JPS59180820A - 磁気ヘツド特性測定回路 - Google Patents
磁気ヘツド特性測定回路Info
- Publication number
- JPS59180820A JPS59180820A JP5554383A JP5554383A JPS59180820A JP S59180820 A JPS59180820 A JP S59180820A JP 5554383 A JP5554383 A JP 5554383A JP 5554383 A JP5554383 A JP 5554383A JP S59180820 A JPS59180820 A JP S59180820A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- waveform
- digital
- magnetic head
- outputs
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/455—Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、ディジタル記録用磁気へ、ドのｌＶｒ性のひ
とつである波形非対称を測定するための磁気ヘッド特性
測定回路に関する。
とつである波形非対称を測定するための磁気ヘッド特性
測定回路に関する。
従来、ディジタル記録用磁気へ、ドの特性のひとつであ
る波形非対称の測定ば、オシロスコープを使用してアナ
ログ波形を観」すして行なうか、その微分波形をゼロク
ロスコンノミレータに通してディジタル波形とし、それ
を観測するかにより行なっている。
る波形非対称の測定ば、オシロスコープを使用してアナ
ログ波形を観」すして行なうか、その微分波形をゼロク
ロスコンノミレータに通してディジタル波形とし、それ
を観測するかにより行なっている。
第１図を参照して従来の方式による測定を説明する。第
１図ｆａ）はオシロスコープの画面に現れろアナログ波
形を示す図で、波形非対称はＩＴｌ−Ｔ２ ｌと定義
される。第７図（ｂ）はアナログ波形の微分波形をゼロ
クロスコンパレ タに通した後のディジタル波形（オシ
ロスコープの画面上に現れろ）を示す図で、波形非対称
は第１図ｔａ＞と同様にｌＴｔ −Ｔ２ ＋と定義さ
れる。
１図ｆａ）はオシロスコープの画面に現れろアナログ波
形を示す図で、波形非対称はＩＴｌ−Ｔ２ ｌと定義
される。第７図（ｂ）はアナログ波形の微分波形をゼロ
クロスコンパレ タに通した後のディジタル波形（オシ
ロスコープの画面上に現れろ）を示す図で、波形非対称
は第１図ｔａ＞と同様にｌＴｔ −Ｔ２ ＋と定義さ
れる。
ところで、磁気ヘッドの出力には磁気媒体の移動速度の
変動成分、種々の雑音などが含まれているので、アナロ
グ波形には多くのジッターが含まれている。この様子を
第一図を参照して説明する。
変動成分、種々の雑音などが含まれているので、アナロ
グ波形には多くのジッターが含まれている。この様子を
第一図を参照して説明する。
第Ω図（ａ）はジッターを全く含まない理想的な磁気ヘ
ッド出力のＴＩ＋”２を、一定数だけサンプルしたとき
のヒストグラムである。従って、ＩＴＩＴ２ ｌと定
義される波形非対称はとのｘＴｌ−ＸＴとして求められ
る。第２図（’ｂ）はジッターを陰む磁気へ、ソＰ出力
のＴ１ 、Ｔ２を、一定数だけサンプルしたときのヒス
トグラムである。実際の測定（従来）では、このような
分布のものをオシロスコープで測定者の１１目〃で観測
しているが−Ｘ Ｔ１ ！ＸＴ２が最も強度が高いので
、平均値によって″ＫＴニー７Ｔ２が測定される。
ッド出力のＴＩ＋”２を、一定数だけサンプルしたとき
のヒストグラムである。従って、ＩＴＩＴ２ ｌと定
義される波形非対称はとのｘＴｌ−ＸＴとして求められ
る。第２図（’ｂ）はジッターを陰む磁気へ、ソＰ出力
のＴ１ 、Ｔ２を、一定数だけサンプルしたときのヒス
トグラムである。実際の測定（従来）では、このような
分布のものをオシロスコープで測定者の１１目〃で観測
しているが−Ｘ Ｔ１ ！ＸＴ２が最も強度が高いので
、平均値によって″ＫＴニー７Ｔ２が測定される。
動速度の変動成分、種々の雑音などが含まれているので
アナログ波形にジッターが多く、オシロスコープによっ
てこれを正確に測定するのは容易でない・また、測定者
によって測定値に差（個人差）が出ることが多い。
アナログ波形にジッターが多く、オシロスコープによっ
てこれを正確に測定するのは容易でない・また、測定者
によって測定値に差（個人差）が出ることが多い。
本発明は上記の従来技術の欠点に鑑みてなされたもので
