JPS5922237A - 光デイスクの記録位置誤り検査方式 - Google Patents
光デイスクの記録位置誤り検査方式Info
- Publication number
- JPS5922237A JPS5922237A JP13142282A JP13142282A JPS5922237A JP S5922237 A JPS5922237 A JP S5922237A JP 13142282 A JP13142282 A JP 13142282A JP 13142282 A JP13142282 A JP 13142282A JP S5922237 A JPS5922237 A JP S5922237A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- reflected light
- optical disk
- lens
- optical disc
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
- G11B27/36—Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、光デイスク装置における記録位置誤シ検査方
式に関し、特に既じ記録済みのトラックあるいはセクタ
を誤って選択し、２重書込みを行なった場合についての
、記録動作中における同時的検査方式に関する。
式に関し、特に既じ記録済みのトラックあるいはセクタ
を誤って選択し、２重書込みを行なった場合についての
、記録動作中における同時的検査方式に関する。
一般のデータ処理目的に使用される光デイスク装置では
、たとえば、トラックピッチ１．６μ７７１１ ビッ
ト幅０．６２ｍ１回転数１８０Ｏｒｐｍなどの条件にお
いて、高速での微細なシーク制御、トラッキングおよび
フォーカシング制御等を行なわなければならない。しか
し、ディスクの反り、偏心、面搗れ、あるいは制御系に
生じる温度変化や雑音等の影響によυ、トラックとび等
のアクセス誤動作が生じ、目的トラックとは異なるトラ
ックをアクセスして記録動作を行なうことがある。
、たとえば、トラックピッチ１．６μ７７１１ ビッ
ト幅０．６２ｍ１回転数１８０Ｏｒｐｍなどの条件にお
いて、高速での微細なシーク制御、トラッキングおよび
フォーカシング制御等を行なわなければならない。しか
し、ディスクの反り、偏心、面搗れ、あるいは制御系に
生じる温度変化や雑音等の影響によυ、トラックとび等
のアクセス誤動作が生じ、目的トラックとは異なるトラ
ックをアクセスして記録動作を行なうことがある。
光ディスクに限らず、磁気ディスクの場合にも共通する
ことであるが、一旦トラックをシークして、記録動作を
行なっている状態では、ヘッドが真に目的トラック上に
あって正しい記録を行なっているか否かを知ることはで
きない。そのため、従来は、記録動作が終了した後に再
生動作を行ない、記録データの正当性チェックを行なっ
ていた。
ことであるが、一旦トラックをシークして、記録動作を
行なっている状態では、ヘッドが真に目的トラック上に
あって正しい記録を行なっているか否かを知ることはで
きない。そのため、従来は、記録動作が終了した後に再
生動作を行ない、記録データの正当性チェックを行なっ
ていた。
しかし、上記したトラック選択エラーの場合には、以前
にデータを記録したトラックあるいはセクタを破壊して
いることがあり、記録動作終了後の正当性チェックで誤
動作が検出されたとしても、被害が既にかなシの範囲に
及んでいる場合がある。
にデータを記録したトラックあるいはセクタを破壊して
いることがあり、記録動作終了後の正当性チェックで誤
動作が検出されたとしても、被害が既にかなシの範囲に
及んでいる場合がある。
特に永久記録型の光ディスクでは、誤って２重に書込ま
れた領域のデータ修復は不可能であるので、影響が大き
い。
れた領域のデータ修復は不可能であるので、影響が大き
い。
本発明の目的は、上述した従来の記録位置誤り検査方式
における問題点を解決することにあり、その手段として
、記録動作期間中に、照射ビームが記録ピントを形成し
ない低い光量レベルにあって、しかも自から形成した記
録ビットからの反射光の影響を受けない期間にディスク
面からの反射光を監視して、先行する記録ビットの有無
を検出するものである。
における問題点を解決することにあり、その手段として
、記録動作期間中に、照射ビームが記録ピントを形成し
ない低い光量レベルにあって、しかも自から形成した記
録ビットからの反射光の影響を受けない期間にディスク
面からの反射光を監視して、先行する記録ビットの有無
を検出するものである。
それにより、本発明の構成は、光デイスク装置において
、ディジタル記録信号により制御されて光デイスク上に
記録ピットを形成するための記録ビームを発生する手段
と、」二組ディジタル記録信号から光デイスク上にビッ
トを形成しない期間を表わすチェックタイミング信号を
生成する手段と、光ディスク」二に入射された記録ビー
ムの反射光を電気的に検出する手段とをそなえ、該反射
光検出手段は、上記チェックタイミング信号の存在期間
中に一定レベル以下の反射光の入力を検出したとき、記
