JPS6192475A - 磁気記憶装置システムにおけるタイミング非対称の測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 けるコンポーネントを検査するための改良された方法に
関するもので、特に、薄膜磁気ヘッドを用いるシステム
におけるコンポーネントを検査することに関するもので
ある。

よく知られるように、磁気駆動装置は最も近代的な今日
のコンピュータシステムの重要な部分である。ディスク
駆動装置は、典型的には、１個または２個以上の読み／
書き磁気ヘッドを用い、これらの性能は全体のディスク
駆動装置の満足な性能を達成する上で重要である。した
がって、特に大量のヘッドの製造にとり、磁気ヘッドの
性能を迅速に、正確に、信頼性をもって検査するように
することがかなりの重要さを有する。そのような検査を
行なうことは特に薄膜ヘッドのような、新しい形式の磁
気ヘッドの製造に関して重要で、そのような薄膜ヘッド
は在来のフェライトヘッドとは異なる特性を有しかつ現
場の経験がまだ少ないからでおる。

磁気ヘッドの性能を示す重要な特性は、通常記録密度の
結果であるところの［ビットシフト」（またはピークシ
フトと呼ばれる）、記録されるパターンの性質、および
また雑音の存在として従来知られている。周知のように
、ビットシフトでは検出の予期される時間から成る値だ
けシフトした時間でビットが検出され、それはもしビッ
トセル時間に比べて十分に大きければ磁気記録および再
生システムにデータ誤差を生じることがあり得る。

磁気ヘッドの性能を示すもう１つの重要な特性は、ヘッ
ドタイミング非対称である。ヘッドタイミング非対称の
存在は、たとえば、記録された磁気過渡変化の変化の方
向に依存して不所望の読み戻し信号タイミングの差が生
じるとき、示される。

そのようなヘッドタイミング非対称はまた不所望のビッ
トシフトのもとにもなり得る。

ビットシフトおよびヘッドタイミング非対称を測定する
公知のやり方は、典型的には、たとえば。

「分解能」を決定するため再生周波数応答測定を用い、
または分離されたパルス重畳技術を用いることによって
、間接技術を用いてぎた。これらの公知のやり方は、種
々の欠点を有し、たとえば不当に時間を要し、高価につ
きおよび／または複惟である。さらに、分解能のやり方
は薄膜ヘッドの特性を測定するために用いるとき、全く
不正確な結果を与え得る。

この発明の簡単な要約 したがって、この発明の主たる目的は、磁気記録および
再生コンポーネントを検査する、迅速で、正確で信頼性
のある、改良された方法を提供することである。

上）ホの目的に従ったこの発明の他の目的は、磁気媒体
、再生システムおよび種々の組合わせのみならず、多く
の形式の磁気ヘッド（薄膜ヘッドも含めて）を検査する
ために用いることのできる方法を提供することである。

この発明のさらに伯の目的は、磁気ヘッドのヘッドタイ
ミング非対称を測定するための改良された方法を提供す
ることである。

この発明のさらに他の目的は、比較的簡単で複雑でない
方法で、前記の目的の方法を達成することである。

この発明の特に好ましい実施例では、上記の目的は、予
め検査パターンが回転磁気ディスクの円状のトラックの
まわりに何回も書込まれるやり方を用いて達成される。

書込まれる予め定める検査パターンは間隔距離が密な磁
気過渡変化のみならず比較的広い間隔距離の過渡変化を
も含む。ビットシフトのみならずタイミング非対称も、
トラックのまわりに書込まれる多くのパターンに対し、
書込まれかつ検出された読み戻し過渡変化の場所の間で
得られる特定の測定された時間間隔差を比較することで
正確に決定することができることがわかった。

