JPH03225284A - 固体撮像装置の出力信号計測方法 - Google Patents
固体撮像装置の出力信号計測方法Info
- Publication number
- JPH03225284A JPH03225284A JP2056890A JP2056890A JPH03225284A JP H03225284 A JPH03225284 A JP H03225284A JP 2056890 A JP2056890 A JP 2056890A JP 2056890 A JP2056890 A JP 2056890A JP H03225284 A JPH03225284 A JP H03225284A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- output signal
- reference level
- averaging
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 8
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract description 19
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 16
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 abstract description 9
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、固体撮像装置の計測方法に関し、特に計測時
間短縮に関する。
間短縮に関する。
信号電荷転送部をＣＯＤで構成した固体撮像装置では、
転送りロックに同期して電圧の形で得られる出力信号は
、直流バイアス成分、及び、リセットノイズ成分を含ん
でいる。第３図（ａ）、 （ｂ）に固体撮像装置の出力
信号とサンプリングパルスとを示す。
転送りロックに同期して電圧の形で得られる出力信号は
、直流バイアス成分、及び、リセットノイズ成分を含ん
でいる。第３図（ａ）、 （ｂ）に固体撮像装置の出力
信号とサンプリングパルスとを示す。
従来、例えば自動テスタを用いて出力信号を計測する場
合は、第３図に示すように１ビット毎に基準レベル部と
信号電荷に応じたレベルの信号部の各々でサンプリング
パルス３１．３２を印加して、基準レベル部の電圧■、
と信号部の電圧ｖ３を測定している。例えば、Ｖ）、＝
５０００ｍＶ、Ｖｓ＝４５００ｍＶとすると、正味の信
号出力値Ｖ。ＩＩＴはＶ ｏｕｔ ＝ Ｖ Ｆ Ｖ
ｓ ＝５０００−４５００ ＝５００ｍＶ として得られる。しかし、実際の波形にはランダムノイ
ズ等のノイズ成分の混入がある。今、ノイズの振幅を１
００ｍＶとすると、基準レベル部の電圧Ｖアと信号部の
電圧■３はともに、真の値に対して最大±５０ｍＶ、正
味の出力値Ｖ。ｔｌ？にして±１００ｍＶすなわち最大
２０％のバラツキがある。７例えば感度ムラの測定を行
なう場合、ムラ自身が数パーセントであるので精度が出
ない。そこで数フレーム分の計測を行ない各ビット毎に
結果を平均し、ノイズの影響を少なくし、測定バラツキ
を小さくすることが行なわれていた。例えば、５フレ一
ム分の計測を行なったとして注目しているビットの各フ
Ｌ／−ムテノ値をＶｏｕｔ＋ ＝５７０ｍ Ｖ 、 Ｖ
ＯＵＴ２ ＝５１０ｍ Ｖ 。
合は、第３図に示すように１ビット毎に基準レベル部と
信号電荷に応じたレベルの信号部の各々でサンプリング
パルス３１．３２を印加して、基準レベル部の電圧■、
と信号部の電圧ｖ３を測定している。例えば、Ｖ）、＝
５０００ｍＶ、Ｖｓ＝４５００ｍＶとすると、正味の信
号出力値Ｖ。ＩＩＴはＶ ｏｕｔ ＝ Ｖ Ｆ Ｖ
ｓ ＝５０００−４５００ ＝５００ｍＶ として得られる。しかし、実際の波形にはランダムノイ
ズ等のノイズ成分の混入がある。今、ノイズの振幅を１
００ｍＶとすると、基準レベル部の電圧Ｖアと信号部の
電圧■３はともに、真の値に対して最大±５０ｍＶ、正
味の出力値Ｖ。ｔｌ？にして±１００ｍＶすなわち最大
２０％のバラツキがある。７例えば感度ムラの測定を行
なう場合、ムラ自身が数パーセントであるので精度が出
