JPH07107739B2 - 磁気ディスク媒体におけるバウンド傷の自動検査方法 - Google Patents
磁気ディスク媒体におけるバウンド傷の自動検査方法Info
- Publication number
- JPH07107739B2 JPH07107739B2 JP22174487A JP22174487A JPH07107739B2 JP H07107739 B2 JPH07107739 B2 JP H07107739B2 JP 22174487 A JP22174487 A JP 22174487A JP 22174487 A JP22174487 A JP 22174487A JP H07107739 B2 JPH07107739 B2 JP H07107739B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bound
- waveform
- magnetic disk
- flaw
- scratches
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Digital Magnetic Recording (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 磁気ディスク媒体表面におけるバウンド傷を検出する方
法に関し、 バウンド傷を自動的にかつ正確に検出可能とすることを
目的とし、 磁気ディスク媒体の表面のバウンド傷を検出する際に、
ミッシングパルスを検出し、該ミッシングパルスをトリ
ガーとして、所定時間ゲートを開放し、ゲート開放の間
のみ、エンベロープ波形を通過させ、バウンド傷波形と
して取り出すように構成する。
法に関し、 バウンド傷を自動的にかつ正確に検出可能とすることを
目的とし、 磁気ディスク媒体の表面のバウンド傷を検出する際に、
ミッシングパルスを検出し、該ミッシングパルスをトリ
ガーとして、所定時間ゲートを開放し、ゲート開放の間
のみ、エンベロープ波形を通過させ、バウンド傷波形と
して取り出すように構成する。
磁気ディスク装置は、非磁性基板の表面に磁性膜を形成
してなる磁気ディスク媒体を高速回転させ、磁気ヘッド
を浮上させた状態で、情報の記録／再生が行なわれる。
このように磁気ディスク媒体表面と磁気ヘッドとは微小
な浮上ギャップを介して対向するため、磁気ディスク媒
体表面に突起などが有ると、磁気ヘッドが接触してバウ
ンドし、磁気ディスク媒体表面にバウンド傷が発生す
る。本発明は、このような磁気ディスク媒体表面におけ
るバウンド傷を自動的に検出する方法に関する。
してなる磁気ディスク媒体を高速回転させ、磁気ヘッド
を浮上させた状態で、情報の記録／再生が行なわれる。
このように磁気ディスク媒体表面と磁気ヘッドとは微小
な浮上ギャップを介して対向するため、磁気ディスク媒
体表面に突起などが有ると、磁気ヘッドが接触してバウ
ンドし、磁気ディスク媒体表面にバウンド傷が発生す
る。本発明は、このような磁気ディスク媒体表面におけ
るバウンド傷を自動的に検出する方法に関する。
第４図に示すように、磁気ディスク媒体１を高速回転さ
せ、試験用の磁気ヘッド２を浮上させた状態で、予め記
録されている試験情報を再生すると、第５図のように一
定振幅の交流波形が得られる。この交流波形の頂点を結
んでなるエンベロープ波形３を検出すると、エラー検出
に極めて有効である。ところが磁性塗膜に微小な欠陥が
有ると、４で示すように、局所的にエンベロープ波形の
振幅が小さくなり、出力が低下する。これを整形して検
出することで、ミッシングパルスを得て、ミッシングエ
ラーを検査できる。
せ、試験用の磁気ヘッド２を浮上させた状態で、予め記
録されている試験情報を再生すると、第５図のように一
定振幅の交流波形が得られる。この交流波形の頂点を結
んでなるエンベロープ波形３を検出すると、エラー検出
に極めて有効である。ところが磁性塗膜に微小な欠陥が
有ると、４で示すように、局所的にエンベロープ波形の
振幅が小さくなり、出力が低下する。これを整形して検
出することで、ミッシングパルスを得て、ミッシングエ
ラーを検査できる。
これに対し、第５図の５で示すように、磁気ヘッドの形
状によって決まる一定周期のエンベロープの振動波形が
検出される。これは、磁気ヘッド２が磁気ディスク媒体
１の表面に接触してバウンドしたときに発生する波形で
ある。
状によって決まる一定周期のエンベロープの振動波形が
検出される。これは、磁気ヘッド２が磁気ディスク媒体
