JP3307577B2 - 磁気カードシステム - Google Patents
磁気カードシステムInfo
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、カードリーダに
よって磁気カードに記録された情報を読み取るようにし
た磁気カードシステムに関するもので、特に、磁気カー
ドシステムのメンテナンスに関するものである。
よって磁気カードに記録された情報を読み取るようにし
た磁気カードシステムに関するもので、特に、磁気カー
ドシステムのメンテナンスに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、磁気カードシステムのメンテナン
スを目的としたものとして、磁気カードに記録された情
報の寿命を検知する手段を有する磁気カード装置があ
る。図６は例えば特開昭５２−８０１１６号公報に示さ
れた従来の磁気カード装置におけるレベル検出回路図で
あり、また、図７と図８はカード寿命に達していない場
合とカード寿命に達している場合の図６の各部出力波形
である。磁気カードに記録された情報がカードリーダの
磁気ヘッドにより再生され、増幅器９１によって増幅さ
れて図７のａに示す波形が得られる。比較器９３の検出
レベルはカードの寿命とみなすレベルに設定し、比較器
９２の検出レベルは比較器９３の検出レベルよりも低く
設定する。また、パルス発生器９４は、図７のｄの様に
比較器９２の出力の立ち上がり及び立ち下がり時にパル
スを出力する。
スを目的としたものとして、磁気カードに記録された情
報の寿命を検知する手段を有する磁気カード装置があ
る。図６は例えば特開昭５２−８０１１６号公報に示さ
れた従来の磁気カード装置におけるレベル検出回路図で
あり、また、図７と図８はカード寿命に達していない場
合とカード寿命に達している場合の図６の各部出力波形
である。磁気カードに記録された情報がカードリーダの
磁気ヘッドにより再生され、増幅器９１によって増幅さ
れて図７のａに示す波形が得られる。比較器９３の検出
レベルはカードの寿命とみなすレベルに設定し、比較器
９２の検出レベルは比較器９３の検出レベルよりも低く
設定する。また、パルス発生器９４は、図７のｄの様に
比較器９２の出力の立ち上がり及び立ち下がり時にパル
スを出力する。
【０００３】これにより、カード寿命に達していない場
合は、図７のｂに示す比較器９２の出力と図７のｃに示
す比較器９３の出力はほぼ一致し、排他的論理和９６の
出力は、図７のｆの様な短時間パルスになる。パルス発
生器９４の出力は、遅延回路９５を介して論理積９７に
入力されるので、図７のｅに示す遅延回路９５の出力と
図７のｆに示す排他的論理和９６の出力との論理積９７
の出力は、図７のｇに示すように生じない。
合は、図７のｂに示す比較器９２の出力と図７のｃに示
す比較器９３の出力はほぼ一致し、排他的論理和９６の
出力は、図７のｆの様な短時間パルスになる。パルス発
生器９４の出力は、遅延回路９５を介して論理積９７に
入力されるので、図７のｅに示す遅延回路９５の出力と
図７のｆに示す排他的論理和９６の出力との論理積９７
の出力は、図７のｇに示すように生じない。
【０００４】一方、図８のａの様に、カードが寿命に達
して再生出力が比較器９３の検出レベルより低下してい
る場合は、図８のｂに示す比較器９２の出力と図８のｃ
に示す比較器９３の出力に相違が生じ、排他的論理和９
６の出力は、図８のｆのようになる。従って、図８のｅ
に示す遅延回路９５の出力と図８のｆに示す排他的論理
和９６の出力の論理積９７は、図８のｇに示す様な出力
が生じる。この様にして、検出レベルの異なる２つの比
較器を用いることにより、読み取りエラーの警報出力を
得ることができる。
して再生出力が比較器９３の検出レベルより低下してい
る場合は、図８のｂに示す比較器９２の出力と図８のｃ
に示す比較器９３の出力に相違が生じ、排他的論理和９
６の出力は、図８のｆのようになる。従って、図８のｅ
に示す遅延回路９５の出力と図８のｆに示す排他的論理
和９６の出力の論理積９７は、図８のｇに示す様な出力
が生じる。この様にして、検出レベルの異なる２つの比
較器を用いることにより、読み取りエラーの警報出力を
得ることができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来装
置では、カードリーダで磁気カードを読み取った際のレ
ベルを検出しているので、実際には、読み取り不可能な
場合に、磁気カードの寿命なのかカードリーダの磁気ヘ
ッドが汚れていて読めないのかわからなく、読み取りエ
ラーになった時には既にカード寿命に達していてカード