録位置の誤υを判定することを特徴とするものである。
、ディジタル記録信号により制御されて光デイスク上に
記録ピットを形成するための記録ビームを発生する手段
と、」二組ディジタル記録信号から光デイスク上にビッ
トを形成しない期間を表わすチェックタイミング信号を
生成する手段と、光ディスク」二に入射された記録ビー
ムの反射光を電気的に検出する手段とをそなえ、該反射
光検出手段は、上記チェックタイミング信号の存在期間
中に一定レベル以下の反射光の入力を検出したとき、記
録位置の誤υを判定することを特徴とするものである。
以下に、本発明を実施例にしたがって説明する。
はじめに、本発明が適用される従来の一般的な光デイス
ク装置の構成について説明する。第１図はその構成図で
あシ、図中、１はＭＦＭ変調回路、２は駆動回路、３は
半導体レーザ、４はレンズ、５はビームスプリッタ、６
は鷲波長板、７はレンズ、８は光ディスク、１０は基板
、 ９は感材、１１は記録ピット、１２はレンズ、１
３・は光センサ、１４は増幅器、１５は本発明により新
らだに設けられる記録検査装置を示す。
ク装置の構成について説明する。第１図はその構成図で
あシ、図中、１はＭＦＭ変調回路、２は駆動回路、３は
半導体レーザ、４はレンズ、５はビームスプリッタ、６
は鷲波長板、７はレンズ、８は光ディスク、１０は基板
、 ９は感材、１１は記録ピット、１２はレンズ、１
３・は光センサ、１４は増幅器、１５は本発明により新
らだに設けられる記録検査装置を示す。
入力された記録用ディジタルデータは、Ｍ Ｆ Ｍ変調
回路１でＭＦＭ信号に変換され、駆動回路２を介して、
半導体レーザ３の出力ビーム光量を制御する。出力され
たレーザビームは、レンズ４、ビームスプリッタ５、腫
波長板６、レンズ７を経て光ディスク８の感材９上に入
射され、制御光量に応じて、感材にビット１１を形成す
るかあるいは形成しないことによって、ＭＦＭ信号に対
応するピット列を記録する０ このとき、光ディスク８からの反射光は、レンズ７、職
波長板６を通り、ここで入射光に対して偏波面が９０度
可回転るため、ビームスプリッタ５を通過できずにレン
ズ１２の方向へ反射さｉする。
回路１でＭＦＭ信号に変換され、駆動回路２を介して、
半導体レーザ３の出力ビーム光量を制御する。出力され
たレーザビームは、レンズ４、ビームスプリッタ５、腫
波長板６、レンズ７を経て光ディスク８の感材９上に入
射され、制御光量に応じて、感材にビット１１を形成す
るかあるいは形成しないことによって、ＭＦＭ信号に対
応するピット列を記録する０ このとき、光ディスク８からの反射光は、レンズ７、職
波長板６を通り、ここで入射光に対して偏波面が９０度
可回転るため、ビームスプリッタ５を通過できずにレン
ズ１２の方向へ反射さｉする。
レンズ１２を通った反射光は、光センサ１３で電気信号
に変換され、増幅器１４で増幅されて、図示されていな
い自動焦点制御回路あるいはトラッキング回路等へ送ら
れる０ 本発明によ、る記録検査装置１５の詳細は後述されるが
、増幅器１４から出力される反射光検出信号を利用して
、これを分析し、先行する記録ピットの有無を検出する
ものである。
に変換され、増幅器１４で増幅されて、図示されていな
い自動焦点制御回路あるいはトラッキング回路等へ送ら
れる０ 本発明によ、る記録検査装置１５の詳細は後述されるが
、増幅器１４から出力される反射光検出信号を利用して
、これを分析し、先行する記録ピットの有無を検出する
ものである。
第２図は、レーザビーム入射光と、形成されたビットお
よび反射光との関係を示す。図中（１）はレーザビーム
入射光の変化を表わし、Ｐｌは゛Ｉルベル、Ｐａは１０
ルベルに対応する光量を示す。
よび反射光との関係を示す。図中（１）はレーザビーム
入射光の変化を表わし、Ｐｌは゛Ｉルベル、Ｐａは１０
ルベルに対応する光量を示す。
（ＩＩ）は形成されたピッ）・を表わし、入射光ノくタ
ーンに対して、若干の時間遅れをもってビットが形成さ
れることを示す。（Ｉｌｌ）は反射光の変化を表わす。
ーンに対して、若干の時間遅れをもってビットが形成さ
れることを示す。（Ｉｌｌ）は反射光の変化を表わす。
反射光は入射光の微分形に似た波形を示し、オーバーシ
ュート部分Ｓ、％台状部分Ｓ７、アンダーシュート部分
８３％基底部分Ｓ４からなっている。
ュート部分Ｓ、％台状部分Ｓ７、アンダーシュート部分
８３％基底部分Ｓ４からなっている。
オーバーシュート部分ＳＩハ、レーザビーム入射光の光
量がＰ、レベルに上昇してからビットが形成される寸で
の間の反射量が多い期間に対応し、アンダーシュート部
分Ｓ、は、逆に光量がＰ。レベルに下降シて、なおかつ
ビームスポットがビット部分にかかっているため反射量
も小さい期間に対応して生じる。
量がＰ、レベルに上昇してからビットが形成される寸で
の間の反射量が多い期間に対応し、アンダーシュート部
分Ｓ、は、逆に光量がＰ。レベルに下降シて、なおかつ
ビームスポットがビット部分にかかっているため反射量
も小さい期間に対応して生じる。
基底部分Ｓ４は、レーザビーム入射光の光量がＰ。
レベルに低下し、しかもビームスポットがディスク面の
無ビットすなわち未記録の領域にあって反射率が高い期
間の状態である。
