JP3074183B2 - 情報記録媒体および情報記録媒体評価装置 - Google Patents
情報記録媒体および情報記録媒体評価装置Info
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- JP3074183B2 JP3074183B2 JP02260543A JP26054390A JP3074183B2 JP 3074183 B2 JP3074183 B2 JP 3074183B2 JP 02260543 A JP02260543 A JP 02260543A JP 26054390 A JP26054390 A JP 26054390A JP 3074183 B2 JP3074183 B2 JP 3074183B2
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- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ディスクや磁気ディスクなどの情報記録
媒体と、その評価装置に関する。
媒体と、その評価装置に関する。
光ディスクや磁気ディスクなどの情報記録媒体は、基
板の表面に例えばスパッタリング法や真空蒸着法などの
真空成膜法によって記録層を積層して成るが、大面積の
基板上に無欠陥の記録層を成膜することは事実上困難で
あり、記録層の一部に欠陥を有する場合の方がむしろ普
通である。
板の表面に例えばスパッタリング法や真空蒸着法などの
真空成膜法によって記録層を積層して成るが、大面積の
基板上に無欠陥の記録層を成膜することは事実上困難で
あり、記録層の一部に欠陥を有する場合の方がむしろ普
通である。
欠陥が目視検査によって発見されるような大欠陥であ
る場合には、その情報記録媒体は生産ラインにおいて不
良品として処理される。これに対し、欠陥が目視検査に
よっては発見されないような小欠陥、例えばピンホール
のようなものである場合には、その欠陥の発生個所を当
該情報記録媒体自体に登録して欠陥を含む記録エリアを
予め使用できないようにし、残余の部分を有効に使用で
きるようにしている。
る場合には、その情報記録媒体は生産ラインにおいて不
良品として処理される。これに対し、欠陥が目視検査に
よっては発見されないような小欠陥、例えばピンホール
のようなものである場合には、その欠陥の発生個所を当
該情報記録媒体自体に登録して欠陥を含む記録エリアを
予め使用できないようにし、残余の部分を有効に使用で
きるようにしている。
第５図は、従来より知られている光ディスクのゾーン
分割例を示す説明図であって、内周側より、例えば当該
光ディスクの記録／再生特性など情報の記録／再生動作
を行う際にドライブおよびコントローラが必要とするデ
ータや、生産者が品質管理のために記録するデータ等が
記録された第１の管理ゾーン１と、ユーザが情報の記録
／再生に使用するユーザゾーン２と、前記第１の管理情
報とほぼ同様のデータが記録された第２の管理ゾーン３
とに分割されている。さらに、前記ユーザゾーンは、内
周側より、使用を開始する以前の初期欠陥データが登録
される第１のインデクス領域４と、ユーザ情報と記録す
るユーザ領域５と、使用開始後に発生した事後欠陥デー
タが登録される第２のインデクス領域６とに分割されて
いる。前記ユーザゾーン２には、渦巻状もしくは同心円
状にトラック（図示せず）が配列され、またトラックの
周方向は多数のセクタ7a〜7xに分割されて、各トラック
の各セクタごとに情報の記録、再生、消去または削除が
行えるようになっている。
分割例を示す説明図であって、内周側より、例えば当該
光ディスクの記録／再生特性など情報の記録／再生動作
を行う際にドライブおよびコントローラが必要とするデ
ータや、生産者が品質管理のために記録するデータ等が
記録された第１の管理ゾーン１と、ユーザが情報の記録
／再生に使用するユーザゾーン２と、前記第１の管理情
報とほぼ同様のデータが記録された第２の管理ゾーン３
とに分割されている。さらに、前記ユーザゾーンは、内
周側より、使用を開始する以前の初期欠陥データが登録
される第１のインデクス領域４と、ユーザ情報と記録す
るユーザ領域５と、使用開始後に発生した事後欠陥デー
タが登録される第２のインデクス領域６とに分割されて
いる。前記ユーザゾーン２には、渦巻状もしくは同心円
状にトラック（図示せず）が配列され、またトラックの
周方向は多数のセクタ7a〜7xに分割されて、各トラック
の各セクタごとに情報の記録、再生、消去または削除が
行えるようになっている。
第６図は、セクタフォーマットの一例を示す説明図で
あって、SMは各セクタ7a〜7xの開始位置を示すセクタマ
ーク、VFO1およびVFO2はID1,ID2,ID3に記録されたトラ
ックナンバーおよびセクタナンバーを読み出すに必要な
クロックの引き込み信号が記録された基準周波数信号
部、AMはトラックナンバーの開始位置を示すアドレスマ
ーク、CRCはID1,ID2,ID3から読み出されたトラックナン
バー及びセクタナンバーのデータにエラーが含まれてい
ないかどうかをチェックする情報、PAはヘッダー部の終
了位置を示すポストアンブルであって、前記SMなしいID
3には所定の情報がプリピットの形で記録されている。
