JPH0349385B2 - - Google Patents

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JPH0349385B2
JPH0349385B2 JP17482784A JP17482784A JPH0349385B2 JP H0349385 B2 JPH0349385 B2 JP H0349385B2 JP 17482784 A JP17482784 A JP 17482784A JP 17482784 A JP17482784 A JP 17482784A JP H0349385 B2 JPH0349385 B2 JP H0349385B2
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JP
Japan
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inspected
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recording disk
track
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JP17482784A
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English (en)
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JPS6151552A (ja
Inventor
Yoshizo Ogawa
Juji Yoshitake
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Victor Company of Japan Ltd
Original Assignee
Victor Company of Japan Ltd
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Publication date
Application filed by Victor Company of Japan Ltd filed Critical Victor Company of Japan Ltd
Priority to JP17482784A priority Critical patent/JPS6151552A/ja
Publication of JPS6151552A publication Critical patent/JPS6151552A/ja
Publication of JPH0349385B2 publication Critical patent/JPH0349385B2/ja
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は情報記録円盤の欠陥検査装置に係り、
情報記録円盤よりの再生信号のドロツプアウトを
検出することにより上記情報記録円盤の欠陥検査
を行なう情報記録円盤の欠陥検査装置に関する。
従来の技術 従来より、針案内溝を形成することなく主要情
報信号(例えば音声信号を含む映像信号)並びに
第1乃至第3のトラツキング制御用参照信号が
夫々幾何学的形状の変化として記録された電極性
能を有する情報記録円盤(以下「デイスク」とい
う)、及びそれを電極を有するセンサとの相対的
摺動走査により上記主要情報信号並びに第1乃至
第3のトラツキング制御用参照信号を静電容量の
変化として読み取り再生する装置がある。
上記のデイスクはその製造過程で表面が凸状又
は凹状に変形したり、傷を生じたり、しみ・汚れ
が付着したりする場合があり、このような欠陥部
分ではセンサによつてデイスクの情報信号をうま
く再生できず、情報信号のドロツプアウトを生
じ、高品質の画像を得ることができない。そこ
で、本出願人は特願昭58−108882号(特開昭60−
370号公報参照)その他により、デイスクを再生
装置で再生し、その再生高周波信号及び再生装置
を出力する種々の信号よりデイスクの欠陥の有無
を確実に検出でき、その判定基準が一定で信頼性
の高い欠陥検査装置を提案した。
発明が解決しようとする問題点 上記の欠陥検査装置では、検査時間を短縮する
ために、所定倍速の高速再生を行なつてドロツプ
アウトの検出を行なつている。デイスクの高速再
生は、デイスクの第3のトラツキング制御用参照
信号(以下「トラツキング信号fP3」という)の
記録位置を基準とした所定の角度位置で、センサ
を強制的にデイスク半径方向に1トラツクピツチ
だけ移送するキツクを行なうことにより実行され
る。従来装置ではデイスクの第1のトラツク(0
トラツク、プログラム記録期間の最外周トラツ
ク)より上記トラツキング信号fP3を基準にキツ
クを開始している。このため、検査を行なわれる
デイスクは、どのデイスクも総て同一の軌跡で再
生されることになる。ここで例えばスタンパに欠
陥があり、このスタンパより製造された複数のデ
イスクの同一位置に欠陥が生じる場合がある。こ
のような場合、従来装置ではデイスクが同一の軌
跡で高速再生されるため、センサで走査されない
デイスク上の位置に上記欠陥が存在する場合、他
の複数のデイスクの検査時にもこの欠陥は走査さ
れず、これらのデイスクは総て欠陥が有るにも拘
ず欠陥無しと判定されてしまい、検査もれのおそ
れがあという問題点があつた。
そこで、本発明は、検査する円盤毎に走査位置
を異ならしめることにより、上記の問題点を解決
した情報記録円盤の欠陥検査装置を提案すること
を目的とする。
問題点を解決するための手段 第1図は本発明の全体構成を示す。同図中、再
生手段である再生機1は、被検査情報記録円盤が
装着される毎に被検査情報記録円盤の記録プログ
ラム開始位置をサーチ検出し、記録プログラムの
再生を順次行う。
