JP2802816B2 - サーボディスクの媒体検査方式 - Google Patents
サーボディスクの媒体検査方式Info
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- JP2802816B2 JP2802816B2 JP14905690A JP14905690A JP2802816B2 JP 2802816 B2 JP2802816 B2 JP 2802816B2 JP 14905690 A JP14905690 A JP 14905690A JP 14905690 A JP14905690 A JP 14905690A JP 2802816 B2 JP2802816 B2 JP 2802816B2
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- Japan
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- signal
- track
- disk
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- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、サーボ面サーボ方式のサーボディスクの
媒体の検査方法に関するものである。
媒体の検査方法に関するものである。
［従来の技術］ 情報処理装置に使用される磁気ディスクは、高密度化
のためにトラックのピッチが微小であり、データのアク
セスの際にはトラックに対する磁気ヘッドの位置制御を
高精度に行うことが必要とされ、サーボ面サーボ方式
（専用のサーボディスクを設けてヘッド位置のサーボ制
御をする方式）あるいはデータ面サーボ方式（データを
記録するディスクのデータトラックにサーボ情報を記録
してヘッドの位置のサーボ制御をする方式」）により位
置制御が行われる。磁気ディスク装置においては複数の
磁気ディスクがスピンドルに装着されて同時に回転し、
各ディスクに対応した磁気ヘッドが所定のトラックをシ
ークしてデータがアクセスされる。サーボ面サーボ方式
においては、複数のディスクのうちの適当な１枚がサー
ボディスクとされ、これにサーボ信号が書き込まれる。
サーボ信号は非常に重要であり、ディスクの媒体に欠陥
があるときは、サーボ信号にエラーが生じて正しい位置
制御が行われないので、生産段階で検査装置により検査
される。
のためにトラックのピッチが微小であり、データのアク
セスの際にはトラックに対する磁気ヘッドの位置制御を
高精度に行うことが必要とされ、サーボ面サーボ方式
（専用のサーボディスクを設けてヘッド位置のサーボ制
御をする方式）あるいはデータ面サーボ方式（データを
記録するディスクのデータトラックにサーボ情報を記録
してヘッドの位置のサーボ制御をする方式」）により位
置制御が行われる。磁気ディスク装置においては複数の
磁気ディスクがスピンドルに装着されて同時に回転し、
各ディスクに対応した磁気ヘッドが所定のトラックをシ
ークしてデータがアクセスされる。サーボ面サーボ方式
においては、複数のディスクのうちの適当な１枚がサー
ボディスクとされ、これにサーボ信号が書き込まれる。
サーボ信号は非常に重要であり、ディスクの媒体に欠陥
があるときは、サーボ信号にエラーが生じて正しい位置
制御が行われないので、生産段階で検査装置により検査
される。
第３図（ａ）〜（ｃ）はサーボディスクに設定される
サーボ信号と、これによる位置制御、および従来の検査
方法を示す。図（ａ）においてサーボディスク１には一
定のピッチでサーボ信号が記録される多数のトラックＴ
Rが設定され、スピンドル２に装着されて回転する。各
トラックＴR（ｎ）に対して磁気ヘッド1aにより、図
（ｂ）に示すサーボ信号ｐ（ｎ）が適当なパターンで書
き込まれる。位置制御においては、磁気ヘッド1aを隣接
するＴR（ｎ）とＴR（ｎ＋１）の中間に置き、ディスク
１の回転に従ってｐ（ｎ）,p（ｎ＋１）の1/2幅を同時
に読み出す。両者の読み出し信号の電圧が等しいときは
磁気ヘッド1aが両トラックの正しい中間にあるので正常
とされる。電圧に差異があるときは、その差電圧により
キャリッジ機構を制御してサーボ用の磁気ヘッド1aを両
トラックの中間に位置決めする。これにより同じアーム
に固定されているデータ読み出し側の各磁気ヘッドがそ
れぞれのトラックの中心に移動される。