１の表面に接触してバウンドしたときに発生する波形で
ある。
磁気ヘッド２が磁気ディスク媒体１に接触しバウンドす
ると、バウンド傷が発生すると共に、ヘッドクラッシュ
などを引き起こし、飛び散った破片などによって、新た
な傷を引き起こす恐れがある。したがってバウンド傷が
１箇所でも有ると不良媒体となるので、バウンド傷の検
出は特に正確性が要求される。
ると、バウンド傷が発生すると共に、ヘッドクラッシュ
などを引き起こし、飛び散った破片などによって、新た
な傷を引き起こす恐れがある。したがってバウンド傷が
１箇所でも有ると不良媒体となるので、バウンド傷の検
出は特に正確性が要求される。
バウンド傷は、第５図に示すように、常にミッシング波
形４の後に発生している。そのため、従来は、ミッシン
グパルスを検出し、発生個所をプリンタなどでリストア
ップし、ミッシングパルスの発生個所について、シンク
ロスコープなどによって波形観測しバウンド傷を判別し
ている。このとき、磁気ヘッドのコアスライダ部の“レ
ール長／幅”によって、バウンド時の波形が決まるた
め、この条件に当てはまる波形を検出することで、バウ
ンド傷である、と判定している。
形４の後に発生している。そのため、従来は、ミッシン
グパルスを検出し、発生個所をプリンタなどでリストア
ップし、ミッシングパルスの発生個所について、シンク
ロスコープなどによって波形観測しバウンド傷を判別し
ている。このとき、磁気ヘッドのコアスライダ部の“レ
ール長／幅”によって、バウンド時の波形が決まるた
め、この条件に当てはまる波形を検出することで、バウ
ンド傷である、と判定している。
しかしながら、このように従来の方法は、一旦ミッシン
グエラーを検査し、ミッシングエラーの発生個所につい
て、作業者がバウンド傷の有無を測定器で観測しチェッ
クしなければならないため、作業者の負担が大きく、能
率が悪い。しかもミッシングエラー発生個所に対するバ
ウンド傷の発生確率が低いため、作業能率が一層低下す
る。
グエラーを検査し、ミッシングエラーの発生個所につい
て、作業者がバウンド傷の有無を測定器で観測しチェッ
クしなければならないため、作業者の負担が大きく、能
率が悪い。しかもミッシングエラー発生個所に対するバ
ウンド傷の発生確率が低いため、作業能率が一層低下す
る。
本発明の技術的課題は、従来のバウンド傷検出方法にお
けるこのような問題を解消し、バウンド傷を自動的にか
つ正確に検出可能とすることにある。
けるこのような問題を解消し、バウンド傷を自動的にか
つ正確に検出可能とすることにある。
第１図は本発明による磁気ディスク媒体におけるバウン
ド傷の自動検査方法の基本概念を説明するフローチャー
トである。磁気ディスク媒体の表面のバウンド傷を検出
する際に、まずステップ（１）において、ミッシングパ
ルスを検出し、該ミッシングパルスをトリガーとして、
ステップ（２）において、所定時間ゲートを開放する。
そしてゲート開放の間のみ、エンベロープ波形を通過さ
せ、バウンド傷波形として取り出す。
ド傷の自動検査方法の基本概念を説明するフローチャー
トである。磁気ディスク媒体の表面のバウンド傷を検出
する際に、まずステップ（１）において、ミッシングパ
ルスを検出し、該ミッシングパルスをトリガーとして、
ステップ（２）において、所定時間ゲートを開放する。
そしてゲート開放の間のみ、エンベロープ波形を通過さ
せ、バウンド傷波形として取り出す。
〔作用〕 バウンド傷は、ミッシングパルスの直後に発生するた
め、ミッシングパルスをトリガーとして、所定時間ゲー
トを開放すると、ミッシングパルスの直後に発生したバ
ウンド傷波形がゲートを通過し、バウンド傷として検出
される。このこき、ゲートの開放時間の長さによって、
当該磁気ヘッドによるバウンド傷かどうかが正確に検出
できる。すなわち磁気ヘッドの形状や寸法、磁気ディス
ク媒体の回転速度によって、バウンド傷の波形すなわち
周波数成分や波形継続時間が異なるため、試験に使用し
た磁気ヘッドにおけるバウンド傷波形の継続時間を測定
することで、ゲートの開放時間を予め設定しておく。こ
れによって、当該磁気ヘッドによるバウンド傷波形のみ
が正確にかつ自動的に検出される。
め、ミッシングパルスをトリガーとして、所定時間ゲー
トを開放すると、ミッシングパルスの直後に発生したバ
ウンド傷波形がゲートを通過し、バウンド傷として検出
される。このこき、ゲートの開放時間の長さによって、
当該磁気ヘッドによるバウンド傷かどうかが正確に検出
できる。すなわち磁気ヘッドの形状や寸法、磁気ディス