計数手段A内の第1の計数手段は、前記被検査
情報記録円盤が前記再生手段に装着される毎に前
記被検査情報記録円盤の検査枚数又は検査回数に
応じた値を計数する。第2の計数手段は、前記被
検査情報記録円盤の前記記録プログラム開始位置
近傍で初期設定が行われ前記記録プログラム開始
位置近傍の再生後に再生されるトラツキング信号
を計数する。制御手段Bは、前記再生手段の再生
動作制御を行う。
ドロツプアウト検出手段であるドロツプアウト
検出回路3は、画像の乱れとして認識される映像
信号のドロツプアウトを検出する。
ここで、前記第1及び第2の計数手段の初期設
定後、前記再生手段は前記被検査情報記録円盤を
ノーマル再生し、前記第1及び第2の計数手段を
夫々の値が等しくなつた際、前記再生手段は前記
被検査情報記録円盤を記録プログラム終了位置ま
で順次高速再生することにより前記被検査情報記
録円盤の欠陥検査を行い、検査すべき複数の被検
査情報記録円盤毎に夫々異なる記録プログラム部
分の検査を行なう。
作 用 第1図において、計数手段Aは検査されるデイ
スクの検査枚数又は回数を計数し、制御手段Bは
この計数値に応じてデイスクの高速再生開始位置
を異ならしめる。これによつて検査するデイスク
毎に夫々の走査位置が異なる。
実施例 第2図は本発明の欠陥検査装置の一実施例のブ
ロツク系統図を示す。同図中、欠陥検査装置はデ
イスクを再生する再生機1と、装置の制御を行な
うCPU2とドロツプアウト検出回路3とより構
成されている。再生機1はCPU2に制御されて
被検査体であるデイスクを高速再生して、再生高
周波信号より映像信号等の主要情報信号を復調し
て端子4よりモニタ受像機(図示せず)に供給す
ると共に、高周波信号がうまく再生されないと
き、補正信号としてのドロツプアウトパルスを発
生して、このドロツプアウトパルス及び高周波信
号をドロツプアウト検出回路3に供給する。ドロ
ツプアウト検出回路3は上記パルスとCPU2よ
りの信号を用いて、使用者に画像の乱れとして認
識される映像信号のドロツプアウトを検出し、こ
のドロツプアウトの検出データをCPU2に供給
する。上記検出データはCPU2で処理・格納さ
れ、ここでドロツプアウトの発生状態等がデイス
プレイ又はプリントアウト処理により表示され
る。
第3図A,Bは第2図示のCPU2が実行する
処理の一実施例のフローチヤートを示す。第1図
示の再生機1に被検査体であるデイスクが装着さ
れる毎に、第3図Aに示す処理が実行される。第
3図Aにおいて、まずCPU2はノーマル再生命
令を再生機1に供給し、(ステツプ10)、これに
よつて再生機1はデイスクのプログラム記録開始
位置をサーチ検出し、第1トラツク(0トラツ
ク)より順に記録プログラムの再生を行なう。第
1トラツク(0トラツク)よりの所定期間では、
そのデイスクに関するインデツクス情報が読み取
られCPU2で処理される。(ステツプ11)。イ
ンデツクス情報の読み取りが終了すると、CPU
2はリバース再生命令を発生して再生機1はリバ
ース再生せしめられる(ステツプ12)。再生信
号から分離されて処理されたアドレス情報は再生
機1よりCPU2に供給され、プログラム開始位
置近傍が検出されるまでリバース再生が続行され
る(ステツプ13)。この後、ステツプ14では
第3図Bに示す処理が行なわれて、例えば17倍速
の高速再生が開始され、この17倍速で再生される
高周波信号及びドロツプアウトパルスを用いてド
ロツプアウト検出が行なわれ、デイスクの欠陥検
査が行なわれる(ステツプ15)。
ステツプ14における処理を更に詳しく第3図
Bに示す。プログラム開始位置近傍(0〜3トラ
ツク)が検出された後、第3図Bに示すステツプ
20においてカウンタJC,FCの値の初期設定が
行なわれる。これはアドレス情報の読み取りにあ
る程度の時間を要するため、リバース再生時にお
いて第1トラツク(0トラツク)を読取、認識し
た時点ではセンサの再生位置は第1トラツク(0
トラツク)より外周側である。このため、上記読
取時間を考慮してプログラム開始位置の認識につ
いて第1〜第4トラツク(0〜3トラツク)と幅
をもたせている。カウンタJCはカウント値が
「0」から「15」までの16進のカウンタであり、
「1」だけインクリメントされる。もちろんカウ
ント値「15」の状態でインクリメントされるとそ
のカウント値は「0」となる。このカウンタJC
はデイスクの検査回数つまり被検査デイスクの枚
数をカウントするものである。また、カウンタ
FCはプログラム開始位置近傍(0〜3トラツク)
の再生後に再生されるトラツキング信号fP3の回
数をカウントするものであり、ステツプ20で零
リセツトされる。
上記のカウンタ設定の後、CPU2はノーマル
再生命令を発し、再生機1はノーマル再生を開始
する(ステツプ21)。次にトラツキング信号fP3
が再生されたかどうかが判別され(ステツプ2
2)、トラツキング信号fP3が再生されたときには
カウンタFCの値が「1」だけインクリメントさ
れる(ステツプ23)。この後、カウンタJCの値
とカウンタFCの値とが比較され(ステツプ2
4)、カウンタFCの値が小なる場合はステツプ2
2に移行し上記のステツプ22〜24が繰り返し
実行され、カウンタFC,JC夫々の値が互いに等
しくなつた場合ステツプ25に移行する。ステツ
プ25で再生機1に高速再生命令を発すると、再
生機1はトラツキング信号fP3を16逓倍したタイ
ミングでキツク指示命令を発生する。これによつ
て再生機1は装着されたデイスクを17倍速で高速
再生することになる。
ここで、第4図はデイスクの記録トラツクの一
実施例の模式図を示す。同図中、実線で示す螺旋
状トラツクに映像信号等の主要情報信号が記録さ
れており、破線で示す位置が映像信号の垂直ブラ
ンキング期間の記録位置であり、かつ破線Iの半
径上にトラツキング信号fP3が記録されている。
また、トラツク上の点a1は第1トラツク(0トラ
ツク)のプログラム開始位置であり、点a1から破
