JP3270044B2 - 光学的な情報担体の欠陥誤り種別信号化法 - Google Patents

光学的な情報担体の欠陥誤り種別信号化法

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、欠陥の存在のみならず、例えばコンパクト
ディスク上の指紋のような欠陥の種別を信号化しかつこ
れにより利用者が場合に応じて、光学的な情報担体の本
来の再生品質を再び形成することができるようにする
“ファジィ論理”の意味における、再生装置を用いた光
学的な情報担体の欠陥誤り種別の信号化方法および装置
に関する。本発明が属することができる分野は、コンパ
クトディスク（CD）、レーザディスクまたは類似の情報
担体の不注意な取り扱いの際に発生するような、光学的
な情報担体の少なくとも１つの欠陥誤り種別の信号化に
関し、その際情報の再生のために通例設けられている再
生装置が使用される。
極めて細心に扱われているにも拘らず、オーディオお
よび／またはビデオ信号またはデータ信号の記録および
再生のために使用される光学的な情報担体は、製造並び
に環境により生じる誤りが発生する。これらは、所定の
範囲において再生装置の誤り補正装置によって補正ない
し補間される。この能力がないと、コンパクトディスク
またはレーザディスクは実現可能でない。というのはこ
の能力を駆使すれば、数多くのビットのいずれも消失す
ることはないしもしくはディスクにおける数多くのピッ
トのいずれも損なわれたりまたは隠蔽されることはない
からである。しかし光学的な情報担体の誤りは少なくと
も、再生のオリジナリティーに影響を及ぼすことがある
かまたは再生の際に劣化を来す。光学的な情報担体の保
護層における気泡または汚れのようなランダムな個別欠
陥並びに所謂表面欠陥、即ちスクラッチおよび指紋が発
生し、これらは非常に多くの情報を破壊または隠蔽し、
その結果利用者は本来の情報または計算ないし補間され
た情報が再生されるのかをもはや区別することができな
い。
ちょうどそのとき再生されているCDの技術的な品質を
指示するために、誤り補正がどのくらい働いているかを
指示する誤り指示装置が公知である（Bernhard KRIEG:P
raxis der digitalen Audiotechnik:digitalen Aufnahm
e und Wiedergabe,Franzis-Verlag GmbH,Muenchen 1989
年，第60ないし63頁参照）。誤り補正の働いている程度
は、再生装置内に設けられているプログラムカウンタが
信号化する、光学的な情報担体の誤り度を反映するもの
である。誤り度は、誤りの頻度並びに数を表している。
それはちょうどそのとき再生されているCDの技術的な品
質を直接表すものであるにも拘らず、利用者に、誤り度
を低減するために場合により必要な措置に関する説明は
提供されない。その理由は、誤りの頻度および数は信号
化されるが、誤りの原因となる欠陥の種別が信号化され
ないからである。
従って欠陥誤り種別信号化は、複雑さの点で誤り度を
上回るシステムを要求する。重みの増した複雑な問題の
判定の担い手として人間を支援するこの形式のシステム
を“ファジィ論理”と称することは一般に周知である。
更に、CD製造の際に、情報担体の光学的な検査のため
にレーザスキャナを使用することが公知である。レーザ
スキャナは高いコストを要求しかつこのレーザスキャナ
を用いて自動検査システムによる品質監視の枠内におい
てCDの良否の選別が行われる（1992年１月７日のFrankf
urter Allgemeine Zeitung中に掲載の“Wenn es klick
t,nicht gleich den Spieler schelten"参照）。検査判
断基準として同様に、ディスクに対する誤り事象の数を
表す誤り度が用いられる。しかしこの形式の、付加装置
の形の光学的な情報担体の誤り信号化のための煩雑な系
は、利用者には期待できるものではない。これらの装置
によっても、異なった欠陥誤り種別間の区別を行うこと
はできない。
従って本発明の課題は、僅かなコストで、例えば指紋
のような、光学的な記録担体の少なくとも１つの欠陥誤
り種別の信号化を再生装置を用いて可能にし、その結果
助言ないし信号化系を用いて利用者が光学的な記録担体
の品質の判定を一層容易に行うことができかつ利用者に
誤りの原因である指紋がある場合に一層良好な再生を実
現するための指示が与えられるようにする方法および装
置を提供することである。
解決手段、実施の形態、発明の効果 設定された課題は本発明によれば、第１のステップに
