KR20040021805A

KR20040021805A - 디스크 흠 검사 장치 및 방법

Info

Publication number: KR20040021805A
Application number: KR1020020053159A
Authority: KR
Inventors: 우재현
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2002-09-04
Filing date: 2002-09-04
Publication date: 2004-03-11

Abstract

본 발명은 디스크의 흠을 검사하는 장치 및 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 디스크의 흠 검사 장치는, 디스크의 흠을 검사하는 장치에 있어서, 디스크로부터 판독한 신호중 탑 엔벨로프 값을 검출하는 검출부와, 상기 검출된 탑 엔벨로프 값을 기준값과 비교하는 비교부와, 상기 비교결과 상기 기준값 미만인 탑 엔벨로프 값의 수를 계수하는 카운팅부와, 상기 카운팅부에 의해 계수된 탑 엔벨로프 값의 수를 전송하는 인터페이스부를 포함한다. 이와 같은 본 발명에 의해 육안으로 식별할 수 없는 디스크의 손상을 정량적으로 파악할 수 있다.

Description

디스크 흠 검사 장치 및 방법{Disk defect inspection device and the method therefore}

본 발명은 디스크의 흠을 검사하는 장치 및 방법에 관한 것으로, 좀더 구체적으로는, 디스크 판독 신호의 탑 엔벨로프 값을 이용하여 디스크의 흠을 검사하는 장치 및 방법에 관한 것이다.

기존의 디스크 대여 업체에서는 소비자에게 디스크를 대여한 후 다시 회수할 때 단순히 육안 검사만으로 스크래치나, 지문, 블랙 도트, 얼룩 등 디스크의 훼손 여부를 판단한다. 즉, 도 1에 도시된 바와 같이 디스크의 사용상 부주의에 의해서디스크(100)에는 얼룩(110)이나 지문(120) 등이 생길 수 있다. 그러나 이와 같은 디스크의 손상은 육안으로는 잘 보이지 않기 때문에 디스크의 재생에 영향을 줄 수 있는 손상을 판별하기가 어렵다. 따라서, 디스크 대여 업체 측으로서는 이와 같은 디스크 손상에 대해 소비자에게 어떤 주의를 줄 수도 없게 되어 디스크는 지속적으로 손상되므로 디스크의 수명은 단축되고 소비자는 대여받은 디스크를 좋지 않은 질로 재생할 수밖에 없게 된다.

이와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 육안으로는 판별할 수 없는 디스크의 손상을 정량적으로 보여줄 수 있는 디스크의 흠 검사 장치 및 방법을 제공하는 것이다.

도 1은 손상된 디스크를 도시하는 도면,

도 2는 디스크로부터 판독된 신호중 흠집 신호를 표시하기 위한 도면,

도 3은 본 발명에 따라 흠집 신호를 카운팅하는 장치의 구성의 일 예의 블럭도,

도 4는 도 3에 도시된 장치에서 흠집 신호를 카운팅하는 과정을 나타내는 흐름도.

상기와 같은 과제를 해결하기 위한 본 발명의 하나의 특징은 디스크의 흠을 검사하는 장치에 있어서, 디스크로부터 판독한 신호중 탑 엔벨로프 값을 검출하는 검출부와, 상기 검출된 탑 엔벨로프 값을 기준값과 비교하는 비교부와, 상기 비교결과 상기 기준값 미만인 탑 엔벨로프 값의 수를 계수하는 카운팅부와, 상기 카운팅부에 의해 계수된 탑 엔벨로프 값의 수를 전송하는 인터페이스부를 포함하는 것이다.

상기 디스크 흠 검사 장치는 상기 인터페이스부로부터 전송된 상기 탑 엔벨로프 값의 수를 출력하는 출력부를 더 포함할 수 있다.

본 발명의 다른 특징은 디스크의 흠을 검사하는 방법에 있어서, 디스크로부터 판독한 신호중 탑 엔벨로프 값을 검출하는 단계와, 상기 검출된 탑 엔벨로프 값을 기준값과 비교하는 단계와, 상기 비교결과 상기 기준값 미만인 탑 엔벨로프 값의 수를 계수하는 단계와, 상기 계수된 탑 엔벨로프 값의 수를 출력하는 단계를 포함하는 것이다.

이하에서는, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다.