、測定の精度を向上させると共に、測定者によって測定
値に差（個人差）が出ることのないディジタル記録用の
磁気ヘラＰ特性測定回路を提供することを目的とする。
、測定の精度を向上させると共に、測定者によって測定
値に差（個人差）が出ることのないディジタル記録用の
磁気ヘラＰ特性測定回路を提供することを目的とする。
上記の目的を実現するため本発明は、磁気へツ一方の値
をとるときに、クロックパルスをカウントしてカウント
値をアナログ量で出力する第１のカウント回路と、該デ
ィジタル信号が他方の値をとるときにクロ、７クパルス
をカウントしてカウント値をアナログ量で出力する第一
のカウント回路と、これらカウント回路の出力をそれぞ
れ積分する第１．第一の積分手段とを備え、これ□ら積
分手段の出力の差にもとづいて磁気へ、ラドの出力信号
の波形非対称を測定する磁気へッＰ特性測定回路を提供
するものである。
をとるときに、クロックパルスをカウントしてカウント
値をアナログ量で出力する第１のカウント回路と、該デ
ィジタル信号が他方の値をとるときにクロ、７クパルス
をカウントしてカウント値をアナログ量で出力する第一
のカウント回路と、これらカウント回路の出力をそれぞ
れ積分する第１．第一の積分手段とを備え、これ□ら積
分手段の出力の差にもとづいて磁気へ、ラドの出力信号
の波形非対称を測定する磁気へッＰ特性測定回路を提供
するものである。
第３図および第４図を参照して本発明の一実施例を説明
する。第３図は一実施例の回路図である。
する。第３図は一実施例の回路図である。
第１図に示すようなアナログ波形の微分波形のゼロクロ
ス点で立上りもしくは立下るディジタル波形の信号は、
端子／を介してノξルス幅カウント回路２ａ、、２ｂに
与えられる。また、パルス幅カウント回路Ｊａ 、ｊｂ
には、図示しない発信器から発せられたクロック、ｏル
スが端子３を介して与えられる４／ξルス幅カウント回
路、２ａ、ｊｂの出力はそれぞれＤ／Ａコンバータ＃ａ
、４／ｂを介して積分手段５ａ、５ｂに与えられる。積
分手段＆ａ。
ス点で立上りもしくは立下るディジタル波形の信号は、
端子／を介してノξルス幅カウント回路２ａ、、２ｂに
与えられる。また、パルス幅カウント回路Ｊａ 、ｊｂ
には、図示しない発信器から発せられたクロック、ｏル
スが端子３を介して与えられる４／ξルス幅カウント回
路、２ａ、ｊｂの出力はそれぞれＤ／Ａコンバータ＃ａ
、４／ｂを介して積分手段５ａ、５ｂに与えられる。積
分手段＆ａ。
５ｂはそれぞれコンデンサ（３，’、０２と積分器Ａａ
。
。
６ｂによりて構成されており、これらの出力は差動増幅
器７の■入力端子およびｅ入力端子に与えられる。差動
増幅器７の出力信号は端子ｇを介して図示しないデジタ
ルＤＣ電圧計などに与えられ、ここで電圧値が測定され
る。
器７の■入力端子およびｅ入力端子に与えられる。差動
増幅器７の出力信号は端子ｇを介して図示しないデジタ
ルＤＣ電圧計などに与えられ、ここで電圧値が測定され
る。
次に、第３図に示す一実施例の動作を説明する。
まず、第１図（ｂ）に示すディジタル波形の信号が端子
ｌより入力されると、波形がハイレベル（以下１′Ｈ〃
という）のあいだは・ξルス幅カウント回路：ｌａによ
ってクロックパルスがカウントされ、波形がローレベル
（以下１ゝＬ〃という）のあいだはノξルス幅カウント
回路ｊｂによってクロックパルスがカウントされろ。こ
のようにしてカウントされたカウント値は、ディジタル
量の信号としてそれぞれＤ／Ａコンノ々−夕ｐａ、１Ｉ
ｂｉＣＪえられ。
ｌより入力されると、波形がハイレベル（以下１′Ｈ〃
という）のあいだは・ξルス幅カウント回路：ｌａによ
ってクロックパルスがカウントされ、波形がローレベル
（以下１ゝＬ〃という）のあいだはノξルス幅カウント
回路ｊｂによってクロックパルスがカウントされろ。こ
のようにしてカウントされたカウント値は、ディジタル
量の信号としてそれぞれＤ／Ａコンノ々−夕ｐａ、１Ｉ
ｂｉＣＪえられ。
ここでアナログ量の信号に変換され、それぞれ積分手段
ｊａ、ｊｂＫ与えられる。積分手段５ａ。
ｊａ、ｊｂＫ与えられる。積分手段５ａ。
５−ｃはこれらアナログ量のカウント値を積分し、それ
ぞれｘＴ、 Ｉ ＸＴ２を出力する。差動増幅器７はそ
れらの差ＸＴ、 −ＸＴ２を端子ｇより出力する。
ぞれｘＴ、 Ｉ ＸＴ２を出力する。差動増幅器７はそ
れらの差ＸＴ、 −ＸＴ２を端子ｇより出力する。
このようにして得られた端子ｇからの出力信号け１、は
ぼＤ Ｏ市川て近くなっているので、ディ２タルＤ Ｃ
’＋［圧ｉｔ等によって市用値な測定することにより、
波形非対称の値をディ・ジタル的に測定することかでき
ろ。
