JPS6143884A - ドロツプアウト検出回路 - Google Patents
ドロツプアウト検出回路Info
- Publication number
- JPS6143884A JPS6143884A JP59166026A JP16602684A JPS6143884A JP S6143884 A JPS6143884 A JP S6143884A JP 59166026 A JP59166026 A JP 59166026A JP 16602684 A JP16602684 A JP 16602684A JP S6143884 A JPS6143884 A JP S6143884A
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- JP
- Japan
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- dropout
- signal
- circuit
- pulse
- voltage
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- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/76—Television signal recording
- H04N5/91—Television signal processing therefor
- H04N5/93—Regeneration of the television signal or of selected parts thereof
- H04N5/94—Signal drop-out compensation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Television Signal Processing For Recording (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はドロップアウト検出回路に係り、情報記録円盤
の欠陥を検査する装置に用いられ円盤よりの再生信号の
ドロップアウトを検出するドロップアウト検出回路に関
する。
の欠陥を検査する装置に用いられ円盤よりの再生信号の
ドロップアウトを検出するドロップアウト検出回路に関
する。
従来の技術
従来より、針案内溝を形成することなく主要情報信号（
例えば音声信号を含む映像信号）並びに第１乃至第３の
トラッキング制御用参照信号が夫々幾何学的形状の変化
として記録された電極性能を有する情報記録円盤（以下
Ｕディスクｊという〉、及びそれを電極を有づるセンサ
との相対的摺動走査により上記主要情報信号並びに第１
乃至第３のトラッキング制御用参照信号を静電容量の変
化として読み取り再生する装置がある。
例えば音声信号を含む映像信号）並びに第１乃至第３の
トラッキング制御用参照信号が夫々幾何学的形状の変化
として記録された電極性能を有する情報記録円盤（以下
Ｕディスクｊという〉、及びそれを電極を有づるセンサ
との相対的摺動走査により上記主要情報信号並びに第１
乃至第３のトラッキング制御用参照信号を静電容量の変
化として読み取り再生する装置がある。
上記のディスクはその製造過程で表面が凸状又は凹状に
変形したり、傷を生じたり、しみ・汚れが付着したりす
る場合があり、このような欠陥部分ではセンサによって
ディスクの情報信号をうまく再生できず、情報信号のド
ロップアウトを生じ、高品質の画像を得ることができな
い。そこで、本出願人は特願昭５８−１０８８８２号そ
の他により、ディスクを再生装置で再生し、その再生高
周波信号及び再生ａ置の出力する種々の信号よりデイス
クの欠陥のイ］照を確実に検出でき、その判定基準が一
定′Ｃ信頼性の高い欠陥検査装置を提案した。
変形したり、傷を生じたり、しみ・汚れが付着したりす
る場合があり、このような欠陥部分ではセンサによって
ディスクの情報信号をうまく再生できず、情報信号のド
ロップアウトを生じ、高品質の画像を得ることができな
い。そこで、本出願人は特願昭５８−１０８８８２号そ
の他により、ディスクを再生装置で再生し、その再生高
周波信号及び再生ａ置の出力する種々の信号よりデイス
クの欠陥のイ］照を確実に検出でき、その判定基準が一
定′Ｃ信頼性の高い欠陥検査装置を提案した。
発明が解決しよ゛）とする問題点
上記の欠陥検査装置では検査時間を短Ｉｉｉづるために
例えば５倍速の高速再生を行なってドロップアウトの検
出を行なっている。高速再生時にはセンサを強制的にデ
ィスク半径り向に１トラツクピツプだ１ノ移送するキッ