この発明の特定の性質および、伯の特徴、目的、利点お
よびその用途は、添付図面に関して行なわれるこの発明
の特定の好ましい実施例の以下の説明から明らかとなろ
う。

好ましい実施例の説明 添付図面の各図において、類似の符号および数　７字は
類似の要素を示す。

周知のと６３す、磁気ヘッドは、ディスクが回転すると
き磁気フィルムの小さい領域を磁化することにより、回
転磁気ディスクにデータを書込む。

磁化方向が変化する領域は、磁気過渡変化または磁束反
転と呼ばれる。従来の非ｒ＠ＩＩ！Ｊ読み／書き磁気ヘ
ッドはフェライトまたはミューメタルの読み／書き要素
を有してもよくかつセラミックまたはバルクのフェライ
トで構成されるスライダに設けられる。空気力学的部分
のスライダは典型的には研削およびラップ仕上によって
整形される。

ガラスボンディングが従来からｍ　（４および読み／書
きギャップの要素を形成するのに用いられる。

読み／書きコイルが巻回される。他方、薄膜読み／履き
磁気ヘッドは典型的にはサブストレートにスパッタリン
グ、蒸着またはメッキによりヘッドの磁気要素を形成す
ることにより作られ、サブストレートは典型的には後で
空気支えスライダの空気力学部分に機械加工される。

信号の振幅の他に、システムの他の部分に関連して磁気
ヘッドで達成される読み／書き工程の他の重要な特性は
信号対雑音比と信号のタイミングである。磁気過渡変化
をその正しい時間位置で読むために、そればビットセル
タイムとして知られる間隔内で検出しなければならない
。もしタイミング誤差がビットセルタイムの成る部分を
越えると、データ誤差が生じるかもしれない。

いくつかの）１クタがタイミング誤差のもとになり、そ
の最も顕著なものがビットシフトまたはピークシフトと
通常呼ばれている。簡単に言えば、ビットシフトは前に
書かれた磁気過渡変化が読み戻しで検出される時間と磁
気過渡変化が検出されるべきであった時間との差である
。ビットシフトは典型的には２つの主要な形式があり、
（１）パターン誘起ビットシフトと（２）Ｍ音誘起ピッ
＋−シフトである。

パターン誘起ビットシフトは、記録されたトラックに沿
って隣接して記録される過渡変化が読み戻し信号のピー
クの場所でシフトを生じるに十分に近いとき生じる。ヘ
ッドにより生じるビットシフトは、ヘッドの磁気経路を
経て磁束を誘起するすべての磁界をヘッドが検出するこ
とによる。ビットが高密度で記録されるとき、ヘッドは
直接記録されたビットから磁界を拾うだけでなく記録さ
れたトラックに沿って隣接ビットから磁界を拾う傾向が
ある。したがって、ヘッド出力は組合わせされた磁界を
表わし、それがすぐのビットの見かけの場所でビットシ
フトを誘起する。パターン誘起ビットシフトもまたヘッ
ドのタイミング非対称の結果として生じるかもしれない
、なぜならばビットシフトは磁気過渡変化の変化に関す
る異なる方向に対しヘッドが異なる態様で応答すること
により生じる読み戻し信号タイミングの差の結果として
生じるかもしれないからである。

一般的に、ビット密度が増加するに従い、ビットシフト
も増加する。究極的には、ビット密度が増加するに従い
、ビットシフトは書込まれたデータの信頼性のある読出
しを妨げる程に大きくなる。

ノイズ誘起ビットシフトもまた読み戻し信号のピークの
場所に影響を与えるが、通常はそれはランダム的である
。

したがって、磁気記録および再生システムにおけるビッ
トシフトの性能が、システムが満足できるかどうかを決
めるために検査すべき非常に重要な特性であることがわ
かるであろう。

この発明によれば、ビットシフトおよびタイミング非対
称のみならず他の重要なシステム特性を測定するための
迅速な、信頼性のある、正確でかつ比較的簡単な方法お
よび装置が提供される。