ない。そこで数フレーム分の計測を行ない各ビット毎に
結果を平均し、ノイズの影響を少なくし、測定バラツキ
を小さくすることが行なわれていた。例えば、５フレ一
ム分の計測を行なったとして注目しているビットの各フ
Ｌ／−ムテノ値をＶｏｕｔ＋ ＝５７０ｍ Ｖ 、 Ｖ
ＯＵＴ２ ＝５１０ｍ Ｖ 。
ＶｏｕＴ３＝４８０ｍ Ｖ 、 Ｖｏｕｔ４＝４９０
ｍ Ｖ 、 ＶｏｕＴｓ ＝ ４６０ ｍ Ｖとすると
、最終的な信号出力■。ＬＩＴは、ＶＯＵＴ ＝ ＋
（Ｖｏｕｔ ＋ ＋ＶＯＵＴ２ ＋ＶＯＬＩＴ３ ＋
Ｖｏｕｔ４＋Ｖｏｕｔｓ）＝ −） （５７０＋５１０
＋４８０＋４９０＋４６０）’＝ ５２０ ｍ Ｖ として得ていた。
ｍ Ｖ 、 ＶｏｕＴｓ ＝ ４６０ ｍ Ｖとすると
、最終的な信号出力■。ＬＩＴは、ＶＯＵＴ ＝ ＋
（Ｖｏｕｔ ＋ ＋ＶＯＵＴ２ ＋ＶＯＬＩＴ３ ＋
Ｖｏｕｔ４＋Ｖｏｕｔｓ）＝ −） （５７０＋５１０
＋４８０＋４９０＋４６０）’＝ ５２０ ｍ Ｖ として得ていた。
上述した従来の固体撮像装置の出力信号計測方法では、
出力信号のノイズの影響を少なくし、計測の精度を向上
させるために複数フレームの計測を行なっているので、
ｌフレーム分の計測に比べ計測時間が長くなるという欠
点があった。
出力信号のノイズの影響を少なくし、計測の精度を向上
させるために複数フレームの計測を行なっているので、
ｌフレーム分の計測に比べ計測時間が長くなるという欠
点があった。
本発明の固体撮像装置の出力信号計測方法は、出力信号
の１ビット毎に基準レベル部と信号部の各々で複数回の
サンプリングを行なって、それぞれの平均値の差として
正味の信号出力値を得ている。
の１ビット毎に基準レベル部と信号部の各々で複数回の
サンプリングを行なって、それぞれの平均値の差として
正味の信号出力値を得ている。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図（ａ）、 （ｂ）は、本発明の一実施例による出
力信号とサンプリングパルスとのタイミングチャートで
ある。同図に示すように１ビット毎に基準レベル部で７
回、信号電荷に応じたレベルの信号部で７回サンプリン
グを行なっている。基準レベル部及び信号部の電圧Ｖ、
、Ｖ、の真の値がそれぞれ５０００ｍＶ、 ４５００ｍ
Ｖで出力信号に振幅１００ｍＶのノイズ成分が混入して
いる時サンプリングパルス１〜７で計測した値がそれぞ
れＶ 、 ＝５０５０ｍ Ｖ 。
力信号とサンプリングパルスとのタイミングチャートで
ある。同図に示すように１ビット毎に基準レベル部で７
回、信号電荷に応じたレベルの信号部で７回サンプリン
グを行なっている。基準レベル部及び信号部の電圧Ｖ、
、Ｖ、の真の値がそれぞれ５０００ｍＶ、 ４５００ｍ
Ｖで出力信号に振幅１００ｍＶのノイズ成分が混入して
いる時サンプリングパルス１〜７で計測した値がそれぞ
れＶ 、 ＝５０５０ｍ Ｖ 。
Ｖ ２ ＝５０００ｍ Ｖ 、 Ｖ ３ ＝４９５０ｍ
Ｖ 、 Ｖ ４＝ ５０１０ ｍ Ｖ 。
Ｖ 、 Ｖ ４＝ ５０１０ ｍ Ｖ 。
Ｖｓ”５０１０ｍＶ、Ｖａ＝４９８０ｍＶ、Ｖ７二４９
９０ｍＶであった。基準レベル部の電圧ｖＦは■１〜Ｖ
７を平均して Ｖｒ＝＋（Ｖ＋＋Ｖ２＋Ｖ３ ＋ＶＪ＋Ｖｓ＋Ｖａ＋Ｖ
Ｆ）＝ ＋ （５０５０＋５０００＋４９５０＋５０１
０＋５０１０＋４９８０＋４９９０）＝４９９８．６ｍ
Ｖ として得る。同様に信号部の電圧ｖｓはサンプリングパ
ルス８〜１４で計測した値Ｖ、〜ｖ１．を平均して得る
。Ｖ ｓ ＝４５４０ ｍ Ｖ 、 Ｖ ＊ ＝ ４５
１０ ｍ Ｖ 。
９０ｍＶであった。基準レベル部の電圧ｖＦは■１〜Ｖ
７を平均して Ｖｒ＝＋（Ｖ＋＋Ｖ２＋Ｖ３ ＋ＶＪ＋Ｖｓ＋Ｖａ＋Ｖ
Ｆ）＝ ＋ （５０５０＋５０００＋４９５０＋５０１
０＋５０１０＋４９８０＋４９９０）＝４９９８．６ｍ
Ｖ として得る。同様に信号部の電圧ｖｓはサンプリングパ
ルス８〜１４で計測した値Ｖ、〜ｖ１．を平均して得る
。Ｖ ｓ ＝４５４０ ｍ Ｖ 、 Ｖ ＊ ＝ ４５
１０ ｍ Ｖ 。
Ｖ ｌｏ ＝４４８０ｍ Ｖ 、 Ｖ ＋ ＋ ＝４９
９０ｍ Ｖ 、 Ｖ ｌ ２ ＝４５１０ｍ Ｖ 。
９０ｍ Ｖ 、 Ｖ ｌ ２ ＝４５１０ｍ Ｖ 。
Ｖ、３＝４５１０ｍＶ、Ｖ＋＊＝４５００ｍＶであツタ