が使えない等の間題がある。すなわち、従来技術におい
て、接触型カードリーダはカードを通すときに磁気ヘッ
ドとの間に摩擦が生じるので、時間が経過するにつれて
磁気テープの磁力低下またはカードリーダのヘッドの汚
れ及び磁化により、必要なテータが読み取れなくなり、
カードが使えない状態が発生する。
置では、カードリーダで磁気カードを読み取った際のレ
ベルを検出しているので、実際には、読み取り不可能な
場合に、磁気カードの寿命なのかカードリーダの磁気ヘ
ッドが汚れていて読めないのかわからなく、読み取りエ
ラーになった時には既にカード寿命に達していてカード
が使えない等の間題がある。すなわち、従来技術におい
て、接触型カードリーダはカードを通すときに磁気ヘッ
ドとの間に摩擦が生じるので、時間が経過するにつれて
磁気テープの磁力低下またはカードリーダのヘッドの汚
れ及び磁化により、必要なテータが読み取れなくなり、
カードが使えない状態が発生する。
【０００６】この発明は上述した従来例に係る問題点を
解消するためになされたもので、事前に磁気カードの読
み取り状態をチェックして磁気カードの使用不可状態の
要因を判別することができる磁気カードシステムを得る
ことを目的とする。
解消するためになされたもので、事前に磁気カードの読
み取り状態をチェックして磁気カードの使用不可状態の
要因を判別することができる磁気カードシステムを得る
ことを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明に係る磁気カー
ドシステムは、システム動作に必要なデータ情報とテス
トパターン情報がそれぞれ記録された第１及び第２の磁
気カードと、上記第１及び第２の磁気カードに記録され
た情報を読み取るカードリーダと、上記カードリーダに
よる読み取り結果に基づいて上記第１及び第２の磁気カ
ードに記録されたテストパターン情報が両者ともに読み
取りエラーとなった場合に、上記カードリーダの磁気ヘ
ッドの汚れとして判定する判定手段とを備えたものであ
る。
ドシステムは、システム動作に必要なデータ情報とテス
トパターン情報がそれぞれ記録された第１及び第２の磁
気カードと、上記第１及び第２の磁気カードに記録され
た情報を読み取るカードリーダと、上記カードリーダに
よる読み取り結果に基づいて上記第１及び第２の磁気カ
ードに記録されたテストパターン情報が両者ともに読み
取りエラーとなった場合に、上記カードリーダの磁気ヘ
ッドの汚れとして判定する判定手段とを備えたものであ
る。
【０００８】また、上記カードリーダとして、第１及び
第２のカードリーダを備え、上記判定手段は、上記第１
及び第２のカードリーダによる読み取り結果に基づいて
上記第１または第２の磁気カードのいずれか一方の磁気
カードに記録されたテストパターン情報が両者ともに読
み取りエラーとなった場合に、磁気カードの磁力低下と
して判定することを特徴とするものである。
第２のカードリーダを備え、上記判定手段は、上記第１
及び第２のカードリーダによる読み取り結果に基づいて
上記第１または第２の磁気カードのいずれか一方の磁気
カードに記録されたテストパターン情報が両者ともに読
み取りエラーとなった場合に、磁気カードの磁力低下と
して判定することを特徴とするものである。
【０００９】また、上記テストパターン情報として、当
該テストパターン情報の磁力を上記データ情報の磁力よ
りも弱めて記録してなり、上記判定手段は、上記カード
リーダによる読み取り結果に基づいて上記テストパター
ン情報の検出レベルが所定値以下となった場合に、磁気
カードの劣化として判定することを特徴とするものであ
る。
該テストパターン情報の磁力を上記データ情報の磁力よ
りも弱めて記録してなり、上記判定手段は、上記カード
リーダによる読み取り結果に基づいて上記テストパター
ン情報の検出レベルが所定値以下となった場合に、磁気
カードの劣化として判定することを特徴とするものであ
る。
【００１０】また、上記テストパターン情報として、上
記データ情報のビット間隔よりも細かい複数種類の異な
る周波数のデータを記録してなり、上記判定手段は、上
記カードリーダによる読み取り結果に基づいて高周波の
テストパターン情報の検出レベルが所定値よりも低下し
た場合に、上記カードリーダの磁気ヘッドが磁化されて
いると判定することを特徴とするものである。
記データ情報のビット間隔よりも細かい複数種類の異な
る周波数のデータを記録してなり、上記判定手段は、上
記カードリーダによる読み取り結果に基づいて高周波の
テストパターン情報の検出レベルが所定値よりも低下し
た場合に、上記カードリーダの磁気ヘッドが磁化されて
いると判定することを特徴とするものである。
