JP2002157844A - 再生装置における誤りの原因を信号化するための光学装置および方法 - Google Patents
再生装置における誤りの原因を信号化するための光学装置および方法Info
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
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- G11B20/1816—Testing
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 種々のセクタを横断する複数のトラックを有
している光学的な記録担体から記録されかつ欠陥を受け
ている情報を修復するために再生装置における誤り原因
を信号化するための記録情報の高周波信号を発生するた
めの装置を含んでいる、光学装置を誤りの種別を指示で
きるようにする。 【解決手段】 デコード化された再生された高周波信号
に応答する誤り検出回路を備え、それぞれのトラックに
おける誤りの発生を評価しかつ、前以て決められた最小
数の誤りが前以て決められた最小数の隣接するトラック
の同じセクタに生じたとき、指紋が誤りの原因であるこ
とを突き止めるための処理回路を備え、これに応答し
て、指紋が誤りの原因であることを指示する装置を備え
ている。
している光学的な記録担体から記録されかつ欠陥を受け
ている情報を修復するために再生装置における誤り原因
を信号化するための記録情報の高周波信号を発生するた
めの装置を含んでいる、光学装置を誤りの種別を指示で
きるようにする。 【解決手段】 デコード化された再生された高周波信号
に応答する誤り検出回路を備え、それぞれのトラックに
おける誤りの発生を評価しかつ、前以て決められた最小
数の誤りが前以て決められた最小数の隣接するトラック
の同じセクタに生じたとき、指紋が誤りの原因であるこ
とを突き止めるための処理回路を備え、これに応答し
て、指紋が誤りの原因であることを指示する装置を備え
ている。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、欠陥の存在のみな
らず、例えばコンパクトディスク上の指紋のような欠陥
の種別を信号化しかつこれにより利用者が場合に応じ
て、光学的な情報担体の本来の再生品質を再び形成する
ことができるようにする“ファジィ論理”の意味におけ
る、再生装置を用いた光学的な情報担体の欠陥誤り種別
の信号化方法および装置に関する。本発明が属すること
ができる分野は、コンパクトディスク(CD)、レーザ
ディスクまたは類似の情報担体の不注意な取り扱いの際
に発生するような、光学的な情報担体の少なくとも1つ
の欠陥誤り種別の信号化に関し、その際情報の再生のた
めに通例設けられている再生装置が使用される。
らず、例えばコンパクトディスク上の指紋のような欠陥
の種別を信号化しかつこれにより利用者が場合に応じ
て、光学的な情報担体の本来の再生品質を再び形成する
ことができるようにする“ファジィ論理”の意味におけ
る、再生装置を用いた光学的な情報担体の欠陥誤り種別
の信号化方法および装置に関する。本発明が属すること
ができる分野は、コンパクトディスク(CD)、レーザ
ディスクまたは類似の情報担体の不注意な取り扱いの際
に発生するような、光学的な情報担体の少なくとも1つ
の欠陥誤り種別の信号化に関し、その際情報の再生のた
めに通例設けられている再生装置が使用される。
【0002】
【従来の技術】極めて細心に扱われているにも拘らず、
オーディオおよび/またはビデオ信号またはデータ信号
の記録および再生のために使用される光学的な情報担体
は、製造並びに環境により生じる誤りが発生する。これ
らは、所定の範囲において再生装置の誤り補正装置によ
って補正ないし補間される。この能力がないと、コンパ
クトディスクまたはレーザディスクは実現可能でない。
というのはこの能力を駆使すれば、数多くのビットのい
ずれも消失することはないしもしくはディスクにおける
数多くのピットのいずれも損なわれたりまたは隠蔽され
ることはないからである。しかし光学的な情報担体の誤
りは少なくとも、再生のオリジナリティーに影響を及ぼ
すことがあるかまたは再生の際に劣化を来す。光学的な
情報担体の保護層における気泡または汚れのようなラン
ダムな個別欠陥並びに所謂表面欠陥、即ちスクラッチお
よび指紋が発生し、これらは非常に多くの情報を破壊ま
たは隠蔽し、その結果利用者は本来の情報または計算な
いし補間された情報が再生されるのかをもはや区別する
ことができない。
オーディオおよび/またはビデオ信号またはデータ信号
の記録および再生のために使用される光学的な情報担体
は、製造並びに環境により生じる誤りが発生する。これ
らは、所定の範囲において再生装置の誤り補正装置によ
って補正ないし補間される。この能力がないと、コンパ
クトディスクまたはレーザディスクは実現可能でない。
というのはこの能力を駆使すれば、数多くのビットのい
ずれも消失することはないしもしくはディスクにおける
数多くのピットのいずれも損なわれたりまたは隠蔽され
ることはないからである。しかし光学的な情報担体の誤
りは少なくとも、再生のオリジナリティーに影響を及ぼ
すことがあるかまたは再生の際に劣化を来す。光学的な
情報担体の保護層における気泡または汚れのようなラン
ダムな個別欠陥並びに所謂表面欠陥、即ちスクラッチお
よび指紋が発生し、これらは非常に多くの情報を破壊ま
たは隠蔽し、その結果利用者は本来の情報または計算な
いし補間された情報が再生されるのかをもはや区別する
ことができない。
【0003】ちょうどそのとき再生されているCDの技
術的な品質を指示するために、誤り補正がどのくらい働
いているかを指示する誤り指示装置が公知である(Bern
hardKRIEG: Praxis der digitalen Audiotechnik: digi
talen Aufnahme und Wiedergabe, Franzis- Verlag Gmb
H, Muenchen 1989 年, 第60ないし63頁参照)。誤り補
正の働いている程度は、再生装置内に設けられているプ
ログラムカウンタが信号化する、光学的な情報担体の誤
り度を反映するものである。誤り度は、誤りの頻度並び
に数を表している。それはちょうどそのとき再生されて
いるCDの技術的な品質を直接表すものであるにも拘ら
ず、利用者に、誤り度を低減するために場合により必要
な措置に関する説明は提供されない。その理由は、誤り
の頻度および数は信号化されるが、誤りの原因となる欠
陥の種別が信号化されないからである。
術的な品質を指示するために、誤り補正がどのくらい働
いているかを指示する誤り指示装置が公知である(Bern