時Ｖ ｓ ＝ ＋ （Ｖ ａ 十Ｖ ｅ ＋Ｖ ＋ ｏ
＋ Ｖ ＋ ＋ 十Ｖ ｌ ２ 十Ｖ ｔ ３ ＋Ｖ
ｌ ４ ）＝ ＋ （４５５０＋４５１０＋４４５０
＋４４９０＋４５１０＋４５１０＋４５００）＝４５０
２．８ｍＶ 従って正味の信号出力Ｖ。ＩＩＴは Ｖｏｕｔ ＝ ＶＦ ＶＳ ＝４９９８．６−４５０２．８ ＝４９５．８ｍＶ として得られる。各々のサンプリングパルスによる測定
値にはノイズのために±５０ｍＶの誤差が生じているに
もかかわらず、各々の値を平均することにより誤差は数
ｍＶとかなり小さくなっている。
時Ｖ ｓ ＝ ＋ （Ｖ ａ 十Ｖ ｅ ＋Ｖ ＋ ｏ
＋ Ｖ ＋ ＋ 十Ｖ ｌ ２ 十Ｖ ｔ ３ ＋Ｖ
ｌ ４ ）＝ ＋ （４５５０＋４５１０＋４４５０
＋４４９０＋４５１０＋４５１０＋４５００）＝４５０
２．８ｍＶ 従って正味の信号出力Ｖ。ＩＩＴは Ｖｏｕｔ ＝ ＶＦ ＶＳ ＝４９９８．６−４５０２．８ ＝４９５．８ｍＶ として得られる。各々のサンプリングパルスによる測定
値にはノイズのために±５０ｍＶの誤差が生じているに
もかかわらず、各々の値を平均することにより誤差は数
ｍＶとかなり小さくなっている。
以上のように基準レベル部と信号部の各々で７回ずつサ
ンプリンクを行ない平均することにより、出力信号にノ
イズ成分が混入している場合にも誤差の少ない精度の高
い測定が可能となり、また計測は１フレ一ム分でよく、
従来のように数フレーム分の計測を必要としないので計
測時間をかなり短縮できる。
ンプリンクを行ない平均することにより、出力信号にノ
イズ成分が混入している場合にも誤差の少ない精度の高
い測定が可能となり、また計測は１フレ一ム分でよく、
従来のように数フレーム分の計測を必要としないので計
測時間をかなり短縮できる。
第２図（ａ） 、 （ｂ）は本発明の他の実施例による
モニタ出力信号とサンプリングパルスとのタイミングチ
ャートである。
モニタ出力信号とサンプリングパルスとのタイミングチ
ャートである。
本実施例では、オートフォーカスセンサに用いられる露
光量調節用モニタ出力の計測例である。
光量調節用モニタ出力の計測例である。
モニタ出力は時間とともに値が変化するので、出力が開
始されてからｌＯμＳ経過した点を基準レベル部とする
。第２図に示すように基準レベル部。
始されてからｌＯμＳ経過した点を基準レベル部とする
。第２図に示すように基準レベル部。
信号部とも４回ずつサンプリングを行なっている。
基準レベル部と信号部の電圧Ｖ、、Ｖ、の値の値がそれ
ぞれ５０００ｍＶ、 ４０００ｍＶで出力信号に振幅１
００ｍ Ｖのノイズ成分が混入している時、サンプリン
グパルス２１〜２４で計測した値がそれぞれＶ ２１
＝５０５０ｍ Ｖ 、 Ｖ ２２ ＝４９８０ｍ Ｖ
、 Ｖ ２３ ＝５０１０ｍ Ｖ 。
ぞれ５０００ｍＶ、 ４０００ｍＶで出力信号に振幅１
００ｍ Ｖのノイズ成分が混入している時、サンプリン
グパルス２１〜２４で計測した値がそれぞれＶ ２１
＝５０５０ｍ Ｖ 、 Ｖ ２２ ＝４９８０ｍ Ｖ
、 Ｖ ２３ ＝５０１０ｍ Ｖ 。
Ｖ ２１ ＝ ４９５０ ｍ Ｖであった。基準レベル
部の電圧Ｖ。
部の電圧Ｖ。
はＶ２１〜Ｖ２４を平均して
Ｖｐ ＝ ＋ （Ｖ２１ ＋Ｖ２２＋Ｖ２３＋Ｖ２４）
＋ （５０５０＋４９８０＋５０１０＋４９５０）＝４
９９７．５ｍＶ として得る。同様に信号部の電圧Ｖｓはサンプリングパ
ルス２５〜２８で計測した値Ｖ＋５〜Ｖ２ｇを平均して
得る。Ｖｚｓ＝４０５０ｍＶ、Ｖ２ｇ＝３９６０ｍＶ。
＋ （５０５０＋４９８０＋５０１０＋４９５０）＝４
９９７．５ｍＶ として得る。同様に信号部の電圧Ｖｓはサンプリングパ
ルス２５〜２８で計測した値Ｖ＋５〜Ｖ２ｇを平均して
得る。Ｖｚｓ＝４０５０ｍＶ、Ｖ２ｇ＝３９６０ｍＶ。
Ｖｕ＝４０１０ｍＶ、Ｖ２ｍ＝３９７０ｍＶであった時
、Ｖｓ＝＋（Ｖ２５＋Ｖ２ａ＋Ｖ２＋＋Ｖ２ｍ）＝ ＋
（４０５０＋３９６０＋４０１０＋３９７０）３９９
７．５ｍＶ 従って正味の信号出力Ｍ。Ｌ１７は Ｍ ｏｕｔ ＝ Ｖ Ｆ Ｖ ｓ ＝４９９７．５−３９９７．５ ＝１０００．０ｍＶ として得られる。
、Ｖｓ＝＋（Ｖ２５＋Ｖ２ａ＋Ｖ２＋＋Ｖ２ｍ）＝ ＋
（４０５０＋３９６０＋４０１０＋３９７０）３９９
７．５ｍＶ 従って正味の信号出力Ｍ。Ｌ１７は Ｍ ｏｕｔ ＝ Ｖ Ｆ Ｖ ｓ ＝４９９７．５−３９９７．５ ＝１０００．０ｍＶ として得られる。