ぼＤ Ｏ市川て近くなっているので、ディ２タルＤ Ｃ
’＋［圧ｉｔ等によって市用値な測定することにより、
波形非対称の値をディ・ジタル的に測定することかでき
ろ。
なお、端子／に与えられるディジタル波形の信号を１１
１ろ場合において、第４図に示すように、アナログ波形
の磁気へ２．ド出力信号（第４図（ａ））の微分波形の
ゼロクロス点で短い時間幅のノξルスとなるディジタル
波形（第を図（ｂ））の信号となることがある。この場
合には、ｇｓ図ｆ示すよりなりフリップフロ、プ１０に
より構成される回路を用いて第り図（Ｃ）に示す如きデ
ィジタル波形の信号を得ろ必要がある。
１ろ場合において、第４図に示すように、アナログ波形
の磁気へ２．ド出力信号（第４図（ａ））の微分波形の
ゼロクロス点で短い時間幅のノξルスとなるディジタル
波形（第を図（ｂ））の信号となることがある。この場
合には、ｇｓ図ｆ示すよりなりフリップフロ、プ１０に
より構成される回路を用いて第り図（Ｃ）に示す如きデ
ィジタル波形の信号を得ろ必要がある。
上述の如く本発明によれば、磁気へ、 Ｆ％出力の微分
波形のゼロクロス点で立上りもしくは立下ること如よっ
てユ値をとるディ、ジタル信号が一方の値をとろときに
、クロック・ξルスをカウントしてカウント値をアナロ
グ量で出力する第１のカウント回路と 該ディ・、）タ
ル信号が他方の値をとるとキｔてクロ、クパルスをカウ
ントしてカラントイ１１４−をアナログ量で出力する第
一のカウント回路と、これらカウント回路の出力をぞれ
ぞれ積分する第１゜第一の積分手段とをイ稍え、これら
積分手１々の出力の差をディジタルＤｏｔ圧計によって
測定するようにしたので、磁気ヘッドの出力イ≦号の波
形非対称を高精度かつ客観的（すなわち測定者ごとの個
人差がない）Ｋ測定できる磁気へ、ｌ−″特性測定回路
を得ることができる。
波形のゼロクロス点で立上りもしくは立下ること如よっ
てユ値をとるディ、ジタル信号が一方の値をとろときに
、クロック・ξルスをカウントしてカウント値をアナロ
グ量で出力する第１のカウント回路と 該ディ・、）タ
ル信号が他方の値をとるとキｔてクロ、クパルスをカウ
ントしてカラントイ１１４−をアナログ量で出力する第
一のカウント回路と、これらカウント回路の出力をぞれ
ぞれ積分する第１゜第一の積分手段とをイ稍え、これら
積分手１々の出力の差をディジタルＤｏｔ圧計によって
測定するようにしたので、磁気ヘッドの出力イ≦号の波
形非対称を高精度かつ客観的（すなわち測定者ごとの個
人差がない）Ｋ測定できる磁気へ、ｌ−″特性測定回路
を得ることができる。
第１図は磁気へ、ドの出力信号のアナログ波形およびそ
れにもとづくディジタル波形を示すタイムチャート、第
２図は第１図のＴｌ＋Ｔ２のヒストグラム、第３図は本
発明の一実施例の回路図、第９図は磁気へ、ドの出力信
号のアナログ波形およびそれにもとづくディジタル波形
を示すタイムチャート、第５図は第１図のディジタル波
形を得る装置の回路図であろう Ｓａ、りｂ・・・積分手段。 第４図 第５図
れにもとづくディジタル波形を示すタイムチャート、第
２図は第１図のＴｌ＋Ｔ２のヒストグラム、第３図は本
発明の一実施例の回路図、第９図は磁気へ、ドの出力信
号のアナログ波形およびそれにもとづくディジタル波形
を示すタイムチャート、第５図は第１図のディジタル波
形を得る装置の回路図であろう Ｓａ、りｂ・・・積分手段。 第４図 第５図
Claims (1)
- ディジタル記録用の磁気へ、２Ｆのアナログ出力信号の
微分波形のゼロクロス点で立上りもしくは立下ることに
よってΩ値をとるディジタル信号にもとづいて、前記磁
気ヘッドの出力信号の波形弁ズ・１称を測定する磁気ヘ
ッド特性測定回路において、クロ、クパルスを発する回
路と、前記ディジタル信号か一方の値をとるときに前記
クロックパルスをカウントし、カウント値をアナログは
に変換して出力する第１のカウント回路と、前記ディジ
タル１１０号が他方の値をとるときに前記クロックパル
スをカウントし、カウント値をアナログぢ−に変１”３
して出力する第ユのカウント回路と、前記第７のカウン
ト回路の出力を積分する第１の積分手段と、 ｒ）ｉＪ
記第−のカウント回路の出力をｈｔｉ分する第ユの粕分
手段とを備え、前記第１および第一〇積分手段の出力の
差にもとづいて前記もｄ気へ、ドの出力信号の波形非対