おいて少なくとも１つの欠陥誤り種別を検出しかつ第２
のステップにおいて信号化ないし指示することによって
解決される。
ちょうどそのとき再生されている光学的な情報担体が
誤りを有する限り、少なくとも１つの誤り原因が明確に
指示され、その結果利用者は誤り原因が指紋である場合
には指紋を有利には中心から縁に向かって真っすぐ単純
に拭き取ることによって本来の再生品質を再び回復する
ことができる。
殊に多数回および不注意な取り扱いによりますます多
くの誤りを有しかつ通例は情報の再生のために使用され
る再生装置によって光学的に走査される光学的な情報担
体がこの方法の出発点を形成する。
少なくとも１つの誤り原因を求めるために、再生装置
により光学的な情報担体から検出される高周波信号を使
用することができる。このために高周波信号から測定信
号が導出され、この測定信号の、誤り原因を特徴付ける
時間領域にわたる上側および下側のしきい値内の発生が
検出される。誤り原因を検出するためのしきい値として
有利には、高周波信号の10および90％が使用され、その
際しきい値は、走査子および種々異なった光学的な情報
担体の反射特性の許容偏差を補償するために、高周波信
号の上側および下側のピーク値に関連付けられる。測定
信号を同様に高周波信号から導出されるしきい値に関し
て評価することができるように、測定信号に比して著し
く大きな時定数を有するしきい値が使用される。
例えば光ディスクからテープへの所謂高速ダビングに
よる書き換えのような、高められた速度による光学的な
情報担体の再生のためにまたは著しく短縮された再生時
間による誤り原因の探索過程のために、比較的短い時定
数を有するしきい値を使用することが有利である。とい
うのは、そうでない場合に誤りは、通常の再生速度によ
る再生においてようやく検出されるからである。
誤り原因指紋を特徴付ける時間領域は有利には、高周
波信号から導出される測定信号がしきい値内に発生す
る。4msまでの時間期間である。しきい値、しきい値の
時定数および時間領域の変更によって、誤り原因指紋の
他に、別の誤り原因を検出することもできる。更に、誤
り度から出発する解決法並びに高周波信号から出発する
解決法によってパラメータの変更および必要に応じてこ
れらの解決法の組み合わせによって、種々異なった誤り
原因を検出しかつ１つまたは複数の誤り原因の評価を行
うことができる。利用者に例えば、軽い指紋、強い指紋
であるかまたは指紋または別の誤り原因によって可聴障
害を受けた再生であるかどうかが信号化される。
別の誤りに対して指紋の識別の確実性の度合を高める
ために、誤りを表す信号は有利には、ディスク回転と等
価な信号と結合される。これにより、指紋から生じるの
ではない複数の短い障害が、信号指紋に相応する信号に
加算されることが回避される。ディスク回転に等価な信
号は有利には、所謂ラジアル検出器の出力信号である。
更に、指紋の半径方向の拡がりを検出するためのトラッ
ク完了の固定された数の加算過程を、計数の枠において
個別のトラック回転に誤り信号がないときでも、中断し
ないことが有利である。
光ディスクから再生装置によって検出された高周波信
号の処理のために用いられる処理回路は有利には、再生
装置の走査子に接続されておりかつ高周波信号の上側の
しきい値と下側のしきい値を形成する、高周波信号から
導出される、しきい値内の測定信号を捕捉するしきい値
回路と、測定信号の時間間隔ないし測定信号の、しきい
値内の滞留時間間隔を検出する時限素子とから成る。
しきい値回路は有利には、２つの反対方向に極性付け
られた第１のピーク値整流器から成り、これらピーク値
整流器は分圧器を介して相互に接続されており、分圧器
には２つのコンパレータが接続されている。２つのコン
パレータは入力側が、測定信号を形成する第２のピーク
値整流器に接続されておりかつ出力側がゲートの入力側
に接続されている。
ピーク値整流器はそれぞれ、ダイオードと、コンデン
サと、定電流源またはダイオードおよびコンデンサに接
続されている少なくとも１つの抵抗とから成る。その際
第１のピーク値整流器は、高周波信号から導出される測
定信号を形成するために、第２のピーク値整流器に比べ
て著しく大きな時定数を有する。第１のピーク値整流器
の時定数は有利には200msであり、一方第２のピーク値
整流器の時定数は2msの領域にある値を有する。ピーク
値整流器を結合する分圧器によって形成されるしきい値
として、有利には、高周波信号の10％および90％が使用
されかつコンパレータに比較値として供給される。これ
らのコンパレータに同様、高周波信号から導出される測