以上のように基準レベル部と信号部の各々で４回ずつサ
ンプリングを行ない、平均することにより、出力信号に
ノイズ成分が混入している場合ンこも誤差の少ない精度
の良い測定が可能となり、また計測はｌフレーム分でよ
く、従来のように数フレーム分の計測を必要としないの
で、計測時間をかなり短縮できる。
ンプリングを行ない、平均することにより、出力信号に
ノイズ成分が混入している場合ンこも誤差の少ない精度
の良い測定が可能となり、また計測はｌフレーム分でよ
く、従来のように数フレーム分の計測を必要としないの
で、計測時間をかなり短縮できる。
以上説明したように、本発明は固体撮像装置の出力信号
を計測する際に、基準レベル部、信号電荷に応じたレベ
ルの信号部の各々複数回サンプリングを行ない値を平均
することにより、ｌフレーム分の計測でもノイズの影響
の少ない精度の良い計測が可能となり、従来のように数
フレーム分の計測を行なう必要がなく、その分計側時間
の短縮ができる効果がある。
を計測する際に、基準レベル部、信号電荷に応じたレベ
ルの信号部の各々複数回サンプリングを行ない値を平均
することにより、ｌフレーム分の計測でもノイズの影響
の少ない精度の良い計測が可能となり、従来のように数
フレーム分の計測を行なう必要がなく、その分計側時間
の短縮ができる効果がある。
第１図（ａ） 、 （ｂ）はそれぞれ本発明の一実施例
による出力信号とサンプリングパルスのタイミング図、
第２図（ａ） 、 （ｂ）はそれぞれ本発明の他の実施
例によるモニタ出力信号とサンプリングパルスのタイミ
ング図、第３図（ａ） 、 （ｂ）はそれぞれ従来の計
測法による出力信号とサンプリ イミング図である。 １〜１４．２１〜２８，３１゜ リングパルス。 ングパルスのり ３２・・・・・・サンプ
による出力信号とサンプリングパルスのタイミング図、
第２図（ａ） 、 （ｂ）はそれぞれ本発明の他の実施
例によるモニタ出力信号とサンプリングパルスのタイミ
ング図、第３図（ａ） 、 （ｂ）はそれぞれ従来の計
測法による出力信号とサンプリ イミング図である。 １〜１４．２１〜２８，３１゜ リングパルス。 ングパルスのり ３２・・・・・・サンプ
Claims (1)
- 固体撮像装置の出力信号のうち、１ビット毎に基準レベ
ル部の電圧と信号電荷に応じたレベルの信号部の電圧と
を各々複数回サンプリングし、それぞれの電圧の各平均
値の差として出力信号電圧を得ることを特徴とする固体
撮像装置の出力信号計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2056890A JPH03225284A (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 | 固体撮像装置の出力信号計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2056890A JPH03225284A (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 | 固体撮像装置の出力信号計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03225284A true JPH03225284A (ja) | 1991-10-04 |
Family
ID=12030789
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2056890A Pending JPH03225284A (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 | 固体撮像装置の出力信号計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03225284A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005125187A1 (ja) * | 2004-06-17 | 2005-12-29 | Advantest Corporation | 信号読出装置及び試験装置 |
