JPH03122841A - 光学式記録媒体の欠陥検査法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、レーザ等の光を微小径のスポットに絞り、情
報を記録、再生、消去する光学式記録媒体の欠陥を検査
する検査方法に関する。

〔従来の技術］ 光磁気記録に代表される光学式記録媒体では、第４図に
示すように１つのデータ記録単位（セクタ）が、認識領
域と、記録領域とから構成されている。

記録領域は、光学式記録媒体の性質を利用し、所望のデ
ータを記録、再生及び消去するための領域である。一方
、認識領域はそのセクタに関する認識用データ、例えば
トラック番号やセクタ番号等を記録媒体表面の物理的な
凹凸（プリピット）によって予め記録されている領域で
ある。この認識用データを再生するには、反射光信号で
ある媒体表面反射信号（プリピット信号）からプリピッ
トを検出している。

従来の欠陥検査法は、第５図に示す構成をしている。

まず、光学式記録媒体１からのプリピット信号を光学ヘ
ッド２で得、記録領域検出器１５によってセクタ、及び
その中の認識領域、記録領域を判断する。記録領域が認
識されると、パターンＲＯＭ２Ｃに記憶してある検査用
記録データに基づき、記録信号発生器１７によって記録
信号を発生させ、これを光学ヘッド２を用いて記録する
。

次に、この記録された信号を光学ヘッド２で再生し、媒
体変調信号を得る。この媒体変調信号を増幅器６で所望
の信号レベルまで増幅し、更に信号内の不要な成分をフ
ィルタ８によって取り除いた後、データ判別器１８によ
って再生データを得る。この再生データとパターンＲＯ
Ｍ１６に記憶させている記録データとが一致しているか
どうかをデータ比較器１９で調べる。ここで両者が一致
しなかった場合、その記録信号の書き込まれた部分に欠
陥が存在すると判断し、エラー計数器１４に記録される
。

検査用記録データは、欠陥検出時の分解能を均一化する
ためと、記録信号発生器、データ判別器等の回路構成を
簡略化するために、記録信号が単一周波数の信号になる
ようなデータを使用することが多い。このような記録デ
ータを使用した際の正常な再生信号と、欠陥が存在する
ためにデータ誤りを生じる再生信号の波形例を第６図に
示す。

（ａ）は欠陥が存在しないときの再生信号であり、（ｂ
）はＴで示した区間に欠陥が存在するときの再生信号で
ある。

［発明が解決しようとする課題］ しかし従来技術では、欠陥が検出された場合でも、それ
が傷や歪みなど記録媒体表面の機械的問題であるのか、
あるいは記録媒体物性に起因する問題であるのか区別出
来ず、その相関関係を調べられないという問題点を有す
る。

又、記録信号の周期よりも長い欠陥については検出可能
であるが、周期以下の短い欠陥については、記録信号を
書き込む際の様々な変動要因によるずれに依存し、必ず
しも検出できるとは限らない。即ち、記録媒体上におけ
る欠陥と記録信号の物理的位置の関係によっては、欠陥
が存在しても再生信号に影響を及ぼすとは限らないとい
う現象が生じる。これを解決するには、記録信号の周期
を短くする、即ち記録信号の周波数を高くすれば良いの
であるが、光学ヘッドの記録再生特性、及び記録媒体の
周波数特性により、再生信号の品質が劣化し、欠陥が存
在しなくても雑音等の別な要因で再生データが誤ってし
まうという問題も有する。

その他、測定対象領域全体に測定用の信号を記録しなけ
ればならないため、大容量の記録媒体を検査する場合、
非常に時間がかかってしまうという問題も有する。

そこで本発明はこのような問題点を解決するのもので、
その目的とするところは、欠陥の大きさに依存しない安
定した欠陥検出と、欠陥の発生要因を特定できる光学式
記録媒体の欠陥検査法を提供するところにある。

［課題を解決するための手段］ 本発明の光学式記録媒体の欠陥検査法は、記録領域のデ
ータを予め消去してある光学式記録媒体に対し、光学ヘ
ッドを用いて前記光学式記録媒体の記録領域内の媒体変
調信号と媒体表面反射信号を検出し、前記媒体変調信号
と前記媒体表面反射信号に対し、それぞれ信号レベル変
化検出手段と、前記信号レベル変化検出手段からの信号
を受け、その時間間隔を計測するための信号レベル変化
時間計測手段を２系統備え、前記信号レベル変化時間計
測手段からのデータを集計する計数手段を備えたことを
特徴とする。