クを行ない、このキック時には高周波信号の再生がうま
くなされずドに１ツブアウトを住じる。このため、従来
装置においては、１４５図に承り如く、再生機より端子
１０を介して入来づるドロップアウトパルス（補正信号
）はスイッチ回路１１に供給される。端子１２にはキッ
クパルス（キックを指示りる信号）より生成されたマス
ク信号が人来し、常閉のスイッチ回路１１はマスク信号
の供給時に間成りることにより、キック時以外のドロッ
プアウトパルスを取り出しドロップアウト検出回路１３
に供給している。これによってドロップアウト検出回路
１３はキックによるドロップアラｔ・を除いたディスク
の欠陥によるドロップアウトの検出信号を生成してＱに
；了１／１より出力する。
例えば５倍速の高速再生を行なってドロップアウトの検
出を行なっている。高速再生時にはセンサを強制的にデ
ィスク半径り向に１トラツクピツプだ１ノ移送するキッ
クを行ない、このキック時には高周波信号の再生がうま
くなされずドに１ツブアウトを住じる。このため、従来
装置においては、１４５図に承り如く、再生機より端子
１０を介して入来づるドロップアウトパルス（補正信号
）はスイッチ回路１１に供給される。端子１２にはキッ
クパルス（キックを指示りる信号）より生成されたマス
ク信号が人来し、常閉のスイッチ回路１１はマスク信号
の供給時に間成りることにより、キック時以外のドロッ
プアウトパルスを取り出しドロップアウト検出回路１３
に供給している。これによってドロップアウト検出回路
１３はキックによるドロップアラｔ・を除いたディスク
の欠陥によるドロップアウトの検出信号を生成してＱに
；了１／１より出力する。
しかし、更に検査時間を知１−＝ｌるために例えば１７
（高速の高速再生を行なってドロツブアラｉ〜の検出を
づる場合には、ディスク１回転当りのキック回数は５倍
速時の４倍となり、スイッチ回路１１においてキックに
よるドロップアウトパルスを除去することが困難である
という問題点があった。
（高速の高速再生を行なってドロツブアラｉ〜の検出を
づる場合には、ディスク１回転当りのキック回数は５倍
速時の４倍となり、スイッチ回路１１においてキックに
よるドロップアウトパルスを除去することが困難である
という問題点があった。
そこで、本発明は高速再生時にはキックによる補正信号
及び欠陥による補正信号を共に積分及び比較することに
より、上記の問題点を解決したドロップアウト検出回路
を提供することを目的とプる。
及び欠陥による補正信号を共に積分及び比較することに
より、上記の問題点を解決したドロップアウト検出回路
を提供することを目的とプる。
問題点を解決づるための手段
本発明は、高速再生時においてはキックによる補正信号
及び欠陥による補正信号を共に充放電回路で積分する。
及び欠陥による補正信号を共に充放電回路で積分する。
充放電回路の出力電圧は比較回路で一定の基準電圧と比
較されド［１ツブ）ノウミル検出信号が生成される。
較されド［１ツブ）ノウミル検出信号が生成される。
作用
本発明においては、高速再生時にディスクの欠陥により
生じた補正信号は従来の如くキックにより生じた補正信
号を除去ザることなく共に充放電回路に供給されて積分
される。この充放電回路の出力電圧はキックによる補正
信号の積分値がバイアスとなり、このバイアス」ニに欠
陥による補正信号の積分値がΦ畳されたものであり、出
力電圧は比較回路で一定の基準電圧と比較され、ドロッ
プアウト検出信８が生成される。
生じた補正信号は従来の如くキックにより生じた補正信
号を除去ザることなく共に充放電回路に供給されて積分
される。この充放電回路の出力電圧はキックによる補正
信号の積分値がバイアスとなり、このバイアス」ニに欠
陥による補正信号の積分値がΦ畳されたものであり、出
力電圧は比較回路で一定の基準電圧と比較され、ドロッ
プアウト検出信８が生成される。
実施例
第１図は本発明回路の一実施例の回路構成図を示す。こ
の第１図示の回路は第２図に承り欠陥検査装置に適用き
れる。
の第１図示の回路は第２図に承り欠陥検査装置に適用き
れる。
第２図に承り欠陥検査装置はディスクを再生する再生ｉ
ｉと、装置の制御を行なうＣＰＩＪ２と第１図示の回路
が内蔵されるドロップアウト検出装Ｈ３とより構成され
ている。再生Ｉ！１１はＣＰｊＪ２に制御されて被検査
体であるディスクをノーマル再生及び高速再生して、再
生高周波（４号より映像信号等の主要情報信号を復調し
て端子４よりモニタ受像機（図示せず）に供給すると共
に、高周波信号がうまく再生されないとき、補正信号と
してのドロップアウトパルスを発生して、このドロップ
アウトパルス及び高周波信号をドロップアウト検出装置
３に供給する。ドロップアウト検出装置３は上記パルス