도 3에는 본 발명에 따른 디스크 흠을 검사하는 장치(300) 구성의 일 예가 도시되어 있고, 도 4는 도 3에 도시된 장치에서 디스크의 흠을 검사하는 과정을 설명하기 위한 흐름도이다.

도 3에 도시된 디스크 흠 검사 장치(300)는 증폭부(310)와, 탑 엔벨로프 검출부(320)와, 탑 엔벨로프 유지부(330)와, 비교부(340)와, 카운팅부(350)를 포함하며, 디스플레이 장치 등의 출력부(360)는 디스크 흠 검사 장치(300)에 포함될 수도 있고 포함되지 않을 수 있다. 도 3에 도시하지는 않았지만, 카운팅부(350)에 의해 계수된 데이터 값은 소정의 인터페이스를 통해서 출력부(360)로 전송될 수 있다는 것은 당업자라면 충분히 이해할 것이다.

이제, 도 2 내지 도 4를 참조하여 본 발명에 따른 디스크 흠 검사 장치 및 방법을 설명한다.

먼저, 디스크로부터 판독한 RF 신호를 수신한 디스크 흠 검사 장치(300)의 증폭부(310)는 수신된 RF 신호를 증폭하고 증폭된 신호를 탑 엔벨로프(top envelop) 검출부(320)로 전송한다(S410). 여기서, 수신하는 RF 신호는 탑 엔벨로프를 일정하게 하기 위해 이퀄라이즈된 것이 바람직하다.

증폭된 신호를 수신한 탑 엔벨로프 검출부(320)는 입력된 신호중 윗 부분인 탑 엔벨로프 값을 검출한다(S420). 검출된 탑 엔벨로프 값들은 탑 엔벨로프 유지부(330)에 전송되어 유지되고(S430), 탑 엔벨로프 유지부(330)는 유지된 탑 엔벨로프 값들을 비교부(340)로 전송한다.

비교부(340)는 탑 엔벨로프 유지부(330)로부터 수신된 탑 엔벨로프 값들과 소정의 기준 전압을 비교한다(S440). 이때, 비교부(340)는 수신된 탑 엔벨로프 값들을 도 2에 도시한 바와 같이 적당한 크기(A-B)로 슬라이스하여 슬라이스한 탑 엔벨로프 값들이 소정의 기준 전압 미만인지를 비교한다.

그러면, 카운팅부(350)는 비교부(340)의 비교결과 소정의 기준 전압 미만인 탑 엔벨로프 값을 계수하고(S450), 계수된 탑 엔벨로프 값의 수를 출력부(360)로 출력한다(S460).

이와 같은 과정에 의해 기준 전압 미만의 탑 엔벨로프 값의 수가 출력부(360)에 표시될 수 있다. 또한, 디스크를 48배속 고속으로 회전시키면 2-3분 내에 디스크의 모든 흠을 신속히 검출할 수 있고, 옵션으로 전체 트랙이 아닌 부분만을 검색하도록 구성할 수 있다는 것은 당업자라면 충분히 이해할 것이다.

상기와 같은 본 발명에 의하면, 디스크의 흠이나 훼손 여부를 좀더 정량적으로 파악할 수 있게 된다.

Claims

디스크의 흠을 검사하는 장치에 있어서,

디스크로부터 판독한 신호중 탑 엔벨로프 값을 검출하는 검출부와,

상기 검출된 탑 엔벨로프 값을 기준값과 비교하는 비교부와,

상기 비교결과 상기 기준값 미만인 탑 엔벨로프 값의 수를 계수하는 카운팅부와,

상기 카운팅부에 의해 계수된 탑 엔벨로프 값의 수를 전송하는 인터페이스부를 포함하는 디스크의 흠 검사 장치.
제1항에 있어서,

상기 인터페이스부로부터 전송된 상기 탑 엔벨로프 값의 수를 출력하는 출력부를 더 포함하는 디스크의 흠 검사 장치.
디스크의 흠을 검사하는 방법에 있어서,

디스크로부터 판독한 신호중 탑 엔벨로프 값을 검출하는 단계와,

상기 검출된 탑 엔벨로프 값을 기준값과 비교하는 단계와,

상기 비교결과 상기 기준값 미만인 탑 엔벨로프 값의 수를 계수하는 단계와,

상기 계수된 탑 엔벨로프 값의 수를 출력하는 단계를 포함하는 디스크의 흠 검사 방법.