【００１１】さらに、上記テストパターン情報として、
テストパターン情報の磁力を上記データ情報の磁力より
も弱めてなる第１のテストパターン情報と、上記データ
情報のビット間隔よりも細かい複数種類の異なる周波数
のデータでなる第２のテストパターン情報とを記録して
なり、上記判定手段は、上記カードリーダによる読み取
り結果に基づいて読み取りエラーが発生したテストパタ
ーン情報の番号とテストパターン情報の磁力検出レベル
または高周波のテストパターン情報の検出レベルにより
上記カードリーダの磁気ヘッドの汚れ、磁気カードの磁
力低下、磁気カードの劣化または上記カードリーダの磁
気ヘッドの磁化のいずれかを判定することを特徴とする
ものである。
テストパターン情報の磁力を上記データ情報の磁力より
も弱めてなる第１のテストパターン情報と、上記データ
情報のビット間隔よりも細かい複数種類の異なる周波数
のデータでなる第２のテストパターン情報とを記録して
なり、上記判定手段は、上記カードリーダによる読み取
り結果に基づいて読み取りエラーが発生したテストパタ
ーン情報の番号とテストパターン情報の磁力検出レベル
または高周波のテストパターン情報の検出レベルにより
上記カードリーダの磁気ヘッドの汚れ、磁気カードの磁
力低下、磁気カードの劣化または上記カードリーダの磁
気ヘッドの磁化のいずれかを判定することを特徴とする
ものである。
【００１２】
【発明の実施の形態】実施の形態１．図１はこの発明に
係る磁気カードシステムの概念的な構成図を示すもの
で、一般的なセキュリティシステムのシステム構成とし
て適用されるものである。セキュリティシステムのホス
トコンピュータ１ａに複数のメインコントローラ２ａ及
び２ｂがネットワーク接続されており、メインコントロ
ーラ２ａ及び２ｂにはそれぞれ伝送信号線７を介して照
合装置３ａ及び３ｂが接続されていて、該照合装置３ａ
及び３ｂには複数の接触型カードリーダ４ａ〜４ｃがそ
れぞれ接続されている。なお、１ｂはホストコンピュー
タ１ａの表示部、５ａ〜５ｃは磁気カード、６はＬＡ
Ｎ、８はキーボックス、９は集合玄関用カードリーダ、
１０は汎用入出力装置を示す。
係る磁気カードシステムの概念的な構成図を示すもの
で、一般的なセキュリティシステムのシステム構成とし
て適用されるものである。セキュリティシステムのホス
トコンピュータ１ａに複数のメインコントローラ２ａ及
び２ｂがネットワーク接続されており、メインコントロ
ーラ２ａ及び２ｂにはそれぞれ伝送信号線７を介して照
合装置３ａ及び３ｂが接続されていて、該照合装置３ａ
及び３ｂには複数の接触型カードリーダ４ａ〜４ｃがそ
れぞれ接続されている。なお、１ｂはホストコンピュー
タ１ａの表示部、５ａ〜５ｃは磁気カード、６はＬＡ
Ｎ、８はキーボックス、９は集合玄関用カードリーダ、
１０は汎用入出力装置を示す。
【００１３】ここで、カードリーダによって磁気カード
を読み取った際に検出される情報として、図２に示す様
に実際のシステム動作上必要なデータ情報の他に特定の
テストパターン情報を記録した磁気カード５ａ〜５ｃを
用意する。例えば、磁気カード５ａをカードリーダ４ａ
に通したときテストパターンが読み取れなかった場合、
エラー情報をメインコントローラ２ａ及びホストコンピ
ュータ１ａで記憶する。次に、磁気カード５ａをカード
リーダ４ｂに通したときテストパターンが読み取れなか
った場合、同様にエラー情報をメインコントローラ２ａ
及びホストコンピュータ１ａで記億し、ホストコンピュ
ータ１ａでは過去に磁気カード５ａ及びカードリーダ４
ｂでテストパターン情報の読み取りエラーが発生してい
ないかを全てのメインコントローラに対して検索する。
そこで、カードリーダ４ａで磁気カード５ａのエラー発
生していたことを認識すると、ホストコンピュータの表
示部１ｂに磁気カード５ａの磁力が低下している旨のア
ラームメッセージを表示する。
を読み取った際に検出される情報として、図２に示す様
に実際のシステム動作上必要なデータ情報の他に特定の
テストパターン情報を記録した磁気カード５ａ〜５ｃを
用意する。例えば、磁気カード５ａをカードリーダ４ａ
に通したときテストパターンが読み取れなかった場合、
エラー情報をメインコントローラ２ａ及びホストコンピ
ュータ１ａで記憶する。次に、磁気カード５ａをカード
リーダ４ｂに通したときテストパターンが読み取れなか
った場合、同様にエラー情報をメインコントローラ２ａ
及びホストコンピュータ１ａで記億し、ホストコンピュ
ータ１ａでは過去に磁気カード５ａ及びカードリーダ４
ｂでテストパターン情報の読み取りエラーが発生してい
ないかを全てのメインコントローラに対して検索する。
そこで、カードリーダ４ａで磁気カード５ａのエラー発