定信号が供給され、その結果異なった時定数に基づいて
しきい値内の測定信号の発生が検出されかつコンパレー
タの出力の、ゲートを介する結合によって信号化され
る。
指紋は所謂ブラック・ドットに比して高周波信号にお
いて、高周波信号の電圧の完全な落ち込みとして映し出
されないので、これにより既に、これらの誤り原因間の
区別が可能になる。
しかし光学的な情報担体は、高周波信号において誤り
の原因指紋に類似してしきい値内の測定信号として映し
出されるスクラッチも有することがあるので、測定信号
の引き続く評価が必要である。このために、ゲートに接
続されている時限素子が設けられており、これを用いて
しきい値内の測定信号の発生の時間間隔が検出されかつ
評価される。指紋の局所的な拡がりはスクラッチの局所
的な拡がりより大きいので、高周波信号ないし測定信号
の減衰または落ち込みの時間間隔が誤り原因を区別する
ための付加的な判断基準として使用される。時限素子と
して、相応の切換回路かまたはコンパレータが後置接続
されている積分器が適しており、切換回路または積分器
の出力側は有利には、4msの時間間隔までのしきい値内
の測定信号の発生の際、誤り原因指紋を検出するために
使用される出力信号を形成する。
誤り指示が、誤りの発生の大抵はほんの僅かな持続時
間のため再生装置の利用者に確実に知覚されることを保
証するために、コンパレータに、単安定マルチバイブレ
ータおよび／またはリセット可能なメモリが後置接続さ
れている。これにより、誤り原因の発生の時間間隔を越
えた指示が実現される。更に、この形式の指示を、所謂
チェンジャーまたはマガジン再生装置と関連して行うと
有利である。というのは、誤りのある光ディスクに関す
る情報は場合によっては新しいマガジンの挿入まで行わ
れ、その場合これによってメモリのリセットが行われる
からである。
更に、例えば所謂高速ダビングによる書き換えのため
に必要であるように、高められた速度による再生時にも
誤り原因指示の効果を保証するために、ピーク値整流器
を別の時定数に切換可能に実現するように設定されてい
る。この形式の書き換えの際には通例可聴状態にはなら
ないので、そうでない場合には、誤りは通常の速度によ
る再生の際にようやく知覚されることになる。この形式
の時定数切換は、光ディスクが誤りの発生に関して著し
く短縮された再生時間によって探索される所謂探索過程
に対しても必要である。
装置のパラメータの変更によって、誤り原因指紋とは
別の誤り原因を検出しかつ情報担体に対する適合化行う
こともできる。更にこの装置は、誤り原因をその強度に
関して評価するのに適している。
少なくとも１つの誤り原因を検出する処理回路の構成
とは無関係に、１つまたは複数の発光ダイオード、ディ
スプレイまたは指示領域または１つまたは複数の音声信
号を発生する音声呼び出し装置から成る視覚的および／
または音響的に信号化する指示装置が設けられている。
この指示装置によって有利には、修復可能な誤り原因ま
たは修復可能および／または修復不能な誤り原因も指示
される。
装置の構造に関して、指示装置および処理回路は、別
個の誤り指示装置として再生装置に結合されている誤り
指示装置にまとめられるかまたは誤り指示装置は再生装
置に収容されておりかつこれとともに一体の構造ユニッ
トを形成する。
本発明の方法および装置の利点は殊に次の点にある。
即ち、再生装置の利用者に対して、光学的な情報担体の
再生品質の判定を容易にし、このために再生装置に既存
の装置および既に実施されているステップを使用するこ
とができかつ利用者はちょうどそのとき再生されている
光学的な情報担体の場合によって存在する誤り原因に関
する明確な情報を得て、利用者に指紋の場合には、単純
な拭き取りにより光学的な情報担体の本来の再生品質を
再び回復することを可能にする。
本発明の方法および装置は、僅かなコストで実現可能
でありかつ利用者に、本来の情報が再生されるのかまた
は殆どが補正装置によって計算されたないし補間された
情報が再生されるのかに関しての説明が行われる。
次に本発明を２つの実施例を示す図面を用いて詳細に
説明する。
第１図は、再生装置１を用いて光学的な情報担体の欠
陥誤り種別を信号化を実施するための方法を説明するブ
ロック図であり、 第２図は、誤り度から出発する、種別指示の方法のフ
ローチャートを示す図であり、 第３図は、再生装置１の高周波信号RFから出発する、
欠陥誤り原因の信号化のための方法および装置を説明す
るための信号経過を示す波形図であり、 第４図は、本発明の高周波信号RFから出発する、欠陥
誤り種別指示のための装置の回路詳細図であり、 第５図は、本発明の別の、高周波信号RFから出発す
