JPS5922238A - 光デイスクの記録検査方式 - Google Patents
光デイスクの記録検査方式Info
- Publication number
- JPS5922238A JPS5922238A JP13142382A JP13142382A JPS5922238A JP S5922238 A JPS5922238 A JP S5922238A JP 13142382 A JP13142382 A JP 13142382A JP 13142382 A JP13142382 A JP 13142382A JP S5922238 A JPS5922238 A JP S5922238A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- reflected light
- circuit
- lens
- amplifier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
- G11B27/36—Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明ｄ、光ディスクの記録検査方式に関し、特に記録
ピント（孔）が適正なサイズで形成されたか否かを、記
録動作中に同時的に（６ｒ査する方式〔技術の背版〕 イメージメモリ等に使用される光ディスクでは。
ピント（孔）が適正なサイズで形成されたか否かを、記
録動作中に同時的に（６ｒ査する方式〔技術の背版〕 イメージメモリ等に使用される光ディスクでは。
たとえばトラック間隔が１．６ノｌ ／）ｌで、記録ピ
ットのビット幅が０．６μ／／Ｊ、最大ビット長が１．
７１ Ｉｎ程度のと゛いうような微小なサイズでのＮ’
ｌＶ密な記録制御が行なわれる。１−かし、温度や′Ｉ
イ１源電）Ｅの変１０ｂ１雑音等に、しる記録ビームの
光ｆ１ルベル変化、あるいＩ（＋、ディスクの反りによ
るビームスポットの焦点ずれや、ゴミ、よごれなどの種
々の原因で、ピノトツ゛イズあるい杭］、形状の異常、
ビット脱落々どの異常記録が行なわれろ１局合があろ１
．このため、ｉ＋Ｉｉ常Ｑ」記録結果を検査する必要が
ある。ｌ〜かし、従来は、記録動作と同時に、確実に記
録結果のビットを直接検査する方法がなく、たとえば一
旦、レコード単位での記録処理を終了１−でがら、回転
待ちをして記録データを再生し、これを原データと比較
してエラーあるいは読取り不能のレコードを検出すると
いう方式が多くとられていた。
ットのビット幅が０．６μ／／Ｊ、最大ビット長が１．
７１ Ｉｎ程度のと゛いうような微小なサイズでのＮ’
ｌＶ密な記録制御が行なわれる。１−かし、温度や′Ｉ
イ１源電）Ｅの変１０ｂ１雑音等に、しる記録ビームの
光ｆ１ルベル変化、あるいＩ（＋、ディスクの反りによ
るビームスポットの焦点ずれや、ゴミ、よごれなどの種
々の原因で、ピノトツ゛イズあるい杭］、形状の異常、
ビット脱落々どの異常記録が行なわれろ１局合があろ１
．このため、ｉ＋Ｉｉ常Ｑ」記録結果を検査する必要が
ある。ｌ〜かし、従来は、記録動作と同時に、確実に記
録結果のビットを直接検査する方法がなく、たとえば一
旦、レコード単位での記録処理を終了１−でがら、回転
待ちをして記録データを再生し、これを原データと比較
してエラーあるいは読取り不能のレコードを検出すると
いう方式が多くとられていた。
しかし、この方式では、検査処理のために時間がかかり
、また異常記録の発見が遅れるため、障害範囲が拡大し
、異常記録を含むレコードやｌ・ランクが不必要に増大
するというおそれがあった。
、また異常記録の発見が遅れるため、障害範囲が拡大し
、異常記録を含むレコードやｌ・ランクが不必要に増大
するというおそれがあった。
特に、通常の光デイスク記録は、１替えできない永久記
録であり、異常記録箇所の修復は不可能であるため、上
記の結果として、ディスク上に使用不能となるセクタや
トラックが増大するという問題があった。
録であり、異常記録箇所の修復は不可能であるため、上
記の結果として、ディスク上に使用不能となるセクタや
トラックが増大するという問題があった。
本発明の目的は、光ディスクにおける上述した従来の記
録検査方式の問題点を解決することにあυ、その手段と
して、記録動作時にディスク面を照射した記録ビームの
反射光のレベルが、形成される記録ビットの形状にした
がって特異な変化を示すことに着目し、形成される記録
ピントの一す°イズお」：び形状の異常を、正確に検査
するものである。
録検査方式の問題点を解決することにあυ、その手段と