あって、SMは各セクタ7a〜7xの開始位置を示すセクタマ
ーク、VFO1およびVFO2はID1,ID2,ID3に記録されたトラ
ックナンバーおよびセクタナンバーを読み出すに必要な
クロックの引き込み信号が記録された基準周波数信号
部、AMはトラックナンバーの開始位置を示すアドレスマ
ーク、CRCはID1,ID2,ID3から読み出されたトラックナン
バー及びセクタナンバーのデータにエラーが含まれてい
ないかどうかをチェックする情報、PAはヘッダー部の終
了位置を示すポストアンブルであって、前記SMなしいID
3には所定の情報がプリピットの形で記録されている。
また、ODFは光スポットのオフセットを検知するため
何らの信号も書き込まれないフラグ領域、FlagはData F
ieldに情報が書き込まれたことを示すフラグ、ALPCは情
報の記録／再生に必要なレーザーパワーを決めるための
領域、GapはODFとFlag,FalgとALPCとの間に設定された
空き領域、VFO3はData Fieldに記録されたユーザー情報
等を読み出すに必要なクロックの引き込み信号が記録さ
れた基準周波数信号部、SyncはVFO3の同期に用いられる
情報が記録される領域、Bufferは緩衝領域である。
何らの信号も書き込まれないフラグ領域、FlagはData F
ieldに情報が書き込まれたことを示すフラグ、ALPCは情
報の記録／再生に必要なレーザーパワーを決めるための
領域、GapはODFとFlag,FalgとALPCとの間に設定された
空き領域、VFO3はData Fieldに記録されたユーザー情報
等を読み出すに必要なクロックの引き込み信号が記録さ
れた基準周波数信号部、SyncはVFO3の同期に用いられる
情報が記録される領域、Bufferは緩衝領域である。
一方、光ディスク評価装置には、記録層の欠陥を検出
する欠陥検出部と、記録エラーを検出するエラー検出部
と、光ディスクに情報を書き込む記録部とが備えられて
おり、前記欠陥検出部およびエラー検出部を駆動して欠
陥検出およびエラー検出部を行ったのち、前記記録部を
駆動して欠陥のあるセクタおよびエラーを発生したセク
タを不良セクタとして前記第１のインデクス領域４また
は第２のインデクス領域６に登録するようになってい
る。
する欠陥検出部と、記録エラーを検出するエラー検出部
と、光ディスクに情報を書き込む記録部とが備えられて
おり、前記欠陥検出部およびエラー検出部を駆動して欠
陥検出およびエラー検出部を行ったのち、前記記録部を
駆動して欠陥のあるセクタおよびエラーを発生したセク
タを不良セクタとして前記第１のインデクス領域４また
は第２のインデクス領域６に登録するようになってい
る。
ところで、記録層に欠陥があると、そこから腐食など
が進行しやすく、時間の経過とともに欠陥の大きさが徐
々に拡大する場合がある。このため、当初に欠陥がな
く、かつ正常な情報の記録／再生が行えると判定された
領域であっても、欠陥の拡大によって事後的に欠陥やエ
ラーを生じる領域が発生する。
が進行しやすく、時間の経過とともに欠陥の大きさが徐
々に拡大する場合がある。このため、当初に欠陥がな
く、かつ正常な情報の記録／再生が行えると判定された
領域であっても、欠陥の拡大によって事後的に欠陥やエ
ラーを生じる領域が発生する。
前記Data Fieldに関しては、ECCやCRC等の強力なエラ
ー訂正機能をもっているため、仮にData Fieldに情報を
記録した後に当該部分に何らかの欠陥が発生したとして
も、それが大欠陥でないかぎりデータ再生が可能であ
る。また、前記ヘッダー部（第６図のSMからPAまでの領
域）の一部に欠陥が発生したとしても、VFO,AM,IDは各
セクタごとに複数個記録されているため、そのうちの１
つが読み出せれば何ら支障なくデータ再生を行うことが
できる。
ー訂正機能をもっているため、仮にData Fieldに情報を
記録した後に当該部分に何らかの欠陥が発生したとして
も、それが大欠陥でないかぎりデータ再生が可能であ
る。また、前記ヘッダー部（第６図のSMからPAまでの領
域）の一部に欠陥が発生したとしても、VFO,AM,IDは各
セクタごとに複数個記録されているため、そのうちの１
つが読み出せれば何ら支障なくデータ再生を行うことが
できる。
しかるに、前記VFO3またはSyncの領域に欠陥が事後的
に発生し、これらの情報が一方でも読めなくなると、こ
れに代る代替領域がなく、かつエラー訂正機能もないた
め、データ再生がほとんど不可能になる。
に発生し、これらの情報が一方でも読めなくなると、こ
れに代る代替領域がなく、かつエラー訂正機能もないた
め、データ再生がほとんど不可能になる。
かかる不都合は、光ディスクの欠陥検出およびエラー
検出を行って欠陥またはエラーを起したセクタをインデ
クス領域4,6に登録するといった従来の評価方法によっ
ては防止することができず、従来の評価方法は、貴重な
データの消失防止を図る上で何の対策にもなっていな
い。
検出を行って欠陥またはエラーを起したセクタをインデ
クス領域4,6に登録するといった従来の評価方法によっ
ては防止することができず、従来の評価方法は、貴重な
データの消失防止を図る上で何の対策にもなっていな
い。
本発明は、前記した従来技術の不備を解決するために
なされたものであって、欠陥の経時的な拡大に伴うデー
