JPH06507749A - 光学的な情報担体の欠陥誤り種別信号化法 - Google Patents

光学的な情報担体の欠陥誤り種別信号化法

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 光学的な情報担体の欠陥誤り種別信号化法本発明は、欠陥の存在のみならず、例 えばコンパクトディスク上の指紋のような欠陥の種別を信号化しかつこれにより 利用者が場合に応じて、光学的な情報担体の本来の再生品質を再び形成すること ができるようにする“ファジィ論理”の意味における、再生装置を用いた光学的 な情報担体の欠陥誤り種別の信号化方法および装置に関する1本発明が属するこ とができる分野は、コンパクトディスク(CD)、レーザディスクまたは類似の 情報担体の不注意な取り扱いの際に発生するような、光学的な情報担体の少なく とも1つの欠陥誤り種別の信号化に関し、その際情報の再生のために通例設けら れている再生装置が使用される。
極めて細心に扱われているにも拘らず、オーディオおよび/またはビデオ信号ま たはデータ信号の記録および再生のために使用される光学的な情報担体は、製造 並びに環境により生じる誤りが発生する。これらは、所定の範囲において再生装 置の誤り補正装置によって補正ないし補間される。この能力がないと、コンパク トディスクまたはレーザディスクは実現可能でない。
というのはこの能力を駆使すれば、数多くのビットのいずれも消失することはな いしもしくはディスクにおける数多くのビットのいずれも損なわれたりまたは隠 蔽されることはないからである。しかし光学的な情報担体の誤りは少なくとも、 再生のオリジナリテイ−に影響を及ぼすことがあるかまたは再生の際に劣化を来 す。光学的な情報担体の保護層における気泡または汚れのようなランダムな個別 欠陥並びに所謂表面欠陥、即ちスクラッチおよび指紋が発生し、これらは非常に 多くの情報を破壊または隠蔽し、その結果利用者は本来の情報または計算ないし 補間された情報が再生されるのかをもはや区別することができない。
ちょうどそのとき再生されているCDの技術的な品質を指示するために、誤り補 正がどのくらし1働し1て0るかを指示する誤り指示装置が公知である(Ber nhardKRIEG: Praxis der digitalen Aud iotechnik: digitalen Aufnahme und Wi edergabe、 Franzis−Verlag GmbH,Muench en 1989 年、第60ないし63頁参照)。誤り補正の働いている程度は 、再生装置内に設けられてしするプログラムカウンタが信号化する、光学的な情 報担体の誤り度を反映するものである。誤り度は、誤りの頻度並びに数を表して いる。それはちょうどそのとき再生されているCDの技術的な品質を直接表すも のであるにも拘らず、利用者に、誤り度を低減するために場合により必要な措置 に関する説明は提供されなし)。
その理由は、誤りの傾度および数は信号化されるが、誤りの原因となる欠陥の種 別が信号化されなし)カーらである。
従って欠陥誤り種別信号化は、複雑さの点で誤り度を上回るシステムを要求する 0重みの増した複雑な問題の判定の担い手として人間を支援するこの形式のシス テムを“ファジィ論理“と称することは一般に周知である。
更に、CD製造の際に、情報担体の光学的な検査のためにレーザスキャナを使用 することが公知である。
レーザスキャナは高いコストを要求しかつこのレーザスキャナを用いて自動検査 システムによる品質監視の枠内においてCDの良否の選別が行われる(1992 年1月7日のFrankfurter Allgemeine Zeitung 中に掲載のWenn es klickt、 n1cht gleich de n 5pielerschelten″ 参照)。検査判断基準として同様に、 ディスクに対する誤り事象の数を表す誤り度が用いられる。しかしこの形式の、 付加装置の形の光学的な情報担体の誤り信号化のための煩雑な系は、利用者には 期待できるものではない、これらの装置によっても、異なった欠陥誤り種別間の 区別を行うことはできない。
従って本発明の課題は、僅かなコストで、例えば指紋のような、光学的な記録担 体の少なくとも1つの欠陥誤り種別の信号化を再生装置を用いて可能にし、その 結果助言ないし信号化系を用いて利用者が光学的な記録担体の品質の判定を一層 容易に行うことができかつ利用者に誤りの原因である指紋がある場合に一層良好 な再生を実現するための指示が与えられるようにする方法および装置を提供する ことである。