最初に、この発明の基本的な改良された検査方法の好ま
しい例を第１図および第２図を参照して考察する。

第１図はディスクのトラックのまわりに何回も書込まれ
る予め定める相補的なパターンＰおよびＰ−を示すグラ
フである。相補的なパターンＰおよびＰ′は、Ｐおよび
Ｐ−の対応の過渡変化が第１図で反対方向である点で、
相違している。図示のように、各パターン（ＰまたはＰ
ｉは第１の過渡変化（ＴＲ１またはＴＲ１′）を含み、
それには比較的大きく距離を隔てる第２の過渡変化（Ｔ
Ｒ２またはＴＲ２Ｍが続き、さらにそれには比較的密に
距離を隔てる過渡変化（ＴＲ３またはＴＲ３＝　）が続
く。好ましい実施例では、パターンＰおよびＰ−の比較
的密な間隔距離の過渡変化ＴＲ２，ＴＲ３およびＴＲ２
”、ＴＲ３−が検査すべきヘッドで検出すべき最も密な
過渡変化の間隔距離に対応してそれぞれの間隔距離ＴＰ
４およびＴＲ４−を有するように選ばれ、パターンＰお
よびＰ−の比較的幅広く距離を隔てる過渡変化ＴＲ１，
ＴＲ２およびＴＲ１′、ＴＲ２−がそれぞれの間隔距［
ＴＰｌおよびＴＰＩ−を有するように選ばれて、そのた
め読み戻しで過渡変化ＴＲ１およびＴＲ１−のために得
られる検出場所は隣接の過渡変化により影響されない。

パターンＰおよびＲ２−の間のそれぞれの間隔距１１ｔ
ＴＰ３およびＴＲ３”が同じように選ばれて、隣接パタ
ーンＰおよびＰ−の過渡変化が過渡変化ＴＲＩおよびＴ
Ｒ１−の検出場所に影響を与えない。

第２図は第１図のパターンＰおよびＰ−のそれぞれの対
応の過渡変化１−Ｒ１，ＴＲ２，ＴＲ３およびＴＲｉ　
＋、ＴＲ２−，ＴＲ３−の読み戻しから得られる典型的
な検出パルスＲ１，Ｒ２，Ｒ３およびＲ１−、Ｒ２”、
Ｒ３′を示す。この発明によるこの好ましい実施例では
、最も大きい時間間隔測定値は、パターンＰの時間間隔
Ｔ１．Ｔ２およびＴ３およびパターンＰ−の時間間隔Ｔ
１′。

Ｔ２−およびＴ３＝であって、これらはそれぞれ第１図
の過渡変化間隔距１１１ｆｆＴＰ１．ＴＰ２．ＴＲ３、
ＴＰｌ−、ＴＲ２−およびＴＲ３−に対応する。パター
ンＰにつき第２図で示すように、Ｔ１はパルスＲ２およ
びＲ１の検出の間の時間間隔であり、Ｔ２はパルスＲ３
およびＲ１の検出の間の時間間隔であり、かつＴ３はパ
ルスＲ１−およびＲ１の検出の間の時間間隔である。同
様に、パターンＰ−につきＴ１−はパルスＲ２−および
Ｒ１′の検出の間の時間間隔であり、Ｔ２−はパルスＲ
３−およびＲ１−の検出の間の時間間隔であり、かつＴ
３＝はパルスＲ１およびＲ１−の検出の間の時間間隔で
ある。プレイバックから得られるこれらの時間間隔Ｔ１
．Ｔ２．Ｔ３およびＴ１−１Ｔ２−、Ｔ３′の間の差お
よびディスクトラックのまわりに書込まれる多くのパタ
ーンＰおよびＰ−についての第２図の対応の過渡変化間
隔距離ＴＰ１．ＴＰ２．ＴＰ３およびＴＰｌ−、ＴＲ２
”。

ＴＲ３−について理想的に得られる差を分析することに
より、システム性能を表わ１、驚くほど数の多い極めて
重要な磁気特性を迅速にかつ正確に決定することができ
ることがわかった。