サーボ信号と、これによる位置制御、および従来の検査
方法を示す。図（ａ）においてサーボディスク１には一
定のピッチでサーボ信号が記録される多数のトラックＴ
Rが設定され、スピンドル２に装着されて回転する。各
トラックＴR（ｎ）に対して磁気ヘッド1aにより、図
（ｂ）に示すサーボ信号ｐ（ｎ）が適当なパターンで書
き込まれる。位置制御においては、磁気ヘッド1aを隣接
するＴR（ｎ）とＴR（ｎ＋１）の中間に置き、ディスク
１の回転に従ってｐ（ｎ）,p（ｎ＋１）の1/2幅を同時
に読み出す。両者の読み出し信号の電圧が等しいときは
磁気ヘッド1aが両トラックの正しい中間にあるので正常
とされる。電圧に差異があるときは、その差電圧により
キャリッジ機構を制御してサーボ用の磁気ヘッド1aを両
トラックの中間に位置決めする。これにより同じアーム
に固定されているデータ読み出し側の各磁気ヘッドがそ
れぞれのトラックの中心に移動される。
第３図（ｃ）により、検査装置におけるサーボ信号に
対する従来の検査方法を説明する。各トラックＴR
（ｎ）はセクタＳ（ｍ）に分割され、各Ｓ（ｍ）ごとに
同期パルスＴPとサーボ信号ｐ（ｎ）が書き込まれる。
これに対して上記の位置制御の場合と同様に、磁気ヘッ
ドを両トラックの中間に置いて両トラックの1/2幅を読
み出して図示の読み出し信号ＲSがえられる。Ｒsはさら
に整形されてパルスＲPとされる。ここでＴPのパルス数
はｐ（ｎ）のそれより多くしてあるので区別され、ＴP
のうちのtPを起点として所定の時間ＴD１とＴD２だけ遅
延したゲート信号GATE1およびGATE2を作る。GATE1によ
りサーボ信号ｐ（ｎ）が、また、GATE2によりｐ（ｎ＋
１）がそれぞれ検出され、これらはサンプルホールドさ
れて波高値vP（ｎ）とvP（ｎ＋１）がえられる。これら
をコンパレータにより比較し、両者に差異があるときは
差電圧が出力されてエラーが検出される。
対する従来の検査方法を説明する。各トラックＴR
（ｎ）はセクタＳ（ｍ）に分割され、各Ｓ（ｍ）ごとに
同期パルスＴPとサーボ信号ｐ（ｎ）が書き込まれる。
これに対して上記の位置制御の場合と同様に、磁気ヘッ
ドを両トラックの中間に置いて両トラックの1/2幅を読
み出して図示の読み出し信号ＲSがえられる。Ｒsはさら
に整形されてパルスＲPとされる。ここでＴPのパルス数
はｐ（ｎ）のそれより多くしてあるので区別され、ＴP
のうちのtPを起点として所定の時間ＴD１とＴD２だけ遅
延したゲート信号GATE1およびGATE2を作る。GATE1によ
りサーボ信号ｐ（ｎ）が、また、GATE2によりｐ（ｎ＋
１）がそれぞれ検出され、これらはサンプルホールドさ
れて波高値vP（ｎ）とvP（ｎ＋１）がえられる。これら
をコンパレータにより比較し、両者に差異があるときは
差電圧が出力されてエラーが検出される。
［解決しようとする課題］ サーボ信号に対する上記のエラー検出方法において
は、媒体全面の欠陥を検出することができない。すなわ
ち、各セクタに設定された同期パルスの位置や、サーボ
信号のパターンの空白部に対しては検査がなされない。
磁気ディスクの検査には２段階あり、まず単板検査装置
によりサーボディスク単体について行われ、ついで磁気
ディスク装置に実装されて稼働状態で行われるもので、
上記の検査方法は稼働状態の検査には妥当である。しか
し、単板検査はディスクの全面についてできる限り精密
に媒体検査を行うことを目的とするので、上記の検査方
法は適当でない。そこで、空白部がなくディスクの全面
について検査できる方法が必要である。
は、媒体全面の欠陥を検出することができない。すなわ
ち、各セクタに設定された同期パルスの位置や、サーボ
信号のパターンの空白部に対しては検査がなされない。
磁気ディスクの検査には２段階あり、まず単板検査装置
によりサーボディスク単体について行われ、ついで磁気
ディスク装置に実装されて稼働状態で行われるもので、
上記の検査方法は稼働状態の検査には妥当である。しか
し、単板検査はディスクの全面についてできる限り精密
に媒体検査を行うことを目的とするので、上記の検査方
法は適当でない。そこで、空白部がなくディスクの全面
について検査できる方法が必要である。
［課題を解決するための手段］ 前記の要請に応える、この発明のサーボディスクの媒
体検査方法の構成上の特徴は、サーボディスクに設定さ
れる各トラックに磁気ヘッドを逐次シークし、サーボデ
ィスクの回転によりえられるインデックス信号を起点と