設定された課題は本発明によれば、第1のステップにおいて少なくとも1つの欠 陥誤り種別を検出しかつN2のステップにおいて信号化ないし指示することによ って解決される。
ちょうどそのとき再生されている光学的な情報担体が誤りを有する限り、少なく とも1つの誤り原因が明確に指示され、その結果利用者は誤り原因が指紋である 場合には指紋を有利には中心から縁に向かって真っすぐ単純に拭き取ることによ って本来の再生品質を再び回復することができる。
殊に多数回および不注意な取り扱いによりますます多くの誤りを存しかつ通例は 情報の再生のために使用される再生装置によって光学的に走査される光学的な情 報担体がこの方法の出発点を形成する。
誤りの原因が有する局所的な特性に基づいて、誤り度から誤りの原因を検出する ために、光ディスクの誤り度を表す、デコーダによってもはや補正されない誤り のあるフレームの数が欠陥誤り場所と関連付けられ、その際欠陥誤り場所は、当 該誤りレートに相応して評価される誤リバースト間のサブコードブロックの数か らめることができる。これにより誤りの原因は、あるディスクのセクタ部の隣接 するトラックにおいて発生する誤りレートによって決定される。
有利には、5つの隣接するトラックにおいて3つより多くの誤リバーストが発生 した際に修復可能な誤り原因指紋が指示される。他方において、3つの隣接する トラックにおいて3つまでのエラーバーストが発生した場合には有利には、スク ラッチおよび所謂ブラック・ドツトが識別されるかないし誤り原因として検出さ れかつ信号化される。
他方において、少なくとも1つの誤り原因をめるために、再生装置により光学的 な情報担体から検出される高周波信号を使用することができる。このために高周 波信号から測定信号が導出され、この測定信号の、誤り原因を特徴付ける時間領 域にわたる上側および下側のしきい値内の発生が検出される。誤り原因を検出す るためのしきい値として有利には、高周波信号のlOおよび90%が使用され、 その際しきい値は、走査子および種々異なった光学的な情報担体の反射特性の許 容偏差を補償するために、高周波信号の上側および下側のピーク値に関連付けら れる。測定信号を同様に高周波信号から導出されるしきい値に関して評価するこ とができるように、測定信号に比して著しく大きな時定数を有するしぎい値が使 用される。
例えば光ディスクからテープへの所謂高速ダビングによる書き換えのような、高 められた速度による光学的な情報担体の再生のためにまたは著しく短縮された再 生時間による誤り原因の探索過程のために、比較的短い時定数を有するしきい値 を使用することが有利である。というのは、そうでない場合に誤りは、通常の再 生速度による再生においてようやく検出されるからである。
誤り原因指紋を特徴付ける時間領域は有利には、高周波信号から導出される測定 信号がしきい値内に発生する、4msまでの時間期間である。しきい値、しきい 値の時定数および時間領域の変更によって、誤り原因指紋の他に、別の誤り原因 を検出することもできる。
更に、誤り度から出発する解決法並びに高周波信号から出発する解決法によって パラメータの変更および必要に応じてこれらの解決法の組み合わせによって、種 々異なった誤り原因を検出しかつ1つまたは複数の誤り原因の評価を行うことが できる。利用者に例えば、軽い指紋、強い指紋であるかまたは指紋または別の誤 り原因によって可聴障害を受けた再生であるかどうかが信号化される。
別の誤りに対して指紋の識別の確実性の度合を高めるために、誤りを表す信号は 有利には、ディスク回転と等価な信号と結合される。これにより、指紋から生じ るのではない複数の短い障害が、信号指紋に相応する信号に加算されることが回 避される。ディスク回転に等価な信号は有利には、所謂ラジアル検出器の出力信 号である。更に、指紋の半径方向の拡がりを検出するためのトラック完了の固定 された数の加算過程を、計数の枠において個別のトラック回転に誤り信号がない ときでも、中断しないことが有利である。
1つまたは複数の誤り原因の指示は、可視的および/または音響的に行われる。
操作者が誤り指示を知覚することを保証するために、誤り原因はその発生の時間 間隔を越えても信号化される。
この方法を実施するために、光学的な情報担体の誤りを表す、再生装置の信号を 処理しかつ少なくとも1つの誤り原因に対する指示装置に供給するための処理回 路から成る装置が設けられている。