して、記録動作時にディスク面を照射した記録ビームの
反射光のレベルが、形成される記録ビットの形状にした
がって特異な変化を示すことに着目し、形成される記録
ピントの一す°イズお」：び形状の異常を、正確に検査
するものである。
そしてぞｉｔにより、本発明の（１１１成は、光デイス
ク装置ａにおいて、記録１１ｉ１＋作時に光デイスク面
に入射した記録ビームの反射光を検出１〜Ｃ’ｔｌｃ気
信゛りに変換する手段と、該記録ビームにより形成され
るピットからの反射光に基づいて生じる電気信号中のオ
ーバーシュート部分およびアンダーシュート部分をそれ
ぞれ検出することが可能な高スライスレベルおよび低ス
ライスレベルをもつ）島スライス回路および低スライス
回路とをそなえ、上記高スライス回路が電気信号中のオ
ーバーシー−１・部分を検出してから、上記低スライス
回路がアンダーシュート部分を検出する丑での間の時間
を、予め設定された規定時間と比較し、記録の正否を判
定することを特徴としている。
ク装置ａにおいて、記録１１ｉ１＋作時に光デイスク面
に入射した記録ビームの反射光を検出１〜Ｃ’ｔｌｃ気
信゛りに変換する手段と、該記録ビームにより形成され
るピットからの反射光に基づいて生じる電気信号中のオ
ーバーシュート部分およびアンダーシュート部分をそれ
ぞれ検出することが可能な高スライスレベルおよび低ス
ライスレベルをもつ）島スライス回路および低スライス
回路とをそなえ、上記高スライス回路が電気信号中のオ
ーバーシー−１・部分を検出してから、上記低スライス
回路がアンダーシュート部分を検出する丑での間の時間
を、予め設定された規定時間と比較し、記録の正否を判
定することを特徴としている。
以下に、本発明、を実施例に１−たがって説明する。
はじめに、本発明が適用される従来の一般的シ・光デイ
スク装置の構成についてＲＩｌ明する。第１ｕ７はその
構成図であり、図中、１はＭＦＭ変潤回路、２は駆動回
路、３は半導体レーザ、４はレンズ、５はビームスプリ
ッタ、６は％波長４Ｌ７Ｎ、レンズ、８は光ディスク、
１ｏは基板、 ９に１、感材、１１は記録ビット、１２
はレンズ、１３は光センサ、１４は増幅器、１５は本発
明により新らだに設けられる記録検査方式を示す。
スク装置の構成についてＲＩｌ明する。第１ｕ７はその
構成図であり、図中、１はＭＦＭ変潤回路、２は駆動回
路、３は半導体レーザ、４はレンズ、５はビームスプリ
ッタ、６は％波長４Ｌ７Ｎ、レンズ、８は光ディスク、
１ｏは基板、 ９に１、感材、１１は記録ビット、１２
はレンズ、１３は光センサ、１４は増幅器、１５は本発
明により新らだに設けられる記録検査方式を示す。
入力された記録用ディジタルデータは、Ｍ Ｉ” Ｍ変
調回路１でＭ Ｆ Ｍ信号に変換され、駆動回路２を介
して、半導体レーザ３の出力ビーム光Ｍを制御する。出
力されたレーザビームは、レンズ４、ビーノ、スプリッ
タ５ｓ ’／ａ波長板６、レンズ７を経−Ｃ光デイスク
８の感携°９上に入射され、制ｎｌ！光量に応じて、感
材にピット１１を形成するかあるいは形成しないことに
よって、Ｍ Ｆ Ｉ〜４信りに対応するピット列を記録
する。
調回路１でＭ Ｆ Ｍ信号に変換され、駆動回路２を介
して、半導体レーザ３の出力ビーム光Ｍを制御する。出
力されたレーザビームは、レンズ４、ビーノ、スプリッ
タ５ｓ ’／ａ波長板６、レンズ７を経−Ｃ光デイスク
８の感携°９上に入射され、制ｎｌ！光量に応じて、感
材にピット１１を形成するかあるいは形成しないことに
よって、Ｍ Ｆ Ｉ〜４信りに対応するピット列を記録
する。
このとき、光ディスク８からの反射光は、レンズ７．３
４波長板６を通り、ことで入射光に対して偏波面が、９
０度回転するため、ビームスプリッタ５を通過できずに
レンズ１２の方向へ反射される。レンズ１２を通った反
射光ｉ１ 、光センサ１３で１に気信月に変換され、増
幅器１４で増幅され−Ｃ１図示されていない自動焦点制
御回路あるいはｌ・ラッキング回ｊ１８４＋＞ヘノスら
れる。
４波長板６を通り、ことで入射光に対して偏波面が、９
０度回転するため、ビームスプリッタ５を通過できずに
レンズ１２の方向へ反射される。レンズ１２を通った反
射光ｉ１ 、光センサ１３で１に気信月に変換され、増
幅器１４で増幅され−Ｃ１図示されていない自動焦点制
御回路あるいはｌ・ラッキング回ｊ１８４＋＞ヘノスら
れる。
本発明によるｎＦ４録（寅渣二装（Ｆｒ１．５のｔｉｌ
’ｉ別は後述されるが、増幅器［４から出力さ）１．る
反射光検出信号を利用し、て、これを分析し、記録ピッ
トのザーイズお、ｌ：び形状が規準筒内にあるか否かを
検査する。