して各トラックの１周に対して、読出信号が一定周波数
になる連続した“1"のテスト信号を、各トラック交互に
読出信号が180度の位相差を持つように順次に書き込
み、書き込まれたテスト信号に対して、上記磁気ヘッド
を互いに隣接するトラックの中間にシークし、隣接する
トラックの実質的に1/2幅に対して和合成された読み出
し信号をえて、各隣接するトラックにおける前記の読み
出し信号に対して一定の閾値で識別して欠陥信号を出力
するものである。
体検査方法の構成上の特徴は、サーボディスクに設定さ
れる各トラックに磁気ヘッドを逐次シークし、サーボデ
ィスクの回転によりえられるインデックス信号を起点と
して各トラックの１周に対して、読出信号が一定周波数
になる連続した“1"のテスト信号を、各トラック交互に
読出信号が180度の位相差を持つように順次に書き込
み、書き込まれたテスト信号に対して、上記磁気ヘッド
を互いに隣接するトラックの中間にシークし、隣接する
トラックの実質的に1/2幅に対して和合成された読み出
し信号をえて、各隣接するトラックにおける前記の読み
出し信号に対して一定の閾値で識別して欠陥信号を出力
するものである。
また、他の検査方法の構成としては、前記のサーボデ
ィスクに設けられたクロック信号とインデックス信号と
を入力して、トラック上の前記の欠陥の位置を特定する
ものである。
ィスクに設けられたクロック信号とインデックス信号と
を入力して、トラック上の前記の欠陥の位置を特定する
ものである。
［作用］ 以上のサーボディスクの検査方法においては、連続し
た“1"のテスト信号により全トラックが検査されるの
で、不検査の空白部が生じない。テスト信号の書き込み
においては各トラックごとに180度の位相差が設けら
れ、読み出しにおいては磁気ヘッドが隣接するトラック
の中間に置かれて、両トラックのそれぞれの1/2幅が読
み出されて和合成される。この読み出し信号は、媒体に
欠陥がないときは０であるが、両トラックのいずれか一
方に欠陥があるときは、欠陥の大きさに相当する電圧が
えられる。これを一定の閾値で識別することにより欠陥
の大きさに相当する欠陥信号が出力される。ここで、各
トラックは1/2幅づつ検査されるので実効的には1/2の幅
でより詳細な検査が行われる利点があり、さらに、両ト
ラックが同時に読み出されるので、円周方向のテスト信
号の変動の影響が全然発生しない利点がある。
た“1"のテスト信号により全トラックが検査されるの
で、不検査の空白部が生じない。テスト信号の書き込み
においては各トラックごとに180度の位相差が設けら
れ、読み出しにおいては磁気ヘッドが隣接するトラック
の中間に置かれて、両トラックのそれぞれの1/2幅が読
み出されて和合成される。この読み出し信号は、媒体に
欠陥がないときは０であるが、両トラックのいずれか一
方に欠陥があるときは、欠陥の大きさに相当する電圧が
えられる。これを一定の閾値で識別することにより欠陥
の大きさに相当する欠陥信号が出力される。ここで、各
トラックは1/2幅づつ検査されるので実効的には1/2の幅
でより詳細な検査が行われる利点があり、さらに、両ト
ラックが同時に読み出されるので、円周方向のテスト信
号の変動の影響が全然発生しない利点がある。
［実施例］ 第１図は（ａ），（ｂ）は、この発明によるサーボデ
ィスクの媒体検査方法の実施例におけるテスト信号を示
す。図（ａ）において、クロックパルスCKにより、イン
デックス信号（INDEX）を起点としてトラックＴR（ｎ）
に対して連続する“1"のテスト信号が、また、隣接する
トラックＴR（ｎ＋１）に対しては、CKと180゜の位相差
を有するクロックパルスCK′により同様のテスト信号が
それぞれ書き込まれる。
ィスクの媒体検査方法の実施例におけるテスト信号を示
す。図（ａ）において、クロックパルスCKにより、イン
デックス信号（INDEX）を起点としてトラックＴR（ｎ）
に対して連続する“1"のテスト信号が、また、隣接する
トラックＴR（ｎ＋１）に対しては、CKと180゜の位相差
を有するクロックパルスCK′により同様のテスト信号が
それぞれ書き込まれる。
なお、図中、ＴR（ｎ）,TR（ｎ＋１）は、それぞれの
トラックにおける記録状態を模式的に示したものであっ
て、クロックCK,CK′に対して記録電流の立上がりが縦
の太線で示す部分に対応し、そのタイミングで“1"が磁
気的に記録される。また、縦の点線で示す部分が記録電
流が立下がるタイミングである。その結果、ＴR（ｎ）,