称を測定する磁気へ、Ｐ特性測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5554383A JPS59180820A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 磁気ヘツド特性測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5554383A JPS59180820A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 磁気ヘツド特性測定回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59180820A true JPS59180820A (ja) | 1984-10-15 |
Family
ID=13001622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5554383A Pending JPS59180820A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 磁気ヘツド特性測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59180820A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6192475A (ja) * | 1984-06-05 | 1986-05-10 | メモレツクス・コ−ポレ−シヨン | 磁気記憶装置システムにおけるタイミング非対称の測定方法 |
| US4862078A (en) * | 1987-05-07 | 1989-08-29 | Yamaha Corporation | Circuit for detecting defects of a magnetic recording head |
| US6081114A (en) * | 1997-02-17 | 2000-06-27 | Tdk Corporation | Method and apparatus for testing magnetic head with magnetoresistive element |
| US6680609B1 (en) | 2002-07-11 | 2004-01-20 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for determining the magnetic track width of a magnetic head |
| KR100708069B1 (ko) * | 2000-01-10 | 2007-04-16 | 삼성전자주식회사 | 비대칭을 보상하여 데이터 검출 성능을 높이는 데이터 재생 방법 및 장치 |
-
1983
- 1983-03-31 JP JP5554383A patent/JPS59180820A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6192475A (ja) * | 1984-06-05 | 1986-05-10 | メモレツクス・コ−ポレ−シヨン | 磁気記憶装置システムにおけるタイミング非対称の測定方法 |
| JPH0568002B2 (ja) * | 1984-06-05 | 1993-09-28 | Unisys Peripherals Corp | |
| US4862078A (en) * | 1987-05-07 | 1989-08-29 | Yamaha Corporation | Circuit for detecting defects of a magnetic recording head |
| US6081114A (en) * | 1997-02-17 | 2000-06-27 | Tdk Corporation | Method and apparatus for testing magnetic head with magnetoresistive element |
| KR100708069B1 (ko) * | 2000-01-10 | 2007-04-16 | 삼성전자주식회사 | 비대칭을 보상하여 데이터 검출 성능을 높이는 데이터 재생 방법 및 장치 |
| US6680609B1 (en) | 2002-07-11 | 2004-01-20 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for determining the magnetic track width of a magnetic head |
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