タ再生不良を防止可能な情報記録媒体と、このような情
報記録媒体を製造するに好適な情報記録媒体評価装置を
提供することを目的とするものである。
なされたものであって、欠陥の経時的な拡大に伴うデー
タ再生不良を防止可能な情報記録媒体と、このような情
報記録媒体を製造するに好適な情報記録媒体評価装置を
提供することを目的とするものである。
本発明は、前記の目的を達成するために、情報記録媒
体に関しては、渦巻状もしくは同心円状に配列されたト
ラックの周方向を多数のセクタに分割し、各トラックの
各セクタごとに、情報の記録、再生、消去または削除が
行えるように構成されたデータ領域と、当該データ領域
中に生じた不良セクタに関するデータが登録されるイン
デクス領域とを有する情報記録媒体において、前記イン
デクス領域に、欠陥または信号の書き込みもしくは読み
出しエラーを生じた不良セクタのみならず、当該不良セ
クタを含むトラックと隣接する１乃至複数のトラックで
あって、前記不良セクタに生じた欠陥またはエラーの大
きさに所定の増殖係数を乗ずることにより算出されたト
ラック数に相当するトラックの対応セクタが不良セクタ
として登録されているという構成にした。
体に関しては、渦巻状もしくは同心円状に配列されたト
ラックの周方向を多数のセクタに分割し、各トラックの
各セクタごとに、情報の記録、再生、消去または削除が
行えるように構成されたデータ領域と、当該データ領域
中に生じた不良セクタに関するデータが登録されるイン
デクス領域とを有する情報記録媒体において、前記イン
デクス領域に、欠陥または信号の書き込みもしくは読み
出しエラーを生じた不良セクタのみならず、当該不良セ
クタを含むトラックと隣接する１乃至複数のトラックで
あって、前記不良セクタに生じた欠陥またはエラーの大
きさに所定の増殖係数を乗ずることにより算出されたト
ラック数に相当するトラックの対応セクタが不良セクタ
として登録されているという構成にした。
また、情報記録媒体評価装置に関しては、渦巻状もし
くは同心円状に配列されたトラックの周方向を多数のセ
クタに分割し、各トラックの各セクタごとに、情報の記
録、再生、消去または削除が行えるように構成されたデ
ータ領域と、当該データ領域中に生じた不良セクタに関
するデータが登録されるインデクス領域とを有する情報
記録媒体を装着し、前記トラックを光スポットで連続サ
ーチもしくはサンプリングサーチして、前記データ領域
中の欠陥を検出し、当該欠陥を含むセクタを不良セクタ
として前記インデクス領域に登録する情報記録媒体評価
装置において、当該欠陥を有する不良セクタのみなら
ず、当該不良セクタを含むトラックと隣接する１乃至複
数のトラックであって、前記不良セクタに生じた欠陥ま
たはエラーの大きさに所定の増殖係数を乗ずることによ
り算出されたトラック数に相当するトラックの対応セク
タを、前記インデクス領域に不良セクタとして登録する
という構成にした。
くは同心円状に配列されたトラックの周方向を多数のセ
クタに分割し、各トラックの各セクタごとに、情報の記
録、再生、消去または削除が行えるように構成されたデ
ータ領域と、当該データ領域中に生じた不良セクタに関
するデータが登録されるインデクス領域とを有する情報
記録媒体を装着し、前記トラックを光スポットで連続サ
ーチもしくはサンプリングサーチして、前記データ領域
中の欠陥を検出し、当該欠陥を含むセクタを不良セクタ
として前記インデクス領域に登録する情報記録媒体評価
装置において、当該欠陥を有する不良セクタのみなら
ず、当該不良セクタを含むトラックと隣接する１乃至複
数のトラックであって、前記不良セクタに生じた欠陥ま
たはエラーの大きさに所定の増殖係数を乗ずることによ
り算出されたトラック数に相当するトラックの対応セク
タを、前記インデクス領域に不良セクタとして登録する
という構成にした。
前記手段によると、欠陥がなく、正常な情報の記録／
再生が行えると判定された領域であっても、欠陥の拡大
によって事後的に欠陥やエラーを生じる可能性が見込ま
れる領域については、予め不良セクタとして登録してし
まうので、情報保存性に優れたセクタにしか情報が記録
されない。
再生が行えると判定された領域であっても、欠陥の拡大
によって事後的に欠陥やエラーを生じる可能性が見込ま
れる領域については、予め不良セクタとして登録してし
まうので、情報保存性に優れたセクタにしか情報が記録
されない。
よって、一旦記録されたデータが事後的に再生できな
くなるといった不都合が改善され、信頼性の高い情報記
録媒体を提供することができる。
くなるといった不都合が改善され、信頼性の高い情報記
録媒体を提供することができる。
以下、光ディスクに好適な評価装置を例にとって、本
発明の一実施例を説明する。
発明の一実施例を説明する。
第１図は本実施例に係る光ディスク評価装置の説明図
である。この図において、11は光ディスク、12はレー
ザ、13はビーム整形プリズム、14はコリメータレンズ、
15は第１の偏光ビームスプリッタ、16は対物レンズであ
って、光ディスク11に対するレーザビーム12aの入射系
を構成している。17はλ/2板、18は集光レンズ、19は第
２の偏光ビームスプリッタ、20および21は光検出器、22
は足算増幅器であって、前記対物レンズ16および第１の
偏光ビームスプリッタ15とともにレーザビーム12aの反