生していたことを認識すると、ホストコンピュータの表
示部１ｂに磁気カード５ａの磁力が低下している旨のア
ラームメッセージを表示する。
【００１４】また、同様に、磁気カード５ｂをカードリ
ーダ４ａに通したときテストパターンが読み取れなかっ
た場合も、エラー情報をメインコントローラ２ａ及びホ
ストコンピュータ１ａで記憶し、判定手段としてのホス
トコンピュータ１ａで過去に磁気カード５ｂ及びカード
リーダ４ａでテストパターン読み取りエラーが発生して
いないいかを全てのメインコントローラに対して検索す
る。そこで、カードリーダ４ａで磁気カード５ａのエラ
ー発生していたことを認識すると、ホストコンピュータ
の表示部１ｂにカードリーダ４ａの磁気ヘッドが汚れて
いる旨のアラームメッセージを表示して磁気ヘッドのク
リーニングを促す。
ーダ４ａに通したときテストパターンが読み取れなかっ
た場合も、エラー情報をメインコントローラ２ａ及びホ
ストコンピュータ１ａで記憶し、判定手段としてのホス
トコンピュータ１ａで過去に磁気カード５ｂ及びカード
リーダ４ａでテストパターン読み取りエラーが発生して
いないいかを全てのメインコントローラに対して検索す
る。そこで、カードリーダ４ａで磁気カード５ａのエラ
ー発生していたことを認識すると、ホストコンピュータ
の表示部１ｂにカードリーダ４ａの磁気ヘッドが汚れて
いる旨のアラームメッセージを表示して磁気ヘッドのク
リーニングを促す。
【００１５】このように、ホストコンピュータ１ａでセ
キュリティシステムシステム全体の履歴を管理すること
により、テストパターン情報の読み取りエラーが発生し
たときに磁気カードの劣化なのか磁気ヘッドの汚れなの
か原因を判断することが可能である。すなわち、ホスト
コンピュータ１ａは、カードリーダ４ａ及び４ｂによる
読み取り結果に基づいて同じ磁気カードに記録されたテ
ストパターン情報がいずれの場合も読み取りエラーとな
った場合に、磁気カードの磁力低下として判定し、ま
た、カードリーダ４ａによる読み取り結果に基づいて磁
気カード５ａ及び５ｂに記録されたテストパターン情報
が両者ともに読み取りエラーをなった場合には、上記カ
ードリーダ４ａの磁気ヘッドの汚れとして判定する。
キュリティシステムシステム全体の履歴を管理すること
により、テストパターン情報の読み取りエラーが発生し
たときに磁気カードの劣化なのか磁気ヘッドの汚れなの
か原因を判断することが可能である。すなわち、ホスト
コンピュータ１ａは、カードリーダ４ａ及び４ｂによる
読み取り結果に基づいて同じ磁気カードに記録されたテ
ストパターン情報がいずれの場合も読み取りエラーとな
った場合に、磁気カードの磁力低下として判定し、ま
た、カードリーダ４ａによる読み取り結果に基づいて磁
気カード５ａ及び５ｂに記録されたテストパターン情報
が両者ともに読み取りエラーをなった場合には、上記カ
ードリーダ４ａの磁気ヘッドの汚れとして判定する。
【００１６】実施の形態２．次に、この実施の形態２で
は、実施の形態１と同様に、図１のシステムにおいて、
磁気カード５ａ〜５ｃのテストパターン情報として、図
３のテストパターン情報を記録しているものとする。こ
の時、テストパターン情報はシステム動作に必要なデー
タ情報よりも磁力を弱くしておく。実施の形態１と同様
に、磁気カード５ａ〜５ｃをカードリーダ４ａ〜４ｃに
導したとき、テストパターン情報が読み取れなかった場
合のエラー情報をメインコーントローラ２ａ及びホスト
コンピュータ１ａに記憶して、ホストコンピュータ１ａ
により過去のテストパターン読み取りエラーについて検
索する。過去の発生状況により特定の磁気カードの劣化
または特定のカードリーダのヘッドの汚れを判断し、ホ
ストコンピュータの表示部１ｂにアラームを表示するこ
とが出来るが、実施の形態１と異なりテストパターン情
報の磁力を弱くしているので、実際のシステム動作に影
響を与えずにプレアラームとして検出することが可能で
ある。すなわち、テストパターン情報のレベルをシステ
ム動作に必要なデータ情報のレベルより低めてカードリ
ーダにより正常に読み取れる限界値付近に設定すること
により、経年変化によって磁気カードに記録された情報
の検出レベルが低下する場合には、テストパターン情報
のレベルがシステム動作に必要なデータ情報よりも読み
取り可能な限界値以下に先にレベル低下するので、ホス
トコンピュータ１ａはこれに基づいて実際のシステム動
作に影響を与えずに磁気カードの劣化のプレアラームを
検出することができる。
は、実施の形態１と同様に、図１のシステムにおいて、
磁気カード５ａ〜５ｃのテストパターン情報として、図
３のテストパターン情報を記録しているものとする。こ
