JPH046477A - 交流電圧測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野二 この発明は、サーボ回路のループゲイン測定等に好適な
、交流電圧測定装置に関する。

口発明の概要コ この発明は、交流電圧測定装置において、入力交流電圧
を第１．第２の基準電圧とそれぞれ比較［発明が解決し
ようとする課題二 従来、このようなサーボ回路の検査、調整時には、開ル
ープの利得を測定していたが、開ループの総合利得が大
きいため、例えば、前段の演算増幅器のオフセット電圧
のバラツキにより、低レベルの測定信号でも、後段の駆
動増幅器が飽和してしまい、正確な測定がてきないとい
う問題があった。

二のような問題を解消するために、本出願人は、第３図
に示すように、閉ループサーボ回路（１０）内に挿入し
た加算器（１７）を介して測定信号を供給し、この加算
器（１７）の前後の２点Ｐ、Ｑにおける信号電圧の比Ｖ
ｐ／Ｖｑから開ループの利得を正確に測定することがで
きる技法を既に提案している（実願平１−１５２１００
号参照）。

即ち、第３図において、（１０）はサーボ回路であって
、光学ピックアップ（１１）にはアクチュエータ（１２
）が付随し、ピックアップ（１１）の出力が供給される
前置増幅器（１３）には適宜の利得制御器（１４）が付
随する。増幅器（１３）の出力が、加算器（１７）と所
定遮断周波数の低域フィルタ（１５）とを経て、駆動増
幅器（１６）に供給され、増幅器（１６）の出力がアク
チュエータ（１２）に供給される。

測定時、例えばｌ　ｋ　Ｈｚの正弦波が、スイッチ（２
）を介して、信号源（１）から加算器（１７）に供給さ
れ、この加算器（１７）と前置増幅器（１３）　、低域
フィルタ（１５）との接続中点Ｐ、Ｑにおける各信号電
圧Ｖｐ、　Ｖｑが電圧計（３）、　（４）　　によりそ
れぞれ測定されて、開ループ利得Ｇｏ＝Ｖρ／Ｖｑが求
められる。

なお、電圧計として、スペクトルアナライザ等を用いる
ことができる。

ところで、上述のような電圧計等が光デイスク再生装置
等の内部に組み込まれていれば、例えば、サーボ回路の
自動調整や保守の場合にきわめて便利である。

ところが、既提案で用いる電圧計等は、比較的大型であ
り、また高価格であるたｔ１光ディスク再生装置等の内
部に実装することができないという問題があった。

かかる点に鑑み、この発明の目的は、再生装置等の内部
に実装し得るような、小型かつ低価格の交流電圧測定装
置を提供するところにある。

［課題を解決するための手段］ この発明は、入力交流電圧を第１及び第２の基準電圧Ｖ
ｒａ、　Ｖｒｂとそれぞれ比較する第１及び第２の比較
器（２１）、　（２２）　　と、この第１及び第２の比
較器の出力パルスの占有率を測定する占有率測定手段（
３０）とを備え、この占有率測定手段の測定値に基づい
て、入力交流電圧を測定するようにした交流電圧測定装
置である。

［作用コ この発明によれば、ＩＣ化が容易となり、価格が低減さ
れる。

［実施例］ 以下、第１図及び第２図を参照しながら、この発明によ
る交流電圧測定装置の一実施例について説明する。

この発明の一実施例の構成を第１図に示す。

第１図において、入力端子ＩＮからの交流信号が、コン
デンサＣを経て、一方の比較器（２１）の非反転入力端
子と他方の比較器（２２）の反転入力端子とに共通に供
給される。抵抗分圧器（２３）、　（２４）が正、負の
電源（＋　Ｖｃｃ、　−Ｖｃｃ）間に直列接続されて、
基準電圧Ｖｒａ、　Ｖｒｂがそれぞれ形成され、この基
準電圧Ｖ　ｒａ、Ｖｒｂがそれぞれ比較器（２１）の反
転入力端子と比較器（２２）の非反転入力端子とに供給
される。比較器（２１）、　（２２）　　の出力はオア
回路（２５）に供給される。量基準電圧Ｖｒａ、　Ｖｒ
ｂは、次の（１）式に示すように、その絶対値が等しく
設定されて、第２図Ａに示すように、ゼロ電位に関して
対称とされる。

Ｖｒａ　：　＝　　Ｖｒｂ　ニー＝（１）（３０ンは占
有率測定回路であって、オア回路（２５〉の出力が標本
化回路（３１）に供給され、クロック発生回路（３２）
からの周波数がｆｃ　のクロックにより標本化される。