ク媒体の回転速度によって、バウンド傷の波形すなわち
周波数成分や波形継続時間が異なるため、試験に使用し
た磁気ヘッドにおけるバウンド傷波形の継続時間を測定
することで、ゲートの開放時間を予め設定しておく。こ
れによって、当該磁気ヘッドによるバウンド傷波形のみ
が正確にかつ自動的に検出される。
次に本発明による磁気ディスク媒体におけるバウンド傷
の自動検査方法が実際上どのように具体化されるかを実
施例で説明する。第２図は本発明による磁気ディスク媒
体におけるバウンド傷の自動検査方法を実施する検査回
路のブロック図、第３図は同回路の各部における波形を
示す図である。第２図において、被試験磁気ディスク媒
体１に対し磁気ヘッド２を浮上させて、既に記録されて
いる情報を検出し、R/W回路６で再生する。このときの
再生波形は、第５図のような交流波形となるが、エンベ
ロープ検出回路７を通過することで、第３図（ａ）のよ
うなエンベロープ波形３が検出される。このエンベロー
プ波形３を、バンドパスフィルター８に入力すること
で、バウンド傷に近い周波数の信号のみを通過させ、バ
ウンド傷波形とは全く関係の無い波形を除去する。そし
てノイズ弁別回路９を通過させ、スライスをかけること
で、ノイズ成分を除去する。エンベロープ波形３は、第
３図（ａ）に示すように、対称形状をしているため、ノ
イズ弁別回路９において、差動増幅器を使用することに
よっても、非対称ノイズ成分を除去できる。
の自動検査方法が実際上どのように具体化されるかを実
施例で説明する。第２図は本発明による磁気ディスク媒
体におけるバウンド傷の自動検査方法を実施する検査回
路のブロック図、第３図は同回路の各部における波形を
示す図である。第２図において、被試験磁気ディスク媒
体１に対し磁気ヘッド２を浮上させて、既に記録されて
いる情報を検出し、R/W回路６で再生する。このときの
再生波形は、第５図のような交流波形となるが、エンベ
ロープ検出回路７を通過することで、第３図（ａ）のよ
うなエンベロープ波形３が検出される。このエンベロー
プ波形３を、バンドパスフィルター８に入力すること
で、バウンド傷に近い周波数の信号のみを通過させ、バ
ウンド傷波形とは全く関係の無い波形を除去する。そし
てノイズ弁別回路９を通過させ、スライスをかけること
で、ノイズ成分を除去する。エンベロープ波形３は、第
３図（ａ）に示すように、対称形状をしているため、ノ
イズ弁別回路９において、差動増幅器を使用することに
よっても、非対称ノイズ成分を除去できる。
10はミッシングパルス検出回路であり、ミッシングパル
スは、総て検出される。すなわちミッシングパルスに
は、バウンド傷と関係なしに発生するもの、バウンド傷
の直前に発生するものなどが有るが、総て検出される。
そして第３図（ｂ）のようなミッシングパルスをトリガ
ーとして、（ｃ）のようなワンショット信号を発生し、
単安定マルチバイブレータ11などから成る時間設定回路
を作動させ、ノイズ弁別回路９のゲートを開放する。そ
の結果、（ｄ）で示すように、この単安定マルチバイブ
レータ11でゲートが開放している間のみ、ノイズ弁別回
路９が作動して、エンベロープ波形３が通過し、（ｅ）
のように、バウンド傷部分のエンベロープ波形５のみが
検出される。このエンベロープ波形を整形することで、
（ｆ）のようなバウンド傷パルスが得られる。
スは、総て検出される。すなわちミッシングパルスに
は、バウンド傷と関係なしに発生するもの、バウンド傷
の直前に発生するものなどが有るが、総て検出される。
そして第３図（ｂ）のようなミッシングパルスをトリガ
ーとして、（ｃ）のようなワンショット信号を発生し、
単安定マルチバイブレータ11などから成る時間設定回路
を作動させ、ノイズ弁別回路９のゲートを開放する。そ
の結果、（ｄ）で示すように、この単安定マルチバイブ
レータ11でゲートが開放している間のみ、ノイズ弁別回
路９が作動して、エンベロープ波形３が通過し、（ｅ）
のように、バウンド傷部分のエンベロープ波形５のみが
検出される。このエンベロープ波形を整形することで、
（ｆ）のようなバウンド傷パルスが得られる。
このようにミッシングパルスをトリガーとして、その後
のエンベロープ波形を通過させるが、エンベロープ波形
は、バンドパスフィルター８などによって、バウンド傷
と関係の無い波形は除去されるため、バウンドパルス検
出回路12には、バウンド傷と無関係の波形が現れること
は無い。
のエンベロープ波形を通過させるが、エンベロープ波形
