JPS63850B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光ビームによつてデイスク上の記録媒
体に情報を記録する記録装置に関し、特に情報が
正確に記録されているかどうかを記録しながら同
時に確認することができる情報記録装置に関す
る。

従来、高密度にデイジタル情報を記録する装置
において、たとえば磁気デイスク装置において
は、記録前の記録媒体の欠陥を調査するエラーチ
エツクを行い、記録時は記録直後即読出して記録
状態を確認するリード・フオワイル・ライト
（Read While Write）機能を有し、さらに信号
にエラーコレクテイングコード（ECC）を付加
することにより、記録情報のエラーレートを格段
に向上させている。

光学的にデイジタル情報を記録する光デイスク
メモリ装置においてもエラーレート向上のために
上記機能を有することが必要となる。その様な装
置として例えば、USP4145758に示されるような
ものがある。

本発明は光デイスク記録装置に関し、記録時に
記録媒体からの反射光束を検出し、その反射光束
より記録状態を記録しながら実時間で確認するリ
ード・フオワイル・ライト機能を持つ光学的な情
報記録装置を提供するものである。

以下図面を用いて本発明を説明する。

第１図は本発明の一実施例を説明するための図
である。図において情報入力装置１から送出され
た並列データは信号変調回路２で直列データとな
つて光源である半導体レーザ駆動回路３へ導かれ
る。駆動回路により直接パルス変調をうけた半導
体レーザ４からのレーザ光束は、レンズ５、半透
鏡６、反射ミラー７、絞り込みレンズ８を通つて
光デイスク９の記録媒体１０に１〜2μm程度に収
束する。光デイスク９は、記録媒体１０として用
いられる金属（Bi、Al等）、カルコゲンガラス材
料（As、Ge、Te、Se等）がガラス、アクリル板
等の基板１４上に1000〜1000Å程度の薄膜として
蒸着されて構成されている。記録媒体１０は収束
されたスポツトのためにON―OFF（穴の有無）
の状態でデータを記録する。記録時にはデイスク
９からの反射光束が反射によつて再び記録時と同
じ光路を通り、半透鏡６によつて分離されて光検
出器１１へ導びかれる。

この時の半導体レーザの変調信号と光検出器１
１から得られる反射信号の関係は第２図ａおよび
ｂの如くなる。

第２図ａに示すように半導体レーザの変調信号
は、記録情報を表わすパルス成分PLと読み出し
光に相当する直流成分DCが重畳した波形となつ
ている。かかる変調信号で変調されたレーザ光束
がデイスク９に照射されると、デイスク９からの
反射光束が、検出器１１により検出されて第２図
ｂに示すような反射信号が得られる。即ち、反射
信号は、レーザが高出力パワーとなるパルス成分
PLでは記録媒体１０の温度上昇に要するＴ秒間
は、最大ピーク値を有し、記録媒体に穴があきは
じめると、反射信号は減少していき、そして上記
パルス成分が存在しなくなつてもDC成分が存在
するので、記録が完了した穴によつてDC成分は
さらに減少し続けるのである。したがつてスポツ
ト記録のような穴の有無により情報を記録する場
合には、上記パルス成分がなくなつた直後のDC
成分に再生信号の波形に対応した減少部分が存在
し、この減少部分（おおよそ100nsec）を検出す
ることにより、記録した穴の有無を確認できる。
かかる変調信号のDC成分の減少を検出すること
は、特にスポツト記録の場合の穴の有無を確認す
るのに有効である。ここに、スポツト記録とは光
ビームのスポツトと同じ形のピツト（穴）を記録
媒体に形成し、上記ピツトの有無により情報記録
を行う記録である。このような記録においては、
光ビームが記録媒体を照射する時間内に、光スポ
ツトが記録媒体上を移動する距離が、スポツト径
よりも小さい場合である。即ち、スポツト径を
ｄ、デイスクの直径Ｄ、その回転数Ｎ、ビームの
照射時間ΔTとしたとき ｄπDN・ΔT の関係が満足される場合である。例えばｄを2μm
とすれば、Ｎは4rps、ΔTは250nsである。

