JPH03280224A - 光学式記録媒体の欠陥検査法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、レーザ等の光を微小径のスポットに絞り、情
報を記録、再生、消去する光学式記録媒体の欠陥を検査
する検査方法に関する。

［従来の技術］ 光磁気記録に代表される光学式記録媒体では、第３図に
示すように１つのデータ記録単位（セクタ）が、認識領
域と、記録領域とから構成されている。

記録領域は、光学式記録媒体の性質を利用し、所望のデ
ータを記録、再生及び消去するための領域である。一方
、認識領域はそのセクタに関する認識用データ、例えば
トラック番号やセクタ番号等を記録媒体表面の物理的な
凹凸（プリピット）によって予め記録されている領域で
ある。この認識用データを再生するには、反射光信号で
ある媒体表面反射信号（プリピット信号）からプリピッ
トを検出している。

従来の欠陥検査法は、第４図に示す構成をしている。

まず、光学式記録媒体１からのプリピット信号を光学ヘ
ッド２で得、記録領域検出器１１によってセクタ、及び
その中の認識領域、記録領域を判断する。記録領域が認
識されると、パターンＲＯＭ１５に記憶してある検査用
記録データに基づき、記録信号発生器１６によって記録
信号を発生させ、これを光学ヘッド２を用いて記録する
。

次に、この記録された信号を光学ヘッド２で再生し、媒
体変調信号を得る。この媒体変調信号を増幅器５で所望
の信号レベルまで増幅し、更に信号内の不要な成分をフ
ィルタ６によって取り除いた後、データ判別器１７によ
って再生データを得る。この再生データとパターンＲＯ
Ｍ１５に記憶させている記録データとが一致しているか
どうかをデータ比較器１８で調べる。ここで両者が一致
しなかった場合、その記録信号の書き込まれた部分に欠
陥が存在すると判断し、エラー計数器１４に記録される
。

検査用記録データは、欠陥検出時の分解能を均一化する
ためと、記録信号発生器、データ判別器等の回路構成を
簡略化するために、記録信号が単一周波数の信号になる
ようなデータを使用することが多い。このような記録デ
ータを使用した際の正常な再生信号と、欠陥が存在する
ためにデータ誤りを生じる再生信号の波形例を第５図に
示す。

（ａ）は欠陥が存在しないときの再生信号であり、（ｂ
）はＴで示した区間に欠陥が存在するときの再生信号で
ある。

［発明が解決しようとする課題］ しかし従来技術では、記録信号の周期よりも長い欠陥に
ついては検出可能であるが、周期以下の短い欠陥につい
ては、記録信号を書き込む際の様々な変動要因によるず
れに依存し、必ずしも検出できるとは限らない。即ち、
記録媒体上における欠陥と記録信号の物理的位置の関係
によっては、欠陥が存在しても再生信号に影響を及ぼす
とは限らないという現象が生じる。これを解決するには
、記録信号の周期を短くする、即ち記録信号の周波数を
高くすれば良いのであるが、光学ヘッドの記録再生特性
、及び記録媒体の周波数特性により、再生信号の品質が
劣化し、欠陥が存在しなくても雑音等の別な要因で再生
データが誤ってしまうという問題も有する。

その他、測定対象領域全体に対して、記録済みデータの
消去を行なった後、測定用の信号を記録しなければなら
ないため、光学式記録媒体のような大容量の記録媒体を
検査する場合、非常に時間がかかってしまうという問題
も有する。

そこで本発明はこのような問題点を解決するのもので、
その目的とするところは、欠陥の大きさに依存しない安
定した欠陥検出と、欠陥の発生要因を特定できる光学式
記録媒体の欠陥検査法を提供するところにある。

［課題を解決するための手段］ 本発明の光学式記録媒体の欠陥検査法は、記録領域のデ
ータを予め消去してある光学式記録媒体に対し、°光学
ヘッドを用いて前記光学式記録媒体の記録領域内の媒体
変調信号を検出し、前記媒体変調信号の信号レベル変化
を検出する信号レベル変化検出手段と、前記信号レベル
変化検出手段からの出力を受け、少なくとも２つ以上の
信号レベル変化が所定の時間よりも近接して生じた場合
には、これを連続した１つの信号レベル変化と見なし、
又、所定の時間よりも離れて生じた場合には、これを独
立した信号レベル変化と見なして、その信号レベル変化
時間に対応した信号を出力する判断手段と、前記判断手
段の出力を受け、その時間間隔を計測するための信号レ
ベル変化時間計測手段と、前記信号レベル変化時間計測
手段からのデータを集計する計数手段を備えたことを特
徴とする。