は、バンドパスフィルター８などによって、バウンド傷
と関係の無い波形は除去されるため、バウンドパルス検
出回路12には、バウンド傷と無関係の波形が現れること
は無い。
また被試験磁気ディスク媒体の回転速度や磁気ヘッドの
形状、寸法などによって、バウンド傷波形は固有の周波
数を持ち、その継続時間も異なるため、試験開始前にこ
のバウンド傷波形継続時間を検出し、単安定マルチバイ
ブレータ11を設定することで、当該磁気ヘッドによるバ
ウンド傷のみが正確に検出される。
形状、寸法などによって、バウンド傷波形は固有の周波
数を持ち、その継続時間も異なるため、試験開始前にこ
のバウンド傷波形継続時間を検出し、単安定マルチバイ
ブレータ11を設定することで、当該磁気ヘッドによるバ
ウンド傷のみが正確に検出される。
以上のように本発明によれば、使用する磁気ヘッドによ
って、バウンド傷部は固有の周波数成分を有しているこ
とと、バウンド傷はミッシングパルスの直後に発生する
ことに着目し、ミッシングパルスをトリガーとして、時
間設定回路によってエンベロープ波形の通過時間を規定
している。そのため、最も問題となる、ミッシングパル
ス発生後のバウンド傷波形のみを正確に、かつ自動的に
検出することができる。
って、バウンド傷部は固有の周波数成分を有しているこ
とと、バウンド傷はミッシングパルスの直後に発生する
ことに着目し、ミッシングパルスをトリガーとして、時
間設定回路によってエンベロープ波形の通過時間を規定
している。そのため、最も問題となる、ミッシングパル
ス発生後のバウンド傷波形のみを正確に、かつ自動的に
検出することができる。
第１図は本発明による磁気ディスク媒体におけるバウン
ド傷の自動検査方法の基本原理を説明する動作フローチ
ャート、第２図は同バウンド傷検査方法の実施例を示す
ブロック図、第３図は同回路の各部における波形図、第
４図は磁気ヘッドによるバウンド傷の検査状態を示す側
面図、第５図はバウンド傷波形を含んだエンベロープ波
形を示す図である。 図において、１は被試験磁気ディスク媒体、２は試験用
の磁気ヘッド、３はエンベロープ波形、４はミッシング
波形部、５はバウンド傷波形部、７はエンベロープ検出
回路、８はバンドパスフィルター、９はノイズ弁別回
路、10はミッシングパルス検出回路、11は単安定マルチ
バイブレータ、12はバウンドパルス検出回路をそれぞれ
示す。
ド傷の自動検査方法の基本原理を説明する動作フローチ
ャート、第２図は同バウンド傷検査方法の実施例を示す
ブロック図、第３図は同回路の各部における波形図、第
４図は磁気ヘッドによるバウンド傷の検査状態を示す側
面図、第５図はバウンド傷波形を含んだエンベロープ波
形を示す図である。 図において、１は被試験磁気ディスク媒体、２は試験用
の磁気ヘッド、３はエンベロープ波形、４はミッシング
波形部、５はバウンド傷波形部、７はエンベロープ検出
回路、８はバンドパスフィルター、９はノイズ弁別回
路、10はミッシングパルス検出回路、11は単安定マルチ
バイブレータ、12はバウンドパルス検出回路をそれぞれ
示す。
Claims (1)
- 【請求項１】磁気ディスク媒体の表面のバウンド傷を検
出する際に、ミッシングパルスを検出し、該ミッシング
パルスをトリガーとして、所定時間ゲートを開放し、ゲ
ート開放の間のみ、エンベロープ波形を通過させ、バウ
ンド傷波形として取り出すことを特徴とする磁気ディス
ク媒体におけるバウンド傷の自動検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22174487A JPH07107739B2 (ja) | 1987-09-04 | 1987-09-04 | 磁気ディスク媒体におけるバウンド傷の自動検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22174487A JPH07107739B2 (ja) | 1987-09-04 | 1987-09-04 | 磁気ディスク媒体におけるバウンド傷の自動検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6464122A JPS6464122A (en) | 1989-03-10 |
| JPH07107739B2 true JPH07107739B2 (ja) | 1995-11-15 |
Family
ID=16771544