とＣＰＵ２よりの信号を用いて、使用者に画像の乱れと
して認識される映像信号のドロップアウトを検出し、こ
のドロップアウトの検出データをＣＰｔＪ２に供給する
。上記検出データはＣＰＵ２で処理・格納され、ここで
ドロップアウトの発生状態等がディスプレイ又はプリン
トアウト処理により表示される。
ｉと、装置の制御を行なうＣＰＩＪ２と第１図示の回路
が内蔵されるドロップアウト検出装Ｈ３とより構成され
ている。再生Ｉ！１１はＣＰｊＪ２に制御されて被検査
体であるディスクをノーマル再生及び高速再生して、再
生高周波（４号より映像信号等の主要情報信号を復調し
て端子４よりモニタ受像機（図示せず）に供給すると共
に、高周波信号がうまく再生されないとき、補正信号と
してのドロップアウトパルスを発生して、このドロップ
アウトパルス及び高周波信号をドロップアウト検出装置
３に供給する。ドロップアウト検出装置３は上記パルス
とＣＰＵ２よりの信号を用いて、使用者に画像の乱れと
して認識される映像信号のドロップアウトを検出し、こ
のドロップアウトの検出データをＣＰｔＪ２に供給する
。上記検出データはＣＰＵ２で処理・格納され、ここで
ドロップアウトの発生状態等がディスプレイ又はプリン
トアウト処理により表示される。
第１図において、端子５には再生機１よりの補正信号で
あるドロップアウトパルスが入来する。
あるドロップアウトパルスが入来する。
このドロップアウトパルスは再生機１が例えば１７倍速
の高速再生を行なっているとき、第３図（Ａ）に示す如
く所定周期で発生するキックによるドロップアウトパル
スａ１ と、ディスクの欠陥部分で発ｇ：するド１」ツ
ブアウトパルスａ２とを含んでいる。
の高速再生を行なっているとき、第３図（Ａ）に示す如
く所定周期で発生するキックによるドロップアウトパル
スａ１ と、ディスクの欠陥部分で発ｇ：するド１」ツ
ブアウトパルスａ２とを含んでいる。
端子５は抵抗Ｒ＋、ダイオードＤ１を介してコンパレー
タ６の非反転入力端子に接続され、この非反転入力端子
は抵抗Ｒ２，コンデン＋＃Ｃ１夫々を介して接地されて
おり、抵抗Ｒ＋ 、Ｒ２、ダイオードＤ＋、コンデンサ
Ｃ１により充放電回路７が構成されている。コンパレー
タ６の反転入力端子には電圧Ｅ１の基準電圧が印加され
、コンパレータ６の出力端子は端子８に接続されている
。
タ６の非反転入力端子に接続され、この非反転入力端子
は抵抗Ｒ２，コンデン＋＃Ｃ１夫々を介して接地されて
おり、抵抗Ｒ＋ 、Ｒ２、ダイオードＤ＋、コンデンサ
Ｃ１により充放電回路７が構成されている。コンパレー
タ６の反転入力端子には電圧Ｅ１の基準電圧が印加され
、コンパレータ６の出力端子は端子８に接続されている
。
このため、端子５に入来するドロップアウトパルスのＨ
レベル期間にコンデンサＣ１は充電時定数τ１ （τ＋
＝Ｃ＋ Ｒ＋ ）で充電され、Ｌレベル期間に放電時
定数τ２ （τ１くτ２＝ＣＩＲ２）で放電される。従
って、第３図（Ａ）に示すドロップアウトパルスは充放
電回路７において積分されて第３図（Ｂ）に示す信号す
とされ、コンパレータ６の非反転入力端子に供給される
。信号すは、キックによるドロップアウトパルスａ１の
積分されたもので図中破線で示づ電圧Ｅａまでバイアス
され、このバイアス上に欠陥によるドロップアウトパル
スａ２の積分波形が重畳されＩＣものと見なずことがで
きる。
レベル期間にコンデンサＣ１は充電時定数τ１ （τ＋
＝Ｃ＋ Ｒ＋ ）で充電され、Ｌレベル期間に放電時
定数τ２ （τ１くτ２＝ＣＩＲ２）で放電される。従
って、第３図（Ａ）に示すドロップアウトパルスは充放
電回路７において積分されて第３図（Ｂ）に示す信号す
とされ、コンパレータ６の非反転入力端子に供給される
。信号すは、キックによるドロップアウトパルスａ１の
積分されたもので図中破線で示づ電圧Ｅａまでバイアス
され、このバイアス上に欠陥によるドロップアウトパル
スａ２の積分波形が重畳されＩＣものと見なずことがで
きる。
比較回路であるコンパレータ６は信号すの電圧を第３図
（Ｂ）の一点鎖線で示す基準電圧Ｅ１と比較して、信号
わが基準電圧Ｅ１を越えたとき第３図（Ｃ）に示すドロ
ップアウト検出信号Ｃを発生して端子８より出力する。
（Ｂ）の一点鎖線で示す基準電圧Ｅ１と比較して、信号
わが基準電圧Ｅ１を越えたとき第３図（Ｃ）に示すドロ
ップアウト検出信号Ｃを発生して端子８より出力する。
このようにキックにより所定周期で生じるドロップアウ
トパルスａ、と欠陥で生じるドロップアウトパルスａ２
とが混在するドロップアウトパルスを第１図示の検出回
路に直接供給するため、キックによるドロップアウトパ
ルスａ１を除去する必要がなく、回路構成が簡単となる