| WO2008016049A1 (fr) * | 2006-07-31 | 2008-02-07 | National University Corporation Shizuoka University | Convertisseur a/n et circuit de lecture |
| JP2010028488A (ja) * | 2008-07-18 | 2010-02-04 | Canon Inc | 撮像装置、及び撮像装置の制御方法 |
| JP2010141924A (ja) * | 2010-03-04 | 2010-06-24 | Advantest Corp | 信号読出装置及び試験装置 |
| JP2014239426A (ja) * | 2013-05-09 | 2014-12-18 | 株式会社ブルックマンテクノロジ | Ａ／ｄ変換回路用ディジタル補正回路、ａ／ｄ変換回路及びイメージセンサデバイス |
| JP2015201948A (ja) * | 2014-04-07 | 2015-11-12 | 株式会社豊田自動織機 | 充電装置 |
| JP2016061666A (ja) * | 2014-09-18 | 2016-04-25 | 株式会社島津製作所 | イメージセンサの信号処理装置及び信号読出方法 |
| WO2017037872A1 (ja) * | 2015-09-01 | 2017-03-09 | 株式会社島津製作所 | 光学ユニット及びこれを備えた分光器 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6386976A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-18 | Nec Corp | 雑音除去回路 |
-
1990
- 1990-01-30 JP JP2056890A patent/JPH03225284A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6386976A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-18 | Nec Corp | 雑音除去回路 |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005125187A1 (ja) * | 2004-06-17 | 2005-12-29 | Advantest Corporation | 信号読出装置及び試験装置 |
| US7796164B2 (en) | 2004-06-17 | 2010-09-14 | Advantest Corporation | Signal reading apparatus and test apparatus |
| WO2008016049A1 (fr) * | 2006-07-31 | 2008-02-07 | National University Corporation Shizuoka University | Convertisseur a/n et circuit de lecture |
| US8553112B2 (en) | 2006-07-31 | 2013-10-08 | National University Corporation Shizuoka University | A/D converter and readout circuit |
| JP2010028488A (ja) * | 2008-07-18 | 2010-02-04 | Canon Inc | 撮像装置、及び撮像装置の制御方法 |
| JP2010141924A (ja) * | 2010-03-04 | 2010-06-24 | Advantest Corp | 信号読出装置及び試験装置 |
| JP2014239426A (ja) * | 2013-05-09 | 2014-12-18 | 株式会社ブルックマンテクノロジ | Ａ／ｄ変換回路用ディジタル補正回路、ａ／ｄ変換回路及びイメージセンサデバイス |
| JP2015201948A (ja) * | 2014-04-07 | 2015-11-12 | 株式会社豊田自動織機 | 充電装置 |