光学的な情報担体の誤り度を表す信号の処理のために用いられる処理回路は有利 には、再生装置のデコーダないしプログラム誤りカウンタに接続されておりかつ 誤りのあるフレームを欠陥誤り場所に関連付ける計算ユニットによって形成され る。
光ディスクから再生装置によって検出された高周波信号の処理のために用いられ る処理回路は有利には、再生装置の走査子に接続されておりかつ高周波信号の上 側のしきい値と下側のしきい値を形成する、高周波信号から導出される、しきい 値内の測定信号を捕捉するしきい値回路と、測定信号の時間間隔ないし測定信号 の、しきい値内の滞留時間間隔を検出する時限素子とから成る。
しきい値回路は有利には、2つの反対方向に極性付けられた第1のピーク値整流 器から成り、これらビーり値整流器は分圧器を介して相互に接続されており、分 圧器には2つのコンパレータが接続されている。2つのコンパレータは入力側が 、測定信号を形成する第2のピーク値整流器に接続されておりかつ出力側がゲー トの入力側に接続されている。
ピーク値整流器はそれぞれ、ダイオードと、コンデンサと、定電流源またはダイ オードおよびコンデンサに接続されている少なくとも1つの抵抗とから成る。
その際第1のピーク値整流器は、高周波信号から導出される測定信号を形成する ために、第2のピーク値整流器に比べて著しく大きな時定数を有する。第1のピ ーク値整流器の時定数は有利には200m5であり、一方策2のピーク値整流器 の時定数は2msの領域にある値を有する。ピーク値整流器を結合する分圧器に よって形成されるしきい値として、有利には、高周波信号の10%および90% が使用されかつコンパレータに比較値として供給される。これらのコンパレータ に同様、高周波信号から導出される測定信号が供給され、その結果異なった時定 数に基づいてしきい値内の測定信号の発生が検出されかつコンパレータの出力の 、ゲートを介する結合によって信号化される。
指紋は所謂ブラック・ドツトに比して高周波信号において、高周波信号の電圧の 完全な落ち込みとして映し出されないので、これにより既に、これらの誤り原因 間の区別が可能になる。
しかし光学的な情報担体は、高周波信号において誤りの原因指紋に類似してしき い値内の測定信号として映し出されるスクラッチも有することがあるので、測定 信号の引き続く評価が必要である。このために、ゲートに接続されている時限素 子が設けられており、これを用いてしきい値内の測定信号の発生の時間間隔が検 出されかつ評価される。指紋の局所的な拡がりはスクラッチの局所的な拡がりよ り大きいので、高周波信号ないし測定信号の減衰または落ち込みの時間間隔が誤 り原因を区別するための付加的な判断基準として使用される。時限素子として、 相応の切換回路かまたはコンパレータが後置接続されている積分器が適しており 、切換回路または積分器の出力側は有利には、4+msの時間間隔までのしきい 値内の測定信号の発生の際、誤り原因指紋を検出するために使用される出力信号 を形成する。
誤り指示が、誤りの発生の大抵はほんの僅かな持続時間のため再生装置の利用者 に確実に知覚されることを保証するために、コンパレータに、単安定マルチバイ ブレータおよび/またはリセット可能なメモリが後置接続されている。これによ り、誤り原因の発生の時間間隔を越えた指示が実現される。更に、この形式の指 示を、所謂チェンジャーまたはマガジン再生装置と関連して行うと有利である。
というのは、誤りのある光ディスクに関する情報は場合によっては新しいマガジ ンの押入まで行われ、その場合これによってメモリのリセットが行われるからで ある。
更に、例えば所謂高速ダビングによる書き換えのために必要であるように、高め られた速度による再生時にも誤り原因指示の効果を保証するために、ピーク値整 流器を別の時定数に切換可能に実現するように設定されている。この形式の書き 換えの際には通例可聴状態にはならないので、そうでない場合には、誤りは通常 の速度による再生の際にようやく知覚されることになる。この形式の時定数切換 は、光ディスクが誤りの発生に関して著しく短縮された再生時間によって探索さ れる所謂探索過程に対しても必要である。
装置のパラメータの変更によって、誤り原因指紋とは別の誤り原因を検出しかつ 情報担体に対する適合化行うこともできる。更にこの装置は、誤り原因をその強 度に関して評価するのに適している。