さて第３図を参照すると、この発明に従った好ましい装
置の特定の例が示される。

第３図に示すように、横穴すべき磁気ヘッドで用いるべ
き形式の回転可能な磁気ディスク１０が設けられる。デ
ィスク１０はパターントラック１０ａのパターンＰおよ
びＰ’−（第１図〉を予め円込むことができ、または他
に、これらのパターンはヘッドの書込性能を検査するた
め検査中のヘッド１２てパターントラック１０Ａに書込
むことができる。たとえば、トラックゴＯ△へのパター
ンＰＩ３よびＰ−の書込みは、タイミングトラック１０
Ｂを用いて完遂され、それは磁気ヘッド１１（または他
の適当なトランスデユーサ）で読出されてディスクタイ
ミング信号をタイミング回路１３に与え、適当なタイミ
ング信号（ディスク回転に同期している）を従来の形の
信号データ発生器１５に与える。信号データ発生器１５
は従来のプログラマブル信号源からの入力制御信号に応
答して動作し予め定めるパターン信号（第１図のＰおよ
びＰ−に対応する）を従来の書込み回路１７に与え、こ
の書込み回路１７はタイミング回路１３からのタイミン
グ信号に応答して適当な書込信号１７Ａを磁気ヘッド１
９に与えパターントラック１０ＡにパターンＰおよびＰ
”（第１図）を書込む。

なおも第３図を参照して、読出性能を検査すべきである
とき、ヘッド１９がパターントラック１０Ａのパターン
ＰおよびＰ′（第１図）を読出りな、検出出力パルスＲ
１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ１−。

Ｒ２−、Ｒ３−を生じる。この目的のため、続出回路２
２はタイミング回路１３からディスクタイミング信号を
受取るかもしれない。ディスク１０の回転速度は好まし
くはシステムが動作するときに用いられるのと同じでな
ければならない。

第３図の続出回路２２からの検出パルスＲ１゜Ｒ２，Ｒ
３，Ｒ１＝、Ｒ２＝、Ｒ３＝　（第２図）は従来の形態
の時間間隔検出器２５に与えられ、それはパターン認識
装置として働き、かつ与えられたパルスＲ１，Ｒ２，Ｒ
３，Ｒ１＝、Ｒ２＝。

Ｒ３−を識別することができる。信号源１６の制御の下
に、時間間隔検出器２５が、与えられたパルスＲ１，Ｒ
２，Ｒ３，Ｒ１′、Ｒ２−、Ｒ３−の間に生じる特定の
選ばれたタイミング間隔の、それぞれ初めおよび終りに
対応するスタートおよびストップ出力信号を発生する。

時間間隔検出器２５で発生されるスタートおよびストッ
プ出力信号は、順に、タイマ実現回路３０に与えられ、
それはまた従来の形式のものでよい。タイマ実現回路３
０は従来のように時間間隔検出器２５から受ける各対応
の対のスタートおよびストップパルスの間の時間を正確
に測定しかつ結果として生じる時間量隔測、定値を表わ
す信号を分析回路４０に与えるように動作する。分析回
路４０はまた第１図に示すパターンＰおよびＰ−の過渡
変化ＴＲ１，ＴＲ２，ＴＲ３，ＴＲＩ　＝、ＴＲ２−、
ＴＲ３−の特定のものの間の時ＩＪ間隔に関連の信号源
１６から信号を受取る。

ここで考察するこの発明の好ましい実施例に従えば、分
析すべき重要なタイミング間隔はパターンＰおよびＰ”
（第１図）の記録された過渡変化間隔ＴＰ１．ＴＰ２．
ＴＰ３．ＴＰｌ　＋、ＴＰ２′１丁Ｐ３−およびパルス
Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ１＋、Ｒ２−、Ｒ３−から得られ
る対応のプレイバック時間間隔Ｔ１．Ｔ２．Ｔ３．Ｔ１
　＝、Ｔ２′、Ｔ３−である。これらの特定の記録およ
びプレイバックタイミング間隔の対応のものの間の差を
分析することにより、パターン誘起ビットシフト（左お
よび右の双方）、雑音誘起ビットシフト、および、また
、ノイズに起因するビットシフトを表わす正確な測定値
を得ることができる。さらに、タイミング非対称の測定
もまた（４ることができる。