hardKRIEG: Praxis der digitalen Audiotechnik: digi
talen Aufnahme und Wiedergabe, Franzis- Verlag Gmb
H, Muenchen 1989 年, 第60ないし63頁参照)。誤り補
正の働いている程度は、再生装置内に設けられているプ
ログラムカウンタが信号化する、光学的な情報担体の誤
り度を反映するものである。誤り度は、誤りの頻度並び
に数を表している。それはちょうどそのとき再生されて
いるCDの技術的な品質を直接表すものであるにも拘ら
ず、利用者に、誤り度を低減するために場合により必要
な措置に関する説明は提供されない。その理由は、誤り
の頻度および数は信号化されるが、誤りの原因となる欠
陥の種別が信号化されないからである。
【0004】従って欠陥誤り種別信号化は、複雑さの点
で誤り度を上回るシステムを要求する。重みの増した複
雑な問題の判定の担い手として人間を支援するこの形式
のシステムを“ファジィ論理”と称することは一般に周
知である。
で誤り度を上回るシステムを要求する。重みの増した複
雑な問題の判定の担い手として人間を支援するこの形式
のシステムを“ファジィ論理”と称することは一般に周
知である。
【0005】更に、CD製造の際に、情報担体の光学的
な検査のためにレーザスキャナを使用することが公知で
ある。レーザスキャナは高いコストを要求しかつこのレ
ーザスキャナを用いて自動検査システムによる品質監視
の枠内においてCDの良否の選別が行われる(1992
年1月7日の Frankfurter Allgemeine Zeitung 中に掲
載の“Wenn es klickt, nicht gleich den Spieler sch
elten” 参照)。検査判断基準として同様に、ディスク
に対する誤り事象の数を表す誤り度が用いられる。しか
しこの形式の、付加装置の形の光学的な情報担体の誤り
信号化のための煩雑な系は、利用者には期待できるもの
ではない。これらの装置によっても、異なった欠陥誤り
種別間の区別を行うことはできない。
な検査のためにレーザスキャナを使用することが公知で
ある。レーザスキャナは高いコストを要求しかつこのレ
ーザスキャナを用いて自動検査システムによる品質監視
の枠内においてCDの良否の選別が行われる(1992
年1月7日の Frankfurter Allgemeine Zeitung 中に掲
載の“Wenn es klickt, nicht gleich den Spieler sch
elten” 参照)。検査判断基準として同様に、ディスク
に対する誤り事象の数を表す誤り度が用いられる。しか
しこの形式の、付加装置の形の光学的な情報担体の誤り
信号化のための煩雑な系は、利用者には期待できるもの
ではない。これらの装置によっても、異なった欠陥誤り
種別間の区別を行うことはできない。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従って本発明の課題
は、僅かなコストで、例えば指紋のような、光学的な記
録担体の少なくとも1つの欠陥誤り種別の信号化を再生
装置を用いて可能にし、その結果助言ないし信号化系を
用いて利用者が光学的な記録担体の品質の判定を一層容
易に行うことができかつ利用者に誤りの原因である指紋
がある場合に一層良好な再生を実現するための指示が与
えられるようにする方法および装置を提供することであ
る。
は、僅かなコストで、例えば指紋のような、光学的な記
録担体の少なくとも1つの欠陥誤り種別の信号化を再生
装置を用いて可能にし、その結果助言ないし信号化系を
用いて利用者が光学的な記録担体の品質の判定を一層容
易に行うことができかつ利用者に誤りの原因である指紋
がある場合に一層良好な再生を実現するための指示が与
えられるようにする方法および装置を提供することであ
る。
【0007】
【解決手段、侍史例の形態、発明の効果】設定された課
題は本発明によれば、第1のステップにおいて少なくと
も1つの欠陥誤り種別を検出しかつ第2のステップにお
いて信号化ないし指示することによって解決される。
題は本発明によれば、第1のステップにおいて少なくと
も1つの欠陥誤り種別を検出しかつ第2のステップにお
いて信号化ないし指示することによって解決される。
【0008】ちょうどそのとき再生されている光学的な
情報担体が誤りを有する限り、少なくとも1つの誤り原
因が明確に指示され、その結果利用者は誤り原因が指紋
である場合には指紋を有利には中心から縁に向かって真
っすぐ単純に拭き取ることによって本来の再生品質を再
び回復することができる。
情報担体が誤りを有する限り、少なくとも1つの誤り原
因が明確に指示され、その結果利用者は誤り原因が指紋
である場合には指紋を有利には中心から縁に向かって真
っすぐ単純に拭き取ることによって本来の再生品質を再
び回復することができる。
【0009】殊に多数回および不注意な取り扱いにより
ますます多くの誤りを有しかつ通例は情報の再生のため
に使用される再生装置によって光学的に走査される光学
的な情報担体がこの方法の出発点を形成する。
ますます多くの誤りを有しかつ通例は情報の再生のため
に使用される再生装置によって光学的に走査される光学
的な情報担体がこの方法の出発点を形成する。
【0010】誤りの原因が有する局所的な特性に基づい
て、誤り度から誤りの原因を検出するために、光ディス
クの誤り度を表す、デコーダによってもはや補正されな
い誤りのあるフレームの数が欠陥誤り場所と関連付けら
れ、その際欠陥誤り場所は、当該誤り率に相応して評価
される誤りバースト間のサブコードブロックの数から求
めることができる。これにより誤りの原因は、あるディ
スクのセクタ部の隣接するトラックにおいて発生する誤
り率によって決定される。
て、誤り度から誤りの原因を検出するために、光ディス
クの誤り度を表す、デコーダによってもはや補正されな
い誤りのあるフレームの数が欠陥誤り場所と関連付けら
れ、その際欠陥誤り場所は、当該誤り率に相応して評価
される誤りバースト間のサブコードブロックの数から求
めることができる。これにより誤りの原因は、あるディ
スクのセクタ部の隣接するトラックにおいて発生する誤
り率によって決定される。
【0011】有利には、5つの隣接するトラックにおい
て3つより多くの誤りバーストが発生した際に修復可能
な誤り原因指紋が指示される。他方において、3つの隣
接するトラックにおいて3つまでのエラーバーストが発
生した場合には有利には、スクラッチおよび所謂ブラッ
ク・ドットが識別されるかないし誤り原因として検出さ
れかつ信号化される。
て3つより多くの誤りバーストが発生した際に修復可能
な誤り原因指紋が指示される。他方において、3つの隣
接するトラックにおいて3つまでのエラーバーストが発
生した場合には有利には、スクラッチおよび所謂ブラッ