無ビットすなわち未記録の領域にあって反射率が高い期
間の状態である。
もしも記録のために選択されたトラックあるいはセクタ
が、既に先行する記録動作によυピットが形成済みの領
域であったものとすれば、上記のＳ１期間に１その記録
ピットに遭遇する可能性がおり、そのとき反射率の低下
から、基底部分Ｓ４には、アンダーシュート部分Ｓ、の
ように、更に下方ヘシフトするレベル変動部分が現われ
る。本発明実施例では、この下方へのレベル変動部分を
スライスして取出し、エラー発生通知を行なう。
が、既に先行する記録動作によυピットが形成済みの領
域であったものとすれば、上記のＳ１期間に１その記録
ピットに遭遇する可能性がおり、そのとき反射率の低下
から、基底部分Ｓ４には、アンダーシュート部分Ｓ、の
ように、更に下方ヘシフトするレベル変動部分が現われ
る。本発明実施例では、この下方へのレベル変動部分を
スライスして取出し、エラー発生通知を行なう。
第３図は、第１図に示した本発明による記録検査装置１
５の実施例回路構成図であり、第４図はその動作波形図
である。
５の実施例回路構成図であり、第４図はその動作波形図
である。
第３図において、１はＭＦＭ変調回路、２は駆動回路、
３は半導体レーザ、５はビームスプリッタ、８は光ディ
スク、１３は光センサ、１４は増幅器、１５は記録検査
装置、１６は遅延回路、１７および１８はインバータ、
１９はＮＯＲゲート、２０はスライス回路、２１はＡＮ
Ｄゲート、２２はラッチを示す。
３は半導体レーザ、５はビームスプリッタ、８は光ディ
スク、１３は光センサ、１４は増幅器、１５は記録検査
装置、１６は遅延回路、１７および１８はインバータ、
１９はＮＯＲゲート、２０はスライス回路、２１はＡＮ
Ｄゲート、２２はラッチを示す。
また第４図の波形■、■、■、■、■は、第３図におい
て、同一記号で参照されている部分の波形を示している
。
て、同一記号で参照されている部分の波形を示している
。
ＭＦＭ変調回路１からのディジタル記録信号■は、遅延
回路１６、インバータ１７および１８、ＮＯ・Ｒゲート
１９からなる回路において、チェックタイミング信号■
に変換され、ＡＮＤゲート２１に供給される。チェック
タイミング信号Ｏは、第２図で説明した反射光検出信号
■中のピット記録動作の影響部分Ｓ１、Ｓｌ、Ｓ３のな
い、すなわち基底部分Ｓ４内の期間を検査期間として指
定する。遅延回路１６は、アンダーシュート部分Ｓ３を
除くための遅延時間をもっている。
回路１６、インバータ１７および１８、ＮＯ・Ｒゲート
１９からなる回路において、チェックタイミング信号■
に変換され、ＡＮＤゲート２１に供給される。チェック
タイミング信号Ｏは、第２図で説明した反射光検出信号
■中のピット記録動作の影響部分Ｓ１、Ｓｌ、Ｓ３のな
い、すなわち基底部分Ｓ４内の期間を検査期間として指
定する。遅延回路１６は、アンダーシュート部分Ｓ３を
除くための遅延時間をもっている。
スライス回路２０は、反射光検出信号Ｏ中のアンダーシ
ュート部分Ｓ８および先行記録ピットによるレベル変動
部分Ｓ、を含む下方部分をスライスし、スライス信号＠
としてＡＮＤゲート２１に供給する。ＡＮＤゲート２１
は、チェックタイミング信号Ｏにより、スライス信号■
から、先行記録ピットによるレベル変動部分Ｓ、のみを
抽出し、ラッチ２２をセットし、エラー発生信号■を、
処理装置へ通知する。
ュート部分Ｓ８および先行記録ピットによるレベル変動
部分Ｓ、を含む下方部分をスライスし、スライス信号＠
としてＡＮＤゲート２１に供給する。ＡＮＤゲート２１
は、チェックタイミング信号Ｏにより、スライス信号■
から、先行記録ピットによるレベル変動部分Ｓ、のみを
抽出し、ラッチ２２をセットし、エラー発生信号■を、
処理装置へ通知する。
以上述べたように、本発明によれば、光ディスクの記録
動作時に、記録中のトラックあるいはセクタ領域が、未
記録領域であるかあるいは既に記録されている領域であ
るかを、同時に検出することができるので、記録済みの
トラックあるいはセクタの２重記録による破壊を早期に
検出し、被害範囲を小さく限定することができる。また
その結果として修復処理に要する時間も短縮できるので
、従来方式にくらべて、光ディスクの有効利用スペース
を増大させ、そして記録処理能率を改善することができ
る。
動作時に、記録中のトラックあるいはセクタ領域が、未
記録領域であるかあるいは既に記録されている領域であ
るかを、同時に検出することができるので、記録済みの
トラックあるいはセクタの２重記録による破壊を早期に
検出し、被害範囲を小さく限定することができる。また
その結果として修復処理に要する時間も短縮できるので
、従来方式にくらべて、光ディスクの有効利用スペース
を増大させ、そして記録処理能率を改善することができ
る。
第１図は光デイスク装置の概略構成図、第２図はその動
作波形図、第３図は記録検査装置の実施例回路図、Ｍ４
図はその動作波形図である。 図中、１はＭ Ｆ Ｍ変調回路、２は駆動回路、３は半
導体レーザ、８は光ディスク、１３は光センサ、１５は
記録検査装置、１６は遅延回路、−１７および１８はイ
ンパーク、１９はＮ ＯＲゲート、２０はスライス回路