の時、テストパターン情報はシステム動作に必要なデー
タ情報よりも磁力を弱くしておく。実施の形態１と同様
に、磁気カード５ａ〜５ｃをカードリーダ４ａ〜４ｃに
導したとき、テストパターン情報が読み取れなかった場
合のエラー情報をメインコーントローラ２ａ及びホスト
コンピュータ１ａに記憶して、ホストコンピュータ１ａ
により過去のテストパターン読み取りエラーについて検
索する。過去の発生状況により特定の磁気カードの劣化
または特定のカードリーダのヘッドの汚れを判断し、ホ
ストコンピュータの表示部１ｂにアラームを表示するこ
とが出来るが、実施の形態１と異なりテストパターン情
報の磁力を弱くしているので、実際のシステム動作に影
響を与えずにプレアラームとして検出することが可能で
ある。すなわち、テストパターン情報のレベルをシステ
ム動作に必要なデータ情報のレベルより低めてカードリ
ーダにより正常に読み取れる限界値付近に設定すること
により、経年変化によって磁気カードに記録された情報
の検出レベルが低下する場合には、テストパターン情報
のレベルがシステム動作に必要なデータ情報よりも読み
取り可能な限界値以下に先にレベル低下するので、ホス
トコンピュータ１ａはこれに基づいて実際のシステム動
作に影響を与えずに磁気カードの劣化のプレアラームを
検出することができる。
【００１７】実施の形態３．次に、実施の形態３では、
実施の形態１と同様に、図１のシステムにおいて、磁気
カード５ａ〜５ｃのテストパターン情報として、図４の
テストパターン情報を記録しているものとする。この時
のテストパターン情報は、図４のａ〜ｃの様に必要デー
タ情報よりもビット間隔が細かく３種類の異なる周波数
のデータを記録しておく。このようにすることにより、
実施の形態１と同様に、磁気カード５ａ〜５ｃをカード
リーダ４ａ〜４ｃに通したとき、ホストコンピュータ１
ａは、テストパターン情報の図４のａ〜ｃに示す各周波
数の再生出力を比較して、高周波数のデータ（図４の
ｃ）の出力が著しく低い場合、磁気ヘッドが磁化されて
いるときはデータが高周波になるほど読み取り精度が低
下してその検出出力が低下することになるため、磁気ヘ
ッドの周波数特性から当該カードリーダのヘッドが磁化
されていると判断し、ホストコンピュータの表示部１ｂ
にアラームを表示して磁気ヘッドの消磁を促すことが可
能である。
実施の形態１と同様に、図１のシステムにおいて、磁気
カード５ａ〜５ｃのテストパターン情報として、図４の
テストパターン情報を記録しているものとする。この時
のテストパターン情報は、図４のａ〜ｃの様に必要デー
タ情報よりもビット間隔が細かく３種類の異なる周波数
のデータを記録しておく。このようにすることにより、
実施の形態１と同様に、磁気カード５ａ〜５ｃをカード
リーダ４ａ〜４ｃに通したとき、ホストコンピュータ１
ａは、テストパターン情報の図４のａ〜ｃに示す各周波
数の再生出力を比較して、高周波数のデータ（図４の
ｃ）の出力が著しく低い場合、磁気ヘッドが磁化されて
いるときはデータが高周波になるほど読み取り精度が低
下してその検出出力が低下することになるため、磁気ヘ
ッドの周波数特性から当該カードリーダのヘッドが磁化
されていると判断し、ホストコンピュータの表示部１ｂ
にアラームを表示して磁気ヘッドの消磁を促すことが可
能である。
【００１８】実施の形態４．次に、実施の形態４では、
実施の形態１と同様に、図１のシステムにおいて、磁気
カード５ａ〜５ｃのテストパターン情報として、図５の
テストパターンを記録しているものとする。この時のテ
ストパターン情報は、図３のテストパターン情報（テス
トパターン１）と図４のテストパターン情報（テストパ
ターン２）の２種類のテストパターン情報を記録してい
るものとする。実施の形態１と同様に、磁気カード５ａ
〜５ｃをカードリーダ４ａ〜４ｃに通したとき、テスト
パターン１が読み取れなかったのか、テストパターン２
でヘッドの磁化を検出したのか、或いはその両方かをエ
ラー情報としてメインコントローラ２ａ及びホストコン
ピュータ１ａに記憶する。エラーが発生したテストパタ
ーンの番号と過去の発生状況の検索により、磁気カード
の劣化か磁気ヘッドの汚れまたは磁化か原因の特定をよ
り確案に行うことができる画期的なセキュリティシステ
ムを実現することが可能である。すなわち、テストパタ
ーン情報として、テストパターン情報の磁力をデータ情
報の磁力よりも弱めてなる第１のテストパターン情報
と、データ情報のビット間隔よりも細かい複数種類の異
なる周波数のデータでなる第２のテストパターン情報と
を記録しておくことにより、ホストコンピュータ１ａに
より、カードリーダによる読み取り結果に基づいて読み
取りエラーが発生したテストパターン情報の番号とテス