ク・ドットが識別されるかないし誤り原因として検出さ
れかつ信号化される。
【0012】別の誤りに対して指紋の識別の確実性の度
合を高めるために、誤りを表す信号は有利には、ディス
ク回転と等価な信号と結合される。これにより、指紋か
ら生じるのではない複数の短い障害が、信号指紋に相応
する信号に加算されることが回避される。ディスク回転
に等価な信号は有利には、所謂ラジアル検出器の出力信
号である。更に、指紋の半径方向の拡がりを検出するた
めのトラック完了の固定された数の加算過程を、計数の
枠において個別のトラック回転に誤り信号がないときで
も、中断しないことが有利である。
合を高めるために、誤りを表す信号は有利には、ディス
ク回転と等価な信号と結合される。これにより、指紋か
ら生じるのではない複数の短い障害が、信号指紋に相応
する信号に加算されることが回避される。ディスク回転
に等価な信号は有利には、所謂ラジアル検出器の出力信
号である。更に、指紋の半径方向の拡がりを検出するた
めのトラック完了の固定された数の加算過程を、計数の
枠において個別のトラック回転に誤り信号がないときで
も、中断しないことが有利である。
【0013】1つまたは複数の誤り原因の指示は、可視
的および/または音響的に行われる。操作者が誤り指示
を知覚することを保証するために、誤り原因はその発生
の時間間隔を越えても信号化される。
的および/または音響的に行われる。操作者が誤り指示
を知覚することを保証するために、誤り原因はその発生
の時間間隔を越えても信号化される。
【0014】この方法を実施するために、光学的な情報
担体の誤りを表す、再生装置の信号を処理しかつ少なく
とも1つの誤り原因に対する指示装置に供給するための
処理回路から成る装置が設けられている。
担体の誤りを表す、再生装置の信号を処理しかつ少なく
とも1つの誤り原因に対する指示装置に供給するための
処理回路から成る装置が設けられている。
【0015】光学的な情報担体の誤り度を表す信号の処
理のために用いられる処理回路は有利には、再生装置の
デコーダないしプログラム誤りカウンタに接続されてお
りかつ誤りのあるフレームを欠陥誤り場所に関連付ける
計算ユニットによって形成される。
理のために用いられる処理回路は有利には、再生装置の
デコーダないしプログラム誤りカウンタに接続されてお
りかつ誤りのあるフレームを欠陥誤り場所に関連付ける
計算ユニットによって形成される。
【0016】しきい値回路は有利には、2つの反対方向
に極性付けられた第1のピーク値整流器から成り、これ
らピーク値整流器は分圧器を介して相互に接続されてお
り、分圧器には2つのコンパレータが接続されている。
2つのコンパレータは入力側が、測定信号を形成する第
2のピーク値整流器に接続されておりかつ出力側がゲー
トの入力側に接続されている。
に極性付けられた第1のピーク値整流器から成り、これ
らピーク値整流器は分圧器を介して相互に接続されてお
り、分圧器には2つのコンパレータが接続されている。
2つのコンパレータは入力側が、測定信号を形成する第
2のピーク値整流器に接続されておりかつ出力側がゲー
トの入力側に接続されている。
【0017】しかし光学的な情報担体は、高周波信号に
おいて誤りの原因指紋に類似してしきい値内の測定信号
として映し出されるスクラッチも有することがあるの
で、測定信号の引き続く評価が必要である。このため
に、ゲートに接続されている時限素子が設けられてお
り、これを用いてしきい値内の測定信号の発生の時間間
隔が検出されかつ評価される。指紋の局所的な拡がりは
スクラッチの局所的な拡がりより大きいので、高周波信
号ないし測定信号の減衰または落ち込みの時間間隔が誤
り原因を区別するための付加的な判断基準として使用さ
れる。時限素子として、相応の切換回路かまたはコンパ
レータが後置接続されている積分器が適しており、切換
回路または積分器の出力側は有利には、4msの時間間隔
までのしきい値内の測定信号の発生の際、誤り原因指紋
を検出するために使用される出力信号を形成する。
おいて誤りの原因指紋に類似してしきい値内の測定信号
として映し出されるスクラッチも有することがあるの
で、測定信号の引き続く評価が必要である。このため
に、ゲートに接続されている時限素子が設けられてお
り、これを用いてしきい値内の測定信号の発生の時間間
隔が検出されかつ評価される。指紋の局所的な拡がりは
スクラッチの局所的な拡がりより大きいので、高周波信
号ないし測定信号の減衰または落ち込みの時間間隔が誤
り原因を区別するための付加的な判断基準として使用さ
れる。時限素子として、相応の切換回路かまたはコンパ
レータが後置接続されている積分器が適しており、切換
回路または積分器の出力側は有利には、4msの時間間隔
までのしきい値内の測定信号の発生の際、誤り原因指紋
を検出するために使用される出力信号を形成する。
【0018】誤り指示が、誤りの発生の大抵はほんの僅
かな持続時間のため再生装置の利用者に確実に知覚され
ることを保証するために、コンパレータに、単安定マル
チバイブレータおよび/またはリセット可能なメモリが
後置接続されている。これにより、誤り原因の発生の時
間間隔を越えた指示が実現される。更に、この形式の指
示を、所謂チェンジャーまたはマガジン再生装置と関連
して行うと有利である。というのは、誤りのある光ディ
スクに関する情報は場合によっては新しいマガジンの挿
入まで行われ、その場合これによってメモリのリセット
が行われるからである。
かな持続時間のため再生装置の利用者に確実に知覚され
ることを保証するために、コンパレータに、単安定マル
チバイブレータおよび/またはリセット可能なメモリが
後置接続されている。これにより、誤り原因の発生の時
間間隔を越えた指示が実現される。更に、この形式の指
示を、所謂チェンジャーまたはマガジン再生装置と関連
して行うと有利である。というのは、誤りのある光ディ
スクに関する情報は場合によっては新しいマガジンの挿
入まで行われ、その場合これによってメモリのリセット
が行われるからである。
【0019】更に、例えば所謂高速ダビングによる書き
換えのために必要であるように、高められた速度による
再生時にも誤り原因指示の効果を保証するために、ピー
ク値整流器を別の時定数に切換可能に実現するように設
定されている。この形式の書き換えの際には通例可聴状
態にはならないので、そうでない場合には、誤りは通常
の速度による再生の際にようやく知覚されることにな
る。この形式の時定数切換は、光ディスクが誤りの発生
に関して著しく短縮された再生時間によって探索される
所謂探索過程に対しても必要である。
換えのために必要であるように、高められた速度による
再生時にも誤り原因指示の効果を保証するために、ピー
ク値整流器を別の時定数に切換可能に実現するように設