TR（ｎ＋１）からの読出信号は、図（ｂ）のＲ（ｎ）,R
（ｎ＋１）のような波形になる。ただし、その振幅は、
磁気ヘッドの全幅がトラックに位置付けられる関係で、
Ｒ（ｎ）,R（ｎ＋１）の場合の倍程度に大きいものとな
る。
トラックにおける記録状態を模式的に示したものであっ
て、クロックCK,CK′に対して記録電流の立上がりが縦
の太線で示す部分に対応し、そのタイミングで“1"が磁
気的に記録される。また、縦の点線で示す部分が記録電
流が立下がるタイミングである。その結果、ＴR（ｎ）,
TR（ｎ＋１）からの読出信号は、図（ｂ）のＲ（ｎ）,R
（ｎ＋１）のような波形になる。ただし、その振幅は、
磁気ヘッドの全幅がトラックに位置付けられる関係で、
Ｒ（ｎ）,R（ｎ＋１）の場合の倍程度に大きいものとな
る。
そこで、両トラックの中間（磁気ヘッド1aが隣接する
トラックにおいて実質的に1/2幅に対応する読み出し信
号をそれぞれに得る位置）に磁気ヘッド1aを置いてテス
ト信号を読み出すと、図（ｂ）に示す180゜の位相差を
有する信号Ｒ（ｎ）およびＲ（ｎ＋１）が和合成され
る。両者に欠陥がないときは合成値は０であるが、い
ま、トラックＴR（ｎ）の下側の1/2幅内の“1"の位置に
媒体欠陥（イ）が存在すると、これに対するＲ（ｎ）の
波形は（イ）′ように波高値が低下し、合成波形は
（イ）″となり、これが磁気ヘッド1aの読み出し信号と
なる。これに対して媒体欠陥（ロ）が“1"の中間、すな
わち“0"の位置のときはＲ（ｎ）の波形は（ロ）′とな
り、読み出し信号は（ロ）″となる。ＴR（ｎ＋１）に
欠陥（ハ）があるときも同様に読み出し信号（ハ）″が
えられる。以上の各欠陥は、トラックの1/2幅内で、
“1"または“0"の位置（記録電流が立上がった“1"のレ
ベルに対して記録電流が立下がた“0"のレベルに対応す
る位置）に存在する場合であるが、“1"と“0"の中間に
存在する場合も波形はやはり変形し、和合成により０で
ない読み出し信号がえられる。読み出し信号は、一定の
閾値で検出されて欠陥信号が出力される。ただし、欠陥
（ニ）のように、トラックの中心線Ｃ上にある場合は部
分的な読み出し信号（ニ）″となり、残る部分は次に行
われるＴR（ｎ＋１）とＴR（ｎ＋２）に対する読み出し
信号に現れる。テスト信号の読み出しにおいても、上記
と同一のクロックパルスが使用され、マイクロプロセッ
サにより欠陥の位置が特定されるので、上記の部分的な
各読み出し信号は同一の欠陥（ニ）によるものと判定し
て合成することができる。
トラックにおいて実質的に1/2幅に対応する読み出し信
号をそれぞれに得る位置）に磁気ヘッド1aを置いてテス
ト信号を読み出すと、図（ｂ）に示す180゜の位相差を
有する信号Ｒ（ｎ）およびＲ（ｎ＋１）が和合成され
る。両者に欠陥がないときは合成値は０であるが、い
ま、トラックＴR（ｎ）の下側の1/2幅内の“1"の位置に
媒体欠陥（イ）が存在すると、これに対するＲ（ｎ）の
波形は（イ）′ように波高値が低下し、合成波形は
（イ）″となり、これが磁気ヘッド1aの読み出し信号と
なる。これに対して媒体欠陥（ロ）が“1"の中間、すな
わち“0"の位置のときはＲ（ｎ）の波形は（ロ）′とな
り、読み出し信号は（ロ）″となる。ＴR（ｎ＋１）に
欠陥（ハ）があるときも同様に読み出し信号（ハ）″が
えられる。以上の各欠陥は、トラックの1/2幅内で、
“1"または“0"の位置（記録電流が立上がった“1"のレ
ベルに対して記録電流が立下がた“0"のレベルに対応す
る位置）に存在する場合であるが、“1"と“0"の中間に
存在する場合も波形はやはり変形し、和合成により０で
ない読み出し信号がえられる。読み出し信号は、一定の
閾値で検出されて欠陥信号が出力される。ただし、欠陥
（ニ）のように、トラックの中心線Ｃ上にある場合は部
分的な読み出し信号（ニ）″となり、残る部分は次に行
われるＴR（ｎ＋１）とＴR（ｎ＋２）に対する読み出し
信号に現れる。テスト信号の読み出しにおいても、上記
と同一のクロックパルスが使用され、マイクロプロセッ
サにより欠陥の位置が特定されるので、上記の部分的な
各読み出し信号は同一の欠陥（ニ）によるものと判定し
て合成することができる。
第２図は、この発明によるサーボディスクの媒体検査
方法の実施例におけるブロック構成図を示す。サーボデ
ィスクに設定されているクロック信号CKが磁気ヘッド1b
により検出され、またインデックス検出器31によりINDE