る、欠陥誤り種別指示のための装置のブロック図であ
り、 第６図は、誤り度から出発する、欠陥誤り種別指示の
ための装置のブロック図である。
第１図に示されているように、第１ステップにおいて
少なくとも１つの誤り原因を検出しかつ第２のステップ
において指示する、再生装置１を用いて光学的な情報担
体の欠陥誤り種別を信号化するために方法は、処理回路
３および指示装置４によって実施される。
コンパクトディスクの欠陥誤り種別の信号化のための
第１の例において、第１のステップは、第１図には図示
されていない、再生装置１のデコーダ２が形成する誤り
度から少なくとも１つの誤り原因が検出される点にあ
る。光学的な記録担体の誤り度から誤り原因を検出する
ために、第２図に示されているように、再生装置のスタ
ートPLAYによってまず、誤りの発生に関して検査すべき
トラックｋの数並びに誤りレートｚを表示するフラグｍ
が零にセットされる。サブコードブロックｙの数も再生
装置のスタートPLAYの際に零にセットされる。第１のサ
ブコード同期信号SCORの発生によって、信号流れ経過が
更に進められる。誤りレートｚを表示するフラグｍは、
補間が初めて発生するときセットされる。補間の存在
は、再生装置の、光ディスクの誤り度を信号化する装置
の誤りレートｚに相応して導出される。誤りレートｚ＝
１が発生すると、回転ｘ当たりのサブコードブロックｙ
の数の計算によって、位置決定OBが実施される。回転ｘ
当たりのサブコードブロックｙの数は、走査直径から得
られる。走査直径は、数Πと乗算され、サブコードブロ
ック時間と走査速度との積によって割算される所謂サブ
コードATIMEから計算される。走査速度は周知のよう
に、それぞれのディスクに対して一度だけ決定すべきで
ありかつ回転ｘ当たりのサブコードブロックｙの数は有
利には、整数として丸められる。更に、誤りレートｚを
表示するフラグｍは１にセットされかつ引き続いてサブ
コードブロックｙの数を１だけ高めることによって、同
じディスクセクタにおいて新たに誤りレートｚが生じる
かどうかを待つ。更に、後続のステップにおいて、２つ
のサブコードブロックｙの不精確さが考慮される。これ
に、誤りバーストｈにおける誤りのあるフレームの評価
が続く。誤りの発生に関して検査すべき、トラックｋの
数との組み合わせにおいて、誤り原因指紋と、スクラッ
チ、ブラック・ドットとの間の区別を可能にするため
に、実験による結果に相応して、96のフレームに相応す
るサブコードブロック時間内の４つのフレームに関連付
けられた、誤りバーストｈの量が選択された。修復可能
な誤り原因指紋は、５つの隣接するトラックｋにおける
３より多くの誤りバーストｈの発生の際に第１の欠陥誤
り種別FA1として存在することがわかっている。他方に
おいて、スクラッチおよびブラック・ドットは、３つの
隣接するトラックk3における３までの誤りバーストｈの
発生の際に第２の欠陥誤り種別FA2として識別される。
別の誤りに対して指紋の識別の確実さの度合を高める
ために、誤りを表す信号がディスク回転と等価である信
号と結合される。これにより、指紋には由来しない複数
の短い障害が、指紋に相応する信号に加算される。ディ
スク回転に等価な信号として、有利には、所謂ラジアル
検出器の出力信号が使用される。他方において、指紋の
半径方向の拡がりを検出するためのディスク回転に相応
する所定数のトラック完了の加算過程を、計数の枠内に
おいて個別トラック回転に誤り信号が存在しないときで
も中断しないようにすれば有利である。
この例に相応する装置は、第６図に示されている。そ
れは、光ディスクの誤り度を信号化するデコーダ２を含
んでいる再生装置１と、処理回路３と、指示装置４とか
ら成っている。デコーダ２に、ちょうどそのとき再生さ
れている光ディスクの誤り度を表す信号を処理する処理
回路３が接続されている。それは、誤りのあるフレーム
を欠陥誤り場所に関連付ける計算ユニットである。計算
結果において、場合に応じて存在する誤り原因指紋また
はスクラッチ、ブラック・ドットの１つが検出されかつ
これに関する信号が処理回路３に接続されている指示装
置４に供給され、指示装置は相応の誤り原因をディスプ
レイを用いて第１の欠陥誤り種別FA1ないし第２の欠陥
誤り種別FA2として信号化する。
本発明の実施例では、第１のステップは、光ディスク
から再生装置１によって検出された高周波信号RFから少
なくとも１つの誤り原因指紋を検出することにある。こ
の方法を説明するために、第３図に、主な誤り原因が含
まれている高周波信号RFが略示されている。誤り原因ブ