定されている。この形式の書き換えの際には通例可聴状
態にはならないので、そうでない場合には、誤りは通常
の速度による再生の際にようやく知覚されることにな
る。この形式の時定数切換は、光ディスクが誤りの発生
に関して著しく短縮された再生時間によって探索される
所謂探索過程に対しても必要である。
【0020】装置のパラメータの変更によって、誤り原
因指紋とは別の誤り原因を検出しかつ情報担体に対する
適合化行うこともできる。更にこの装置は、誤り原因を
その強度に関して評価するのに適している。
因指紋とは別の誤り原因を検出しかつ情報担体に対する
適合化行うこともできる。更にこの装置は、誤り原因を
その強度に関して評価するのに適している。
【0021】少なくとも1つの誤り原因を検出する処理
回路の構成とは無関係に、1つまたは複数の発光ダイオ
ード、ディスプレイまたは指示領域または1つまたは複
数の音声信号を発生する音声呼び出し装置から成る視覚
的および/または音響的に信号化する指示装置が設けら
れている。この指示装置によって有利には、修復可能な
誤り原因または修復可能および/または修復不能な誤り
原因も指示される。
回路の構成とは無関係に、1つまたは複数の発光ダイオ
ード、ディスプレイまたは指示領域または1つまたは複
数の音声信号を発生する音声呼び出し装置から成る視覚
的および/または音響的に信号化する指示装置が設けら
れている。この指示装置によって有利には、修復可能な
誤り原因または修復可能および/または修復不能な誤り
原因も指示される。
【0022】装置の構造に関して、指示装置および処理
回路は、別個の誤り指示装置として再生装置に結合され
ている誤り指示装置にまとめられるかまたは誤り指示装
置は再生装置に収容されておりかつこれとともに一体の
構造ユニットを形成する。
回路は、別個の誤り指示装置として再生装置に結合され
ている誤り指示装置にまとめられるかまたは誤り指示装
置は再生装置に収容されておりかつこれとともに一体の
構造ユニットを形成する。
【0023】本発明の方法および装置の利点は殊に次の
点にある。即ち、再生装置の利用者に対して、光学的な
情報担体の再生品質の判定を容易にし、このために再生
装置に既存の装置および既に実施されているステップを
使用することができかつ利用者はちょうどそのとき再生
されている光学的な情報担体の場合によって存在する誤
り原因に関する明確な情報を得て、利用者に指紋の場合
には、単純な拭き取りにより光学的な情報担体の本来の
再生品質を再び回復することを可能にする。
点にある。即ち、再生装置の利用者に対して、光学的な
情報担体の再生品質の判定を容易にし、このために再生
装置に既存の装置および既に実施されているステップを
使用することができかつ利用者はちょうどそのとき再生
されている光学的な情報担体の場合によって存在する誤
り原因に関する明確な情報を得て、利用者に指紋の場合
には、単純な拭き取りにより光学的な情報担体の本来の
再生品質を再び回復することを可能にする。
【0024】本発明の方法および装置は、僅かなコスト
で実現可能でありかつ利用者に、本来の情報が再生され
るのかまたは殆どが補正装置によって計算されたないし
補間された情報が再生されるのかに関しての説明が行わ
れる。
で実現可能でありかつ利用者に、本来の情報が再生され
るのかまたは殆どが補正装置によって計算されたないし
補間された情報が再生されるのかに関しての説明が行わ
れる。
【0025】
【実施例】次に本発明を2つの実施例を示す図面を用い
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
【0026】第1図に示されているように、第1ステッ
プにおいて少なくとも1つの誤り原因を検出しかつ第2
のステップにおいて指示する、再生装置1を用いて光学
的な情報担体の欠陥誤り種別を信号化するために方法
は、処理回路3および指示装置4によって実施される。
プにおいて少なくとも1つの誤り原因を検出しかつ第2
のステップにおいて指示する、再生装置1を用いて光学
的な情報担体の欠陥誤り種別を信号化するために方法
は、処理回路3および指示装置4によって実施される。
【0027】コンパクトディスクの欠陥誤り種別の信号
化のための本発明の実施例において、第1のステップ
は、第1図には図示されていない、再生装置1のデコー
ダ2が形成する誤り度から少なくとも1つの誤り原因が
検出される点にある。光学的な記録担体の誤り度から誤
り原因を検出するために、第2図に示されているよう
に、再生装置のスタートPLAYによってまず、誤りの
発生に関して検査すべきトラックkの数並びに誤りレー
トzを表示するフラグmが零にセットされる。サブコー
ドブロックyの数も再生装置のスタートPLAYの際に
零にセットされる。第1のサブコード同期信号SCOR
の発生によって、信号流れ経過が更に進められる。誤り
レートzを表示するフラグmは、補間が初めて発生する
ときセットされる。補間の存在は、再生装置の、光ディ
スクの誤り度を信号化する装置の誤りレートzに相応し
て導出される。誤りレートz=1が発生すると、回転x
当たりのサブコードブロックyの数の計算によって、位
置決定OBが実施される。回転x当たりのサブコードブ
ロックyの数は、走査直径から得られる。走査直径は、
数Πと乗算され、サブコードブロック時間と走査速度と
の積によって割算される所謂サブコードATIMEから
計算される。走査速度は周知のように、それぞれのディ
スクに対して一度だけ決定すべきでありかつ回転x当た
りのサブコードブロックyの数は有利には、整数として
丸められる。更に、誤りレートzを表示するフラグmは
1にセットされかつ引き続いてサブコードブロックyの
数を1だけ高めることによって、同じディスクセクタに
おいて新たに誤りレートzが生じるかどうかを待つ。更
に、後続のステップにおいて、2つのサブコードブロッ
クyの不精確さが考慮される。これに、誤りバーストh
における誤りのあるフレームの評価が続く。誤りの発生
に関して検査すべき、トラックkの数との組み合わせに
おいて、誤り原因指紋と、スクラッチ、ブラック・ドッ
トとの間の区別を可能にするために、実験による結果に
相応して、96のフレームに相応するサブコードブロッ
ク時間内の4つのフレームに関連付けられた、誤りバー
ストhの量が選択された。修復可能な誤り原因指紋は、
5つの隣接するトラックkにおける3より多くの誤りバ
ーストhの発生の際に第1の欠陥誤り種別FA1として
存在することがわかっている。他方において、スクラッ
チおよびブラック・ドットは、3つの隣接するトラック
k3における3までの誤りバーストhの発生の際に第2
の欠陥誤り種別FA2として識別される。
化のための本発明の実施例において、第1のステップ
は、第1図には図示されていない、再生装置1のデコー