。
トパルスａ、と欠陥で生じるドロップアウトパルスａ２
とが混在するドロップアウトパルスを第１図示の検出回
路に直接供給するため、キックによるドロップアウトパ
ルスａ１を除去する必要がなく、回路構成が簡単となる
。
また、再生機１がノーマル再生を行なうとき端子５には
第３図（Ｄ）に示す如く、欠陥により生じたドロップア
ウトパルスａ３．ａ４のみよりなるドロップアウトパル
スが入来する。このドロップアウトパルスは充放電回路
７により第３図（Ｅ）に示す信号すとされた後、コンパ
レータ６で基準電圧Ｅ１と比較され、第３図（Ｆ）に示
す如きドロップアウト検出信号Ｃを発生する。この場合
、キックによるドロップアウトパルスがないため、信号
わが基準電圧Ｅ＋を越えるにはドロップアウトパルスａ
３のパルス幅が高速再生時より大でなければならない。
第３図（Ｄ）に示す如く、欠陥により生じたドロップア
ウトパルスａ３．ａ４のみよりなるドロップアウトパル
スが入来する。このドロップアウトパルスは充放電回路
７により第３図（Ｅ）に示す信号すとされた後、コンパ
レータ６で基準電圧Ｅ１と比較され、第３図（Ｆ）に示
す如きドロップアウト検出信号Ｃを発生する。この場合
、キックによるドロップアウトパルスがないため、信号
わが基準電圧Ｅ＋を越えるにはドロップアウトパルスａ
３のパルス幅が高速再生時より大でなければならない。
第３図＜Ａ）のドロップアウトパルスａ２と等しいパル
ス幅のドロップアウトパルス８４によってはドロップア
ウト検出信号が発生されない。つまり１７倍速の高速再
生時におけるドロップアウトの検出感度がノーマル再生
時の検出ＩＩＡ度より大となる。これは第４図に示すデ
ィスク２０の半径に沿う断面に凸状欠陥２１がある場合
、ノーマル再生によってはセンサが矢印Ｘ＋〜Ｘ２５の
位置を走査して矢印ｘ１〜Ｘ２５でドロップアウトが発
生し、かつ矢印×８〜ＸＩ７で発生するドロップアウト
パルスのパルス幅は大となる。
ス幅のドロップアウトパルス８４によってはドロップア
ウト検出信号が発生されない。つまり１７倍速の高速再
生時におけるドロップアウトの検出感度がノーマル再生
時の検出ＩＩＡ度より大となる。これは第４図に示すデ
ィスク２０の半径に沿う断面に凸状欠陥２１がある場合
、ノーマル再生によってはセンサが矢印Ｘ＋〜Ｘ２５の
位置を走査して矢印ｘ１〜Ｘ２５でドロップアウトが発
生し、かつ矢印×８〜ＸＩ７で発生するドロップアウト
パルスのパルス幅は大となる。
しかし１７倍速の高速再生によっては例えば矢印×４と
Ｘ？ｏの位置だけが走査され、この位置で発生づるドロ
ップアウトパルスのパルス幅は小である。このために、
高速再生時の検出感度はノーマル再生時より高くなけれ
ば凸状欠陥２１を検出できないためである。
Ｘ？ｏの位置だけが走査され、この位置で発生づるドロ
ップアウトパルスのパルス幅は小である。このために、
高速再生時の検出感度はノーマル再生時より高くなけれ
ば凸状欠陥２１を検出できないためである。
すなわち、第１図示の回路においては再生速度に応じて
ドロップアウト検出の検出感度が自動調整され、−の回
路で異なる再生速度のドロップアウト検出を行なうこと
ができる。
ドロップアウト検出の検出感度が自動調整され、−の回
路で異なる再生速度のドロップアウト検出を行なうこと
ができる。
発明の効果
上述の如く、本発明になるドロップアウト検出回路は、
少なくとも高速再生時にはキックによる補正信号及び欠
陥による補正信号を共に積分して一定の基準電圧と比較
するため、従来の如くキックによる補正信号を除去づる
必要がなく回路構成が簡単となり、また、ノーマル再生
及び高速再生の再生速度に応じてドロツブアラ１への検
出感度が自動調整され単一の回路で異なる再生速度のド
ロップアウト検出を行なうことができる等の特長を有し
ている。
少なくとも高速再生時にはキックによる補正信号及び欠
陥による補正信号を共に積分して一定の基準電圧と比較
するため、従来の如くキックによる補正信号を除去づる
必要がなく回路構成が簡単となり、また、ノーマル再生
及び高速再生の再生速度に応じてドロツブアラ１への検
出感度が自動調整され単一の回路で異なる再生速度のド
ロップアウト検出を行なうことができる等の特長を有し
ている。
第１図は本発明回路の一実施例の回路構成図、第２図は
第１図示の回路を適用した欠陥検査装置の一実施例のブ
ロック系統図、第３図は第１図示の回路各部の信号波形
図、第４図はディスクの走査位置を示す図、第５図は従
来回路の一例のブロック系統図である。 １・・・再生機、２・・・ＣＰＵ、３・・・ドロップア
ウト検出装置、６・・・コンパレータ、７・・・充１ｉ
５（電回路、Ｒ＋ 、Ｒ２・・・抵抗、Ｃ１・・・コン