Xが検出され、両者はテスト信号書き込み回路42に与え
られる。マイクロプロセッサ（MPU）41の指令により、
書き込み回路42、ライトアンプ431および磁気ヘッド1a
により、INDEXを起点として、CKと180゜の位相差を有す
るCK′のタイミングにより各トラックに交互に、１周に
対して“1"が連続したテスト信号が書き込まれる。次
に、磁気ヘッド1aが隣接するトラックの中間をシーク
し、両トラックの1/2幅が和合成されて読み出され、リ
ードアンプ432を経て欠陥検出回路44に入力する。ここ
で一定の閾値で読み出し信号が識別されて欠陥の大きさ
に対応する欠陥信号が検出され、A/D変換器45によりデ
ジタル化されてMPU41に取り込まれる。MPU41には前記の
INDEXとCKが入力しているので、トラック上の欠陥位置
が特定され、大きさと存在位置を示す欠陥データが出力
器411に出力される。なお、トラックの中心線に跨った
欠陥は部分的に２度に検出され、位置の照合により同一
の欠陥によることを判定し、それぞれの大きさを合計し
て凡その大きさを推定することができる。以上の処理
は、磁気ヘッド1aを全トラックに対して逐次シークして
ディスクの全面が検査される。なお、上記の書き込み回
路42においてテスト信号に180゜の位相差を与える方法
や、欠陥検出回路44における閾値の設定などは通常の技
術によるもので詳細説明を省略する。
方法の実施例におけるブロック構成図を示す。サーボデ
ィスクに設定されているクロック信号CKが磁気ヘッド1b
により検出され、またインデックス検出器31によりINDE
Xが検出され、両者はテスト信号書き込み回路42に与え
られる。マイクロプロセッサ（MPU）41の指令により、
書き込み回路42、ライトアンプ431および磁気ヘッド1a
により、INDEXを起点として、CKと180゜の位相差を有す
るCK′のタイミングにより各トラックに交互に、１周に
対して“1"が連続したテスト信号が書き込まれる。次
に、磁気ヘッド1aが隣接するトラックの中間をシーク
し、両トラックの1/2幅が和合成されて読み出され、リ
ードアンプ432を経て欠陥検出回路44に入力する。ここ
で一定の閾値で読み出し信号が識別されて欠陥の大きさ
に対応する欠陥信号が検出され、A/D変換器45によりデ
ジタル化されてMPU41に取り込まれる。MPU41には前記の
INDEXとCKが入力しているので、トラック上の欠陥位置
が特定され、大きさと存在位置を示す欠陥データが出力
器411に出力される。なお、トラックの中心線に跨った
欠陥は部分的に２度に検出され、位置の照合により同一
の欠陥によることを判定し、それぞれの大きさを合計し
て凡その大きさを推定することができる。以上の処理
は、磁気ヘッド1aを全トラックに対して逐次シークして
ディスクの全面が検査される。なお、上記の書き込み回
路42においてテスト信号に180゜の位相差を与える方法
や、欠陥検出回路44における閾値の設定などは通常の技
術によるもので詳細説明を省略する。
［発明の効果］ 以上の説明により明らかなように、この発明によるサ
ーボディスクの媒体検査方法においては、連続した“1"
のテスト信号により空白部がなくて全トラックが検査さ
れる。また、テスト信号の読み出しは、隣接トラックの
中間で両トラックの1/2幅に対して行われるので、実効
的にはトラックが1/2幅で詳細に検査される。また、テ
スト信号の円周方向の変動の影響が全く発生せず、欠陥
の位置と大きさが検出されるもので、簡易な構成により
サーボディスクの媒体を効率的に検査できる効果には大
きいものがある。
ーボディスクの媒体検査方法においては、連続した“1"
のテスト信号により空白部がなくて全トラックが検査さ
れる。また、テスト信号の読み出しは、隣接トラックの
中間で両トラックの1/2幅に対して行われるので、実効
的にはトラックが1/2幅で詳細に検査される。また、テ
スト信号の円周方向の変動の影響が全く発生せず、欠陥
の位置と大きさが検出されるもので、簡易な構成により
サーボディスクの媒体を効率的に検査できる効果には大
きいものがある。
第１図（ａ）および（ｂ）は、この発明によるサーボデ
ィスクの媒体検査方法の実施例におけるテスト信号と媒
体欠陥による読み出し信号波形を示す図、第２図は、こ
の発明によるサーボディスクの媒体検査方法の実施例に
おけるブロック構成図、第３図（ａ），（ｂ）および
（ｃ）は、サーボディスクに設定されるトラック、該ト
ラックに書き込まれるサーボ信号、およびサーボ信号の