ダ2が形成する誤り度から少なくとも1つの誤り原因が
検出される点にある。光学的な記録担体の誤り度から誤
り原因を検出するために、第2図に示されているよう
に、再生装置のスタートPLAYによってまず、誤りの
発生に関して検査すべきトラックkの数並びに誤りレー
トzを表示するフラグmが零にセットされる。サブコー
ドブロックyの数も再生装置のスタートPLAYの際に
零にセットされる。第1のサブコード同期信号SCOR
の発生によって、信号流れ経過が更に進められる。誤り
レートzを表示するフラグmは、補間が初めて発生する
ときセットされる。補間の存在は、再生装置の、光ディ
スクの誤り度を信号化する装置の誤りレートzに相応し
て導出される。誤りレートz=1が発生すると、回転x
当たりのサブコードブロックyの数の計算によって、位
置決定OBが実施される。回転x当たりのサブコードブ
ロックyの数は、走査直径から得られる。走査直径は、
数Πと乗算され、サブコードブロック時間と走査速度と
の積によって割算される所謂サブコードATIMEから
計算される。走査速度は周知のように、それぞれのディ
スクに対して一度だけ決定すべきでありかつ回転x当た
りのサブコードブロックyの数は有利には、整数として
丸められる。更に、誤りレートzを表示するフラグmは
1にセットされかつ引き続いてサブコードブロックyの
数を1だけ高めることによって、同じディスクセクタに
おいて新たに誤りレートzが生じるかどうかを待つ。更
に、後続のステップにおいて、2つのサブコードブロッ
クyの不精確さが考慮される。これに、誤りバーストh
における誤りのあるフレームの評価が続く。誤りの発生
に関して検査すべき、トラックkの数との組み合わせに
おいて、誤り原因指紋と、スクラッチ、ブラック・ドッ
トとの間の区別を可能にするために、実験による結果に
相応して、96のフレームに相応するサブコードブロッ
ク時間内の4つのフレームに関連付けられた、誤りバー
ストhの量が選択された。修復可能な誤り原因指紋は、
5つの隣接するトラックkにおける3より多くの誤りバ
ーストhの発生の際に第1の欠陥誤り種別FA1として
存在することがわかっている。他方において、スクラッ
チおよびブラック・ドットは、3つの隣接するトラック
k3における3までの誤りバーストhの発生の際に第2
の欠陥誤り種別FA2として識別される。
【0028】別の誤りに対して指紋の識別の確実さの度
合を高めるために、誤りを表す信号がディスク回転と等
価である信号と結合される。これにより、指紋には由来
しない複数の短い障害が、指紋に相応する信号に加算さ
れる。ディスク回転に等価な信号として、有利には、所
謂ラジアル検出器の出力信号が使用される。他方におい
て、指紋の半径方向の拡がりを検出するためのディスク
回転に相応する所定数のトラック完了の加算過程を、計
数の枠内において個別トラック回転に誤り信号が存在し
ないときでも中断しないようにすれば有利である。
合を高めるために、誤りを表す信号がディスク回転と等
価である信号と結合される。これにより、指紋には由来
しない複数の短い障害が、指紋に相応する信号に加算さ
れる。ディスク回転に等価な信号として、有利には、所
謂ラジアル検出器の出力信号が使用される。他方におい
て、指紋の半径方向の拡がりを検出するためのディスク
回転に相応する所定数のトラック完了の加算過程を、計
数の枠内において個別トラック回転に誤り信号が存在し
ないときでも中断しないようにすれば有利である。
【0029】この実施例に相応する装置は、第6図に示
されている。それは、光ディスクの誤り度を信号化する
デコーダ2を含んでいる再生装置1と、処理回路3と、
指示装置4とから成っている。デコーダ2に、ちょうど
そのとき再生されている光ディスクの誤り度を表す信号
を処理する処理回路3が接続されている。それは、誤り
のあるフレームを欠陥誤り場所に関連付ける計算ユニッ
トである。計算結果において、場合に応じて存在する誤
り原因指紋またはスクラッチ、ブラック・ドットの1つ
が検出されかつこれに関する信号が処理回路3に接続さ
れている指示装置4に供給され、指示装置は相応の誤り
原因をディスプレイを用いて第1の欠陥誤り種別FA1
ないし第2の欠陥誤り種別FA2として信号化する。
されている。それは、光ディスクの誤り度を信号化する
デコーダ2を含んでいる再生装置1と、処理回路3と、
指示装置4とから成っている。デコーダ2に、ちょうど
そのとき再生されている光ディスクの誤り度を表す信号
を処理する処理回路3が接続されている。それは、誤り
のあるフレームを欠陥誤り場所に関連付ける計算ユニッ
トである。計算結果において、場合に応じて存在する誤
り原因指紋またはスクラッチ、ブラック・ドットの1つ
が検出されかつこれに関する信号が処理回路3に接続さ
れている指示装置4に供給され、指示装置は相応の誤り
原因をディスプレイを用いて第1の欠陥誤り種別FA1
ないし第2の欠陥誤り種別FA2として信号化する。
【0030】別の実施例では、第1のステップは、光デ
ィスクから再生装置1によって検出された高周波信号R
Fから少なくとも1つの誤り原因指紋を検出することに
ある。この方法を説明するために、第3図に、主な誤り
原因が含まれている高周波信号RFが略示されている。
誤り原因ブラック・ドットが存在する場合、高周波信号
RFの電圧URFは、零から高周波信号RFの近似的に
10%まで延在する著しい落ち込みを有することが認め
られた。これらの落ち込みは、信号経過において図示さ
れているように、種々異なった落ち込み深度および落ち
込み長さを有する可能性がある。
ィスクから再生装置1によって検出された高周波信号R
Fから少なくとも1つの誤り原因指紋を検出することに
ある。この方法を説明するために、第3図に、主な誤り
原因が含まれている高周波信号RFが略示されている。
誤り原因ブラック・ドットが存在する場合、高周波信号
RFの電圧URFは、零から高周波信号RFの近似的に
10%まで延在する著しい落ち込みを有することが認め
られた。これらの落ち込みは、信号経過において図示さ
れているように、種々異なった落ち込み深度および落ち
込み長さを有する可能性がある。
【0031】誤り原因スクラッチは、高周波信号RFの
電圧URFの、比較的僅かな落ち込み深度および主に比
較的僅かな落ち込み長さによっても特徴付けられている
落ち込みを来す。
電圧URFの、比較的僅かな落ち込み深度および主に比
較的僅かな落ち込み長さによっても特徴付けられている
落ち込みを来す。
【0032】指紋によって、光ディスク上のその拡がり
に基づいて、4msまでの落ち込み長さないし時間間隔を
有する高周波信号RFの電圧URFの落ち込みが生じ
る。その際指紋の強さは落ち込み深度に相応する。非常
に軽い指紋は光ディスクの再生品質に影響しないので、
それは考慮されずにとどまる。このようにして得られる