［実施例］ 以下本発明について詳細に説明する。

第１図は本発明の光学式記録媒体の欠陥検査法の一実施
例である。

予め記録領域が消去された状態の光学式記録媒体１に対
し、光学ヘッド２を用いてプリピット信号３と媒体変調
信号４を得る。媒体変調信号４は増幅器５で所望の信号
レベルまで増幅された後、フィルタ６によってノイズ等
の不要な成分を取り除かれる。一方、プリピット信号は
記録領域検出器１１に入力され、これを基準に記録領域
を判断し、この記録領域内でカウンタ１２が動作するよ
うに制御信号を送る。

増幅、整形後の媒体変調信号の波形例を第２図に示す。

欠陥が存在しない場合は（ａ）に示すような振幅ゼロの
信号であるが、欠陥が存在すると（ｂ）に示すようなエ
クストラパルスが現れる。ここでこの信号をコンパレー
タ７．８に入力し、予め設定したレベルＲ１、及びＲ２
でコンパレートし、ＯＲ９によって論理和をとることに
より（Ｃ）に示すようなパルス幅Ｔ１、Ｔ２を含む信号
が得られる。又、これは（ｅ）の様に同一極性の信号レ
ベル変化が起きた場合でも同様である。

ここで、Ｔ１のパルスとＴ２のパルス間隔りが狭い場合
には、この区間り部分の波形歪みも大きく、Ｔ１、Ｔ２
の区間と同様の影響があると考えられる。従って、この
場合は欠陥長Ｔ１とＴ２の２つの欠陥と見なすよりも、
欠陥長ＴＯの１つの欠陥と見なした方が現実に沿ってい
る。この判断基準の例としては、使用される記録信号の
最短周期が挙げられる。すなわち、Ｌが最短周期よりも
短い場合には、区間りの歪みが記録信号に大きな影響を
与えると考え、欠陥長をＴＯと置き換える。

又、Ｌが最短周期よりも長い場合には影響が少ないと考
えて、欠陥長がＴ１とＴ２の２つの欠陥とするのである
。

この判断は判断器１０で行ない、その欠陥長に応じた欠
陥信号をカウンタ１２に送る。

カウンタ１２では、この欠陥信号と、クロック発生器１
３からのパルス幅測長用クロック信号、記録領域検出器
１１からのカウント制御信号を元に記録領域に於ける媒
体変調信号からの欠陥長データを生成する。

エラー計数器１４では、カウンタ１２によって測定され
た欠陥長データを受けて欠陥の数及びその大きさを記録
する。

［発明の効果］ 以上説明したように、本発明によれば、欠陥の影響によ
る媒体変調信号の変動を検出することにより、検出精度
が欠陥の大きさに依存せず、且、欠陥の影響をより現実
に近く測定できる欠陥検査が行なえる。

又、欠陥検出用の信号を記録媒体に記録、消去する必要
がないため、欠陥検査の時間が短縮できるという効果も
有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図。 第２図は第１図に示す実施例に於ける媒体変調信号波形
及びＯＲ９の出力波形図。 第３図はデータ記録単位の構成図。 第４図は従来例を示すブロック図。 第５図は第４図に示す従来例に於ける媒体変調信号波形
図。 光学式記録媒体 光学ヘッド コンパレータ 記録領域検出器 　２ ３ ４ ５ ６ ７ ８ カウンタ クロック発生器 エラー計数器 パターンＲＯＭ 記録信号発生器 データ判別器 データ比較器 以上

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 記録領域のデータを予め消去してある光学式記録媒体に
   対し、光学ヘッドを用いて前記光学式記録媒体の記録領
   域内の媒体変調信号を検出し、前記媒体変調信号の信号
   レベル変化を検出する信号レベル変化検出手段と、前記
   信号レベル変化検出手段からの出力を受け、少なくとも
   ２つ以上の信号レベル変化が所定の時間よりも近接して
   生じた場合には、これを連続した１つの信号レベル変化
   と見なし、又、所定の時間よりも離れて生じた場合には
   、これを独立した信号レベル変化と見なして、その信号
   レベル変化時間に対応した信号を出力する判断手段と、
   前記判断手段の出力を受け、その時間間隔を計測するた
   めの信号レベル変化時間計測手段と、前記信号レベル変
   化時間計測手段からのデータを集計する計数手段を備え
   たことを特徴とする光学式記録媒体の欠陥検査法。