したがって、第３図の分析回路４０によりこれらの間隔
の分析を行なうため、時間間隔検出器２５が第２図のプ
レイバックタイミング間隔Ｔ１．Ｔ２、Ｔ３．ＴＩ　＋
、Ｔ２＝、丁３−に対応するタイマ実現回路３０に、ス
タートおよびストップ出力信号を与えるようにされ、か
つ信号源１６が、対応の記録された過渡変化間隔ＴＰ１
．ＴＰ２゜ＴＲ３，ＴＰ１′、ＴＰ２’−、ＴＲ３−を
表わす゛分析回路４０に信号を与えるようにされる。

分析器４０は、ハードウェアによって、または適当にプ
ログラムしたコンピュータによって、またはその双方の
組合わせによって、実現してもよい。この明細書での説
明の目的で、種々の分析器の機能を、たとえば第４図な
いし第７図に示すような、容易に提供可能なコンポーネ
ントで実現したものとして、図解している。ここに与え
られる説明から当業者はこれらの分析器の曙能のすべて
の所望の部分全達成するために、適当にプログラムした
コンピュータを提供することが容易に可能であろう。

パターン誘起ビットシフトが好ましい実施例で決定され
る態様をまず考察する。第１図および第２図を参照して
、タイミング間隔ＴＰ１およびＴ１の間のかつタイミン
グ間隔ＴＰ１−およびＴ１−の間の差は左のビットシフ
トの測定値であり、タイミング間隔ＴＰ２およびＴ２の
間のかつタイミング間隔ＴＰ２−およびＴ２−の間の差
は右のビットシフトの測定値である。第１図の１個の記
録パターンＰまたはＰ−について測定された左および右
ビットシフトは、勿論、パターン誘起ビットシフトのみ
ならず、パターンの個々の記録過渡変化に対し局部的な
媒体の不規則によって生じるビットシフトや、間隔の最
初および終りのパルスの検出と同時に生じる瞬間的な雑
音で生じる任意のビットシフトをも含む。この発明の好
ましい実施例では、パターン誘起の左および右ヒツトシ
フトは、それぞれパターントラック１０Ａ（第３図）の
まわりに記録される多くのパターンＰおよびＰ′につき
、それぞれの間隔ＴＰ１およびＴ１ならびにＴＰＩ　＝
およびＴ１−の間で（左パターン誘起ビットシフトにつ
いて）測定される差およびそれぞれの間隔ＴＰ２および
Ｔ２ならびにＴＰ２′およびＴ２＝の間で（右パターン
誘起ビットシフトについて）測定される差を平均化する
ことにより有利に得られ、それによって媒体の不規則性
および雑音で生じるビットシフト効果を実質的に除去す
る。

上記に従ってパターン誘起ビットシフトを得るために分
析器４０で実現できる励磁の構成が第４図に示される。

第４図において、この目的で分析器４０はそれぞれ平均
化回路４４および４５に与える差回路４１および４２を
含む。差回路４１はタイマ実現回路３０から時間間隔Ｔ
１およびＴ１−を表わす信号Ｓ１を受けかつまた信号源
１６から時間間隔ＴＰ１およびＴＰＩ−を表わす信号を
受ける。差回路４２はタイマ構成回路３０から時間間隔
Ｔ２およびＴ２′を表わす信号Ｓ２を受けかつまた信号
源１６から時間間隔ＴＰ２およびＴＰ２−を表わす信号
ＳＰ２を受ける。これらの差回路４１および４２はそれ
ぞれ出力信号４１ａおよび４２ａを連続的に発生するよ
うに動作し、これらの信号はディスク１０が回転すると
き適用される時間間隔の対応のものの間で得られる測定
された差を表わす。それぞれ差回路４１および４２で発
生されるこれらの出力信号４１ａおよび４２ａはそれぞ
れの平均化回路４４および４５に与えられて、そこに与
えられる測定された差の平均を表わす出力信号４４ａお
よび４５ａを発生する。