、２１はＡＮＤゲート、２２はう・ソチを示す。 特許出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 長谷用 文 廣 （外１名）
作波形図、第３図は記録検査装置の実施例回路図、Ｍ４
図はその動作波形図である。 図中、１はＭ Ｆ Ｍ変調回路、２は駆動回路、３は半
導体レーザ、８は光ディスク、１３は光センサ、１５は
記録検査装置、１６は遅延回路、−１７および１８はイ
ンパーク、１９はＮ ＯＲゲート、２０はスライス回路
、２１はＡＮＤゲート、２２はう・ソチを示す。 特許出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 長谷用 文 廣 （外１名）
Claims (1)
- 光デイスク装置において、ディジタル記録信号により制
御されて光デイスク上に記録ビットを形成するだめの記
録ビームを発生する手段と、上記ディジタル記録信号か
ら光デイスク上にピットを形成し々い期間を表わすチェ
ックタイミング信号を生成する手段と、光デイスク上に
入射された記録ビームの反射光を電気的に検出する手段
とをそなえ、該反射光検出手段は、上記チェックタイミ
ング信号の存在期間中に一定レベル以下の反射光の入力
を検出したとき、記録位置の誤シ左判定することを特徴
とする光ディスクの記録検査方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13142282A JPS5922237A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | 光デイスクの記録位置誤り検査方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13142282A JPS5922237A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | 光デイスクの記録位置誤り検査方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5922237A true JPS5922237A (ja) | 1984-02-04 |
Family
ID=15057586
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13142282A Pending JPS5922237A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | 光デイスクの記録位置誤り検査方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5922237A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0182127A2 (en) * | 1984-11-19 | 1986-05-28 | International Business Machines Corporation | System for preventing the overwriting of previously optically recorded data and for reading optically recorded data during writing |
| US4901301A (en) * | 1987-06-18 | 1990-02-13 | Pioneer Electronic Corporation | Region detection system for detecting empty sectors on a recording medium |
-
1982
- 1982-07-28 JP JP13142282A patent/JPS5922237A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0182127A2 (en) * | 1984-11-19 | 1986-05-28 | International Business Machines Corporation | System for preventing the overwriting of previously optically recorded data and for reading optically recorded data during writing |
| JPS61126643A (ja) * | 1984-11-19 | 1986-06-14 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 光学的デ−タ記録装置 |
| US4901301A (en) * | 1987-06-18 | 1990-02-13 | Pioneer Electronic Corporation | Region detection system for detecting empty sectors on a recording medium |
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