トパターン情報の磁力検出レベルまたは高周波のテスト
パターン情報の検出レベルにより上記カードリーダの磁
気ヘッドの汚れ、磁気カードの磁力低下、磁気カードの
劣化または上記カードリーダの磁気ヘッドの磁化のいず
れかを判定することができる。
実施の形態１と同様に、図１のシステムにおいて、磁気
カード５ａ〜５ｃのテストパターン情報として、図５の
テストパターンを記録しているものとする。この時のテ
ストパターン情報は、図３のテストパターン情報（テス
トパターン１）と図４のテストパターン情報（テストパ
ターン２）の２種類のテストパターン情報を記録してい
るものとする。実施の形態１と同様に、磁気カード５ａ
〜５ｃをカードリーダ４ａ〜４ｃに通したとき、テスト
パターン１が読み取れなかったのか、テストパターン２
でヘッドの磁化を検出したのか、或いはその両方かをエ
ラー情報としてメインコントローラ２ａ及びホストコン
ピュータ１ａに記憶する。エラーが発生したテストパタ
ーンの番号と過去の発生状況の検索により、磁気カード
の劣化か磁気ヘッドの汚れまたは磁化か原因の特定をよ
り確案に行うことができる画期的なセキュリティシステ
ムを実現することが可能である。すなわち、テストパタ
ーン情報として、テストパターン情報の磁力をデータ情
報の磁力よりも弱めてなる第１のテストパターン情報
と、データ情報のビット間隔よりも細かい複数種類の異
なる周波数のデータでなる第２のテストパターン情報と
を記録しておくことにより、ホストコンピュータ１ａに
より、カードリーダによる読み取り結果に基づいて読み
取りエラーが発生したテストパターン情報の番号とテス
トパターン情報の磁力検出レベルまたは高周波のテスト
パターン情報の検出レベルにより上記カードリーダの磁
気ヘッドの汚れ、磁気カードの磁力低下、磁気カードの
劣化または上記カードリーダの磁気ヘッドの磁化のいず
れかを判定することができる。
【００１９】このようにすることにより、磁気カードの
磁気テープにシステムの動作に必要なデータ情報に加
え、保守用のテストパターン情報を付加して記録するこ
とにより、セキュリティシステムに予防保全機能を持た
せ、ホストコンピュータでメンテナンスが必要なカード
またはカードリーダを特定し、カードの交換または磁気
ヘッドのクリーニング及び消磁を促すメッセージを表示
して、ユーザがカードリーダにカードを通してもドアが
開かずに困惑するという状況を回避することが可能とな
る。
磁気テープにシステムの動作に必要なデータ情報に加
え、保守用のテストパターン情報を付加して記録するこ
とにより、セキュリティシステムに予防保全機能を持た
せ、ホストコンピュータでメンテナンスが必要なカード
またはカードリーダを特定し、カードの交換または磁気
ヘッドのクリーニング及び消磁を促すメッセージを表示
して、ユーザがカードリーダにカードを通してもドアが
開かずに困惑するという状況を回避することが可能とな
る。
【００２０】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、シス
テム動作に必要なデータ情報とテストパターン情報がそ
れぞれ記録された第１及び第２の磁気カードと、上記第
１及び第２の磁気カードに記録された情報を読み取るカ
ードリーダと、上記カードリーダによる読み取り結果に
基づいて上記第１及び第２の磁気カードに記録されたテ
ストパターン情報が両者ともに読み取りエラーとなった
場合に、上記カードリーダの磁気ヘッドの汚れとして判
定する判定手段とを備えたので、磁気カードの読み取り
状態をチェックして磁気カードの使用不可状態の要因と
なる磁気ヘッドの汚れを判別することができる。
テム動作に必要なデータ情報とテストパターン情報がそ
れぞれ記録された第１及び第２の磁気カードと、上記第
１及び第２の磁気カードに記録された情報を読み取るカ
ードリーダと、上記カードリーダによる読み取り結果に
基づいて上記第１及び第２の磁気カードに記録されたテ
ストパターン情報が両者ともに読み取りエラーとなった
場合に、上記カードリーダの磁気ヘッドの汚れとして判
定する判定手段とを備えたので、磁気カードの読み取り
状態をチェックして磁気カードの使用不可状態の要因と
なる磁気ヘッドの汚れを判別することができる。
【００２１】また、上記カードリーダとして、第１及び
第２のカードリーダを備え、上記判定手段により、上記
第１及び第２のカードリーダによる読み取り結果に基づ
いて上記第１または第２の磁気カードのいずれか一方の
磁気カードに記録されたテストパターン情報が両者とも
に読み取りエラーとなった場合に、磁気カードの磁力低
下として判定することができる。