’ｉ別は後述されるが、増幅器［４から出力さ）１．る
反射光検出信号を利用し、て、これを分析し、記録ピッ
トのザーイズお、ｌ：び形状が規準筒内にあるか否かを
検査する。
２１１２図）：１、レーザビーム入射光と、形成された
ピットおよび反射光との関係を示す。図中、（１）はレ
ーザビーム、入射光の変化を表わ１７、Ｐｌは“１ルベ
ル、Ｐ、は°Ｏｌレベルに対応する光ｈ１を示す。
ピットおよび反射光との関係を示す。図中、（１）はレ
ーザビーム、入射光の変化を表わ１７、Ｐｌは“１ルベ
ル、Ｐ、は°Ｏｌレベルに対応する光ｈ１を示す。
（ＩＩ） ｌｒ、１．形成されたピットを表わし、入射
）′ＣパターンにλχＪ−して、若干の時間遅れをもっ
てピットが形成されるξと紮示す。 （ｌｌｉ）は反射
光の一変化を表わす。
）′ＣパターンにλχＪ−して、若干の時間遅れをもっ
てピットが形成されるξと紮示す。 （ｌｌｉ）は反射
光の一変化を表わす。
反射光は第１［ツ１の９で示す感旧によってＲ，ｉるが
入射光の微分形に似た波形を示し、オーバーシュート部
力ＳＩ、台状部分Ｓ２、およびアンダーシュート部分Ｓ
３をもっている。
入射光の微分形に似た波形を示し、オーバーシュート部
力ＳＩ、台状部分Ｓ２、およびアンダーシュート部分Ｓ
３をもっている。
第３図に１）、（１））、（Ｃ）はその説明図であり、
１６はレーザビームスボッｌ−１１７は形成されたピッ
トを表わす。
１６はレーザビームスボッｌ−１１７は形成されたピッ
トを表わす。
第２図（Ｉｌｌ）のオーバーシュート部分Ｓ、は、第３
図（ａ）に示すように、感材に入射されたレーザビーム
スボット１６がＰ、レベルに」二昇したばかシのとき、
−まだピット１７が十分な大きさに生成しないために、
反射光のみが強く現われたものである。−マだ、台状部
分Ｓ２は、第３図（ｂ）に示すように、ピット１７が一
定の大きさに形成され、高いｐ、 ｌ／ベルの入射光ス
ポット１６の相当部分がピット１７に吸収された状態に
対応する。更に、アンダーシー−ト部分Ｓ３は、第３図
（Ｃ）に示すように、入射光がＰ。レベルに低下したと
き、なお、スボッ）１６がピン！・１７の一部にかかっ
ているため、無ピツト位置におけるよりも、反射光が更
に減少したものである。
図（ａ）に示すように、感材に入射されたレーザビーム
スボット１６がＰ、レベルに」二昇したばかシのとき、
−まだピット１７が十分な大きさに生成しないために、
反射光のみが強く現われたものである。−マだ、台状部
分Ｓ２は、第３図（ｂ）に示すように、ピット１７が一
定の大きさに形成され、高いｐ、 ｌ／ベルの入射光ス
ポット１６の相当部分がピット１７に吸収された状態に
対応する。更に、アンダーシー−ト部分Ｓ３は、第３図
（Ｃ）に示すように、入射光がＰ。レベルに低下したと
き、なお、スボッ）１６がピン！・１７の一部にかかっ
ているため、無ピツト位置におけるよりも、反射光が更
に減少したものである。
本発明は、第４図（ａ）に示すように、上記のような反
射光におけるオルバーシー−トＳ、およびアンダーシュ
ートＳ３をスライス等に１９検出して、その間の時間Ｔ
を計測し、ビットザイズの適否を判定するものであり、
更に第４図（ｂ）に示すような台状部分Ｓ、のレベル変
動Ｓ４． Ｓ、を検出ｌ〜て、同図（Ｃ）に示すような
ピットにおける形状異常の存在を判定する。
射光におけるオルバーシー−トＳ、およびアンダーシュ
ートＳ３をスライス等に１９検出して、その間の時間Ｔ
を計測し、ビットザイズの適否を判定するものであり、
更に第４図（ｂ）に示すような台状部分Ｓ、のレベル変
動Ｓ４． Ｓ、を検出ｌ〜て、同図（Ｃ）に示すような
ピットにおける形状異常の存在を判定する。
第５図は、第１図に示された氷見ψｊによる記録検査装
置の１実施例の構成図である。同図において、１３は光
七ンーリ゛、１４は増幅器、１５は記録検査装置、１８
は高スライス回路、１９は低スライス回路、２０はカウ
ンタ、２１け規定時間レジスタ、２２は比較器、２１Ｊ
、フリップフロップ、２４はＡ Ｎ 、１）ゲートを示
ず。
置の１実施例の構成図である。同図において、１３は光
七ンーリ゛、１４は増幅器、１５は記録検査装置、１８
は高スライス回路、１９は低スライス回路、２０はカウ
ンタ、２１け規定時間レジスタ、２２は比較器、２１Ｊ
、フリップフロップ、２４はＡ Ｎ 、１）ゲートを示
ず。
スライス回路１８および１９には、ぞ！ＬぞれＪ４図に
示されている高スライスレベルおよヒ低スライスレベル
の電圧が印加されており、光センーリ・１３、増幅器１
４を介して１１（給されて反射光検出信号に対して、高