射系を構成している。
である。この図において、11は光ディスク、12はレー
ザ、13はビーム整形プリズム、14はコリメータレンズ、
15は第１の偏光ビームスプリッタ、16は対物レンズであ
って、光ディスク11に対するレーザビーム12aの入射系
を構成している。17はλ/2板、18は集光レンズ、19は第
２の偏光ビームスプリッタ、20および21は光検出器、22
は足算増幅器であって、前記対物レンズ16および第１の
偏光ビームスプリッタ15とともにレーザビーム12aの反
射系を構成している。
23はセクタマークSMからのビット数をカウントし、予
め設定された特定エリア、例えばVFO3およひSyncなどの
位置を割り出して特定エリア検出信号ｄを出力するビッ
トカウンタ、25および26はビットカウンタ23より特定エ
リア検出信号ｄが出力されている間、低レベルのスライ
ス信号e,fを出力するスライスレベル可変器、27および2
8は足算増幅器22の出力信号レベルとスライスレベル可
変器25,26の出力信号レベルとを比較して欠陥を検出す
る欠陥検出器、29は前記２つの欠陥検出器27,28のいず
れかが欠陥を検出したときに欠陥信号ｉを出力するオア
回路であって、欠陥の検出系を構成している。
め設定された特定エリア、例えばVFO3およひSyncなどの
位置を割り出して特定エリア検出信号ｄを出力するビッ
トカウンタ、25および26はビットカウンタ23より特定エ
リア検出信号ｄが出力されている間、低レベルのスライ
ス信号e,fを出力するスライスレベル可変器、27および2
8は足算増幅器22の出力信号レベルとスライスレベル可
変器25,26の出力信号レベルとを比較して欠陥を検出す
る欠陥検出器、29は前記２つの欠陥検出器27,28のいず
れかが欠陥を検出したときに欠陥信号ｉを出力するオア
回路であって、欠陥の検出系を構成している。
31は欠陥検査が行われているトラックのナンバーを割
り出すトラックカウンタ、32は欠陥検査が行われている
セクタのナンバーを割り出すセクタカウンタ、33は欠陥
信号30が入力されたときに不良セクタとして登録すべき
トラックの範囲およびセクタを決定する登録セクタ設定
回路、34は登録セクタ設定回路33の出力信号によって光
ディスク11のインデクス領域４または６に登録すべき信
号を発生する信号発生回路、35は装置全体を制御する制
御回路であって、不良セクタの登録系を構成している。
り出すトラックカウンタ、32は欠陥検査が行われている
セクタのナンバーを割り出すセクタカウンタ、33は欠陥
信号30が入力されたときに不良セクタとして登録すべき
トラックの範囲およびセクタを決定する登録セクタ設定
回路、34は登録セクタ設定回路33の出力信号によって光
ディスク11のインデクス領域４または６に登録すべき信
号を発生する信号発生回路、35は装置全体を制御する制
御回路であって、不良セクタの登録系を構成している。
次に、前記実施例にかかる光ディスク評価装置の動作
について説明する。
について説明する。
制御回路35によって、レーザ12より出射されるレーザ
ビーム12aの強度を欠陥検出レベルに制御するととも
に、レーザビーム12aを所望のトラックにアクセスす
る。
ビーム12aの強度を欠陥検出レベルに制御するととも
に、レーザビーム12aを所望のトラックにアクセスす
る。
レーザ12より出射されたレーザビーム12aは、ビーム
整形プリズム13、コリメータレンズ14、第１の偏光ビー
ムスプリッタ15、対物レンズ16を介して光ディスク11の
所望のトラック上にフォーカスされる。光ディスク11に
入射されたレーザビーム12aは記録層（図示せず）にて
反射され、対物レンズ16、第１の偏光ビームスプリッタ
15、λ/2板17、集光レンズ18、第２の偏光ビームスプリ
ッタ19を介して、光検出器20,21に入射される。
整形プリズム13、コリメータレンズ14、第１の偏光ビー
ムスプリッタ15、対物レンズ16を介して光ディスク11の
所望のトラック上にフォーカスされる。光ディスク11に
入射されたレーザビーム12aは記録層（図示せず）にて
反射され、対物レンズ16、第１の偏光ビームスプリッタ
15、λ/2板17、集光レンズ18、第２の偏光ビームスプリ
ッタ19を介して、光検出器20,21に入射される。
光検出器20,21は、入射されたレーザビーム12aの強度
に比例した電気信号a,bを出力し、足算増幅器22は光検
出器20,21より出力された電気信号a,bを足算して所定レ
ベルに増幅された和信号ｃを出力する。光ディスク11に
欠陥があると、欠陥がない部分に比べて、光検出器20,2
1に入射するレーザビーム12aの強度が減少または増加す
る。従って、足算増幅器22より出力される和信号ｃに
も、第２図（ｂ）に示すように、欠陥の大きさに比例し
た出力変動が現れる。
に比例した電気信号a,bを出力し、足算増幅器22は光検
出器20,21より出力された電気信号a,bを足算して所定レ
ベルに増幅された和信号ｃを出力する。光ディスク11に
欠陥があると、欠陥がない部分に比べて、光検出器20,2
1に入射するレーザビーム12aの強度が減少または増加す
る。従って、足算増幅器22より出力される和信号ｃに
も、第２図（ｂ）に示すように、欠陥の大きさに比例し
た出力変動が現れる。