［実施例］ 以下本発明について詳細に説明する。

第１図は本発明の光学式記録媒体の欠陥検査法の一実施
例である。

予め記録領域が消去された状態の光学式記録媒体１に対
し、光学ヘッド２を眉いてプリピット信号３と媒体変調
信号４を得る。両信号はそれぞれ増幅器５．６で所望の
信号レベルまで増幅された後、フィルタ７．８によって
ノイズ等の不要な成分を取り除かれる。

増幅、整形後のプリピット信号の波形例を第２図に示す
。欠陥が存在しない場合は（ａ）のように機幅が一定で
あるが、媒体表面に傷などが存在すると媒体表面の反射
光量が変化し、（ｂ）のように変化する。ここで増幅、
整形後のブリピット信号をコンパレータ９に入力し、予
め設定したレベルＲｗ、またはＲｗ’　でコンパレート
することにより、Ｔｗ、またはＴ　ｗ　’のパルス幅を
持つプリピット信号からの欠陥信号が得られる。カウン
タ１１では、この欠陥信号と、クロック発生器１３から
のパルス幅測長用クロック信号、記録領域検出器１５か
らのカウント制御信号をもとに記録領域に於けるプリピ
ット信号からの欠陥長データを生成する。

一方、増幅、整形後の媒体変調信号の波形例を第３図に
示す。

欠陥が存在しない場合は（ａ）に示すような振幅ゼロの
信号であるが、欠陥が存在すると（ｂ）に示すようなエ
クストラパルスが現れる。ここでこの信号をコンパレー
タ１０に入力し、予め設定したレベルＲｍ、またはＲｍ
’　でコンパレートすることにより、ＴｍまたはＴ　ｍ
　’　のパルス幅を持つ欠陥信号が得られる。カウンタ
１２では、この欠陥信号と、クロック発生器１３からの
パルス幅測長用クロック信号、記録領域検出器１５から
のカウント制御信号を元に記録領域に於ける媒体変調信
号からの欠陥長データを生成する。

エラー計数器１４では、プリピット信号を元にした欠陥
長データと、媒体変調信号を元にした欠陥長データの２
つのデータを受けて欠陥の数及びその大きさをそれぞれ
の場合について記録する。

［発明の効果］ 以上、説明したように、本発明によれば欠陥の影響によ
る再生信号の変動をプリピット信号と媒体変調信号につ
いて検出することにより、検出精度が欠陥の大きさに依
存せず、且、その発生要因を判別比来る欠陥検査が行な
える。

又、欠陥検出層の信号を記録媒体に記録、消去する必要
がないため、欠陥検査の時間が短縮できるという効果も
有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図。 第２図は第１図に示す実施例に於けるプリピット信号波
形図。 第３図は第１図に示す実施例に於ける媒体変調信号波形
図。 第４図はデータ記録単位の構成図。 第５図は従来例を示すブロック図。 第６図は第５図に示す従来例に於ける媒体変調信号波形
図。 ９、１０ １１　、１２ ３ ４ ５ ６ ７ ８ １つ 光学式記録媒体 光学ヘッド コンパレータ カウンタ クロツタ発生器 エラー計数器 記録領域検出器 パターンＲＯＭ 記録信号発生器 データ判別器 データ比較器 以上

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 記録領域のデータを予め消去してある光学式記録媒体に
   対し、光学ヘッドを用いて前記光学式記録媒体の記録領
   域内の媒体変調信号と媒体表面反射信号を検出し、前記
   媒体変調信号と前記媒体表面反射信号に対し、それぞれ
   信号レベル変化検出手段と、前記信号レベル変化検出手
   段からの信号を受け、その時間間隔を計測するための信
   号レベル変化時間計測手段を２系統備え、前記信号レベ
   ル変化時間計測手段からのデータを集計する計数手段を
   備えたことを特徴とする光学式記録媒体の欠陥検査法。