認識から出発して、高周波信号RFから測定信号Mが導
出されかつ高周波信号RFの90%として固定された上
側のしきい値W1および高周波信号RFの10%に相応
する下側のしきい値W2内の測定信号Mの発生の際に、
4msまでの時間間隔を有する時間領域において誤り原因
指紋が検出される。
に基づいて、4msまでの落ち込み長さないし時間間隔を
有する高周波信号RFの電圧URFの落ち込みが生じ
る。その際指紋の強さは落ち込み深度に相応する。非常
に軽い指紋は光ディスクの再生品質に影響しないので、
それは考慮されずにとどまる。このようにして得られる
認識から出発して、高周波信号RFから測定信号Mが導
出されかつ高周波信号RFの90%として固定された上
側のしきい値W1および高周波信号RFの10%に相応
する下側のしきい値W2内の測定信号Mの発生の際に、
4msまでの時間間隔を有する時間領域において誤り原因
指紋が検出される。
【0033】しきい値W1,W2を高周波信号RFのピ
ーク値A,Bに関連付けることによって、機器に固有で
ありかつ光ディスクの反射層の品質に依存している、高
周波信号RFの絶対電圧URの影響を受けないようにす
ることができる。測定信号Mを高周波信号RFから同様
に導出されるしきい値W1,W2に関連付けて評価する
ことができるようにするために、これらの時定数は、測
定信号Mの時定数に比べて著しく大きく選択された。し
きい値W1,W2の時定数は20msでありかつ測定信号
の時定数は2msである。
ーク値A,Bに関連付けることによって、機器に固有で
ありかつ光ディスクの反射層の品質に依存している、高
周波信号RFの絶対電圧URの影響を受けないようにす
ることができる。測定信号Mを高周波信号RFから同様
に導出されるしきい値W1,W2に関連付けて評価する
ことができるようにするために、これらの時定数は、測
定信号Mの時定数に比べて著しく大きく選択された。し
きい値W1,W2の時定数は20msでありかつ測定信号
の時定数は2msである。
【0034】その場合第1のステップの実施例とは無関
係に、上述の指示装置4によって、第2のステップにお
いて少なくとも1つの誤り原因が信号化される。
係に、上述の指示装置4によって、第2のステップにお
いて少なくとも1つの誤り原因が信号化される。
【0035】高周波信号RFから出発する実施例を実現
するために、第4図に示されている装置が設けられてい
る。この装置のブロック図は、第5図に示されている。
このブロック図は、誤り度から出発する誤り指示のため
の装置の第6図のブロック図と類似して、この場合誤り
原因指紋に制限されている指示装置4が接続されている
処理回路3を有している。処理回路3は同様に再生装置
1に接続されておりかつこの実施例においては、光ディ
スクから高周波信号RFを検出する、再生装置1の走査
子7に接続されている。処理回路は、指示装置4ととも
に、指示装置5を形成する。この誤り指示装置の内部構
成は、第4図の装置に示されている。この装置は、3つ
のピーク値整流器D1,C1,S1;D2,C2,S
2;D3,C3,S3から成り、それらはそれぞれ、ダ
イオードD1,D2,D3、コンデンサC1,C2,C
3および定電流源S1,S2,S3を有している。
するために、第4図に示されている装置が設けられてい
る。この装置のブロック図は、第5図に示されている。
このブロック図は、誤り度から出発する誤り指示のため
の装置の第6図のブロック図と類似して、この場合誤り
原因指紋に制限されている指示装置4が接続されている
処理回路3を有している。処理回路3は同様に再生装置
1に接続されておりかつこの実施例においては、光ディ
スクから高周波信号RFを検出する、再生装置1の走査
子7に接続されている。処理回路は、指示装置4ととも
に、指示装置5を形成する。この誤り指示装置の内部構
成は、第4図の装置に示されている。この装置は、3つ
のピーク値整流器D1,C1,S1;D2,C2,S
2;D3,C3,S3から成り、それらはそれぞれ、ダ
イオードD1,D2,D3、コンデンサC1,C2,C
3および定電流源S1,S2,S3を有している。
【0036】定電流源S1,S2,S3は、ダイオード
D1,D2,D3の方向に応じて、アース線または給電
電圧線U1に接続されておりかつコンデンサC1,C
2,C3はアース線に接続されている。2つの第1のピ
ーク値整流器D1,C1,S1:D2,C2,S2のダ
イオードD1,D2は、反対方向に極性付けられており
かつ第2のピーク値整流器D3,C3,S3のダイオー
ドD3とともに、高周波信号RFを発生する走査子7に
接続されている。高周波信号RFから測定信号Mを導出
する第2のピーク値整流器D3,C3,S3のダイオー
ドD3の方向は、高周波信号RFの位相位置に相応しか
つ第2のピーク値整流器D3,C3,S3に2つの第1
のコンパレータV1,V2が接続されており、これらコ
ンパレータの比較入力側は、分圧器R1,R2,R3に
接続されている。この分圧器は、第1のピーク値整流器
D1,C1,S1:D2,C2,S2を相互に接続しか
つ高周波信号RFの上側のピーク値Aおよび下側のピー
ク値Bに関連付けられた、高周波信号の10%ないし9
0%であるしきい値を形成する。2つの第1のコンパレ
ータV1,V2によって、測定信号Mがしきい値W1,
W2を上回ったことないし下回ったことが検出される。
誤り原因に相応する測定信号Mに対する2つの第1のコ
ンパレータV1,V2の出力信号a,bは、第3図に図
示されている。2つの第1のコンパレータV1,V2の
出力信号a,bを、これらコンパレータV1,V2に接
続されているANDゲートGを介して結合することによ
って、測定信号Mがしきい値W1,W2内の値を有する
とき、信号cが形成される。
D1,D2,D3の方向に応じて、アース線または給電
電圧線U1に接続されておりかつコンデンサC1,C
2,C3はアース線に接続されている。2つの第1のピ
ーク値整流器D1,C1,S1:D2,C2,S2のダ
イオードD1,D2は、反対方向に極性付けられており
かつ第2のピーク値整流器D3,C3,S3のダイオー
ドD3とともに、高周波信号RFを発生する走査子7に
接続されている。高周波信号RFから測定信号Mを導出
する第2のピーク値整流器D3,C3,S3のダイオー
ドD3の方向は、高周波信号RFの位相位置に相応しか
つ第2のピーク値整流器D3,C3,S3に2つの第1
のコンパレータV1,V2が接続されており、これらコ
ンパレータの比較入力側は、分圧器R1,R2,R3に
接続されている。この分圧器は、第1のピーク値整流器
D1,C1,S1:D2,C2,S2を相互に接続しか
つ高周波信号RFの上側のピーク値Aおよび下側のピー
ク値Bに関連付けられた、高周波信号の10%ないし9
0%であるしきい値を形成する。2つの第1のコンパレ