少なくとも1つの誤り原因を検出する処理回路の構成とは無関係に、1つまたは 複数の発光ダイオード、ディスプレイまたは指示領域または1つまたは複数の音 声信号を発生する音声呼び出し装置から成る視覚的および/または音響的に信号 化する指示装置が設けられている。この指示装置によって有利には、修復可能な 誤り原因または修復可能および/または修復不能な誤り原因も指示される。
装置の構造に関して、指示装置および処理回路は、別個の誤り指示装置として再 生装置に結合されている誤り指示装置にまとめられるかまたは誤り指示装置は再 生装置に収容されておりかつこれとともに一体の構造ユニットを形成する。
本発明の方法および装置の利点は殊に次の点にある。
即ち、再生装置の利用者に対して、光学的な情報担体の再生品質の判定を容易に し、このために再生装置に既存の装置および既に実施され、ているステップを使 用することができかつ利用者はちょうどそのとき再生されている光学的な情報担 体の場合によって存在する誤り原因に関する明確な情報を得て、利用者に指紋の 場合には、単純な拭き取りにより光学的な情報担体の本来の再生品質を再び回復 することを可能にする。
本発明の方法および装置は、僅かなコストで実現可能でありかつ利用者に、本来 の情報が再生されるのかまたは殆どが補正装置によって計算されたないし補間さ れた情報が再生されるのかに関しての説明が行われる。
次に本発明を2つの実施例を示す図面を用いて詳細に説明する。
第1図は、再生装置lを用いて光学的な情報担体の欠陥誤り種別を信号化を実施 するための方法を説明するブロック図であり、 第2図は、誤り度から出発する、種別指示の方法のフローチャートを示す図であ り、 第3図は、再生装置lの高周波信号RFから出発する、毛間誤り原因の信号化の ための方法および装置を説明するための信号経過を示す波形図であり、114図 は、高周波信号RFから出発する、欠陥誤り種別指示のための装置の回路略図で あり、第5図は、高周波信号RFから出発する、欠陥誤り種別指示のための装置 のブロック図であり、第6図は、誤り度から出発する、欠陥誤り種別指示のため の装置のブロック図である。
第1図に示されているように、第1ステツプにおいて少なくとも1つの誤り原因 を検出しかつ第2のステップにおいて指示する、再生装置lを用いて光学的な情 報担体の欠陥誤り種別を信号化するために方法は、処理回路3および指示装置4 によって実施される。
コンパクトディスクの欠陥誤り種別の信号化のための第1の実施例において、第 1のステップは、第1図には図示されていない、再生装置lのデコーダ2が形成 する誤り度から少なくとも1つの誤り原因が検出される点にある。光学的な記録 担体の誤り度から誤り原因を検出するために、第2図に示されているように、再 生装置のスタートPLAYによってまず、誤りの発生に関して検査すべきトラッ クにの数並びに誤りレート2を表示するフラグmが零にセットされる。サブコー ドブロックyの数も再生装置のスタートPLAYの際に零にセットされる。第1 のサブコード同期信号5COHの発生によって、信号流れ経過が更に進められる 。誤りレート2を表示するフラグmは、補間が初めて発生するときセットされる 。補間の存在は、再生装置の、光ディスクの誤り度を信号化する装置の誤りレー ト2に相応して導出される。誤りレートz=1が発生すると、回転X当たりのサ ブコードブロックyの数の計算によって、位置決定OBが実施される。回転X当 たりのサブコードブロックyの数は、走査直径から得られる。走査直径は、数n と乗算され、サブコードブロック時間と走査速度との積によって割算される所謂 サブコードATIMEから計算される。走査速度は周知のように、それぞれのデ ィスクに対して一度だけ決定すべきでありかつ回転X当たりのサブコードブロッ クyの数は有利には、整数として丸められる。更に、誤りレート2を表示するフ ラグmはlにセットされかつ引き続いてサブコードブロックyの数を1だけ高め ることによって、同じディスクセクタにおいて新たに誤りレート2が生じるかど うかを待つ。更に、後続のステップにおいて、2つのサブコードブロックyの不 精確さが考慮される。これに、誤リバーストhにおける誤りのあるフレームの評 価が続く。誤りの発生に関して検査すべき、トラックにの数との組み合わせにお いて、誤り原因指紋と、スクラッチ、ブラック・ドツトとの間の区別を可能にす るために、実験による結果に相応して、96のフレームに相応しするサブコード ブロック時間内の4つのフレームに関連付けられた、誤リバーストhの量が選択 された。修復可能な誤り原因指紋は、5つの隣接するトラックkにおける3より 多くの誤リバーストhの発生の際に第1の欠陥誤り種別FAIとして存在するこ とがわかっている。他方において、スクラッチおよびブラック・ドツトは、3つ の隣接するトラックに3における3までの誤リバーストhの発生の際に第2の欠 陥誤り種別FA2として識別される。
別の誤りに対して指紋の識別の確実さの度合を高めるために、誤りを表す信号が ディスク回転と等価である信号と結合される。これにより、指紋には由来しない 複数の短い障害が、指紋に相応しする信号に加算される。ディスク回転に等価な 信号として、有利には、と所謂ラジアル検出器の出力信号が使用される。他方に おいて、指紋の半径方向の拡がりを検出するためのディスク回転に相応する所定 数のトラック完了の加算過程を、計数の枠内において個別トラック回転に誤り信 号が存在しないときでも中断しないようにすれば有利である。
この実施例に相応する装置は、第6図に示されている。それは、光ディスクの誤 り度を信号化するデコーダ2を含んでいる再生装置lと、処理回路3と、指示装 置4とから成っている。デコーダ2に、ちょうどそのとき再生されている光ディ スクの誤り度を表す信号を処理する処理回路3が接続されている。それは、誤り のあるフレームを欠陥誤り場所に関連付ける計算ユニットである。計算結果にお いて、場合に応じて存在する誤り原因指紋またはスクラッチ、ブラック・ドツト の1つが検出されかつこれに関する信号が処理回路3に接続されている指示装置 4に供給され、指示装置は相応の誤り原因をディスプレイを用いて第1の欠陥誤 り種別FAIないし第2の欠陥誤り種別FA2として信号化する。
第2の実施例では、第1のステップは、光ディスクから再生装置1によって検出 された高周波信号RFから少な(とも1つの誤り原因指紋を検出することにある 。この方法を説明するために、第3図に、主な誤り原因が含まれている高周波信 号RFが略示されている。
誤り原因ブラック・ドツトが存在する場合、高周波信号RFの電圧URFは、零 から高周波信号RFの近似的に10%まで延在する著しい落ち込みを有すること が認められた。これらの落ち込みは、信号経過におし1て図示されているように 、種々異なった落ち込み深度および落ち込み長さを有する可能性がある。
誤り原因スクラッチは、高周波信号RFの電圧URFの、比較的僅かな落ち込み 深度および主に比較的僅かな落ち込み長さによっても特徴付けられている落ち込 みを来す。
指紋によって、光デイスク上のその拡がりに基づし)て、4msまでの落ち込み 長さないし時間間隔を有する電層波信号RFの電圧URFの落ち込みが生じる。
その際指紋の強さは落ち込み深度に相応する。非常に軽い指紋は光ディスクの再 生品質に影響しないので、それは考慮されずにとどまる。このようにして得られ る認識から出発して、高周波信号RFから測定信号Mが導出されかつ高周波信号 RFの90%として固定された」二側のしきい値Wlおよび高周波信号RFの1 0%に相応する下側のしきい値W2内の測定信号Mの発生の際に、4msまでの 時間間隔を有する時間領域において誤り原因指紋が検出される。
しきい値Wl、W2を高周波信号RFのピーク値A。
Bに関連付けることによって、機器に固有でありかつ光ディスクの反射層の品質 に依存している、高周波信号RFの絶対電圧ORの影響を受けないようにするこ とができる。測定信号Mを高周波信号RFかも同様に導出されるしきい値Wl、 W2に関連付けて評価することができるようにするために、これらの時定数は、 測定信号Mの時定数に比べて著しく大きく選択された。
しきい値Wl、W2の時定数は20m5でありかつ測定信号の時定数は2msで ある。
その場合第1のステップの実施例とは無藺係に、上述の指示装置4によって、第 2のステップにおいて少なくとも1つの誤り原因が信号化される。
高周波信号RFから出発する実施例を実現するために、第4図に示されている装 置が設けられている。この装置のブロック図は、第5図に示されている。このブ ロック図は、誤り度から出発する誤り指示のための装置の第6図のブロック図と 類似して、この場合誤り原因指紋に制限されている指示装置4が接続されている 処理回路3を有している。処理回路3は同様に再生装置lに接続されておりかつ この実施例においては、光ディスクから高周波信号RFを検出する、再生装置l の走査子7に接続されている。処理回路は、指示装置4とともに、指示装置5を 形成する。この誤り指示装置の内部構成は、第4図の装置に示されている。この 装置は、3つのピーク値整流器Di、CI、Sl 。
D2.C2,S2 、D3.C3,33から成り、それらはそれぞれ、ダイオー ドDI、D2.D3、コンデンサC1,C2,C3および定電流源Sl、32. S3を有している。
定電流11[Sl、S2.S3i!、ダイオードDl、D2、D3の方向に応じ て、アース線または給電電圧線U1に接続されておりかつコンデンサCI、C2 ,C3はアース線に接続されている。2つの第1のピーク値整流器DI、C1, Sl :D2.C2,S2のダイオードDi、D2は、反対方向に極性付けられ ておりかつ第2のピーク値整流器D3.C3,S3のダイオードD3とともに、 高周波信号RFを発生する走査子7に接続されている。高周波信号RFから測定 信号Mを導出する第2のピーク値整流器D3.C3,S3のダイオードD3の方 向は、高周波信号RFの位相位置に相応しかつ第2のピーク値整流器D3.C3 ,S3に2つの第1のコンパレータVl、V2が接続されており、これらコンパ レータの比較入力側は、分圧aR1、R2,R3に接続されている。この分圧器 は、第1のピーク値整流器Di、CI、31 :D2.C2゜S2を相互に接続 しかつ高周波信号RFの上側のピークliAおよび下側のピーク値Bに関連付け られた、高周波信号の10%ないし90%であるしきい値を形成する。2つの第 1のコンパレータVl、V2によって、測定信号Mがしきい値Wl、W2を上回 ったことないし下回ったことが検出される。誤り原因に相応する測定信号Mに対 する2つの第1のコンパレータVl、V2の出力信号a、bは、第3図に図示さ れている。2つの第1のコンパレータVl、V2の出力信号a、bを、これらコ ンパレータVl、V2に接続されているANDゲートGを介して結合することに よって、測定信号Mがしきい値Wl、W2内の値を有するとき、信号Cが形成さ れる。
付加的に出力信号Mの時間評価を行うべきであるので、ゲートGの出力側に時限 素子が接続されている。
時限素子は、積分器とそれに後置接続されているコンパレータ■3とによって形 成される。積分器は、ダイオードD4と、給電電圧U2に接続されている定電流 源S4と、コンデンサC4とから成る。ゲートGの信号Cに相応して、同様に第 3図に示されている積分信号dが形成されかつ基準電圧U3との比較のためにコ ンパレータv3に供給され、その結果コンパレータV3の出力側に基準電圧U3 によって決められる、4rasの時間間隔によって、誤り原因指紋を特徴付ける 誤り信号が送出される。
比較的短時間発生する誤り信号eが再生装置]の利用者によって知覚されること を保証するために、コンパレータV3に、パルス延長のための単安定マルチバイ ブレータFが接続されており、その出力信号fは同様に第3図に示されておりか つ、誤り原因指紋を可視表示する発光ダイオードLDに供給される。高周波信号 RFから出発するこの指示装置5は、同様に処理回路3および指示装置4から成 る、誤り度がら出発する誤り指示装置5に相応して、第5図および第6図に示さ れているように、再生装置1と単一構成ユニット6にまとめることができる。
補正書の翻訳文提出書(特許法第184条の8)平成 5年12月 7日

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.光学的に走査可能な情報担体ないし光ディスクの誤り原因を通例情報の再生 のために通例使用される再生装置(1)を用いて信号化するための方法において 、 あるディスクセクタ部の隣接するトラック(k)において発生する誤りレート( z)から前以て決められた限界値との比較によりおよび/または光学的な情報担 体から再生装置(I)によって検出される、時間領域の間の上側のしきい値およ び下側のしきい値(W1,W2)内の高周波信号(RF)からその都度、第1の ステップにおいて少なくとも1つの誤り原因を検出しかつ第2のステップにおい て信号化することを特徴とする欠陥誤り原因の信号化方法。
  2. 2.コンパクトディスクから少なくとも1つの誤り原因指紋を、あるディスクセ クタ部の隣接するトラック(k)において発生する誤りレート(z)から、次の ようにして検出し、即ち96のフレームに相応するサブコードブロック時間(y )内に有利には4つの誤りのあるフレームが発生した際に形成される誤りバース ト(h)の最初の発生の際に、少なくとも1回の回転の後に、前記第1の誤りバ ースト(h)の発生の場所の領域において同じくエラーバースト(h)が発生す るかどうかを比較しかつ有利には5つの隣接するトラック(k)において有利に は3より多くの誤りバースト(h)が発生した際に、誤り原因指紋を検出しかつ 第2のステップにおいてこのことを信号化する請求項1記載の方法。
  3. 3.コンパクトディスクから少なくとも1つの誤り原因指紋を、光学的な情報担 体から再生装置(1)によって検出される高周波信号(RF)から検出するため に、該高周波信号(RF)の振幅に相応する、包絡線信号の形の測定信号(M) を形成しかつ該測定信号(M)が、誤りを受けていない高周波信号(RF)の測 定信号(M)の有利には90%のレベルに相応する上側のしきい値(W1)およ び誤りを受けていない高周波信号(RF)の測定信号(M)の有利には10%の レベルに相応する下側のしきい値(W2)内に、有利には4msを上回る時間領 域にわたって発生した場合に、誤り原因指紋を検出しかつ第2のステップにおい て信号化する 請求項1記載の方法。
  4. 4.少なくとも1つの欠陥誤り原因を可視的および/または音響的に、その発生 の直接的な時間期間を越えて光ディスクまたは光ディスクのマガジンの新たな挿 入まで信号化する 請求項1から3までのいずれか1項記載の方法。
  5. 5.光学的に走査可能な情報担体ないし光ディスクの誤り原因を通例は情報の再 生のために使用される再生装置(1)を用いて信号化するための装置において、 光学的な情報担体の障害を表示する、前記再生装置(1)の信号を処理しかつ少 なくとも1つの誤り原因に対する指示装置(4)に供給するための処理回路(3 )が設けられており、該処理回路は、前記再生装置(1)のデコーダ(2)に接 続されている、誤りのあるフレームを欠陥誤り場所に関連付ける計算ユニットお よび/または処理回路(3)であり、該処理回路は、情報信号を含んでいる高周 波信号(RF)を検出するための前記再生装置(1)の走査子(7)に接続され ておりかつ前記高周波信号(RF)の上側のしきい値(W1)および下側のしき い値(W2)を形成する、前記しきい値(W1,W2)内の前記高周波信号(R F)の測定信号(M)を求めるためのしきい値回路と前記しきい値(W1,W2 )内の前記測定信号(M)の時間間隔を前以て決められた値と比較する時限素子 とから成る ことを特徴とする欠陥誤り原因の信号化装置。
  6. 6.しきい値回路は、2つの反対方向に極性付けられた第1のピーク値整流器( D1,C1,S1;D2,C2,S2)から成り、該ピーク値整流器は分圧器( R1,R2,R3)を介して相互に接続されており、該分圧器に2つの第1のコ ンパレータ(V1,V2)が接続されており、該コンパレータは一方において、 前記高周波信号(RF)から前記測定信号(M)を形成する第2のピーク値整流 器(D3,C3,S3)に接続されかつ他方においてゲート(G)の入力側に接 続されている 請求項5記載の装置。
  7. 7.ピーク値整流器(D1,C1,S1;D2,C2,S2;D3,C3,S3 )はそれぞれ、ダイオード(C1,C2,C3)と定電流源(S1,S2,S3 )とから成りかつ第1のピーク値整流器(D1,C1,S1;D2,C2,S2 )は、第2のピーク値整流器(D3,C3,S3)より著しく大きい時定数を有 する 請求項6記載の装置。
  8. 8.時定数は、殊に誤り原因を検出するために、高められた速度による再生に切 換可能である請求項7記載の装置。
  9. 9.時限素子は、ダイオード(D4)と、コンデンサ(C4)と、定電流源(S 4)とによって形成された、コンパレータ(V3)が後置接続されている積分器 でありかつ誤り原因の発生の時間間隔を越える指示のために単安定マルチバイブ レータ(F)および/またはリセット可能なメモリが設けられている請求項5記 載の装置。
  10. 10.指示装置(4)は、可視的および/または音響的に信号化する指示装置で あり、該指示装置は、修複可能および/または修復不能な誤り原因を信号化しか つ処理回路(3)とともに、別個の誤り指示装置(5)または再生装置(1)と ともに一体の構成ユニット(6)を形成する 請求項5記載の装置。
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