かかるスポツト記録では、スポツトが小さくな
ればなるほど反射信号の減少を最大ピーク値を含
むパルス成分の減少で検出することがむずかしく
なるので、DC成分の減少で検出した方が、反射
信号の減少つまり穴の存在の検出を確実に行なう
ことができる。

以下、光ビーム照射後のDC成分の減少部分を
所定のしきい値と比較して検出することにより、
記録媒体上の穴の有無を確認する場合を図面によ
り説明する。

第３図は、上記の場合の一実施例の構成を示す
図であり、第２図ｃ〜ｈはその動作を説明するた
めの波形図である。

記録中のエラーとしては(1)穴があかなかつた場
合、(2)記録パルスがないのに穴があいていた（記
録媒体の欠陥など）場合がある。これらは第２図
ｂにおいて(1)は＊印、(2)は＊＊印の如く示してい
る。而して、光検出器１１で受光された反射光束
は増幅器１２で増幅され、エラー検出回路１３へ
導かれる。このエラー検出回路１３の構成が第３
図に示されている。第３図において、反射信号
（第２図ｂ）と所定のしきい値を示すコンパレー
タレベルＥ１とを比較器１３１において比較すれ
ば、第２図ｃの波形Ａを得る。次に光変調信号の
立下りのタイミングでモノマルチバイブレータ１
３２によりパルス幅ｔ（たとえば150nsee〜
500nsee）の波形Ｂを発生させる（第２図ｄ）。＊
＊印のエラーを検出するには、波形Ａと波形Ｂを
インバートした信号との論理積をAND素子１３
３でとればよい（第２図ｇで示す波形Ｃ）。＊印
のエラー検出は波形Ａと波形Ｂの論理積をAND
素子１３４でとつた後（第２図ｅで示す、波形
Ｄ）、この波形をＤ形フリツプフロツプ１３６の
Ｄ端子へ入力し、Ｄ形フリツプフロツプ１３６の
クロツク端子（CK）には、光変調信号をインバ
ートした信号を遅延素子１３５でΔt（例えば約
50nsee）遅らせて入力すると、CK端子の立上り
時にＤ端子のレベルが出力端子へとり込まれるの
で、出力端子には波形Ｅ（第２図ｆ）を得る。

＊印エラーの発生を表わす波形“Ｅ”と＊＊印
エラーの発生を表わす波形ＣをOR素子１３７で
論理和をとつた波形Ｆ（第２図ｈ）が、記録時に
おいて発生したエラーの検出信号となる。

もし、エラー検出信号が発生した時には、今記
録したデータに誤まりが発生したと判断し、同じ
データを別の記録場所に記録することにより常に
誤まりのないデータ記録を行う。

以上の実施例では記録用光源として半導体レー
ザを用いて説明したが、気体レーザ（たとえば
He―Neレーザ、Arレーザ）を用いた場合にも
同様の結果を得ることを確認してある。

以上述べた如く、本発明によれば穴の有無によ
りデータの記録を行うスポツト記録において、確
実に信号が記録されたか否かのエラー検出が可能
な情報記録装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を説明するための記録装置の構
成を示す図、第２図は、本発明の動作を説明する
ための図、第３図は、第１図に示す装置の要部の
一実施例を示す図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 情報信号を表わすパルス成分と読み出し光に
   相当する直流成分とを有する変調信号で強度変調
   された光ビームを光学手段によつて集束し、光学
   的に記録媒体へ上記情報信号を記録する情報記録
   装置において、上記光ビームが上記記録媒体によ
   り反射されて生ずる反射光を検出する光検出手段
   と、上記光検知手段からの出力信号を所定のしき
   い値レベルと比較して上記直流成分に相当するレ
   ベルの変化を検出する検出手段とを設け、上記検
   出手段の出力により上記記録媒体への上記情報信
   号の記録状態を確認することを特徴とする情報記
   録装置。