従来の検査方法の説明図である。 １……サーボディスク、1a,1b……磁気ヘッド、 ２……スピンドル、31……インデックス検出器、 41……マイクロプロセッサ（MPU）、 411……出力器、 42……テスト信号書き込み回路、 431……ライトアンプ、432……リードアンプ、 44……欠陥検出回路、45……A/D変換器。
ィスクの媒体検査方法の実施例におけるテスト信号と媒
体欠陥による読み出し信号波形を示す図、第２図は、こ
の発明によるサーボディスクの媒体検査方法の実施例に
おけるブロック構成図、第３図（ａ），（ｂ）および
（ｃ）は、サーボディスクに設定されるトラック、該ト
ラックに書き込まれるサーボ信号、およびサーボ信号の
従来の検査方法の説明図である。 １……サーボディスク、1a,1b……磁気ヘッド、 ２……スピンドル、31……インデックス検出器、 41……マイクロプロセッサ（MPU）、 411……出力器、 42……テスト信号書き込み回路、 431……ライトアンプ、432……リードアンプ、 44……欠陥検出回路、45……A/D変換器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｇ１１Ｂ 21/10 Ｇ１１Ｂ 21/10 Ｗ
Claims (2)
- 【請求項１】磁気ディスク検査装置によるサーボ面サー
ボ方式のサーボディスクの媒体検査方法において、該サ
ーボディスクに設定される各トラックに磁気ヘッドを逐
次シークし、該サーボディスクの回転によりえられるイ
ンデックス信号を起点として該各トラックの１周に対し
て、読出信号が一定周波数になる連続した“1"のテスト
信号を、各トラック交互に読出信号が180度の位相差を
持つように順次に書き込み、該書き込まれたテスト信号
に対して、上記磁気ヘッドを互いに隣接するトラックの
中間にシークし、隣接するトラックの実質的に1/2幅に
対して和合成された読み出し信号をえて、各前記隣接す
るトラックにおける前記読み出し信号に対して一定の閾
値で識別して欠陥信号を出力することを特徴とする、サ
ーボディスクの媒体検査方法。 - 【請求項２】前記サーボディスクに設けられたクロック
信号と前記インデックス信号とを入力して、前記トラッ
ク上の前記欠陥の位置を特定する、請求項１記載のサー
ボディスクの媒体検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14905690A JP2802816B2 (ja) | 1990-06-07 | 1990-06-07 | サーボディスクの媒体検査方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14905690A JP2802816B2 (ja) | 1990-06-07 | 1990-06-07 | サーボディスクの媒体検査方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0440673A JPH0440673A (ja) | 1992-02-12 |
| JP2802816B2 true JP2802816B2 (ja) | 1998-09-24 |
Family
ID=15466704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14905690A Expired - Fee Related JP2802816B2 (ja) | 1990-06-07 | 1990-06-07 | サーボディスクの媒体検査方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2802816B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100510498B1 (ko) * | 2002-11-26 | 2005-08-26 | 삼성전자주식회사 | 결함 디스크의 데이터 기록 방법 및 그 장치 |
-
1990
- 1990-06-07 JP JP14905690A patent/JP2802816B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0440673A (ja) | 1992-02-12 |
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