スライスおよび低スライスを行なう。
示されている高スライスレベルおよヒ低スライスレベル
の電圧が印加されており、光センーリ・１３、増幅器１
４を介して１１（給されて反射光検出信号に対して、高
スライスおよび低スライスを行なう。
高スライス回路１８は、第４図？ａ）のオーバーシュー
ト部分Ｓ、おＪ：び同図（１））のレベル変動部分Ｓ４
、Ｓ６等の高スライスレベル以上の波形部分を検出し、
延スライス回路１９は、アンダーシュート部分Ｓ。
ト部分Ｓ、おＪ：び同図（１））のレベル変動部分Ｓ４
、Ｓ６等の高スライスレベル以上の波形部分を検出し、
延スライス回路１９は、アンダーシュート部分Ｓ。
を検出する。
高スライス回路１８が、はじめにオーバーシュート部分
Ｓ、を検出したとき、カウンタ２ｏをリセットし、そし
てフリップフロップ２３をセットする。フリップフロッ
プ２３のＱ出力は１１″となってＡ Ｎ Ｉ）ゲート２
４に印加され、ｉたカウンタ２０け、クロック信号入力
のカウントを１０″から開始する。
Ｓ、を検出したとき、カウンタ２ｏをリセットし、そし
てフリップフロップ２３をセットする。フリップフロッ
プ２３のＱ出力は１１″となってＡ Ｎ Ｉ）ゲート２
４に印加され、ｉたカウンタ２０け、クロック信号入力
のカウントを１０″から開始する。
次に、低スライス回路１９がアンダーシュート部分Ｓ２
を検出したとき、カウンタ２０のカウント動作は停止さ
れ、そのときのカウント値が、比較器２２の一方の入力
に供給される。比較器２２の他方の入力には、規定時間
レジスタ２１の内容が供給されている。このレジスタ２
１の内容は、光ディスクへの１！Ｊ込み次使用されるＭ
Ｆ Ｍ信号のパルス幅を表わす規定時間値であり、書
込みに先立ってセットされたものである。比較器２２は
、両方の入力値を比較し、不一致の場合に、エラー発生
として、図示しない処理装置に通知する。
を検出したとき、カウンタ２０のカウント動作は停止さ
れ、そのときのカウント値が、比較器２２の一方の入力
に供給される。比較器２２の他方の入力には、規定時間
レジスタ２１の内容が供給されている。このレジスタ２
１の内容は、光ディスクへの１！Ｊ込み次使用されるＭ
Ｆ Ｍ信号のパルス幅を表わす規定時間値であり、書
込みに先立ってセットされたものである。比較器２２は
、両方の入力値を比較し、不一致の場合に、エラー発生
として、図示しない処理装置に通知する。
他方、低スライス回路１９がアンダーシュート部分Ｓ２
を検出する前に、高スライス回路１日がレベル変動部分
Ｓ４ 、８５等を検１１１シたときに口、ＡＮＴ）ゲー
ト２４は一致出力を生じ、同様にエラー発生を処理装置
４．に通知する。
を検出する前に、高スライス回路１日がレベル変動部分
Ｓ４ 、８５等を検１１１シたときに口、ＡＮＴ）ゲー
ト２４は一致出力を生じ、同様にエラー発生を処理装置
４．に通知する。
以上の」、うにして、記録ピントのザイズあるいは形状
異常は、記録動作と同様に検査さノ１．るととができる
。
異常は、記録動作と同様に検査さノ１．るととができる
。
なお、−１一連し／＋実施例において、規定時間データ
を一カウンク２０にプリセラ１ニジ、オーバーシュート
部分検出により減７１カウントし、アンダーシュート部
分検出時にクロックの内容力資ノる一定値以下になって
いるか否によりエラー判定を行なうように構成すること
も可能である。
を一カウンク２０にプリセラ１ニジ、オーバーシュート
部分検出により減７１カウントし、アンダーシュート部
分検出時にクロックの内容力資ノる一定値以下になって
いるか否によりエラー判定を行なうように構成すること
も可能である。
本発明に二より、げ、記録λｌｉυ作１１！ｉ Ｉ’こ
、同時的に記録結果の検査が可能でおるだめ、記録誤り
が発生したときの対応制御を迅速に行なうことを可能に
し、不良記録箇所の領域拡大を抑制することができ、光
ディスクにおける記録処理の効率化を図ることができる
。
、同時的に記録結果の検査が可能でおるだめ、記録誤り
が発生したときの対応制御を迅速に行なうことを可能に
し、不良記録箇所の領域拡大を抑制することができ、光
ディスクにおける記録処理の効率化を図ることができる
。
第１図は光ディスク装（Ｅｌの概略（１・ｆ成因、第２
図お」：び第３図は記録時の反射光の波形説明図、第４
ｒ＞１は本発明実施例の動作原理説明図、第５図は実
施例の構成図で、ちる、。 図中、１３は光センサ、１４は増幅器、１５は記録検査
装置、１８は高スライス回路、１９は低スラ・ｆス回路
、２０はカウンタ、２１は規定時間レジスタ、２２は比