標本化回路（３１）の出力は、図示を省略した適宜の選
別回路を介して、Ｈレベルカウンタ（３３）とＬレベル
カウンタ（３４）とにそれぞれ供給される。

カウンタ（３３）、　（３４）　　の出力が演算回路（
マイクロコンピュータ）　（３５）に供給されて、所定
の占有率演算が行われる。この占有率と入力交流レベル
との対照表がＲＯＭ（３６）に格納されており、演算回
路（３５）の演算値に対応して、ＲＯＭ（３６）から交
流電圧値が読み出され、端子ＯＵＴ　に導８される。

なお、この占有率測定回路（３０）は、光デイスク再生
装置等の内部に組み込まれているシステム制御回路（マ
イクロコンピユータ）に所要の機能を追加して実現する
こともできる。

次に、第２図をも参照しながら、この発明の一実施例の
動作について説明する。

第２図Ａに示すように、入力交流信号の正負のピーク値
が基準電圧Ｖｒａ、　Ｖｒｂより大きい場合、同図已に
示すように、入力交流信号の正の瞬時値が基準電圧Ｖｒ
ａ以上の期間Ｔ２１に、一方の比較器（２１）の出力が
Ｈレベルとなり、入力交流信号の負の瞬時値が基準電圧
Ｖｒｂ以下の期間Ｔ２２に、他方の比較器（２２）の出
力がＨレベルとなる。そして、入力交流信号の瞬時値が
側基準電圧Ｖｒａ、　Ｖｒｂの中間の期間ＴＯＩ、　Ｔ
Ｏ２には、両比較器（２１＞、　（２２）の出力がとも
にＬレベルになる。

これにより、オア回路（２５）の出力は同図已に示すよ
うになり、標本化回路（３１）において、同図Ｃに示す
ようなりロックにより標本化される。

従って、標本化回路（３１）の出力は、入力交流信号の
１周期の間にＮ２１千Ｎ２２個がＨレベルとなり、ＮＯ
Ｉ　−Ｎ０２個がＬレベルとなって、それぞれカウンタ
（３３）、　（３４）　　で計数される。

前述のように、側基準電圧Ｖｒａ、　Ｖｒｂはゼロ電位
に関して対称に設定されている。また、コンデンサを介
して、両比較器（２１）、　（２２＞　　に入力される
交流電圧もゼロ電位に関して対称であるから、比較器（
２１）、　（２２）　　の出力がＨ，Ｌレベルの期間と
、各期間内の標本数とが、次の（２）式のようにそれぞ
れ等しくなる。

そして、演算回路（３５）において、次の（３）式によ
り入力交流信号の占有率ＤＦが演算される。

ＤＦ＝Ｎ２１／　（Ｎ２１−ｉ−ＮＯＩ）・・・・（３
）この占有率ＤＦに対応する交流電圧値がＲＯＭ（３６
）から読み出され、測定値として、端子ＯＵＴ　に導出
される。

上述のように、この実施例では、比較器（２１）（２２
）と、デジタル処理による占有率測定回路（３０）とを
用いて交流電圧を測定するようにしたので、容易に集積
回路化することができて、光デイスク再生装置等の内部
に実装することができる。

（３０）は占有率測定回路、（３１）は標本化回路、（
３３）。

（３４）はカウンタ、（３５）は演算回路（マイクロコ
ンビニータ）である。

［発明の効果］ 以上詳述のように、この発明によれば、入力交流電圧を
第１．第２の基準電圧とそれぞれ比較する第１．第２の
比較器の出力パルスの占有率に基づいて、入力交流電圧
を測定するようにしたので、ＩＣ化が容易となり、小型
かつ低価格の交流電圧測定装置が得られる。

代　　理　　人 松　　隈　　秀　　盛

【図面の簡単な説明】 第１図はこの発明による交流電圧測定装置の一実施例の
構成を示すブロック図、第２図はこの発明の一実施例の
動作を説明するための波形図、第３図はこの発明を説明
するた袷のサーボ回路のループゲイン測定装置の構成例
を示すブロック図である。 （２１）、　（２２）　　は比較器、（２３）、　（２
４）　　は抵抗分圧器、笑Ｍ！砂ｊの浪わ 第２図 第３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 入力交流電圧を第１及び第２の基準電圧とそれぞれ比較
   する第１及び第２の比較器と、 この第１及び第２の比較器の出力パルスの占有率を測定
   する占有率測定手段とを備え、 この占有率測定手段の測定値に基づいて、上記入力交流
   電圧を測定するようにしたことを特徴とする交流電圧測
   定装置。