ビットカウンタ23は、セクタマークSMからのビット数
をカウントし、予め設定された特定エリア、例えばVFO3
およびSyncなどの位置を割り出して特定エリア検出信号
ｄを出力する。スライスレベル可変器25,26はビットカ
ウンタ23より特定エリア検出信号ｄが出力されている
間、第２図（ｂ）に示すように、低レベルのスライス信
号e,fを出力する。これによって、当該特定エリアにつ
いての欠陥検出が、他の部分に比べて厳密に行われる。
をカウントし、予め設定された特定エリア、例えばVFO3
およびSyncなどの位置を割り出して特定エリア検出信号
ｄを出力する。スライスレベル可変器25,26はビットカ
ウンタ23より特定エリア検出信号ｄが出力されている
間、第２図（ｂ）に示すように、低レベルのスライス信
号e,fを出力する。これによって、当該特定エリアにつ
いての欠陥検出が、他の部分に比べて厳密に行われる。
欠陥検出器27,28は足算増幅器22の出力信号レベルと
スライスレベル可変器25,26の出力信号レベルとを比較
し、スライスレベル可変器25,26の出力信号レベルを超
える足算増幅器22の出力信号がある場合、第２図（ｃ）
に示すように、欠陥信号g,hを出力する。オア回路29
は、前記２つの欠陥検出器27,28のいずれかが欠陥を検
出したときに欠陥信号ｉを出力する。
スライスレベル可変器25,26の出力信号レベルとを比較
し、スライスレベル可変器25,26の出力信号レベルを超
える足算増幅器22の出力信号がある場合、第２図（ｃ）
に示すように、欠陥信号g,hを出力する。オア回路29
は、前記２つの欠陥検出器27,28のいずれかが欠陥を検
出したときに欠陥信号ｉを出力する。
欠陥部のトラックナンバーおよびセクタナンバーは、
トラックカウンタ31およびセクタカウンタ32によって割
り出される。登録セクタ設定回路33は、欠陥信号ｉが入
力されたとき、欠陥が発見されたトラックおよびこれと
隣接する１ないし複数のトラックの当該セクタを指定す
る。指定すべきトラックの本数は、任意に設定可能であ
るが、情報記録媒体に要求される貯蔵年数（５〜50年
間）中に欠陥部から進行する腐食等の及ぶ範囲を実験に
よって求め、かかる腐食が及ぶ範囲をすべて含むような
値に設定することが特に好ましい。例えば、初期欠陥の
大きさをＥ（トラック数）、貯蔵年数中に拡大する欠陥
またはエラーの割合すなわち増殖係数をαとしたとき、
α×Ｅの範囲を不良セクタとして登録する。
トラックカウンタ31およびセクタカウンタ32によって割
り出される。登録セクタ設定回路33は、欠陥信号ｉが入
力されたとき、欠陥が発見されたトラックおよびこれと
隣接する１ないし複数のトラックの当該セクタを指定す
る。指定すべきトラックの本数は、任意に設定可能であ
るが、情報記録媒体に要求される貯蔵年数（５〜50年
間）中に欠陥部から進行する腐食等の及ぶ範囲を実験に
よって求め、かかる腐食が及ぶ範囲をすべて含むような
値に設定することが特に好ましい。例えば、初期欠陥の
大きさをＥ（トラック数）、貯蔵年数中に拡大する欠陥
またはエラーの割合すなわち増殖係数をαとしたとき、
α×Ｅの範囲を不良セクタとして登録する。
信号発生回路34は、登録セクタ設定回路33の出力信号
ｊによって光ディスク11のインデクス領域４または６に
登録すべき信号を発生する。
ｊによって光ディスク11のインデクス領域４または６に
登録すべき信号を発生する。
制御回路35は、対物レンズ16を光ディスク11のインデ
クス領域４または６にトラッキングするとともに、レー
ザ12の出力を記録レベルに上昇し、不良セクタとして登
録されるトラックナンバーおよびセクタナンバーを書き
込む。
クス領域４または６にトラッキングするとともに、レー
ザ12の出力を記録レベルに上昇し、不良セクタとして登
録されるトラックナンバーおよびセクタナンバーを書き
込む。
これによって、欠陥のあるセクタのみならず、将来欠
陥を生じる可能性が高いセクタの使用が禁止された、情
報保存性に優れた光ディスク11が製造される。
陥を生じる可能性が高いセクタの使用が禁止された、情
報保存性に優れた光ディスク11が製造される。
前記実施例においては、光ディスクの欠陥検査を行っ
て、欠陥部およびその隣接領域を不良セクタとして登録
する場合について説明したが、例えば光磁気ディスクの
ように繰り返し消去、再書き込みが可能な光ディスクに
ついては、記録エラーの有無を検出し、エラー発生部お
よびその隣接領域を不良セクタとして登録するようにす
ることもできる。
て、欠陥部およびその隣接領域を不良セクタとして登録
する場合について説明したが、例えば光磁気ディスクの
ように繰り返し消去、再書き込みが可能な光ディスクに
ついては、記録エラーの有無を検出し、エラー発生部お
よびその隣接領域を不良セクタとして登録するようにす
ることもできる。
第３図は、かかるエラー検出手段を備えた光ディスク
評価装置の説明図であって、41はレーザ12より出射され
るレーザビームのパワーを調整する書き込み（WR）パワ
ー調整器、42は光ディスクへの書き込みパターンｋを生
成するWRパターン生成器、43は足算増幅器22の出力信号
ｃを微分する微分回路、44は微分信号ｌを２値化する２
値化回路、45は書き込みパターンｋと２値化信号ｍとを