ラック・ドットが存在する場合、高周波信号RFの電圧UR
Fは、零から高周波信号RFの近似的に10％まで延在する
著しい落ち込みを有することが認められた。これらの落
ち込みは、信号経過において図示されているように、種
々異なった落ち込み深度および落ち込み長さを有する可
能性がある。
誤り原因スクラッチは、高周波信号RFの電圧URFの、
比較的僅かな落ち込み深度および主に比較的僅かな落ち
込み長さによっても特徴付けられている落ち込みを来
す。
指紋によって、光ディスク上のその拡がりに基づい
て、4msまでの落ち込み長さないし時間間隔を有する高
周波信号RFの電圧URFの落ち込みが生じる。その際指紋
の強さは落ち込み深度に相応する。非常に軽い指紋は光
ディスクの再生品質に影響しないので、それは考慮され
ずにとどまる。このようにして得られる認識から出発し
て、高周波信号RFから測定信号Ｍが導出されかつ高周波
信号RFの90％として固定された上側のしきい値W1および
高周波信号RFの10％に相応する下側のしきい値W2内の測
定信号Ｍの発生の際に、4msまでの時間間隔を有する時
間領域において誤り原因指紋が検出される。
しきい値W1,W2を高周波信号RFのピーク値A,Bに関連付
けることによって、機器に固有でありかつ光ディスクの
反射層の品質に依存している、高周波信号RFの絶対電圧
URの影響を受けないようにすることができる。測定信号
Ｍを高周波信号RFから同様に導出されるしきい値W1,W2
に関連付けて評価することができるようにするために、
これらの時定数は、測定信号Ｍの時定数に比べて著しく
大きく選択された。しきい値W1,W2の時定数は20msであ
りかつ測定信号の時定数は2msである。
その場合第１のステップの実施例とは無関係に、上述
の指示装置４によって、第２のステップにおいて少なく
とも１つの誤り原因が信号化される。
高周波信号RFから出発する本発明の実施例を実現する
ために、第４図に示されている装置が設けられている。
この装置のブロック図は、第５図に示されている。この
ブロック図は、誤り度から出発する誤り指示のための装
置の第６図のブロック図と類似して、この場合誤り原因
指紋に制限されている指示装置４が接続されている処理
回路３を有している。処理回路３は同様に再生装置１に
接続されておりかつこの実施例においては、光ディスク
から高周波信号RFを検出する、再生装置１の走査子７に
接続されている。処理回路は、指示装置４とともに、指
示装置５を形成する。この誤り指示装置の内部構成は、
第４図の装置に示されている。この装置は、３つのピー
ク値整流器D1,C1,S1;D2,C2,S2;D3,C3,S3から成り、それ
らはそれぞれ、ダイオードD1,D2,D3、コンデンサC1,C2,
C3および定電流源S1,S2,S3を有している。
定電流源S1,S2,S3は、ダイオードD1,D2,D3の方向に応
じて、アース線または給電電圧線U1に接続されておりか
つコンデンサC1,C2,C3はアース線に接続されている。２
つの第１のピーク値整流器D1,C1,S1;D2,C2,S2のダイオ
ードD1,D2は、反対方向に極性付けられておりかつ第２
のピーク値整流器D3,C3,S3のダイオードD3とともに、高
周波信号RFを発生する走査子７に接続されている。高周
波信号RFから測定信号Ｍを導出する第２のピーク値整流
器D3,C3,S3のダイオードD3の方向は、高周波信号RFの位
相位置に相応しかつ第２のピーク値整流器D3,C3,S3に２
つの第１のコンパレータV1,V2が接続されており、これ
らコンパレータの比較入力側は、分圧器R1,R2,R3に接続
されている。この分圧器は、第１のピーク値整流器D1,C
1,S1:D2,C2,S2を相互に接続しかつ高周波信号RFの上側
のピーク値Ａおよび下側のピーク値Ｂに関連付けられ
た、高周波信号の10％ないし90％であるしきい値を形成
する。２つの第１のコンパレータV1,V2によって、測定
信号Ｍがしきい値W1,W2を上回ったことないし下回った
ことが検出される。誤り原因に相応する測定信号Ｍに対
する２つの第１のコンパレータV1,V2の出力信号a,bは、
第３図に図示されている。２つの第１のコンパレータV
1,V2の出力信号a,bを、これらコンパレータV1,V2に接続
されているANDゲートＧを介して結合することによっ
て、測定信号Ｍがしきい値W1,W2内の値を有するとき、
信号ｃが形成される。
付加的に出力信号Ｍの時間評価を行うべきであるの
で、ゲートＧの出力側に時限素子が接続されている。時
限素子は、積分器とそれに後置接続されているコンパレ
ータV3とによって形成される。積分器は、ダイオードD4
と、給電電圧U2に接続されている定電流源S4と、コンデ
ンサC4とから成る。ゲートＧの信号ｃに相応して、同様
に第３図に示されている積分信号ｄが形成されかつ基準
電圧U3との比較のためにコンパレータV3に供給され、そ
の結果コンパレータV3の出力側に基準電圧U3によって決
められる、4msの時間間隔によって、誤り原因指紋を特
徴付ける誤り信号が送出される。
比較的短時間発生する誤り信号ｅが再生装置１の利用
者によって知覚されることを保証するために、コンパレ
ータV3に、パルス延長のための単安定マルチバイブレー
タＦが接続されており、その出力信号ｆは同様に第３図
に示されておりかつ、誤り原因指紋を可視表示する発光
ダイオードLDに供給される。高周波信号RFから出発する
この指示装置５は、同様に処理回路３および指示装置４
から成る、誤り度から出発する誤り指示装置５に相応し
て、第５図および第６図に示されているように、再生装
置１と単一構成ユニット６にまとめることができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (31)優先権主張番号 Ｐ４２１０２６４．２ (32)優先日 平成４年３月28日(1992．3．28) (33)優先権主張国 ドイツ（ＤＥ） (72)発明者 ルッチュマン，リヒャルト ドイツ連邦共和国 Ｄ−7896 ヴートエ シンゲン ベルクシュトラーセ 17 (56)参考文献 特開 昭59−142756（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−209344（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−127574（ＪＰ，Ａ) 実開 昭61−52331（ＪＰ，Ｕ) 西独国特許出願公開2851822（ＤＥ, Ａ１) 西独国特許出願公開4029220（ＤＥ, Ａ１) 欧州特許出願公開73519（ＥＰ，Ａ１) 欧州特許出願公開302507（ＥＰ，Ａ １) 欧州特許出願公開144831（ＥＰ，Ａ １) 英国特許出願公開2137799（ＧＢ，Ａ) 米国特許出願公開4287587（ＵＳ，Ａ) Ｔ．ＧＩＦＦＡＲＤ，ＣＤ ＥＲＲＯ Ｒ ＤＥＴＥＣＴＯＲ，ＥＬＥＫＴＯＲ ＥＬＥＣＴＲＯＮＩＣＳ，英国，Ｖｏ ｌ．15，Ｎｏ．171，ｐｐ．12−15 ＭＵＬＩ−ＴＨＲＥＳＨＯＬＤ ＳＵ ＲＦＡＣＥ ＡＮＡＬＹＳＩＳ ＴＥＳ ＴＥＲ，ＩＢＭ ＴＥＣＨＮＩＣＡＬ ＤＩＳＣＬＯＳＵＲＥ ＢＵＬＬＥＴＩ Ｎ，米国，Ｖｏｌ．31，Ｎｏ．８，ｐ ｐ．128−130 (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/013 G11B 20/18

Claims (12)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】複数のトラックを有している光学的な記録
    担体に記録されかつ欠陥を受けている情報を修復するた
    めに再生装置における誤り原因を信号化するための光学
    装置において、 前記光学的な記録担体から高周波信号を発生するように
    調整されているピックアップ回路を備え、該高周波信号
    は、欠陥がない場合、相対的に正の平均最大値Ａと相対
    的に負の平均最小値Ｂとの間を変動する出力値を呈し、 前記高周波信号を受信して、ダイナミックしきい値を発
    生するように接続されているしきい値回路を備え、該ダ
    イナミックしきい値は前記相対的に正の平均最大値Ａよ
    り前以て決められた量だけ低く、 前記高周波信号が同時に、第２の前以て決められたしき
    い値より大きいときに、前記ダイナミックしきい値を下
    回っている前記高周波信号の包絡線の発生を検出するよ
    うに構成されているコンパレータ回路を備え、 積分器を含んでいて前記コンパレータ回路に接続されて
    いる持続時間検出器を備え、該持続時間検出器は、前記
    発生の１つの持続時間が前以て決められた持続時間を上
    回るとき制御信号を発生し、該制御信号は特定の原因の
    誤りの発生を指示しており、かつ 前記持続時間検出器に接続されていて、前記制御信号に
    応答して誤りの原因として指紋を指示する指示装置を備
    えている ことを特徴とする再生装置における誤り原因を信号化す
    るための光学装置。
  2. 【請求項２】前記ピックアップ回路は、前記光学的な記
    録担体から相対的に正の値Ａと相対的に負の値Ｂとの間