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22174487A Expired - Fee Related JPH07107739B2 (ja) | 1987-09-04 | 1987-09-04 | 磁気ディスク媒体におけるバウンド傷の自動検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07107739B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20040021805A (ko) * | 2002-09-04 | 2004-03-11 | 삼성전자주식회사 | 디스크 흠 검사 장치 및 방법 |
-
1987
- 1987-09-04 JP JP22174487A patent/JPH07107739B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6464122A (en) | 1989-03-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6008640A (en) | Detection and measurement of head disc interference using read back signal (without acoustic emission sensor or laser doppler vibrometer) | |
| US6288856B1 (en) | Real-time head-to-disk clearance measuring method and apparatus | |
| EP0467615A2 (en) | Magnetic storage system and method of operation | |
| US4754222A (en) | Method for detecting and evaluating dropouts in recording media having digital signals recorded thereon | |
| JPH0568002B2 (ja) | ||
| US7206150B2 (en) | In situ media defect image analysis | |
| JPH07107739B2 (ja) | 磁気ディスク媒体におけるバウンド傷の自動検査方法 | |
| JPH07122630B2 (ja) | 歯車の磁気探傷方法 | |
| JPH11328670A (ja) | 磁気ディスクの検査装置及び検査方法 | |
| JP3387319B2 (ja) | 磁気ディスクの浮上性能検査装置、及び検査方法 | |
| JPS6173221A (ja) | 磁気ヘツド検査方式 | |
| JPS6110768A (ja) | 自動式超音波試験におけるダミ−表示の抑圧方法 | |
| US7969675B2 (en) | Determination of the quality of an erase process for perpendicular magnetic recording disks | |
| JPH06258300A (ja) | 超音波探傷の異常信号抽出装置および該異常信号の抽出方法 | |
| JP2588007B2 (ja) | 薄膜ヘッドのウイグルの検査方式および検査装置 | |
| JP2013105509A (ja) | 磁気記録媒体の検査方法 | |
| JPS6291874A (ja) | 磁気デイスクの平坦性検査方法 | |
| JPH0227241A (ja) | 光ディスクの欠陥検査装置 | |
| JP2001084501A (ja) | 磁気ディスク試験方法 | |
| JPH07119707B2 (ja) | 光デイスクの検査方法 | |
| JPH0130216B2 (ja) | ||
| JPH04254914A (ja) | 磁気記録媒体の欠陥検査方法 | |
| JPH10320727A (ja) | 磁気抵抗効果型磁気ヘッドの検査方法 | |
| JPH1137748A (ja) | 磁気ディスクの突起検出方法 | |
| Chapman et al. | Recent progress in the production of error-free magnetic computer tape |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |