JPH0568002B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 この発明は磁気デイスク記憶装置システムにお
けるコンポーネントを検査するための改良された
方法に関するもので、特に、薄膜磁気ヘツドを用
いるシステムにおけるコンポーネントを検査する
ことに関するものである。

よく知られるように、磁気駆動装置は最も近代
的な今日のコンピユータシステムの重要な部分で
ある。デイスク駆動装置は、典型的には、１個ま
たは２個以上の読み／書き磁気ヘツドを用い、こ
れらの性能は全体のデイスク駆動装置の満足な性
能を達成する上で重要である。したがつて、特に
大量のヘツドの製造にとり、磁気ヘツドの性能を
迅速に、正確に、信頼性をもつて検査するように
することがかなりの重要さを有する。そのような
検査を行なうことは特に薄膜ヘツドのような、新
しい形式の磁気ヘツドの製造に関して重要で、そ
のような薄膜ヘツドは在来のフエライトヘツドと
は異なる特性を有しかつ現場の経験がまだ少ない
からである。

磁気ヘツドの性能を示す重要な特性は、記録密
度と、記録されるパターンの性質と、雑音の存在
との結果として通常得られる「ビツトシフト」
（またはピークシフトと呼ばれる）として従来知
られている。周知のように、ビツトシフトでは検
出の予期される時間から或る値だけシフトした時
間でビツトが検出される。このシフトした時間が
ビツトセル時間に比べてある程度の大きさであれ
ば、磁気記録および再生システムにデータ誤差を
生じることがあり得る。

磁気ヘツドの性能を示すもう１つの重要なな特
性は、ヘツドタイミング非対称である。たとえ
ば、記録された磁化方向の変化（磁気過渡変化）
の変化の方向に依存して、読出信号タイミングに
不所望な差が生じるとき、ヘツドタイミング非対
称の存在がわかる。そのようなヘツドタイミング
非対称はまた不所望のビツトシフトのもとにもな
り得る。

ビツトシフトおよびヘツドタイミング非対称を
測定する公知のやり方は、典型的には、たとえ
ば、「分解能」を決定するため再生周波数応答測
定を用い、または分離されたパルス重畳技術を用
いることによつて、間接技術を用いてきた。これ
らの公知のやり方は、種々の欠点を有し、たとえ
ば不当に時間を要し、高価につきおよび／または
複雑である。さらに、分解能のやり方は薄膜ヘツ
ドの特性を測定するために用いるとき、全く不正
確な結果を与え得る。

この発明の簡単な要約 したがつて、この発明の主たる目的は、磁気記
録および再生コンポーネントを検査する、迅速
で、正確で信頼性のある、改良された方法を提供
することである。

上述の目的に従つたこの発明の他の目的は、磁
気媒体、再生システムおよび種々の組合わせのみ
ならず、多くの形式の磁気ヘツド（薄膜ヘツドも
含めて）を検査するために用いることのできる方
法を提供することである。

この発明のさらに他の目的は、磁気ヘツドのヘ
ツドタイミング非対称を測定するための改良され
た方法を提供することである。

この発明のさらに他の目的は、比較的簡単で複
雑でない方法で、前記の目的の方法を達成するこ
とである。

この発明の特に好ましい実施例では、上記の目
的は、予め検査パターンが回転磁気デイスクの円
状のトラツクのまわりに何回も書込まれるやり方
を用いて達成される。書込まれる予め定める検査
パターンは問隔距離が密な磁気過渡変化のみなら
ず比較的広い間隔距離の過渡変化をも含む。ビツ
トシフトのみならずタイミング非対称も、トラツ
クのまわりに書込まれる多くのパターンに対し、
書込まれかつ検出された読み戻し過渡変化の場所
の間で得られる特定の測定された時間間隔差を比
較することで正確に決定することができることが
わかつた。

この発明の特定の性質および、他の特徴、目
的、利点およびその用途は、添付図面に関して行
なわれるこの発明の特定の好ましい実施例の以下
の説明から明らかとなろう。

好ましい実施例の説明 添付図面の各図において、類似の符号および数
字は類似の要素を示す。

周知のとおり、磁気ヘツドは、デイスクが回転
するとき磁気フイルムの小さい領域を磁化するこ
とにより、回転磁気デイスクにデータを書込む。
磁化方向が変化する領域は、磁気過渡変化または
磁束反転と呼ばれる。従来の非「薄膜」読み／書
き磁気ヘツドはフエライトまたはミユーメタルの
読み／書き要素を有してもよくかつセラミツクま
たはバルクのフエライトで構成されるスライダに
設けられる。空気力学的部分のスライダは典型的
には研削およびラツプ仕上によつて整形される。
ガラスボンデイングが従来から磁極および読み／
書きギヤツプの要素を形成するのに用いられる。
読み書きコイルが巻回される。他方、薄膜読み／
書き磁気ヘツドは典型的にはサブストレートにス
パツタリング、蒸着またはメツキによりヘツドの
磁気要素を形成することにより作られ、サブスト
レートは典型的には後で空気支えスライダの空気
力学部分に機械加工される。

信号の振幅の他に、システムの他の部分に関連
して磁気ヘツドで達成される読み／書き工程の他
の重要な特性は信号対雑音比と信号のタイミング
である。磁気過渡変化をその正しい時間位置で読
むために、それをビツトセルタイムとして知られ
る間隔内で検出しなければならない。もしタイミ
ング誤差がビツトセルタイムの或る部分を越える
と、データ誤差が生じるかもしれない。

いくつかのフアクタがタイミング誤差のもとに
なり、その最も顕著なものはビツトシフトまたは
ピークシフトと通常呼ばれている。簡単に言え
ば、ビツトシフトは、前もつて書かれた磁気過渡
変化が読出時に検出される時間と、磁気過渡変化
が検出されるべきであつた時間との間の差であ
る。ビツトシフトは典型的には２つの主要な形式
があり、(1)パターン誘起ビツトシフトと(2)雑音誘
起ビツトシフトである。

パターン誘起ビツトシフトは、記録されたトラ
ツクに沿つて隣接して記録された過渡変化が、読
出信号のピークの場所にシフトを生じさせるに十
分に近いとき生ずる。ヘツドにより生ずるビツト
シフトは、ヘツドの磁気経路を経て磁束を誘起す
るすべての磁界をヘツドが検出することによる。
ビツトが高密度で記録されるとき、ヘツドは記録
されたビツトのうち最も近いものから磁界を拾う
だけでなく、記録されたトラツクに沿つて隣接す
るビツトからも磁界を拾う。したがつて、ヘツド
出力は組合わされた磁界を表わし、それが最も近
いビツトの見かけ上の場所にビツトシフトを誘起
する。パターン誘起ビツトシフトはまたヘツドの
タイミング非対称の結果としても生じ得る。なぜ
ならば、ビツトシフトは、異なる方向への磁気過
渡変化に対しヘツドが異なる態様で応答すること
により生じる読出信号タイミングの差の結果とし
て生じ得るからである。

一般的に、ビツト密度が増加するに従い、ビツ
トシフトも増加する。究極的には、ビツト密度が
増加するに従い、ビツトシフトは書込まれたデー
タの信頼性のある読出しを妨げる程に大きくなる
ノイズ誘起ビツトシフトもまた読出し信号のピー
クの場所に影響を与えるが、通常はそれはランダ
ム的である。

したがつて、磁気記録および再生システムにお
けるビツトシフトの性能が、システムが満足でき
るかどうかを決めるために検査すべき非常に重要
な特性であることがわかるであろう。

この発明によれば、ビツトシフトおよびタイミ
ング非対称のみならず他の重要なシステム特性を
測定するための迅速な、信頼性のある、正確でか
つ比較的簡単な方法および装置が提供される。

最初に、この発明の基本的な改良された検査方
法の好ましい例を第１図および第２図を参照して
考察する。

第１図はデイスクのトラツクのまわりに何回も
書込まれる予め定める相補的なパターンDPおよ
びP′を示すグラフである。相補的なパターンＰお
よびP′は、ＰおよよびP′の対応の過渡変化が第１
図で反対方向である点でで、相違している。図示
のように、各パターン（ＰまたはP′）は第１の過
渡変化（TR１またはTR１′）を含み、それには
比較的大きく距離を隔てる第２の過渡変化TR２
またはTR２′が続き、さらにそれには比較的密
に距離を隔てる過渡変化TR３またはTR３′が続
く。この実施例では、パターンＰおよびP′の比較
的密な間隔距離に配置された過渡変化TR２，
TR３およびTR２′，TR３′は、検査すべきヘツ
ドで検出すべき最も密な過渡変化の間隔距離に対
応してそれぞれ間隔距離TP４およびTP４′を有
するように選ばれている。一方、パターンＰおよ
びP′の、比較的幅広く距離を隔てて配置された過
渡変化TR１，TR２およびTR１′，TR２′はそ
れぞれ、読出の際に過渡変化TR１およびTR
１′に対して得られる検出場所が、隣接の過渡変
化によつて影響されないように、それぞれ間隔距
離TP１およびTP１′を有するように選ばれてい
る。パターンＰおよびP′の間のそれぞれの間隔距
離TP３およびTP３′は同じように、隣接パター
ンＰおよびP′の過渡変化が過渡変化TR１および
TR１′の検出場所に影響を与えないように選ば
れている。

第２図は第１図のパターンＰおよびP′のそれぞ
れの対応の過渡変化TR１，TR２，TR３および
TR１′，TR２′TR３′の読出から得られる典型
的な検出パルスＲ１，Ｒ２，Ｒ３およびＲ１′，
Ｒ２′，Ｒ３′を示す。この発明によるこの好まし
い実施例では、最も大きい時間間隔測定値は、パ
ターンＰの時間間隔Ｔ１、Ｔ２およびＴ３および
パターンP′の時間間隔Ｔ１′，Ｔ２′およびＴ３′
であつて、これらはそれぞれ第１図の過渡変化間
隔距離TR１，TP２，TP３，TP１′，TP２′お
よびTP３′に対応する。パターンＰにつき第２図
で示すように、Ｔ１はパルスＲ２およびびＲ１の
検出の間の時間間隔であり、Ｔ２はパルスＲ３お
よびＲ１の検出の間の時間間隔であり、かつＴ３
はパルスＲ１′およびＲ１の検出の間の時間間隔
である。同様に、パターンP′につきＴ１′はパル
スＲ２′およびＲ１′の検出の間の時間間隔であ
り、Ｔ２′はパルスＲ３′およびＲ１′の検出の間
の時間間隔であり、かつＴ３′はパルスＲ１およ
びＲ１′の検出の間の時間間隔である。プレイバ
ツクか得られるこれらの時間間隔Ｔ１，Ｔ２，Ｔ
３およびＴ１′，Ｔ２′，Ｔ３′の間の差およびデ
イスクトラツクのまわりに書込まれる多くのパタ
ーンＰおよびP′についての第２図の対応の過渡変
化間隔距離TP１，TP２，TP３およびTP１′，
TP２′，TP３′について理想的に得られる差を分
析することにより、システム性能を表わす、驚く
ほど数の多い極めて重要な磁気特性を迅速にかつ
正確に決定することができることがわかつた。

さて第３図を参照すると、この発明に従つた好
ましい装置の特定の例が示される。

第３図に示すように、検査すべき磁気ヘツドと
ともに用いられる形式の回転可能な磁気デイスク
１０が設けられる。デイスク１０のパターントラ
ツク１０ａには、パターンＰおよびP′（第１図）
を予め書込んでおくことができる。あるいは、こ
れらのパターンは、ヘツドの書込性能を検査する
ために、検査中のヘツド１２でパターントラツク
１０ａに書込むこともできる。たとえば、トラツ
ク１０ａへのパターンＰおよびP′の書込みは、タ
イミングトラツク１０ｂを用いて完遂され、それ
は磁気ヘツド１１（または他の適当なトランスデ
ユーサ）で読出されてデイスクタイミング信号を
タイミング回路１３に与え、適当なタイミング信
号（デイスク回転に同期している）を従来の形の
信号データ発生器１５に与える。信号データ発生
器１５は従来のプログラマブル信号源からの入力
制御信号に応答して動作し予め定めるパターン信
号（第１図のＰおよびP′に対応する）を従来の書
込み回路１７に与え、この書込み回路１７はタイ
ミング回路１３からのタイミング信号に応答して
適当な書込信号１７ａを磁気ヘツド１９に与えパ
ターントラツク１０ａにパターンＰおよびP′（第
１図）を書込む。

なおも第３図を参照して、読出性能を検査すべ
きであるとき、ヘツド１９がパターーントラツク
１０ａのパターンＰおよびP′（第１図）を読出す
ようにされかつその結果生じるヘツド出力が従来
の読出回路２２に与えられ、第２図に示すよう
な、検出出力パルスＲ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ１′，
Ｒ２′，Ｒ３′を生じる。この目的のため、読出回
路２２はタイミング回路１３からデイスクタイミ
ング信号を受取るかもしれない。デイスク１０の
回転速度は好ましくはシステムが動作するときに
用いられるのと同じでなければならない。

第３図の読出回路２２からの検出パルスＲ１，
Ｒ２，Ｒ３，Ｒ１′，Ｒ２′，Ｒ３′（第２図）は
従来の形態の時間間隔検出器２５に与えられ、そ
れはパターン認識装置として働き、かつ与えられ
たパルスＲ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ１′，Ｒ２′，Ｒ
３′を識別することができる。信号源１６の制御
の下に、時間間隔検出器２５が、与えられたパル
スＲ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ１′，Ｒ２′，Ｒ３′の間
に生じる特定の選ばれたタイミング間隔の、それ
ぞれ初めおよび終りに対応するスタートおよびス
トツプ出力信号を発生する。

時間間隔検出器２５で発生されるスタートおよ
びストツプ出力信号は、順に、タイマ実現回路３
０に与えられ、それはまた従来の形式のものでよ
い。タイマ実現回路３０は従来のように時間間隔
検出器２５から受ける各対応の対のスタートおよ
びストツプパルスの間の時間を正確に測定しかつ
結果として生じる時間間隔測定値を表わす信号を
分析回路４０に与えるように動作する。分析回路
４０はまた第１図に示すパターンＰおよびP′の過
渡変化TR１，TR２，TR３，TR１′，TR２′，
TR３′の特定のものの間の時間間隔に関連の信
号源１６から信号を受取る。

ここで考察するこの発明の好ましい実施例に従
えば、分析すべき重要なタイミング間隔はパター
ンＰおよびP′（第１図）の記録された過渡変化間
隔TP１，TP２、TP３，TP１′，TP２′，TP
３′およびパルスＲ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ１′，Ｒ
２′，Ｒ３′から得られる対応のプレイバツク時間
間隔Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３，Ｔ１′，Ｔ２′，Ｔ３′で
ある。これらの特定の記録およびプレイバツクタ
イミング間隔の対応のものの間の差を分析するこ
とにより、パターン誘起ビツトシフト（左および
右の双方）、雑音誘起ビツトシフト、および、ま
た、ノイズに起因するビツトシフトを表わす正確
な測定値を得ることができる。さらに、タイミン
グ非対称の測定もまた得ることができる。したが
つて、第３図の分析回路４０によりこれらの間隔
の分析を行なうため、時間間隔検出器２５が第２
図のプレイバツクタイミング間隔Ｔ１，Ｔ２，Ｔ
３，Ｔ１′，Ｔ２′，Ｔ３′に対応するタイマ実現
回路３０に、スタートおよびストツプ出力信号を
与えるようにされ、かつ信号源１６が、対応の記
録された過渡変化間隔TP１，TP２，TP３，TP
１′，TP２′，TP３′を表わす分析回路４０に信
号を与えるようにされる。

分析器４０は、ハードウエアによつて、または
適当にプログラムしたコンピユータによつて、ま
たはその双方の組合わせによつて、実現してもよ
い。この明細書での説明の目的で、種々の分析器
の機能を、たとえば第４図ないし第７図に示すよ
うな、容易に提供可能なコンポーネントで実現し
たものとして、図解している。ここに与えられる
説明から当業者はこれらの分析器の機能のすべて
の所望の部分を達成するために、適当にプログラ
ムしたコンピユータを提供することが容易に可能
であろう。

パターン誘起ビツトシフトが好ましい実施例で
決定される態様をまず考察する。第１図および第
２図を参照して、タイミング間隔TP１およびTP
１の間のかつタイミング間隔TP１′およびＴ１′
の間の差は左のビツトシフトの測定値であり、タ
イミング間隔TP２およびＴ２の間のかつタイミ
ング間隔TP２′およびＴ２′の間の差は右のビツ
トシフトの測定値である。第１図の１個の記録パ
ターンＰまたはP′について測定された左および右
ビツトシフトは、勿論、パターーン誘起ビツトシ
フトのみならず、パターンの個合の記録過渡変化
に対し局部的な媒体の不規則によつて生じるビツ
トシフトや、間隔の最初および終りのパルスの検
出と同時に生じる瞬間的な雑音で生じる任意のビ
ツトシフトをも含む。この発明の好ましい実施例
では、パターン誘起の左および右ビツトシフト
は、それぞれパターントラツク１０ａ（第３図の
まわりに記録される多くのパターンＰおよびP′に
つき、それぞれの間隔TP１およびＴ１ならびに
TP１′およびＴ１′の間で（左パターン誘起ビツ
トシフトについて）測定される差およびそれぞれ
の間隔TP２およびＴ２ならびにTP２′およびＴ
２′の間で（右パターン誘起ビツトシフトについ
て）測定される差を平均化することにより有利に
得られ、それによつて媒体の不規則性および雑音
で生じるビツトシフト効果を実質的に除去する。

上記に従つてパターン誘起ビツトシフトを得る
ために分析器４０で実現できる例示の構成が第４
図に示される。第４図において、この目的で分析
器４０はそれぞれ平均化回路４４および４５に与
える差回路４１および４２を含む。差回路４１は
タイマ実現回路３０から時間間隔Ｔ１およびＴ
１′を表わす信号Ｓ１を受けかつまた信号源１６
から時間間隔TP１およびTP１′を表わす信号を
受ける。差回路４２はタイマ構成回路３０から時
間間隔Ｔ２およびＴ２′を表わす信号Ｓ２を受け
かつまた信号源１６から時間間隔TP２およびTP
２′を表わす信号SP２を受ける。これらの差回路
４１および４２はそれぞれ出力信号４１ａおよび
４２ａを連続的に発生するように動作し、これら
の信号はデイスク１０が回転するとき適用される
時間間隔の対応のものの間で得られる測定された
差を表わす。それぞれ差回路４１および４２で発
生されるこれらの出力信号４１ａおよび４２ａは
それぞれの平均化回路４４および４５に与えられ
てそこに与えられる測定された差の平均を表わす
出力信号４４ａおよび４５ａを発生する。上の議
論から、出力信号４４ａおよび４５ａがこのよう
にしてそれぞれパターン誘起左および右ビツトシ
フトを表わすことが理解される。

第５図をさらに参照して次に考慮すべきこと
は、雑音誘起ビツトシフトを測定するために第３
図の分析器４０に設けてもよい例示の構成であ
る。周知のように、受信パルスの統計的な時間分
布を登録することにより、パルスのジツタを決定
することができる。このようにしてジツタを得る
ための雑音検出装置は技術分野でよく知られてい
る。この発明の好ましい実施例では、読出パルス
のジツタは雑音誘起ビツトシフトを表わすものと
して有利に用いられる。したがつて、デイスクが
回転する間、第３図の時間測定回路３０が読出時
間間隔Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３，Ｔ１′，Ｔ２′，Ｔ３′
の少なくとも１個を表わす信号Ｎを従来の雑音検
出装置５２に与え、デイスクが回転する間個々の
読出パルスについてジツタを決定する。雑音検出
装置で発生されるジツタ出力信号５２ａは従来の
統計計算装置５４に与えられて、ジツタの標準偏
差の指標を得る。考察しているこの発明の好まし
い実施例では、この標準偏差が雑音誘起ビツトシ
フトの測定値として用いられる。

次に第６図を参照すると、タイミング非対称を
測定するため第３図の分析器４０に設けられても
よい例示の構成が示される。記録パターンの最初
に生ずる正方向過渡変化の読出と、後に生ずる負
方向の過渡変化の読出との間で測定された間隔
が、最初に生ずる負方向の過渡変化の読出と、後
に生ずる正方向の過渡変化の読出との間の時間間
隔と異なるとき、タイミング非対称が存在するこ
とが理解される。

第１図および第２図を参照して、第２図の各時
間間隔Ｔ１が、正方向の過渡変化TR１で始まり
かつ負方向の過渡変化TR２で終る記録された時
間間隔（第１図のTP１）に対応する読み戻し時
間間隔の例であり、第２図の各時間間隔Ｔ１′が
負方向の過渡変化TR１′で始まりかつ正方向の
過渡変化TR２′で終る記録された時間間隔TP
１′に対応する読み戻し時間間隔の例であること
が理解される。読み戻し間隔Ｔ３およびＴ３′は
この点につき間隔Ｔ１およびＴ１′と同じ関係を
有することに注目される。

したがつて、Ｔ１およびＴ１′の間で、または
Ｔ３およびＴ３′の間で検出されるジツタは、ヘ
ツドタイミング非対称に依存する。しかし、この
ジツタはまた雑音によつても影響される。雑音の
影響を除くために、Ｔ１およびＴ１′の間で、ま
たはＴ３およびＴ３′の間で検出されるジツタは、
時間間隔Ｔ２またはＴ２′につき検出されるジツ
タと比較される。この時間間隔Ｔ２およびＴ２′
につき検出されるジツタは、タイミング非対称に
よつては本質的に影響されない。なぜならばＴ２
およびＴ２′の双方とも、同一方向に変化する初
めのおよび終わりの過渡変化に対応するからであ
る。

したがつて、第６図に示すタイミング非対称を
測定する例示の構成を参照して、デイスクが回転
している間、タイミング実現回路３０が、少なく
とも１対の間隔Ｔ１およびＴ１′またはＴ３およ
びＴ３′および間隔Ｔ２またはＴ２′の少なくとも
１つを表わす信号Ｙを雑音検出装置５２に与え、
この雑音検出装置５２は第５図に示すものと同じ
でよい。雑音検出装置５２はＴ２またはＴ２′お
よび与えられた対Ｔ１およびＴ１′またはＴ３お
よびＴ３′の間の比較のジツタを決定しかつそれ
に対応する結果として生じるジツタ信号５２ｂを
統計計算装置５４に与えるが、この統計計算装置
５４もまた第５図に示すものと同じでよい。この
ジツタ信号５２ｂの標準偏差がタイミング非対称
を表わすものとして用いられる。

前のパラグラフで指摘したように、第２図の時
間間隔Ｔ２およびＴ２′はどのようなタイミング
非対称によつても殆ど影響されない。しかしなが
ら、これらの間隔は雑音によつて影響され、それ
によりまたは雑音を決定する便宜上の方法を提供
する。したがつて、第７図に示すように、タイマ
実現回路３０が間隔Ｔ２またはＴ２′の少なくと
も１つを表わす信号Ｈを雑音検出装置５２に与
え、この雑音検出装置５２は順にジツタ信号５２
Ｃを統計計算装置５４に与える。このジツタ信号
の標準偏差が雑音によつて生じるビツトシフトを
表わすものとして用いられる。雑音消去装置５２
および統計計算装置５４は第５図および第６図の
ものと同じでよい。

次に第８図を参照すると、第１図のパターンＰ
およびP′を書込むのに用いられるのを同じ書込信
号を用いるシステムの目盛校正を達成する第３図
の実施例の改良が示される。明らかなとおり、第
３図の実施例と第８図の実施例の間の相違点は、
読出回路２２の入力にスイツチ１１０を設けた点
にあり、これがヘツド１９からの読出信号かま
た、減衰器１１２および微分器１１４を介して与
えられる書込回路１７からの書込信号かのいずれ
かを選択することを可能にする。減衰器１１２お
よび微分器１１４の目的は、システムを目盛校正
するための「理想的にされた」読出信号に変換す
ることである。

したがつて、目盛校正の目的で、スイツチ１１
０が微分器１１４の出力に与えられる「理想的に
された」読出信号を受けるためその目盛校正位置
に置かれ、かつ前に述べた種々の測定値がそのと
きに得られる。これらの測定値と実際の読出信号
について得られるものとの間の差がそのときより
正確な結果として得られる値を提供する。

この発明はここに開示される特定の実施例に限
定されるものとして考えるべきでなく、なぜなら
ば構成、配置および用途における多くの修正およ
び変更が、この発明の真の精神から逸脱すること
なく可能であることを理解すべきである。

したがつて、この発明は前掲の特許請求の範囲
で規定される発明の範囲に入るすべての可能な修
正および変更を含むものとして考慮すべきであ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の好ましい実施例で用いられ
る記録パターンを示すタイミング図である。第２
図は第１図の記録されたパターンに応答して例示
のシステムの発生される検出された読出パルスを
示すタイミング図である。 第３図はこの発明に従つて磁気ヘツドの性能を検
査するために用いられる好ましい実施例を示すブ
ロツクおよび概略図である。第４図はパターン誘
起ビツトシフトを測定するため第３図の分析器４
０に設けてもよい例示の装置を示す。第５図は雑
音誘起ビツトシフトを測定するため第３図の分析
器４０に設けてもよい例示の装置を示す。第６図
はタイミング非対称を測定するため第３図の分析
器４０に設けてもよい例示の回路を示す。第７図
は雑音により生じるビツトシフトを測定するため
第３図の分析器４０に設けてもよい例示装置を示
す。第８図はシステムの目盛校正を付加的に行な
う第１図の実施例の変形を示す。 図において、１０はデイスク、１０ａはパター
ントラツク、１２は検査中のヘツド、１０ｂはタ
イミングトラツク、１１は磁気ヘツド、１３はタ
イミング回路、１５は信号データ発生器、１６は
従来のプログラム可能な信号源、１７は従来の書
込回路、１９はヘツド、２２は従来の読出回路、
２５は時間間隔検出器、３０はタイマ実現回路、
４０は分析回路、TR１，TR２，TR３，TR
１′，TR２′，TR３′はパターンＰおよびP′の過
渡変化、Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ１′，Ｒ２′，Ｒ
３′は検出されたパルス、である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 磁気記憶装置システムのタイミング非対称の
   測定方法であつて、 磁気記録媒体１０のトラツク１０ａに沿つて、
   各々が負方向TR２，TR２′または正方向TR１，
   TR３，TR１′，TR３′への磁気過渡変化を含む
   領域を形成し、 前記領域は比較的大きい複数個の第１および第
   ２の実質的に等しい間隔TP１，TP１′が前記ト
   ラツク１０ａに沿つて形成されるように配置さ
   れ、 各第１の間隔は第１の方向への初めの過渡変化
   TR１と、反対方向への終わりの過渡変化TR２
   とにより構成され、かつ各第２の間隔は、前記反
   対方向への初めの過渡変化TR１′と前記第１の
   方向への終わりの過渡変化TR２′とにより形成
   され、 タイミング非対称を測定すべき箇所において、 前記媒体１０とヘツド１９とを相対的に移動さ
   せ、前記ヘツド１９が前記トラツク１０ａの前記
   領域を横切り、それに応答してヘツド出力信号を
   生じさせ、 前記ヘツド１９および媒体１０が前記トラツク
   １０ａに沿い相対的に移動されるとき、前記ヘツ
   ド１９が発生する前記ヘツド出力信号２５を検出
   し、かつ 前記検出に応答し、前記第１の間隔TP１と前
   記第２の間隔TP１′とを測定し、前記第１の間隔
   TP１と前記第２の間隔TP１′との間で検出され
   るジツタに基づきタイミング非対称の指標を発生
   する、測定方法。 ２ 相対的に大きい複数個の実質的に等しい第３
   の間隔TP２，TP２′もまた前記トラツク１０ａ
   に沿い形成され、各第３の間隔TP２，TP２′は、
   類似の方向を有する初めの過渡変化TR１，TR
   ３および終わりの過渡変化TR１′，TR３′によ
   り構成され、かつ前記指標は、前記第１のおよび
   前記第２の間隔TP１，TP１′につき検出された
   ジツタを前記第３の間隔TP２，TP２′につき検
   出されたジツタに対して比較した結果得られる相
   対的なジツタに基づき発生される、特許請求の範
   囲第１項に記載の測定方法。 ３ 非対称の前記指標が、前記相対的なジツタの
   標準偏差に基づく、特許請求の範囲第２項に記載
   の測定方法。 ４ 前記領域が、前記トラツク１０ａに沿い散在
   して設けられる比較的大きい複数個の第１および
   第２のパターンとして設けられ、 前記第１のパターンは各々少なくとも第1TR
   １、第2TR２および第3TR３の磁気過渡変化を
   含み、 これら磁気過渡変化は前記第１および第２の領
   域の間の距離および前記第1TR１および第3TR
   ３の過渡変化の間の距離に比べて相対的に大き
   く、かつ前記第２のパターンは各々各第１に述べ
   られたパターン内の磁気過渡変化TR１，TR２，
   TR３の場所と実質的に同じ相対的場所に位置さ
   れ、かつそれと逆向きである磁気過渡変化TR
   １′，TR２′，TR３′を含む、特許請求の範囲第
   １項、第２項または第３項に記載の測定方法。 ５ 前記第１の領域は、各パターンの第２および
   第３の領域から十分に距離を隔て、その検出場所
   に対し実質的に影響を有しないようにした、特許
   請求の範囲第４項に記載の測定方法。 ６ 各パターンにおける第２のおよび第３の領域
   の間の距離が前記ヘツドで検出する必要のある最
   も近い距離に対応する、特許請求の範囲第５項に
   記載の測定方法。 ７ 前記第１の間隔が前記第１のパターンの第１
   の過渡変化および第２の過渡変化の間の間隔を含
   み、かつ前記第２の間隔が前記第２のパターンの
   第１のおよび第２の過渡変化の間の間隔を含む、
   特許請求の範囲第４項に記載の測定方法。 ８ 前記第３の間隔が、前記第１および第２のパ
   ターンのうちの少なくとも１個の第１および第３
   の磁気過渡変化の間の間隔を含む、特許請求の範
   囲第７項に記載の測定方法。