    にある値を有する包絡線を有している高周波信号を発生
    するための手段として調整されており、 前記しきい値回路は、第１および第２の反対方向に極性
    付けられた整流器を備え、該整流器はそれぞれ、前記高
    周波信号を受信するように接続されている入力端子と、
    出力端子とを有しており、 第１および第２の整流された信号を発生するための前記
    第１および第２の反対方向に極性付けられた整流器の出
    力端子の間に接続されている電位分割回路を備え、該電
    位分割回路は、前記第１および第２の反対方向に極性付
    けられた整流器の出力端子から取り出される整流された
    信号の値の間にある値を有しており、 第１および第２のコンパレータを備え、該コンパレータ
    はそれぞれ、反転入力端子、非反転入力端子および出力
    端子を有し、第１のコンパレータの反転入力端子は第１
    の整流された信号を受信するように接続されておりかつ
    第２のコンパレータの非反転入力端子は第２の整流され
    た信号を受信するように接続されており、前記第１およ
    び第２の反対方向に極性付けられた整流器より短い時定
    数を有している第３の整流器を備え、該第３の整流器は
    前記高周波信号を受信するように接続されている入力端
    子と、前記第１および第２のコンパレータの反転入力端
    子および非反転入力端子に接続されている出力端子を有
    しており、かつ 前記第１および第２のコンパレータの出力端子に接続さ
    れている論理回路を備えている 請求項１記載の再生装置における誤り原因を信号化する
    ための光学装置。
  3. 【請求項３】前記第１および第２の反対方向に極性付け
    られた整流器は、異なった周波数の高周波信号を本装置
    が処理できるようにする選択可能な時定数を含んでいる
    請求項２記載の再生装置における誤り原因を信号化する
    ための光学装置。
  4. 【請求項４】前記第１および第２の反対方向に極性付け
    られた整流器は、 それぞれの整流器の入力端子と出力端子との間に接続さ
    れているダイオードと、前記整流器の出力端子に接続さ
    れている定電流源と、 前記それぞれの整流器の出力端子と定電位点との間に接
    続されているコンデンサとを有している 請求項２記載の再生装置における誤り原因を信号化する
    ための光学装置。
  5. 【請求項５】前記しきい値回路は、前記高周波信号の包
    絡線が上側のしきい値W1と下側のしきい値W2との間にあ
    るとき、発生を表している信号を発生するためのしきい
    値回路であり、ここで値W1は値Ａより小さくかつ値W2は
    値Ｂより大きく、かつ 前記持続時間検出器は、前記しきい値回路に接続されて
    いる第１の端子と、第２の端子とを有しているダイオー
    ドと、 前記ダイオードの第２の端子と、定電位点との間に接続
    されているコンデンサと、 前記ダイオードの第２の端子に接続されている定電流源
    と、 前記ダイオードの第２の端子に接続されているコンパレ
    ータとを備えている 請求項１記載の再生装置における誤り原因を信号化する
    ための光学装置。
  6. 【請求項６】前記指示装置は、 前記持続時間検出器の出力側に接続されている単安定マ
    ルチバイブレータと、 該単安定マルチバイブレータに接続されていて、誤り原
    因としての指紋を指示するための指示手段と から成っている 請求項１記載の再生装置における誤り原因を信号化する
    ための光学装置。
  7. 【請求項７】更に、コード化誤りの発生を検出するため
    の、デコード化された再生された高周波信号に応答する
    誤り検出回路を備え、 それぞれのトラックにおけるコード化誤りの発生を評価
    し、かつ前以て決められた最小数の誤りが隣接するトラ
    ックの前以て決められた最小数の同じセクタにおいて発
    生するとき、誤りの特定の原因を突き止めるための処理
    回路を備え、かつ前記処理回路および前記持続時間検出
    回路に応答して、所定の形式の誤りが検出されたとき誤
    りの原因として指紋を指示する指示装置を備えている 請求項１記載の再生装置における誤り原因を信号化する
    ための光学装置。
  8. 【請求項８】前記持続時間検出器は、１つのダイオー
    ド、１つのコンデンサおよび１つの定電流源とから構成
    されていて、コンパレータ（V3）が後置接続されている
    積分器でありかつ誤り原因の発生の時間空間を越える指