第２のカードリーダを備え、上記判定手段により、上記
第１及び第２のカードリーダによる読み取り結果に基づ
いて上記第１または第２の磁気カードのいずれか一方の
磁気カードに記録されたテストパターン情報が両者とも
に読み取りエラーとなった場合に、磁気カードの磁力低
下として判定することができる。
【００２２】また、上記テストパターン情報として、当
該テストパターン情報の磁力を上記データ情報の磁力よ
りも弱めて記録することにより、上記判定手段により、
上記カードリーダによる読み取り結果に基づいて上記テ
ストパターン情報の検出レベルが所定値以下となった場
合に、磁気カードの劣化として判定することができる。
該テストパターン情報の磁力を上記データ情報の磁力よ
りも弱めて記録することにより、上記判定手段により、
上記カードリーダによる読み取り結果に基づいて上記テ
ストパターン情報の検出レベルが所定値以下となった場
合に、磁気カードの劣化として判定することができる。
【００２３】また、上記テストパターン情報として、上
記データ情報のビット間隔よりも細かい複数種類の異な
る周波数のデータを記録することにより、上記判定手段
により、上記カードリーダによる読み取り結果に基づい
て高周波のテストパターン情報の検出レベルが所定値よ
りも低下した場合に、上記カードリーダの磁気ヘッドが
磁化されていると判定することができる。
記データ情報のビット間隔よりも細かい複数種類の異な
る周波数のデータを記録することにより、上記判定手段
により、上記カードリーダによる読み取り結果に基づい
て高周波のテストパターン情報の検出レベルが所定値よ
りも低下した場合に、上記カードリーダの磁気ヘッドが
磁化されていると判定することができる。
【００２４】さらに、上記テストパターン情報として、
テストパターン情報の磁力を上記データ情報の磁力より
も弱めてなる第１のテストパターン情報と、上記データ
情報のビット間隔よりも細かい複数種類の異なる周波数
のデータでなる第２のテストパターン情報とを記録する
ことにより、上記判定手段により、上記カードリーダに
よる読み取り結果に基づいて読み取りエラーが発生した
テストパターン情報の番号とテストパターン情報の磁力
検出レベルまたは高周波のテストパターン情報の検出レ
ベルにより上記カードリーダの磁気ヘッドの汚れ、磁気
カードの磁力低下、磁気カードの劣化または上記カード
リーダの磁気ヘッドの磁化のいずれかを判定することが
できる。
テストパターン情報の磁力を上記データ情報の磁力より
も弱めてなる第１のテストパターン情報と、上記データ
情報のビット間隔よりも細かい複数種類の異なる周波数
のデータでなる第２のテストパターン情報とを記録する
ことにより、上記判定手段により、上記カードリーダに
よる読み取り結果に基づいて読み取りエラーが発生した
テストパターン情報の番号とテストパターン情報の磁力
検出レベルまたは高周波のテストパターン情報の検出レ
ベルにより上記カードリーダの磁気ヘッドの汚れ、磁気
カードの磁力低下、磁気カードの劣化または上記カード
リーダの磁気ヘッドの磁化のいずれかを判定することが
できる。
【図１】 この発明に係る磁気カードシステムの概念的
な構成図である。
な構成図である。
【図２】 この発明の実施の形態１における磁気カード
に記録される記録データの説明図である。
に記録される記録データの説明図である。
【図３】 この発明の実施の形態２における磁気カード
に記録される記録データの説明図である。
に記録される記録データの説明図である。
【図４】 この発明の実施の形態３における磁気カード
に記録される記録データの説明図である。
に記録される記録データの説明図である。
【図５】 この発明の実施の形態４における磁気カード
に記録される記録データの説明図である。
に記録される記録データの説明図である。
【図６】 従来技術におけるレベル検出回路図である。
【図７】 カード寿命に達していない場合の図６の動作
説明図である。
説明図である。
【図８】 カード寿命に達している場合の図６の動作説
明図である。
明図である。
１ａ ホストコンピュータ、２ａ、２ｂ メインコント
ローラ、３ａ，３ｂ 照合装置、４ａ，４ｂ，４ｃ 接
触型カードリーダ、５ａ、５ｂ、５ｃ 磁気カード。
ローラ、３ａ，３ｂ 照合装置、４ａ，４ｂ，４ｃ 接
触型カードリーダ、５ａ、５ｂ、５ｃ 磁気カード。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 5/02 G06K 17/00 G11B 5/09 361
Claims (5)
- 【請求項１】 システム動作に必要なデータ情報とテス
トパターン情報がそれぞれ記録された第１及び第２の磁
