
り求めた絶対値による出力結果とを併用させることによ
って、プリピット部25やミラー部26の欠陥検出を高精度
で確実に行うことができる。
る欠陥を検出する際に、相対値欠陥検出回路10により求
めた相対値による出力結果と絶対値欠陥検出回路11によ
り求めた絶対値による出力結果とを併用させることによ
って、プリピット部25やミラー部26の欠陥検出を高精度
で確実に行うことができる。
発明の効果 本発明は、光情報記録媒体の表面にプリピット部やミ
ラー部の形成されたプリフォーマット部を備え、サンプ
ルサーボ方式を用いて前記プリピット部や前記ミラー部
をサンプリングすることによりサンプリング信号を検出
し、このサンプリング信号をもとにフォーカスサーボや
トラッキングサーボを行う光ピックアップ装置におい
て、現在サンプリングを行っている現ミラー部でのサン
プリング信号を記憶する第一レジスタと現在サンプリン
グを行っている一つ前のミラー部でのサンプリング信号
を記憶する第二レジスタとこれら第一レジスタと第二レ
ジスタとの出力を減算する第一減算器とこの第一減算器
の出力と第一固定値の出力との比較を行う第一比較器と
を有する相対値欠陥検出回路を設け、現ミラー部でのサ
ンプリング信号と第二固定値とを比較する第二比較器を
有する絶対値欠陥検出回路を設け、この絶対値欠陥検出
回路からの出力と前記相対値欠陥検出回路からの出力と
に基づき現ミラー部の欠陥の有無を判定する判定回路を
設け、この判定回路の出力により現ミラー部でのサンプ
リング信号か前記第二固定値の出力かを選択するセレク
タとこのセレクタからの出力と第三固定値との減算を行
う第二減算器とこの第二減算器からの出力と前記サンプ
リング信号との大小を比較する第三比較器とを有するし
きい値発生欠陥比較回路を設けたので、プリピット部や
ミラー部の欠陥を検出する際に相対値による検出と絶対
値による検出とを併用させることによって、プリピット
部やミラー部の欠陥検出を高精度で確実に行うことがで
きるものである。
ラー部の形成されたプリフォーマット部を備え、サンプ
ルサーボ方式を用いて前記プリピット部や前記ミラー部
をサンプリングすることによりサンプリング信号を検出
し、このサンプリング信号をもとにフォーカスサーボや
トラッキングサーボを行う光ピックアップ装置におい
て、現在サンプリングを行っている現ミラー部でのサン
プリング信号を記憶する第一レジスタと現在サンプリン
グを行っている一つ前のミラー部でのサンプリング信号
を記憶する第二レジスタとこれら第一レジスタと第二レ
ジスタとの出力を減算する第一減算器とこの第一減算器
の出力と第一固定値の出力との比較を行う第一比較器と
を有する相対値欠陥検出回路を設け、現ミラー部でのサ
ンプリング信号と第二固定値とを比較する第二比較器を
有する絶対値欠陥検出回路を設け、この絶対値欠陥検出
回路からの出力と前記相対値欠陥検出回路からの出力と
に基づき現ミラー部の欠陥の有無を判定する判定回路を
設け、この判定回路の出力により現ミラー部でのサンプ
リング信号か前記第二固定値の出力かを選択するセレク
タとこのセレクタからの出力と第三固定値との減算を行
う第二減算器とこの第二減算器からの出力と前記サンプ
リング信号との大小を比較する第三比較器とを有するし
きい値発生欠陥比較回路を設けたので、プリピット部や
ミラー部の欠陥を検出する際に相対値による検出と絶対
値による検出とを併用させることによって、プリピット
部やミラー部の欠陥検出を高精度で確実に行うことがで
きるものである。
第１図は本発明の一実施例を示す回路図、第２図はしき
い値の設定例を示す説明図、第３図はピット欠陥の有無
における欠陥検出例を示す説明図、第４図はプリフォー
マット部の変形例を示す説明図、第５図は従来のトラッ
クエラー信号の検出原理を示す説明図、第６図は従来に
おけるピット欠陥検出例を示す説明図である。 10……相対値欠陥検出回路、11……絶対値欠陥検出回
路、12……判定回路、13……しきい値発生欠陥比較回
路、14……第一レジスタ、15……第二レジスタ、16……
第一減算器、17……第一固定値、18……第一比較器、19
……第二固定値、20……第二比較器、21……第一セレク
タ、22……第三固定値、23……第二減算器、24……第三
比較器、25……プリピット部、26……ミラー部
い値の設定例を示す説明図、第３図はピット欠陥の有無
における欠陥検出例を示す説明図、第４図はプリフォー
マット部の変形例を示す説明図、第５図は従来のトラッ
クエラー信号の検出原理を示す説明図、第６図は従来に
おけるピット欠陥検出例を示す説明図である。 10……相対値欠陥検出回路、11……絶対値欠陥検出回
路、12……判定回路、13……しきい値発生欠陥比較回
路、14……第一レジスタ、15……第二レジスタ、16……
第一減算器、17……第一固定値、18……第一比較器、19
……第二固定値、20……第二比較器、21……第一セレク
タ、22……第三固定値、23……第二減算器、24……第三
比較器、25……プリピット部、26……ミラー部
Claims (1)
- 【請求項１】光情報記録媒体の表面にプリピット部やミ
ラー部の形成されたプリフォーマット部を備え、サンプ
ルサーボ方式を用いて前記プリピット部や前記ミラー部
をサンプリングすることによりサンプリング信号を検出
し、このサンプリング信号をもとにフォーカスサーボや
トラッキングサーボを行う光ピックアップ装置におい
て、現在サンプリングを行っている現ミラー部でのサン
プリング信号を記憶する第一レジスタと現在サンプリン
グを行っている一つ前のミラー部でのサンプリング信号
を記憶する第二レジスタとこれら第一レジスタと第二レ
ジスタとの出力を減算する第一減算器とこの第一減算器
の出力と第一固定値の出力との比較を行う第一比較器と
を有する相対値欠陥検出回路を設け、現ミラー部でのサ
ンプリング信号と第二固定値とを比較する第二比較器を
有する絶対値欠陥検出回路を設け、この絶対値欠陥検出
回路からの出力と前記相対値欠陥検出回路からの出力と
に基づき現ミラー部の欠陥の有無を判定する判定回路を
設け、この判定回路の出力により現ミラー部でのサンプ
リング信号か前記第二固定値の出力かを選択するセレク
タとこのセレクタからの出力と第三固定値との減算を行
う第二減算器とこの第二減算器からの出力と前記サンプ
リング信号との大小を比較する第三比較器とを有するし
きい値発生欠陥比較回路を設けたことを特徴とする光ピ
ックアップ装置の欠陥検出回路。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2176977A JP2813042B2 (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 光ピックアップ装置の欠陥検出回路 |