    示のために、モノフロップ（Ｆ）および／またはリセッ
    ト可能なメモリが設けられている 請求項１記載の再生装置における誤り原因を信号化する
    ための光学装置。
  9. 【請求項９】前記指示装置は可視的におよび／または音
    響的に信号化する指示装置であり、該指示装置は修復可
    能および／または修復不能な誤り原因を信号化しかつ前
    記処理回路と一緒に別個の誤り指示装置または前記再生
    装置と一緒に単一構成ユニット（６）を形成する 請求項１記載の再生装置における誤り原因を信号化する
    ための光学装置。
  10. 【請求項１０】種々異なったセクタを横断する複数のト
    ラックを有している光学的な記録担体における欠陥を検
    出することを条件として、再生装置における誤り原因を
    信号化するための方法であって、前記担体から修復され
    る記録された情報を表している高周波信号を発生するた
    めの装置を用い、ここで高周波信号の包絡線の、実質的
    に一定の値からの偏差が誤りの発生を指示する形式の方
    法において、 第１の時定数によって、前記高周波信号の包絡線を表し
    ている第１の信号を発生し、 第１の時定数より長い第２の時定数によって、前記高周
    波信号から、ダイナミックしきい値信号を表している第
    ２の信号を発生し、 前記第１の信号および第２の信号を比較して、前以て決
    められた値の範囲内にある前記高周波信号の前記包絡線
    の発生を検出し、ここで前以て決められた値の範囲は前
    記実質的に一定の値より小さい上側の値および、包絡線
    が示す可能性がある最小値よりは大きい下側の値を有し
    ており、 前記発生のそれぞれの持続時間を測定し、かつ 測定された持続時間が前以て決められた期間より大きい
    場合には、指紋が誤りの原因であることを信号化する ことを特徴とする再生装置における誤り原因を信号化す
    るための方法。
  11. 【請求項１１】前記高周波信号の包絡線によって示され
    る値の通常の範囲の７％と93％との間の範囲内にある前
    記高周波信号の前記包絡線の発生を検出し、 前記発生のそれぞれの持続時間を測定し、かつ 測定された持続時間が4msより大きい場合には指紋が誤
    りの原因であることを信号化する 請求項10記載の再生装置における誤り原因を信号化する
    ための方法。
  12. 【請求項１２】複数の記録トラックを有している光学的
    な記録担体から、記録されかつ欠陥を受けている情報を
    修復するための信号再生装置において誤り原因を信号化
    するための光学装置において、 前記記録担体から記録された信号を修復するための検出
    器を備え、 指紋検出器を備え、該指紋検出器は、第１の包絡線検出
    器と、第２の包絡線検出器と、コンパレータと、持続時
    間検出器と、指示装置とを含んで成り、その際第１の包
    絡線検出器は第１の時定数を有し、前記記録担体から再
    生された高周波信号を受信するように接続されている入
    力端子を有し、かつ前記高周波信号の包絡線が取り出し
    可能である出力端子を有しており、 第２の包絡線検出器は前記第１の時定数に比べて長い第
    ２の時定数を有し、前記高周波信号を受信するように接
    続されている入力端子を有し、かつダイナミックしきい
    値信号が取り出し可能である出力端子を有しており、 コンパレータは前記第１のおよび第２の包絡線検出器の
    出力端子に接続されている第１および第２の入力端子を
    有しており、かつ前記包絡線が前記ダイナミックしきい
    値信号より大きいとき第１の状態を呈しかつ前記ダイナ
    ミックしきい値信号より小さいとき第２の状態を呈する
    出力端子を有しており、 持続時間検出器は前記コンパレータに接続されており、
    かつ制御信号が取り出し可能である出力端子を有してお
    り、該制御信号は前記包絡線の値が前記ダイナミックし
    きい値信号より前以て決められた期間の間小さいとき第
    １の状態を呈し、かつその他のときは第２の状態を呈
    し、かつ 指示装置は前記指紋検出器に接続されており、かつ前記
    記録担体上の指紋の発生の指示を行うために前記制御信
    号によって操作される ことを特徴とする再生装置における誤り原因を信号化す
    るための光学装置。
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