ータV1,V2によって、測定信号Mがしきい値W1,
W2を上回ったことないし下回ったことが検出される。
誤り原因に相応する測定信号Mに対する2つの第1のコ
ンパレータV1,V2の出力信号a,bは、第3図に図
示されている。2つの第1のコンパレータV1,V2の
出力信号a,bを、これらコンパレータV1,V2に接
続されているANDゲートGを介して結合することによ
って、測定信号Mがしきい値W1,W2内の値を有する
とき、信号cが形成される。
【0037】付加的に出力信号Mの時間評価を行うべき
であるので、ゲートGの出力側に時限素子が接続されて
いる。時限素子は、積分器とそれに後置接続されている
コンパレータV3とによって形成される。積分器は、ダ
イオードD4と、給電電圧U2に接続されている定電流
源S4と、コンデンサC4とから成る。ゲートGの信号
cに相応して、同様に第3図に示されている積分信号d
が形成されかつ基準電圧U3との比較のためにコンパレ
ータV3に供給され、その結果コンパレータV3の出力
側に基準電圧U3によって決められる、4msの時間間隔
によって、誤り原因指紋を特徴付ける誤り信号が送出さ
れる。
であるので、ゲートGの出力側に時限素子が接続されて
いる。時限素子は、積分器とそれに後置接続されている
コンパレータV3とによって形成される。積分器は、ダ
イオードD4と、給電電圧U2に接続されている定電流
源S4と、コンデンサC4とから成る。ゲートGの信号
cに相応して、同様に第3図に示されている積分信号d
が形成されかつ基準電圧U3との比較のためにコンパレ
ータV3に供給され、その結果コンパレータV3の出力
側に基準電圧U3によって決められる、4msの時間間隔
によって、誤り原因指紋を特徴付ける誤り信号が送出さ
れる。
【0038】比較的短時間発生する誤り信号eが再生装
置1の利用者によって知覚されることを保証するため
に、コンパレータV3に、パルス延長のための単安定マ
ルチバイブレータFが接続されており、その出力信号f
は同様に第3図に示されておりかつ、誤り原因指紋を可
視表示する発光ダイオードLDに供給される。高周波信
号RFから出発するこの指示装置5は、同様に処理回路
3および指示装置4から成る、誤り度から出発する誤り
指示装置5に相応して、第5図および第6図に示されて
いるように、再生装置1と単一構成ユニット6にまとめ
ることができる。
置1の利用者によって知覚されることを保証するため
に、コンパレータV3に、パルス延長のための単安定マ
ルチバイブレータFが接続されており、その出力信号f
は同様に第3図に示されておりかつ、誤り原因指紋を可
視表示する発光ダイオードLDに供給される。高周波信
号RFから出発するこの指示装置5は、同様に処理回路
3および指示装置4から成る、誤り度から出発する誤り
指示装置5に相応して、第5図および第6図に示されて
いるように、再生装置1と単一構成ユニット6にまとめ
ることができる。
【図1】再生装置1を用いて光学的な情報担体の欠陥誤
り種別を信号化を実施するための方法を説明するブロッ
ク図である。
り種別を信号化を実施するための方法を説明するブロッ
ク図である。
【図2】本発明の誤り度から出発する種別指示の方法の
フローチャートを示す図である
フローチャートを示す図である
【図3】再生装置1の高周波信号RFから出発する、欠
陥誤り原因の信号化のための方法および装置を説明する
ための信号経過を示す波形図である。
陥誤り原因の信号化のための方法および装置を説明する
ための信号経過を示す波形図である。
【図4】高周波信号RFから出発する、欠陥誤り種別指
示のための装置の回路略図である。
示のための装置の回路略図である。
【図5】高周波信号RFから出発する、欠陥誤り種別指
示のための装置のブロック図である。
示のための装置のブロック図である。
【図6】本発明の、誤り度から出発する欠陥誤り種別指
示のための装置のブロック図である。
示のための装置のブロック図である。
1 再生装置、 2 デコーダ、 3 処理回路、 4
指示ユニット、 5指示装置、 6 構成ユニット
指示ユニット、 5指示装置、 6 構成ユニット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G11B 7/005 G11B 7/005 Z 20/10 321 20/10 321Z (72)発明者 ハンス−ローベルト キューン ドイツ連邦共和国 D−7742 ザンクト ゲオルゲン ハイドンヴェーク 9 (72)発明者 エンゲルベルト ロイファー ドイツ連邦共和国 D−7742 ザンクト ゲオルゲン ギンスターヴェーク 40 (72)発明者 リヒャルト ルッチュマン ドイツ連邦共和国 D−7896 ヴートエシ ンゲン ベルクシュトラーセ 17 Fターム(参考) 5D044 AB05 BC03 CC06 DE68 GK18 5D090 AA01 BB02 CC04 CC18 DD03 FF38 FF43 FF50
Claims (13)
- 【請求項1】 種々のセクタを横断する複数のトラック
を有している光学的な記録担体から記録されかつ欠陥を
受けている情報を修復するために再生装置における誤り
原因を信号化するための光学装置であって、前記担体か
ら修復される記録された情報を表している高周波信号を
発生するための装置を含んでいる形式のものにおいて、
誤りの発生を検出するために、デコード化された再生さ
れた高周波信号に応答する誤り検出回路を備え、それぞ
れのトラックにおける誤りの発生を評価しかつ、前以て
決められた最小数の誤りが前以て決められた最小数の隣
接するトラックの同じセクタに生じたとき、指紋が誤り
の原因であることを突き止めるための処理回路を備え、
かつ前記処理回路に応答して、指紋が誤りの原因である
ことを指示するための指示装置を備えていることを特徴
とする再生装置における誤り原因を信号化するための光
学装置。 - 【請求項2】 前記誤りはバーストにおいて発生しかつ
前記前以て決められた最小数の誤りは3つの誤りバース
トであり、かつ前記前以て決められた数の隣接するトラ
ックは5である請求項1記載の再生装置における誤り原
因を信号化するための光学装置。 - 【請求項3】 例えば指紋および/または傷のような、
光学的に走査可能な情報担体ないし光ディスクの少なく
とも1つの誤りの原因を誤りの発生の場所を比較するこ
とによって信号化するための装置であって、該装置は情
報の再生のために用いられる再生装置(1)に光学的な
情報担体から誤りを表している信号を処理しかつ少なく
とも1つの誤り原因「指紋」に対する指示装置(4)に
供給するための処理装置(3)を有しており、該処理装
置は、再生装置(1)のデコーダ(2)に接続されてい
て、誤りのあるフレームをサブコードブロック(y)か
ら計算された誤り場所に関連付ける計算ユニットであ