| US07/721,707 US5195076A (en) | 1990-07-04 | 1991-06-26 | Defect detection circuit for optical pick up device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2176977A JP2813042B2 (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 光ピックアップ装置の欠陥検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0464924A JPH0464924A (ja) | 1992-02-28 |
| JP2813042B2 true JP2813042B2 (ja) | 1998-10-22 |
Family
ID=16023019
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2176977A Expired - Fee Related JP2813042B2 (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 光ピックアップ装置の欠陥検出回路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5195076A (ja) |
| JP (1) | JP2813042B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR0138143B1 (ko) * | 1992-07-14 | 1998-05-15 | 강진구 | 광디스크 재생장치의 재생방법 |
| JP3732650B2 (ja) * | 1998-03-26 | 2006-01-05 | パイオニア株式会社 | プリピット検出装置 |
| US6657929B1 (en) | 1998-06-23 | 2003-12-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical disk recording apparatus and method for recording data on optical disk |
| KR100294106B1 (ko) * | 1998-08-25 | 2001-07-12 | 구자홍 | 복수의빔을이용한광디스크의서보장치및방법 |
| JP3271181B2 (ja) * | 1998-11-09 | 2002-04-02 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | ディスクドライブ装置、ディスクドライブ装置のエラー回復処理方法及びディスクドライブ制御装置 |
| TWI239512B (en) * | 2002-07-24 | 2005-09-11 | Mediatek Inc | ADIP demodulation method and apparatus |
| JP4245436B2 (ja) * | 2003-08-08 | 2009-03-25 | パナソニック株式会社 | ディフェクト検出装置 |
| US7656763B1 (en) * | 2007-06-04 | 2010-02-02 | Western Digital Technologies, Inc. | Calibrating a defect scan parameter for a disk drive |
| US8094396B1 (en) | 2010-02-11 | 2012-01-10 | Western Digital Technologies, Inc. | Media defect scan |
| US8194338B1 (en) | 2010-03-31 | 2012-06-05 | Western Digital Technologies, Inc. | Parallel media defect scan in sector read |
| US8493681B1 (en) | 2010-11-23 | 2013-07-23 | Western Digital Technologies, Inc. | Disk drive generating map of margin rectangles around defects |
| US8964320B1 (en) | 2010-12-09 | 2015-02-24 | Western Digital Technologies, Inc. | Disk drive defect scanning by writing consecutive data tracks and skipping tracks when reading the data tracks |
| US8619529B1 (en) | 2012-03-22 | 2013-12-31 | Western Digital Technologies, Inc. | Methods and devices for enhanced adaptive margining based on channel threshold measure |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4748609A (en) * | 1985-03-29 | 1988-05-31 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for composite tracking servo system with track offset correction and rotary optical disc having at least one correction mark for correcting track offset |
| JPH0782656B2 (ja) * | 1986-07-11 | 1995-09-06 | 株式会社日立製作所 | 光デイスク装置 |
| JP2796285B2 (ja) * | 1986-07-11 | 1998-09-10 | 株式会社日立製作所 | トラッキング方法及びそれを用いた光ディスク装置 |
| JP2523555B2 (ja) * | 1986-12-19 | 1996-08-14 | 株式会社日立製作所 | 光スポットの制御方法及び位置制御装置 |
| JPS63239621A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-05 | Sony Corp | 診断機能付光デイスク記録・再生装置 |
-
1990
- 1990-07-04 JP JP2176977A patent/JP2813042B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-06-26 US US07/721,707 patent/US5195076A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0464924A (ja) | 1992-02-28 |
| US5195076A (en) | 1993-03-16 |
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