気カードと、 上記第１及び第２の磁気カードに記録された情報を読み
取るカードリーダと、 上記カードリーダによる読み取り結果に基づいて上記第
１及び第２の磁気カードに記録されたテストパターン情
報が両者ともに読み取りエラーとなった場合に、上記カ
ードリーダの磁気ヘッドの汚れとして判定する判定手段
とを備えた磁気カードシステム。 - 【請求項２】 上記カードリーダとして、第１及び第２
のカードリーダを備え、上記判定手段は、上記第１及び
第２のカードリーダによる読み取り結果に基づいて上記
第１または第２の磁気カードのいずれか一方の磁気カー
ドに記録されたテストパターン情報が両者ともに読み取
りエラーとなった場合に、磁気カードの磁力低下として
判定することを特徴とする請求項１記載の磁気カードシ
ステム。 - 【請求項３】 上記テストパターン情報として、当該テ
ストパターン情報の磁力を上記データ情報の磁力よりも
弱めて記録してなり、上記判定手段は、上記カードリー
ダによる読み取り結果に基づいて上記テストパターン情
報の検出レベルが所定値以下となった場合に、磁気カー
ドの劣化として判定することを特徴とする請求項１また
は２記載の磁気カードシステム。 - 【請求項４】 上記テストパターン情報として、上記デ
ータ情報のビット間隔よりも細かい複数種類の異なる周
波数のデータを記録してなり、上記判定手段は、上記カ
ードリーダによる読み取り結果に基づいて高周波のテス
トパターン情報の検出レベルが所定値よりも低下した場
合に、上記カードリーダの磁気ヘッドが磁化されている
と判定することを特徴とする請求項１または２記載の磁
気カードシステム。 - 【請求項５】 上記テストパターン情報として、テスト
パターン情報の磁力を上記データ情報の磁力よりも弱め
てなる第１のテストパターン情報と、上記データ情報の
ビット間隔よりも細かい複数種類の異なる周波数のデー
タでなる第２のテストパターン情報とを記録してなり、
上記判定手段は、上記カードリーダによる読み取り結果
に基づいて読み取りエラーが発生したテストパターン情
報の番号とテストパターン情報の磁力検出レベルまたは
高周波のテストパターン情報の検出レベルにより上記カ
ードリーダの磁気ヘッドの汚れ、磁気カードの磁力低
下、磁気カードの劣化または上記カードリーダの磁気ヘ
ッドの磁化のいずれかを判定することを特徴とする請求
項１または２記載の磁気カードシステム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32866497A JP3307577B2 (ja) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | 磁気カードシステム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32866497A JP3307577B2 (ja) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | 磁気カードシステム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11161903A JPH11161903A (ja) | 1999-06-18 |
| JP3307577B2 true JP3307577B2 (ja) | 2002-07-24 |
Family
ID=18212797
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32866497A Expired - Fee Related JP3307577B2 (ja) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | 磁気カードシステム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3307577B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101039449B1 (ko) | 2008-11-25 | 2011-06-07 | 엘지엔시스(주) | 금융거래 정보 훼손 유형을 이용한 프린터 테스트 방법 |
-
1997
- 1997-11-28 JP JP32866497A patent/JP3307577B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11161903A (ja) | 1999-06-18 |
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