| JP2016061666A (ja) * | 2014-09-18 | 2016-04-25 | 株式会社島津製作所 | イメージセンサの信号処理装置及び信号読出方法 |
| WO2017037872A1 (ja) * | 2015-09-01 | 2017-03-09 | 株式会社島津製作所 | 光学ユニット及びこれを備えた分光器 |
| JPWO2017037872A1 (ja) * | 2015-09-01 | 2018-07-26 | 株式会社島津製作所 | 光学ユニット及びこれを備えた分光器 |
| US10337919B2 (en) | 2015-09-01 | 2019-07-02 | Shimadzu Corporation | Optical unit and spectrometer provided with same |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2793910B2 (ja) | 雑音減少効果を有するアナログ／デジタル変換器 | |
| US5351010A (en) | Resistance ratio measurement utilizing measuring currents of opposite plural direction | |
| JPH03225284A (ja) | 固体撮像装置の出力信号計測方法 | |
| FR2975187A1 (fr) | Mesure differentielle de tension | |
| JPS58105625A (ja) | 多重化したアナログ−デジタル変換器 | |
| JP2511396B2 (ja) | コンパレ―タの動作時間測定方法 | |
| JP3985897B2 (ja) | 画像センサの暗レベル決定回路 | |
| JPS59180820A (ja) | 磁気ヘツド特性測定回路 | |
| JPH05264352A (ja) | 分光光度計 | |
| JP2578857B2 (ja) | 積分型ａ／ｄ変換器 | |
| FR2565695A1 (fr) | Procede et dispositif de mesure de la composante reactive d'une impedance complexe | |
| JP2645111B2 (ja) | 太陽センサ | |
| JPH0150865B2 (ja) | ||
| FR2796725A1 (fr) | Dispositif de mesure de la sensibilite d'un capteur de champ magnetique a effet hall | |
| JPS623734Y2 (ja) | ||
| SU823896A1 (ru) | Способ регистрации светового сиг-НАлА | |
| JPS5932895Y2 (ja) | 光量測定装置 | |
| RU2196998C2 (ru) | Способ измерения постоянной составляющей гармонического сигнала | |
| SU1239624A1 (ru) | Способ определени разности фаз между гармоническими сигналами инфранизкой частоты | |
| JPS592484Y2 (ja) | 位置寸法測定装置 | |
| JPS62254069A (ja) | 電力変換装置の電圧，電流検出方式 | |
| SU429266A1 (ru) | Измеритель скважности прямоугольных импульсов | |
| RU1798707C (ru) | Способ определени амплитуды периодических импульсов | |
| SU1314282A1 (ru) | Измеритель паразитной амплитудной модул ции в аппаратуре магнитной записи | |
| JPS6117300B2 (ja) |