線I上の次の点a2までを第1トラツク(0トラツ
ク)、同様に点a2から点a3までを第2トラツク
(1トラツク)、以下同様に第3トラツク(2トラ
ツク)、第4トラツク(3トラツク)、…とする。
カウンタJCの値が「15」の状態で第3図A,
Bの処理が実行されると、ステツプ20でカウン
タJCの値が「0」とされるため、デイスクはプ
ログラム開始位置である点a1よりデイスク内周側
にキツクされて高速再生を行ない、点a2から点b2
までの第2トラツク(1トラツク)、点b3から点
c3までの第3トラツク(2トラツク)、点c4から
点d4までの第4トラツク(3トラツク)、点d5
ら点e5までの第5トラツク(4トラツク)、…の
順に再生が行なわれる。
上記の検査終了後、次に装着されたデイスク
は、カウンタJCの値が「1」とされるため、点
a1〜a2の第1トラツク(0トラツク)を総て再生
された後点a2よりキツクが開始され、点a3から点
b3までの第3トラツク(2トラツク)、点b4から
点c4までの第4トラツク(3トラツク)、点c5
ら点d5までの第5トラツク(4トラツク)、点d6
から点e6までの第6トラツク(5トラツク)、…
の順に再生が行なわれる。
このようにして、検査を行なわれるデイスク
は、16枚毎に夫々異なる部分を再生される。従つ
て、スタンパの欠陥が原因で複数のトラツクの同
一位置に微小な欠陥がある場合にも、複数のデイ
スクのうちのいずれか(少なくとも16枚のうちの
1枚)より欠陥が検出される。これによつてスタ
ンパの欠陥を見付けることも可能となる。
発明の効果 上述の如く、本発明装置は円盤の検査枚数又は
回数に応じて円盤の高速再生開始位置を異ならし
めるため、検査する円盤毎に検査位置が異なり、
これによつてスタンパの欠陥が原因で複数の円盤
の同一位置に微小な欠陥がある場合にも複数のデ
イスクのうちいずれかより欠陥が検出され、上記
スタンパの欠陥を見付けることが可能である等の
特長を有している。
また、本発明装置は上記の方法を実現できる等
の特長を有している。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の全体構成を示す図、第2図は
本発明の装置の一実施例のブロツク系統図、第3
図は第2図示のCPUの実行する処理の一実施例
のフローチヤート、第4図は本発明装置で検査さ
れるデイスクの再生状態を説明するための図であ
る。 1……再生機、2……CPU、3……ドロツプ
アウト検出回路、10〜15,20〜25……ス
テツプ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被検査情報記録円盤が装着される毎に該被検
    査情報記録円盤の記録プログラム開始位置をサー
    チ検出し、記録プログラムの再生を順次行う再生
    手段と、 前記被検査情報記録円盤が前記再生手段に装着
    される毎に前記被検査情報記録円盤の検査枚数又
    は検査回数に応じた値を計数する第1の計数手段
    と、前記被検査情報記録円盤の前記記録プログラ
    ム開始位置近傍で初期設定が行われ前記記録プロ
    グラム開始位置近傍の再生後に再生されるトラツ
    キング信号を計数する第2の計数手段とを備え、
    前記再生手段の再生動作制御を行う制御手段と、 画像の乱れとして認識される映像信号のブロツ
    プアウトを検出するドロツプアウト検出手段とよ
    り構成され、 前記第1及び第2の計数手段の初期設定後、前
    記再生手段は前記被検査情報記録円盤をノーマル
    再生し、前記第1及び第2の計数手段夫々の値が
    等しくなつた際、前記再生手段は前記被検査情報
    記録円盤を記録プログラム終了位置まで順次高速
    再生することにより前記被検査情報記録円盤の欠
    陥検査を行い、検査すべき複数の被検査情報記録
    円盤毎に夫々異なる記録プログラム部分の検査を
    可能としたことを特徴とする情報記録円盤の欠陥
    検査装置。
JP17482784A 1984-08-22 1984-08-22 情報記録円盤の欠陥検査装置 Granted JPS6151552A (ja)

Priority Applications (1)

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JP17482784A JPS6151552A (ja) 1984-08-22 1984-08-22 情報記録円盤の欠陥検査装置

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JP17482784A JPS6151552A (ja) 1984-08-22 1984-08-22 情報記録円盤の欠陥検査装置

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Publication Number Publication Date
JPS6151552A JPS6151552A (ja) 1986-03-14
JPH0349385B2 true JPH0349385B2 (ja) 1991-07-29

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ID=15985349

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JP17482784A Granted JPS6151552A (ja) 1984-08-22 1984-08-22 情報記録円盤の欠陥検査装置

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JPS6151552A (ja) 1986-03-14

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