比較する比較器、46はセクタマークSMからのビット数を
カウントし、予め設定された特定エリア、例えばVFO3お
よびSyncなどの位置を割り出すビットカウンタ、47はエ
ラー位置検出回路、48は特定エリアにおけるエラーの有
無を検出するエラー検出回路であって、その他第１図と
対応する部分には、それと同一の符号が表示されてい
る。
評価装置の説明図であって、41はレーザ12より出射され
るレーザビームのパワーを調整する書き込み（WR）パワ
ー調整器、42は光ディスクへの書き込みパターンｋを生
成するWRパターン生成器、43は足算増幅器22の出力信号
ｃを微分する微分回路、44は微分信号ｌを２値化する２
値化回路、45は書き込みパターンｋと２値化信号ｍとを
比較する比較器、46はセクタマークSMからのビット数を
カウントし、予め設定された特定エリア、例えばVFO3お
よびSyncなどの位置を割り出すビットカウンタ、47はエ
ラー位置検出回路、48は特定エリアにおけるエラーの有
無を検出するエラー検出回路であって、その他第１図と
対応する部分には、それと同一の符号が表示されてい
る。
以下、この装置の動作を第４図（ａ）〜（ｃ）により
説明する。
説明する。
まず、制御回路35によってレーザビーム12aを所望の
トラックにアクセスし、所望のセクタにWRパターン生成
器42によって生成された信号ｋを書き込む。
トラックにアクセスし、所望のセクタにWRパターン生成
器42によって生成された信号ｋを書き込む。
次いで、WRパワー調整器41によってレーザ12より出射
されるレーザビーム12aの強度を再生レベルに調整する
とともに、制御回路35によってレーザビーム12aを再度
信号が書き込まれたトラックにアクセスし、先に書き込
まれた信号を読み出す。
されるレーザビーム12aの強度を再生レベルに調整する
とともに、制御回路35によってレーザビーム12aを再度
信号が書き込まれたトラックにアクセスし、先に書き込
まれた信号を読み出す。
読み出された信号は、微分回路43および２値化回路44
によって、WRパターン生成器42にて生成された信号パタ
ーンｋと対応する２値化信号ｍに変換される。
によって、WRパターン生成器42にて生成された信号パタ
ーンｋと対応する２値化信号ｍに変換される。
比較器45は、第４図（ａ）に示す書き込みパターンｋ
と、第４図（ｂ）に示す２値化信号ｍとを比較し、第４
図（ｃ）に示すエラー検出信号を出力する。エラー検出
回路48は、特定エリアにおけるエラーの有無を検出し、
エラーがある場合には、エラー信号を出力する。
と、第４図（ｂ）に示す２値化信号ｍとを比較し、第４
図（ｃ）に示すエラー検出信号を出力する。エラー検出
回路48は、特定エリアにおけるエラーの有無を検出し、
エラーがある場合には、エラー信号を出力する。
エラーが検出された場合には、前記実施例の場合と同
様にして、光ディスク11のインデクス領域４または６
に、当該エラーを発生したトラックおよびこれと隣接す
る１ないし複数のトラックの当該セクタを不良セクタと
して登録する。
様にして、光ディスク11のインデクス領域４または６
に、当該エラーを発生したトラックおよびこれと隣接す
る１ないし複数のトラックの当該セクタを不良セクタと
して登録する。
なお、前記実施例においては、特定エリアとして、VF
O3とSyncとを選択したが、他の領域を特定領域とするこ
ともできる。
O3とSyncとを選択したが、他の領域を特定領域とするこ
ともできる。
また、前記実施例においては、特定エリアにおける欠
陥の評価基準を他の領域における欠陥の評価基準よりも
厳しくしたが、両者の評価基準を同等にすることもでき
る。
陥の評価基準を他の領域における欠陥の評価基準よりも
厳しくしたが、両者の評価基準を同等にすることもでき
る。
さらに、前記実施例においては、光ディスク評価装置
を例にとって説明したが、磁気ディスク評価装置など他
の情報記録体評価装置にも応用することができる。
を例にとって説明したが、磁気ディスク評価装置など他
の情報記録体評価装置にも応用することができる。
また、前記実施例においては、欠陥検査またはエラー
検出に際して、トラックを光スポットにて連続サーチし
たが、測定時間を短縮するため、予め選択された特定の
トラックをサンプリングサーチすることもできる。この
場合、欠陥領域またはエラー領域が通常複数トラックに
またがる大きさであることを考慮し、欠陥またはエラー
が検出されたトラックのみならず、欠陥またはエラーが
検出されたトラックの前後数トラックの該当セクタをも
不良セクタとしてインデクス領域4,6に登録することも
できる。
検出に際して、トラックを光スポットにて連続サーチし
たが、測定時間を短縮するため、予め選択された特定の
トラックをサンプリングサーチすることもできる。この
場合、欠陥領域またはエラー領域が通常複数トラックに
またがる大きさであることを考慮し、欠陥またはエラー
が検出されたトラックのみならず、欠陥またはエラーが
検出されたトラックの前後数トラックの該当セクタをも
不良セクタとしてインデクス領域4,6に登録することも
できる。
以上説明したように、本発明によると、欠陥またはエ
ラーのあるセクタのみならず、将来欠陥またはエラーを
生じる可能性が高いセクタの使用を禁止するようにした