り、該計算ユニットによって、ディスクセクタの隣接し
ているトラック(k)に発生している誤り率(z)から
コンパクトディスクの前以て決められている限界値との
比較によって少なくも誤り原因指紋が次のようにして求
められ、すなわち複数のフレームに相応するサブコード
ブロック時間(z)内に複数の欠陥のあるフレームから
誤り率(z)が発生した場合に形成される誤りバースト
(h)の最初の発生の際に、第1の誤りバースト(h)
の発生場所の領域に少なくとも1回の循環後にも誤りバ
ースト(h)が発生するかどうかに関して比較が行われ
かつ、前以て決められている数に相応する数の隣接する
トラック(k)に前以て決められている数に相応する数
以上の誤りバースト(h)が発生した場合に少なくとも
誤り原因指紋が求められ、かつ前記処理ユニット(3)
は前記指示装置(4)に接続されていることを特徴とす
る誤り原因を信号化するための装置。 - 【請求項4】 前記計算ユニットによって、96のフレ
ームに相応するサブコードブロック時間(y)内に4つ
の欠陥のあるフレームの誤り率(z)が発生した場合に
誤りバースト(h)が形成されかつ第1の誤りバースト
(h)の発生場所の領域での少なくとも1回の循環後に
も5つの隣接トラック(k)に誤りバースト(h)が発
生したかどうかの比較が行われ、誤り原因指紋が求めら
れる請求項3記載の誤り原因を信号化するための装置。 - 【請求項5】 前記光学的な記録担体から高周波信号を
発生するための装置を備え、該高周波信号は、相対的に
正の平均最大値Aと相対的に負の平均最小値Bとの間に
ある値を有している包絡線を有しており、前記高周波信
号の包絡線が上側のしきい値W1と下側のしきい値W2
との間にあるとき、発生を表している信号を発生するた
めのしきい値回路を備え、ここで値W1は値Aより小さ
くかつ値W2は値Bより大きく、前記発生の1つが、特
定の原因の誤りの発生を指示している前以て決められた
持続時間を何時上回るかを検出するために積分器を含ん
でいる検出手段を備え、コード化誤りの発生を検出する
ためにデコード化された再生された高周波信号に応答す
る誤り検出回路を備え、それぞれのトラックにおけるコ
ード化誤りの発生を評価しかつ前以て決められた最小数
の誤りが隣接するトラックの前以て決められた最小数の
同じセクタにおいて発生するとき、誤りの特定の原因を
突き止めるための処理回路を備え、かつ前記処理回路お
よび前記検出回路に応答して、所定の形式の誤りが検出
されたとき誤りの原因として指紋を指示する指示装置を
備えていることを特徴とする再生装置における誤り原因
を信号化するための光学装置。 - 【請求項6】 種々異なったセクタを横断する複数のト
ラックを有している光学的な記録担体から記録されかつ
欠陥を受けている情報を修復するような形式の光学式再
生装置における誤り原因を信号化するための方法であっ
て、前記担体から修復される記録された情報を表してい
る高周波信号を発生するための装置を用いる形式の方法
において、デコード化された再生された高周波信号中の
バーストに誤りバーストおよび誤り率を検出し、類似の
誤り率を有している誤りバーストの類似の数の発生に対
してそれぞれのトラックにおける誤りバーストを評価
し、かつ類似の誤り率を有している誤りバーストの前以
て決められる最小数が隣接するトラックの前以て決めら
れた最小数の同じセクタにおいて何時発生するかを検出
し、かつ隣接するトラックの前以て決められた最小数の
同じセクタにおいて発生する類似の誤り率を有している
前以て決められた最小数の誤りバーストの発生に応答し
て原因として指紋を指示することを特徴とする再生装置
における誤り原因を信号化するための方法。 - 【請求項7】 バースト誤りの前記前以て決められた最
小数が3でありかつ隣接するトラックの前記前以て決め
られた最小数が5であるとき、前記原因は指紋である請
求項6記載の再生装置における誤り原因を信号化するた
めの方法。 - 【請求項8】 前記誤りバーストは、96個のフレーム
の群における4つの欠陥のあるフレームに相応する請求
項7記載の再生装置における誤り原因を信号化するため
の方法。 - 【請求項9】 複数のフレームに相応するサブコードブ
ロック時間(y)内に複数の欠陥のあるフレームからの
誤り率(z)が発生した場合に形成される誤りバースト
(h)の最初の発生の際に、少なくとも1回の循環後に
も第1の誤りバースト(h)の発生場所の領域に誤りバ
ースト(h)が発生するかについて比較を行ないかつ前
以て決められている数に相応する数の隣接するトラック
(k)に前以て決められている数に相応する数以上の誤
りバースト(h)が発生した場合に少なくとも誤り原因
指紋を求めかつ信号化する請求項6記載の方法。 - 【請求項10】 数πと乗算し、サブコードブロック時
間と走査速度とから成る積によって割り算されて計算さ
れるサブコード(ATIME)から計算される走査直径
から、サブコードブロック(y)の数を決定する請求項
6記載の方法。 - 【請求項11】 96のフレームに相応するサブコード
ブロック時間(y)内に4つの欠陥のあるフレームの誤
り率(z)が発生した場合に誤りバースト(h)を形成
しかつ少なくとも1回の循環後にも第1の誤りバースト
(h)の発生場所の領域に、誤りバーストが生じるかに
ついて比較を行ないかつ5つの隣接トラック(k)に3
つ以上の誤りバースト(h)が発生した場合に誤りの原
因指紋を求める請求項6記載の方法。 - 【請求項12】 少なくとも1つの誤り原因を可視的に
および/または音響的に誤り発生の直接的な時間空間を
越えて光学的なディスクまたは光学的なディスクのマガ
ジンが新たに装填されるまで信号化する請求項6から1
1までのいずれか1項記載の方法。 - 【請求項13】 種々異なったセクタを横断する複数の
トラックを有している光ディスクから記録されかつ欠陥
を受けている情報を修復するような形式の光学式再生装
置における誤り原因を信号化するための方法であって、
前記担体から修復される記録された情報を表している高
周波信号を発生するための装置を用いる形式の方法にお
いて、デコード化された再生された高周波信号における
バースト中に誤りバーストおよび誤り率を検出し、少な
くとも5つの隣接するトラックの同じセクタにおける類
似の誤り率を有している少なくとも3つのバーストの発
生に対してそれぞれのトラックにおける誤りバーストを
評価し、かつ類似の誤り率を有している少なくとも3つ
の誤りバーストが少なくとも5つの隣接するトラックの
同じセクタにおいて検出されたとき指紋が誤りの原因で
あることを指示することを特徴とする再生装置における
誤り原因を信号化するための方法。
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