上の議論から、出力信号４４ａおよび４５ａがこのよう
にしてそれぞれパターン誘起左および右ビットシフトを
表わすことが理解される。

第５図をさらに参照して次に考慮すべきことは、雑音誘
起ビットシフトを測定するために第３図の分析器４０に
設けてもよい例示の構成である。周知のように、受信パ
ルスの統計的な時間分布を登録することにより、パルス
のジッタを決定することができる。このようにしてジッ
タを得るための雑音検出装置は技術分野でよく知ら−れ
ている。この発明の好ましい実施例では、読み戻しパル
スのジッタは雑音誘起ビットシフトを表わすものとして
有利に用いられる。したがって、ディスクが回転する間
、第３図の時間測定回路３０が読み戻し時間間隔Ｔ１．
Ｔ２．Ｔ３．Ｔ１−、Ｔ２＝、Ｔ３′の少なくとも１個
を表わず信号Ｎを従来の雑音検出装置５２に与え、ディ
スクが回転する開側々の読み戻しパルスについてジッタ
を決定する。

雑音検出装置で発生されるジッタ出力信号５２ａは従来
の統計計算装置５４に与えられて、ジッタの標準偏差の
表示を得る。考察しているこの発明の好ましい実施例で
は、この標準偏差が雑音誘起ビットシフトの測定値とし
て用いられる。

次に第６図を参照すると、タイミング非対称を測定する
ため第３図の分析器４０に設けてもよい例示の構成が示
される。タイミング非対称は、記録パターンの最初に生
じる正方向過渡変化の読み戻しと後に生じる負方向の過
渡変化の読み戻しの間の測定された間隔が最初に生じる
負方向の過日変化の読み戻１ノと後に生じる正方向の過
渡変化の読み戻しの間の時間間隔と異なるとき、存在す
ることが理解される。

第１図および第２図を参照して、第２図の各時間間隔Ｔ
１が、正方向の過渡変化（丁Ｒ１）で始まりかつ負方向
の過渡変化（ＴＲ２）で終る記録された時間間隔（第１
図のＴＰｌ）に対応する読み戻し時間間隔の例であり、
第２図の各時間間隔Ｔ１−が負方向の過渡変化（ＴＲ１
Ｍで始まりかつ正方向の過渡変化（ＴＲ２−）で終る記
録された時間間隔（ＴＰｌＭに対応する読み戻し時間間
隔の例であることが理解される。読み戻し間隔Ｔ３およ
びＴ３＝はこの点につき間隔Ｔ１およびＴ１−と同じ関
係を有することに注目される。

したがって、Ｔ１およびＴ１−の間でまたはＴ３および
Ｔ３−の間で検出されるジッタは、ヘッドタイミング非
対称に依存する。しかしながら、このシックはまた雉Ｂ
ｒによって影響される。Ｍ音の影響を除くために、Ｔ１
およびＴ１−の間でまたはＴ３およびＴ３−の間で検出
されるジッタはタイミング非対称によって本質的に影響
されない、時間間隔Ｔ２またはＴ２−につき検出される
ジッタと比較される（なぎならばＴ２およびＴ２−の双
方が、同一方向に変化する初めのおよび終りの過渡変化
に対応するからである）。

したがって、第６図に示すタイミング非対称を測定する
例示の構成を参照して、ディスクが回転している間、タ
イミング実現回路３０が、少な（とも１対の間隔Ｔ１お
よびＴ１−またはＴ３およびＴ３−および間隔Ｔ２また
はＴ２−の少なくとも１つを表わす信号Ｙを雑音検出装
置５２に与え、この雑音検出装置５２は第５図に示すも
のと同じでよい。雑音検出装置５２はＴ２またはＴ２−
および与えられた対Ｔ１およびＴ１−またはＴ３および
Ｔ３−の間の比較のジッタを決定しかつそれに対応する
結果として生じるジッタ信号５２ｂを統計計算装置５４
に与えるが、この統計計算装置５４もまた第５図に示す
ものと同じでよい。このジッタ信号５２ｂの標準偏差が
タイミング非対称を表わすものとして用いられる。