較器を示す。 特瞥出願人 富士通株式会肚 代理人弁理士 長谷用 文 ５（（ （外１名）
図お」：び第３図は記録時の反射光の波形説明図、第４
ｒ＞１は本発明実施例の動作原理説明図、第５図は実
施例の構成図で、ちる、。 図中、１３は光センサ、１４は増幅器、１５は記録検査
装置、１８は高スライス回路、１９は低スラ・ｆス回路
、２０はカウンタ、２１は規定時間レジスタ、２２は比
較器を示す。 特瞥出願人 富士通株式会肚 代理人弁理士 長谷用 文 ５（（ （外１名）
Claims (1)
- 光デイスク装置において、記録動作時に光ディスク面Ｖ
Ｃ入射した記録ビームの反射光を検出して電気信号に一
変換する手段と、該記録ビーノ、により形成されるピッ
トからの反射光に基づいて生じる電気信号中のオーバー
シー−１・部分およびアンダーシ＝、−ト部分をそれぞ
れ検Ｉｌｌすることが可能な高スライスレベルおよび低
スライスレベルをもつ高スライス回路および低スライス
回路とをそなえ、上記高スライス回路が電気信号中のオ
ーバーシュート部分を検出してから、」二組低スライス
回路がアンダーシー−ト部分を検出する止での間の時間
を、予め設定された規定時間と比較し、記録の正否を判
定することを特徴とする光ディスクの記録検査方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13142382A JPS5922238A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | 光デイスクの記録検査方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13142382A JPS5922238A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | 光デイスクの記録検査方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5922238A true JPS5922238A (ja) | 1984-02-04 |
Family
ID=15057609
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13142382A Pending JPS5922238A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | 光デイスクの記録検査方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5922238A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04356099A (ja) * | 1991-06-21 | 1992-12-09 | Yamaha Corp | 電子楽器の押鍵割当て装置 |
| WO2002047073A1 (fr) * | 2000-12-06 | 2002-06-13 | Sony Corporation | Appareil et procede d'enregistrement |
-
1982
- 1982-07-28 JP JP13142382A patent/JPS5922238A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04356099A (ja) * | 1991-06-21 | 1992-12-09 | Yamaha Corp | 電子楽器の押鍵割当て装置 |
| WO2002047073A1 (fr) * | 2000-12-06 | 2002-06-13 | Sony Corporation | Appareil et procede d'enregistrement |
| US7038980B2 (en) | 2000-12-06 | 2006-05-02 | Sony Corporation | Optical disk recording apparatus and optical disk recording method |
| US7324414B2 (en) | 2000-12-06 | 2008-01-29 | Sony Corporation | Apparatus and method of optical disk recording while detecting vibration |
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