ので、情報記録媒体の情報保存性を著しく向上すること
ができる。
ラーのあるセクタのみならず、将来欠陥またはエラーを
生じる可能性が高いセクタの使用を禁止するようにした
ので、情報記録媒体の情報保存性を著しく向上すること
ができる。
第１図は本発明に係る情報記録媒体評価装置の一例を示
す説明図、第２図はその動作説明図、第３図は本発明に
係る情報記録媒体評価装置の他の例を示す説明図、第４
図はその動作説明図、第５図は従来より知られている光
ディスクのゾーン分割例を示す説明図、第６図は光ディ
スクのセクタフォーマットの一例を示す説明図である。 11……光ディスク、12……レーザ、13……ビーム整形プ
リズム、14……コリメータレンズ、15……第１の偏光ビ
ームスプリッタ、16……対物レンズ、17……λ/2板、18
……集光レンズ、19……第２の偏光ビームスプリッタ、
20,21……光検出器、22……足算増幅器、23……ビット
カウンタ、25,26……スライスレベル可変器、27,28……
欠陥検出器、29……オア回路、31……トラックカウン
タ、32……セクタカウンタ、33……登録セクタ設定回
路、34……信号発生回路、35……制御回路。
す説明図、第２図はその動作説明図、第３図は本発明に
係る情報記録媒体評価装置の他の例を示す説明図、第４
図はその動作説明図、第５図は従来より知られている光
ディスクのゾーン分割例を示す説明図、第６図は光ディ
スクのセクタフォーマットの一例を示す説明図である。 11……光ディスク、12……レーザ、13……ビーム整形プ
リズム、14……コリメータレンズ、15……第１の偏光ビ
ームスプリッタ、16……対物レンズ、17……λ/2板、18
……集光レンズ、19……第２の偏光ビームスプリッタ、
20,21……光検出器、22……足算増幅器、23……ビット
カウンタ、25,26……スライスレベル可変器、27,28……
欠陥検出器、29……オア回路、31……トラックカウン
タ、32……セクタカウンタ、33……登録セクタ設定回
路、34……信号発生回路、35……制御回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 20/12 G11B 20/10
Claims (10)
- 【請求項１】渦巻状もしくは同心円状に配列されたトラ
ックの周方向を多数のセクタに分割し、各トラックの各
セクタごとに、情報の記録、再生、消去または削除が行
えるように構成されたデータ領域と、当該データ領域中
に生じた不良セクタに関するデータが登録されるインデ
クス領域とを有する情報記録媒体において、前記インデ
クス領域に、欠陥または信号の書き込みもしくは読み出
しエラーを生じた不良セクタのみならず、当該不良セク
タを含むトラックと隣接する１乃至複数のトラックであ
って、前記不良セクタに生じた欠陥またはエラーの大き
さに所定の増殖係数を乗ずることにより算出されたトラ
ック数に相当するトラックの対応セクタが不良セクタと
して登録されていることを特徴とする情報記録媒体。 - 【請求項２】請求項１に記載の情報記録媒体において、
前記各セクタ中の特定エリアであって、事後的に欠陥が
発生して信号が読み出せなくなると、これに変わる代替
領域がなく、かつエラー訂正機能もないエリアに欠陥が
生じており、前記インデクス領域に、当該特定エリアに
欠陥が生じた不良セクタと、当該不良セクタを含むトラ
ックと隣接する１乃至複数のトラックであって、前記不
良セクタに生じた欠陥またはエラーの大きさに所定の増
殖係数を乗ずることにより算出されたトラック数に相当
するトラックの対応セクタが不良セクタとして登録され
ていることを特徴とする情報記録媒体。 - 【請求項３】請求項２に記載の情報記録媒体において、
前記特定エリアが、各セクタ中の基準周波数信号部およ
びシンクパターン記録部であることを特徴とする情報記
録媒体。 - 【請求項４】請求項１に記載の情報記録媒体において、
前記増殖係数は、情報記録媒体の貯蔵年数の関数である
ことを特徴とする情報記録媒体。 - 【請求項５】渦巻状もしくは同心円状に配列されたトラ
ックの周方向を多数のセクタに分割し、各トラックの各
セクタごとに、情報の記録、再生、消去または削除が行
えるように構成されたデータ領域と、当該データ領域中
に生じた不良セクタに関するデータが登録されるインデ
クス領域とを有する情報記録媒体を装着し、前記トラッ
クを光スポットで連続サーチもしくはサンプリングサー
チして、前記データ領域中の欠陥を検出し、当該欠陥を
含むセクタを不良セクタとして前記インデクス領域に登
録する情報記録媒体評価装置において、当該欠陥を有す
る不良セクタのみならず、当該不良セクタを含むトラッ
クと隣接する１乃至複数のトラックであって、前記不良
セクタに生じた欠陥またはエラーの大きさに所定の増殖
係数を乗ずることにより算出されたトラック数に相当す
るトラックの対応セクタを、前記インデクス領域に不良
セクタとして登録することを特徴とする情報記録媒体評
価装置。 - 【請求項６】請求項５に記載の情報記録媒体評価装置に
おいて、前記各セクタ中の特定エリアであって、事後的
に欠陥が発生して信号が読み出せなくなると、これに変
わる代替領域がなく、かつエラー訂正機能もないエリア
に欠陥があった場合、当該特定エリアに欠陥が生じた不
良セクタと、当該不良セクタを含むトラックと隣接する