前のバラグラフで指摘したように、第２図の時間間隔Ｔ
２およびＴ２−はどのようなタイミング非対称によって
も殆ど影響されない。しかしながら、これらの間隔は雑
音によって影響され、それによりまたは雑音を決定する
便宜上の方法を提供する。したがって、第７図に示すよ
うに、タイマ実現回路３０が間隔Ｔ２またはＴ２＝の少
なくとも１つを表わす信号Ｈを雑音検出装置５２に与え
、この雑音検出装置５２は順にジッタ信号５２Ｃを統計
計算装置５４に与える。このジッタ信号の標準偏差が９
ｎ　Ｅｊｆによつ−Ｃ生じるビットシフトを表わすもの
として用いられる。雑音消去装置５２および統計３１算
装置５４は第５図および第６図のものと同じでよい。

次に第８図を参照すると、第１図のパターンＰおよびＰ
′を出込むのに用いられるのと同じ回込信号を用いるシ
ステムの目盛校正を達成する第３図の実施例の改良が示
される。明らかなとおり、第３図の実施例と第８図の実
施例の間の相違点は、続出回路２２の入力にスイッチ１
１０を設けた点にあり、これがヘッド１９からの続出信
号かまた、減衰器１１２および微分器１１４を介して与
えられる書込回路１７からの書込信号かのいずれかを選
択することを可能にする。減衰器１１２および微分器１
１４の目的は、システムを目盛校正するための「理想的
にされた」続出信号に変換することである。

したがって、目盛校正の目的で、スイッチ１１０が微分
器１１４の出力に与えられる「理想的にされた」読出信
号を受けるため子の目盛校正位置に置かれ、かつ前に述
べた種々の測定値がそのときに得られる。これらの測定
値と実際の続出信号についてｉｑられるものとの間の差
がそのときより正確な結果どして得られる値を提供する
。

この発明はここに開示される特定の実施例に限定される
ものとして考えるべきでなく、なぜならば構成、配置お
よび用途における多くの修正および変更が、この発明の
真の精神から逸服することなく可能であることを理解す
べきである。

したがって、この発明は前掲の特許請求の範囲で規定さ
れる発明の範囲に入るすべての可能な修正および変更を
含むものとして考慮すべきである。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の好ましい実施例で用いられる記録パ
ターンを示すタイミング図である。 第２図は第１図の記録されたパターンに応答して例示の
システムの発生される検出された読み戻しパルスを示す
タイミング図である。 第３図はこの発明に従って磁気ヘッドの性能を検査する
ために用いられる好ましい実施例を示すブロックおよび
概略図である。 第４図はパターン誘起ビットシフトを測定するため第３
図の分析器４０に設けてもよい例示の装置を示す。 第５図は雑音誘起ビットシフトを測定するため第３図の
分析器４０に設けてもよい例示の装置を示す。 第６図はタイミング非対称を測定するため第３図の分析
器４０に設けてもよい例示の回路を示す。 第７図は雑音により生じるビットシフトを測定するため
第３図の分析器４０に設けてもよい例示装置を示す。 第８図はシステムの目盛校正を付加的に（ｊなう第１図
の実施例の変形を示す。 図において、１０はディスク、１０ａはパターントラッ
ク、１２は検査中のヘッド、１０ｂはタイミングトラッ
ク、１１は磁気ヘッド、１３はタイミング回路、１５は
信号データ発生器、１６は従来のプログラム可能な信号
源、１７は従来の書込回路、１９はヘッド、２２は従来
の続出回路、２５は時間間隔検出器、３０はタイマ実現
回路。 ４０は分析回路、ＴＲ１，ＴＲ２，ＴＲ３，ＴＲ１−、
ＴＲ２−、ＴＲ３−はパターンＰおよびＰ−の過渡変化
、Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ１−、Ｒ２、Ｒ３−は検出され
たパルス、である。 特許出願人　メモレックス・コーポレーション手続補正
Ｉ！＜方式） 昭和６０年８月２γ日 １、事件の表示 昭和６０年特許願第　１１７６３１　　号２、発明の名
称 磁気記ｇ！装置システムにおけるタイミング非対称の測
定方法３、補正をする者 事件との関係　特許出願人 住　所　アメリカ合衆国、カリフォルニア州、サンタ・
クレラサン・トーマス・アット・セントラル・イクスプ
レスウエイ（番地なし） 名　称　メモレックス・コーポレーション代表者　ポペ
ット・ジョーンズ ４、代理人 住　所　大阪市北区天神橋２丁目３番９号　へ千式第−
ピル電話　大阪（０６）３５１−６２３９　（代）Ｂ召
りに０４Ｐｒ／２’７Ｅ１ ６、補正の対象 図面全図 ７、補正の内容 １１５％で描いた図面企図を別紙のとおり補充致します
。なお内容についての変更はありません。 以上