デンサ、Ｄｌ・・・ダイオード。 特許出願人 日本ビクター株式会社 第１図 ２．・７ 第４図
第１図示の回路を適用した欠陥検査装置の一実施例のブ
ロック系統図、第３図は第１図示の回路各部の信号波形
図、第４図はディスクの走査位置を示す図、第５図は従
来回路の一例のブロック系統図である。 １・・・再生機、２・・・ＣＰＵ、３・・・ドロップア
ウト検出装置、６・・・コンパレータ、７・・・充１ｉ
５（電回路、Ｒ＋ 、Ｒ２・・・抵抗、Ｃ１・・・コン
デンサ、Ｄｌ・・・ダイオード。 特許出願人 日本ビクター株式会社 第１図 ２．・７ 第４図
Claims (1)
- 情報記録円盤の再生高周波信号より生成され、該高周波
信号より得られる映像信号の補正に用いられる補正信号
より該映像信号のドロップアウトを検出するドロップア
ウト検出回路であつて、少なくとも該円盤の高速再生時
には該円盤を再生するセンサの走査トラックの変更に伴
なう補正信号及び該円盤の欠陥により生じる補正信号を
共に積分する充放電回路と、該充放電回路の出力電圧を
一定の基準電圧と比較してドロップアウト検出信号を生
成する比較回路とより構成したことを特徴とするドロッ
プアウト検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59166026A JPS6143884A (ja) | 1984-08-08 | 1984-08-08 | ドロツプアウト検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59166026A JPS6143884A (ja) | 1984-08-08 | 1984-08-08 | ドロツプアウト検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6143884A true JPS6143884A (ja) | 1986-03-03 |
Family
ID=15823557
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59166026A Pending JPS6143884A (ja) | 1984-08-08 | 1984-08-08 | ドロツプアウト検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6143884A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005249510A (ja) * | 2004-03-03 | 2005-09-15 | Hisashi Okuhara | 電縫管の溶接欠陥検出装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57170672A (en) * | 1981-04-13 | 1982-10-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Drop-out testing device |
| JPS5813745B2 (ja) * | 1975-01-09 | 1983-03-15 | クレツクネル − フムボルト − ドイツ アクチエンゲゼルシヤフト | ナイネンキカンヨウネンリヨウフンシヤベン |
-
1984
- 1984-08-08 JP JP59166026A patent/JPS6143884A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5813745B2 (ja) * | 1975-01-09 | 1983-03-15 | クレツクネル − フムボルト − ドイツ アクチエンゲゼルシヤフト | ナイネンキカンヨウネンリヨウフンシヤベン |
| JPS57170672A (en) * | 1981-04-13 | 1982-10-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Drop-out testing device |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005249510A (ja) * | 2004-03-03 | 2005-09-15 | Hisashi Okuhara | 電縫管の溶接欠陥検出装置 |
| JP4526281B2 (ja) * | 2004-03-03 | 2010-08-18 | 恒 奥原 | 電縫管の溶接欠陥検出装置 |
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