１乃至複数のトラックであって、前記不良セクタに生じ
た欠陥またはエラーの大きさに所定の増殖係数を乗ずる
ことにより算出されたトラック数に相当するトラックの
対応セクタを、前記インデクス領域に不良セクタとして
登録することを特徴とする情報記録媒体評価装置。 - 【請求項７】請求項６に記載の情報記録媒体評価装置に
おいて、前記特定エリアが、各セクタ中の基準周波数信
号部およびシンクパターン記録部であることを特徴とす
る情報記録媒体評価装置。 - 【請求項８】請求項５に記載の情報記録媒体評価装置に
おいて、前記特定エリアにおける欠陥の評価基準を、他
の領域における欠陥の評価基準よりも厳しくしたことを
特徴とする情報記録媒体評価装置。 - 【請求項９】請求項５に記載の情報記録媒体評価装置に
おいて、前記データ領域に信号を書き込む記録手段と、
前記データ領域に記録された信号を読み出す再生手段
と、書き込み信号と読み出し信号のパターンチェックを
行う比較器とが備えられていることを特徴とする情報記
録媒体評価装置。 - 【請求項１０】請求項５に記載の情報記録媒体評価装置
において、前記情報記録媒体が、光ディスクまたは磁気
ディスクであることを特徴とする情報記録媒体評価装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02260543A JP3074183B2 (ja) | 1990-10-01 | 1990-10-01 | 情報記録媒体および情報記録媒体評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02260543A JP3074183B2 (ja) | 1990-10-01 | 1990-10-01 | 情報記録媒体および情報記録媒体評価装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04141866A JPH04141866A (ja) | 1992-05-15 |
| JP3074183B2 true JP3074183B2 (ja) | 2000-08-07 |
Family
ID=17349421
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02260543A Expired - Lifetime JP3074183B2 (ja) | 1990-10-01 | 1990-10-01 | 情報記録媒体および情報記録媒体評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3074183B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002029809A1 (fr) * | 2000-10-05 | 2002-04-11 | Sony Corporation | Procede et appareil d"enregistrement de donnees |
| KR101669048B1 (ko) | 2014-11-25 | 2016-10-25 | 박영현 | 자체 전원공급이 가능한 가습기 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0668609A (ja) * | 1992-08-20 | 1994-03-11 | Teac Corp | ディスク装置 |
| US7278053B2 (en) | 2003-05-06 | 2007-10-02 | International Business Machines Corporation | Self healing storage system |
| JP5002611B2 (ja) * | 2009-03-26 | 2012-08-15 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | パターンドメディアの表面欠陥検出方法 |
-
1990
- 1990-10-01 JP JP02260543A patent/JP3074183B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002029809A1 (fr) * | 2000-10-05 | 2002-04-11 | Sony Corporation | Procede et appareil d"enregistrement de donnees |
| US6678226B2 (en) | 2000-10-05 | 2004-01-13 | Sony Corporation | Data recording method and data recording apparatus |
| KR101669048B1 (ko) | 2014-11-25 | 2016-10-25 | 박영현 | 자체 전원공급이 가능한 가습기 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04141866A (ja) | 1992-05-15 |
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