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. （１）磁気記憶装置システムのタイミング非対称の測定
   方法であって、 磁気記録媒体のトラックに沿い明示を与え、各明示は負
   方向または正方向を有する磁気過渡変化を含み、前記明
   示は比較的大きい複数個の第１および第２の実質的に等
   しい間隔が前記トラックに沿い形成されるように配置さ
   れ、各第１間隔は第１方向を有する初めの過渡変化と反
   対方向を有する終りの過渡変化により構成され、かつ各
   第２の間隔は前記反対方向を有する初めの過渡変化と前
   記第１の方向を有する終りの過渡変化により形成され、 前記媒体と、相互に対し非対称を測定すべきヘッドを移
   動させ、前記ヘッドが前記トラックの明示を横切りそれ
   に応答してヘッド出力信号を生じさせ、 前記ヘッドおよび媒体が前記トラックに沿い相対的に移
   動されるとき前記ヘッドが発生する前記ヘッド出力信号
   を検出し、かつ 前記検出に応答し、前記第１の間隔と前記第２の間隔の
   間で検出されるジッタに基づきタイミングの非対称の表
   示を生じる、測定方法。
2. （２）相対的に大きい複数個の実質的に等しい第３の間
   隔もまた前記トラックに沿い形成され、各第３の間隔は
   類似の方向を有する初めのおよび終りの過渡変化により
   構成され、かつ前記表示は、前記第１のおよび前記第２
   の間隔につき検出されたジッタが前記第３の間隔につき
   検出されたジッタと比較されるとき得られる、結果とし
   て生じる比較ジッタに基づき生じる、特許請求の範囲第
   １項に記載の測定方法。
3. （３）非対称の前記表示が、前記比較ジッタの標準偏差
   に基づく、特許請求の範囲第２項に記載の測定方法。
4. （４）前記明示が、前記トラックに沿い散在的に得られ
   る比較的大きい複数個の第１および第２のパターンとし
   て得られ、前記第１のパターンは各々少なくとも第１、
   第２および第３の磁気過渡変化を含み、これら磁気過渡
   変化は前記第１および第２の明示の間の距離および前記
   第１および第３の過渡変化の間の距離に比べて相対的に
   大きくかつ前記第２のパターンは各々各最初に述べたパ
   ターンの場所と実質的に同じ相対的場所に位置されかつ
   それと逆向きである、特許請求の範囲第１項、第２項ま
   たは第３項に記載の測定方法。
5. （５）第１の明示は、各パターンの第２および第３の明
   示から十分に距離を隔て、その検出場所に対し実質的に
   影響を有しないようにした、特許請求の範囲第４項に記
   載の測定方法。
6. （６）各パターンにおける第２のおよび第３の明示の間
   の距離が前記ヘッドで検出する必要のある最も近い距離
   に対応する、特許請求の範囲第５項に記載の測定方法。
7. （７）前記第１の間隔が前記第１のパターンの第１の過
   渡変化および第２の過渡変化の間の間隔を含み、かつ前
   記第２の間隔が前記第２のパターンの第１のおよび第２
   の過渡変化の間の間隔を含む、特許請求の範囲第４項に
   記載の測定方法。
8. （８）前記第３の間隔が、前記第１および第２のパター
   ンの少なくとも１個の第１および第３の間の間隔を含む
   、特許請求の範囲第７項に記載の測定方法。